WO2020093450A1 - 量测信号电路及其量测方法 - Google Patents

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WO2020093450A1
WO2020093450A1 PCT/CN2018/116596 CN2018116596W WO2020093450A1 WO 2020093450 A1 WO2020093450 A1 WO 2020093450A1 CN 2018116596 W CN2018116596 W CN 2018116596W WO 2020093450 A1 WO2020093450 A1 WO 2020093450A1
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electrically coupled
terminal
node
test device
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Inventor
黄笑宇
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惠科股份有限公司
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    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only

Definitions

  • the present application relates to the field of display, in particular to a measuring signal circuit and a measuring method.
  • a liquid crystal display (Liquid Crystal) (LCD) is a flat-panel display device that uses the characteristics of liquid crystal materials to display images. Compared with other display devices, it has the advantages of lightness, thinness, low driving voltage, and low power consumption.
  • the liquid crystal display device usually has a gate driving circuit, a source driving circuit and a pixel array.
  • the pixel array has a plurality of pixel circuits, and each pixel circuit is turned on and off according to the scanning signal provided by the gate driving circuit, and displays the data screen according to the data signal provided by the source driving circuit.
  • Thin-film transistor liquid crystal display (Thin Film Transistor Liquid Crystal, TFT-LCD) is one of the main varieties of flat panel displays, and has become an important display platform in modern information technology and video products.
  • the main driving principle of TFT-LCD the system motherboard connects the compressed signal, control signal and power of red / green / blue pixels to the connector on the printed circuit board through the wire, and the data passes through the timing controller (Timing) on the printed circuit board Controller, TCON) chip processing, through the printed circuit board, through the source film driver chip (Source-Chip on Film, S-COF) and gate film driver chip (Gate-Chip on Film, G-COF) and the display area Connection, the voltage is transmitted through the data line (Scan line) and the scan line (Scan line) on the array substrate, so that the display panel realizes the display function.
  • TFT-LCD Thin-film transistor liquid crystal display
  • the signal will be distorted after transmission through the data line and the scan line.
  • the data line (Data line)
  • Scan the end of the scan line
  • This method takes a long time, and the product is destroyed after the glass shards, causing waste, and the slivers Liquid crystal is volatilized, which is harmful to health after inhalation.
  • the main purpose of the present application is to provide a measurement signal circuit and a measurement method thereof, so as to optimize the above-mentioned problems.
  • an object of the present application is to provide a measurement signal circuit, including: a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first test device, the first A first terminal of the switch is electrically coupled to a first node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a second node; a second switch, a control terminal of the second switch is electrically Coupled to the first test device, a first terminal of the second switch is electrically coupled to a third node, and a second terminal of the second switch is electrically coupled to the second node; and a A third switch, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a second testing device, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the second node, and a The second end is electrically coupled to a gasket; wherein the other end of the first testing device is electrically coupled to a first frequency input signal; the other end of the second testing device is electrically coupled to a second frequency input signal.
  • Another object of the present application is a measurement signal circuit, including: a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first test device, and a first terminal of the first switch Electrically coupled to a first node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a second node; a second switch, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first node Test device, a first terminal of the second switch is electrically coupled to a third node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the second node; a third switch, the first A control terminal of the three switches is electrically coupled to a second testing device, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the second node, and a second terminal of the third switch is electrically coupled A gasket; a fourth switch, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second test device, a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a data line, the first A second terminal of the four switches is electrically coupled to
  • Another object of the present application is a method for measuring a signal circuit, including: providing a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first test device, and the first switch A first terminal of the first is electrically coupled to a first node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a second node; a second switch is provided, and a control terminal of the second switch is electrically Coupled to the first testing device, a first terminal of the second switch is electrically coupled to a third node, and a second terminal of the second switch is electrically coupled to the second node; providing a A third switch, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a second testing device, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the second node, and a The second terminal is electrically coupled to a gasket; a fourth switch is provided, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second test device, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled Connect a data line,
  • control terminals of the first switch and the third switch are opposite in polarity to the control terminals of the second switch.
  • the first switch and the third switch are N-type field effect transistors.
  • the second switch is a P-type field effect transistor.
  • a fourth switch is further included, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second testing device, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled A data line, a second terminal of the fourth switch is electrically coupled to the first node.
  • a fifth switch is further included, a control terminal of the fifth switch is electrically coupled to the second testing device, and a first terminal of the fifth switch is electrically coupled A scan line, a second terminal of the fifth switch is electrically coupled to the third node.
  • it further includes a first resistor, one end of the first resistor is electrically coupled to the first test device, and the other end of the first resistor is electrically grounded.
  • a second resistor is further included.
  • One end of the second resistor is electrically coupled to the second testing device, and the other end of the second resistor is electrically grounded.
  • the other end of the first test device is electrically coupled to a first frequency input signal; the other end of the second test device is electrically coupled to a second frequency input signal.
  • the step of measuring the waveform signal of the scan line through the connection of the pad to a scan line includes: using laser laser to connect the second test device Part of the insulator is melted, so that the gate control signals of the third switch, the fourth switch, and the fifth switch are a high potential signal, so the third switch, the fourth switch, and the The fifth switch is turned on; by grounding the first resistor, the first switch is turned off and the second switch is turned on; and the waveform signal of the scanning line is measured through the pad.
  • the step of measuring the waveform signal of the data line through the connection of the gasket and a data line includes: using laser laser to connect the first test device Part of the insulator is melted, so that the gate control signal of the first switch and the second switch is a high potential signal, so the first switch is turned on and the second switch is turned off; and through the The spacer measures the waveform signal of the data line.
  • This application provides a circuit and measurement method that can quickly measure the required signal without affecting the performance of the product, without adding additional equipment costs, and eliminating damage to the human body in the process of glass shards.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an exemplary liquid crystal display.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • FIG. 3a is a top view of the structure of the test device in the measurement signal circuit according to an embodiment of the present application.
  • 3b is a side view of the structure of the test device in the measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • FIG. 4 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • An exemplary liquid crystal display 10 includes a color filter substrate 100, an array substrate 110, a gate film driving chip 120, and a source film driving A chip 130 and a printed circuit board 150; a plurality of scanning lines 122 and a plurality of data lines 132 are provided on the array substrate 110; the scanning lines 122 are electrically coupled to the gate film driving chip 120; the data The line 132 is electrically coupled to the source thin film driving chip 130.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application
  • FIG. 3a is a top view of the structure of a test device in a measurement signal circuit according to an embodiment of the application
  • FIG. 3b is a measurement signal circuit according to an embodiment of the application
  • Side view of the structure of the test device please refer to FIG.
  • a measurement signal circuit 20 includes: a first switch T10, a control terminal 101a of the first switch T10 is electrically A first test device 240 is coupled, a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a first node P1 (n), and a second terminal 101c of the first switch T10 is electrically coupled A second node P2 (n); a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first testing device 240, a first terminal 201b of the second switch T20 Electrically coupled to a third node P3 (n), a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the second node P2 (n); and a third switch T30, the third A control terminal 301a of the switch T30 is electrically coupled to a second testing device 250, and a first terminal 301a of the third switch T30 is electrically coupled to the second node At point P2 (n), a second terminal 301a of the third switch T30
  • a fourth switch T40 is further included, a control terminal 401a of the fourth switch T40 is electrically coupled to the second testing device 250, and a first of the fourth switch T40 The terminal 401b is electrically coupled to a data line D1, and a second terminal 401c of the fourth switch T40 is electrically coupled to the first node P1 (n).
  • a fifth switch T50 is further included, a control terminal 501a of the fifth switch T50 is electrically coupled to the second testing device 250, and a first of the fifth switch T50 The terminal 501b is electrically coupled to a scan line S1, and a second terminal 501c of the fifth switch T50 is electrically coupled to the third node P3 (n).
  • a first resistor 210 is further included. One end of the first resistor 210 is electrically coupled to the first test device 240, and the other end of the first resistor 210 is electrically grounded.
  • a second resistor 220 is further included. One end of the second resistor 220 is electrically coupled to the second testing device 250, and the other end of the second resistor 220 is electrically grounded.
  • a measurement signal circuit 20 includes: a first switch T10, and a control terminal 101 a of the first switch T10 is electrically coupled Connected to a first test device 240, a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a first node P1 (n), and a second terminal 101c of the first switch T10 is electrically coupled to a The second node P2 (n); a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first test device 240, and a first terminal 201b of the second switch T20 is electrically A third node P3 (n), a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the second node P2 (n); a third switch T30, the third switch T30 A control terminal 301a is electrically coupled to a second test device 250, a first terminal 301a of the third switch T30 is electrically
  • the first switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40, and the fifth switch T50 are N-type field effect transistors.
  • the gate control signal is high, the first switch The switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40, and the fifth switch T50 are turned on.
  • the gate control signal is low, the first switch T10, the third switch T30, The fourth switch T40 and the fifth switch T50 are turned off.
  • the second switch T20 is a P-type field effect transistor.
  • the gate control signal When the gate control signal is low, the second switch T20 is turned on.
  • the gate control signal When the gate control signal is high, The second switch T20 is closed.
  • FIG. 4 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • a measuring method of the measuring signal circuit 20 includes: providing a first switch T10, the first switch T10 A control terminal 101a is electrically coupled to a first test device 240, a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a first node P1 (n), a first terminal of the first switch T10 The two terminals 101c are electrically coupled to a second node P2 (n); a second switch T20 is provided, and a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first testing device 240, the second A first terminal 201a of the switch T20 is electrically coupled to a third node P3 (n), a second terminal 201b of the second switch T20 is electrically coupled to the second node P2 (n); Three switches T30, a control terminal
  • the measuring method measures the waveform signal of the scanning line S1 through the connection of the spacer 230 to a scanning line S1
  • the steps include: melting the insulator portion 314 of the second test device 250 by laser laser, so that the gate control signals of the third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50 A high potential signal, thus turning on the third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50; by grounding the first resistor 210, the first switch T10 is turned off and all The second switch T20 is turned on; and the waveform signal of the scan line S1 is measured through the pad 230.
  • the measuring method measures the waveform signal of the data line D1 through the connection of the gasket 230 to a data line D1
  • the steps include: melting the insulator portion 314 of the first test device 240 by laser laser, thus making the gate control signals of the first switch T10 and the second switch T20 a high potential signal, so that The first switch T10 is turned on and the second switch T20 is turned off; and the waveform signal of the data line D1 is measured through the pad 230.
  • a first switch is provided, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first test device, and a first terminal of the first switch is electrically coupled to a In the first node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a second node.
  • a second switch is provided, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first test device, and a first terminal of the second switch is electrically coupled A third node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the second node.
  • a third switch is provided, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a second test device, and a first terminal of the third switch is electrically coupled to the In the second node, a second terminal of the third switch is electrically coupled to a pad.
  • a fourth switch is provided, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second test device, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled A data line, a second terminal of the fourth switch is electrically coupled to the first node.
  • a fifth switch is provided, a control terminal of the fifth switch is electrically coupled to the second test device, and a first terminal of the fifth switch is electrically coupled A scan line, a second terminal of the fifth switch is electrically coupled to the third node.
  • a first resistor is provided, one end of the first resistor is electrically coupled to the first test device, and the other end of the first resistor is electrically grounded.
  • a second resistor is provided, one end of the second resistor is electrically coupled to the second test device, and the other end of the second resistor is electrically grounded.
  • the waveform signal of the scan line is measured through the connection of the pad to a scan line.
  • the waveform signal of the data line is measured through the connection of the gasket and a data line.
  • This application provides a circuit and measurement method that can quickly measure the required signal without affecting the performance of the product, without adding additional equipment costs, and eliminating damage to the human body in the process of glass shards.

Abstract

一种量测信号电路（20）及其量测方法，量测信号电路（20）通过一垫片（230）分别与一扫描线和一资料线连接，量测扫描线和资料线的波形信号。

Description

量测信号电路及其量测方法 技术领域
本申请涉及显示领域，特别是涉及一种量测信号电路及其量测方法。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)是利用液晶材料的特性来显示图像的一种平板显示装置，其相较于其他显示装置而言具有轻薄、低驱动电压及低功耗等优点。
且液晶显示设备中通常具有栅极驱动电路、源极驱动电路和像素阵列。像素阵列中具有多个像素电路，每一个像素电路依据栅极驱动电路提供的扫描信号开启和关闭，并依据源极驱动电路提供的数据信号，显示数据画面。
而薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代信息科技、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD主要驱动原理，系统主板将红色/绿色/蓝色画素的压缩信号、控制信号及电源通过线材与印刷电路板上的连接器相连接，数据经过印刷电路板上的时序控制器(Timing Controller，TCON)芯片处理后，经印刷电路板，通过源级薄膜驱动芯片(Source-Chip on Film，S-COF)和栅极薄膜驱动芯片(Gate-Chip on Film，G-COF)与显示区连接，通过阵列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)对电压进行传输，从而使显示面板实现显示功能。
因为阵列基板上走线存在一定的电容和电阻，所以经过数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的传输后，信号会发生失真。产品的开发和后续解析过程中，常常需要量测经过阵列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)传输衰减后的电压信号，而实际的应用中，因为数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的末端位于玻璃的边缘，只能在进行玻璃裂片后才能量测，此方法需要较长的时间，而玻璃裂片后产品即被破坏，造成浪费，同时裂片会造成液晶挥发，人体吸入后对健康不利。
因此，本申请的主要目的在于提供一种量测信号电路及其量测方法，以更优化上述所提之问题。
发明内容
为了解决上述技术问题，本申请的目的在于，提供一种量测信号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试装置，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试装置，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述 第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；以及一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试装置，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；其中所述第一测试装置另一端电性耦接一第一频率输入信号；所述第二测试装置另一端电性耦接一第二频率输入信号。
本申请的目的及解决其技术问题还可以采用以下技术方案来实现的。
本申请的另一目的为一种量测信号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试装置，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试装置，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试装置，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；以及一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；其中所述第一测试装置另一端电性耦接一第一频率输入信号；所述第二测试装置另一端电性耦接一第二频率输入信号；所述第一测试装置及所述第二测试装置分别具有导体部分与绝缘体部分。
本申请的又一目的为一种量测信号电路的量测方法，包括：提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试装置，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试装置，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试装置，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一测试装置，所述第一电阻的另一端电性接地；提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第二测试装置，所述第二电阻的另一端电性接地；通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号；以及通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号；其中所述第一测试装置及所述第二 测试装置分别具有导体部分与绝缘体部分。
在本申请的一实施例中，其中所述第一开关和所述第三开关的控制端与所述第二开关的控制端为极性相反。
在本申请的一实施例中，其中所述第一开关和所述第三开关为N型场效晶体管。
在本申请的一实施例中，其中所述第二开关为P型场效晶体管。
在本申请的一实施例中，还包括一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点。
在本申请的一实施例中，还包括一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点。
在本申请的一实施例中，还包括一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一测试装置，所述第一电阻的另一端电性接地。
在本申请的一实施例中，还包括一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第二测试装置，所述第二电阻的另一端电性接地。
在本申请的一实施例中，所述量测方法，所述第一测试装置另一端电性耦接一第一频率输入信号；所述第二测试装置另一端电性耦接一第二频率输入信号。
在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号的步骤包括：利用激光镭射将所述第二测试装置的绝缘体部分进行熔解，因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启；借由所述第一电阻的接地，使所述第一开关关闭及所述第二开关开启；以及通过所述垫片量测所述扫描线的波形信号。
在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号的步骤包括：利用激光镭射将所述第一测试装置的绝缘体部分进行熔解，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第一开关开启及所述第二开关关闭；以及通过所述垫片量测所述资料线的波形信号。
本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤。
附图说明
图1为范例性的液晶显示器示意图。
图2为本申请一实施例的量测信号电路示意图。
图3a为本申请一实施例的量测信号电路中的测试装置结构上视图。
图3b为本申请一实施例的量测信号电路中的测试装置结构侧视图。
图4为本申请一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本申请不限于此。
在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中，为了理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是，当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接在所述另一组件上，或者也可以存在中间组件。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
为更进一步阐述本申请为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体的实施例，对依据本申请提出的一种量测信号电路及其量测方法，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
图1为范例性的液晶显示器示意图，请参考图1，一种范例性液晶显示器10，包括一彩色滤光片基板100、一阵列基板110、一栅极薄膜驱动芯片120、一源级薄膜驱动芯片130及一印刷电路板150；所述阵列基板110上设置有复数条扫描线122及复数条资料线132；所述扫描线122电性耦接所述栅极薄膜驱动芯片120；所述资料线132电性耦接所述源级薄膜驱动芯片130。
图2为本申请一实施例的量测信号电路示意图、图3a为本申请一实施例的量测信号电路中的测试装置结构上视图及图3b为本申请一实施例的量测信号电路中的测试装置结构侧视图，请参考图2，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一测试装置240，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第 二节点P2(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一测试装置240，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第三节点P3(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第二节点P2(n)；以及一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第二测试装置250，所述第三开关T30的一第一端301a电性耦接所述第二节点P2(n)，所述第三开关T30的一第二端301b电性耦接一垫片230；其中所述第一测试装置240另一端电性耦接一第一频率输入信号VDD1；所述第二测试装置250另一端电性耦接一第二频率输入信号VDD2。
在本申请的一实施例中，还包括一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第二测试装置250，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第一节点P1(n)。
在本申请的一实施例中，还包括一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第二测试装置250，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第三节点P3(n)。
在本申请的一实施例中，还包括一第一电阻210，所述第一电阻210的一端电性耦接所述第一测试装置240，所述第一电阻210的另一端电性接地。
在本申请的一实施例中，还包括一第二电阻220，所述第二电阻220的一端电性耦接所述第二测试装置250，所述第二电阻220的另一端电性接地。
请参考图2、图3a及图3b，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一测试装置240，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第二节点P2(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一测试装置240，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第三节点P3(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第二节点P2(n)；一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第二测试装置250，所述第三开关T30的一第一端301a电性耦接所述第二节点P2(n)，所述第三开关T30的一第二端301b电性耦接一垫片230；一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第二测试装置250，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第一节点P1(n)；以及一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第二测试装置250，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第三节点P3(n)；其中所述第一测试装置240另一端电性耦接一第一频率输入信号VDD1；所述第二测试装置250另一端电性耦接一第二 频率输入信号VDD2；所述第一测试装置240及所述第二测试装置250分别具有导体部分310、312与绝缘体部分314。
在本申请的一实施例中，第一开关T10、第三开关T30、第四开关T40及第五开关T50为N型场效晶体管，当其栅极控制信号为高电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启，当其栅极控制信号为低电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50关闭。
在本申请的一实施例中，第二开关T20为P型场效晶体管，当其栅极控制信号为低电位时，所述第二开关T20开启，当其栅极控制信号为高电位时，所述第二开关T20关闭。
图4为本申请一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。请参考图2、图3a、图3b及图4，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20的量测方法，包括：提供一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一测试装置240，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第二节点P2(n)；提供一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一测试装置240，所述第二开关T20的一第一端201a电性耦接一第三节点P3(n)，所述第二开关T20的一第二端201b电性耦接所述第二节点P2(n)；提供一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第二测试装置250，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第二节点P2(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；提供一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第二测试装置250，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第一节点P1(n)；提供一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第二测试装置250，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第三节点P3(n)；提供一第一电阻210，所述第一电阻210的一端电性耦接所述第一测试装置240，所述第一电阻210的另一端电性接地；提供一第二电阻220，所述第二电阻220的一端电性耦接所述第二测试装置250，所述第二电阻220的另一端电性接地；通过所述垫片230与一扫描线S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号；以及通过所述垫片230与一资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号；其中所述第一测试装置240及所述第二测试装置250分别具有导体部分310、312与绝缘体部分314。
请参考图2、图3a及图3b，在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片230与一扫描线S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号的步骤包括：利用激光镭射将所述第二测试装置250的绝缘体部分314进行熔解，因而使所述第三开关T30、所述第四开关T40 及所述第五开关T50的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启；借由所述第一电阻210的接地，使所述第一开关T10关闭及所述第二开关T20开启；以及通过所述垫片230量测所述扫描线S1的波形信号。
请参考图2、图3a及图3b，在本申请的一实施例中，所述量测方法，通过所述垫片230与一资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号的步骤包括：利用激光镭射将所述第一测试装置240的绝缘体部分314进行熔解，因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第一开关T10开启及所述第二开关T20关闭；以及通过所述垫片230量测所述资料线D1的波形信号。
请参考图4，在流程S411中，提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试装置，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点。
请参考图4，在流程S412中，提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试装置，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点。
请参考图4，在流程S413中，提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试装置，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片。
请参考图4，在流程S414中，提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点。
请参考图4，在流程S415中，提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点。
请参考图4，在流程S416中，提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一测试装置，所述第一电阻的另一端电性接地。
请参考图4，在流程S417中，提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第二测试装置，所述第二电阻的另一端电性接地。
请参考图4，在流程S418中，通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号。
请参考图4，在流程S419中，通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤。
“在一些实施例中”及“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它也可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。
以上所述，仅是本申请的实施例，并非对本申请作任何形式上的限制，虽然本申请已以具体的实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。

Claims (18)

  1. 一种量测信号电路，包括：
    一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试装置，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；
    一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试装置，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；以及
    一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试装置，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    其中所述第一测试装置另一端电性耦接一第一频率输入信号；所述第二测试装置另一端电性耦接一第二频率输入信号。
  2. 如权利要求1所述的量测信号电路，其中所述第一开关和所述第三开关的控制端与所述第二开关的控制端为极性相反。
  3. 如权利要求2所述的量测信号电路，其中所述第一开关和所述第三开关为N型场效晶体管。
  4. 如权利要求3所述的量测信号电路，其中所述第二开关为P型场效晶体管。
  5. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点。
  6. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点。
  7. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一测试装置，所述第一电阻的另一端电性接地。
  8. 如权利要求1所述的量测信号电路，还包括一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第二测试装置，所述第二电阻的另一端电性接地。
  9. 一种量测信号电路，包括：
    一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试装置，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；
    一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试装置，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；
    一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试装置，所述第三开关的一第一端 电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；以及
    一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；
    其中所述第一测试装置另一端电性耦接一第一频率输入信号；所述第二测试装置另一端电性耦接一第二频率输入信号；所述第一测试装置及所述第二测试装置分别具有导体部分与绝缘体部分。
  10. 如权利要求9所述的量测信号电路，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的控制端与所述第二开关的控制端为极性相反。
  11. 如权利要求10所述的量测信号电路，其中所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关为N型场效晶体管。
  12. 如权利要求11所述的量测信号电路，其中所述第二开关为P型场效晶体管。
  13. 如权利要求9所述的量测信号电路，还包括一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一测试装置，所述第一电阻的另一端电性接地。
  14. 如权利要求9所述的量测信号电路，还包括一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第二测试装置，所述第二电阻的另一端电性接地。
  15. 一种量测信号电路的量测方法，包括：
    提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试装置，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；
    提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试装置，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；
    提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试装置，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；
    提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试装置，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；
    提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一测试装置，所述第一电阻的另一端电性接地；
    提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接所述第二测试装置，所述第二电阻的另一端 电性接地；
    通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号；以及
    通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号；
    其中所述第一测试装置及所述第二测试装置分别具有导体部分与绝缘体部分。
  16. 如权利要求15所述的量测信号电路的量测方法，所述第一测试装置另一端电性耦接一第一频率输入信号；所述第二测试装置另一端电性耦接一第二频率输入信号。
  17. 如权利要求15所述的量测信号电路的量测方法，通过所述垫片与一扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号的步骤包括：
    利用激光镭射将所述第二测试装置的绝缘体部分进行熔解，因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启；
    借由所述第一电阻的接地，使所述第一开关关闭及所述第二开关开启；以及
    通过所述垫片量测所述扫描线的波形信号。
  18. 如权利要求15所述的量测信号电路的量测方法，通过所述垫片与一资料线的连接，量测所述资料线的波形信号的步骤包括：
    利用激光镭射将所述第一测试装置的绝缘体部分进行熔解，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第一开关开启及所述第二开关关闭；以及通过所述垫片量测所述资料线的波形信号。
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