CN109754736A - 检测电路及显示基板 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种检测电路和显示基板。所述检测电路包括触发单元和开关单元，所述触发单元的第一输入端与测试机台电连接，所述触发单元的第二输入端与所述触发单元的输出端电连接，所述触发单元的第三输入端接地，用于接收所述测试机台提供的测试信号，并根据所述测试信号以及所述触发单元第二输入端的电压信号生成开关控制信号。所述开关单元的第一输入端与所述触发单元的第二输入端以及所述触发单元的输出端电连接，所述开关单元的第二输入端与信号总线电连接，所述开关单元的输出端与显示区域电连接，用于接收所述开关控制信号，并根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。

Description

检测电路及显示基板

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测电路及显示基板。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)面板是当前平板显示的主要产品之一，已经成为了现代信息科技产业和视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD显示面板的主要驱动原理包括：系统主板将像素信号和控制信号等数据以及电源通过线材与印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)上的连接器相连接，数据经过PCB板上的逻辑板(Timing Controller，TCON)集成电路处理后，经PCB板、通过源级薄膜驱动芯片(Source-Chip on Film,S-COF)和栅极薄膜驱动芯片(Gate-Chip onFilm，G-COF)与显示区连接，从而使显示区获得所需的电源和数据，以实现图像显示。

为了保证产品质量，当G-COF未贴合时，可以通过R、G、B三条限号总线，外灌讯号至液晶面板，进行画面检测。当画面检测完成后，通过激光对外灌线路进行镭射切断，以避免G-COF贴合后R/G/B总线对显示产生不良影响。利用激光进行镭射切割时，切割线会经过金属，激光切割的原理是通过热融化将膜层切开，目前的显示器件，像素数目(PPI)要求越来越高，边框要求越来越窄，引线的线宽与线距越来越窄，所以在激光切割有引线的膜层时，底层膜层的融化和飞溅的金属碎屑很大几率上会使得邻近的引线搭接在一起，即在切割断面处造成短路。短路之后的面板通电之后会产生烧结，破坏面板内部的引线结构甚至破坏封装，并使得面板产生不良显示。

发明内容

本发明提供了一种检测电路和显示基板，以解决因进行镭射切割所导致不良显示的问题。

本发明提供了一种检测电路，包括：

触发单元，所述触发单元的第一输入端与测试机台电连接，所述触发单元的第二输入端与所述触发单元的输出端电连接，所述触发单元的第三输入端接地，用于接收所述测试机台提供的测试信号，并根据所述测试信号以及所述触发单元第二输入端的电压信号生成开关控制信号；以及

开关单元，所述开关单元的第一输入端与所述触发单元的第二输入端以及所述触发单元的输出端电连接，所述开关单元的第二输入端与信号总线电连接，所述开关单元的输出端与显示区域电连接，用于接收所述开关控制信号，并根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。

在其中一个实施例中，所述检测电路还包括比较单元，所述比较单元的输入端与所述测试机台电连接，所述比较单元的输出端与所述触发单元的第一输入端电连接，用于接收所述测试信号，并在所述测试信号的电压大于所述阈值电压时，通过所述比较单元的输出端输出所述测试信号。

在其中一个实施例中，所述比较单元包括第一二极管，所述第一二极管的负极与所述测试机台电连接，所述第一二极管的正极与所述触发单元的第一输入端电连接。

在其中一个实施例中，所述触发单元包括：

第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的正极电连接，所述第一电阻的第二端接地；

触发器，所述触发器的置位端与所述开关单元的第一输入端电连接，所述触发器的触发端与所述第一二极管的正极以及所述第一电阻的第一端电连接；

反相器，所述反相器的输入端与所述触发器的正向输出端与电连接，所述反相器输出端与所述开关单元的第一输入端以及所述触发器的置位端电连接；以及

第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述反相器的输出端、所述开关单元的第一输入端以及所述触发器的置位端电连接，所述电阻的第二端接地。

在其中一个实施例中，所述开关单元包括多个开关支路，所述开关支路设置在所述信号总线与所述显示区域的回路之间，用于控制所述信号总线与所述显示区域之间的通断。

在其中一个实施例中，所述开关支路包括：

开关管，所述开关管的栅极与所述触发器的置位端、所述反相器的输出端以及所述第二电阻的第一端电连接，所述开关管的漏极与所述信号总线电连接；以及

第二二极管，所述第二二极管的正极与所述开关管的源极电连接，所述第二开关管的负极与所述显示区域电连接。

在其中一个实施例中，所述开关管为三极管或场效应管。

在其中一个实施例中，所述触发单元包括：

第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的正极电连接，所述第一电阻的第二端接地；

触发器，所述触发器的置位端与所述开关单元的第一输入端以及所述触发器的反向输出端电连接，所述触发器的触发端与所述第一二极管的正极以及所述第一电阻的第一端电连接；以及

第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述触发器的反相输出端、所述触发器的置位端以及所述开关单元的第一输入端电连接，所述电阻的第二端接地

在其中一个实施例中，所述触发器为上升沿触发器。

基于同一发明构思，本发明实施了还提供了一种显示基板，所述显示基板包括上述任一实施例所述的检测电路。

综上，本发明实施例提供了一种检测电路和显示基板。所述检测电路包括触发单元和开关单元，所述触发单元的第一输入端与测试机台电连接，所述触发单元的第二输入端与所述触发单元的输出端电连接，所述触发单元的第三输入端接地，用于接收所述测试机台提供的测试信号，并根据所述测试信号以及所述触发单元第二输入端的电压信号生成开关控制信号。所述开关单元的第一输入端与所述触发单元的第二输入端以及所述触发单元的输出端电连接，所述开关单元的第二输入端与信号总线电连接，所述开关单元的输出端与显示区域电连接，用于接收所述开关控制信号，并根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。本发明中，通过所述触发单元根据所述测试信号以及所述触发单元第二输入端的电压信号生成开关控制信号，以使所述开关单元根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接，即使检测完成后显示区域的驱动信号不会倒灌到信号总线上，因此无需通过镭射激光切断信号总线与显示区域的连接，避免了因镭射切割可能造成的问题，提升了产品品质。

附图说明

图1为显示面板的电气结构示意图；

图2为现有设计中Gate侧扇出区域的检测电路的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种驱动电路的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的又一种驱动电路的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

如图1所示，TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD主要驱动原理，系统主板将R/G/B像素信号、控制信号及电源通过信号线与PCB板上的连接器相连接，经过PCB板上的TCON(Timing Controller，时序控制器)IC(Integrated Circuit，集成电路)处理后，经PCB板，通过S-COF(Source-Chip on Film，源极驱动芯片)和G-COF(Gate-Chip on Film栅极驱动芯片)与显示区连接，从而使得LCD获得所需的电源和信号。

现有设计中，Gate侧扇出区域的设计如图2所示。为了保证产品品质，在将PCB与S-COF以及G-COF贴合之前，需要对显示面板的进行画质检测。当前检测方案中，通过在Gate侧设有R、G、B三条信号总线，其中Channel N与R相连，Channel N+1与G相连，Channel N+2与B相连，依次往复。Pad N、Pad N+1、Pad N+2为G-COF实际贴合时对应的贴合Pad。当G-COF未贴合时，可以通过R、G、B三条信号总线，外灌讯号至显示面板，进行画面检测。当画面检测完成后，再通过激光将外灌线路进行镭射切断，以避免G-COF贴合后，R/G/B总线对显示的影响。但在切割断面处有可能造成相邻的两根引线短路，短路之后的显示面板通电之后会产生烧结，破坏面板内部的引线结构甚至破坏封装，并使得面板产生不良。

针对上述问题，本发明实施例提供了一种检测电路。请参见图3，所述检测电路包括触发单元100和开关单元200。

所述触发单元100的第一输入端与测试机台电连接，所述触发单元100的第二输入端与所述触发单元100的输出端电连接，所述触发单元100的第三输入端接地，用于接收所述测试机台提供的测试信号，并根据所述测试信号以及所述触发单元100第二输入端的电压信号生成开关控制信号。

所述开关单元200的第一输入端与所述触发单元100的第二输入端以及所述触发单元100的输出端电连接，所述开关单元200的第二输入端与信号总线电连接，所述开关单元200的输出端与显示区域电连接，用于接收所述开关控制信号，并根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。

可以理解，通过所述触发单元100根据所述测试信号以及所述触发单元100第二输入端的电压信号生成开关控制信号，以使所述开关单元200根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。当将PCB与S-COF以及G-COF贴合之后，通过S-COF以及G-COF将驱动信号提供给显示区域时，该驱动信号也不会倒灌到信号总线上。因此，通过本实施例提供的检测电路进行画面检测时，不需要再通过镭射激光切断信号总线与显示区域的连接，避免了因镭射切割可能造成的问题，提升了产品品质。

在其中一个实施例中，所述检测电路还包括比较单元300。请参见图4，所述比较单元300的输入端与所述测试机台电连接，所述比较单元300的输出端与所述触发单元100的第一输入端电连接，用于接收所述测试信号，并在所述测试信号的电压大于阈值电压时，通过所述比较单元300的输出端输出所述测试信号。

本实施例中，在画面检测阶段，所述测试机台将高电平的测试信号提供给所述比较单元300的输入端，一般来说所述测试信号的为所述阈值电压的1.2-2倍，因此当所述测试信号为高电平时，所述比较单元300输出所述测试信号给所述触发单元100，以使所述触发单元100根据所述测试信号触发，产生高电平的开关控制信号，以使所述开关单元200根据该阶段产生的高电平的开关控制信号导通，将信号总线上的讯号提供给显示区域。并且，在画面测试完成后，所述测试机台再次输出高电平的测试信号，所述触发单元100根据该高电平的测试信号产生低电平的控制信号，以使所述开关单元200根据该低电平的开关控制信号断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接，因此不需要再通过镭射切割断开信号总线与显示区域的连接，避免了因镭射切割可能造成的不良显示问题。

在其中一个实施例中，所述比较单元300包括第一二极管D1，所述第一二极管D1的负极与所述测试机台电连接，所述第一二极管D1的正极与所述触发单元100的第一输入端电连接。

可以理解，二极管具有单向导通功能，当二极管负极的电压小于或等于所述二极管的阈值电压时，该二极管截止。当二极管负极的电压大于所述二极管的阈值电压时，该二极管被反向击穿，由截止状态转为导通状态。本实施例中，所述阈值电压为所述第一二极管D1的被反向击穿电压的阈值电压，所述第一二极管D1为反向击穿可恢复的二极管。在检测画面阶段，所述第一二极管D1被机台提供的高电平的测试信号反向击穿，将所述高电平的测试信号提供给触发单元100，以使所述触发单元100根据所述高电平的测试信号以及触发单元100第二输入端的低电平信号生成高电平的开关控制信号，进而使得所述开关单元200根据所述高电平的开关控制信号导通，将信号总线上的讯号提供给显示区域，以进行画面检测。在测试完成后，所述机台再次提供所述测试信号，所述第一二极管D1再次所述测试信号反向击穿，所述触发单元100根据其第二输入端的高电平信号以及所述测试信号生成低电平的开关控制信号，以使所述开关单元200根据所述低电平的开关控制信号断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。

在其中一个实施例中，所述触发单元100包括第一电阻R、触发器D2、反相器D3和第二电阻R2。

所述第一电阻R的第一端与所述第一二极管D1的正极电连接，所述第一电阻R的第二端接地。

所述触发器D2的置位端与所述开关单元200的第一输入端电连接，所述触发器D2的触发端与所述第一二极管D1的正极以及所述第一电阻R的第一端电连接。

所述反相器D3的输入端与所述触发器D2的正向输出端与电连接，所述反相器D3输出端与所述开关单元200的第一输入端以及所述触发器D2的置位端电连接。

所述第二电阻R2的第一端与所述反相器D3的输出端、所述开关单元200的第一输入端以及所述触发器D2的置位端电连接，所述电阻的第二端接地。

在其中一个实施例中，所述触发器D2为上升沿触发器D2。

可以理解，所述触发器D2为上升沿触发器，即当所述触发的触发端检测到所述触发信号的上升沿时，将其置位端的值赋给所述触发器的正向输出端。本实施例中，初始状态下所述触发器D2的置位端为低电平，所述信号总线与显示区域之间的回路处于断开状态。在需要进行画面检测时，当所述第一二极管D1被反向击穿后，所述触发器D2的触发端检测所述测试信号的上升沿，所述触发器D2被触发，将其置位端的低电平信号赋值给其正向输出端，产生低电平的中间信号，即通过所述触发器D2D2的正向输出端输出低电平的中间信号，然后利用所述反相器D3对所述低电平的中间信号进行反向处理，生成高电平的开关控制信号，并输出给所述开关单元200，以使所述开关单元200导通，将信号总线上的讯号提供给显示区域，以进行画面检测。在检测完成后，所述测试机台再次将高电平的所述测试信号提供给检测电路，所述第一二极管D1管再次被击穿，所述触发器D2的触发端检测到测试信号的上升沿，将其置位端的高电平信号赋值为其正向输出端，生成高电平的中间信号，所述反相器D3对所述高电平的中间信号进行反向处理，生成低电平的开关控制信号，以使所述开关单元200根据所述低电平的开关控制信号断开信号总线与显示区域的回路。此外，所述触发器D2还可以为边沿触发器D2。

在其中给一个实施例中，开关单元200包括多个开关支路210，所述开关支路210设置在所述信号总线与所述显示区域的回路之间，用于控制所述信号总线与所述显示区域之间的通断。

可以理解，显示基板母版在切割之前，包括多个显示区域，为了同时测量所述多个显示区域的画面质量以及在检测完成后断开每一显示区域与信号总线之间的回路，因此需要将每一显示区域与信号总线之间设置一个所述开关支路210，通过所述开关支路210控制所述信号总线与显示区域之间的通断。

在其中一个实施例中，所述开关支路210包括开关管M和第二二极管D4。

所述开关管M的栅极与所述触发器D2的置位端、所述反相器D3的输出端以及所述第二电阻R2的第一端电连接，所述开关管M的漏极与所述信号总线电连接；以及

所述第二二极管D4的正极与所述开关管M的源极电连接，所述第二开关管M的负极与所述显示区域电连接。

本实施例中，所述开关管为N型开关管，当所述开关控制信号为高电平信号时，所述开关管M的栅极为高电平，所述开关管M导通，所述信号总线通过所述开关管M与所述显示区域实现电连接。当所述开关控制信号为低电平信号时，所述开关管M的栅极为低电平，所述开关管M截止，所述信号总线与所述显示区域之间的回路断开。所述第二二极管D4为普通二极管，不具有反向击穿可恢复的功能，若显示区域中的驱动信号反向击穿所述二极管，则会导致所述二极管断开，进一步保证显示区与信号总线之间的回路处于断开状态。

在其中一个实施例中，开关管M为三极管或场效应管。可以理解，通过三极管和场效应管，都可以实现控制电路的通断，以控制所述电源为所述驱动芯片供电。此外，所述开关管M可以采用其它具有开关功能的元器件，如继电器等。

在其中一个实施例中，所述触发单元100包括第一电阻R、触发器D2和第二电阻R2，请参见图5。

所述第一电阻R的第一端与所述第一二极管D1的正极电连接，所述第一电阻R的第二端接地。

所述触发器D2的置位端与所述开关单元200的第一输入端以及所述触发器D2的反向输出端电连接，所述触发器D2的触发端与所述第一二极管D1的正极以及所述第一电阻R的第一端电连接。

所述第二电阻R2的第一端与所述触发器D2的反相输出端、所述触发器D2的置位端以及所述开关单元200的第一输入端电连接，所述电阻的第二端接地。

本实施例中，初始状态下所述触发器D2的置位端为低电平，所述信号总线与显示区域之间的回路处于断开状态。在需要进行画面检测时，当所述第一二极管D1被反向击穿后，所述触发器D2的触发端检测所述测试信号的上升沿，所述触发器D2被触发，将其置位端的低电平信号赋值给其反向输出端，生成高电平的开关控制信号，并输出给所述开关单元200，以使所述开关单元200导通，将信号总线上的讯号提供给显示区域，以进行画面检测。在检测完成后，所述测试机台再次将高电平的所述测试信号提供给检测电路，所述第一二极管D1管再次被击穿，所述触发器D2的触发端检测到测试信号的上升沿，将其置位端的高电平信号赋值为其反向输出端，生成低电平的开关控制信号，以使所述开关单元200根据所述低电平的开关控制信号断开信号总线与显示区域之间的回路。

为了详细说明所述检测电路的工作原理，下面以本发明图2所示的检测电路为例，完整地介绍其工作过程。

本实施例中，所述触发器D2为上升沿触发器，所述开关管M为N型场效应管，所述第一二极管D1为击穿可恢复的二极管，第二二极管D4为普通二极管。测试机台提供的测试信号A的电压为第一二极管D1的阈值电压的1.2-2倍。

实际的应用过程中，当面板未贴合COF时，初始状态下触发器D2无输出，开关管M的栅极为低电平，开关管M截止，此时Channel N与Pad N断开。当需要测试时，此时测试机台输出的测试信号为高电平信号，第一二极管D1被反向击穿后，触发器D2的触发端检测到测试信号A的上升沿，将其置位端的低电平信号赋值给正向输出端，输出低电平的中间信号，所述中间信号经过反相器D3反向处理后，生成高电平的开关控制信号，开关管M的栅极为高电平，此时M1开启，Channel N＝Pad N，Channel N+1＝Pad N+1，Channel N+2＝Pad N+2，可以正常画面测试。当画面检测完成后，测试机台再输出测试信号A，此时触发器D1的触发端检测到测试信号A的上升沿，将其置位端端的高电平信号赋值给正向输出端，输出高电平的中间信号，反相器D3对所述高电平的中间信号进行反向处理，生成并输出低电平的开关控制信号，开关管M的栅极为低电平，开关管M截止，此时Channel与Pad断开。因为所述开关管M和所述第二二极管D4的隔绝作用，COF输出至Pad N、Pad N+1、Pad N+2等的信号，不会被反灌至R、G、B总线，因此不需要再通过镭射将外灌线路切断。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示基板，所述显示基板包括上述任一实施例所述的检测电路。

综上，本发明实施例提供了一种检测电路和显示基板，所述检测电路包括触发单元100和开关单元200。所述触发单元100的第一输入端与测试机台电连接，所述触发单元100的第二输入端与所述触发单元100的输出端电连接，所述触发单元100的第三输入端接地，用于接收所述测试机台提供的测试信号，并根据所述测试信号以及所述触发单元100第二输入端的电压信号生成开关控制信号。所述开关单元200的第一输入端与所述触发单元100的第二输入端以及所述触发单元100的输出端电连接，所述开关单元200的第二输入端与信号总线电连接，所述开关单元200的输出端与显示区域电连接，用于接收所述开关控制信号，并根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。本发明中，通过所述触发单元100根据所述测试信号以及所述触发单元100第二输入端的电压信号生成开关控制信号，以使所述开关单元200根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接，即使检测完成后显示区域的驱动信号不会倒灌到信号总线上，因此无需通过镭射激光切断信号总线与显示区域的连接，避免了因镭射切割可能造成的问题，提升了产品品质。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种检测电路，其特征在于，包括：

触发单元，所述触发单元的第一输入端与测试机台电连接，所述触发单元的第二输入端与所述触发单元的输出端电连接，所述触发单元的第三输入端接地，所述触发单元用于接收所述测试机台提供的测试信号，并根据所述测试信号以及所述触发单元第二输入端的电压信号生成开关控制信号；以及

开关单元，所述开关单元的第一输入端与所述触发单元的第二输入端以及所述触发单元的输出端电连接，所述开关单元的第二输入端与信号总线电连接，所述开关单元的输出端与显示区域电连接，用于接收所述开关控制信号，并根据所述开关控制信号在检测完成后断开所述信号总线与所述显示区域之间的连接。

2.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括比较单元，所述比较单元的输入端与所述测试机台电连接，所述比较单元的输出端与所述触发单元的第一输入端电连接，用于接收所述测试信号，并在所述测试信号的电压大于阈值电压时，通过所述比较单元的输出端输出所述测试信号。

3.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述比较单元包括第一二极管，所述第一二极管的负极与所述测试机台电连接，所述第一二极管的正极与所述触发单元的第一输入端电连接。

4.如权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述触发单元包括：

第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的正极电连接，所述第一电阻的第二端接地；

触发器，所述触发器的置位端与所述开关单元的第一输入端电连接，所述触发器的触发端与所述第一二极管的正极以及所述第一电阻的第一端电连接；

反相器，所述反相器的输入端与所述触发器的正向输出端与电连接，所述反相器输出端与所述开关单元的第一输入端以及所述触发器的置位端电连接；以及

第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述反相器的输出端、所述开关单元的第一输入端以及所述触发器的置位端电连接，所述电阻的第二端接地。

5.如权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述开关单元包括多个开关支路，所述开关支路设置在所述信号总线与所述显示区域的回路之间，用于控制所述信号总线与所述显示区域之间的通断。

6.如权利要求5所述的检测电路，其特征在于，所述开关支路包括：

开关管，所述开关管的栅极与所述触发器的置位端、所述反相器的输出端以及所述第二电阻的第一端电连接，所述开关管的漏极与所述信号总线电连接；以及

第二二极管，所述第二二极管的正极与所述开关管的源极电连接，所述第二开关管的负极与所述显示区域电连接。

7.如权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述开关管为三极管或场效应管。

8.如权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述触发单元包括：

第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的正极电连接，所述第一电阻的第二端接地；

触发器，所述触发器的置位端与所述开关单元的第一输入端以及所述触发器的反向输出端电连接，所述触发器的触发端与所述第一二极管的正极以及所述第一电阻的第一端电连接；以及

第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述触发器的反相输出端、所述触发器的置位端以及所述开关单元的第一输入端电连接，所述电阻的第二端接地。

9.如利要求4-8任一权项所述的检测电路，其特征在于，所述触发器为上升沿触发器。

10.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板包括如权利要求1-9任一权项所述的检测电路。