WO2020093449A1 - 量测信号电路及其量测方法 - Google Patents

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WO2020093449A1
WO2020093449A1 PCT/CN2018/116595 CN2018116595W WO2020093449A1 WO 2020093449 A1 WO2020093449 A1 WO 2020093449A1 CN 2018116595 W CN2018116595 W CN 2018116595W WO 2020093449 A1 WO2020093449 A1 WO 2020093449A1
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switch
electrically coupled
node
terminal
resistor
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PCT/CN2018/116595
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English (en)
French (fr)
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黄笑宇
Original Assignee
惠科股份有限公司
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    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Definitions

  • the present application relates to the field of display, in particular to a measuring signal circuit and a measuring method.
  • a liquid crystal display (Liquid Crystal) (LCD) is a flat-panel display device that uses the characteristics of liquid crystal materials to display images. Compared with other display devices, it has the advantages of lightness, thinness, low driving voltage, and low power consumption.
  • the liquid crystal display device usually has a gate driving circuit, a source driving circuit and a pixel array.
  • the pixel array has a plurality of pixel circuits, and each pixel circuit is turned on and off according to the scanning signal provided by the gate driving circuit, and displays the data screen according to the data signal provided by the source driving circuit.
  • Thin-film transistor liquid crystal display (Thin Film Transistor Liquid Crystal, TFT-LCD) is one of the main varieties of flat panel displays, and has become an important display platform in modern information technology and video products.
  • the main driving principle of TFT-LCD the system motherboard connects the compressed signal, control signal and power of red / green / blue pixels to the connector on the printed circuit board through the wire, and the data passes through the timing controller (Timing) on the printed circuit board Controller, TCON) chip processing, through the printed circuit board, through the source film driver chip (Source-Chip on Film, S-COF) and gate film driver chip (Gate-Chip on Film, G-COF) and the display area Connection, the voltage is transmitted through the data line (Scan line) and the scan line (Scan line) on the array substrate, so that the display panel realizes the display function.
  • TFT-LCD Thin-film transistor liquid crystal display
  • the signal will be distorted after transmission through the data line and the scan line.
  • the data line (Data line)
  • Scan the end of the scan line
  • This method takes a long time, and the product is destroyed after the glass shards, causing waste, and the slivers Liquid crystal is volatilized, which is harmful to health after inhalation.
  • the main purpose of the present application is to provide a measurement signal circuit and a measurement method thereof, so as to optimize the above-mentioned problems.
  • an object of the present application is to provide a measurement signal circuit, including: a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and the first switch A first end of the first switch is electrically coupled to a second node, a second end of the first switch is electrically coupled to a third node; a second switch, a control end of the second switch is electrically coupled Connected to the first node, a first terminal of the second switch is electrically coupled to a fourth node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node; a third switch , A control terminal of the third switch is electrically coupled to a fifth node, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the third node, and a second terminal of the third switch is electrically A fourth switch, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a data line.
  • a second terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second node; and a fifth switch, a control terminal of the fifth switch is electrically The fifth node is coupled, a first terminal of the fifth switch is electrically coupled to a scan line, and a second terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fourth node.
  • Another object of the present application is a measurement signal circuit including: a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and a first terminal of the first switch is electrically A second node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node; a second switch, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first node , A first terminal of the second switch is electrically coupled to a fourth node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node; a third switch, the third switch A control terminal of is electrically coupled to a fifth node, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the third node, and a second terminal of the third switch is electrically coupled to a gasket A fourth switch, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a data line, and a fourth switch The second terminal is electrically coupled to the second node; a fifth
  • Another object of the present application is a method for measuring a signal circuit, including: providing a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and the A first terminal is electrically coupled to a second node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node; a second switch is provided, and a control terminal of the second switch is electrically coupled Connected to the first node, a first terminal of the second switch is electrically coupled to a fourth node, and a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node; providing a third A switch, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a fifth node, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the third node, and a second terminal of the third switch A gasket is electrically coupled; a fourth switch is provided, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a data line , A second
  • control terminals of the first switch, the third switch, the fourth switch, and the fifth switch are opposite in polarity to the control terminals of the second switch.
  • the first switch, the third switch, the fourth switch, and the fifth switch are N-type field effect transistors.
  • the second switch is a P-type field effect transistor.
  • a sixth switch is further included, a control terminal of the sixth switch is electrically coupled to a sixth node, and a first terminal of the sixth switch is electrically coupled to the In the first node, a second terminal of the sixth switch is electrically coupled to a first voltage signal.
  • a seventh switch is further included, a control terminal of the seventh switch is electrically coupled to the sixth node, and a first terminal of the seventh switch is electrically coupled to the In the first node, a second terminal of the seventh switch is grounded.
  • a first trigger is further included, a first terminal of the first trigger is electrically coupled to a second voltage signal, and a second terminal of the first trigger is electrically A first frequency input signal, and a third terminal of the first flip-flop is electrically coupled to the fifth node.
  • a second flip-flop is further included, a first end of the second flip-flop is electrically coupled to the first node, and a second end of the second flip-flop is electrically A second frequency input signal, and a third terminal of the second flip-flop is electrically coupled to the sixth node.
  • it further includes a first resistor, one end of the first resistor is electrically coupled to the first node, and the other end of the first resistor is electrically grounded.
  • a second resistor is further included.
  • One end of the second resistor is electrically coupled to the fifth node, and the other end of the second resistor is electrically grounded.
  • it further includes a third resistor, one end of the third resistor is electrically coupled to a third voltage signal, and the other end of the third resistor is electrically coupled to the first node .
  • the step of measuring the waveform signal of the scan line through the connection of the pad to a scan line includes: transmitting a high potential signal to the first The flip-flop and the second flip-flop, so that the gate control signals of the third switch, the fourth switch, the fifth switch, the sixth switch and the seventh switch are at a high potential Signal, so that the third switch, the fourth switch, the fifth switch, and the seventh switch are turned on, and the sixth switch is turned off; the grounding of the first resistor makes the first node Returns a low potential signal to a first end of the second flip-flop, thus making the gate control signals of the first switch and the second switch a low potential signal, causing the first switch to be closed And the second switch is turned on; and the waveform signal of the scan line is measured through the pad.
  • the measuring method by connecting the gasket to a data line, the step of measuring the waveform signal of the data line includes: transmitting a high potential signal to the first A flip-flop and the second flip-flop, so that the gate control signals of the third switch, the fourth switch, and the fifth switch are a high potential signal, so that the third switch, the The fourth switch and the fifth switch are turned on; since the second flip-flop has received a low potential signal from the first node, the gate control of the sixth switch and the seventh switch is controlled The signal is a low potential signal, so the sixth switch is turned on and the seventh switch is turned off; at this time, the first node is a high potential signal to a first end of the second flip-flop, so that The gate control signal of the first switch and the second switch is a high-potential signal, enabling the first switch to be turned on and the second switch to be turned off; and measuring the data line's Waveform signal.
  • This application provides a circuit and measurement method that can quickly measure the required signal without affecting the performance of the product, without adding additional equipment costs, and eliminating damage to the human body in the process of glass shards.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an exemplary liquid crystal display.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • FIG. 3 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to another embodiment of this application.
  • FIG. 4 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • FIG. 5 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to another embodiment of this application.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an exemplary liquid crystal display. Please refer to FIG. 1.
  • An exemplary liquid crystal display 10 includes a color filter substrate 100, an array substrate 110, a gate film driving chip 120, and a source film driving.
  • the array substrate 110 is provided with a plurality of scanning lines 122 and a plurality of data lines 132;
  • the scanning lines 122 are electrically coupled to the gate thin film driving chip 120;
  • the data lines 132 is electrically coupled to the source thin film driving chip 130.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • a measurement signal circuit 20 includes: a first switch T10, the first switch A control terminal 101a of T10 is electrically coupled to a first node P1 (n), a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a second node P2 (n), the first switch T10 A second terminal 101c is electrically coupled to a third node P3 (n); a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first node P1 (n), A first terminal 201b of the second switch T20 is electrically coupled to a fourth node P4 (n), and a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the third node P3 (n)
  • a third switch T30, a control terminal 301a of the third switch T30 is electrically coupled to a fifth node P5 (n), a first terminal
  • the first switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50 are N-type field effect transistors, when the gate control signal is high , The first switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40, and the fifth switch T50 are turned on. When the gate control signal is low, the first switch T10, the The third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50 are turned off.
  • the second switch T20 is a P-type field effect transistor. When its gate control signal is at a low potential, the second switch T20 is turned on when its gate control signal When it is high, the second switch T20 is closed.
  • FIG. 3 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to another embodiment of the application.
  • a measurement signal circuit 30 includes: a first switch T10, the first A control terminal 101a of the switch T10 is electrically coupled to a first node P1 (n), a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a second node P2 (n), the first switch A second terminal 101c of T10 is electrically coupled to a third node P3 (n); a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first node P1 (n) , A first terminal 201b of the second switch T20 is electrically coupled to a fourth node P4 (n), a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the third node P3 (n ); A third switch T30, a control terminal 301a of the third switch T30 is electrically coupled to a fifth node P5 (n),
  • the first switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40, the fifth switch T50, and the seventh switch T70 are N-type field effect transistors, when the gates are controlled When the signal is high, the first switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40, the fifth switch T50, and the seventh switch T70 are turned on, when the gate control signal is low At a potential, the first switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40, the fifth switch T50, and the seventh switch T70 are turned off.
  • the second switch T20 and the sixth switch T60 are P-type field effect transistors. When the gate control signal is low, the second switch T20 and the The sixth switch T60 is turned on, and when the gate control signal is high, the second switch T20 and the sixth switch T60 are turned off.
  • FIG. 4 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application. 2 and 4, in an embodiment of the present application, a measurement method of the measurement signal circuit 20 includes: providing a first switch T10, a control terminal 101a of the first switch T10 is electrically A first node P1 (n), a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a second node P2 (n), a second terminal 101c of the first switch T10 is electrically A third node P3 (n); provide a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first node P1 (n), the second switch T20 A first terminal 201b is electrically coupled to a fourth node P4 (n), a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the third node P3 (n); a third switch is provided T30, a control terminal 301a of the third switch T30 is electrically coupled to a fifth node
  • the measuring method through the connection of the spacer 230 to a scanning line S1, the step of measuring the waveform signal of the scanning line S1 includes: transmitting a A high potential signal (for example: through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal) is given to the first flip-flop 200, so that the third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth The gate control signal of the switch T50 is a high potential signal, so the third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50 are turned on; by grounding the first resistor 220, the The gate control signal of the first switch T10 and the second switch T20 is a low potential signal, which causes the first switch T10 to close and the second switch T20 to open; and the pad 230 measures the The waveform signal of the scanning line S1.
  • a A high potential signal for example: through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal
  • the gate control signal of the switch T50 is a high potential signal, so the third switch T30, the fourth switch T40 and the
  • the measuring method by connecting the gasket 230 to a data line D1, the step of measuring the waveform signal of the data line D1 includes: transmitting a A high potential signal (for example, through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal) is given to the second flip-flop 210, so that the gate control signals of the first switch T10 and the second switch T20 It is a high potential signal, so the first switch T10 is turned on and the second switch T20 is turned off; and the waveform signal of the data line D1 is measured through the pad 230.
  • a A high potential signal for example, through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal
  • a first switch is provided, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and a first terminal of the first switch is electrically coupled to a first Two nodes, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node.
  • a second switch is provided, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first node, and a first terminal of the second switch is electrically coupled to a In a fourth node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node.
  • a third switch is provided, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a fifth node, and a first terminal of the third switch is electrically coupled to the In the third node, a second terminal of the third switch is electrically coupled to a pad.
  • a fourth switch is provided, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a In the data line, a second terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second node.
  • a fifth switch is provided, a control terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fifth switch is electrically coupled to a In the scan line, a second terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fourth node.
  • a first flip-flop is provided, a first terminal of the first flip-flop is electrically coupled to a first voltage signal, and a second terminal of the first flip-flop is electrically A first frequency input signal, and a third terminal of the first flip-flop is electrically coupled to the fifth node.
  • a second flip-flop is provided, a first terminal of the second flip-flop is electrically coupled to a second voltage signal, and a second terminal of the second flip-flop is electrically A second frequency input signal, and a third terminal of the second flip-flop is electrically coupled to the first node.
  • a first resistor is provided, one end of the first resistor is electrically coupled to the first node, and the other end of the first resistor is electrically grounded.
  • a second resistor is provided, one end of the second resistor is electrically coupled to the fifth node, and the other end of the second resistor is electrically grounded.
  • the waveform signal of the scan line is measured through the connection of the spacer to a scan line.
  • the waveform signal of the data line is measured through the connection of the gasket and a data line.
  • FIG. 5 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • a measurement method of the measurement signal circuit 30 includes: providing a first switch T10, a control terminal 101a of the first switch T10 is electrically A first node P1 (n), a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a second node P2 (n), a second terminal 101c of the first switch T10 is electrically A third node P3 (n); provide a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first node P1 (n), the second switch T20 A first terminal 201b is electrically coupled to a fourth node P4 (n), a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the third node P3 (n); a third switch is provided T30, a control terminal 301a of the third switch T30 is electrically coupled
  • a first terminal 212 of the second flip-flop 210 is electrically coupled to the first node P1 (n), and a second terminal 214 of the second flip-flop 210 is electrically coupled to a second frequency Input signal A2, a third terminal 216 of the second flip-flop 210 is electrically coupled to the sixth node P6 (n); a first resistor 220 is provided, and one end of the first resistor 220 is electrically coupled For the first node P1 (n), the other end of the first resistor 220 is electrically grounded; a second resistor 240 is provided, and one end of the second resistor 240 is electrically coupled to the fifth node P5 (n ), The other end of the second resistor 240 is electrically grounded; a third resistor 250 is provided, one end of the third resistor 250 is electrically coupled to a third voltage signal VDD3, the other end of the third resistor 250 Electrically coupled to the first node P1 (n); measuring the waveform signal of the scanning line S1 through the connection of the pad 230
  • the measuring method by connecting the pad 230 to a scanning line S1, the step of measuring the waveform signal of the scanning line S1 includes: transmitting a A high-potential signal (for example: through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal) is given to the first flip-flop 200 and the second flip-flop 210, so that the third switch T30, the third switch
  • the gate control signals of the four switches T40, the fifth switch T50, the sixth switch T60 and the seventh switch T70 are a high potential signal, so the third switch T30 and the fourth switch T40 ,
  • the fifth switch T50 and the seventh switch T70 are turned on, and the sixth switch T60 is turned off; by the ground of the first resistor 220, the first node P1 (n) returns a low potential signal to A first terminal 212 of the second flip-flop 210, so that the gate control signals of the first switch T10 and the second switch T20 are a low potential signal, so that the first switch T10 is turned
  • the measuring method by connecting the gasket 230 to a data line D1, the step of measuring the waveform signal of the data line D1 includes: transmitting again A high potential signal (for example: through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal) to the first flip-flop 200 and the second flip-flop 210, so that the third switch T30, the The gate control signal of the fourth switch T40 and the fifth switch T50 is a high potential signal, so the third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50 are turned on;
  • the two flip-flops 210 have accepted the first node P1 (n) to return a low potential signal, so that the gate control signals of the sixth switch T60 and the seventh switch T70 are a low potential signal, so that The sixth switch T60 is turned off and the seventh switch T70 is turned off; at this time, the first node P (n) is a high potential signal to a first terminal 212 of the second flip-flop 210, thus enabling
  • a high potential signal for example: through a timing
  • a first switch is provided, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and a first terminal of the first switch is electrically coupled to a first Two nodes, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node.
  • a second switch is provided, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first node, and a first terminal of the second switch is electrically coupled to a In a fourth node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node.
  • a third switch is provided, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a fifth node, and a first terminal of the third switch is electrically coupled to the In the third node, a second terminal of the third switch is electrically coupled to a pad.
  • a fourth switch is provided, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a In the data line, a second terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second node.
  • a fifth switch is provided, a control terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fifth switch is electrically coupled to a In the scan line, a second terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fourth node.
  • a sixth switch is provided, a control terminal of the sixth switch is electrically coupled to a sixth node, and a first terminal of the sixth switch is electrically coupled to the In the first node, a second terminal of the sixth switch is electrically coupled to a first voltage signal.
  • a seventh switch is provided, a control terminal of the seventh switch is electrically coupled to the sixth node, and a first terminal of the seventh switch is electrically coupled to the In the first node, a second terminal of the seventh switch is grounded.
  • a first trigger is provided, a first terminal of the first trigger is electrically coupled to a second voltage signal, and a second terminal of the first trigger is electrically A first frequency input signal, and a third terminal of the first flip-flop is electrically coupled to the fifth node.
  • a second flip-flop is provided, a first end of the second flip-flop is electrically coupled to the first node, and a second end of the second flip-flop is electrically A second frequency input signal, and a third terminal of the second flip-flop is electrically coupled to the sixth node.
  • a first resistor is provided, one end of the first resistor is electrically coupled to the first node, and the other end of the first resistor is electrically grounded.
  • a second resistor is provided, one end of the second resistor is electrically coupled to the fifth node, and the other end of the second resistor is electrically grounded.
  • a third resistor is provided, one end of the third resistor is electrically coupled to a third voltage signal, and the other end of the third resistor is electrically coupled to the first node .
  • the waveform signal of the scan line is measured through the connection of the spacer to a scan line.
  • the waveform signal of the data line is measured through the connection of the gasket and a data line.
  • This application provides a circuit and measurement method that can quickly measure the required signal without affecting the performance of the product, without adding additional equipment costs, and eliminating damage to the human body in the process of glass shards.

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Abstract

一种量测信号电路(20,30)及其量测方法，量测信号电路(20,30)通过一垫片(230)分别与一扫描线(S1)和一资料线(D1)连接，量测扫描线(S1)和资料线(D1)的波形信号。

Description

量测信号电路及其量测方法 技术领域
本申请涉及显示领域，特别是涉及一种量测信号电路及其量测方法。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)是利用液晶材料的特性来显示图像的一种平板显示装置，其相较于其他显示装置而言具有轻薄、低驱动电压及低功耗等优点。
且液晶显示设备中通常具有栅极驱动电路、源极驱动电路和像素阵列。像素阵列中具有多个像素电路，每一个像素电路依据栅极驱动电路提供的扫描信号开启和关闭，并依据源极驱动电路提供的数据信号，显示数据画面。
而薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代信息科技、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD主要驱动原理，系统主板将红色/绿色/蓝色画素的压缩信号、控制信号及电源通过线材与印刷电路板上的连接器相连接，数据经过印刷电路板上的时序控制器(Timing Controller，TCON)芯片处理后，经印刷电路板，通过源级薄膜驱动芯片(Source-Chip on Film，S-COF)和栅极薄膜驱动芯片(Gate-Chip on Film，G-COF)与显示区连接，通过阵列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)对电压进行传输，从而使显示面板实现显示功能。
因为阵列基板上走线存在一定的电容和电阻，所以经过数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的传输后，信号会发生失真。产品的开发和后续解析过程中，常常需要量测经过阵列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)传输衰减后的电压信号，而实际的应用中，因为数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的末端位于玻璃的边缘，只能在进行玻璃裂片后才能量测，此方法需要较长的时间，而玻璃裂片后产品即被破坏，造成浪费，同时裂片会造成液晶挥发，人体吸入后对健康不利。
因此，本申请的主要目的在于提供一种量测信号电路及其量测方法，以更优化上述所提之问题。
发明内容
为了解决上述技术问题，本申请的目的在于，提供一种量测信号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关 的一第二端电性耦接所述第三节点；一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；以及一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点。
本申请的目的及解决其技术问题还也已采用以下技术方案来实现的。
本申请的另一目的为一种量测信号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；一第六开关，所述第六开关的一控制端电性耦接一第六节点，所述第六开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第六开关的一第二端电性耦接一第一电压信号；一第七开关，所述第七开关的一控制端电性耦接所述第六节点，所述第七开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第七开关的一第二端接地；一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地；以及一第三电阻，所述第三电阻的一端电性耦接一第三电压信号，所述第三电阻的另一端电性耦接所述第一节点。
本申请的又一目的为一种量测信号电路的量测方法，包括：提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；提供一第五开 关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；提供一第六开关，所述第六开关的一控制端电性耦接一第六节点，所述第六开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第六开关的一第二端电性耦接一第一电压信号；提供一第七开关，所述第七开关的一控制端电性耦接所述第六节点，所述第七开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第七开关的一第二端接地；提供一第一触发器，所述第一触发器的一第一端电性耦接一第二电压信号，所述第一触发器的一第二端电性耦接一第一频率输入信号，所述第一触发器的一第三端电性耦接所述第五节点；提供一第二触发器，所述第二触发器的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第二触发器的一第二端电性耦接一第二频率输入信号，所述第二触发器的一第三端电性耦接所述第六节点；提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地；提供一第三电阻，所述第三电阻的一端电性耦接一第三电压信号，所述第三电阻的另一端电性耦接所述第一节点；通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号；以及通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
在本申请的一实施例中，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的控制端与所述第二开关的控制端为极性相反。
在本申请的一实施例中，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关为N型场效晶体管。
在本申请的一实施例中，其中所述第二开关为P型场效晶体管。
在本申请的一实施例中，还包括一第六开关，所述第六开关的一控制端电性耦接一第六节点，所述第六开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第六开关的一第二端电性耦接一第一电压信号。
在本申请的一实施例中，还包括一第七开关，所述第七开关的一控制端电性耦接所述第六节点，所述第七开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第七开关的一第二端接地。
在本申请的一实施例中，还包括一第一触发器，所述第一触发器的一第一端电性耦接一第二电压信号，所述第一触发器的一第二端电性耦接一第一频率输入信号，所述第一触发器的一第三端电性耦接所述第五节点。
在本申请的一实施例中，还包括一第二触发器，所述第二触发器的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第二触发器的一第二端电性耦接一第二频率输入信号，所述第二触发器的一第三端电性耦接所述第六节点。
在本申请的一实施例中，还包括一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地。
在本申请的一实施例中，还包括一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地。
在本申请的一实施例中，还包括一第三电阻，所述第三电阻的一端电性耦接一第三电压信号，所述第三电阻的另一端电性耦接所述第一节点。
在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号的步骤包括：传递一高电位信号给所述第一触发器及所述第二触发器，因而使所述第三开关、所述第四开关、所述第五开关、所述第六开关及所述第七开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关、所述第四开关、所述第五开关及所述第七开关开启，所述第六开关关闭；借由第一电阻的接地，使得所述第一节点回传一低电位信号给所述第二触发器的一第一端，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一低电位信号，使所述第一开关关闭及所述第二开关开启；以及通过所述垫片量测所述扫描线的波形信号。
在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号的步骤包括：再次传递一高电位信号给所述第一触发器及所述第二触发器，因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启；由于所述第二触发器已经接受所述第一节点回传一低电位信号，因而使所述第六开关及所述第七开关的栅极控制信号为一低电位信号，因此使所述第六开关开启及所述第七开关关闭；此时所述第一节点为一高电位信号给所述第二触发器的一第一端，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一高电位信号，使所述第一开关开启及所述第二开关关闭；以及通过所述垫片量测所述资料线的波形信号。
本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤。
附图说明
图1为范例性的液晶显示器示意图。
图2为本申请一实施例的量测信号电路示意图。
图3为本申请另一实施例的量测信号电路示意图。
图4为本申请一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。
图5为本申请另一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本申请不限于此。
在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中，为了理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是，当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接在所述另一组件上，或者也可以存在中间组件。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
为更进一步阐述本申请为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体的实施例，对依据本申请提出的一种量测信号电路及其量测方法，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
图1为范例性的液晶显示器示意图，请参考图1，一种范例性液晶显示器10，包括一彩色滤光片基板100、一阵列基板110、一栅极薄膜驱动芯片120、一源级薄膜驱动芯片130及一印刷电路板150；所述阵列基板110上设置有数条扫描线122及数条资料线132；所述扫描线122电性耦接所述栅极薄膜驱动芯片120；所述资料线132电性耦接所述源级薄膜驱动芯片130。
图2为本申请一实施例的量测信号电路示意图，请参考图2，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第二节点P2(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第三节点P3(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第四节点P4(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第三节点P3(n)；一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第五节点P5(n)，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第三节点P3(n)，所述第三开关T30的一第二端301c 电性耦接一垫片230；一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第二节点P2(n)；一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第四节点P4(n)；一第一触发器200，所述第一触发器200的一第一端202电性耦接一第一电压信号VDD1，所述第一触发器200的一第二端204电性耦接一第一频率输入信号A1，所述第一触发器200的一第三端206电性耦接所述第五节点P5(n)；一第二触发器210，所述第二触发器210的一第一端212电性耦接一第二电压信号VDD2，所述第二触发器210的一第二端214电性耦接一第二频率输入信号A2，所述第二触发器210的一第三端216电性耦接所述第一节点P1(n)；一第一电阻220，所述第一电阻220的一端电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第一电阻220的另一端电性接地；以及一第二电阻240，所述第二电阻240的一端电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第二电阻240的另一端电性接地。
请参考图2，在本申请的一实施例中，第一开关T10、第三开关T30、第四开关T40及第五开关T50为N型场效晶体管，当其栅极控制信号为高电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启，当其栅极控制信号为低电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50关闭。
请参考图2，在本申请的一实施例中，第二开关T20为P型场效晶体管，当其栅极控制信号为低电位时，所述第二开关T20开启，当其栅极控制信号为高电位时，所述第二开关T20关闭。
图3为本申请另一实施例的量测信号电路示意图，请参考图3，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路30，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第二节点P2(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第三节点P3(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第四节点P4(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第三节点P3(n)；一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第五节点P5(n)，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第三节点P3(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第二节点P2(n)；一第五开关T50，所述第五开关T50的一控 制端501a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第四节点P4(n)；一第六开关T60，所述第六开关T60的一控制端601a电性耦接一第六节点P6(n)，所述第六开关T60的一第一端601b电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第六开关T60的一第二端601c电性耦接一第一电压信号VDD1；一第七开关T70，所述第七开关T70的一控制端701a电性耦接所述第六节点P6(n)，所述第七开关T70的一第一端701b电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第七开关T70的一第二端701c接地；一第一触发器200，所述第一触发器200的一第一端202电性耦接一第二电压信号VDD2，所述第一触发器200的一第二端204电性耦接一第一频率输入信号A1，所述第一触发器200的一第三端206电性耦接所述第五节点P5(n)；一第二触发器210，所述第二触发器210的一第一端212电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二触发器210的一第二端214电性耦接一第二频率输入信号A2，所述第二触发器210的一第三端216电性耦接所述第六节点P6(n)；一第一电阻220，所述第一电阻220的一端电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第一电阻220的另一端电性接地；一第二电阻240，所述第二电阻240的一端电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第二电阻240的另一端电性接地；以及一第三电阻250，所述第三电阻250的一端电性耦接一第三电压信号VDD3，所述第三电阻250的另一端电性耦接所述第一节点P1(n)。
请参考图3，在本申请的一实施例中，第一开关T10、第三开关T30、第四开关T40、第五开关T50及第七开关T70为N型场效晶体管，当其栅极控制信号为高电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40、所述第五开关T50及所述第七开关T70开启，当其栅极控制信号为低电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40、所述第五开关T50及所述第七开关T70关闭。
请参考图3，在本申请的一实施例中，第二开关T20及第六开关T60为P型场效晶体管，当其栅极控制信号为低电位时，所述第二开关T20及所述第六开关T60开启，当其栅极控制信号为高电位时，所述第二开关T20及所述第六开关T60关闭。
图4为本申请一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。请参考图2及图4，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20的量测方法，包括：提供一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第二节点P2(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第三节点P3(n)；提供一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第四节点P4(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第三节点P3(n)；提供一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a 电性耦接一第五节点P5(n)，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第三节点P3(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；提供一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第二节点P2(n)；提供一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第四节点P4(n)；提供一第一触发器200，所述第一触发器200的一第一端202电性耦接一第一电压信号VDD1，所述第一触发器200的一第二端204电性耦接一第一频率输入信号A1，所述第一触发器200的一第三端206电性耦接所述第五节点P5(n)；提供一第二触发器210，所述第二触发器210的一第一端212电性耦接一第二电压信号VDD2，所述第二触发器210的一第二端214电性耦接一第二频率输入信号A2，所述第二触发器210的一第三端216电性耦接所述第一节点P1(n)；提供一第一电阻220，所述第一电阻220的一端电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第一电阻220的另一端电性接地；提供一第二电阻240，所述第二电阻240的一端电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第二电阻240的另一端电性接地；通过所述垫片230与一扫描线S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号；以及通过所述垫片230与一资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号。
请参考图2，在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片230与一扫描线S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号的步骤包括：传递一高电位信号(举例:通过印刷电路板上的时序控制器芯片或者外灌信号)给所述第一触发器200，因而使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启；借由第一电阻220的接地，因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制信号为一低电位信号，使所述第一开关T10关闭及所述第二开关T20开启；以及通过所述垫片230量测所述扫描线S1的波形信号。
请参考图2，在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片230与一资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号的步骤包括：传递一高电位信号(举例:通过印刷电路板上的时序控制器芯片或者外灌信号)给所述第二触发器210，因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第一开关T10开启及所述第二开关T20关闭；以及通过所述垫片230量测所述资料线D1的波形信号。
请参考图4，在流程S411中，提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点。
请参考图4，在流程S412中，提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点。
请参考图4，在流程S413中，提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片。
请参考图4，在流程S414中，提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点。
请参考图4，在流程S415中，提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点。
请参考图4，在流程S416中，提供一第一触发器，所述第一触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述第一触发器的一第二端电性耦接一第一频率输入信号，所述第一触发器的一第三端电性耦接所述第五节点。
请参考图4，在流程S417中，提供一第二触发器，所述第二触发器的一第一端电性耦接一第二电压信号，所述第二触发器的一第二端电性耦接一第二频率输入信号，所述第二触发器的一第三端电性耦接所述第一节点。
请参考图4，在流程S418中，提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地。
请参考图4，在流程S419中，提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地。
请参考图4，在流程S420中，通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号。
请参考图4，在流程S421中，通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
图5为本申请一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。请参考图3及图5，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路30的量测方法，包括：提供一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第二节点P2(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第三节点P3(n)；提供一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一节点P1(n)，所 述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第四节点P4(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第三节点P3(n)；提供一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第五节点P5(n)，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第三节点P3(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；提供一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第二节点P2(n)；提供一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第四节点P4(n)；提供一第六开关T60，所述第六开关T60的一控制端601a电性耦接一第六节点P6(n)，所述第六开关T60的一第一端601b电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第六开关T60的一第二端601c电性耦接一第一电压信号VDD1；提供一第七开关T70，所述第七开关T70的一控制端701a电性耦接所述第六节点P6(n)，所述第七开关T70的一第一端701b电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第七开关T70的一第二端701c接地；提供一第一触发器200，所述第一触发器200的一第一端202电性耦接一第二电压信号VDD2，所述第一触发器200的一第二端204电性耦接一第一频率输入信号A1，所述第一触发器200的一第三端206电性耦接所述第五节点P5(n)；提供一第二触发器210，所述第二触发器210的一第一端212电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二触发器210的一第二端214电性耦接一第二频率输入信号A2，所述第二触发器210的一第三端216电性耦接所述第六节点P6(n)；提供一第一电阻220，所述第一电阻220的一端电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第一电阻220的另一端电性接地；提供一第二电阻240，所述第二电阻240的一端电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第二电阻240的另一端电性接地；提供一第三电阻250，所述第三电阻250的一端电性耦接一第三电压信号VDD3，所述第三电阻250的另一端电性耦接所述第一节点P1(n)；通过所述垫片230与一扫描线S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号；以及通过所述垫片230与一资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号。
请参考图3，在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片230与一扫描线S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号的步骤包括：传递一高电位信号(举例:通过印刷电路板上的时序控制器芯片或者外灌信号)给所述第一触发器200及所述第二触发器210，因而使所述第三开关T30、所述第四开关T40、所述第五开关T50、所述第六开关T60及所述第七开关T70的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关T30、所述第四开关T40、所述第五开关T50及所述第七开关T70开启，所述第六开关T60关闭；借由第一电阻220的接地，使得所述第一节点P1(n)回传一低电位信号给所述第二触发器210的一第一端212， 因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制信号为一低电位信号，使所述第一开关T10关闭及所述第二开关T20开启；以及通过所述垫片230量测所述扫描线S1的波形信号。
请参考图3，在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片230与一资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号的步骤包括：再次传递一高电位信号(举例:通过印刷电路板上的时序控制器芯片或者外灌信号)给所述第一触发器200及所述第二触发器210，因而使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启；由于所述第二触发器210已经接受所述第一节点P1(n)回传一低电位信号，因而使所述第六开关T60及所述第七开关T70的栅极控制信号为一低电位信号，因此使所述第六开T60关开启及所述第七开关T70关闭；此时所述第一节点P(n)为一高电位信号给所述第二触发器210的一第一端212，因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制信号为一高电位信号，使所述第一开关T10开启及所述第二开关T20关闭；以及通过所述垫片230量测所述资料线D1的波形信号。
请参考图5，在流程S511中，提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点。
请参考图5，在流程S512中，提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点。
请参考图5，在流程S513中，提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片。
请参考图5，在流程S514中，提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点。
请参考图5，在流程S515中，提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点。
请参考图5，在流程S516中，提供一第六开关，所述第六开关的一控制端电性耦接一第六节点，所述第六开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第六开关的一第二端电性 耦接一第一电压信号。
请参考图5，在流程S517中，提供一第七开关，所述第七开关的一控制端电性耦接所述第六节点，所述第七开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第七开关的一第二端接地。
请参考图5，在流程S518中，提供一第一触发器，所述第一触发器的一第一端电性耦接一第二电压信号，所述第一触发器的一第二端电性耦接一第一频率输入信号，所述第一触发器的一第三端电性耦接所述第五节点。
请参考图5，在流程S519中，提供一第二触发器，所述第二触发器的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第二触发器的一第二端电性耦接一第二频率输入信号，所述第二触发器的一第三端电性耦接所述第六节点。
请参考图5，在流程S520中，提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地。
请参考图5，在流程S521中，提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地。
请参考图5，在流程S522中，提供一第三电阻，所述第三电阻的一端电性耦接一第三电压信号，所述第三电阻的另一端电性耦接所述第一节点。
请参考图5，在流程S523中，通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号。
请参考图5，在流程S524中，通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤。
“在一些实施例中”及“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它也可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。
以上所述，仅是本申请的实施例，并非对本申请作任何形式上的限制，虽然本申请已以具体的实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。

Claims (20)

  1. 一种量测信号电路，包括：
    一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；
    一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；
    一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；以及
    一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点。
  2. 如权利要求1所述的量测信号电路，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的控制端与所述第二开关的控制端为极性相反。
  3. 如权利要求2所述的量测信号电路，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关为N型场效晶体管。
  4. 如权利要求3所述的量测信号电路，其中所述第二开关为P型场效晶体管。
  5. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第六开关，所述第六开关的一控制端电性耦接一第六节点，所述第六开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第六开关的一第二端电性耦接一第一电压信号。
  6. 如权利要求5所述的量测信号电路，还包括一第七开关，所述第七开关的一控制端电性耦接所述第六节点，所述第七开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第七开关的一第二端接地。
  7. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第一触发器，所述第一触发器的一第一端电性耦接一第二电压信号，所述第一触发器的一第二端电性耦接一第一频率输入信号，所述第一触发器的一第三端电性耦接所述第五节点。
  8. 如权利要求6所述的量测信号电路，还包括一第二触发器，所述第二触发器的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第二触发器的一第二端电性耦接一第二频率输入信号，所述第二触发器的一第三端电性耦接所述第六节点。
  9. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地。
  10. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地。
  11. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第三电阻，所述第三电阻的一端电性耦接一第三电压信号，所述第三电阻的另一端电性耦接所述第一节点。
  12. 一种量测信号电路，包括：
    一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；
    一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；
    一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；
    一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；
    一第六开关，所述第六开关的一控制端电性耦接一第六节点，所述第六开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第六开关的一第二端电性耦接一第一电压信号；
    一第七开关，所述第七开关的一控制端电性耦接所述第六节点，所述第七开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第七开关的一第二端接地；
    一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地；以及
    一第三电阻，所述第三电阻的一端电性耦接一第三电压信号，所述第三电阻的另一端电性耦接所述第一节点。
  13. 如权利要求12所述的量测信号电路，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的控制端与所述第二开关的控制端为极性相反。
  14. 如权利要求13所述的量测信号电路，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关为N型场效晶体管。
  15. 如权利要求14所述的量测信号电路，其中所述第二开关为P型场效晶体管。
  16. 如权利要求12所述的量测信号电路，还包括一第一触发器，所述第一触发器的一第一端电性耦接一第二电压信号，所述第一触发器的一第二端电性耦接一第一频率输入信号，所述 第一触发器的一第三端电性耦接所述第五节点。
  17. 如权利要求12所述的量测信号电路，还包括一第二触发器，所述第二触发器的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第二触发器的一第二端电性耦接一第二频率输入信号，所述第二触发器的一第三端电性耦接所述第六节点。
  18. 一种量测信号电路的量测方法，包括：
    提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；
    提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；
    提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；
    提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；
    提供一第六开关，所述第六开关的一控制端电性耦接一第六节点，所述第六开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第六开关的一第二端电性耦接一第一电压信号；
    提供一第七开关，所述第七开关的一控制端电性耦接所述第六节点，所述第七开关的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第七开关的一第二端接地；
    提供一第一触发器，所述第一触发器的一第一端电性耦接一第二电压信号，所述第一触发器的一第二端电性耦接一第一频率输入信号，所述第一触发器的一第三端电性耦接所述第五节点；
    提供一第二触发器，所述第二触发器的一第一端电性耦接所述第一节点，所述第二触发器的一第二端电性耦接一第二频率输入信号，所述第二触发器的一第三端电性耦接所述第六节点；
    提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；
    提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第五节点，所述第二电阻的另一端电性接地；
    提供一第三电阻，所述第三电阻的一端电性耦接一第三电压信号，所述第三电阻的另一端电性耦接所述第一节点；
    通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号；以及
    通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
  19. 如权利要求18所述的量测信号电路的量测方法，通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号的步骤包括：
    传递一高电位信号给所述第一触发器及所述第二触发器，因而使所述第三开关、所述第四开关、所述第五开关、所述第六开关及所述第七开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关、所述第四开关、所述第五开关及所述第七开关开启，所述第六开关关闭；借由第一电阻的接地，使得所述第一节点回传一低电位信号给所述第二触发器的一第一端，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一低电位信号，使所述第一开关关闭及所述第二开关开启；以及
    通过所述垫片量测所述扫描线的波形信号。
  20. 如权利要求18所述的量测信号电路的量测方法，通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号的步骤包括：
    再次传递一高电位信号给所述第一触发器及所述第二触发器，因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启；
    由于所述第二触发器已经接受所述第一节点回传一低电位信号，因而使所述第六开关及所述第七开关的栅极控制信号为一低电位信号，因此使所述第六开关开启及所述第七开关关闭；此时所述第一节点为一高电位信号给所述第二触发器的一第一端，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一高电位信号，使所述第一开关开启及所述第二开关关闭；以及
    通过所述垫片量测所述资料线的波形信号。
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