CN104062784A - 一种面板检测电路及显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种面板检测电路和显示面板。所述面板检测电路包括：源极检测单元，包括源极测试线以及若干源极开关单元；栅极检测单元，包括栅极控制线、栅极测试线以及若干栅极开关单元；其中，所述源极开关单元和栅极开关单元分别包括至少两个开关元件，使得在面板检测完成之后所述源极开关单元和栅极开关单元处于闭合状态。

Description

一种面板检测电路及显示面板
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，具体地说，涉及一种面板检测电路及显示面板。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示面板是目前主流的显示装置。为了保证产品质量，在生产过程中的成盒阶段需要对显示面板内部的显示单元进行单元测试(cell test)。图1为现有技术中面板检测电路的结构示意图。面板检测电路设置在显示面板的基板15上，包括设置在栅极驱动电路11和源极驱动电路12下方的若干短路杆(shorting bar)13。短路杆13用于连接扫描线和数据线，将来自于外部的的检测扫描信号和检测数据信号发送给显示面板中的显示单元14。在检测时，检测扫描信号和检测数据信号将显示单元14分别点亮，从而检测显示面板是否正常。
在显示面板测试完毕之后，需要使用激光把栅极驱动电路11和源极驱动电路12下方的连接至短路杆13的引脚切断，以使得显示面板能够用于显示正常的画面。若要实现显示面板的窄边框设计，还需要通过磨边的方式将短路杆13磨去。
因此，现有的面板检测单元中需要在生产过程中设置短路杆13，并在出厂之前将短路杆13切断甚至移除。这导致现有技术中显示面板的生产成本增加，并且生产效率降低。
基于上述情况，亟需一种使生产成本降低并使生产效率提高的显示面板检测单元及显示面板。
发明内容
为解决上述问题，本发明提供了一种面板检测电路，包括
源极检测单元，包括源极测试线以及若干源极开关单元，所述源极开关单元的一端与源极测试线连接，另一端与显示面板的数据线连接；
栅极检测单元，包括栅极控制线、栅极测试线以及若干栅极开关单元，所述栅极开关单元的第一端与栅极控制线连接，第二端与栅极测试线连接，第三端与显示面板的扫描线连接；
其中，所述源极开关单元和栅极开关单元分别包括至少两个开关元件，使得在面板检测完成之后所述源极开关单元和栅极开关单元处于闭合状态。
在本发明的一个实施例中，所述源极开关单元包括串联连接的第一开关元件和第二开关元件，所述第一开关元件和第二开关元件从三级管和二极管中选择。
在本发明的一个实施例中，所述源极开关单元包括第一三极管和第二三极管，所述第一三极管的栅极和源极与所述源极测试线连接，所述第二三极管的栅极和源极与第一三极管的漏极连接，所述第二三极管的漏极与显示面板的数据线连接。
在本发明的一个实施例中，所述源极开关单元包括第一三极管和二极管，所述第一三极管的栅极和源极与所述源极测试线连接，所述第一三极管的漏极与二极管的阳极连接，所述二极管的阴极与显示面板的数据线连接。
在本发明的一个实施例中，所述源极开关单元包括串联连接的两个二极管。
在本发明的一个实施例中，所述栅极开关单元包括第三三极管和第四三极管，所述第三三极管的栅极与栅极控制线连接，所述第三三极管的源极与栅极测试线连接，所述第四三极管的栅极与栅极控制线连接，所述第四三极管的源极与第三三极管的漏极连接，所述第四三极管的漏极与显示面板的扫描线连接。
在本发明的一个实施例中，所述源极测试线连接至第一低电位驱动单元，以使得在面板测试完成之后源极开关单元闭合。
在本发明的一个实施例中，所述栅极控制线连接至第二低电位驱动单元，以使得在面板测试完成之后栅极开关单元闭合。
在本发明的一个实施例中，所述三极管为TFT薄膜场效应管或MOSFET管。
根据本发明的另一方面，还提供一种显示面板，包括：
上述面板检测电路；
交错排布的若干条扫描线和数据线；
与扫描线和数据线连接的显示单元阵列；
栅极驱动电路，用于向扫描线提供扫描脉冲信号；
源极驱动电路，用于向数据线提供数据信号。
与现有技术相比，本发明带来以下有益效果：(1)通过在源极检测单元和栅极检测单元中设置至少两个开关元件，可保证显示面板在正常使用时源极开关单元和栅极开关单元保持闭合状态，防止开关元件漏电导致的连接在同一测试线上的数据线(或者扫描线)互相干扰；(2)在源极检测单元中使用一条源极测试线来打开源极开关单元，并使得源极测试信号经由源极开关单元传送至数据线，从而可以减少源极检测单元中的走线占用的空间，有利于显示器面板的窄边框设计；(3)在面板检测完成后，不需要将面板检测电路从显示面板200中移除，也不需要现有技术中的激光切割步骤来将切断数据线、扫描线和源极测试线、栅极控制线、栅极测试线之间的连接，从而可以简化生产步骤，节省生产时间。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要的附图做简单的介绍：
图1是现有技术中面板检测电路的示意图；
图2是根据本发明实施例一的显示面板结构示意图；
图3a是根据本发明实施例二的一种源极开关单元的示意图；
图3b是根据本发明实施例二的另一种源极开关单元的示意图；
图3c是根据本发明实施例二的另一种源极开关单元的示意图。
具体实施方式
以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。在附图中，结构相似的单元以相同的标号表示。
实施例一
图2是本实施例提供的显示面板200的结构示意图。显示面板200包括交错排布的若干条扫描线和数据线，与扫描线17和数据线18连接的显示单元阵列(图2中未示出)，栅极驱动电路11和源极驱动电路12。其中，栅极驱动电路11用于向扫描线提供扫描脉冲信号，源极驱动电路12用于向数据线提供数据信号，从而在显示单元中显示图像。显示面板200中还设置有面板检测电路，其包括源极检测单元21以及栅极检测单元22。
显示面板200可以是薄膜晶体管液晶显示面板(TFT-LCD)、有机发光显示面板(OLED)以及高分子发光显示面板(PLED)等。
源极检测单元21设置在显示面板200的源极驱动电路12的相对侧，包括源极测试线211和若干源极开关单元。在本实施例中，源极开关单元包括三极管T1和T2。如图2所示，T1的栅极和源极与源极测试线211连接，T2的栅极和源极与T1的漏极连接，T2的漏极与显示面板的数据线连接。从而使得源极开关单元的一端与源极测试线211连接，另一端与显示面板的数据线连接。
在进行显示面板的测试时，通过源极测试线211施加正向偏压，使得源极开关单元中的三极管T1和T2打开，从而将源极测试信号输入数据线。
现有技术中的面板检测电路通常设置源极控制线和源极测试线，利用源极控制线来控制源极开关单元打开，来使得源极测试信号经由源极开关单元传送至数据线。由于源极的测试信号均为正向偏压，在本实施例中仅采用一条源极测试线，通过源极测试信号打开源极开关单元，并使得源极测试信号经由源极开关单元传送至数据线。从而可以减少源极检测单元21中的走线占用的空间，有利于显示器面板的窄边框设计。
栅极检测单元22包括栅极控制线221、栅极测试线222和若干栅极开关单元。其中，栅极开关单元设置在显示面板200的栅极驱动电路11的相对侧，栅极控制线221和栅极测试线222从显示面板200的栅极驱动电路11的相对侧延伸至源极驱动电路12的相对侧。
在本实施例中，栅极开关单元包括三极管T3和T4。如图2所示，三极管T3的栅极与栅极控制线221连接，三极管T3的源极与栅极测试线222连接。三极管T4的栅极与栅极控制线221连接，三极管T4的源极与T3的漏极连接。三极管T4的漏极与显示面板的扫描线连接。从而使得栅极开关单元的第一端与栅极控制线连接，第二端与栅极测试线连接，第三端与显示面板的扫描线连接。
在进行显示面板的测试时，通过栅极测试线221施加正向偏压，使得栅极开关单元中的三极管T3和T4打开，从而将栅极测试信号输入扫描线。其中，栅极测试信号可以为正向偏压或者负向偏压。
现有技术中，源极开关单元和栅极开关单元通常采用单TFT开关。一旦TFT开关失效发生漏电，会导致显示面板在正常使用时，连接至同一测试线上的数据线信号(或者扫描线信号)发生干扰，导致显示异常。
在本实施例中，源极开关单元和栅极开关单元分别包括至少两个三极管。即使其中一个三极管发生漏电，另外一个三极管还可使得源极开关单元和栅极开关单元处于闭合状态。因此，本实施例提供的面板检测电路可降低漏电的风险。
本领域技术人员可以理解，源极开关单元和栅极开关单元中可以设置三个三极管，甚至更多数量的三极管，得到更优的防止漏电的效果。但是，采用的三极管数量越多，源极检测单元和栅极检测单元中的走线占用的空间越大，这并不利于显示面板的窄边框设计。
在实际应用中，在面板检测操作完成之后，不需要将本实施例中的面板检测电路从显示面板200中移除，也不需要现有技术中的激光切割步骤来将切断数据线、扫描线和源极测试线、栅极控制线、栅极测试线之间的连接。从而可以简化生产步骤，节省生产时间。
此外，为了保证在面板检测完成之后源极开关单元和栅极开关单元处于闭合状态，源极测试线211连接至第一低电位驱动单元，栅极控制线221连接至第二低电位驱动单元。其中第一低电位驱动单元和第二低电位驱动单元提供负电压或者直接接地，使得在显示面板正常使用时，源极测试线211和栅极控制线221为低电压，保证源极开关单元和栅极开关单元处于闭合状态。
在本实施例中，如图2所示，源极测试线211连接至栅极驱动电路11，栅极控制线221连接至源极驱动电路12。由栅极驱动电路11和源极驱动电路12提供低电位。
实施例二
本实施例提供源极开关单元的多种实施方式。图3a所示的源极开关单元包括三极管T1和二极管D2。三极管T1的栅极和源极连接至源极测试线，T1的漏极连接至二极管D2的阳极，二极管D2的阴极与显示面板的数据线连接。在进行显示面板的测试时，通过源极测试线211施加正向偏压，使得源极开关单元中的三极管T1和D2打开，从而将源极测试信号输入数据线。
图3b所示的源极开关单元包括三极管T1和二极管D2。二极管D2的阳极连接至源极测试线，二极管D2的阴极与三极管T1的栅极和源极连接，T1的漏极连接至示面板的数据线。在进行显示面板的测试时，通过源极测试线211施加正向偏压，使得源极开关单元中的二极管D2和三极管T1打开，从而将源极测试信号输入数据线。
图3c所示的源极开关单元包括二极管D1和二极管D2。二极管D1的阳极连接至源极测试线，二极管D1的阴极连接至D2的阳极，二极管D2的阴极与面板的数据线连接。在进行显示面板的测试时，通过源极测试线211施加正向偏压，使得源极开关单元中的二极管D1和D2打开，从而将源极测试信号输入数据线。
本领域技术人员容易理解，本发明实施例中使用的三极管可以为TFT薄膜场效应管或MOSFET管，或者其他可以替代使用的元件。
虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种面板检测电路，其特征在于，包括：
源极检测单元，包括源极测试线以及若干源极开关单元，所述源极开关单元的一端与源极测试线连接，另一端与显示面板的数据线连接；
栅极检测单元，包括栅极控制线、栅极测试线以及若干栅极开关单元，所述栅极开关单元的第一端与栅极控制线连接，第二端与栅极测试线连接，第三端与显示面板的扫描线连接；
其中，所述源极开关单元和栅极开关单元分别包括至少两个开关元件，使得在面板检测完成之后所述源极开关单元和栅极开关单元处于闭合状态。
2.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述源极开关单元包括串联连接的第一开关元件和第二开关元件，所述第一开关元件和第二开关元件从三级管和二极管中选择。
3.如权利要求2所述的电路，其特征在于，所述源极开关单元包括第一三极管和第二三极管，所述第一三极管的栅极和源极与所述源极测试线连接，所述第二三极管的栅极和源极与第一三极管的漏极连接，所述第二三极管的漏极与显示面板的数据线连接。
4.如权利要求2所述的电路，其特征在于，所述源极开关单元包括第一三极管和二极管，所述第一三极管的栅极和源极与所述源极测试线连接，所述第一三极管的漏极与二极管的阳极连接，所述二极管的阴极与显示面板的数据线连接。
5.如权利要求2所述的电路，其特征在于，所述源极开关单元包括串联连接的两个二极管。
6.如权利要求2所述的电路，其特征在于，所述栅极开关单元包括第三三极管和第四三极管，所述第三三极管的栅极与栅极控制线连接，所述第三三极管的源极与栅极测试线连接，所述第四三极管的栅极与栅极控制线连接，所述第四三极管的源极与第三三极管的漏极连接，所述第四三极管的漏极与显示面板的扫描线连接。
7.如权利要求1至6中任一项所述的电路，其特征在于，所述源极测试线连接至第一低电位驱动单元，以使得在面板测试完成之后源极开关单元闭合。
8.如权利要求1至6中任一项所述的电路，其特征在于，所述栅极控制线连接至第二低电位驱动单元，以使得在面板测试完成之后栅极开关单元闭合。
9.如权利要求1至6中任一项所述的电路，其特征在于，所述三极管为TFT薄膜场效应管或MOSFET管。
10.一种显示面板，其特征在于，包括：
如权利要求1-9中任一项所述的面板检测电路；
交错排布的若干条扫描线和数据线；
与扫描线和数据线连接的显示单元阵列；
栅极驱动电路，用于向扫描线提供扫描脉冲信号；
源极驱动电路，用于向数据线提供数据信号。
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