CN109256073A - 一种显示面板检测结构及显示设备 - Google Patents

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    • G02F1/1309—Repairing; Testing

Abstract

本发明是有关于一种显示面板的检测结构及显示设备，所述显示面板包括印刷电路版和显示区，其特征在于，包括：激光区块；多条信号信道，设置于所述显示区，每一所述信号信道电性连接接地回路(GND)、正极性开关及二极管与垫片；以及光源信号总线，与所述信号信道成垂直状态；其中，所述多条信号信道是依序分别与所述光源信号总线的红光信号线、绿光讯号线、蓝光信号线的次序循环电性连接，通过所述印刷电路版供电，以进行所述显示区画面检测，当所述显示区画面检测完成后，通过激光于所述激光区块对所述多条信号信道进行雷射切断。

Description

一种显示面板检测结构及显示设备
技术领域
本发明涉及显示领域，尤其涉及一种显示面板的检测结构及显示设备。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)主要驱动原理，系统主板将红(R)、绿(G)、蓝(B)压缩信号、控制信号及动力通过线材与印刷电路板(Printed circuit board,PCB)上的电子连接器(connector)相连接，数据经过印刷电路板(Printed circuit board,PCB)上的驱动芯片(Timing ControllerIC,TCONIC)处理后，经印刷电路板(Printed circuit board,PCB)，通过源极晶粒软膜封装(Source-Chip onFilm,S-COF)和栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)与显示区连接，从而使得液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)获得所需的电源与信号。
现有设计中，栅极(Gate)侧扇出区块，为了在贴合印刷电路板(Printed circuitboard,PCB)和源极晶粒软膜封装(Source-Chip on Film,S-COF)及栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)之前即进行面板的画质检测，在栅极(Gate)侧设有红(R)、绿(G)、蓝(B)三条讯号总线，其中信道N(Channel N)与红(R)相连，通道N+1(Channel N+1)与绿(G)相连，通道N+2(Channel N+2)与蓝(B)相连，依次往复。垫片N(Pad N)、垫片N+1(Pad N+1)、垫片N+2(Pad N+2)为栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)实际贴合时对应的贴合垫片。当栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)未贴合时，可以通过红(R)、绿(G)、蓝(B)三条总线，外灌讯号至液晶面板，进行画面检测。当画面检测完成后，通过激光对外灌线路进行激光切断，以避免栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)贴合后，红(R)/绿(G)/蓝(B)总线对显示的影响。当产线发生异常，当栅极晶粒软膜封装(Gate-Chipon Film,G-COF)上的走线与激光区块边缘左侧的走线短路时，会导致栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)的走线与红(R)/绿(G)/蓝(B)总线短路，造成栅极(Gate)侧线不良。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供一个在仅有信号传输走线的传统设计基础上，增加额外的结构以实现静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)防护、选择性刷新等有益效果。
本发明的目的及解决其技术问题采用以下技术方案来实现的，依据本发明所提出一种显示面板的检测结构，包括印刷电路版和显示区，其特征在于，包括：激光区块；多条信号信道，设置于所述显示区，每一所述信号信道电性连接接地回路(GND)、正极性开关及二极管与垫片；以及光源(RGB)信号总线，与所述信号信道成垂直状态；其中，所述多条信号信道是依序分别与红光(R)信号线、绿光(G)讯号线、蓝光(B)信号线的次序循环电性连接，通过所述印刷电路版供电，以进行所述显示区画面检测，当所述显示区画面检测完成后，通过激光于所述激光区块对所述多条信号信道进行雷射切断。
在本发明的实施例中，所述接地回路(GND)电性连接大阻值电阻，以避免所述接地回路(GND)与栅极电压(VGH)产生大电流。
在本发明的实施例中，所述大阻值电阻(R)取值为≥100KΩ。
在本发明的实施例中，当所述栅极电压(VGH)为高(H)时，所述正极性开关开启。
在本发明的实施例中，当所述栅极电压(VGH)为低(L)时，所述正极性开关关闭。
在本发明的实施例中，所述栅极电压(VGH)由所述印刷电路版供电，当所述接地回路(GND)为0V时，所述栅极电压(VGH)为低(L)。
在本发明的实施例中，所述二极管为单向导电。
在本发明的实施例中，所述当激光区块被切割后，此时正极性开关的所述栅极电压(VGH)与接地回路(GND)为0，即为低(L)。
在本发明的实施例中，当激光区块被切割后，正极性开关关闭，而所述信号信道与所对应的所述断开。
本发明的目的及解决其技术问题更可采用以下技术措施进一步实现。依据本发明提出的一种显示设备，所述显示设备包括一显示面板，所述显示面板包含多个像素，用以显示影像，其特征在于，包括上述栅极侧检测结构。
透过本发明提出一个栅极侧检测结构设计，在栅极(Gate)侧扇出区块设置新增模块，以避免因栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)上线路与测试用的红(R)、绿(G)、蓝(B)总线短路，解决前述问题所造成的线路不良问题。
附图说明
图1是薄膜晶体管液晶显示器驱动架构示意图。
图2是现存的栅极侧检测结构设计示意图。
图3是本发明实施例提供的栅极侧检测电路示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本发明不限于此。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的实现静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)防护、选择性刷新其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
图1是薄膜晶体管液晶显示器驱动架构示意图。图1列出了本发明的基本思路,薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)主要驱动原理，系统主板将红(R)、绿(G)、蓝(B)压缩信号、控制信号及动力通过线材与印刷电路板(Printedcircuit board,PCB)110上的电子连接器(connector)相连接，数据经过印刷电路板(Printed circuit board,PCB)110上的驱动芯片(Timing Controller IC,TCON IC)120处理后，经印刷电路板(Printed circuit board,PCB)110的，通过源极晶粒软膜封装(Source-Chip on Film,S-COF)130和栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)140与显示区100连接，从而使得液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)获得所需的电源与信号。
请续同时参照图1及图2，图2是现存的栅极侧检测结构设计示意图。在图2中，栅极(Gate)侧扇出区块，为了在贴合印刷电路板(Printed circuit board,PCB)和源极晶粒软膜封装(Source-Chip on Film,S-COF)及栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)之前即进行面板的画质检测，在栅极(Gate)侧设有红(R)、绿(G)、蓝(B)三条讯号总线，其中信道N(Channel N)150与红(R)相连，通道N+1(Channel N+1)150与绿(G)相连，通道N+2(Channel N+2)150与蓝(B)相连，依次往复。垫片N(Pad N)160、垫片N+1(Pad N+1)160、垫片N+2(Pad N+2)160为栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)实际贴合时对应的贴合垫片。当栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)未贴合时，可以通过红(R)、绿(G)、蓝(B)三条总线，外灌讯号至液晶面板，进行画面检测。当画面检测完成后，通过激光对外灌线路进行激光切断，以避免栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)贴合后，红(R)/绿(G)/蓝(B)总线对显示的影响。当产线发生异常，当栅极晶粒软膜封装(Gate-Chipon Film,G-COF)上的走线与激光区块170边缘左侧的走线短路时，会导致栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)的走线与红(R)/绿(G)/蓝(B)总线短路，造成栅极(Gate)侧线不良。
图3是本发明实施例提供的栅极侧检测电路示意图。在本发明所提出的栅极侧检测结构，包括印刷电路板(Printed circuit board,PCB)、显示区和设置于显示区侧的数个栅极(Gate)，其特征在于，包括：激光区块270；多条信号信道，设置于所述显示区的所述栅极(Gate)侧，每一所述信号信道电性连接接地回路(GND)、正极性开关及二极管(D)与垫片(Pad)；以及红(R)/绿(G)/蓝(B)信号总线，设置于所述栅极(Gate)侧与所述信号信道成垂直状态；其中，所述多条信号信道是依序分别与红(R)信号线、绿(G)讯号线、蓝(B)信号线的次序循环电性连接，通过所述印刷电路板(Printed circuit board,PCB)供电，以进行所述显示区画面检测，当所述显示区画面检测完成后，通过激光于所述激光区块270对所述多条信号信道进行雷射切断。
更进一步来说，在图3中，D为二极管，具有单向导电性。M1为正极性开关MOS以下称为正极性开关(MOS,M1)，当其栅极电压高(H)时，正极性开关(MOS,M1)开启，当其为栅极电压为低(L)时，正极性开关(MOS,M1)关闭；VGH为栅极电压，由印刷电路板(Printed circuitboard,PCB)进行供电；接地回路(GND)为0V，即为低(L)。电阻(R)为大阻值电阻，以避免栅极电压(VGH)与接地回路(GND)电源的负极之间产生大电流，通常的取值为≥100KΩ。
实际的应用过程中，当面板未贴合薄膜覆晶封装(COF)，需要测试时，图中的激光区块未进行激光切割，当正极性开关(MOS,M1)的栅极电压(VGH)为高(H)时，此时正极性开关(MOS,M1)为开启状态。此时信道N(Channel N)150的电压＝垫片N(Pad N)160的电压；信道N+1(Channel N+1)150的电压＝垫片N+1(Pad N+1)160的电压；信道N+2(Channel N+2)150的电压＝垫片N+2(Pad N+2)160的电压。且因为二极管(D)的单向导电性，可以避免测试时面板(cell)上的静电，会对测试机台造成损伤。
当画面检测完成后，通过激光对激光区块270的外灌线路进行激光切割，然后进行栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)的贴合制程。
当激光区块270被切割后，此时正极性开关(MOS,M1)的栅极电压为接地回路(GND)，即为低(L)，此时正极性开关(MOS,M1)关闭。此时通道N(Channel N)与垫片N(Pad N)断开。这样即使当产线发生异常，接地回路(GND)上的走线与激光区块270左侧边缘C1的走线短路时，也因为二极管(D)与正极性开关(MOS,M1)的阻隔作用，接地回路(GND)上的走线不会与红(R)/绿(G)/蓝(B)总线短路，避免了栅极(Gate)侧线不良。
在本发明的实施例中，所述接地回路(GND)电性连接大阻值电阻，以避免所述接地回路(GND)与栅极电压(VGH)产生大电流。
在本发明的实施例中，所述大阻值电阻(R)取值为≥100KΩ。
在本发明的实施例中，当所述栅极电压(VGH)为高(H)时，所述正极性开关开启。
在本发明的实施例中，当所述栅极电压(VGH)为低(L)时，所述正极性开关关闭。
在本发明的实施例中，所述栅极电压(VGH)由所述印刷电路版供电，当所述接地回路(GND)为0V时，所述栅极电压(VGH)为低(L)。
在本发明的实施例中，所述二极管(D)为单向导电。
在本发明的实施例中，所述当激光区块被切割后，此时正极性开关的所述栅极电压(VGH)与接地回路(GND)为0，即为低(L)。
在本发明的实施例中，当激光区块被切割后，正极性开关关闭，而所述信号信道与所对应的所述断开。
通过图3的处理方式，具有下列的优点：
1.实际的应用过程中，当面板未贴合薄膜覆晶封装(COF)，需要测试时，图中的激光区块未进行激光切割，当正极性开关(MOS,M1)的栅极电压(VGH)为高(H)时，此时正极性开关(MOS,M1)为开启状态。此时信道N(Channel N)的电压＝信道N(Channel N)的电压；信道N+1(Channel N+1)的电压＝垫片N+1(Pad N+1)的电压；信道N+2(Channel N+2)的电压＝垫片N+2(Pad N+2)的电压。且因为二极管(D)的单向导电性，可以避免测试时面板(cell)上的静电，会对测试机台造成损伤。
2.当画面检测完成后，通过激光对激光区块的外灌线路进行激光切割，然后进行栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)的贴合制程。当激光位置被切割后，此时正极性开关(MOS,M1)的栅极电压为接地回路(GND)，即为低(L)，此时正极性开关(MOS,M1)关闭。此时通道N(Channel N)与垫片N(Pad N)断开。这样即使当产线发生异常，接地回路(GND)上的走线与激光C1边缘左侧的走线短路时，也因为二极管D与正极性开关(MOS,M1)的阻隔作用，接地回路(GND)上的走线不会与红(R)/绿(G)/蓝(B)总线短路，避免了栅极(Gate)侧线不良。
基于以上方法可以实现：在仅有信号传输走线的传统设计基础上，增加额外的结构以实现避免测试时面板上的静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)、对测试机台造成损伤，由能够避免因为栅极晶粒软膜封装(Gate-Chip on Film,G-COF)上的走线与红(R)/绿(G)/蓝(B)总线短造成的栅极(Gate)侧线不良等有益效果。
本发明实施例还提供一种显示设备，所述显示设备包括一显示面板，所述显示面板包含多个像素，用以显示影像，其特征在于，包括上述的图像处理结构。
综上所述，本发明提供一个显示器的视角补偿算法，可以优化显示器的视角特性。在液晶显示器越来越大的趋势下，用户在不同位置的观测角度有所不同，即使在某一个位置下，其相对于屏幕的视角，已经涵盖了不只一个角度。一般而言，利用视角补偿的算法技术，会针对某一个视角做颜色的补偿，其他角度的视角相对而言就有所误差，因此，本发明提出一个优化的视角补偿技术，可以补偿多角度的视角特性，不论显示器的尺寸大小为何，都可以藉由本发明取得最佳的可视角色度值。
“在本发明一实施例中”与“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它亦可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而幷非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测结构，所述显示面板包括印刷电路版和显示区，其特征在于，包括：
激光区块；
多条信号信道，设置于所述显示区，每一所述信号信道电性连接接地回路、正极性开关及二极管与垫片；以及
光源信号总线，与所述信号信道成垂直状态；
其中，所述多条信号信道是依序分别与所述光源信号总线的红光信号线、绿光讯号线、蓝光信号线的次序循环电性连接，通过所述印刷电路版供电，以进行所述显示区画面检测，当所述显示区画面检测完成后，通过激光于所述激光区块对所述多条信号信道进行雷射切断。
2.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，所述接地回路电性连接大阻值电阻，以避免所述接地回路与栅极电压产生大电流。
3.如权利要求2所述的检测结构，其特征在于，所述大阻值电阻取值为≥100KΩ。
4.如权利要求2所述的检测结构，其特征在于，当所述栅极电压为高时，所述正极性开关开启。
5.如权利要求2所述的检测结构，其特征在于，当所述栅极电压为低时，所述正极性开关关闭。
6.如权利要求5所述的检测结构，其特征在于，所述栅极电压由所述印刷电路版供电，当所述接地回路为0V时，所述栅极电压为低。
7.如权利要求6所述的检测结构，其特征在于，所述二极管为单向导电。
8.如权利要求1所述的检测结构，其特征在于，当激光区块被切割后，此时正极性开关的所述栅极电压与接地回路为0，即为低。
9.如权利要求8所述的检测结构，其特征在于，当激光区块被切割后，正极性开关关闭，而所述信号信道与所对应的所述断开。
10.一种显示设备，其特征在于，包括一检测结构，包括印刷电路版和显示区及设置于所述显示区的检测结构：
激光区块；
多条信号信道，设置于所述显示区，每一所述信号信道电性连接接地回路、正极性开关及二极管与垫片，所述接地回路电性连接大阻值电阻，以避免所述接地回路与栅极电压产生大电流；以及
光源信号总线，与所述信号信道成垂直状态；
其中，所述多条信号信道是依序分别与所述光源信号总线的红光信号线、绿光讯号线、蓝光信号线的次序循环电性连接，通过所述印刷电路版供电，以进行所述显示区画面检测，当所述显示区画面检测完成后，通过激光于所述激光区块对所述多条信号信道进行雷射切断。
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