CN106959381A - 一种面板测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种面板测试装置，包括：定位架；和多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在定位架上、且多个测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L，其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。本发明提供的面板测试装置，增大了测试针的宽度，使得面板测试装置与面板进行对位时，信号针与测试针能够更好地进行对位，避免出现信号针与测试针错位的状况，以使得各个信号针的状态被准确地检测出，有效提升了信号针的检测精准性。

Description

一种面板测试装置
技术领域
本文涉及但不限于OLED显示技术，尤指一种面板测试装置。
背景技术
在LCD及OLED的生产过程中，经过切割后的面板需要进行测试Test，为了达到对不良的准确检出，需要用到全触点检测Full Contact检测，全触点检测是将测试块Block中的每个测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin一一对应；由于目前面板的分辨率越来越高，比如55”OLED的数据信号输入侧Source侧有15360(3840*4)根金属线，对测试块Block与面板Panel电极Pad中信号针Pin一一对应的准确度要求严苛，目前在实际生产中，针错位(测试针和信号针错位)很难避免，影响了检测Test工序对信号针不良检出的准确性。
1)针错位的产生原理：
图1为测试块Block上的测试针Pin示意图，图2为面板Panel电极Pad中的信号Pin示意图。以目前的55”OLED为例，分辨率为3840*2160，由于采用RGBW四个亚像素组成一个像素Pixel(如图2所示)，因此数据信号输入侧Source侧有15360(3840*4)根金属线，这造成面板Panel上的信号Pin宽度很窄、间距很小，使得要保证测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin位置一一对应极为困难，会造成针错位。
图3为测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin位置一致时的对位情况示意图，图4为测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin位置不一致时的针错位情况示意图，实际生产中，图4的情况经常发生，测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin错位的地方会检测出不良(对信号针存在误判的问题)，影响判断的准确性。
图1至图4中附图标记与部件名称之间的对应关系为：
10定位架，20测试针，30面板，40信号针。
发明内容
为了解决上述技术问题中的至少之一，本文提供了一种面板测试装置，可以更好地对位信号针与测试针，避免信号针与测试针错位，提升检测精准性。
为了达到本文目的，本发明提供了一种面板测试装置，包括：定位架；和多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在所述定位架上、且多个所述测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L；其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。
可选地，相邻所述测试针处于不同的层面上。
可选地，多个所述测试针相互平行。
可选地，所述面板测试装置还包括：用于抵触信号针的导电件，设置在测试针上、并与测试针电连接，测试针通过导电件与对应的信号针导通。
可选地，所述导电件包括：导电单元；和绝缘单元，至少设置在所述导电单元的一组相对的侧面上。
可选地，所述导电件还包括：弹性单元，所述导电单元包裹在所述弹性单元上。
可选地，导电件均匀布置在测试针上，同一测试针上的各导电件均与该测试针连通。
可选地，所述导电件呈球形状或柱形状。
可选地，所述多个测试针位于所述定位架的一旁，所述多个测试针的临近所述定位架的一端固定在所述定位架上。
可选地，所述定位架呈长条形板状且横置。
与现有技术相比，本发明提供的面板测试装置，增大了测试针的宽度，使得面板测试装置与面板进行对位时，信号针与测试针能够更好地进行对位，避免出现信号针与测试针错位的状况，以使得各个信号针的状态被准确地检测出，有效提升了信号针的检测精准性。
本文的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本文而了解。本文的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本文技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本文的技术方案，并不构成对本文技术方案的限制。
图1为相关技术中的测试块上的结构示意图；
图2为相关技术中面板的结构示意图；
图3为相关技术中的面板和测试块对位情况下的结构示意图；
图4为相关技术中的面板和测试块错位情况下的结构示意图；
图5为本发明所述的面板测试装置的主视结构示意图；
图6为图5所示的面板测试装置的后视结构示意图；
图7和图8为图6中的导电件两个实施例的剖视结构示意图；
图9为本发明的面板测试装置与待测面板对位情况下的结构示意图；
图10为本发明的面板测试装置与待测面板错位情况下的结构示意图。
其中，图5至图10中附图标记与部件名称之间的对应关系为：
1定位架，2测试针，3面板，4信号针，50导电件，5导电单元，6绝缘单元，7弹性单元。
具体实施方式
为使本文的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本文的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本文，但是，本文还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施，因此，本文的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
下面结合附图描述本文一些实施例的面板测试装置。
本发明提供的面板测试装置，如图5、图9和图10所示，包括：定位架1；和多个测试针2，沿所述定位架1的横向依次设置在所述定位架1上、且多个所述测试针2的位置与待测面板3上的信号针4的位置一一对应，任一所述测试针2满足：d≤D≤d+L。
其中，D为该测试针2的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针4的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针4之间的最小距离。
本发明提供的面板测试装置，增大了测试针2的宽度，使得面板测试装置与待测面板3进行对位时，信号针4与测试针2能够更好地进行对位，避免出现信号针4与测试针2错位的状况，以使得各个信号针4的状态被准确地检测出，有效提升了信号针4的检测精准性。
在面板测试装置与待测面板3对位时，由于测试针2的宽度增大，这就保证了测试针2上至少部分区域与相应地信号针4能够接触而连通，从而有效增加测试针2和信号针4的对位准确性，使得各个信号针4的状态被准确的检测出，确保信号针4的检测质量。
可选地，相邻所述测试针2处于不同的层面(可以包括两层、三层、四层等，均可实现本申请的目的)上，确保相邻的测试针2之间相互独立，防止相邻的测试针2短接而影响信号针4的检测准确性。
可以是定位架1上设置有不同深度的凹槽，相邻凹槽的深度不同，测试针2安装在凹槽内，这样相邻的测试针2就实现了处于不同的层面上。
可选地，所述多个测试针2相互平行，与信号针4的布置方式相对应，优化测试针2的布局，更有利于检测信号针4，同时也降低了面板测试装置的制作难度。
可选地，如图6至图8所示，所述面板测试装置还包括：用于抵触信号针4的导电件50，设置在测试针2上、并与测试针2连通(电连接)，测试针2通过其上设置的导电件50与对应的信号针4导通，导电件50可更好地与测试针2接触。
较好地，导电件50布满在测试针2上(即：测试针2上由多个导电件50布满)，这样测试针2上布满的导电件50在与对应的信号针4对位时，至少部分导电件50会与信号针4接触连通。
可选地，如图7和图8所示，所述导电件50包括：导电单元5；和绝缘单元6，至少设置在所述导电单元5的一组相对的侧面上，该一组相对的侧面为处于定位架1的横向上的两个侧面，防止相邻测试针2上的导电件50因倾斜相碰而短接(相邻测试针2上的导电件50在倾斜抵触时，是通过侧面上的绝缘单元6抵触在一起的，因此不会短接连通)，确保检测的准确性。
可选地，如图7和图8所示，所述导电件50还包括：弹性单元7，所述导电单元5包裹在所述弹性单元7上，弹性单元7可使得导电件50能够发生弹性变形，更好地确保导电件50与相应的信号针4压实接触，避免出现接触不实的情况。
可选地，导电件50均匀布置在测试针2上，同一测试针2上的各个导电件50均与该测试针2连通，测试针2上只要有一个导电件50与对应的信号针4接触即实现了连通的目的，其测试准确性更好、实用性更好。
可选地，所述导电件50呈球形状(如图7所示)或柱形状(如图8所示)。
当然，导电件50也可以是其它形状，如椭圆形状，矩形状等，均可实现本申请的目的，其宗旨未脱离本发明的设计思想，在此不再赘述，均应属于本申请的保护范围内。
具体地，如图5所示，所述定位架1呈长条形板状且横置，所述多个测试针2位于所述定位架1的一旁，且所述多个测试针2的临近所述定位架1的一端固定在所述定位架1上，更利于拿取和存放面板测试装置，同时也方便于面板测试装置与面板3对位检测。
优选地，多个信号针4的宽度均相等，相邻两信号针之间的距离也均相等，这样，多个测试针2的宽度设计为也均相等，相邻两测试针2之间的距离设计为也相等。
综上所述，本发明提供的面板测试装置，增大了测试针的宽度，使得面板测试装置与检测面板进行对位时，信号针与测试针能够更好地进行对位，避免出现信号针与测试针错位的状况，以使得各个信号针的状态被准确地检测出，有效提升了信号针的检测精准性。
在本文的描述中，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等均应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本文中的具体含义。
在本说明书的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本文的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
虽然本文所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本文而采用的实施方式，并非用以限定本文。任何本文所属领域内的技术人员，在不脱离本文所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本文的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种面板测试装置，其特征在于，包括：
定位架；和
多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在所述定位架上、且多个所述测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L；
其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。
2.根据权利要求1所述的面板测试装置，其特征在于，相邻所述测试针处于不同的层面上。
3.根据权利要求2所述的面板测试装置，其特征在于，多个所述测试针相互平行。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的面板测试装置，其特征在于，还包括：
用于抵触信号针的导电件，设置在测试针上、并与测试针电连接，测试针通过导电件与对应的信号针导通。
5.根据权利要求4所述的面板测试装置，其特征在于，所述导电件包括：
导电单元；和
绝缘单元，至少设置在所述导电单元的一组相对的侧面上。
6.根据权利要求5所述的面板测试装置，其特征在于，所述导电件还包括：
弹性单元，所述导电单元包裹在所述弹性单元上。
7.根据权利要求4所述的面板测试装置，其特征在于，导电件均匀布置在测试针上，同一测试针上的各导电件均与该测试针连通。
8.根据权利要求4所述的面板测试装置，其特征在于，所述导电件呈球形状或柱形状。
9.根据权利要求1至3中任一项所述的面板测试装置，其特征在于，所述多个测试针位于所述定位架的一旁，所述多个测试针的临近所述定位架的一端固定在所述定位架上。
10.根据权利要求9所述的面板测试装置，其特征在于，所述定位架呈长条形板状且横置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108401360A (zh) * 2018-05-03 2018-08-14 京东方科技集团股份有限公司 柔性电路板、检测装置及显示面板的检测方法
WO2018171187A1 (zh) * 2017-03-22 2018-09-27 京东方科技集团股份有限公司 面板测试装置
CN110426536A (zh) * 2019-07-29 2019-11-08 重庆伟鼎电子科技有限公司 Pcb导电布测试线路板

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109523943B (zh) * 2018-12-28 2023-06-20 厦门天马微电子有限公司 显示面板和显示装置
JP2020119809A (ja) * 2019-01-25 2020-08-06 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及びその製造方法並びに多面取り表示パネル

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1721861A (zh) * 1999-11-16 2006-01-18 东丽工程株式会社 探测装置及其制造方法与使用它的基板检测方法
CN2802510Y (zh) * 2003-05-08 2006-08-02 雅马哈株式会社 探针装置
CN201138366Y (zh) * 2008-01-10 2008-10-22 环国科技股份有限公司 面板测试结构
JP2010164452A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Micronics Japan Co Ltd プローブ及びプローブカード
CN102136234A (zh) * 2010-01-25 2011-07-27 寇地斯股份有限公司 用于测试微间距阵列的探针单元
CN102236036A (zh) * 2010-05-04 2011-11-09 迪普劳布株式会社 探针块用探针薄膜及其制造方法
CN205333695U (zh) * 2016-01-27 2016-06-22 合肥京东方光电科技有限公司 一种电检装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6107806A (en) * 1997-07-30 2000-08-22 Candescent Technologies Corporation Device for magnetically sensing current in plate structure
US6281701B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Chi Mei Optoelectronics Corporation Apparatus for testing flat panel display
US6675469B1 (en) * 1999-08-11 2004-01-13 Tessera, Inc. Vapor phase connection techniques
JP4882529B2 (ja) * 2005-08-26 2012-02-22 セイコーエプソン株式会社 欠陥検出方法および欠陥検出装置
US8400177B2 (en) * 2008-09-01 2013-03-19 Chimei Innolux Corporation Device and method for testing display panel
KR101094289B1 (ko) * 2009-10-14 2011-12-19 삼성모바일디스플레이주식회사 원장 검사 장치 및 그 검사 방법
JP6273131B2 (ja) * 2013-11-27 2018-01-31 株式会社日本マイクロニクス 検査装置、及び検査方法
US20160091116A1 (en) * 2014-09-26 2016-03-31 Michael Shoecraft Cable management
TWI562108B (en) * 2016-03-02 2016-12-11 Au Optronics Corp Display panel and method for verifying driving lines thereon
CN106959381A (zh) 2017-03-22 2017-07-18 京东方科技集团股份有限公司 一种面板测试装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1721861A (zh) * 1999-11-16 2006-01-18 东丽工程株式会社 探测装置及其制造方法与使用它的基板检测方法
CN2802510Y (zh) * 2003-05-08 2006-08-02 雅马哈株式会社 探针装置
CN201138366Y (zh) * 2008-01-10 2008-10-22 环国科技股份有限公司 面板测试结构
JP2010164452A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Micronics Japan Co Ltd プローブ及びプローブカード
CN102136234A (zh) * 2010-01-25 2011-07-27 寇地斯股份有限公司 用于测试微间距阵列的探针单元
CN102236036A (zh) * 2010-05-04 2011-11-09 迪普劳布株式会社 探针块用探针薄膜及其制造方法
CN205333695U (zh) * 2016-01-27 2016-06-22 合肥京东方光电科技有限公司 一种电检装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018171187A1 (zh) * 2017-03-22 2018-09-27 京东方科技集团股份有限公司 面板测试装置
US10559239B2 (en) 2017-03-22 2020-02-11 Boe Technology Group Co., Ltd. Panel testing device
CN108401360A (zh) * 2018-05-03 2018-08-14 京东方科技集团股份有限公司 柔性电路板、检测装置及显示面板的检测方法
CN108401360B (zh) * 2018-05-03 2019-07-05 京东方科技集团股份有限公司 柔性电路板、检测装置及显示面板的检测方法
CN110426536A (zh) * 2019-07-29 2019-11-08 重庆伟鼎电子科技有限公司 Pcb导电布测试线路板

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