CN111696459B - 检测模组、裂纹检测方法、显示面板和显示装置 - Google Patents

检测模组、裂纹检测方法、显示面板和显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种检测模组、裂纹检测方法、显示面板和显示装置。检测模组包括检测电路和裂纹检测线；检测电路和裂纹检测线设置于周边区域；检测电路的控制端与裂纹检测线的第一端耦接，检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，检测电路的第二端与多级移位寄存器单元中的一级移位寄存器单元的扫描信号输出端耦接；检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开裂纹检测线与扫描信号输出端之间的连通；裂纹检测线的第二端与第一电压信号线耦接。本发明能够指示显示面板的周边区域是否存在裂纹。

Description

检测模组、裂纹检测方法、显示面板和显示装置
技术领域
本发明涉及裂纹检测技术领域，尤其涉及一种检测模组、裂纹检测方法、显示面板和显示装置。
背景技术
对于柔性OLED(有机发光二极管)显示屏，边缘区域很容易产生Crack(裂纹)，目前常用的方法是采用PCD(Panel Crack Detection，面板裂纹检测)走线来检测，但这种方法操作麻烦且检出效率低。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种检测模组、裂纹检测方法、显示面板和显示装置，解决现有的裂纹检测方法操作麻烦且检出效率低的问题。
为了达到上述目的，本发明提供了一种检测模组，应用于显示面板，所述显示面板包括扫描驱动电路，所述扫描驱动电路包括多级移位寄存器单元，所述扫描驱动电路设置于显示面板的周边区域；所述周边区域为所述显示面板的显示区域与所述显示面板的边缘之间的区域；
所述移位寄存器单元与位于所述显示面板的显示区域中的扫描线耦接，用于为所述扫描线提供扫描信号；所述扫描线不接收除了所述移位寄存器单元之外的驱动单元提供的扫描信号；
所述检测模组包括检测电路和裂纹检测线；所述检测电路和所述裂纹检测线设置于所述周边区域；
所述检测电路的控制端与所述裂纹检测线的第一端耦接，所述检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述检测电路的第二端与所述多级移位寄存器单元中的一级移位寄存器单元的扫描信号输出端耦接；所述检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述裂纹检测线与所述扫描信号输出端之间的连通；
所述裂纹检测线的第二端与所述第一电压信号线耦接。
可选的，所述裂纹检测线围绕着所述显示区域设置；或者，所述裂纹检测线部分围绕所述显示区域。
可选的，所述检测线包含于栅金属层图形或源漏金属层图形。
可选的，所述周边区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，其中，所述第一区域和所述第二区域相对设置，所述第三区域和所述第四区域相对设置，在所述第一区域和所述第二区域设置有驱动模组，所述驱动模组包括所述扫描驱动电路；在所述第四区域设置有驱动集成电路；
所述裂纹检测线包括多条相互耦接的检测线；至少一条所述检测线设置于所述第一区域，至少一条所述检测线设置于所述第二区域，至少一条所述检测线设置于所述第三区域。
可选的，所述扫描驱动电路为发光控制电路，所述扫描信号为发光控制信号。
可选的，所述扫描线与位于显示面板的显示区域中的至少一行像素电路耦接，所述显示区域包括异形区域；
所述像素电路设置于所述异形区域。
可选的，所述周边区域包括沿着远离显示区域设置的GOA区域、信号线区域和边缘区域；所述边缘区域设置于所述信号线区域与所述显示面板的边缘之间，所述扫描驱动电路设置于所述GOA区域，所述裂纹检测线设置于所述边缘区域。
可选的，所述检测电路包括第一检测晶体管和第二检测晶体管，其中，
所述第一检测晶体管的控制极和所述第二检测晶体管的控制极分别与所述检测电路的控制端耦接；
所述第二检测晶体管的第一极与所述检测电路的第一端耦接，所述第二检测晶体管的第二极与所述第一检测晶体管的第一极耦接；
所述第一检测晶体管的第二极与所述检测电路的第二端耦接。
可选的，所述检测模组包括第一检测电路、第二检测电路、第一裂纹检测线和第二裂纹检测线；所述第一检测电路、所述第二检测电路、所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于所述周边区域；所述扫描线包括第一扫描线和第二扫描线；
所述第一检测电路的控制端与所述第一裂纹检测线的第一端耦接，所述第一检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述第一检测电路的第二端与所述第一扫描线耦接；所述第一检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述第一裂纹检测线与所述第一扫描线之间的连通；
所述第二检测电路的控制端与所述第二裂纹检测线的第一端耦接，所述第二检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述第二检测电路的第二端与所述第二扫描线耦接；所述第二检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述第二裂纹检测线与所述第二扫描线之间的连通；
所述第一裂纹检测线的第二端和所述第二裂纹检测线的第二端分别与所述第一电压信号线耦接。
可选的，所述周边区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，其中，所述第一区域和所述第二区域相对设置，所述第三区域和所述第四区域相对设置，在所述第一区域和所述第二区域设置有驱动模组，所述驱动模组包括所述扫描驱动电路；在所述第四区域设置有驱动集成电路；
所述第一检测电路设置于所述第一区域，所述第二检测电路设置于所述第二区域；
所述第一裂纹检测线包括多条相互耦接的第一检测线；至少一条所述第一检测线设置于所述第一区域，至少一条所述第一检测线设置于所述第三区域；
所述第二裂纹检测线包括多条相互耦接的第二检测线；至少一条所述第二检测线设置于所述第二区域，至少一条所述第二检测线设置于所述第三区域。
可选的，所述第一检测电路包括第一检测晶体管和第二检测晶体管，其中，
所述第一检测晶体管的控制极和所述第二检测晶体管的控制极分别与所述第一检测电路的控制端耦接；
所述第二检测晶体管的第一极与所述第一检测电路的第一端耦接，所述第二检测晶体管的第二极与所述第一检测晶体管的第一极耦接；
所述第一检测晶体管的第二极与所述第一检测电路的第二端耦接；
所述第二检测电路包括第三检测晶体管和第四检测晶体管，其中，
所述第三检测晶体管的控制极和所述第四检测晶体管的控制极分别与所述第二检测电路的控制端耦接；
所述第四检测晶体管的第一极与所述第二检测电路的第一端耦接，所述第四检测晶体管的第二极与所述第三检测晶体管的第一极耦接；
所述第三检测晶体管的第二极与所述第二检测电路的第二端耦接。
本发明还提供了一种裂纹检测方法，应用于上述的检测模组，扫描线与位于显示面板的显示区域中的至少一行像素电路耦接；所述裂纹检测方法包括：
通过第一电压信号线为检测电路的第一端和裂纹检测线的第二端提供第一电压信号；
根据所述显示面板显示时是否存在暗线，以判断显示面板是否存在裂纹。
本发明还提供了一种显示面板，包括上述的检测模组。
本发明还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。
本发明实施例所述的检测模组、裂纹检测方法、显示面板和显示装置能够指示显示面板的周边区域是否存在裂纹。
附图说明
图1是本发明实施例所述的检测模组的结构图；
图2A和图2B是异形显示面板的分区示意图；
图3A是发光控制电路的一实施例的电路图；
图3B是图3A所示的发光控制电路的实施例的工作时序图；
图4是显示面板包括的发光控制电路和像素电路之间的连接关系示意图；
图5本发明另一实施例所述的检测模组的电路图；
图6是本发明所述的检测模组的一具体实施例的电路图；
图7A-图7G是制作本发明实施例所述的显示面板时的截面图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明所有实施例中采用的晶体管均可以为三极管、薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件。在本发明实施例中，为区分晶体管除控制极之外的两极，将其中一极称为第一极，另一极称为第二极。
在实际操作时，当所述晶体管为三极管时，所述控制极可以为基极，所述第一极可以为集电极，所述第二极可以发射极；或者，所述控制极可以为基极，所述第一极可以为发射极，所述第二极可以集电极。
在实际操作时，当所述晶体管为薄膜晶体管或场效应管时，所述控制极可以为栅极，所述第一极可以为漏极，所述第二极可以为源极；或者，所述控制极可以为栅极，所述第一极可以为源极，所述第二极可以为漏极。
本发明实施例所述的检测模组，应用于显示面板，所述显示面板包括扫描驱动电路，所述扫描驱动电路包括多级移位寄存器单元，所述扫描驱动电路设置于显示面板的周边区域；所述周边区域为所述显示面板的显示区域与所述显示面板的边缘之间的区域；
所述移位寄存器单元与位于所述显示面板的显示区域中的扫描线耦接，用于为所述扫描线提供扫描信号；所述扫描线不接收除了所述移位寄存器单元之外的驱动单元提供的扫描信号；
如图1所示，所述检测模组包括检测电路10和裂纹检测线Cd；所述检测电路10和所述裂纹检测线Ct设置于所述周边区域；
所述检测电路10的控制端与所述裂纹检测线Cd的第一端耦接，所述检测电路10的第一端与第一电压信号线V1耦接，所述检测电路10的第二端与所述多级移位寄存器单元中的一级移位寄存器单元的扫描信号输出端E0耦接；所述检测电路10用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述裂纹检测线Cd与所述扫描信号输出端E0之间的连通；
所述裂纹检测线Cd的第二端与所述第一电压信号线V1耦接。
本发明实施例所述的检测模组包括设置于周边区域的检测电路和裂纹检测线，所述检测电路用于在裂纹检测线的第一端的电位的控制下，控制导通或断开第一电压信号线与扫描线之间的连接，当所述裂纹检测线上存在裂纹而导致断路时，所述裂纹检测线的第一端的电位为0V，此时，所述检测电路控制所述第一电压信号线与所述扫描信号输出端之间连通，所述扫描信号输出端接入第一电压信号，所述扫描信号输出端通过与其耦接的扫描线提供所述第一电压信号至相应的像素电路，以控制所述相应的像素电路不发光，并控制所述扫描驱动电路包括的在所述移位寄存器单元后级的移位寄存器单元驱动的像素电路都不发光，从而能够指示显示面板的周边区域存在裂纹。
在本发明实施例中，所述裂纹检测线Cd围绕着所述显示区域设置。
在具体实施时，裂纹的产生一般是由显示面板的边缘开始，不断延伸至GOA(GateOn Array，设置于阵列基板上的栅极驱动电路)区域，因此本发明实施例将所述裂纹检测线Cd靠近显示面板的边缘设置，并将Cd设置为围绕显示区域，以使得未延伸至GOA区域的边缘裂纹也可以被准确、高效地检出。
在本发明实施例中，在所述显示区域内设置有像素电路，所述移位寄存器单元位于所述显示面板的显示区域中的至少一条扫描线耦接，每条扫描线可以与位于所述显示区域中的至少一行像素电路耦接，所述扫描驱动电路可以为发光控制电路，所述扫描信号可以为发光控制信号，所述扫描线可以为发光控制线，但不以此为限。在具体实施时，当所述扫描线上的电压信号为第一电压信号时，与该扫描线耦接的至少一行像素电路不发光，并由于所述扫描驱动电路包括多个级联的移位寄存器单元，前一级移位寄存器单元输出的扫描信号作为相邻下一级移位寄存器单元的输入信号，因此当前一级所述移位寄存器单元输出的扫描信号为第一电压信号时，提供至相邻下一级移位寄存器单元的输入信号为第一电压信号，则相邻下一级移位寄存器单元也不能够提供有效的发光控制信号至相应的像素电路，则所述扫描驱动电路包括的在该前一级移位寄存器之后的所有级移位寄存器的单元都不能提供有效的发光控制信号至相应的像素电路，从而相应的像素电路都不发光。
在本发明实施例中，所述有效的发光控制信号指的是：能够控制像素电路中的发光控制晶体管导通的电压信号，所述发光控制晶体管的控制极接入该发光控制信号。
可选的，当所述发光控制晶体管为p型晶体管时，所述第一电压信号可以为高电压信号，所述有效的发光控制信号可以为低电压信号，但不以此为限。
可选的，当所述发光控制晶体管为n型晶体管时，所述第一电压信号可以为低电压信号，所述有效的发光控制信号可以为高电压信号，但不以此为限。
在具体实施时，所述移位寄存器单元的扫描信号输出端与位于所述显示面板的显示区域中的扫描线耦接，用于通过所述扫描信号输出端为所述扫描线提供扫描信号；所述扫描线不接收除了所述移位寄存器单元之外的驱动单元提供的扫描信号。也即，该扫描线仅与一个移位寄存器单元耦接，而并不是两个移位寄存器单元分别与该扫描线的两端耦接，当该移位寄存器单元通过其扫描信号输出端向该扫描线提供第一电压信号时，该扫描线上的电压信号不会被另一个移位寄存器单元维持为有效的发光控制信号，从而可以进行裂纹检测。
在本发明实施例中，以第一电压信号为高电压信号为例说明。
在具体实施时，所述周边区域可以包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，其中，所述第一区域和所述第二区域相对设置，所述第三区域和所述第四区域相对设置，在所述第一区域和所述第二区域设置有驱动模组，所述驱动模组包括所述扫描驱动电路；在所述第四区域设置有驱动集成电路。
在本发明实施例中，所述扫描驱动电路可以为发光控制电路，所述扫描线可以为发光控制线，所述发光控制电路可以用于为相应的像素电路提供发光控制电路。在实际操作时，所述驱动模组还可以包括栅极驱动电路，所述栅极驱动电路与栅线耦接，用于为相应的像素电路提供栅极驱动信号。
在实际操作时，所述显示区域可以包括规则显示区域和异形区域；
在所述规则显示区域，一般对一行像素电路都是进行双边发光控制，也即发光控制线的两端分别连接一个移位寄存器单元；
在异形区域，一般对像素电路进行单边驱动，也即在异形区域，一行像素电路中的左侧像素电路都与相应行左侧发光控制线电连接，一行像素电路中的都右侧像素电路与相应行右侧发光控制线电连接，因此，在异形区域中，一个像素电路仅与一条发光控制线电连接，当该发光控制线不能提供有效的发光控制信号时，该像素电路不发光。
如图2A所示，标号为20的为显示面板，标号为A1的为正常显示区域，标号为A21的为左侧异形区域，标号为A22的为右侧异形区域，
如图2B所示，标号为A01的为周边区域包括的第一区域，标号为A02的为周边区域包括的第二区域，标号为A03的为周边区域包括的第三区域，标号为A04的为周边区域包括的第四区域，在所述第一区域A01和第二区域A02设置有驱动模组，在所述第四区域A04设置有驱动集成电路21；
所述第一区域A01和所述第二区域A02相对设置，所述第三区域A03和所述第四区域A04相对设置。
在图2A、图2B所示的实施例中，A01设置于显示区域的左侧，A02设置于显示区域的右侧，A03设置于显示区域的下侧，A04设置于显示区域的上侧，但不以此为限。
在具体实施时，所述裂纹检测线围绕着所述显示区域设置；或者，所述裂纹检测线部分围绕所述显示区域。
在本发明实施例中，所述检测线可以包含于栅金属层图形或源漏金属层图形。
在具体实施时，所述周边区域可以包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，其中，所述第一区域和所述第二区域相对设置，所述第三区域和所述第四区域相对设置，在所述第一区域和所述第二区域设置有驱动模组，所述驱动模组包括所述扫描驱动电路；在所述第四区域设置有驱动集成电路；
所述裂纹检测线包括多条相互耦接的检测线；至少一条所述检测线设置于所述第一区域，至少一条所述检测线设置于所述第二区域，至少一条所述检测线设置于所述第三区域。
可选的，所述扫描驱动电路可以为发光控制电路，所述扫描信号为发光控制信号，但不以此为限。
在本发明实施例中，所述扫描线与位于显示面板的显示区域中的至少一行像素电路耦接，所述显示区域可以包括异形区域；
所述像素电路可以设置于所述异形区域，但不以此为限。
在具体实施时，所述周边区域包括沿着远离显示区域设置的GOA区域、信号线区域和边缘区域；所述边缘区域设置于所述信号线区域与所述显示面板的边缘之间，所述扫描驱动电路设置于所述GOA区域，所述裂纹检测线可以设置于所述边缘区域。
如图3A所示，所述发光控制电路的一实施例可以包括第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第四晶体管T4、第五晶体管T5、第六晶体管T6、第七晶体管T7、第八晶体管T8、第九晶体管T9、第十晶体管T10、第一电容C1、第二电容C2和第三电容C3；
在图3A中，标号为CK的为第一时钟信号，标号为CB的为第二时钟信号，标号为VGH为高电压信号，标号为VGL的为低电压信号，标号为ESTV的为起始信号端，标号为Eout的为发光控制信号输出端。
图3B是图3A的工作时序图，在图3B中，标号为t1的为第一阶段，标号为t2的为第二阶段，标号为t3的为第三阶段，标号为t4的为第四阶段，标号为t5的为第五阶段，在t2、t3和t4，Eout输出低电压信号，在t1和t5，Eout输出高电压信号；例如，所述低电压信号可以为-7V电压信号，所述高电压信号可以为7V电压信号。
如图4所示，标号为E1a的为第一行左侧移位寄存器单元，标号为E2a的为第二行左侧移位寄存器单元，标号为Ena的为第n行左侧移位寄存器单元，n为大于2的整数；
标号为E1b的为第一行右侧移位寄存器单元，标号为E2b的为第二行右侧移位寄存器单元，标号为Enb的为第n行右侧移位寄存器单元；
E1a的发光控制信号输出端分别与第一行左侧像素电路单元S1z和第二行左侧像素电路单元S2z电连接，E1b的发光控制信号输出端分别与第一行右侧像素电路单元S1r和第二行右侧像素电路单元S2r电连接；
E2a的发光控制信号输出端分别与第三行左侧像素电路单元S3z和第四行左侧像素电路单元S4z电连接，E2b的发光控制信号输出端分别与第三行右侧像素电路单元S3r和第四行右侧像素电路单元S4r电连接；
Ena的发光控制信号输出端分别与第2n-1行左侧像素电路单元S2n-1z和第2n行左侧像素电路单元S2nz电连接，Enb的发光控制信号输出端分别与第2n-1行右侧像素电路单元S2n-1r和第2n行右侧像素电路单元S2n4电连接；
E1a的发光控制信号输出端为E2a提供输入信号，E1b的发光控制信号输出端为E2b提供输入信号；
其中，S1z、S2z、S3z、S4z、S2n-1z、S2nz、S1r、S2r、S3r、S4r、S2n-1r和S2nr可以设置于异形区域；
标号为En+1a的为第n+1行左侧移位寄存器单元，标号为En+2b的为第二行左侧移位寄存器单元，标号为ENb的为第N行左侧移位寄存器单元；N为正整数；
标号为En+1b的为第n+1行右侧移位寄存器单元，标号为En+2b的为第二行右侧移位寄存器单元，标号为ENb的为第N行右侧移位寄存器单元；
En+1a和En+1b分别与第2n+1行像素电路单元S2n+1电连接，En+1a和En+1b分别与第2n+2行像素电路单元S2n+2电连接，En+2a和En+2b分别与第2n+3行像素电路单元S2n+3电连接，En+2a和En+2b分别与第2n+4行像素电路单元S2n+4电连接，ENa和ENb分别与第2N-1行像素电路单元S2N-1电连接，ENa和ENb分别与第2N行像素电路单元S2N电连接；
其中，S2n+1、S2n+2、S2n+3、S2n+4、S2N-1和S2N可以设置于正常显示区域。
可选的，所述检测电路可以包括第一检测晶体管和第二检测晶体管，其中，
所述第一检测晶体管的控制极和所述第二检测晶体管的控制极分别与所述检测电路的控制端耦接；
所述第二检测晶体管的第一极与所述检测电路的第一端耦接，所述第二检测晶体管的第二极与所述第一检测晶体管的第一极耦接；
所述第一检测晶体管的第二极与所述检测电路的第二端耦接。
如图5所示，在图1所示的检测模组的实施例的基础上，所述检测电路10可以包括第一检测晶体管Td1和第二检测晶体管Td2，其中，
所述第一检测晶体管Td1的栅极和所述第二检测晶体管Td2的栅极分别与所述裂纹检测线Cd的第一端耦接；
所述第二检测晶体管Td2的源极与高电压信号线电连接，所述第二检测晶体管Td2的漏极与第一检测晶体管Td1的源极电连接；所述高电压信号线用于提供高电压信号VGH；
所述第一检测晶体管Td1的漏极与所述多级移位寄存器单元中的一级移位寄存器单元的扫描信号输出端E0电连接。
在图5所示的实施例中，Td1和Td2都为p型薄膜晶体管，但不以此为限。
如图5所示的检测模组的实施例在工作时，当E0输出7V电压信号，并显示面板边缘无裂纹产生时，VGH为7V电压信号，此时Td1的栅源电压等于0V，Td1关闭，Td2的栅源电压等于0V，Td2关闭，发光控制电路中的发光控制信号不受干扰；
当E0输出-7V电压信号，VGH为7V电压信号，显示面板边缘无裂纹产生时，Td1关闭，Td2关闭，发光控制电路中的发光控制信号不受干扰；
当E0输出-7V电压信号，VGH为7V电压信号，显示面板边缘产生裂纹时，裂纹检测线Cd的电位为0V，Td2的栅极电位为0V，Td2的栅源电压为-7V，Td2打开，VGH写入Td1，Td1的栅源电压为-7V，Td1打开，VGH写入E0，使得相应的像素电路不发光，并使得所述多级移位寄存器单元中的一级移位寄存器单元的后级移位寄存器单元驱动的像素电路都不发光，可以判断为AA区(有效显示区)边缘出现裂纹。
在本发明实施例中，所述扫描信号输出端E0可以为图4中的E1a的发光控制信号输出端，当显示面板边缘产生裂纹时，设置于左侧异形区域的像素电路不发光，出现异形区域无显，可以判断为AA区边缘出现裂纹。
在具体实施时，E0也可以为驱动异形区域中的其他像素电路的发光控制信号输出端，例如，E0可以为E1b的发光控制信号端、E2a的发光控制信号端或E2b的发光控制信号端，但不以此为限。
在本发明实施例中，图5所示的检测模组的实施例可以设置于所述第一区域，所述裂纹检测线Cd可以从Td1的栅极、绕至第三区域，再绕回第一区域，连接至高电压信号线，但不以此为限。
在本发明实施例中，检测模组包括的检测电路中的裂纹检测线至少绕过第一区域、第二区域和第三区域中的至少一个，可以检测裂纹检测线所在位置是否存在裂纹。
在具体实施时，所述检测模组可以包括第一检测电路、第二检测电路、第一裂纹检测线和第二裂纹检测线；所述第一检测电路、所述第二检测电路、所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于所述周边区域；所述扫描线包括第一扫描线和第二扫描线；
所述第一检测电路的控制端与所述第一裂纹检测线的第一端耦接，所述第一检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述第一检测电路的第二端与所述第一扫描线耦接；所述第一检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述第一裂纹检测线与所述第一扫描线之间的连通；
所述第二检测电路的控制端与所述第二裂纹检测线的第一端耦接，所述第二检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述第二检测电路的第二端与所述第二扫描线耦接；所述第二检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述第二裂纹检测线与所述第二扫描线之间的连通；
所述第一裂纹检测线的第二端和所述第二裂纹检测线的第二端分别与所述第一电压信号线耦接。
在本发明实施例中，所述检测模组可以包括第一检测电路、第二检测电路、第一裂纹检测线和第二裂纹检测线，所述第一检测电路可以设置于第一区域，所述第二检测电路可以设置于第二区域，所述第一检测电路可以用于检测左半部分的边缘区域是否存在裂纹，所述第二检测电路可以用于检测右半部分的边缘区域是否存在裂纹。
在本发明实施例中，所述周边区域可以包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，其中，所述第一区域和所述第二区域相对设置，所述第三区域和所述第四区域相对设置，在所述第一区域和所述第二区域设置有驱动模组，所述驱动模组包括所述扫描驱动电路；在所述第四区域设置有驱动集成电路；
所述第一检测电路设置于所述第一区域，所述第二检测电路设置于所述第二区域；
所述第一裂纹检测线包括多条相互耦接的第一检测线；至少一条所述第一检测线设置于所述第一区域，至少一条所述第一检测线设置于所述第三区域；
所述第二裂纹检测线包括多条相互耦接的第二检测线；至少一条所述第二检测线设置于所述第二区域，至少一条所述第二检测线设置于所述第三区域。
在本发明实施例中，当所述检测模组包括第一检测电路、第二检测电路、第一裂纹检测线和第二裂纹检测线时，所述第一裂纹检测线可以绕过第一区域和第三区域，所述第二裂纹检测线可以绕过第二区域和第三区域，但不以此为限。
可选的，所述第一检测电路可以包括第一检测晶体管和第二检测晶体管，其中，
所述第一检测晶体管的控制极和所述第二检测晶体管的控制极分别与所述第一检测电路的控制端耦接；
所述第二检测晶体管的第一极与所述第一检测电路的第一端耦接，所述第二检测晶体管的第二极与所述第一检测晶体管的第一极耦接；
所述第一检测晶体管的第二极与所述第一检测电路的第二端耦接；
所述第二检测电路可以包括第三检测晶体管和第四检测晶体管，其中，
所述第三检测晶体管的控制极和所述第四检测晶体管的控制极分别与所述第二检测电路的控制端耦接；
所述第四检测晶体管的第一极与所述第二检测电路的第一端耦接，所述第四检测晶体管的第二极与所述第三检测晶体管的第一极耦接；
所述第三检测晶体管的第二极与所述第二检测电路的第二端耦接。
如图6所示，当本发明实施例所述的检测模组应用于如图4所示的显示面板的实施例时，本发明实施例所述的检测模组包括第一检测电路61、第二检测电路62、第一裂纹检测线Cd1和第二裂纹检测线Cd2；
第一检测电路61包括第一检测晶体管Td1和第二检测晶体管Td2，其中，
所述第一检测晶体管Td1的栅极和所述第二检测晶体管Td2的栅极分别与所述第一裂纹检测线Cd1的第一端耦接；
所述第二检测晶体管Td2的源极与第一高电压信号线电连接，所述第二检测晶体管Td2的漏极与第一检测晶体管Td1的源极电连接；所述第一高电压信号线用于提供高电压信号VGH；
所述第一检测晶体管Td1的漏极与E1a的发光控制信号输出端电连接；
第二检测电路62包括第三检测晶体管Td3和第四检测晶体管Td4，其中，
所述第三检测晶体管Td3的栅极和所述第四检测晶体管Td4的栅极分别与所述第二裂纹检测线Cd2的第一端耦接；
所述第四检测晶体管Td4的源极与第二高电压信号线电连接，所述第四检测晶体管Td4的漏极与第三检测晶体管Td3的源极电连接；所述第二高电压信号线用于提供高电压信号VGH；
所述第三检测晶体管Td3的漏极与E1b的发光控制信号输出端电连接。
在图6所示的检测模组的实施例中，Td1、Td2、Td3和Td4可以都为p型薄膜晶体管，但不以此为限。
在图6所示的检测模组的实施例中，所述第一裂纹检测线Cd1可以从Td1的栅极、绕至第三区域，再绕回第一区域，之后连接至第一高电压信号线；
所述第二裂纹检测线Cd2可以从Td3的栅极、绕至第三区域，再绕回第二区域，之后连接至第二高电压信号线。
在图5所示的检测模组的实施例中，Td1和Td2相互串联，共用栅极，形成双栅结构，减少漏电，Td2的源极(Td2的源极设置于有源层)与高电压信号线通过设置于源漏金属层的走线电连接，Td1的栅极绕屏半圈与所述高电压信号线电连接，Td2的栅极绕屏半圈与所述高电压信号线电连接，Td1的漏极(Td1的漏极设置于有源层)与扫描信号输出端E0通过设置于源漏金属层的走线电连接。
在制作本发明如图5所示的检测模组的实施例时，
首先，通过修改半导体层的掩膜，沉积出第一检测晶体管的源极、第二检测晶体管的源极、第一检测晶体管的漏极和第二检测晶体管的漏极，并进行Vth(阈值电压)掺杂；在图7A中，标号为70的为基板，标号为71的为半导体层；在本发明实施例中，半导体层71可以为多晶硅有源层，但不以此为限；
之后，如图7B所示，在半导体层71远离基板70的一面沉积第一栅绝缘层72；
通过修改栅金属层的掩膜，对栅金属层进行构图工艺，并进行P-doping(掺杂)，如图7C所示，以制备出第一检测晶体管的栅极G1、第二检测晶体管的栅极G2，以及，多级移位寄存器单元中的一级移位寄存器单元的扫描信号输出端E0；
如图7D所示，依次在栅金属层远离第一栅绝缘层72的一面沉积第二栅金属层74和层间介质层75；
如图7E所示，制作第一过孔H1、第二过孔H2、第三过孔H4和第四过孔H4；
如图7F所示，制作源漏金属层，对源漏金属层进行构图工艺，以形成高电压信号线Vh和源漏金属层走线80；
如图7G所示，在所述源漏金属层远离层间介质层75的一面制作平坦层76。
本发明实施例所述的裂纹检测方法，应用于上述的检测模组，扫描线与位于显示面板的显示区域中的至少一行像素电路耦接；所述裂纹检测方法包括：
通过第一电压信号线为检测电路的第一端和裂纹检测线的第二端提供第一电压信号；
根据所述显示面板显示时是否存在暗线，以判断显示面板是否存在裂纹。
在本发明实施例所述的裂纹检测方法中，所述检测电路在裂纹检测线的第一端的电位的控制下，控制导通或断开第一电压信号线与扫描线之间的连接，当所述裂纹检测线上存在裂纹而导致断路时，所述裂纹检测线的第一端的电位为0V，此时，所述检测电路控制所述第一电压信号线与所述扫描信号输出端之间连通，所述扫描信号输出端接入第一电压信号，所述扫描信号输出端通过与其耦接的扫描线提供所述第一电压信号至相应的像素电路，以控制所述相应的像素电路不发光，并控制所述扫描驱动电路包括的在所述移位寄存器单元后级的移位寄存器单元驱动的像素电路都不发光，从而能够指示显示面板的周边区域存在裂纹。
本发明实施例所述的显示面板包括上述的检测模组。
本发明实施例所述的显示装置包括上述的显示面板。
本发明实施例所提供的显示装置可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (12)

1.一种检测模组，应用于显示面板，所述显示面板包括扫描驱动电路，所述扫描驱动电路包括多级移位寄存器单元，所述扫描驱动电路设置于显示面板的周边区域；所述周边区域为所述显示面板的显示区域与所述显示面板的边缘之间的区域；其特征在于，
所述移位寄存器单元与位于所述显示面板的显示区域中的扫描线耦接，用于为所述扫描线提供扫描信号；所述扫描线不接收除了所述移位寄存器单元之外的驱动单元提供的扫描信号；
所述检测模组包括检测电路和裂纹检测线；所述检测电路和所述裂纹检测线设置于所述周边区域；
所述检测电路的控制端与所述裂纹检测线的第一端耦接，所述检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述检测电路的第二端与所述多级移位寄存器单元中的一级移位寄存器单元的扫描信号输出端耦接；所述检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述裂纹检测线与所述扫描信号输出端之间的连通；
所述裂纹检测线的第二端与所述第一电压信号线耦接；
所述检测电路包括第一检测晶体管和第二检测晶体管，其中，
所述第一检测晶体管的控制极和所述第二检测晶体管的控制极分别与所述检测电路的控制端耦接；
所述第二检测晶体管的第一极与所述检测电路的第一端耦接，所述第二检测晶体管的第二极与所述第一检测晶体管的第一极耦接；
所述第一检测晶体管的第二极与所述检测电路的第二端耦接。
2.如权利要求1所述的检测模组，其特征在于，所述裂纹检测线围绕着所述显示区域设置；或者，所述裂纹检测线部分围绕所述显示区域。
3.如权利要求1所述的检测模组，其特征在于，所述检测线包含于栅金属层图形或源漏金属层图形。
4.如权利要求1所述的检测模组，其特征在于，所述周边区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，其中，所述第一区域和所述第二区域相对设置，所述第三区域和所述第四区域相对设置，在所述第一区域和所述第二区域设置有驱动模组，所述驱动模组包括所述扫描驱动电路；在所述第四区域设置有驱动集成电路；
所述裂纹检测线包括多条相互耦接的检测线；至少一条所述检测线设置于所述第一区域，至少一条所述检测线设置于所述第二区域，至少一条所述检测线设置于所述第三区域。
5.如权利要求1至4中任一权利要求所述的检测模组，其特征在于，所述扫描驱动电路为发光控制电路，所述扫描信号为发光控制信号。
6.如权利要求1至4中任一权利要求所述的检测模组，其特征在于，所述扫描线与位于显示面板的显示区域中的至少一行像素电路耦接，所述显示区域包括异形区域；
所述像素电路设置于所述异形区域。
7.如权利要求1至4中任一权利要求所述的检测模组，其特征在于，所述周边区域包括沿着远离显示区域设置的GOA区域、信号线区域和边缘区域；所述边缘区域设置于所述信号线区域与所述显示面板的边缘之间，所述扫描驱动电路设置于所述GOA区域，所述裂纹检测线设置于所述边缘区域。
8.一种检测模组，应用于显示面板，所述显示面板包括扫描驱动电路，所述扫描驱动电路包括多级移位寄存器单元，所述扫描驱动电路设置于显示面板的周边区域；所述周边区域为所述显示面板的显示区域与所述显示面板的边缘之间的区域；其特征在于，所述移位寄存器单元与位于所述显示面板的显示区域中的扫描线耦接，用于为所述扫描线提供扫描信号；所述扫描线不接收除了所述移位寄存器单元之外的驱动单元提供的扫描信号；
所述检测模组包括第一检测电路、第二检测电路、第一裂纹检测线和第二裂纹检测线；所述第一检测电路、所述第二检测电路、所述第一裂纹检测线和所述第二裂纹检测线设置于所述周边区域；所述扫描线包括第一扫描线和第二扫描线；
所述第一检测电路的控制端与所述第一裂纹检测线的第一端耦接，所述第一检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述第一检测电路的第二端与所述第一扫描线耦接；所述第一检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述第一裂纹检测线与所述第一扫描线之间的连通；
所述第二检测电路的控制端与所述第二裂纹检测线的第一端耦接，所述第二检测电路的第一端与第一电压信号线耦接，所述第二检测电路的第二端与所述第二扫描线耦接；所述第二检测电路用于在其控制端的电位的控制下，控制导通或断开所述第二裂纹检测线与所述第二扫描线之间的连通；
所述第一裂纹检测线的第二端和所述第二裂纹检测线的第二端分别与所述第一电压信号线耦接；
所述第一检测电路包括第一检测晶体管和第二检测晶体管，其中，
所述第一检测晶体管的控制极和所述第二检测晶体管的控制极分别与所述第一检测电路的控制端耦接；
所述第二检测晶体管的第一极与所述第一检测电路的第一端耦接，所述第二检测晶体管的第二极与所述第一检测晶体管的第一极耦接；
所述第一检测晶体管的第二极与所述第一检测电路的第二端耦接；
所述第二检测电路包括第三检测晶体管和第四检测晶体管，其中，
所述第三检测晶体管的控制极和所述第四检测晶体管的控制极分别与所述第二检测电路的控制端耦接；
所述第四检测晶体管的第一极与所述第二检测电路的第一端耦接，所述第四检测晶体管的第二极与所述第三检测晶体管的第一极耦接；
所述第三检测晶体管的第二极与所述第二检测电路的第二端耦接。
9.如权利要求8所述的检测模组，其特征在于，所述周边区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，其中，所述第一区域和所述第二区域相对设置，所述第三区域和所述第四区域相对设置，在所述第一区域和所述第二区域设置有驱动模组，所述驱动模组包括所述扫描驱动电路；在所述第四区域设置有驱动集成电路；
所述第一检测电路设置于所述第一区域，所述第二检测电路设置于所述第二区域；
所述第一裂纹检测线包括多条相互耦接的第一检测线；至少一条所述第一检测线设置于所述第一区域，至少一条所述第一检测线设置于所述第三区域；
所述第二裂纹检测线包括多条相互耦接的第二检测线；至少一条所述第二检测线设置于所述第二区域，至少一条所述第二检测线设置于所述第三区域。
10.一种裂纹检测方法，应用于如权利要求1至9中任一权利要求所述的检测模组，扫描线与位于显示面板的显示区域中的至少一行像素电路耦接；其特征在于，所述裂纹检测方法包括：
通过第一电压信号线为检测电路的第一端和裂纹检测线的第二端提供第一电压信号；
根据所述显示面板显示时是否存在暗线，以判断显示面板是否存在裂纹。
11.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1至9中任一权利要求所述的检测模组。
12.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求11所述的显示面板。
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