WO2020093598A1 - 量测信号电路及其量测方法 - Google Patents

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resistor
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黄笑宇
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惠科股份有限公司
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Definitions

  • the present application relates to the field of display, in particular to a measuring signal circuit and a measuring method.
  • Thin film transistor liquid crystal display (Thin Film Transistor Liquid Crystal, TFT-LCD) is one of the main varieties of flat panel displays, and has become an important display platform in modern information technology and video products.
  • the main driving principle of TFT-LCD the system motherboard connects the compressed signal, control signal and power of red / green / blue pixels to the connector on the printed circuit board through the wire, and the data passes through the timing controller (Timing) on the printed circuit board Controller, TCON) chip processing, through the printed circuit board, through the source film driver chip (Source-Chip on Film, S-COF) and gate film driver chip (Gate-Chip on Film, G-COF) and the display area Connection, the voltage is transmitted through the data line (Scan line) and the scan line (Scan line) on the array substrate, so that the display panel realizes the display function.
  • TFT-LCD Thin film transistor liquid crystal display
  • the signal will be distorted after transmission through the data line and the scan line.
  • the end of the scan line (Scan) are located at the edge of the glass, and can only be measured after the glass shards. This method takes a long time, and the product is destroyed after the glass shards, causing waste, and the slivers Liquid crystal is volatilized, which is harmful to health after inhalation.
  • the purpose of the present application is to provide a measurement signal circuit including: a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and a first terminal of the first switch is electrically A second node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node; a second switch, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first node , A first terminal of the second switch is electrically coupled to a fourth node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node; and a third switch, the third A control terminal of the switch is electrically coupled to a fifth node, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the third node, and a second terminal of the third switch is electrically coupled to a pad sheet.
  • a fourth switch is further included, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a In the data line, a second terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second node.
  • a fifth switch is further included, a control terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fifth switch is electrically coupled to a In the scan line, a second terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fourth node.
  • a trigger is further included, a first terminal of the trigger is electrically coupled to a first voltage signal, and a second terminal of the trigger is electrically coupled to a frequency input Signal, a third terminal of the flip-flop is electrically coupled to the first node.
  • it further includes a first resistor, one end of the first resistor is electrically coupled to the first node, and the other end of the first resistor is electrically grounded.
  • a second resistor is further included.
  • One end of the second resistor is electrically coupled to a second voltage signal, and the other end of the second resistor is electrically grounded.
  • Another object of the present application is a measurement signal circuit including: a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and a first terminal of the first switch is electrically A second node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node; a second switch, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first node , A first terminal of the second switch is electrically coupled to a fourth node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node; a third switch, the third switch A control terminal of is electrically coupled to a fifth node, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the third node, and a second terminal of the third switch is electrically coupled to a gasket A fourth switch, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a data line, and a fourth switch The second terminal is electrically coupled to the second node; a fifth
  • a trigger is further included, a first terminal of the trigger is electrically coupled to a first voltage signal, and a second terminal of the trigger is electrically coupled to a frequency input Signal, a third terminal of the flip-flop is electrically coupled to the first node.
  • the waveform signal of the scan line is measured through the connection of the spacer and the scan line.
  • the measurement of the waveform signal of the scanning line is performed by cutting off the other end of the second resistor electrically grounded by laser laser, then the other end of the second resistor
  • the fifth node is electrically coupled, so that the gate control signals of the third switch, the fourth switch, and the fifth switch are a high potential signal, so that the third switch, the The fourth switch and the fifth switch are turned on.
  • the measurement of the waveform signal of the scan line is grounded by the first resistor, so that the gate control signals of the first switch and the second switch It is a low-potential signal that turns off the first switch and turns on the second switch.
  • the measuring the waveform signal of the scanning line is measuring the waveform signal of the scanning line through the spacer.
  • the waveform signal of the data line is measured through the connection of the gasket and the data line.
  • the measurement of the waveform signal of the data line is to pass a signal to the trigger, so that the gate control signals of the first switch and the second switch are A high potential signal, thus turning on the first switch and turning off the second switch.
  • the measuring the waveform signal of the data line is to measure the waveform signal of the data line through the spacer.
  • Another object of the present application is a method for measuring a signal circuit, including: providing a first switch, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and the A first terminal is electrically coupled to a second node, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node; a second switch is provided, and a control terminal of the second switch is electrically coupled Connected to the first node, a first terminal of the second switch is electrically coupled to a fourth node, and a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node; providing a third A switch, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a fifth node, a first terminal of the third switch is electrically coupled to the third node, and a second terminal of the third switch A gasket is electrically coupled; a fourth switch is provided, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a data line , A second
  • This application provides a circuit and measurement method that can quickly measure the required signal without affecting the performance of the product, without adding additional equipment costs, and eliminating damage to the human body in the process of glass shards.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an exemplary liquid crystal display.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • FIG. 3 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an exemplary liquid crystal display. Please refer to FIG. 1.
  • An exemplary liquid crystal display 10 includes a color filter substrate 100, an array substrate 110, a gate film driving chip 120, and a source film driving.
  • the array substrate 110 is provided with a plurality of scanning lines 122 and a plurality of data lines 132;
  • the scanning lines 122 are electrically coupled to the gate thin film driving chip 120;
  • the data lines 132 is electrically coupled to the source thin film driving chip 130.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application.
  • a measurement signal circuit 20 includes: a first switch T10, the first switch A control terminal 101a of T10 is electrically coupled to a first node P1 (n), a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a second node P2 (n), the first switch T10 A second terminal 101c is electrically coupled to a third node P3 (n); a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first node P1 (n), A first terminal 201b of the second switch T20 is electrically coupled to a fourth node P4 (n), and a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the third node P3 (n) And a third switch T30, a control terminal 301a of the third switch T30 is electrically coupled to a fifth node P5 (n), and
  • a fourth switch T40 is further included, a control terminal 401a of the fourth switch T40 is electrically coupled to the fifth node P5 (n), and a The first terminal 401b is electrically coupled to a data line D1, and a second terminal 401c of the fourth switch T40 is electrically coupled to the second node P2 (n).
  • a fifth switch T50 is further included, a control terminal 501a of the fifth switch T50 is electrically coupled to the fifth node P5 (n), a The first terminal 501a is electrically coupled to a scan line S1, and a second terminal 501c of the fifth switch T50 is electrically coupled to the fourth node P4 (n).
  • it further includes a flip-flop 200, a first terminal 202 of the flip-flop 200 is electrically coupled to a first voltage signal VDD1, and a second terminal 204 of the flip-flop 200 is electrically A third input 206 of the flip-flop 200 is electrically coupled to the first node P1 (n).
  • a first resistor 210 is further included, one end of the first resistor 210 is electrically coupled to the first node P1 (n), and the other end of the first resistor 210 is electrically Ground.
  • a second resistor 220 is further included. One end of the second resistor 220 is electrically coupled to a second voltage signal VDD2, and the other end of the second resistor 220 is electrically grounded.
  • a measurement signal circuit 20 includes: a first switch T10, and a control terminal 101a of the first switch T10 is electrically coupled to a first node P1 (n), a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a second node P2 (n), a second terminal 101c of the first switch T10 is electrically coupled to a third node P3 (n); a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first node P1 (n), a first terminal 201b of the second switch T20 is electrically coupled Connected to a fourth node P4 (n), a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the third node P3 (n); a third switch T30, a third switch T30 The control terminal 301a is electrically coupled to a fifth node P5 (n), a first terminal 301b of the third switch T30 is electrically coupled to
  • the first switch T10, the third switch T30, the fourth switch T40, and the fifth switch T50 are N-MOS.
  • the gate control signal is high
  • the first switch T10 , The third switch T30, the fourth switch T40, and the fifth switch T50 are turned on
  • the gate control signal is low
  • the first switch T10, the third switch T30, the The fourth switch T40 and the fifth switch T50 are turned off.
  • the second switch T20 is a P-MOS.
  • the gate control signal is low, the second switch T20 is turned on.
  • the gate control signal is high, the second switch T20 The second switch T20 is turned off.
  • FIG. 3 is a flowchart of a measurement method of a measurement signal circuit according to an embodiment of the application. 2 and 3, in an embodiment of the present application, a measurement method of the measurement signal circuit 20 includes: providing a first switch T10, a control terminal 101a of the first switch T10 is electrically A first node P1 (n), a first terminal 101b of the first switch T10 is electrically coupled to a second node P2 (n), a second terminal 101c of the first switch T10 is electrically A third node P3 (n); provide a second switch T20, a control terminal 201a of the second switch T20 is electrically coupled to the first node P1 (n), the second switch T20 A first terminal 201b is electrically coupled to a fourth node P4 (n), a second terminal 201c of the second switch T20 is electrically coupled to the third node P3 (n); a third switch is provided T30, a control terminal 301a of the third switch T30 is electrically coupled to a fifth node
  • the measuring method is to measure the waveform signal of the scanning line S1 through the connection of the spacer 230 and the scanning line S1.
  • the other end of the second resistor 220 is electrically grounded by laser laser, the other end of the second resistor 220 is electrically coupled to the fifth node P5 (n), so that the third The gate control signal of the switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50 is a high potential signal, so the third switch T30, the fourth switch T40 and the fifth switch T50 are turned on ;
  • the gate control signal of the first switch T10 and the second switch T20 is a low potential signal, so that the first switch T10 is closed and the second The switch T20 is turned on; and the waveform signal of the scanning line S1 is measured through the pad 230.
  • the measuring method is to measure the waveform signal of the data line D1 through the connection of the gasket 230 and the data line D1 including: Pass a signal (for example, through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal) to the flip-flop 200, so that the gate control signals of the first switch T10 and the second switch T20 are one A high potential signal, so that the first switch T10 is turned on and the second switch T20 is turned off; and the waveform signal of the data line D1 is measured through the pad 230.
  • a signal for example, through a timing controller chip on the printed circuit board or an external signal
  • a first switch is provided, a control terminal of the first switch is electrically coupled to a first node, and a first terminal of the first switch is electrically coupled to a first Two nodes, a second terminal of the first switch is electrically coupled to a third node.
  • a second switch is provided, a control terminal of the second switch is electrically coupled to the first node, and a first terminal of the second switch is electrically coupled to a In a fourth node, a second terminal of the second switch is electrically coupled to the third node.
  • a third switch is provided, a control terminal of the third switch is electrically coupled to a fifth node, and a first terminal of the third switch is electrically coupled to the In the third node, a second terminal of the third switch is electrically coupled to a pad.
  • a fourth switch is provided, a control terminal of the fourth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fourth switch is electrically coupled to a In the data line, a second terminal of the fourth switch is electrically coupled to the second node.
  • a fifth switch is provided, a control terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fifth node, and a first terminal of the fifth switch is electrically coupled to a In the scan line, a second terminal of the fifth switch is electrically coupled to the fourth node.
  • a trigger is provided, a first terminal of the trigger is electrically coupled to a first voltage signal, and a second terminal of the trigger is electrically coupled to a frequency input Signal, a third terminal of the flip-flop is electrically coupled to the first node.
  • a first resistor is provided, one end of the first resistor is electrically coupled to the first node, and the other end of the first resistor is electrically grounded.
  • a second resistor is provided, one end of the second resistor is electrically coupled to a second voltage signal, and the other end of the second resistor is electrically grounded.
  • the waveform signal of the scan line is measured through the connection of the spacer to the scan line.
  • the waveform signal of the data line is measured through the connection of the gasket and the data line.
  • This application provides a circuit and measurement method that can quickly measure the required signal without affecting the performance of the product, without adding additional equipment costs, and eliminating damage to the human body during the process of glass shards. Therefore, it has industrial applicability.

Abstract

一种量测信号电路及其量测方法，所述量测信号电路，包括：一第一开关(T10)，所述第一开关(T10)的一控制端电性耦接一第一节点(P1(n))，所述第一开关(T10)的一第一端电性耦接一第二节点(P2(n))，所述第一开关(T10)的一第二端电性耦接一第三节点(P3(n))；一第二开关(T20)，所述第二开关(T20)的一控制端电性耦接所述第一节点(P1(n))，所述第二开关(T20)的一第一端电性耦接一第四节点(P4(n))，所述第二开关(T20)的一第二端电性耦接所述第三节点(P3(n))；以及一第三开关(T30)，所述第三开关(T30)的一控制端电性耦接一第五节点(P5(n))，所述第三开关(T30)的一第一端电性耦接所述第三节点(P3(n))，所述第三开关(T30)的一第二端电性耦接一垫片(230)。

Description

量测信号电路及其量测方法 技术领域
本申请涉及显示领域，特别是涉及一种量测信号电路及其量测方法。
背景技术
这里的陈述仅提供与本申请有关的背景信息，而不必然地构成现有技术。
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代信息科技、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD主要驱动原理，系统主板将红色/绿色/蓝色画素的压缩信号、控制信号及电源通过线材与印刷电路板上的连接器相连接，数据经过印刷电路板上的时序控制器(Timing Controller，TCON)芯片处理后，经印刷电路板，通过源级薄膜驱动芯片(Source-Chip on Film，S-COF)和栅极薄膜驱动芯片(Gate-Chip on Film，G-COF)与显示区连接，通过阵列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)对电压进行传输，从而使显示面板实现显示功能。
由于阵列基板上走线存在一定的电容和电阻，所以经过数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的传输后，信号会发生失真。产品的开发和后续解析过程中，常常需要量测经过阵列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)传输衰减后的电压信号，而实际的应用中，因为数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的末端位于玻璃的边缘，只能在进行玻璃裂片后才能量测，此方法需要较长的时间，而玻璃裂片后产品即被破坏，造成浪费，同时裂片会造成液晶挥发，人体吸入后对健康不利。
发明内容
本申请的目的在于，提供一种量测信号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；以及一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片。
在本申请的一实施例中，更包括一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点。
在本申请的一实施例中，更包括一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第 五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点。
在本申请的一实施例中，更包括一触发器，所述触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述触发器的一第二端电性耦接一频率输入信号，所述触发器的一第三端电性耦接所述第一节点。
在本申请的一实施例中，更包括一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地。
在本申请的一实施例中，更包括一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接一第二电压信号，所述第二电阻的另一端电性接地。
本申请的另一目的为一种量测信号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；以及一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接一第二电压信号，所述第二电阻的另一端电性接地；其中所述第二电阻的另一端电性若没接地时则电性耦接所述第五节点。
在本申请的一实施例中，更包括一触发器，所述触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述触发器的一第二端电性耦接一频率输入信号，所述触发器的一第三端电性耦接所述第一节点。
在本申请的一实施例中，通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号。
在本申请的一实施例中，所述量测所述扫描线的波形信号，是利用激光镭射将所述第二电阻的另一端电性接地端进行切断，则所述第二电阻的另一端电性耦接所述第五节点，因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启。
在本申请的一实施例中，所述量测所述扫描线的波形信号，是借由所述第一电阻的接地，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一低电位信号，使所述第一开关关闭及所述第二开关开启。
在本申请的一实施例中，所述量测所述扫描线的波形信号，是通过所述垫片量测所述扫描线的波形信号。
在本申请的一实施例中，通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
在本申请的一实施例中，所述量测所述资料线的波形信号，是传递一信号给所述触发器，因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第一开关开启及所述第二开关关闭。
在本申请的一实施例中，所述量测所述资料线的波形信号，是通过所述垫片量测所述资料线的波形信号。
本申请的又一目的为一种量测信号电路的量测方法，包括：提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；提供一触发器，所述触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述触发器的一第二端电性耦接一频率输入信号，所述触发器的一第三端电性耦接所述第一节点；提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接一第二电压信号，所述第二电阻的另一端电性接地；通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号；以及通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号；其中所述第二电阻的另一端电性若没接地时则电性耦接所述第五节点。
本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤。
附图说明
图1为范例性的液晶显示器示意图。
图2为本申请一实施例的量测信号电路示意图。
图3为本申请一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本申请不限于此。
在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中，为了理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是，当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接在所述另一组件上，或者也可以存在中间组件。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
为更进一步阐述本申请为达成预定申请目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体的实施例，对依据本申请提出的一种量测信号电路及其量测方法，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
图1为范例性的液晶显示器示意图，请参考图1，一种范例性液晶显示器10，包括一彩色滤光片基板100、一阵列基板110、一栅极薄膜驱动芯片120、一源级薄膜驱动芯片130及一印刷电路板150；所述阵列基板110上设置有数条扫描线122及数条资料线132；所述扫描线122电性耦接所述栅极薄膜驱动芯片120；所述资料线132电性耦接所述源级薄膜驱动芯片130。
图2为本申请一实施例的量测信号电路示意图,请参考图2，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第二节点P2(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第三节点P3(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20 的一控制端201a电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第四节点P4(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第三节点P3(n)；以及一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第五节点P5(n)，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第三节点P3(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230。
在本申请的一实施例中，更包括一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第二节点P2(n)。
在本申请的一实施例中，更包括一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第五开关T50的一第一端501a电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第四节点P4(n)。
在本申请的一实施例中，更包括一触发器200，所述触发器200的一第一端202电性耦接一第一电压信号VDD1，所述触发器200的一第二端204电性耦接一频率输入信号A，所述触发器200的一第三端206电性耦接所述第一节点P1(n)。
在本申请的一实施例中，更包括一第一电阻210，所述第一电阻210的一端电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第一电阻210的另一端电性接地。
在本申请的一实施例中，更包括一第二电阻220，所述第二电阻220的一端电性耦接一第二电压信号VDD2，所述第二电阻220的另一端电性接地。
请参考图2，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第二节点P2(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第三节点P3(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第四节点P4(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第三节点P3(n)；一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第五节点P5(n)，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第三节点P3(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第二节点P2(n)；一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第五开关T50的一第一端501a电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第四节点P4(n)；一第一电阻210，所述第一电阻210的一端电性耦接所述第一 节点P1(n)，所述第一电阻210的另一端电性接地；以及一第二电阻220，所述第二电阻220的一端电性耦接一第二电压信号VDD2，所述第二电阻220的另一端电性接地；其中所述第二电阻220的另一端电性若没接地时则电性耦接所述第五节点P5(n)。
在本申请的一实施例中，第一开关T10、第三开关T30、第四开关T40及第五开关T50为N-MOS，当其栅极控制信号为高电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启，当其栅极控制信号为低电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50关闭。
在本申请的一实施例中，第二开关T20为P-MOS，当其栅极控制信号为低电位时，所述第二开关T20开启，当其栅极控制信号为高电位时，所述第二开关T20关闭。
图3为本申请一实施例的量测信号电路的量测方法流程图。请参考图2及图3，在本申请的一实施例中，一种量测信号电路20的量测方法，包括：提供一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第二节点P2(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第三节点P3(n)；提供一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第四节点P4(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第三节点P3(n)；提供一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第五节点P5(n)，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第三节点P3(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；提供一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第二节点P2(n)；提供一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第五节点P5(n)，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第四节点P4(n)；提供一触发器200，所述触发器200的一第一端202电性耦接一第一电压信号VDD1，所述触发器200的一第二端204电性耦接一频率输入信号A，所述触发器200的一第三端206电性耦接所述第一节点P1(n)；提供一第一电阻210，所述第一电阻210的一端电性耦接所述第一节点P1(n)，所述第一电阻210的另一端电性接地；提供一第二电阻220，所述第二电阻220的一端电性耦接一第二电压信号VDD2，所述第二电阻220的另一端电性接地；通过所述垫片230与所述扫描线S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号；以及通过所述垫片230与所述资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号；其中所述第二电阻220的另一端电性若没接地时则电性耦接所述第五节点P5(n)。
请参考图2,在本申请的一实施例中，所述量测方法，是通过所述垫片230与所述扫描线 S1的连接，量测所述扫描线S1的波形信号的步骤包括：利用激光镭射将所述第二电阻220的另一端电性接地端进行切断，则所述第二电阻220的另一端电性耦接所述第五节点P5(n)，因而使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启；通过所述第一电阻210的接地，因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制信号为一低电位信号，使所述第一开关T10关闭及所述第二开关T20开启；以及通过所述垫片230量测所述扫描线S1的波形信号。
请参考图2，在本申请的一实施例中，所述量测方法，是通过所述垫片230与所述资料线D1的连接，量测所述资料线D1的波形信号的步骤包括：传递一信号(举例：通过印刷电路板上的时序控制器芯片或者外灌信号)给所述触发器200，因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第一开关T10开启及所述第二开关T20关闭；以及通过所述垫片230量测所述资料线D1的波形信号。
请参考图3，在流程S311中，提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点。
请参考图3，在流程S312中，提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点。
请参考图3，在流程S313中，提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片。
请参考图3，在流程S314中，提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点。
请参考图3，在流程S315中，提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点。
请参考图3，在流程S316中，提供一触发器，所述触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述触发器的一第二端电性耦接一频率输入信号，所述触发器的一第三端电性耦接所述第一节点。
请参考图3，在流程S317中，提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第 一节点，所述第一电阻的另一端电性接地。
请参考图3，在流程S318中，提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接一第二电压信号，所述第二电阻的另一端电性接地。
请参考图3，在流程S319中，通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号。
请参考图3，在流程S320中，通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
请参考图3，在流程S321中，所述第二电阻的另一端电性若没接地时则电性耦接所述第五节点。
本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤，因此，具有工业实用性。
“在一些实施例中”及“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它也可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。
以上所述，仅是本申请的实施例，并非对本申请作任何形式上的限制，虽然本申请已以具体的实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。

Claims (18)

  1. 一种量测信号电路，其中，包括：
    一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；
    一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；以及
    一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片。
  2. 如权利要求1所述的量测信号电路，其中，更包括一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点。
  3. 如权利要求1所述的量测信号电路，其中，更包括一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点。
  4. 如权利要求1所述的量测信号电路，其中，更包括一触发器，所述触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述触发器的一第二端电性耦接一频率输入信号，所述触发器的一第三端电性耦接所述第一节点。
  5. 如权利要求1所述的量测信号电路，其中，更包括一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地。
  6. 如权利要求1所述的量测信号电路，其中，更包括一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接一第二电压信号，所述第二电阻的另一端电性接地。
  7. 一种量测信号电路，其中，包括：
    一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；
    一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；
    一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；
    一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一 端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；
    一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；以及
    一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接一第二电压信号，所述第二电阻的另一端电性接地；其中所述第二电阻的另一端电性若没接地时则电性耦接所述第五节点。
  8. 如权利要求7所述的量测信号电路，其中，更包括一触发器，所述触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述触发器的一第二端电性耦接一频率输入信号，所述触发器的一第三端电性耦接所述第一节点。
  9. 如权利要求7所述的量测信号电路，其中，通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号。
  10. 如权利要求9所述的量测信号电路，其中，所述量测所述扫描线的波形信号，是利用激光镭射将所述第二电阻的另一端电性接地端进行切断，则所述第二电阻的另一端电性耦接所述第五节点,因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制信号为一高电位信号,因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启。
  11. 如权利要求9所述的量测信号电路，其中，所述量测所述扫描线的波形信号，是通过所述第一电阻的接地,因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一低电位信号,使所述第一开关关闭及所述第二开关开启。
  12. 如权利要求9所述的量测信号电路，其中，所述量测所述扫描线的波形信号，是通过所述垫片量测所述扫描线的波形信号。
  13. 如权利要求7所述的量测信号电路，其中，通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号。
  14. 如权利要求8所述的量测信号电路，其中，量测所述资料线的波形信号，是传递一信号给所述触发器,因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一高电位信号，因此使所述第一开关开启及所述第二开关关闭。
  15. 如权利要求13所述的量测信号电路，其中，所述量测所述资料线的波形信号，是通过所述垫片量测所述资料线的波形信号。
  16. 一种量测信号电路的量测方法，其中，包括：
    提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第一端电性耦接一第二节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第三节点；
    提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一节点，所述第二开关的一第一端电性耦接一第四节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第三节点；
    提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第五节点，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第三节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；
    提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第二节点；
    提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第五节点，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第四节点；
    提供一触发器，所述触发器的一第一端电性耦接一第一电压信号，所述触发器的一第二端电性耦接一频率输入信号，所述触发器的一第三端电性耦接所述第一节点；
    提供一第一电阻，所述第一电阻的一端电性耦接所述第一节点，所述第一电阻的另一端电性接地；
    提供一第二电阻，所述第二电阻的一端电性耦接一第二电压信号，所述第二电阻的另一端电性接地；
    通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号；以及
    通过所述垫片与所述资料线的连接，量测所述资料线的波形信号；
    其中，所述第二电阻的另一端电性若没接地时则电性耦接所述第五节点。
  17. 如权利要求16所述的量测信号电路的量测方法，其中，通过所述垫片与所述扫描线的连接，量测所述扫描线的波形信号的步骤包括：
    利用激光镭射将所述第二电阻的另一端电性接地端进行切断，则所述第二电阻的另一端电性耦接所述第五节点,因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制信号为一高电位信号,因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启；
    通过所述第一电阻的接地,因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一低电位信号,使所述第一开关关闭及所述第二开关开启；以及
    通过所述垫片量测所述扫描线的波形信号。
  18. 如权利要求16所述的量测信号电路的量测方法，其中，通过所述垫片与所述资料线的连接,量测所述资料线的波形信号的步骤包括：
    传递一信号给所述触发器,因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制信号为一高电位信号,因此使所述第一开关开启及所述第二开关关闭；以及
    通过所述垫片量测所述资料线的波形信号。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10977972B2 (en) 2018-11-09 2021-04-13 HKC Corporation Limited Signal measurement circuit and measurement method therefor
CN109360519B (zh) * 2018-11-09 2020-08-11 惠科股份有限公司 量测讯号电路及其量测方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101958093A (zh) * 2009-07-17 2011-01-26 友达光电(厦门)有限公司 显示面板测试装置及测试方法
CN101963629A (zh) * 2009-07-24 2011-02-02 瑞萨电子(中国)有限公司 一种电流检测装置及方法
CN103345914A (zh) * 2013-07-19 2013-10-09 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于显示面板的检测电路
US9257068B2 (en) * 2012-12-14 2016-02-09 Samsung Display Co., Ltd. Organic light emitting display device including a redundant element for a test gate line
US20160071446A1 (en) * 2014-09-05 2016-03-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Matrix device, measurement method of characteristics thereof, and driving method thereof

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007333823A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Sony Corp 液晶表示装置および液晶表示装置の検査方法
KR20080070918A (ko) * 2007-01-29 2008-08-01 삼성전자주식회사 표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법
CN101877582A (zh) * 2010-06-22 2010-11-03 海洋王照明科技股份有限公司 单键开关控制电路
CN102636928B (zh) * 2012-04-16 2015-04-15 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法
CN102692774A (zh) * 2012-05-23 2012-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板
CN104992651B (zh) * 2015-07-24 2018-09-07 上海和辉光电有限公司 一种amoled面板测试电路
CN105929575A (zh) * 2016-07-13 2016-09-07 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法
CN108109566A (zh) * 2017-12-26 2018-06-01 深圳市华星光电技术有限公司 一种检测电路及显示面板
CN108648671B (zh) * 2018-04-28 2020-03-31 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 检测信号选择电路及选择方法、阵列基板、显示面板

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101958093A (zh) * 2009-07-17 2011-01-26 友达光电(厦门)有限公司 显示面板测试装置及测试方法
CN101963629A (zh) * 2009-07-24 2011-02-02 瑞萨电子(中国)有限公司 一种电流检测装置及方法
US9257068B2 (en) * 2012-12-14 2016-02-09 Samsung Display Co., Ltd. Organic light emitting display device including a redundant element for a test gate line
CN103345914A (zh) * 2013-07-19 2013-10-09 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于显示面板的检测电路
US20160071446A1 (en) * 2014-09-05 2016-03-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Matrix device, measurement method of characteristics thereof, and driving method thereof

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