CN107219438A - 显示面板及其测试方法、显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种显示面板及其测试方法、显示装置。显示面板包括阵列基板，阵列基板显示区包括在第一方向和第二方向上分别交替重复排列的多个块状的第一触控电极组和第二触控电极组；非显示区设置多个测试端口、多个第一选通单元、多个第二选通单元、第一选通信号线、第二选通信号线、第一电压信号线；第一选通信号与测试端口连接，第二选通信号线与测试端口连接；第一选通单元的控制端、输入端与输出端分别与第一选通信号线、第一电压信号线、一个第一触控电极连接；第二选通单元的控制端、输入端、输出端分别与第二选通信号线、第一电压信号线、一个第二触控电极连接。本方案在优化画面品质的同时可以检测出触控引线连接不良。

Description

显示面板及其测试方法、显示装置

技术领域

本公开一般涉及显示技术，具体涉及触控显示技术，尤其涉及显示面板及其测试方法、显示装置。

背景技术

在使用自容式触控技术的显示面板中，可以将公共电极分为多个块状子公共电极。显示时，上述子公共电极作为公共电极，在触控时上述子公共电极复用为触控电极。

通常为了实现触控检测，往往在显示面板中设置与子公共电极连接的触控信号线。在触控检测时，可以由产生脉冲信号的集成电路通过触控信号线向子公共电极发送触控驱动信号，同时集成电路接收由触控信号线返回的触控检测信号，集成电路可以分析各子公共电极上的触控驱动信号与触控检测信号的差异来判断触控的位置。

如果触控信号线与子公共电极之间出现连接异常，则由上述显示面板制作出的触控显示装置将无法判断触控的位置而成为不良品，造成不必要的材料浪费。

因此，需要在触控显示面板组装前先测试触控信号线与子公共电极之间的连接是否正常。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种显示面板及其测试方法、显示装置，以解决背景技术中所述的至少部分技术问题。

第一方面，本申请提供了一种显示面板，显示面板包括阵列基板，阵列基板包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区中包括同层设置的、多个块状的第一触控电极组和第二触控电极组；第一触控电极组和第二触控电极组沿第一方向交替排列，第一触控电极组和第二触控电极组沿第二方向交替排列；多个第一触控电极组与多个第二触电极组呈阵列排布；第一触控电极组包括至少一个第一触控电极，第二触控电极组包括至少一个第二触控电极；其中，第一方向与第二方向互相垂直；非显示区中设置有多个测试端口、测试电路、第一选通信号线、第二选通信号线以及第一电压信号线；第一选通信号线的端与测试端口电连接，第二选通信号线与测试端口电连接；与第一选通信号线连接的测试端口不同于与第二选通信号线连接的测试端口；测试电路包括多个第一选通单元组和多个第二选通单元组，每个第一选通单元组包括至少一个第一选通单元，每个第二选通单元组包括至少一个第二选通单元；每个第一选通单元组与一个第一触控电极组一一对应，每个第二选通单元组与一个第二触控电极组一一对应；第一选通单元包括控制端、输入端以及输出端，第一选通单元的控制端与第一选通信号线电连接，第一选通单元的输入端与第一电压信号线电连接，第一选通单元的输出端与第一触控电极组中的一个第一触控电极电连接；第二选通单元包括控制端、输入端以及输出端，第二选通单元的控制端与第二选通信号线电连接，第二选通单元的输入端与第一电压信号线电连接，第二选通单元的输出端与第二触控电极组中的一个第二触控电极电连接。

第二方面，本申请还提供了一种显示面板的测试方法，应用于上述阵列基板，测试方法包括测试多个第一触控电极组的第一步骤和测试多个第二触控电极组的第二步骤；第一步骤包括第一测试阶段、第二测试阶段、第三测试阶段和第四测试阶段：第一测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；第二测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；第三测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；第四测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；第二步骤包括第五测试阶段、第六测试阶段、第七测试阶段和第八测试阶段：第五测试阶段，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；第六测试阶段，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；第七测试阶段，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；第八测试阶段，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；其中，第一电压信号的电压值＞第二电压信号的电压值；第三电压信号的电压值＞第四电压信号的电压值>第五电压信号的电压值。

第三方面，本申请还提供了另一种显示面板的测试方法，应用于上述的阵列基板，应用于上述阵列基板，其特征在于，测试方法包括测试多个第一触控电极组的第一步骤和测试多个第二触控电极组的第二步骤；第一步骤包括第一测试阶段、第二测试阶段、第三测试阶段和第四测试阶段：第一测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；第二测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；第三测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；第四测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；第二步骤包括第五测试阶段、第六测试阶段、第七测试阶段和第八测试阶段：第五测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；第六测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；第七测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；第八测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；其中，第一电压信号的电压值＞第二电压信号的电压值；第三电压信号的电压值＞第四电压信号的电压值>第五电压信号的电压值。

第四方面，本申请还提供了一种显示装置，包括如上的显示面板。

本申请的方案，通过在阵列基板的非显示区中设置多个测试端口、测试电路、第一选通信号线、第二选通信号线以及第一电压信号线，测试电路可以包括多个第一选通单元组和多个第二选通单元组，每个第一选通单元组包括至少一个第一选通单元，每个第二选通单元组包括至少一个第二选通单元。可以通过向第一选通信号线和第二选通信号线提供脉冲信号来控制第一选通单元组和第二选通单元组分时选通，以使第一触控电极组中的各第一触控电极和第二触控电极组中的各第二触控电极分时接通第一电压信号线。由于第一触控电极组中的第一触控电极和第二触控电极组中的第二触控电极分时通第一电压信号线，使得同一时刻第一触控电极组中的各第一触控电极上的电位和第二触控电极组中的各第二触控电极上的电位不相同。同时可以向所有数据线提供相同的电压信号以使得所有子像素对应的像素电极被提供相同的电位。这样，在同一时刻第一触控电极组对应区域的像素电极和公共电极之间的电压差与第二触控电极组对应区域的像素电极和公共电极之间的电压差不同，使得显示画面呈现亮度不相同的棋盘格画面。从而可以在显示面板在组装成显示装置前可以检测触控信号线与子公共电极的连接是否正常，有助于减小不良显示面板组装成显示装置所使用的材料，节约成本。

在一些可选的实现方式中，上述各个测试端口与测试电路分别设置在显示区相对两侧的非显示区中。第一选通信号线和第二选通信号线以及第一电压信号线可以设置在除测试端口所在区域之外的其他边框区域中，第一电压信号线可以从与测试端口所在边框相对侧的边框中与第一选通单元的输入端和第二选通单元的输入端连接。采用上述结构的显示面板组装成显示装置后，在显示画面期间，可以向第一选通信号线和第二选通信号线提供相同的选通信号，使得各第一选通单元和各第二选通单元同时选通。各个第一触控电极和各个第二触控电极通过第一选通单元和第二选通单元连接至同一公共电压信号线上。这样，各个第一触控电极和各个第二触控电极接收同一公共电压信号线上传输的公共电压信号，有助于降低各个第一触控电极和各个第二触控电极与不同的公共电压信号线连接所引起的公共电压信号的差异，可以提升显示画面的均一性。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1示出了本申请实施例提供的显示面板中的阵列基板的一种结构示意图；

图2示出了本申请实施例提供的显示面板中的阵列基板的另一种结构示意图；

图3示出了本申请实施例提供的包括图1或图2所示阵列基板的显示面板的一种测试时序示意图；

图4示出了本申请实施例提供的包括图1或图2所示阵列基板的显示面板的另一种测试时序示意图；

图5示出了本申请实施例提供的包括图1或图2所示阵列基板的一种显示面板的结构示意图；

图6示出了本申请实施例提供的一种显示装置示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

请参考图1，其示出了本申请实施例提供的显示面板中的阵列基板的一种结构示意图。

如图1所示，阵列基板100包括显示区11和围绕显示区11的非显示区12。

显示区11可以包括多个块状的第一触控电极组101和多个块状的第二触控电极组102。第一触控电极组101和第二触控电极组102沿第一方向交替排列，第一触控电极组和101第二触控电极组102沿第二方向交替排列。多个第一触控电极组101与多个第二触电极组102呈阵列排布。其中，第一方向与第二方向互相垂直。也就是说，任意一个第一触控电极组101在第一方向上和第二方向上均与第二触控电极组相邻。任意一个第二触控电极组102在第一方向上和第二方向上均与第一触控电极组101相邻。

第一触控电极组101可以包括至少一个第一触控电极106，第二触控电极组102可以包括至少一个第二触控电极107。具体地，第一触控电极组101例如可以包括一个第一触控电极106、两个第一触控电极106、三个第一触控电极106等等。第二触控电极组102中例如可以包括一个第二触控电极107、两个第二触控电极107和三个第二触控电极107等等。具体地，第一触控电极组101所包括的第一触控电极106的数量和第二触控电极组102所包括的第二触控电极107的数量可以根据测试精度、以及测试时间的要求来进行设定，此处不做限定。

非显示区12中设置有多个测试端口15、测试电路、第一选通信号线L1、第二选通信号线L2以及第一电压信号线103。第一选通信号线L1与测试端口15电连接。第二选通信号线L2与测试端口15电连接。与第一选通信号线L1连接的测试端口15不同于与第二选通信号线L2连接的测试端口15。同样的，第一电压信号线103可以与测试端口15电连接。与第一电压信号线103连接的测试端口15不同于与第一选通信号线L1连接的测试端口15，且不同于与第二选通信号线L2连接的测试端口15。上述各个测试端口15可以与电测试探针相接触。这样，电测试探针可以将测试用的第一选通信号通过与第一选通信号线L1连接的测试端口15传输至第一选通信号线L1。同样，电测试探针可以将测试用的第二选通信号通过与第二选通信号线L2连接的测试端口15传输至第二选通信号线L2。电测试探针可以将测试用的第一电压信号通过与第一电压信号线103连接的测试端口15传输至第一电压信号线103。

测试电路包括多个第一选通单元组104和多个第二选通单元组105。每个第一选通单元组104与一个第一触控电极组101一一对应，每个第二选通单元组105与一个第二触控电极组102一一对应。

每个第一选通单元组104包括至少一个第一选通单元13，每个第二选通单元组105包括至少一个第二选通单元14。

第一选通单元13包括控制端、输入端以及输出端。第一选通单元13的控制端与第一选通信号线L1电连接，第一选通单元13的输入端与第一电压信号线103的电连接。对于任意一个第一选通单元组104，其中的每个第一选通单元13的输出端与该第一选通单元组104对应的第一触控电极组101中的一个第一触控电极106电连接。同一个第一选通单元13的输出端可以不与两个以上的第一触控电极106连接。

这样，第一选通单元13可以在第一选通信号线L1上传输的第一选通信号的作用下选通，然后第一选通单元13将输入端输入的第一电压信号传输到与第一选通单元13的输出端连接的第一触控电极106。

第二选通单元14包括控制端、输入端以及输出端。第二选通单元14的控制端与第二选通信号线L2电连接，第二选通单元14的输入端与第一电压信号线103电连接，对于任意一个第二选通单元组105，其中的每个第二选通单元14的输出端与该第二选通单元组105对应的第二触控电极组102中的一个第二触控电极107电连接。同一个第二选通单元14的输出端可以不与两个以上的第二触控电极107连接。这样，第二选通单元14可以在第二选通信号线L2上传输的第二选通信号L2的作用下选通，然后第二选通单元14将输入端输入的第一电压信号传输到与第二选通单元14的输出端连接的第二触控电极107。

在本实施例中，阵列基板100的显示区11中还包括多条数据线(图中未示出)。可以通过电测试探针通过测试端口向各条数据线传输恒定电压信号。

为了检测与上述各第一触控电极组101连接的触控信号线、与各第二触控电极组102连接的触控信号线是否存在断线等异常，可以通过向第一选通信号线L1和第二选通信号线L2提供脉冲信号来控制第一选通单元组101和第二选通单元组102分时选通，以使第一触控电极组101中的各第一触控电极106和第二触控电极组102中的各第二触控电极107分时接通第一电压信号线103。由于第一触控电极组101中的第一触控电极106和第二触控电极组102中的第二触控电极107分时通第一电压信号线103，使得同一时刻第一触控电极组101中的各第一触控电极106上的电位和第二触控电极组102中的各第二触控电极107上的电位不相同。在检测时可以向所有数据线提供相同的电压信号以使得各子像素对应的像素电极被提供相同的电位。这样，在同一时刻第一触控电极组101对应区域的像素电极和公共电极之间的电压差与第二触控电极组102对应区域的像素电极和公共电极之间的电压差不同，从而使得显示画面呈现亮度不相同的棋盘格画面。可选地，上述亮度不相同的棋盘格画面可以为黑白交替的棋盘格画面。从而可以直观的观察出第一触控电极组101中的第一触控电极106的连线是否存在异常，以及第二触控电极组102中的第二触控电极107的连线是否存在异常。此处，若显示面板为液晶显示面板，则第一触控电极组101与像素电极之间形成的电场与第二触控电极组102与像素电极之间形成的电场不相同，第一触控电极组101对应区域的液晶与第二触控电极组102对应区域的液晶的旋转角度不同，从而使得液晶显示装置显示的画面中对应的第一触控电极组101的区域与对应第二触控电极组102的区域的亮度不相同。

这样，在对显示面板绑定提供显示信号的集成电路和将显示面板组装成显示装置之前，可以使用探针测试方法对显示面板中上述与各第一触控电极组中的第一触控电极和与各第二触控电极组中的第二触控电极的连线是否存在断线等异常进行测试，从而可以节省将不良显示面板组装成显示装置所消耗的集成电路以及其他材料，从而降低生产成本。

在本实施例的一些可选实现方式中，第一选通单元13可以包括第一晶体管。第一晶体管的栅极G1与第一选通单元13的控制端连接。第一晶体管的源极S1与第一选通单元13的输入端连接，第一晶体管的漏极D1与第一选通单元13的输出端连接。第二选通单元14可以包括第二晶体管。第二晶体管的栅极G2与第二选通单元14的控制端连接。第二晶体管的源极S2与第二选通单元14的输入端连接，第二晶体管的漏极D2与第二选通单元14的输出端连接。

在本实施例的一些可选实现方式中，上述各个测试端口15与测试电路分别设置在显示区11相对两侧的非显示区102中。进一步可选地，各测试端口15可以与用于向数据线传输显示信号的集成电路同侧设置。例如各测试端口15和上述集成电路可以设置在显示面板的下边框，测试电路可以设置在显示面板的上边框。这样，第一选通信号线L1和第二选通信号线L2以及第一电压信号线103可以设置在除下边框区域之外的其他边框区域中，第一电压信号线103可以从上边框与第一选通单元13的输入端和第二选通单元14的输入端连接。

采用上述结构的显示面板组装成显示装置后，在显示画面期间，可以向第一选通信号线和第二选通信号线提供相同的选通信号，使得各第一选通单元和各第二选通单元同时选通。例如可以将第一选通信号线和第二选通信号线与显示面板的集成驱动电路相连接，通过集成驱动电路向第一选通单元和第二选通单元同时提供选通信号。各个第一触控电极和各个第二触控电极通过第一选通单元和第二选通单元连接至同一公共电压信号线上。这样，各个第一触控电极和各个第二触控电极接收同一公共电压信号线上传输的公共电压信号，有助于降低由于各个第一触控电极和各个第二触控电极与不同的公共电压信号线连接所引起的公共电压信号的差异，可以提升显示画面的均一性。

在本实施例的一些可选实现方式中，在显示面板的阵列基板中，还包括多条第一触控信号线T1和多条第二触控信号线T2。第一选通单元13的输出端通过一条第一触控信号线T1与一个第一触控电极106对应连接。第二选通单元14的输出端通过一条第二触控信号线T2与一个第二触控电极107对应连接。

请参考图2，其示出了本申请实施例提供的显示面板中的阵列基板的另一种结构示意图。

与图1所示阵列基板100相同，阵列基板200包括显示区21和围绕显示区21的非显示区22。

显示区21可以包括多个块状的第一触控电极组201和多个块状的第二触控电极组202。第一触控电极组201和第二触控电极组202沿第一方向交替排列，第一触控电极组和201第二触控电极组202沿第二方向交替排列。多个第一触控电极组201与多个第二触电极组202呈阵列排布。其中，第一方向与第二方向互相垂直。

非显示区22中设置有多个测试端口25、测试电路、第一选通信号线L1、第二选通信号线L2以及第一电压信号线203。第一选通信号线L1与一个测试端口25电连接。第二选通信号线L2与一个测试端口25电连接。与第一选通信号线L1连接的测试端口25不同于与第二选通信号线L2连接的测试端口25。

测试电路包括多个第一选通单元组和多个第二选通单元组。

与图1所示阵列基板100不同的是，本实施例提供的阵列基板200中，第一触控电极组中包括一个第一触控电极201，第二触控电极组中包括一个第二触控电极202。

每个第一选通单元组包括一个第一选通单元23，每个第二选通单元组包括一个第二选通单元14。

第一选通单元23包括控制端、输入端以及输出端。第一选通单元23的控制端与第一选通信号线L1连接，第一选通单元23的输入端与第一电压信号线203电连接，每个第一选通单元23的输出端与该第一选通单元23对应的一个第一触控电极106电连接。

第二选通单元24包括控制端、输入端以及输出端。第二选通单元24的控制端与第二选通信号线L2连接，第二选通单元24的输入端与第一电压信号线203电连接，每个第二选通单元24的输出端分别与一个第二触控电极202一一对应连接。

这样，每一个第一触控电极201在第一方向和第二方向上均与一个第二触控电极202相邻，每一个第二触控电极202在第一方向和第二方向上均与一个第一触控电极201相邻。

在进行触控连线检测时，任意一个触控电极对应区域的像素电极与公共电极之间的电压差和与该触控电极相邻的触控电极与公共电极之间的电压差不同。从而使得任意一个触控电极对应区域的显示面板的画面显示亮度和与该触控电极相邻的触控电极对应区域的显示面板的画面显示亮度不相同，从而呈现亮度不相同的盘格画面。可选地，所述亮度不相同的棋盘格画面可以为黑白交替的棋盘格画面。因此，包括采用图2所示结构的阵列基板200的显示面板在进行触控信号线断路或短路的测试时，测试精度较高，可以快速的检测出发生断线异常的触控电极的位置。

请继续参考图3，其示出了本申请实施例提供的包括图1或图2所示阵列基板的显示面板的一种测试时序示意图。

如图3所示，包括图1或图2所示阵列基板的显示面板的测试方法可以包括测试多个第一触控电极组的第一步骤和测试多个第二触控电极组的第二步骤。

所述第一步骤包括第一测试阶段P1、第二测试阶段P2、第三测试阶段P3和第四测试阶段P4。

第一测试阶段P1，向第一选通信号线L1提供第一电压信号，向第二选通信号线L2提供第二电压信号，向第一电压信号线103提供第三电压信号。此处，第一电压信号例如可以是高电平信号，第二电压信号例如可以是低电平信号。第三电压信号例如可以是高电平信号，第一电压信号的幅值可以与第三电压信号的幅值不相等。在第一测试阶段P1，由于向第一选通信号线L1提供第一电压信号，这样第一选通单元在第一电压信号的控制下选通，第三电压信号由第一选通单元的输入端输入到与第一选通单元连接的第一触控信号线，再由第一触控信号线输入到与该第一触控信号线连接的第一触控电极上。此时，数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。若显示面板为液晶显示面板时，第一触控电极对应区域的液晶在第一触控电极上的第三电压信号和由数据线Data输入到像素电极上的恒定电压信号形成的电场的作用下旋转，从而，第一触控电极对应区域的显示面板显示的画面呈现白色画面。同时，由于第二选通信号线L2上传输的是第二电压信号，第二选通单元截止，第一电压信号线103上传输的第三电压信号无法由第二选通单元传输到与第二选通单元连接的第二触控电极上。

第二测试阶段P2，向第一选通信号线L1提供第二电压信号，向第二选通信号线L2提供第一电压信号，向第一电压信号线103提供第四电压信号。可选地，第四电压信号和数据线Data上的电压相同，例如，第四电压信号可以为零伏电位。在第二测试阶段P2，由于第二电压信号为低电平信号，因此，第一选通单元截止。这样，第一电压信号线103上传输的第四电压信号无法传输到与第一选通信号连接的第一触控电极上。第一触控电极对应区域的液晶在第一阶段结束时被旋转了一定角度，在第二阶段，由于没有外加电场，液晶在短时间内可以保持在第一阶段时的状态，因此在第二阶段，第一触控电极对应区域的显示面板显示的画面仍然呈现白色画面。同时，由于第二选通信号线L2上传输第一电压信号，第二选通单元选通，第三电压信号线103上传输的第四电压信号由第二选通单元的输入端传输到第二选通单元的输出端，再由与第二选通单元的输出端连接的第二触控信号线L2传输到与其连接的第二触控电极上。此时，数据线Data上仍然可以传输恒定电压，例如为零伏电位。由于第四电压信号为零伏电位，当显示面板为液晶显示面板时，由第二触控电极上的第四电压信号与像素电极上的恒定电压之间的电压差为零，无法驱动液晶旋转，因此，在第二测试阶段，第二触控电极对应区域的显示面板所显示画面为黑色画面。因此，在第二阶段，第一触控电极组对应的显示面板的显示画面为白色画面，第二触控电极组对应的显示面板的显示画面为黑色画面。这样一来，在第二测试阶段，第一触控电极组所对应的显示面板的显示画面与第二触控电极组所对应的画面呈现黑白相间的现象。

第三测试阶段P3，向第一选通信号线L1提供第一电压信号，向第二选通信号线L2提供第二电压信号，向第一电压信号线103提供第五电压信号。第五电压信号可以为低电平信号。第五电压信号的幅值可以与第二电压信号的幅值不相等。

在第三测试阶段，由于向第一选通信号线L1提供第一电压信号，第一选通单元选通，第一电压信号线103上传输的第五电压信号由第一选通单元的输入端传输到第一选通单元的输出端，再由与第一选通单元连接的第一触控信号线传输到第一触控电极。此时，数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。若显示面板为液晶显示面板时，第一触控电极对应区域的液晶在第一触控电极上的第五电压信号和由数据线Data输入到像素电极上的恒定电压信号形成的电场的作用下旋转，从而，第一触控电极对应区域的显示面板显示的画面为白色画面。同时，由于第二选通信号线L2传输的是第二电压信号，第二选通单元截止，第一电压信号线103上传输的第五电压信号无法由第二选通单元传输到与第二选通单元连接的第二触控电极上。因此，第二触控电极对应显示面板的显示画面为黑色画面。这样，第三测试阶段时第一触控电极组所对应的显示面板的显示画面与第二触控电极组所对应的画面呈现黑白相间的现象。这样，在第三测试阶段，第一触控电极组所对应的显示面板的显示画面与第二触控电极组所对应的画面呈现黑白相间的现象。

第四测试阶段P4，向第一选通信号线L1提供第二电压信号，向第二选通信号线L2提供第一电压信号，向第一电压信号线103提供第四电压信号。数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。

同第二测试阶段的分析，在第四测试阶段，第一触控电极组对应的显示面板的显示画面为白色画面，第二触控电极组对应的显示面板的显示画面为黑色画面。这样，在第四测试阶段，第一触控电极组所对应的显示面板的显示画面与第二触控电极组所对应的画面呈现黑白相间的现象。

第二步骤包括第五测试阶段、第六测试阶段、第七测试阶段和第八测试阶段。

第五测试阶段P5，向第二选通信号线L2提供第一电压信号，向第一选通信号线L1提供第二电压信号，向第一电压信号线103提供第三电压信号。同上，数据线Data上所输入的信号可以为一个恒定电压信号，例如为零伏电位。

请参考第一测试阶段，在第五测试阶段，第二触控电极组所对应的显示面板的显示画面为白色画面。

第六测试阶段P6，向第二选通信号线L2提供第二电压信号，向第一选通信号线L1提供第一电压信号，向第一电压信号线103提供第四电压信号。同上，数据线Data上所输入的信号可以为一个恒定电压信号，例如为零伏电位。

请参考第二测试阶段，在第六测试阶段，第一触控电极组和第二触控电极组所对的显示面板的显示画面呈现黑白相间的现象。

第七测试阶段P7，向第二选通信号线L2提供第一电压信号，向第一选通信号线L1提供第二电压信号，向第一电压信号线103提供第五电压信号。数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。

请参考第三测试阶段，在第七测试阶段，第二触控电极组所对应的显示面板区域的显示画面为白色画面，第一触控电极组所对应的显示面板区域的显示画面为黑色画面，整个显示面板的显示画面呈现黑白相间的现象。

第八测试阶段P8，向第二选通信号线L2提供第二电压信号，向第一选通信号线L1提供第一电压信号，向第一电压信号线103提供第四电压信号。数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。

请参考第四测试阶段，在第八测试阶段，第一触控电极组和第二触控电极组所对的显示面板的显示画面呈现黑白相间的现象。

在本实施例中，第一电压信号的电压值＞第二电压信号的电压值；第三电压信号的电压值＞第四电压信号的电压值>第五电压信号的电压值。

请继续参考图4，其示出了本申请实施例提供的包括图1或图2所示阵列基板的显示面板的另一种测试时序示意图。

与图3所示测试时序300相同，如图4所示，包括图1或图2所示阵列基板的显示面板测试400测试方法可以包括测试多个第一触控电极组的第一步骤和测试多个第二触控电极组的第二步骤。

第一步骤包括第一测试阶段P1、第二测试阶段P2、第三测试阶段P3和第四测试阶段P4。

第一步骤所包括的第一测试阶段P1、第二测试阶段P2、第三测试阶段P3和第四测试阶段P4与图3所示测试时序300完全相同，此处不赘述。

与图3所示测试时序300不相同的是第二步骤所包括的第五测试阶段P5、第六测试阶段P6、第七测试阶段P7和第八测试阶段P8。

具体地，如图4所示，第五测试阶段P5，向第一选通信号线L1提供第一电压信号，向第二选通信号线L2提供第二电压信号，向第一电压信号线103提供第四电压信号。数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。

在第五测试阶段，向第一选通信号线L1提供第一电压信号，向第二选通信号线L2提供第二电压信号，向第一电压信号线103提供第四电压信号。此处，第一电压信号例如可以是高电平信号，第二电压信号例如可以是低电平信号。第四电压信号和数据线Data上的电压相同，例如，第四电压信号可以为零伏电位。第一选通单元选通，第四电压信号输入到第一触控电极上。由于第四电压信号和数据线Data上的电压相同，第一触控电极组对应的显示面板显示黑色。同时，第二选通单元截止，第一电压信号线103上传输的第四电压信号无法由第二选通单元传输到与第二选通单元连接的第二触控电极上。

第六测试阶段P6，向第一选通信号线L1提供第二电压信号，向第二选通信号线L2提供第一电压信号，向第一电压信号线103提供第三电压信号。数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。此时，第二选通单元选通，第三电压信号输入到第二触控电极上。由于第三电压信号和数据线Data上的电压不同，例如，第三电压信号为高电平，数据线Data为零伏电位，第二触控电极组对应的显示面板显示白色。第一触控电极组和第二触控电极组所对的显示面板的显示画面呈现黑白相间的现象。

同理，第七测试阶段P7，向第一选通信号线L1提供第一电压信号，向第二选通信号线L2提供第二电压信号，向第一电压信号线103提供第四电压信号。数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。第二触控电极组所对应的显示面板区域的显示画面为白色画面，第一触控电极组所对应的显示面板区域的显示画面为黑色画面，整个显示面板的显示画面呈现黑白相间的现象。

第八测试阶段P8，向第一选通信号线L1提供第二电压信号，向第二选通信号线L2提供第一电压信号，向第一电压信号线103提供第五电压信号。数据线Data上所输入的信号可以一个恒定电压信号。第一触控电极组和第二触控电极组所对的显示面板的显示画面呈现黑白相间的现象。

本实施例提供的显示面板的测试时序，可以将第二步骤中向第一电压信号线提供信号的时间相比第一步骤中向第一电压信号线提供信号的时间之间相差(1/2)×T，(T为第一选通信号线输出脉冲信号的周期)来完成整个显示面板的触控电极的测试，相比于图3所示的显示面板的测试时序，可以简化测试操作，从而减少测试显示面板所用的时间。

请参考图5，其示出了本申请实施例提供的包括图1或图2所示阵列基板的一种显示面板的结构示意图。如图5所示，显示面板500可以为液晶显示面板。显示面板500包括如图1或图2所示的阵列基板41，与阵列基板41相对设置的彩膜基板42。阵列基板41上设有多个第一触控电极组411、多个第二触控电极组412，第一选通信号线44、第二选通信号线45、第一电压信号线43、第一选通单元组46和第二选通单元组47。第一触控电极组411至少包括一个第一触控电极，第二触控电极组412至少包括一个第二触控电极。在显示面板上设置集成电路48后，第一选通信号线44、第二选通信号线45以及第一电压信号线43分别可以和集成电路48连接。可以由集成电路48向第一选通信号线44和第二选通信号线45发送相同的脉冲信号，使得第一选通单元组46中的各第一选通单元和第二选通单元组47中的各第二选通单元同时选通，第一电压信号线43上传输的公共电压信号由选通的第一选通单元和第二选通单元传输到各个第一触控电极和各个第二触控电极，这样可以降低各个第一触控电极和各个第二触控电极上传输的公共电压信号的差异性，可以提高显示面板500的显示画面的整体均匀性。

当有用户用手指触摸显示面板500的任意位置时，触控点附近的第第一触控电极或第二触控电极与手指之间形成的电容会引起触控点附近的第一触控电极或第二触控电极上的脉冲信号的变化，可以根据第一触控电极和第二触控电极之上的脉冲信号的变化来检测触控发生的位置。在显示期间，第一触控电极和第二触控电极复用为公共电极，为显示面板显示图像提供公共电压信号。

本领域技术人员可以理解，本申请的显示面板可以为液晶显示面板，也可以为有机发光显示面板。还可以为其他类型的显示面板，本实施例对此不作特殊限定。

当本申请的显示面板为液晶显示面板时，除包括如上公开的阵列基板、与阵列基板对置的彩膜基板之外，还可以包括其他公知的结构，例如成于阵列基板和彩膜基板之间的液晶层以及间隔柱。为了不模糊本申请的重点，将不再对这些公知的结构进行进一步的描述。

需要说明的是，本申请显示面板为有机发光显示面板时，在显示时，第一触控电极和第二触控电极可以复用为阴极。

请参考图6，其示出了本申请实施例提供的一种显示装置示意图。如图6所示，显示装置600为手机，该显示装置600包括如上所述的显示面板。此外，本领域技术人员可以明白，本申请的显示装置除了包括显示面板之外，还可以包括其它的一些公知的结构，例如当显示装置为液晶显示装置时，还包括用于向显示面板提供背光源的背光单元。为了不模糊本申请的重点，将不再对这些公知的结构进行进一步的描述。需要说明的是，本申请显示装置不限于图6所示的手机，还可以为电脑，电视机，智能穿戴等装置。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (11)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区和围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区中包括同层设置的、多个块状的第一触控电极组和第二触控电极组；所述第一触控电极组和第二触控电极组沿第一方向交替排列，所述第一触控电极组和第二触控电极组沿第二方向交替排列；多个所述第一触控电极组与多个所述第二触电极组呈阵列排布；所述第一触控电极组包括至少一个第一触控电极，所述第二触控电极组包括至少一个第二触控电极；其中，所述第一方向与所述第二方向互相垂直；

所述非显示区中设置有多个测试端口、测试电路、第一选通信号线、第二选通信号线以及第一电压信号线；所述第一选通信号线的端与所述测试端口电连接，所述第二选通信号线与所述测试端口电连接；与所述第一选通信号线连接的测试端口不同于与所述第二选通信号线连接的测试端口；

所述测试电路包括多个第一选通单元组和多个第二选通单元组，每个第一选通单元组包括至少一个第一选通单元，每个第二选通单元组包括至少一个第二选通单元；每个第一选通单元组与一个第一触控电极组一一对应，每个第二选通单元组与一个第二触控电极组一一对应；

所述第一选通单元包括控制端、输入端以及输出端，所述第一选通单元的控制端与所述第一选通信号线电连接，所述第一选通单元的输入端与所述第一电压信号线电连接，所述第一选通单元的输出端与所述第一触控电极组中的一个第一触控电极电连接；

所述第二选通单元包括控制端、输入端以及输出端，所述第二选通单元的控制端与所述第二选通信号线电连接，所述第二选通单元的输入端与所述第一电压信号线电连接，所述第二选通单元的输出端与所述第二触控电极组中的一个第二触控电极电连接。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一触控电极组包括一个第一触控电极，所述第二触控电极组包括一个第二触控电极。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述第一选通单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述第一选通单元的控制端连接；所述第一晶体管的源极与所述第一选通单元的输入端连接；所述第一晶体管的漏极与所述第一选通单元的输出端连接；

所述第二选通单元包括第二晶体管；所述第二晶体管的栅极与所述第二选通单元的控制端连接；所述第二晶体管的源极与所述第二选通单元的输入端连接；所述第二晶体管的漏极与所述第二选通单元的输出端连接。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括多条第一触控信号线和多条第二触控信号线；

所述第一选通单元的输出端通过一条所述第一触控信号线与一个所述第一触控电极对应连接；

所述第二选通单元的输出端通过一条所述第二触控信号线与一个所述第二触控电极对应连接。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试端口与所述测试电路分别设置在所述显示区相对两侧的非显区中。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板为液晶显示面板，

所述第一触控电极和第二触控电极复用为公共电极。

7.根据权利要求1-5任意一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板为有机发光显示面板；

所述第一触控电极和所述第二触控电极复用为阴极。

8.一种显示面板的测试方法，应用于如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，测试方法包括测试多个第一触控电极组的第一步骤和测试多个第二触控电极组的第二步骤；

所述第一步骤包括第一测试阶段、第二测试阶段、第三测试阶段和第四测试阶段：

第一测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；

第二测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

第三测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；

第四测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

所述第二步骤包括第五测试阶段、第六测试阶段、第七测试阶段和第八测试阶段：

第五测试阶段，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；

第六测试阶段，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

第七测试阶段，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；

第八测试阶段，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

其中，第一电压信号的电压值＞第二电压信号的电压值；

第三电压信号的电压值＞第四电压信号的电压值>第五电压信号的电压值。

9.根据权利要求8所述的显示面板的测试方法，其特征在于，在测试多个第一触控电极组的第一步骤之后，测试多个第二触控电极组的第二步骤之前，所述方法还包括：

向第一选通信号和第二选通信号同时提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号。

10.一种显示面板的测试方法，应用于如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，测试方法包括测试多个第一触控电极组的第一步骤和测试多个第二触控电极组的第二步骤；

所述第一步骤包括第一测试阶段、第二测试阶段、第三测试阶段和第四测试阶段：

第一测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；

第二测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

第三测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；

第四测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

所述第二步骤包括第五测试阶段、第六测试阶段、第七测试阶段和第八测试阶段：

第五测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

第六测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第三电压信号；

第七测试阶段，向第一选通信号线提供第一电压信号，向第二选通信号线提供第二电压信号，向第一电压信号线提供第四电压信号；

第八测试阶段，向第一选通信号线提供第二电压信号，向第二选通信号线提供第一电压信号，向第一电压信号线提供第五电压信号；

其中，第一电压信号的电压值＞第二电压信号的电压值；

第三电压信号的电压值＞第四电压信号的电压值>第五电压信号的电压值。

11.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括如权利要求1-7任意一项所述的显示面板。