CN109243348A - 量测讯号电路及其量测方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种量测讯号电路及其量测方法，所述量测讯号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；以及一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；其中所述第一测试单元另一端电性接收一第一频率输入讯号；所述第二测试单元另一端电性接收一第二频率输入讯号。

Description

量测讯号电路及其量测方法

技术领域

本申请涉及显示领域，特别是涉及一种量测讯号电路及其量测方法。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)是利用液晶材料的特性来显示图像的一种平板显示装置，其相较于其他显示装置而言具有轻薄、低驱动电压及低功耗等优点。

且液晶显示设备中通常具有栅极驱动电路、源极驱动电路和像素阵列。像素阵列中具有多个像素电路，每一个像素电路依据栅极驱动电路提供的扫描讯号开启和关闭，并依据源极驱动电路提供的数据讯号，显示数据画面。

而薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代信息科技、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD主要驱动原理，系统主板将红色/绿色/蓝色画素的压缩信号、控制信号及电源通过线材与印刷电路板上的连接器相连接，数据经过印刷电路板上的时序控制器(Timing Controller，TCON)芯片处理后，经印刷电路板板，通过源级薄膜驱动芯片(Source-Chip on Film，S-COF)和栅极薄膜驱动芯片(Gate-Chip on Film，G-COF)与显示区连接，通过陣列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)对电压进行传输，从而使显示面板实现显示功能。

因为陣列基板上走线存在一定的电容和电阻，所以经过数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的传输后，信号会发生失真。产品的开发和后续解析过程中，常常需要量测经过陣列基板上的数据线(Data line)和扫描线(Scan line)传输衰减后的电压信号，而实际的应用中，因为数据线(Data line)和扫描线(Scan line)的末端位于玻璃的边缘，只能在进行玻璃裂片后才能量测，此方法需要较长的时间，而玻璃裂片后产品即被破坏，造成浪费，同时裂片会造成液晶挥发，人体吸入后对健康不利。

因此，本申请的主要目的在于提供一种量测讯号电路及其量测方法，以更优化上述所提之问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请的目的在于，提供一种量测讯号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；以及一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；其中所述第一测试单元另一端电性接收一第一频率输入讯号；所述第二测试单元另一端电性接收一第二频率输入讯号。

本申请的另一目的为一种量测讯号电路，包括：一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；以及一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；其中所述第一测试单元另一端电性接收一第一频率输入讯号；所述第二测试单元另一端电性接收一第二频率输入讯号；所述第一测试单元及所述第二测试单元分别具有导体部分与绝缘体部分。

本申请的又一目的为一种量测讯号电路的量测方法，包括：提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；提供一第一电阻单元,所述第一电阻单元的一端电性耦接所述第一测试单元,所述第一电阻单元的另一端电性接地；提供一第二电阻单元,所述第二电阻单元的一端电性耦接所述第二测试单元,所述第二电阻单元的另一端电性接地；透过所述垫片与一扫描线的连接,量测所述扫描线的波形讯号；以及透过所述垫片与一资料线的连接,量测所述资料线的波形讯号；其中所述第一测试单元及所述第二测试单元分别具有导体部分与绝缘体部分。

本申请的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。

在本申请的一实施例中，更包括一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点。

在本申请的一实施例中，更包括一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点。

在本申请的一实施例中，更包括一第一电阻单元,所述第一电阻单元的一端电性耦接所述第一测试单元,所述第一电阻单元的另一端电性接地。

在本申请的一实施例中，更包括一第二电阻单元,所述第二电阻单元的一端电性耦接所述第二测试单元,所述第二电阻单元的另一端电性接地。

在本申请的一实施例中，所述量测方法，所述第一测试单元另一端电性接收一第一频率输入讯号；所述第二测试单元另一端电性接收一第二频率输入讯号。

在本申请的一实施例中，所述量测方法，透过所述垫片与一扫描线的连接,量测所述扫描线的波形讯号的步骤包括：利用激光镭射将所述第二测试单元的绝缘体部分进行熔解,因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制讯号为一高电位讯号,因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启；藉由所述第一电阻单元的接地,使所述第一开关关闭及所述第二开关开启；以及通过所述垫片量测所述扫描线的波形讯号。

在本申请的一实施例中，所述量测方法，透过所述垫片与一资料线的连接,量测所述资料线的波形讯号的步骤包括：利用激光镭射将所述第一测试单元的绝缘体部分进行熔解,因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制讯号为一高电位讯号,因此使所述第一开关开启及所述第二开关关闭；以及通过所述垫片量测所述资料线的波形讯号。

本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤。

附图说明

图1为范例性的液晶显示器示意图。

图2为本申请一实施例的量测讯号电路示意图。

图3a为本申请一实施例的量测讯号电路中的测试单元结构上视图。

图3b为本申请一实施例的量测讯号电路中的测试单元结构侧视图。

图4为本申请一实施例的量测讯号电路的量测方法流程图。

具体实施方式

以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。

附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本申请不限于此。

在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中，为了理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是，当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接在所述另一组件上，或者也可以存在中间组件。

另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。

在说明书及权利要求书中当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域一般技术人员应可理解，电子设备制造商可能会用不同的名词来称呼同一组件。本说明书及权利要求书中并不以名称的差异来作为区别组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区别的基准。在通篇说明书及权利要求书中当中所提及的『包括』是开放式的用语，故应解释成『包括但不限定于』。此外，『耦接』一词在此是包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述第一装置电性连接于第二装置，则代表该第一装置可直接连接于该第二装置，或通过其他装置或连接手段间接地连接至该第二装置。

为更进一步阐述本申请为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体的实施例，对依据本申请提出的一种量测讯号电路及其量测方法，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

图1为范例性的液晶显示器示意图，请参考图1，一种范例性液晶显示器10，包括一彩色滤光片基板100、一阵列基板110、一栅极薄膜驱动芯片120、一源级薄膜驱动芯片130及一印刷电路板150；所述阵列基板110上设置有复数条扫描线122及复数条资料线132；所述扫描线122电性耦接所述栅极薄膜驱动芯片120；所述资料线132电性耦接所述源级薄膜驱动芯片130。

图2为本申请一实施例的量测讯号电路示意图、图3a为本申请一实施例的量测讯号电路中的测试单元结构上视图及图3b为本申请一实施例的量测讯号电路中的测试单元结构侧视图,请参考图2，在本申请的一实施例中，一种量测讯号电路20，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一测试单元240，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第二节点P2(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一测试单元240，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第三节点P3(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第二节点P2(n)；以及一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第二测试单元250，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第二节点P2(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；其中所述第一测试单元240另一端电性接收一第一频率输入讯号VDD1；所述第二测试单元250另一端电性接收一第二频率输入讯号VDD2。

在本申请的一实施例中，更包括一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第二测试单元250，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第一节点P1(n)。

在本申请的一实施例中，更包括一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第二测试单元250，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第三节点P3(n)。

在本申请的一实施例中，更包括一第一电阻单元210,所述第一电阻单元210的一端电性耦接所述第一测试单元240,所述第一电阻单元210的另一端电性接地。

在本申请的一实施例中，更包括一第二电阻单元220,所述第二电阻单元220的一端电性耦接所述第二测试单元250,所述第二电阻单元220的另一端电性接地。

请参考图2、图3a及图3b，在本申请的一实施例中，一种量测讯号电路20，包括：一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一测试单元240，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第二节点P2(n)；一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一测试单元240，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第三节点P3(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第二节点P2(n)；一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第二测试单元250，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第二节点P2(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第二测试单元250，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第一节点P1(n)；以及一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第二测试单元250，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第三节点P3(n)；其中所述第一测试单元240另一端电性接收一第一频率输入讯号VDD1；所述第二测试单元250另一端电性接收一第二频率输入讯号VDD2；所述第一测试单元240及所述第二测试单元250分别具有导体部分310、312与绝缘体部分314。

在本申请的一实施例中，第一开关T10、第三开关T30、第四开关T40及第五开关T50为N-MOS，当其栅极控制讯号为高电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启，当其栅极控制讯号为低电位时，所述第一开关T10、所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50关闭。

在本申请的一实施例中，第二开关T20为P-MOS，当其栅极控制讯号为低电位时，所述第二开关T20开启，当其栅极控制讯号为高电位时，所述第二开关T20关闭。

图4为本申请一实施例的量测讯号电路的量测方法流程图。请参考图2、图3a、图3b及图4，在本申请的一实施例中，一种量测讯号电路20的量测方法，包括：提供一第一开关T10，所述第一开关T10的一控制端101a电性耦接一第一测试单元240，所述第一开关T10的一第一端101b电性耦接一第一节点P1(n)，所述第一开关T10的一第二端101c电性耦接一第二节点P2(n)；提供一第二开关T20，所述第二开关T20的一控制端201a电性耦接所述第一测试单元240，所述第二开关T20的一第一端201b电性耦接一第三节点P3(n)，所述第二开关T20的一第二端201c电性耦接所述第二节点P2(n)；提供一第三开关T30，所述第三开关T30的一控制端301a电性耦接一第二测试单元250，所述第三开关T30的一第一端301b电性耦接所述第二节点P2(n)，所述第三开关T30的一第二端301c电性耦接一垫片230；提供一第四开关T40，所述第四开关T40的一控制端401a电性耦接所述第二测试单元250，所述第四开关T40的一第一端401b电性耦接一资料线D1，所述第四开关T40的一第二端401c电性耦接所述第一节点P1(n)；提供一第五开关T50，所述第五开关T50的一控制端501a电性耦接所述第二测试单元250，所述第五开关T50的一第一端501b电性耦接一扫描线S1，所述第五开关T50的一第二端501c电性耦接所述第三节点P3(n)；提供一第一电阻单元210,所述第一电阻单元210的一端电性耦接所述第一测试单元240,所述第一电阻单元210的另一端电性接地；提供一第二电阻单元220,所述第二电阻单元220的一端电性耦接所述第二测试单元250,所述第二电阻单元220的另一端电性接地；透过所述垫片230与一扫描线S1的连接,量测所述扫描线S1的波形讯号；以及透过所述垫片230与一资料线D1的连接,量测所述资料线D1的波形讯号；其中所述第一测试单元240及所述第二测试单元250分别具有导体部分310、312与绝缘体部分314。

请参考图2、图3a及图3b,在本申请的一实施例中，所述量测方法,透过所述垫片230与一扫描线S1的连接,量测所述扫描线S1的波形讯号的步骤包括：利用激光镭射将所述第二测试单元250的绝缘体部分314进行熔解,因而使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50的栅极控制讯号为一高电位讯号,因此使所述第三开关T30、所述第四开关T40及所述第五开关T50开启；藉由所述第一电阻单元210的接地,使所述第一开关T10关闭及所述第二开关T20开启；以及通过所述垫片230量测所述扫描线S1的波形讯号。

请参考图2、图3a及图3b,在本申请的一实施例中，所述量测方法,透过所述垫片230与一资料线D1的连接,量测所述资料线D1的波形讯号的步骤包括：利用激光镭射将所述第一测试单元240的绝缘体部分314进行熔解,因而使所述第一开关T10及所述第二开关T20的栅极控制讯号为一高电位讯号,因此使所述第一开关T10开启及所述第二开关T20关闭；以及通过所述垫片230量测所述资料线D1的波形讯号。

请参考图4，在流程S411中，提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点。

请参考图4，在流程S412中，提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点。

请参考图4，在流程S413中，提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片。

请参考图4，在流程S414中，提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点。

请参考图4，在流程S415中，提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元,所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点。

请参考图4，在流程S416中，提供一第一电阻单元,所述第一电阻单元的一端电性耦接所述第一测试单元,所述第一电阻单元的另一端电性接地。

请参考图4，在流程S417中，提供一第二电阻单元,所述第二电阻单元的一端电性耦接所述第二测试单元,所述第二电阻单元的另一端电性接地。

请参考图4，在流程S418中，透过所述垫片与一扫描线的连接,量测所述扫描线的波形讯号。

请参考图4，在流程S419中，透过所述垫片与一资料线的连接,量测所述资料线的波形讯号。

请参考图4，在流程S420中，所述第一测试单元及所述第二测试单元分别具有导体部分与绝缘体部分。

本申请提供一种不影响产品性能，同时能够在需要时快速的对所需信号进行量测的电路及量测方法，且不会增加额外的设备成本，消除玻璃裂片过程中对人体的损伤。

“在一些实施例中”及“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它也可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。

以上所述，仅是本申请的实施例，并非对本申请作任何形式上的限制，虽然本申请已以具体的实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种量测讯号电路，其特征在于，包括：

一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；

一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；以及

一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；

其中所述第一测试单元另一端电性接收一第一频率输入讯号；所述第二测试单元另一端电性接收一第二频率输入讯号。

2.如权利要求1所述的量测讯号电路，其特征在于，更包括一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点。

3.如权利要求1所述的量测讯号电路，其特征在于，更包括一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点。

4.如权利要求1所述的量测讯号电路，其特征在于，更包括一第一电阻单元,所述第一电阻单元的一端电性耦接所述第一测试单元,所述第一电阻单元的另一端电性接地。

5.如权利要求1所述的量测讯号电路，其特征在于，更包括一第二电阻单元,所述第二电阻单元的一端电性耦接所述第二测试单元,所述第二电阻单元的另一端电性接地。

6.一种量测讯号电路，其特征在于，包括：

一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；

一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；

一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；

一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；以及

一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；

其中所述第一测试单元另一端电性接收一第一频率输入讯号；所述第二测试单元另一端电性接收一第二频率输入讯号；所述第一测试单元及所述第二测试单元分别具有导体部分与绝缘体部分。

7.一种量测讯号电路的量测方法，其特征在于，包括：

提供一第一开关，所述第一开关的一控制端电性耦接一第一测试单元，所述第一开关的一第一端电性耦接一第一节点，所述第一开关的一第二端电性耦接一第二节点；

提供一第二开关，所述第二开关的一控制端电性耦接所述第一测试单元，所述第二开关的一第一端电性耦接一第三节点，所述第二开关的一第二端电性耦接所述第二节点；

提供一第三开关，所述第三开关的一控制端电性耦接一第二测试单元，所述第三开关的一第一端电性耦接所述第二节点，所述第三开关的一第二端电性耦接一垫片；

提供一第四开关，所述第四开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第四开关的一第一端电性耦接一资料线，所述第四开关的一第二端电性耦接所述第一节点；

提供一第五开关，所述第五开关的一控制端电性耦接所述第二测试单元，所述第五开关的一第一端电性耦接一扫描线，所述第五开关的一第二端电性耦接所述第三节点；

提供一第一电阻单元,所述第一电阻单元的一端电性耦接所述第一测试单元,所述第一电阻单元的另一端电性接地；

提供一第二电阻单元,所述第二电阻单元的一端电性耦接所述第二测试单元,所述第二电阻单元的另一端电性接地；

透过所述垫片与一扫描线的连接,量测所述扫描线的波形讯号；以及

透过所述垫片与一资料线的连接,量测所述资料线的波形讯号；

其中所述第一测试单元及所述第二测试单元分别具有导体部分与绝缘体部分。

8.如权利要求7所述的量测讯号电路的量测方法，其特征在于，所述第一测试单元另一端电性接收一第一频率输入讯号；所述第二测试单元另一端电性接收一第二频率输入讯号。

9.如权利要求7所述的量测讯号电路的量测方法，其特征在于，透过所述垫片与一扫描线的连接,量测所述扫描线的波形讯号的步骤包括：

利用激光镭射将所述第二测试单元的绝缘体部分进行熔解,因而使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关的栅极控制讯号为一高电位讯号,因此使所述第三开关、所述第四开关及所述第五开关开启；

藉由所述第一电阻单元的接地,使所述第一开关关闭及所述第二开关开启；以及

通过所述垫片量测所述扫描线的波形讯号。

10.如权利要求7所述的量测讯号电路的量测方法，其特征在于，透过所述垫片与一资料线的连接,量测所述资料线的波形讯号的步骤包括：

利用激光镭射将所述第一测试单元的绝缘体部分进行熔解,因而使所述第一开关及所述第二开关的栅极控制讯号为一高电位讯号,因此使所述第一开关开启及所述第二开关关闭；以及

通过所述垫片量测所述资料线的波形讯号。