CN105741722A - 显示面板及其数据线检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板包含基板、显示区电路、N条数据线、多个第一开关、多个第二开关、多个第三开关与多个第四开关。基板的第一面定义有第一周边电路区、第二周边电路区与显示区。显示区位于第一周边电路区与第二周边电路区之间。显示区电路位于显示区。每一数据线从第一周边电路区跨越显示区电路到第二周边电路区。其中N为大于一的正整数。第一开关位于第一周边电路区。第二开关位于第一周边电路区。第三开关位于第一面。第四开关位于第二周边电路区。
Description
技术领域
本发明关于一种显示面板及其数据线检测方法，特别是一种测试电路内嵌的显示面板及其数据线检测方法。
背景技术
一般来说，在显示面板出厂时会进行测试，以确保显示面板的布局走线完整无虞。其中一种显示面板测试方案是通过以晶体管串接而成的测试电路进行测试。另一种测试方案俗称激光切割(lasercut)，此测试方案则是在显示面板的制程中，将测试电路一并设置于显示面板上。并在测试后，以激光切除的方式，自显示面板切除测试电路。
但此二显示面板测试方案都有其缺点。对于激光切割测试方案来说，虽然测试电路最后会被切除，因而不需担忧测试电路的元件尺寸。但是当切除测试电路之后，显示面板即不能再进行相关的电性测试。换句话说，自面板厂收到货的厂商无法再对显示面板进行相关电性测试，以至于无法进行进料品质管理(incomingqualitycontrol,IQC)。另一方面，对于通过多个串接的晶体管进行测试的测试方案来说，一般形成的薄膜晶体管的体积微型化有其极限。但目前由于显示面板的解析度不断增加，使得显示面板驱动集成电路(integratedcircuit,IC)的尺寸也不断地缩小，并使显示面板驱动集成电路的线宽或线距(pitch)连带地缩小，以至于超出目前一般制程的能力。
发明内容
本发明在于提供一种显示面板及其数据线的检测方法，克服了以往以晶体管串接而成的测试电路进行的测试方案无法负荷过窄的显示面板驱动集成电路线宽或线距。
本发明所揭露的一种显示面板包含基板、显示区电路、N条数据线、多个第一开关、多个第二开关、多个第三开关与多个第四开关。基板的一第一面定义有第一周边电路区、第二周边电路区与显示区。显示区位于第一周边电路区与第二周边电路区之间。显示区电路位于显示区。每一数据线从第一周边电路区跨越显示区电路到第二周边电路区，其中N为大于一的正整数。第一开关位于第一周边电路区。第二开关位于第一周边电路区。第三开关位于第一周边电路区。第四开关位于第二周边电路区。第一开关用以依据第一信号选择性地将N条数据线中的第(2k-1)条数据线电性连接至第一数据端或第二数据端。其中k为正整数，k不大于N/2。第二开关用以依据第二信号选择性地将N条数据线中的第2k条数据线电性连接至第一数据端或该第二数据端。第三开关用以依据第三信号选择性地将N条数据线中的第2k条数据线电性连接至N条数据线中第(2k+1)条数据线。第四开关用以依据第四信号选择性地将N条数据线中的第2k条数据线电性连接至N条数据线中第(2k-1)条数据线。
本发明所揭露的一种显示面板数据线的检测方法，适用于所述的显示面板。所述的显示面板数据线的检测方法先对第一数据端提供第一电压，再对第二数据端提供第二电压。第二电压不同于第一电压。接着，控制第一开关与第四开关操作于第一状态，并控制第二开关与第三开关操作于第二状态。其中第一状态与第二状态不同。然后，依据显示区域所显示的图案，判断N条数据线是否正常。
综上所述，本发明提供了一种显示面板及其数据线的检测方法，藉由将开关分成相对于显示区(activearea,AA)的上下两组，降低了显示面板驱动集成电路下方的开关的数量，而得以顺利地测量更加微型化的显示面板驱动集成电路，并得以判断显示面板驱动集成电路的出线是否有断路的情况，或测量出线之间是否有短路的情况。此外，藉本发明所提供的显示面板，更能测量同层或不同层的走线间是否有短路，克服了以往只能测量特定走线间是否有短路的状况。
以上的关于本揭露内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的专利申请范围更进一步的解释。
附图说明
图1为根据本发明一实施例绘示的显示面板的俯视图。
图2为根据本发明一实施例绘示的显示面板的等效电路图。
图3为根据本发明图2所绘示的显示面板于第一测试模式中的等效电路图。
图4为根据本发明图2所绘示的显示面板于第二测试模式中的等效电路图。
图5为根据本发明另一实施例绘示的显示面板的俯视图。
其中，附图标记：
1、1’显示面板SWA1～SWD4开关
10基板SC1第一信号
AA显示区SC2第二信号
C1～C4控制端SC3第三信号
D1第一数据端SC4第四信号
D2第二数据端Z1第一周边电路区
E1～E5瑕疵Z2第二周边电路区
GA～GD栅极ZFO扇出区
L1～L8数据线
具体实施方式
以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、申请专利范围及图式，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。
本发明提供了一种显示面板，所述的显示面板具有基板、显示区电路、N条数据线、第一开关、第二开关、第三开关与第四开关。需先一提的是，前述的N为一正整数，且N的大小为所属技术领域具有通常知识者能依实际所需自行决定。此外，当N的大小不同时，第一开关、第二开关、第三开关与第四开关的数量也会依据其连接关系而对应地增减。
请一并参照图1及图2，图1为根据本发明一实施例绘示的显示面板的俯视图，图2为根据本发明一实施例绘示的显示面板的等效电路图。在此为求叙述简明，于图1、图2及其相对的实施例中，令N为8，亦即显示面板1具有数据线L1～L8。此时，显示面板1具有第一开关SWA1～SWA4、第二开关SWB1～SWB5、第三开关SWC1～SWC3与第四开关SWD1～SWD4。为如上述地，各元件的数量及大小尺寸并不以图1中所绘示地为限制。第一开关SWA1～SWA4、第二开关SWB1～SWB5、第三开关SWC1～SWC3与第四开关SWD1～SWD4例如为N型的薄膜晶体管或P型的薄膜晶体管，在此亦不加以限制。
基板10的第一面定义有第一周边电路区Z1、第二周边电路区Z2、显示区AA与扇出区ZFO。显示区AA位于第一周边电路区Z1与第二周边电路区Z2之间。第二周边电路区Z2具有扇出区ZFO，扇出区ZFO靠近于显示区AA。显示区电路位于显示区AA，其架构可由所属领域具有通常知识者依需求而设计，于此不绘示其细节。显示区电路例如具有像素单元，像素单元依据数据线上的数据信号的指示，而选择性地依据对应数据线上的数据信号发光。基本上，显示区电路为所属技术领域具有通常知识者依实际所需所能自由设计，相关细节不再予以赘述。
数据线L1～L8从第一周边电路区Z1跨越显示区电路到第二周边电路区Z2。数据线L1～L8、第一开关SWA1～SWA4、第二开关SWB1～SWB5、第三开关SWC1～SWC3与第四开关SWD1～SWD4如图1所示，于此则不再赘述。第一开关SWA1～SWA4位于第一周边电路区Z1。第二开关SWB1～SWB5位于第一周边电路区Z1。第三开关SWC1～SWC3位于基板10的第一面。第四开关SWD1～SWD4位于第二周边电路区Z2。
在图1所示的实施例中，第一开关SWA1～SWA4共用栅极GA，第二开关SWB1～SWB5共用栅极GB，第三开关SWC1～SWC3共用栅极GC，第四开关SWD1～SWD4共用栅极GD。其中，栅极GA电性连接控制端C1以接收第一信号SC1，栅极GB电性连接控制端C2以接收第二信号SC2，栅极GC电性连接控制端C3以接收第三信号SC3，栅极GD电性连接控制端C4以接收第四信号SC4。在此结构中，第一开关SWA1～SWA4同时依据第一信号SC1而选择性地导通，第二开关SWB1～SWB5同时依据第二信号SC2而选择性地导通，第三开关SWC1～SWC3同时依据第三信号SC3而选择性地导通，第四开关SWD1～SWD4同时依据第四信号SC4而选择性地导通。然在另一实施例中，第一开关SWA1～SWA4亦可不共用栅极，而各自分别依据不同的信号而导通，第二开关SWB1～SWB5亦可不共用栅极，而各自分别依据不同的信号而导通，第三开关SWC1～SWC3亦可不共用栅极，而各自分别依据不同的信号而导通，或第四开关SWD1～SWD4亦可不共用栅极，而各自分别依据不同的信号而导通。
从另一个角度来说，第一开关SWA1～SWA4形成第一开关组，第二开关SWB1～SWB5形成第二开关组，第三开关SWC1～SWC3形成第三开关组，第四开关SWD1～SWD4形成第四开关组。每一开关组依据不同的信号而选择性地导通。为此仅定义上的异同，并不以此限定本案的作动方式。
第一开关SWA1～SWA4用以依据第一信号SC1选择性地将N条数据线中第(2k-1)条数据线电性连接至第一数据端D1或第二数据端D2，其中k为正整数，k不大于N/2。换句话说，第一开关SWA1～SWA4用以选择性地将N条数据线中的第奇数条数据线分别耦接至第一数据端D1或第二数据端D2。显示面板1经由第一数据端D1接收第一数据电压，并经由第二数据端D2接收第二数据电压。
或者从另一个角度来说，第一开关SWA1～SWA4用以选择性地将N条数据线中的第(4m-3)条数据线电性连接至第一数据端D1，并将N条数据线中的第(4m-1)条数据线电性连接至第二数据端D2，其中m为正整数，m不大于N/4。而第二开关SWB1～SWB5用以选择性地将N条数据线中的第(4m-2)条数据线电性连接至第一数据端D1，并将N条数据线中的第(4m)条数据线电性连接至第二数据端D2，其中m为正整数，m不大于N/4。
如前述地，在此实施例中令N为8，因此数据线L1、L3、L5、L7分别经由第一开关SWA1～SWA4而选择性地耦接至第一数据端D1或第二数据端D2。
第二开关SWB1～SWB5用以依据第二信号SC2，选择性地将N条数据线中第2k条数据线电性连接至第一数据端D1或第二数据端D2。换句话说，第二开关SWB1～SWB5用以选择性地将N条数据线中的第偶数条数据线分别耦接至第一数据端D1或第二数据端D2。如前述地，在此实施例中令N为8，因此数据线L2、L4、L6、L7分别经由第二开关SWB1～SWB5而选择性地耦接至第一数据端D1或第二数据端D2。
第三开关SWC1～SWC3用以依据第三信号SC3选择性地将N条数据线中第2k条数据线电性连接至N条数据线中第(2k+1)条数据线。以本实施例来说，第三开关SWC1～SWC3用以分别将数据线L2、L4、L6电性连接至数据线L3、L5、L7。
第四开关SWD1～SWD4用以依据第四信号SC4选择性地将N条数据线中第2k条数据线电性连接至N条数据线中第(2k-1)条数据线。以本实施例来说，第四开关SWD1～SWD4用以分别将数据线L2、L4、L6电性连接至数据线L1、L3、L5。
依据上述结构，显示面板1具有多种的测试模式，配合不同的数据电压，以测试出数据线L1～L8在基板上的不同区域是否有缺损而形成电路开路，或者以测试出数据线L1～L8之间是否有短路的现象。请一并参照图3以对显示面板1的第一测试模式进行说明，图3为根据本发明图2所绘示的显示面板于第一测试模式中的等效电路图。
在第一测试模式中，第一开关SWA1～SWA4与第四开关SWD1～SWD4导通，第二开关SWB1～SWB5与第三开关SWC1～SWC3不导通。此时，数据线L1、L5经由第一开关SWA1、SWA3电性连接至第一数据端D1，数据线L3、L7经由第一开关SWA2、SWA4电性连接至第二数据端D2。而数据线L2、L4、L6、L8分别经由第四开关SWD1～SWD4电性连接数据线L1、L3、L5、L7。因此，理想上，数据线L1、L2上的电压电平与数据线L5、L6上的电压电平都会相同而为第一数据电压，而数据线L3、L4上的电压电平与数据线L7、L8上的电压电平都会相同而为第二数据电压。显示区电路会依据数据线L1～L8上的电压电平而使像素单元发出不同亮度的光。
在此实施例中，当对应数据线上的电压电平为高电压电平时，显示区电路将数据信号写入像素单元，以使像素单元发光。而数据线L1～L8会分别对应到显示区电路中的其中一行像素单元直行。因此，在此实施例中，数据线L1～L8所对应的单行像素单元直行整行发出的光会大致上相同。但如图3所示，在此实施例中，显示面板1例如具有下述的瑕疵。数据线L1在显示区AA因瑕疵E1而让电路开路，数据线L3在扇出区ZFO因瑕疵E2而让电路开路，且数据线L6、L7因瑕疵E3短路。因此数据线L1～L8上的电压电平并不会如前述地理想。因此数据线L1～L8对应的像素单元直行发出的光并不会整行都一致。
而为了测试显示面板1中是否存在有短路或断路的情况，第一测试模式中还可分成第一断路测试模式与第一短路测试模式来对显示面板1进行测试。
于第一断路测试模式中，第一数据电压与第二数据电压被设定成相同的电压电平，以测试数据线L1～L8中是否有断路的情况。以下以第一数据电压与第二数据电压的电压电平皆为5伏特为例进行说明，然实际上并不以此为限。当于第一断路测试模式中，第一数据电压与第二数据电压的电压电平皆为5伏特时，由于前述的电路连接关系，理想上，数据线L1、L2上的电压电平与数据线L5、L6上的电压电平都会相同而都为5伏特，且数据线L3、L4上的电压电平与数据线L7、L8上的电压电平都会相同而都为5伏特。
但是对数据线L1来说，由于数据线L1在显示区AA中因为缺陷而断开，此时只有其中一段数据线L1的电压电平是5伏特，而电性连接至数据线L2的另一段数据线L1以及数据线L2的电压电平因为没有上电而是0伏特。因此，对于数据线L1对应的像素单元直行仅有部分发亮，而数据线L2所对应的像素单元直行则是整段都不发亮。
延续前述，对数据线L3来说，由于数据线L3在扇出区ZFO中因为瑕疵E2而断开，此时整段数据线L3上的电压电平是5伏特，而数据线L4的电压电平因为没有上电而是0伏特。因此，数据线L3对应的像素单元直行发亮，而数据线L4所对应的像素单元直行则是整段都不发亮。因此，藉由上述显示画面是否有直行不发亮，以及是否为整段不发亮或是从中不发亮，测试人员即可判断出数据线L1～L8是否有断路的情况以及断路的位置。
于第一短路测试模式中，第一数据电压与第二数据电压被设定成不同的电压电平，以测试数据线L2、L3之间、数据线L4、L5之间或数据线L6、L7之间是否短路。以下以第一数据电压的电压电平为5伏特与第二数据电压的电压电平为0伏特为例进行说明，然实际上并不以此为限。当于第一短路测试模式中，由于前述的电路连接关系，理想上，数据线L1、L2上的电压电平与数据线L5、L6上的电压电平都会相同而都为5伏特，且数据线L3、L4上的电压电平与数据线L7、L8上的电压电平都会相同而都为0伏特。
对数据线L6、L7来说，理想上，数据线L6、L7彼此应不电性连接，且数据线L6上的电压电平应为5伏特，且数据线L7上的电压电平应为0伏特。因此，数据线L6所对应的像素单元直行在理想上会整行都发光，且整行像素单元直行的发光亮度应大致上相同。而数据线L7所对应的像素单元直行在理想上应整段都不发光。但是如前述地，数据线L6、L7短路，此时数据线L6上的电压电平还是整段一致，但是电压电平会对应地第一数据电压与第二数据电压的电压值与第一数据端D1与第二数据端D2之间的阻抗而下降。此外，数据线L7会经由第四开关SWD3电性连接数据线L5。因此，数据线L7上的电压电平不再是整段一致，而会由靠近第二数据端D2的一侧往另一侧递增。若定义显示区AA靠近第一周边电路区Z1的一侧为上缘，并显示区AA靠近扇出区ZFO的一侧为下缘，则数据线L5上的电压电平从显示区AA上缘往下缘递减，而数据线L7上的电压电平从显示区AA上缘往下缘递增。
换句话说，此时数据线L6对应的像素单元直行从显示区AA上缘往下缘渐暗，而数据线L7对应的像素单元直行从显示区AA上缘往下缘渐亮。因此，藉由上述显示画面是否有直行有渐暗或渐亮的现象，测试人员即可判断出，数据线L2、L3之间、数据线L4、L5之间或数据线L6、L7之间是否有短路的情况。
在一实施例中，显示面板1还具有重置模式。在重置模式当中，第一开关SWA1～SWA4、第二开关SWB1～SWB5、第三开关SWC1～SWC3与第四开关SWD1～SWD4都被导通，且第一数据电压与第二数据电压被设定为一起始值。藉此，得以将显示面板1中的各线路或各节点的电压电平设置为所述的起始值，以避免显示面板1中的残余电荷造成误判。所述的起始值例如为0伏特，但并不以此为限。
而在另一实施例的第一断路测试模式中，第一数据电压或第二数据电压为时变值。此时，理想上，数据线L1～L8所对应的各像素单元直行会依据第一数据电压的变化或第二数据电压的变化而亮暗变化。而当显示画面上出现有不会随第一数据电压或第二数据电压而变化的部份，则代表对应的数据线L1～L8可能发生断路的情况。
请接着参照图4，图4为根据本发明图2所绘示的显示面板于第二测试模式中的等效电路图。在第二测试模式中，第二开关SWB1～SWB5与第三开关SWC1～SWC3导通，第一开关SWA1～SWA4与第四开关SWD1～SWD4不导通。此时，数据线L1经由第二开关SWB5电性连接至第二数据端D2，数据线L2经由第二开关SWB2电性连接至第一数据端D1，数据线L3经由第二开关SWB2与第三开关SWC1电性连接至第一数据端D1，数据线L4经由第二开关SWB3电性连接至第二数据端D2，数据线L5经由第二开关SWB3与第三开关SWC2电性连接至第二数据端D2，数据线L6经由第二开关SWB4电性连接至第一数据端D1，数据线L7经由第二开关SWB4与第三开关SWC3电性连接至第一数据端D1，数据线L8经由第二开关SWB5电性连接至第二数据端D2。
因此，理想上，数据线L1、L8的电压电平会是第二数据电压，数据线L2、L3上的电压电平相同都为第一数据电压电平，数据线L4、L5上的电压电平相同都为第二数据电压电平，数据线L6、L7上的电压电平相同都为第一数据电压电平。
在此实施例中，当对应数据线上的电压电平为高电压电平时，显示区电路将数据信号写入像素单元，以使像素单元发光。而数据线L1～L8会分别对应到显示区电路中的其中一行像素单元直行。因此，在此实施例中，数据线L2、L3、L6、L7所对应的单行像素单元直行整行发出的光会大致上相同，数据线L1、L4、L5、L8所对应的单行像素单元直行整行发出的光会大致上相同。但如图4所示，在此实施例中，显示面板1例如具有下述的瑕疵。数据线L4在显示区AA因瑕疵E4而让电路开路，且数据线L5、L6因瑕疵E5短路。因此数据线L1～L8上的电压电平并不会如前述地理想。
而为了测试显示面板1中是否存在有短路或断路的情况，第二测试模式中还可分成第二短路测试模式与第二断路模式来对显示面板1进行测试。
于第二断路测试模式中，第一数据电压与第二数据电压被设定成相同的电压电平，以测试数据线L1～L8中是否有断路的情况。以下以第一数据电压与第二数据电压的电压电平皆为5伏特为例进行说明，然实际上并不以此为限。当于第二断路测试模式中，第一数据电压与第二数据电压的电压电平皆为5伏特时，由于前述的电路连接关系，理想上，数据线L1～L8上的电压电平都会相同而都为5伏特。
但是对数据线L4来说，由于数据线L1在显示区AA中因为瑕疵E4而断开，此时数据线L4上只有其中一段的电压电平是5伏特，而电性连接至第四开关SWD2的另一段数据线L1的电压电平因为没有上电而是0伏特。因此，对于数据线L4对应的像素单元直行仅有部分发亮。藉由显示画面是否有直行从中不发亮，测试人员即可判断出数据线L1～L8是否有断路的情况以及断路的位置。而当瑕疵E4发生于扇出区ZFO时，相关内容可从前述内容推得，于此则不再赘述。
于第二短路测试模式中，第一数据电压与第二数据电压被设定成不同的电压电平，以测试数据线L1、L2之间、数据线L3、L4之间、数据线L5、L6之间或数据线L7、L8之间是否短路。以下以第一数据电压的电压电平为5伏特与第二数据电压的电压电平为0伏特为例进行说明，然实际上并不以此为限。当于二短路测试模式中，由于前述的电路连接关系，理想上，数据线L2、L3、L6、L7上的电压电平都会相同而都为5伏特，且数据线L1、L4、L5、L8的电压电平都会相同而都为0伏特。
对数据线L5、L6来说，理想上，此时数据线L5、L6彼此应不电性连接，且数据线L5上的电压电平应为0伏特，且数据线L6上的电压电平应为5伏特。因此，数据线L6所对应的像素单元直行在理想上会整行都发光，且整行像素单元直行的发光亮度应大致上相同。而数据线L5所对应的像素单元直行在理想上应整段都不发光。但是如前述地，数据线L5、L6短路，因此数据线L5、L6上的电压电平不再是整行一致，而会递减或递增。若定义显示区AA靠近第一周边电路区Z1的一侧为上缘，并显示区AA靠近扇出区ZFO的一侧为下缘，则数据线L6上的电压电平从显示区AA上缘往下缘递减，而数据线L5上的电压电平从显示区AA上缘往下缘递增。
换句话说，此时数据线L6对应的像素单元直行从显示区AA上缘往下缘渐暗，而数据线L5对应的像素单元直行从显示区AA上缘往下缘渐亮。因此，藉由上述显示画面是否有直行有渐暗或渐亮的现象，测试人员即可判断出，数据线L1、L2之间、数据线L3、L4之间、数据线L5、L6之间或数据线L7、L8之间是否有短路的情况。
综合第一测试模式与第二测试模式来看，于第一测试模式与第二测试模式中，都可测得数据线L1～L8是否发生断路的情况。此外，在第一测试模式中可测得数据线L2、L3之间、数据线L4、L5之间或数据线L6、L7之间是否有短路的情况发生。在第二测试模式中可测得数据线L1、L2之间、数据线L3、L4之间、数据线L5、L6之间或数据线L7、L8之间是否有短路的情况发生。因此，由第一测试模式与第二测试模式得以测得数据线L1～L8是否有断路的情况，并测得数据线L1～L8中相邻的两者是否有短路的情况。
而除了如图1的实施态样之外，显示面板1更具有如图5的实施态样，请参照图5以对显示面板1的另一种实施态样进行说明，图5为根据本发明另一实施例绘示的显示面板的俯视图。图5所对应的实施例与图1不同的是，第三开关SWC1～SWC3位于第二周边电路区Z2。在此实施例中，显示面板1’亦适用于前述的各种测试模式，且具有相同的功效。相关细节如前述，于此则不再赘述。
综合以上所述，本发明提供了一种显示面板及其数据线的检测方法。在所述的显示面板中，藉由将各开关分成相对于显示区的上下两部份，降低了显示面板驱动集成电路下方的开关的数量，而得以匹配日益缩减的显示面板驱动集成电路的线宽或线径，从而顺利地测量更加微型化的显示面板驱动集成电路，并得以判断显示面板的数据线是否有断路的情况，或测量各数据线之间是否有短路的情况。此外，藉本发明所提供的显示面板，更能测量同层或不同层的走线间是否有短路，克服了以往只能测量特定走线间是否有短路的状况
虽然本发明以前述的实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的申请专利范围。
Claims (12)
1.一种显示面板，其特征在于，包含：
一基板，于该基板的一第一面定义有一第一周边电路区、一第二周边电路区与一显示区，该显示区位于该第一周边电路区与该第二周边电路区之间；
一显示区电路，位于该显示区；
N条数据线，每一该数据线从该第一周边电路区跨越该显示区电路到该第二周边电路区，其中N为大于一的正整数；
多个第一开关，位于该第一周边电路区，该些第一开关用以依据一第一信号，选择性地将该N条数据线中第(2k-1)条数据线电性连接至一第一数据端或一第二数据端，其中k为正整数，k不大于N/2；
多个第二开关，位于该第一周边电路区，该些第二开关用以依据一第二信号，选择性地将该N条数据线中第2k条数据线电性连接至该第一数据端或该第二数据端；
多个第三开关，位于该第一面，该些第三开关用以依据一第三信号，选择性地将该N条数据线中第2k条数据线电性连接至该N条数据线中第(2k+1)条数据线；以及
多个第四开关，位于该第二周边电路区，该些第四开关用以依据一第四信号，选择性地将该N条数据线中第2k条数据线电性连接至该N条数据线中第(2k-1)条数据线。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该些第二开关位于该些第一开关与该显示区电路之间。
3.根据权利要求1或2所述的显示面板，其特征在于，该些第三开关位于该第一周边电路区。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，该些第三开关位于该些第二开关与该显示区电路之间。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该些第三开关位于该第二周边电路区。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，该些第三开关位于该些第四开关与该显示区电路之间。
7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该第一信号与该第四信号相同且该第二信号与该第三信号相同。
8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该些第一开关系用以选择性地将该N条数据线中的第(4m-3)条数据线电性连接至该第一数据端，并将该N条数据线中的第(4m-1)条数据线电性连接至该第二数据端，其中m为正整数，m不大于N/4。
9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该些第二开关系用以选择性地将该N条数据线中的第(4m-2)条数据线电性连接至该第一数据端，并将该N条数据线中的第(4m)条数据线电性连接至该第二数据端，其中m为正整数，m不大于N/4。
10.一种显示面板数据线的检测方法，适用于如权利要求1至9其中之一所述的显示面板，其特征在于，所述方法包含：
对该第一数据端提供一第一电压；
对该第二数据端提供一第二电压，该第二电压不同于该第一电压；
控制该些第一开关与该些第四开关操作于第一状态；
控制该些第二开关与该些第三开关操作于第二状态，其中该第一状态与该第二状态不同；以及
依据该显示区域所显示的图案，判断该N条数据线是否正常。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，该第一状态为导通、该第二状态为断路，且于判断该N条数据线是否正常的步骤中，判断该N条数据线有无断线，并判断该N条数据线中，第2x条数据线与第(2x+1)条数据线是否短路，其中x为正整数，x小于N/2。
12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，该第一状态为断路、该第二状态为导通，且于判断该N条数据线是否正常的步骤中，判断该N条数据线有无断线，并判断该N条数据线中，第2x条数据线与第(2x-1)条数据线是否短路，其中x为正整数，x小于N/2。
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