KR100643248B1 - 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치 - Google Patents

표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 표시패널의 검사방법은, 표시패널에 불량검출패턴과 블랙매트릭스의 위치정보를 검출하기 위한 스트립패턴을 인가하고 영상처리를 통해 불량정보와 블랙매트릭스의 위치정보를 검출하는 단계와; 불량정보와 블랙매트릭스의 위치정보를 비교하여 불량의 위치정보를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해 표시패널에 발생한 불량의 위치정보를 정확히 계산할 수 있는 표시패널의 검사방법이 제공된다.

Description

표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치{METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL}
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 표시패널 검사장치의 구성도이고,
도 2a와 2b는 본 발명의 일실시예에 따른 불량의 위치정보를 계산하는 방법을 설명하기 위한 도면이며,
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.
* 도면의 주요부분의 부호에 대한 설명 *
10 : 패턴인가부 20 : 촬상부
30 : 영상처리부 31 : 영상포착부
32 : 불량감지부 33 : 위치정렬부
40 : 제어부 50 : 표시부
100 : 표시패널
본 발명은 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치에 관한 것으로서, 더 욱 상세하게는, 표시패널에 나타난 불량의 위치정보를 정확하게 계산할 수 있는 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치에 관한 것이다.
평판표시장치(flat panel display)로서 액정표시장치(LCD)가 널리 사용되고 있다. 액정표시장치는 액정패널과 백라이트 유닛을 포함하며, 액정표시패널은 스위칭 소자인 박막트랜지스터가 형성되어 있는 박막트랜지스터 기판, 컬러필터층이 형성되어 있는 컬러필터 기판 그리고 양 기판 사이에 형성되어 있는 액정층을 포함한다.
액정표시장치의 제조에 있어 여러 검사가 수행된다. 검사는 박막트랜지스터 기판과 컬러필터 기판 각각에 대하여 수행될 수도 있으며, 양 기판이 접합된 액정표시패널에 대하여 수행될 수도 있다.
액정표시패널에 대한 검사 중 완성된 액정표시패널에 위한 일정한 패턴을 인가하고 카메라를 이용하여 액정표시패널에 형성된 화면을 촬영하여 불량여부를 검출하는 검사가 있다. 이러한 검사에 의하여 불량이 검출된 경우에 불량을 수리하고 액정표시패널의 제조과정에서 불량의 발생을 방지하기 위한 조치를 취하기 위하여 불량의 정확한 위치를 파악할 필요가 있다. 이러한 불량의 위치는 블랙매트릭스를 기준으로 Y방향의 좌표를 계산하고, RGB(빨강, 녹색, 파랑)의 서브픽셀을 기준으로 X방향의 좌표를 계산하여 불량의 위치정보를 얻는다.
그러나, 액정표시장치의 성능을 개선하기 위하여 액정층에 인가된 용량을 일정시간 유지시켜주는 공통전극선(common line)이 사용되는데, 촬영화면에서 공통전극선도 블랙매트릭스 같이 어둡게 나타나 블랙매트릭스와 공통전극선 간의 구별이 모호하여 불량의 위치정보를 정확히 계산하기 힘든 문제점이 있다. 더욱이, 액정표시패널의 시야각 특성 때문에 액정표시패널의 영역별 왜곡정도가 서로 달라 촬영된 영상에서의 블랙매트릭스의 위치가 왜곡되어 촬영되고, 카메라 렌즈의 왜곡에 의하여 촬영된 영상의 블랙매트릭스의 위치가 왜곡되기 때문에, 불량의 정확한 위치정보를 계산하기 더욱 어려운 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 표시패널에 발생한 불량의 위치정보를 정확히 계산할 수 있는 표시패널의 검사방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 표시패널에 발생한 불량의 위치정보를 정확히 계산할 수 있는 표시패널의 검사장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 목적은, 본 발명에 따라, 표시패널에 불량검출패턴과 블랙매트릭스의 위치정보를 검출하기 위한 스트립패턴을 인가하고 영상처리를 통해 불량정보와 블랙매트릭스의 위치정보를 검출하는 단계와; 불량정보와 블랙매트릭스의 위치정보를 비교하여 불량의 위치정보를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법에 의하여 달성된다.
여기서, 표시패널은 가로방향으로 연장된 복수의 게이트선을 포함하며, 스트립패턴은 한 프레임 내에서 인접한 게이트선에 서로 다른 신호를 인가하는 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하기에 것이 바람직하다.
그리고, 게이트선에 인가되는 신호는 게이트온전압과 게이트오프전압일 수 있다.
본 발명의 다른 목적은, 본 발명에 따라 표시패널에 불량검출을 위한 불량검출패턴과 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하기 위한 스트립패턴 중 적어도 어느 하나를 인가하는 패턴인가부와; 패턴들이 인가된 표시패널의 영상을 촬영하는 촬상부와; 촬상부로부터의 영상을 처리하여 불량정보와 블랙매트릭스의 위치정보를 판독하는 영상처리부; 및 영상처리부로부터의 불량정보와 블랙매트릭스의 위치정보를 비교하여 불량의 위치정보를 계산하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치에 의하여 달성된다.
여기서, 영상처리부는 촬상부로부터 촬영된 영상을 습득하는 영상포착부와, 불량검출패턴이 인가된 경우의 영상을 기초로 불량정보를 파악하는 불량감지부; 및 스트립패턴이 인가된 경우의 영상을 기초로 블랙매트릭스의 위치정보를 파악하는 위치정렬부를 포함할 수 있다.
그리고, 불량의 위치정보를 표시하는 표시부를 더 포함하며, 제어부는 표시부, 패턴인가부, 영상처리부 및 촬상부 중 적어도 어느 하나의 동작을 제어할 수 있다.
이하 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하겠다. 본 발명의 '표시패널'은, 이에 한정되지는 않으나, 액정표시장치의 액정표시패널 또는 유기전기발광장치(organic light emitting diode)의 표시패널을 포함한다. 이하의 실시예에서는 '표시패널'로 액정표시패널을 예로 들어 본 발명을 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 표시패널 검사장치의 구성도이고, 도2a와 도2b는 본 발명의 일실시예에 따른 불량의 위치정보를 계산하는 방법을 설명하기 위한 도면이며, 도3은 본 발명의 일실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.
표시패널 검사장치(1)는 액정표시패널(100)에 검사를 위한 패턴과 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하기 위한 패턴을 인가하는 패턴인가부(10), 액정표시패널(100)에 형성된 화상을 촬영하는 촬상부(20), 촬상부(20)에서 촬영한 영상을 처리하여 불량여부를 판단하고 블랙매트릭스의 위치를 계산하는 영상처리부(30), 상기 영상처리부(30)의 정보를 기초로 불량이 발생한 정확한 위치를 계산하는 제어부(40) 및 불량의 위치정보를 표시하는 표시부(50)를 포함한다.
패턴인가부(10)는 불량을 검출하기 위한 패턴(이하 '불량검출패턴'이라함.)을 인가하는 제1패턴인가부(11)와 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하기 위한 패턴(이하 '스트립패턴'이라함.)을 인가하는 제2패턴인가부(12)를 포함한다.
액정표시패널(100)은 서로 직교하여 화소를 정의하는 게이트선 및 데이터선, 게이트선과 데이터선의 교차영역에 위치하는 스위칭 소자인 박막트랜지스터를 포함한다. 게이트선과 데이터선은 게이트 구동부와 데이터 구동부에 연결되어 있으며, 게이트 구동부와 데이터 구동부를 구동시켜 화면을 형성하게 된다. 패턴인가부(10)는 게이트 구동부와 데이터 구동부에 연결되거나, 게이트 구동부와 데이터 구동부의 역할까지 수행하며 액정표시패널(100)에 검사를 위한 화면 패턴을 인가한다.
제1패턴인가부(11)는 액정표시패널의 불량을 검출하기 위한 불량검출패턴으로서, 예를 들어, 화면 전체에 블랙 신호를 인가 할 수 있다. 이 때 불량이 발생한 부분은 블랙을 이루지 못하여 주위와 대비비 차이가 발생하기 때문에 불량확인이 가능하다.
제2패턴인가부(12)는 블랙매트릭스의 위치정보를 검출하기 위한 스트립패턴으로 게이트온전압과 게이트오프전압을 번갈아 복수의 게이트선에 인가할 수 있다. 즉 한 프레임 내에서 인접한 게이트선에 서로 다른 신호를 인가할 수 있다. 예를 들어 스트립패턴은, 도2a에 도시된 바와 같이, 홀수번째의 게이트선에는 게이트오프전압을, 짝수번째의 게이트선에는 게이트온전압을 인가하여 홀수번째 게이트선에 연결된 픽셀들이 모두 온(OFF)되도록 하고, 짝수번째 게이트선에 연결된 픽셀들이 모두 온(ON)되도록 하는 것이다. 실시예와 달리, 하나의 게이트선에만 다른 신호를 인가하는 방식을 순차적으로 적용할 수도 있고, 인접한 복수의 게이트선을 하나의 유닛으로 설정하고 서로 인접한 게이트선 유닛에 서로 다른 신호를 인가할 수도 있다.
촬상부(20)는 패턴인가부(10)에 의해 액정표시패널(100)에 형성된 화상을 촬영한다. 촬상부(20)는 CCD(charge-coupled device) 카메라를 포함하는데 액정표시패널(100)의 크기가 커지면 하나의 CCD 카메라로 전체 화상을 촬상하기 어려워 CCD 카메라는 복수개로 마련되는 것이 바람직하다. CCD 카메라에는 미소한 화소가 복수개 마련되어 있어 화소 별로 측정대상의 밝기를 측정할 수도 있다. CCD 카메라는 액정표시패널(100)의 화소별 색상을 구분할 수 있는 컬러 CCD카메라인 것이 바람직하며, 블랙 CCD 카메라의 경우 적색, 녹색, 청색 컬러 필러를 갖추는 것이 바람직하다. 촬상부(20)는 고정되어 있을 수 있으나 액정표시패널(100)과 상대적으로 이 동하는 것이 바람직하다. 이를 위해 액정표시패널(100)이 X-Y구동하는 스테이지(도시하지 않음)에 안착되어 있거나, 촬상부(20)가 X-Y구동시키는 구동부(도시하지 않음)에 연결되어 있을 수 있다.
영상처리부(30)는 촬상부(20)에서 촬영한 영상을 처리하여 불량여부를 판단하여 불량 부분을 검출하고 블랙매트릭스의 위치정보를 추출한다. 이러한 영상처리부(30)는 촬영된 화상을 습득하는 영상포착부(31)와 포착된 영상을 기초로 하여 액정표시패널(100)에 불량이 발생하였는지 여부를 판단하고 불량부분을 검출하는 불량감지부(32) 및 포착된 영상을 기초로 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하는 위치정렬부(33)를 포함한다.
영상포착부(31)는 액정표시패널(100)에 불량검출패턴이 인가된 경우의 화상을 촬상부(20)로부터 습득하여 불량감지부(32)로 보내며, 액정표시패널(100)에 스트립패턴이 인가된 경우의 화상을 촬상부(20)로부터 습득하여 위치정렬부(33)로 보낸다.
불량감지부(32)는 영상포착부(31)로부터 전달받은 영상을 처리하여 불량여부를 결정하고 불량 부분을 검출한다. 예를 들어, 불량검출패턴으로써 화면전체에 블랙신호를 인가한 경우에 블랙신호가 아닌 밝게 나타나는 픽셀이 존재하는지 대비비(contrast)비교하여 불량여부를 판단하고, 불량이라고 판단된 경우 상기 불량에 대한정보를 검출한다. 여기서 불량정보란 불량이 발생되었는지 여부, 불량부분, 불량의 종류, 불량의 정도, 화면상의 불량이 발생된 영역(위치) 등을 포함한다.
종래에는 얻어진 불량정보를 블랙매트릭스를 기준으로 계산된 Y방향의 좌표 정보와, RGB(빨강, 녹색, 파랑)의 서브픽셀을 기준으로 계산된 X방향의 좌표정보로 이루어진 좌표정보에 비교하여 불량의 정확한 위치를 판독하였다. 여기서, Y방향의 좌표정보는 블랙매트릭스가 크롬을 포함하는 차광부재임을 이용하여, 액정표시패널(100)에 화이트 신호를 인가하여 어둡게 나타나는 곳을 블랙매트릭스의 위치로 하여 계산하였다.
그러나 액정표시장치의 성능을 개선하기 위하여 액정층에 인가된 용량을 일정시간 유지시켜주는 공통전극선(common line)이 사용된다. 이러한 공통전극선은 금속층으로 폭이 크게 제작되어 있어 촬영화면에서 공통전극선도 블랙매트릭스와 같이 어둡게 나타나 블랙매트릭스와 공통전극선 간의 구별이 모호해져 블랙매트릭스의 위치정보를 정확히 계산할 수 없다. 이에 의하여 불량의 위치정보를 정확히 계산하기 어렵다. 더욱이, 블랙매트릭스의 위치정보 계산의 기초가 되는 화면은 액정표시패널(100)의 시야각 특성 때문에 영역별로 왜곡되어 있는 화면이고, 카메라 렌즈에 의하여도 왜곡된 화면이어서, 블랙매트릭스의 위치가 왜곡되어 불량의 정확한 위치정보를 계산하기 더욱 어려운 문제점이 있다.
이에 본 발명에서는 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하기 위한 스트랩패턴을 인가하여 블랙매트릭스의 위치정보를 정확히 계산함으로서 불량의 위치정보를 정확히 얻는다. 즉, 도2a에 도시된 바와 같이, 액정표시패널(100)에 스트립패턴을 인가하여 촬영한 영상으로부터 블랙매트릭스의 위치를 계산한다. 즉, 홀수번째의 게이트선에는 게이트오프전압을, 짝수번째의 게이트선에는 게이트온전압을 인가하여 홀수번째 게이트선에 연결된 픽셀들이 모두 온(OFF)되도록 하고, 짝수번째 게이트선 에 연결된 픽셀들이 모두 온(ON)되도록 하는 스트립패턴을 인가한다. 여기서, 블랙매트릭스는 각 픽셀을 구획 또는 구분하고 있으므로 온(ON)된 픽셀과 오프(OFF)된 픽셀의 경계영역이 블랙매트릭스의 위치가 되는 것이다.
이에 의하여, 블랙매트릭스와 공통전극선 간의 위치가 명확히 구별되어 더욱 정확한 블랙매트릭스의 위치정보를 얻을 수 있게 된다. 블랙매트릭스의 위치가 명확히 구별되는 영상의 촬영이 가능하므로, 시야각 또는 카레라 렌즈의 의한 왜곡에도 불구하고 신뢰할 수 있는 범위 내에서 블랙매트릭스의 위치정보를 계산가능하고, Y방향의 좌표정보를 얻을 수 있다.
X방향의 좌표정보는 도2b에 도시된 바와 같이, 각 데이터선에 서로 다른 신호를 인가하여 계산한다. 즉, 첫 번째 데이터선에 레드(red)신호를, 두 번째 데이터선에 그린(green)신호를, 세 번째 데이터선에 블루(blue)신호를 각각 인가하여 각 데이터선을 서로 구별시킴으로써 X방향의 좌표정보를 얻는다.
제어부(40)는 불량감지부(32)로부터의 불량정보와 위치정렬부(33)로부터의 X, Y좌표정보를 비교하여 불량의 위치정보를 계산한다. 즉, 불량정보와 블랙매트릭스의 위치정보를 비교하여 Y방향의 불량위치정보를 계산하고, 불량정보와 RGB(빨강, 녹색, 파랑)의 서브픽셀을 기준으로 설정된 좌표정보와 비교하여 X방향의 불량위치정보를 계산한다. 그리고, 제어부(40)는 패턴인가부(10), 촬상부(20), 영상처리부(30) 및 표시부(50)의 동작을 제어한다.
표시부(50)는 제어부(40)에 의하여 계산된 불량의 위치정보를 표시한다.
이하 도3을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명한다. 도3은 본 발명의 일실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.
먼저 제1패턴인가부(11)가 액정표시패널(100)에 불량검출패턴을 인가한다(S10). 액정표시패널(100)은 X-Y구동 가능한 스테이지에 안착되어 있을 수 있다. 또한 이하의 액정표시패널(100)의 검사는 일정한 온도에서 수행되는 것이 바람직한데, 이를 위해 액정표시패널(100)은 온도챔버에 수용되거나 온도 플레이트 상에 위치할 수도 있다.
밝기불량 검출패턴은, 예를 들어, 액정표시패널(100)의 화면을 블랙 상태로 만드는 패턴일 수 있다.
이후 밝기불량 검출패턴에 의해 형성된 액정표시패널(100)의 영상을 촬영한다(S20). 영상 촬영은 CCD 카메라를 포함하는 촬상부(20)가 수행하며, 복수의 CCD 카메라를 이용하여 영상을 촬영하는 것도 가능하다.
이후 촬영된 영상에 기초하여 영상처리를 통하여 불량여부를 판단하고 불량 부분을 판독하여 불량정보를 검출한다(S30). 여기서 불량정보란 불량이 발생되었는지 여부, 불량부분, 불량의 종류, 불량의 정도, 화면상의 불량이 발생된 영역(위치) 등을 포함한다. 불량이 발생한 부분은 인가된 신호대로 화상이 표현되지 않으므로 불량부분을 판독할 수 있다. 불량 부분의 판단은 주위와의 대비비, 계조 등의 특성이 일정 수준 이상인지 여부로 결정할 수 있다.
상기 불량정보 검출단계와 동시에 또는 별개로 블랙매트릭스의 위치정보를 추출한다. 먼저, 제2패턴인가부(12)가 액정표시패널(100)에 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하기 위한 스트립패턴을 인가한다(S100). 스트립패턴은 인접한 게이트선에 서로 다른 신호를 인가하는 것으로, 게이트온전압과 게이트오프전압을 번갈아 인가한다. 이런 스트립패턴에 의하여 각 게이트선에 연결된 픽셀들이 모두 온(ON)되거나 오프(OFF)되어 검은색줄과 흰색줄이 번갈아 위치하는 줄무늬 형상의 영상이 얻어진다.
이후 스트립패턴의 인가에 의하여 형성된 액정표시패널(100)의 영상을 촬영한다(S200). 영상 촬영은 CCD 카메라를 포함하는 촬상부(20)가 수행하며, 복수의 CCD 카메라를 이용하여 영상을 촬영하는 것도 가능하다. 촬상부(20)는 액정표시패널(100)의 화상을 색상을 구분하여 촬영하는데, CCD 카메라가 칼라 기능이 없는 경우 CCD카메라에 적색 칼라필터, 녹색 칼라필터, 청색 칼라필터를 각각 채용하여 색상별로 화상을 촬영한다.
이후 촬영된 영상에 기초하여 영상처리를 통하여 블랙매트릭스의 위치정보를 추출한다(S300). 온(ON)된 셀과 오프(OFF)된 셀의 경계영역이 블랙매트릭스의 위치가 된다. 이러한 영상으로부터 얻어진 블랙매트릭스의 위치정보를 통하여 Y방향의 좌표정보를 얻게 된다.
그리고 별개의 단계를 거쳐서 RGB(빨강, 녹색, 파랑)의 서브픽셀을 기준으로 계산된 X방향의 좌표정보를 얻는다.
이후, 제어부(40)는 이렇게 얻어진 불량정보와 좌표정보를 비교하여 불량이 발생한 곳의 정확한 위치정보를 계산한다. 스트립패턴을 이용하여 블랙매트릭스의 위치정보를 얻었기 때문에 보다 정확한 불량의 위치정보를 계산할 수 있다. 제어부(50)는 불량이 발생한 화상에 좌표정보를 인가하여 불량의 정확한 위치정보를 계산할 수도 있고, 좌표가 얻어진 화상에 불량정보를 인가하여 불량의 위치정보를 계산할 수도 있다. 다른 실시예로, 좌표가 얻어진 화상과 불량이 발생한 화상을 매칭(matching)시켜 불량의 위치정보를 계산할 수도 있다.
이렇게 계산된 불량의 위치정보는 표시부(50)에 표시되며, 작업자는 상기 불량의 위치정보를 기초로 하여 불량을 수리하거나, 액정표시패널의 제조과정에서 불량의 발생을 감소시키기 위한 조치를 취한다.
이상의 실시예에서 검사 대상은 유기전기발광장치(organic light emitting diode) 의 표시패널일 수 있다.
유기전기발광장치는 전기적인 신호를 받아 발광하는 유기물을 이용한 자발광형 소자이다. 유기전기발광장치에는 음극층(화소전극), 홀 주입층, 홀 수송층, 발광층, 전자수송층, 전자 주입층, 양극층(대향전극)이 적층되어 있다.
비록 본발명의 실시예가 도시되고 설명되었지만, 본발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 본발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 표시패널에 발생한 불량의 위치정보를 정확히 계산할 수 있는 표시패널의 검사방법이 제공된다.
또한 본 발명에 따르면 표시패널에 발생한 불량의 위치정보를 정확히 계산할 수 있는 표시패널의 검사장치가 제공된다.

Claims (6)

  1. 표시패널의 검사방법에 있어서,
    상기 표시패널에 불량검출패턴과 블랙매트릭스의 위치정보를 검출하기 위한 스트립패턴을 인가하고 영상처리를 통해 불량정보와 상기 블랙매트릭스의 위치정보를 검출하는 단계와;
    상기 불량정보와 상기 블랙매트릭스의 위치정보를 비교하여 상기 불량의 위치정보를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 표시패널은 가로방향으로 연장된 복수의 게이트선을 포함하며,
    상기 스트립패턴은 한 프레임 내에서 인접한 상기 게이트선에 서로 다른 신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 게이트선에 인가되는 신호는 게이트온전압과 게이트오프전압인 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.
  4. 표시패널의 검사장치에 있어서,
    상기 표시패널에 불량검출을 위한 불량검출패턴과 블랙매트릭스의 위치정보 를 추출하기 위한 스트립패턴 중 적어도 어느 하나를 인가하는 패턴인가부와;
    상기 패턴들이 인가된 상기 표시패널의 영상을 촬영하는 촬상부와;
    상기 촬상부로부터의 영상을 처리하여 불량정보와 상기 블랙매트릭스의 위치정보를 판독하는 영상처리부; 및
    상기 영상처리부로부터의 불량정보와 상기 블랙매트릭스의 위치정보를 비교하여 불량의 위치정보를 계산하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 영상처리부는 상기 촬상부로부터 촬영된 영상을 습득하는 영상포착부와,상기 불량검출패턴이 인가된 경우의 영상을 기초로 불량정보를 파악하는 불량감지부; 및
    상기 스트립패턴이 인가된 경우의 영상을 기초로 상기 블랙매트릭스의 위치정보를 파악하는 위치정렬부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 불량의 위치정보를 표시하는 표시부를 더 포함하며,
    상기 제어부는 상기 표시부, 패턴인가부, 영상처리부 및 촬상부의 동작을 제어하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100790356B1 (ko) * 2001-12-29 2008-01-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치용 컬러필터 기판의 시프트 불량 검사 방법
KR101426487B1 (ko) * 2008-01-02 2014-08-06 삼성전자주식회사 표시패널의 검사 장치 및 그 방법

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