KR20080033706A - 액정표시장치 및 이의 테스트 방법 - Google Patents

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KR20080033706A
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이승규
심창우
여용석
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삼성전자주식회사
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Abstract

본 발명은 외부에서 테스트용 비디오 신호와 공통전압을 공급하는 별도의 외부전압 공급부를 마련하고, 액정패널에 테스트용 비디오 신호와 공통전압을 공급하여 감마 특성을 측정하여 감마 보정 시간을 줄이고 화질을 개선하는 액정표시장치 및 이의 테스트 방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 화상을 표시하는 액정패널, 상기 액정패널을 구동하는 패널구동회로, 상기 패널구동회로에 외부로부터의 신호를 전송하며 상기 액정패널의 일측에 접속된 회로기판, 상기 회로기판에 형성되어 상기 패널구동회로에 테스트 데이터 전압와 테스트 공통전압을 공급하는 외부전압 공급부, 상기 패널구동회로에 형성되어 상기 외부전압 공급부에서 전압이 공급되는 동안 상기 패널구동회로 내부에서 공급되는 전압을 오프 시키는 스위칭부 및 상기 회로기판에 형성되며, 상기 스위칭부를 제어하는 셀렉트신호를 공급하는 신호선택부를 포함하는 액정표시장치 및 이의 테스트 방법을 제공한다.

Description

액정표시장치 및 이의 테스트 방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND TEST METHOD THEREOF}
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치를 도시한 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 액정표시장치를 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 3은 도 2에 도시된 액정표시장치의 데이터 구동회로를 도시한 블록도이다.
도 4는 도 3에 도시된 데이터 구동회로의 D/A 컨버터와 이와 연결된 스위칭부를 도시한 회로도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 공통전압 공급부와 이와 연결된 스위칭부를 도시한 회로도이다.
<도면부호의 간단한 설명>
10: 액정패널 11: 컬러 필터 기판
12: 박막 트랜지스터 기판 20: 게이트 구동회로
30: 데이터 구동회로 31: 쉬프트 레지스터
32: 데이터 레지스터 33: 데이터 래치
34: D/A 컨버터 35: 버퍼
40: 감마전압 발생부 50: 전원부
60: 타이밍 컨트롤러 70: 외부전압 공급부
71: 외부전압 공급선 72: 접속단자
80: 신호선택부 81: SEL 공급선
90: 회로기판 100: 패널구동회로
110: 스위칭부
111 내지 114: 제1 내지 제4 스위치
130: 공통전압 공급부
본 발명은 액정표시장치 및 이의 테스트 방법에 관한 것으로, 특히 액정표시장치의 화질을 개선하고 감마 보정 시간을 줄인 액정표시장치 및 이의 테스트 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 액정표시장치는 화소 매트릭스를 통해 화상을 표시하는 액정패널과, 액정패널을 구동하는 패널구동부를 구비한다. 그리고 액정표시장치는 액정패널이 비발광소자이므로 액정패널의 후면에서 광을 공급하는 백라이트 유닛을 구비한다. 액정패널은 비디오 신호에 따라 각각의 서브 화소의 액정 배열 상태가 가변하여 백라이트 유닛에서 공급된 광의 투과율을 조절함으로써 영상을 표시한다.
종래의 액정패널의 감마 커브를 측정하기 위하여 액정패널의 게이트 라인과 데이터 라인에 별도의 테스트 신호를 공급하여 투과율을 측정한다. 여기서, 실제 액정패널이 구동될 때, 액정패널의 게이트 라인에 공급되는 게이트 온 전압은 매우 짧은 시간동안 펄스 형태로 공급된다. 이때, 게이트 온 전압의 파형 중 하강부에서 화소전극에 충전되는 데이터 전압이 킥백 현상에 의해 전압강하가 발생된다. 그러나 종래의 액정표시장치의 테스트 시 킥백 전압을 고려하지 않으므로 정확한 감마 커브를 측정할 수 없는 문제점이 있다. 그리고, 감마 보정시 많은 시간이 소비된다.
또한, 액정표시장치는 패널구동부를 액정패널과 접속한 후에는 감마 커브 측정이 불가능하여 감마 보정을 하기에 어려움이 발생한다.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 외부에서 테스트용 비디오 신호와 공통전압을 공급하는 별도의 외부전압 공급부를 마련하고, 액정패널에 테스트용 비디오 신호와 공통전압을 공급하여 감마 특성을 측정하여 감마 보정 시간을 줄이고 화질을 개선하는 액정표시장치 및 이의 테스트 방법을 제공하는 데 있다.
상기의 기술적 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 화상을 표시하는 액정패널; 상기 액정패널을 구동하는 패널구동회로; 상기 패널구동회로에 외부로부터의 신호를 전송하며 상기 액정패널의 일측에 접속된 회로기판; 상기 회로기판에 형성되어 상기 패널구동회로에 테스트 데이터 전압와 테스트 공통전압을 공급하는 외부전압 공급부; 상기 패널구동회로에 형성되어 상기 외부전압 공급부에서 전압이 공급되는 동안 상기 패널구동회로 내부에서 공급되는 전압을 오프 시키는 스위칭부; 및 상기 회로기판에 형성되며, 상기 스위칭부를 제어하는 셀렉트신호를 공급하는 신호선택부를 포함하는 액정표시장치를 제공한다.
여기서 상기 패널구동회로는 상기 액정패널의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동회로; 상기 액정패널의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동회로; 상기 데이터 구동회로에 감마전압을 공급하는 감마전압 발생부; 상기 게이트 구동회로 및 데이터 구동회로에 제어신호를 공급하고, 상기 데이터 구동회로에 화소 데이터 신호를 공급하는 타이밍 컨트롤러; 및 게이트 온/오프 전압을 생성하여 상기 게이트 구동회로에 공급하고, 아날로그 전압을 생성하여 감마전압 발생부에 공급하는 전원부를 포함하며, 상기 스위칭부는 상기 데이터 구동회로에 포함된다.
그리고 상기 감마전압 발생부는 상기 감마전압과, 공통전압을 각각 생성하여 공급한다.
이때, 상기 스위칭부는 상기 데이터 구동회로의 디지털/아날로그 컨버터와 버퍼 사이에 형성된 제1 스위치와, 상기 버퍼와 상기 외부전압 공급부 사이에 형성된 제2 스위치를 포함하며, 상기 감마전압 발생부의 공통전압 공급부와 버퍼 사이에 형성된 제3 스위치와, 상기 외부전압 공급부와 상기 버퍼 사이에 형성된 제4 스위치를 포함하며, 상기 제3 스위치와 상기 제4 스위치는 어느 하나가 턴온 되면 나 머지 하나는 턴 오프 되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 제1 스위치와 상기 제2 스위치는 어느 하나가 턴온 되면 나머지 하나는 턴 오프 되고, 상기 제3 스위치와 상기 제4 스위치는 어느 하나가 턴온 되면 나머지 하나는 턴 오프 되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 신호선택부는 상기 외부전압 공급부에서 상기 테스트 데이터 전압 및 공통전압이 공급될 때 상기 제2 및 4 스위치를 턴온 시키고, 이와 동시에 상기 제1 및 제3 스위치를 턴 오프 시키는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기의 기술적 과제를 해결하기 위하여 액정패널을 구동하는 액정패널 구동 단계; 테스트 데이터 전압과, 테스트 공통전압을 공급하는 외부전압 공급 단계; 셀렉트신호를 공급하여 데이터 구동회로에 포함된 디지털-아날로그 컨버터로부터 상기 액정패널의 데이터 라인과 공통전극으로 공급되는 데이터 전압과 공통전압을 차단하는 스위칭 제어 단계 및 액정패널의 투과율을 측정하는 측정 단계를 포함하는 액정표시장치의 테스트 방법을 제공한다.
이때, 상기 스위칭 제어 단계에서 상기 셀렉트 신호를 공급하여 상기 데이터 라인과 연결된 버퍼와 상기 디지털-아날로그 컨버터 사이의 제1 스위치를 턴 오프 시키고, 상기 외부전압 공급부와 상기 버퍼 사이의 제2 스위치를 턴온 시키는 단계; 상기 공통전극과 연결된 버퍼와 상기 감마전압 발생부 사이의 제3 스위치를 턴오프 시키고, 상기 외부전압 공급부와 상기 버퍼 사이의 제4 스위치를 턴온 시키는 단계를 더 포함한다.
또한, 상기 외부전압 공급 단계에서 상기 테스트 공통전압을 정극성 전압과 부극성 전압으로 교번하여 공급하는 단계를 더 포함한다.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 이점들은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예들을 첨부한 도면들을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 도시한 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 액정표시장치의 구성을 도시한 블록도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치는 화상을 표시하는 액정패널(10)과, 액정패널(10)을 구동하는 패널구동회로(100)와, 패널구동회로(100)에 외부로부터의 신호를 전송하며 액정패널(10)의 일측에 접속된 회로기판(90)과, 회로기판(90)에 형성되어 패널구동회로(100)에 테스트 데이터 전압(T_VDATA)와 테스트 공통전압(T_Vcom)을 공급하는 외부전압 공급부(70)와, 패널구동회로(100)에 형성되어 외부전압 공급부(70)에서 전압이 공급되는 동안 패널구동회로(100) 내부에서 공급되는 전압을 오프 시키는 스위칭부(110) 및 스위칭부(110)를 제어하는 셀렉트신호(SEL)를 생성하여 공급하는 신호선택부(80)를 포함한다.
구체적으로, 액정패널(10)은 박막 트랜지스터가 형성된 박막 트랜지스터 기판(12)과 박막 트랜지스터 기판(12)에 대향하며 컬러 필터가 형성된 컬러 필터 기판 및 두 기판 사이에 충진된 액정을 구비한다.
박막 트랜지스터 기판(12)은 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)과 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)이 교차하여 정의하는 화소 영역에 형성된 화소 전극과, 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)의 교차부에 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)과 접속되며 화소 전극과 접속된 박막 트랜지스터(TFT)를 포함한다.
컬러 필터 기판(11)은 빛샘을 방지하는 블랙 매트릭스와, 색을 표시하기 위하여 화소 영역에 대응하여 형성된 컬러 필터 및 공통전압이 인가되는 공통 전극을 포함한다. 이에 따라, 화소 전극에 데이터 전압이 충전되면 공통 전극에 인가된 공통전압과의 전위차에 의해 형성된 전계를 통해 액정을 구동하여 광의 투과율을 조절한다.
패널구동회로(100)는 게이트 라인(GL)을 구동하는 게이트 구동회로(20)와 데이터 라인(DL)을 구동하는 데이터 구동회로(30)와, 게이트 및 데이터 구동회로(20, 30) 각각에 공급되는 제어신호를 생성하며, 데이터 구동회로(30)에 외부로부터 입력된 적(R), 녹(G), 청(B)의 데이터 신호를 공급하는 타이밍 컨트롤러(60)와 계조전압을 생성하여 데이터 구동회로(30)에 공급하는 감마전압 발생부(40) 및 게이트 구동회로(20), 데이터 구동회로(30), 감마전압 발생부(40) 및 공통 전극에 공급되는 전압들을 생성하여 각각에 공급하는 전원부(50)를 포함한다.
여기서, 패널구동회로(100)는 하나의 단일 칩으로 형성되어 액정패널(10)의 일측에 칩온글래스(Chip On Glass; COG) 방식으로 접속된 예를 들어 설명하기로 한다. 그러나, 패널구동회로(100)에 포함된 게이트 구동회로(20), 데이터 구동회로(30), 타이밍 컨트롤러(60), 감마전압 발생부(40) 및 전원부(50)는 각각이 칩으로 형성되어 액정패널(10) 또는 이와 접속된 회로기판(90)에 실장될 수 있다.
전원부(50)는 외부 전원장치로부터 공급된 기준전압을 통해 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)을 생성하여 게이트 구동회로(20)에 공급하고, 아날로그 구동전압(AVDD)을 생성하여 감마전압 발생부(40)에 공급한다. 그리고, 구동전압을 생성하여 타이밍 컨트롤러(60), 데이터 구동회로(30) 및 게이트 구동회로(20) 등의 회로소자들에 공급한다.
타이밍 컨트롤러(60)는 외부로부터 입력된 R, G, B의 데이터 신호를 데이터 구동회로(30)에 공급한다. 그리고 타이밍 컨트롤러(60)는 외부로부터 공급된 수평동기신호, 수직동기신호 등의 신호에 따라 제어신호들을 생성하여 게이트 구동회로(20) 및 데이터 구동회로(30)에 공급한다. 예를 들어, 타이밍 컨트롤러(60)는 게이트 쉬프트 클럭, 게이트 스타트 펄스, 인에이블신호 등의 게이트 제어신호(G_CS)를 생성하여 게이트 구동회로(20)에 공급하고, 데이터 쉬프트 클럭, 데이터 스타트 펄스, 극성제어신호(POL), 인에이블신호 등의 데이터 제어신호(D_CS)를 생성하여 데이터 구동회로(30)에 공급한다.
감마전압 발생부(40)는 전원부(50)로부터 아날로그 구동전압(AVDD)을 통해 다수의 감마전압(VGMA)을 생성하여 데이터 구동회로(30)에 공급한다. 이를 위하여, 감마전압 발생부(40)는 아날로그 구동전압(AVDD)과 기저전압 사이에 직렬로 접속된 다수의 저항(R)을 구비한다. 따라서, 감마전압 발생부(40)는 각각의 저항(R) 사이에서 저항값에 따라 전압분배된 전압들(VGMA) 각각을 데이터 구동회로(30)에 공급한다.
게이트 구동회로(20)는 전원부(50)로부터 공급되는 게이트 온 전압(Von)을 게이트 라인(GL)에 순차적으로 공급한다. 그리고 게이트 온 전압(Von)이 공급되지 않는 나머지 게이트 라인(GL)에는 게이트 오프 전압(Voff)을 공급한다. 다시 말하여, 게이트 구동회로(20)는 타이밍 컨트롤러(60)로부터 공급되는 게이트 제어신호(G_CS) 예를 들면, 게이트 쉬프트 클럭, 게이트 스타트 펄스, 인에이블신호 클럭신호, 클럭반전신호들에 따라 전원부(50)로부터 공급되는 게이트 온 전압(Von)을 게이트 라인(GL)에 순차적으로 공급한다.
데이터 구동회로(30)는 타이밍 컨트롤러(60)로부터 공급되는 R, G, B의 데이터 신호를 데이터 제어신호(D_CS)에 따라 게이트 라인(GL)에 게이트 온 전압(Von)이 공급될 때마다 데이터 전압(VDATA)을 데이터 라인(DL)에 공급한다. 다시 말하여, 데이터 구동회로(30)는 공급된 R, G, B 데이터 신호를 아날로그 변환하여 데이터 라인(DL)에 출력한다.
도 3 및 도 4를 참조하여 데이터 구동회로(30)를 구체적으로 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 구동회로를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 4는 도 3에 도시된 데이터 구동회로의 D/A 컨버터를 보다 구체적으로 도시한 도면이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 구동회로(30)는 쉬프트 레지스터(31), 데이터 레지스터(32), 데이터 래치(33), D/A 컨버터(34), 스위칭부(110) 및 버퍼(35)를 포함한다.
구체적으로, 쉬프트 레지스터(31)는 타이밍 컨트롤러(60)로부터 데이터 클럭 신호를 순차적으로 쉬프트 시킨다. 데이터 레지스터(32)는 쉬프트 레지스터(31)로부터 공급되는 클럭신호에 따라 타이밍 컨트롤러(60)로부터 데이터 레지스터(32)에 공급되는 적(R), 녹(G), 청(B)의 데이터 신호를 데이터 레지스터(32)에 저장한다. 저장된 데이터 신호는 데이터 래치(33)에 전달된 후 데이터 래치(33)에 제어신호가 공급되면 데이터 신호를 D/A 컨버터(34)에 공급한다.
D/A 컨버터(34)는 감마전압 발생부(40)로부터 공급되는 감마전압(VGMA)과 데이터 래치(33)로부터 공급되는 데이터 신호를 매칭하여 데이터 전압(VDATA)을 버퍼(35)에 공급한다. 이때, D/A 컨버터(34)와 버퍼(35a) 사이에 외부전압 공급부(70)에서 공급되는 테스트 데이터 전압(T_VDATA)과 D/A컨버터(34)에서 발생된 데이터 전압(VDATA)을 선택적으로 출력하도록 하는 스위칭부(110a)를 형성한다.
스위칭부(110a)는 D/A 컨버터(34)와 버퍼(35a) 사이에 형성된 제1 스위치(111)와, 버퍼(35a)와 외부전압 공급부(70) 사이에 형성된 제2 스위치(112)를 포함한다. 그리고 제1 스위치(111)와 제2 스위치(112)는 어느 하나가 턴온 되면 나머지 하나는 턴 오프 된다. 그리고, 스위칭부(110b)는 도 5에 도시된 바와 같이 감마전압 발생부(40)에 포함된 공통전압 공급부(130)와 버퍼(35b) 사이에 형성된 제3 스위치(113)와, 외부전압 공급부(70)와 버퍼(35b) 사이에 형성된 제4 스위치(114)를 포함한다. 여기서, 공통전압 공급부(130)는 정극성 전압 즉, 하이 공통전압(VcomH)과, 부극성 전압 즉, 로우 공통전압(VcomH)이 교번되어 공급될 수 있다. 그리고 제3 스위치(113)와 제4 스위치(114)는 어느 하나가 턴온 되면 나머지 하나는 턴 오프 된다.
외부전압 공급부(70)는 도 1에 도시된 바와 같이, 회로기판(90)상에 형성되어 외부로부터의 테스트 데이터 전압(T_VDATA)과, 테스트 공통전압(T_Vcom)을 액정패널(10)에 공급한다. 이를 위하여 외부전압 공급부(70)는 외부에서 별도로 전압들을 인가할 수 있도록 신호선과 연결된 접속단자들로 형성할 수 있다. 또한, 외부전압 공급부(70)는 테스트용 전압들을 생성하여 공급할 수 있는 전원공급회로를 사용할 수도 있다.
신호선택부(80)는 회로기판(90)의 일측에 형성되며 외부전압 공급부(70)에서 패널구동회로(100)에 전압들을 공급할 때, 스위칭부(110)를 제어하는 신호를 발생시킨다. 이때, 신호선택부(80)는 외부에서 사용자가 직접 데이터 신호를 공급하거나 클럭신호를 발생하여 스위칭부(110)를 제어할 수 있다.
회로기판(90)은 연성 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit : FPC) 또는 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board : PCB)으로 형성된다. 회로기판(90)은 베이스 기판에 다수의 신호라인들이 형성되며, 그 일측은 액정패널(10)과 접속되어 외부로부터의 기준전압 및 화소 데이터 신호 등의 신호를 액정패널(10)에 실장된 패널구동회로(100)에 공급한다. 또한, 회로기판(90)은 외부전압 공급부(70)에서 공급되는 테스트 데이터 전압과 테스트 공통전압(T_Vcom)을 공급하는 별도의 외부전압 공급선(71)이 형성된다. 그리고 회로기판(90)은 신호선택부(80)에서 공급되는 셀렉트신호(SEL)를 패널구동회로(100)에 형성된 스위칭부(110)에 공급하는 SEL 공급선(81)이 형성된다.
다음으로, 도 2 내지 도 5를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장 치의 테스트 방법을 설명하기로 한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 테스트 방법은 액정패널을 구동하는 액정패널 구동 단계, 테스트 데이터 전압과, 테스트 공통전압을 공급하는 외부전압 공급 단계, 셀렉트신호를 공급하여 데이터 구동회로에 포함된 디지털-아날로그 컨버터로부터 상기 액정패널의 데이터 라인과 공통전극으로 공급되는 데이터 전압과 공통전압을 차단하는 스위칭 제어 단계 및 액정패널의 투과율을 측정하는 측정 단계를 포함한다.
구체적으로, 액정패널 구동 단계는 액정패널(10)을 구동하는 구동신호들을 액정패널에 공급하여 액정패널(10)을 구동시킨다. 즉, 외부에서 정상적으로 액정패널을 구동하는 신호들 예를 들어 데이터 신호, 수직/수평 동기신호, 기준전압 등의 신호들을 패널구동회로(100)에 공급한다. 이에 따라, 패널구동회로(100)에서는 전원부(50)에서 게이트 구동회로(20)에 공급되는 게이트 온/오프 전압(Von, Voff)을 생성하고, 감마전압 발생부(40)로 공급되는 아날로그 구동전압(AVDD) 등의 전압을 생성하여 각각의 회로에 공급하고, 타이밍 컨트롤러(60)에서 게이트 구동회로(20)에 게이트 제어신호(G_CS)를 공급하여 게이트 구동회로(20)에서 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)이 게이트 라인(GL)으로 공급되도록 한다. 이에 따라, 게이트 라인(GL)이 순차적으로 구동된다. 그리고 데이터 구동회로(30)는 타이밍 컨트롤러(60)로부터 데이터 신호와 데이터 제어신호(D_CS)를 인가받아 데이터 구동회로(30)를 구동한다.
다음으로, 테스트 데이터 전압(T_VDATA)과, 테스트 공통전압(T_Vcom)을 공급 하는 외부전압 공급 단계는 회로기판(90)에 형성된 외부전압 공급부(70)에서 테스트 데이터 전압(T_VDATA)과, 테스트 공통전압(T_Vcom) 각각을 패널구동회로(100)에 공급한다. 이때, 외부전압 공급부(70)에서 테스트 데이터 전압(T_VDATA)과 테스트 공통전압(T_Vcom)을 각각 생성하거나, 사용자가 임의의 전압을 공급할 수 있다. 예를 들어 사용자가 임의의 전압을 공급하는 경우에는 외부전압 공급부(70)는 전압이 입력되는 전극 또는 단자의 형태로 형성된다. 여기서, 테스트 공통전압(T_Vcom)은 정극성(+) 전압과 부극성(-) 전압이 교번하여 공급될 수 있다. 다시 말하면, 액정패널(10)이 정상구동에서 라인 인버젼 구동되는 경우 테스트 시에도 이와 동일하게 구동되어야 한다. 따라서, 액정패널(10) 테스트시 테스트 공통전압을 스윙시켜 라인 인버젼 방식으로 구동되도록 한다.
다음으로, 스위칭 제어 단계는 신호선택부(80)에서 셀렉트신호를 공급하여 데이터 구동회로(30)에 포함된 D/A 컨버터(34)로부터 액정패널(10)의 데이터 라인(DL)과 공통전극으로 공급되는 데이터 전압(VDATA)과 공통전압(Vcom)을 차단하고, 테스트 데이터 전압(T_VDATA)과 테스트 공통전압(T_Vcom)을 공급한다. 즉, 신호선택부(80)에서는 하이 또는 로우의 셀렉트신호(SEL)를 스위칭부(110)의 제1 내지 제4 스위치(111 내지 114)에 공급하여 제2 스위치(112)와 제4 스위치(114)를 턴온 시키고, 제1 및 제3 스위치(111, 113)를 턴오프 시킨다.
다음으로, 측정 단계는 액정패널(10)에 테스트 데이터 전압(T_VDATA)과 테스트 공통전압(T_Vcom)이 공급되는 동안 투과율을 측정한다. 측정된 액정패널(10)의 투과율과 테스트 데이터 전압(T_VDATA) 및 테스트 공통전압(T_Vcom)을 통해 액정패 널(10)의 감마 커브를 측정한다. 측정된 감마 커브가 최적의 조건에서 벗어날 경우 감마전압 발생부(40)에 공급되는 아날로그 구동전압(AVDD)의 크기를 조정하거나, 감마전압 발생부(40)의 저항들(R1 내지 Rn)의 저항값을 조절하거나, 공통전압(Vcom)의 크기를 조정하는 등의 방법으로 감마 보정을 한다. 이에 따라, 액정패널(10)에 게이트 온 전압(Von)이 공급되어 게이트 온 전압(Von)에 의한 킥백 전압이 발생된 상태에서 감마 보정을 하므로 액정표시장치의 화질을 실질적으로 개선할 수 있다. 또한, 액정표시장치의 조립이 끝난 후에도 감마 보정을 할 수 있으며, 감마 보정 시간을 단축할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치 및 이의 테스트 방법은 액정표시장치에 외부전압 공급부를 형성하고, 데이터 구동회로에 정상 데이터 전압 및 공통전압과 테스트 데이터 전압 및 테스트 공통전압 중 선택적으로 공급할 수 있는 스위칭부를 마련하여 액정표시장치를 제조한 후, 액정표시장치를 정상적으로 구동하고, 데이터 구동회로에 스위칭부를 제어하고 외부에서 테스트 데이터 전압과 테스트 공통전압을 공급하여 액정표시장치를 제조한 후에도 액정표시장치의 감마 특성을 측정할 수 있다. 따라서, 측정된 감마 특성을 통해 감마 보정을 실시하여 액정표시장치의 화질을 개선할 수 있다.
또한, 액정표시장치의 감마 보정 시간을 줄일 수 있는 장점이 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

Claims (9)

  1. 화상을 표시하는 액정패널;
    상기 액정패널을 구동하는 패널구동회로;
    상기 패널구동회로에 외부로부터의 신호를 전송하며 상기 액정패널의 일측에 접속된 회로기판;
    상기 회로기판에 형성되어 상기 패널구동회로에 테스트 데이터 전압와 테스트 공통전압을 공급하는 외부전압 공급부;
    상기 패널구동회로에 형성되어 상기 외부전압 공급부에서 전압이 공급되는 동안 상기 패널구동회로 내부에서 공급되는 전압을 오프 시키는 스위칭부; 및
    상기 회로기판에 형성되며, 상기 스위칭부를 제어하는 셀렉트신호를 공급하는 신호선택부를 포함하는 액정표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 패널구동회로는 상기 액정패널의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동회로;
    상기 액정패널의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동회로;
    상기 데이터 구동회로에 감마전압을 공급하는 감마전압 발생부;
    상기 게이트 구동회로 및 데이터 구동회로에 제어신호를 공급하고, 상기 데이터 구동회로에 화소 데이터 신호를 공급하는 타이밍 컨트롤러; 및
    게이트 온/오프 전압을 생성하여 상기 게이트 구동회로에 공급하고, 아날로그 전압을 생성하여 감마전압 발생부에 공급하는 전원부를 포함하며,
    상기 스위칭부는 상기 데이터 구동회로에 포함된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 감마전압 발생부는 상기 감마전압과, 공통전압을 각각 생성하여 공급하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 스위칭부는 상기 데이터 구동회로의 디지털/아날로그 컨버터와 버퍼 사이에 형성된 제1 스위치와, 상기 버퍼와 상기 외부전압 공급부 사이에 형성된 제2 스위치를 포함하며,
    상기 감마전압 발생부의 공통전압 공급부와 버퍼 사이에 형성된 제3 스위치와, 상기 외부전압 공급부와 상기 버퍼 사이에 형성된 제4 스위치를 포함하며, 상기 제3 스위치와 상기 제4 스위치는 어느 하나가 턴온 되면 나머지 하나는 턴 오프 되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제1 스위치와 상기 제2 스위치는 어느 하나가 턴온 되면 나머지 하나는 턴 오프 되고,
    상기 제3 스위치와 상기 제4 스위치는 어느 하나가 턴온 되면 나머지 하나는 턴 오프 되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 신호선택부는 상기 외부전압 공급부에서 상기 테스트 데이터 전압 및 공통전압이 공급될 때 상기 제2 및 4 스위치를 턴온 시키고, 이와 동시에 상기 제1 및 제3 스위치를 턴 오프 시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  7. 액정패널을 구동하는 액정패널 구동 단계;
    테스트 데이터 전압과, 테스트 공통전압을 공급하는 외부전압 공급 단계;
    셀렉트신호를 공급하여 데이터 구동회로에 포함된 디지털/아날로그 컨버터로부터 상기 액정패널의 데이터 라인과 공통전극으로 공급되는 데이터 전압과 공통전압을 차단하는 스위칭 제어 단계 및
    상기 액정패널의 투과율을 측정하는 측정 단계를 포함하는 액정표시장치의 테스트 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어 단계에서
    상기 셀렉트 신호를 공급하여 상기 데이터 라인과 연결된 버퍼와 상기 디지 털-아날로그 컨버터 사이의 제1 스위치를 턴 오프 시키고, 상기 외부전압 공급부와 상기 버퍼 사이의 제2 스위치를 턴온 시키는 단계;
    상기 공통전극과 연결된 버퍼와 상기 감마전압 발생부 사이의 제3 스위치를 턴오프 시키고, 상기 외부전압 공급부와 상기 버퍼 사이의 제4 스위치를 턴온 시키는 단계를 더 포함하는 액정표시장치의 테스트 방법.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 외부전압 공급 단계에서 상기 테스트 공통전압을 정극성 전압과 부극성 전압으로 교번하여 공급하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 테스트 방법.
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WO2020093449A1 (zh) * 2018-11-09 2020-05-14 惠科股份有限公司 量测信号电路及其量测方法
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