CN104360774B - 一种触控面板及进行触控检测的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种触控面板以及进行触控检测的方法，用以解决现有技术中触控面板中将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时驱动负载过大的问题。该触控面板包括：衬底基板，多个在衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极，该公共电极包括具有梳状结构相互咬合且彼此绝缘的第一公共电极和第二公共电极，其中，第一公共电极和第二公共电极包括多个梳齿，每个梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠。通过该技术方案降低了触控面板中特别是双栅像素结构的触控面板将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时的驱动负载。

Description

一种触控面板及进行触控检测的方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种触控面板以及进行触控检测的方法。
背景技术
近年来随着显示技术的飞速发展，通过在诸如液晶显示装置的显示装置上安装触控面板或将触控面板与显示装置一体化并代替通常的机械式按钮而将各种按钮图像等显示在显示装置上，使得能够输入信息的显示装置引起了关注。由于触控面板的显示装置不需要诸如键盘、鼠标以及小键盘的输入装置，因此，这种显示装置的使用还趋于扩展应用到诸如移动电话等便携式信息终端。
现有技术中触控面板通常情况下，将公共电极复用为触控电极进行驱动操作，如图1所示，包括公共电极1和感应电极2，其中，针对现有技术中触控面板进行触控检测的方法为：沿栅线方向对整个公共电极依次进行驱动，在对每个公共电极进行驱动操作的同时，对覆盖相同像素的感应电极进行检测。由于现有技术中在每次驱动时都是对整个公共电极进行驱动操作，因此容易导致驱动的负载过大。
综上所述，目前针对现有技术中的触控面板，特别是双栅结构的触控面板中将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时的驱动负载过大。
发明内容
本发明实施例提供一种触控面板以及进行触控检测的方法，用以解决现有技术中的触控面板中将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时的驱动负载过大的问题。
本发明实施例提供了一种触控面板，包括：
衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；
多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；
所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；
所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠。
由于将公共电极分为具有梳状结构且相互咬合、彼此绝缘的两部分，使得每次驱动的公共电极所对应的负载(如电容负载、电阻负载等)降低，从而解决了现有技术中的触控面板中将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时的驱动负载过大的问题。
较佳地，沿第二方向延伸的第二触控电极，其中，所述第二方向与所述第一方向相交。
较佳地，所述亚像素区域包括第一亚像素区域和第二亚像素区域；
所述第一梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个所述第一亚像素区域交叠，所述第二梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个所述第二亚像素区域交叠。
较佳地，所述第一亚像素区域和所述第二亚像素区域沿所述第一方向交替排列；
每一所述第一梳齿在衬底基板上的正投影与一个所述第一亚像素区域交叠，每一所述第二梳齿在衬底基板上的正投影与一个所述第二亚像素区域交叠。
较佳地，所述第一亚像素区域包括两个第一亚像素电极，所述第二亚像素区域包括两个第二亚像素电极，所述触控面板还包括：
多条第一扫描线、第二扫描线和多条数据线；
所述第一亚像素电极耦接所述第一扫描线，所述第二亚像素电极耦接所述第二扫描线；
两个所述第一亚像素电极与两个所述第二亚像素电极沿所述第一方向交替排列，其中，相邻的所述第一亚像素电极与所述第二亚像素电极耦接同一数据线。
较佳地，所述第一亚像素区域包括一个第一亚像素电极，所述第二亚像素区域包括一个第二亚像素电极，所述触控面板还包括：
多条第一扫描线、第二扫描线和多条数据线；
所述第一亚像素电极耦接所述第一扫描线，所述第二亚像素电极耦接所述第二扫描线；
所述第一亚像素电极和所述第二亚像素电极沿所述第一方向交替排列，每条所述数据线耦接相邻的所述第一亚像素电极与所述第二亚像素电极。。
较佳地，所述第一亚像素区域和所述第二亚像素区域沿所述第二方向交替排列。
较佳地，所述触控面板还包括：
与所述第一公共电极电连接的第一金属线，以及与所述第二公共电极电连接的第二金属线。
由于分别在第一公共电极和第二公共电极设置电连接的金属线，从而降低了第一公共电极和第二公共电极的电阻，进一步降低了的驱动的负载。
本发明实施例提供了一种进行触控检测的方法，其中，触控面板包括：衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠；沿第二方向延伸的第二触控电极，其中，所述第二方向与所述第一方向相交，该方法包括：
驱动所述第一公共电极或所述第二公共电极；
在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对所述第一公共电极或所述第二公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测。
由于将公共电极分为具有梳状结构且相互咬合、彼此绝缘的两部分，使得每次驱动的公共电极所对应的负载(如电容负载、电阻负载等)降低，从而解决了现有技术中的双栅像素结构的触控面板中将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时的驱动负载过大的问题。
较佳地，在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对所述第一公共电极或所述第二公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，包括：
在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对部分或全部所述与第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极或与第二公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极进行检测。
较佳地，驱动所述第一公共电极或所述第二公共电极，包括：
按照第二方向依次驱动所述第一公共电极和所述第二公共电极中的一个，再驱动所述第一公共电极和所述第二公共电极中的另一个，直至驱动完所有的所述第一公共电极和所述第二公共电极。
较佳地，驱动所述第一公共电极或所述第二公共电极，包括：
按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，在所有的所述第一公共电极驱动完后，按照所述第二方向依次驱动所述第二公共电极，直至驱动完所有的所述第二公共电极。
较佳地，驱动所述第一公共电极，以及在对所述第一公共电极驱动的同时，对所述第一公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，包括：
按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，同时对部分或全部所述与第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的所述第二触控电极进行检测；
在所有的所述第一公共电极驱动完后，通过检测所述第二触控电极获得初步坐标。
较佳地，驱动所述第二公共电极，以及在对所述第二公共电极驱动的同时，对所述第二公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，包括：
若通过检测所述第二触控电极获得所述初步坐标，则按照所述第二方向依次驱动所述第二公共电极，获得准确坐标；或
若通过检测所述第二触控电极获得所述初步坐标，则根据获得的所述初步坐标确定驱动范围，并在所述驱动范围内按照所述第二方向依次驱动所述第二公共电极，获得准确坐标。
由于通过驱动第一公共电极的基础上通过对所述第二触控电极进行检测，获得初步坐标，在初步坐标的范围内驱动第二公共电极，从而减小了驱动的范围，提高了对第二触控电极检测的准确性。
较佳地，按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，同时对所述第一公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，在所有的所述第一公共电极驱动完后，该方法还包括：
若通过检测所述第二触控电极没有获得所述初步坐标，则返回按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极的步骤。
本发明实施例提供了一种进行触控检测的方法，其中，触控面板包括：衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠；
该方法包括：
驱动部分或全部所述第一公共电极，并在驱动部分或全部所述第一公共电极结束后，检测所述驱动的部分或全部所述第一公共电极；以及
驱动部分或全部所述第二公共电极，并在驱动部分或全部所述第二公共电极结束后，检测所述驱动的部分或全部所述第二公共电极。
由于将公共电极分为具有梳状结构且相互咬合、彼此绝缘的两部分，使得每次驱动的公共电极所对应的负载(如电容负载、电阻负载等)降低，解决了现有技术中的双栅像素结构的触控面板中将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时的驱动负载过大的问题。
附图说明
图1为现有技术中的触控面板示意图；
图2(a)为本发明实施例提供的一种触控面板示意图；
图2(b)为本发明实施例提供的一种触控面板公共电极示意图；
图3为本发明提供的另一种触控面板示意图；
图4(a)为本发明实施例提供的另一种触控面板的公共电极示意图；
图4(b)为本发明实施例提供的再一种触控面板的公共电极示意图；
图4(c)为本发明实施例提供的再一种触控面板的公共电极示意图；
图4(d)为本发明实施例提供的再一种触控面板的公共电极示意图；
图4(e)为本发明实施例提供的再一种触控面板的公共电极示意图；
图5为本发明实施例提供的再一种触控面板的示意图；
图6为本发明实施例提供的再一种触控面板的示意图；
图7为本发明实施例提供的再一种触控面板的公共电极示意图；
图8(a)为本发明实施例提供一种触控面板的公共电极金属线的设置方式示意图；
图8(b)为本发明实施例提供的另一种触控面板的公共电极金属线的设置方式示意图；
图9为本发明实施例提供的一种触控检测的方法流程示意图；
图10为本发明实施例提供的一种触控面板示意图；
图11为本发明实施例提供的另一种触控检测的方法流程示意图；
图12为为本发明实施例提供的另一种控面板的公共电极示意图。
具体实施方式
本发明实施例提供的一种触控面板，包括：衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；多个在衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；其中，该公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且第一公共电极和第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；第一公共电极包括多个第一梳齿，每个第一梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及第二公共电极包括多个第二梳齿，每个第二梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠。这种技术方案由于将公共电极分为具有梳状结构且相互咬合、彼此绝缘的两部分，使得每次驱动的公共电极所对应的负载(如电容负载、电阻负载等)降低，从而解决了现有技术中的触控面板在触控检测中对整个公共电极进行驱动操作而导致的驱动负载过大的问题。
下面结合说明书附图对本发明实施例作进一步详细描述。
如图2(a)所示，本发明提供的一种触控面板，包括：
衬底基板200，包括多个呈阵列排布的亚像素区域201；
多个在衬底基板200上的正投影与至少一行亚像素区域201交叠的公共电极202；
公共电极202沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极203和具有梳状结构的第二公共电极204，且第一公共电极203和第二公共电极204相互咬合且彼此绝缘；
第一公共电极203包括多个第一梳齿205，每个第一梳齿205在衬底基板200上的正投影与至少一个亚像素区域201交叠，以及第二公共电极204包括多个第二梳齿206，每个第二梳齿206在衬底基板200上的正投影与至少一个亚像素区域201交叠。
在图2(a)的示意图中，亚像素区域201中仅包括一个亚像素，但亚像素区域不仅限于包括一个亚像素，也可以包括两个或多个亚像素。由于公共电极202位于衬底基板200的上层，也就是亚像素区域201的上层，也就是说亚像素被公共电极遮挡了，因此在图2(a)中将亚像素的外框用虚线进行示意，其他图中与此相同。
其中，当第一方向为衬底基板中数据线的方向时，第二方向为衬底基板中栅线的方向；当第一方向为衬底基板中栅线的方向时，第二方向为衬底基板中的数据线的方向。
图2(b)为一个公共电极202的示意图，包括第一公共电极203和第二公共电极204。
如图3所示，本发明具体实施例中的触控面板具体可以包括衬底基板200和/或彩膜基板300，以及位于衬底基板200和彩膜基板300之间的液晶层301，在具体设计时，可以将公共电极复用做Vcom信号的传输电极和TP信号的驱动或感应电极，其公共电极的具体位置根据触控面板的不同显示模式而改变，例如，当触控面板的显示模式为TN模式时，公共电极在此种模式下位于彩膜基板300朝向衬底基板200的一侧302上；当触控面板的显示模式为IPS或FFS模式时，公共电极在此种模式下位于衬底基板200朝向彩膜基板300的一侧303上。
较佳地，还包括：
沿第二方向延伸的第二触控电极，其中，所述第二方向与所述第一方向相交。
在第一触控电极和第二触控电极间形成互电容。
较佳地，所述亚像素区域201包括第一亚像素区域和第二亚像素区域；
所述第一梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个所述第一亚像素区域交叠，所述第二梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个所述第二亚像素区域交叠。
如图4(a)、4(b)、4(c)、4(d)所示，当亚像素R、G、B沿第一方向依次排列时，亚像素区域包括一个亚像素时，第一梳齿和第二梳齿在衬底基板上的正投影与亚像素区域相交叠的不同情况，当亚像素区域包括两个或多个亚像素时的情况一亚像素区域包括一个亚像素时的情况类似，在此不再赘述。
如图4(a)所示，第一公共电极201和第二公共电极202的每个梳齿在衬底基板上的正投影第二方向上分别与两个的亚像素区域相交叠的情况。此时第一亚像素区域为与第一公共电极201的每个梳齿在衬底基板上的正投影在第二方向上交叠的一个亚像素区域，第二亚像素区域为与第二公共电极202的每个梳齿在衬底基板上的正投影在第二方向上交叠的一个亚像素区域。
如图4(b)所示，第一公共电极201和第二公共电极202的每个梳齿在衬底基板上的正投影在第一方向上分别与两个亚像素区域相交叠的情况，此时与第一公共电极201的每个梳齿在衬底基板上的正投影相交叠的一个亚像素区域为第一亚像素区域，与第二公共电极202的每个梳齿在衬底基板上的正投影相交叠的一个亚像素区域为第二亚像素区域。
第一公共电极201和第二公共电极202的梳齿在衬底基板上的正投影在第一方向和第二方向分别与相同个数的亚像素区域相交叠，如图4(c)所示，在第一方向和第二方向分别与两个亚像素区域相交叠的情况，也可以与两个以上的亚像素区域相交叠。
其中，上述情况为梳齿在衬底基板上的正投影与亚像素区域相交叠规则的情况，第一公共电极201和第二公共电极202的梳齿在衬底基板上的正投影也可以为不规则的与亚像素区域相交叠，如图4(d)所示，只要满足第一公共电极201和第二公共电极202的梳齿在衬底基板上的正投影至少与一个亚像素区域相交叠即可。
当亚像素为R、G、B、W时，其排列方式如图4(e)所示，以亚像素区域包括一个亚像素为例进行相关说明，第一公共电极201和第二公共电极202的梳齿在衬底基板上的正投影与亚像素区域相交叠的情况与亚像素为R、G、B时第一公共电极201和第二公共电极202的梳齿在衬底基板上的正投影与亚像素区域相交叠的情况类似，图4(e)为亚像素为R、G、B、W时，第一公共电极201和第二公共电极202的梳齿在衬底基板上的正投影不规则的覆盖亚像素区域的情况的一种。
较佳地，所述第一亚像素区域和所述第二亚像素区域沿所述第一方向交替排列；
每一所述第一梳齿在衬底基板上的正投影与一个所述第一亚像素区域交叠，每一所述第二梳齿在衬底基板上的正投影与一个所述第二亚像素区域交叠。
较佳地，所述第一亚像素区域包括两个第一亚像素电极，所述第二亚像素区域包括两个第二亚像素电极，所述触控面板还包括：
多条第一扫描线、第二扫描线和多条数据线；
所述第一亚像素电极耦接所述第一扫描线，所述第二亚像素电极耦接所述第二扫描线；
两个所述第一亚像素电极与两个所述第二亚像素电极沿所述第一方向交替排列，其中，相邻的所述第一亚像素电极与所述第二亚像素电极耦接同一数据线。
如图5所示，数据线500耦接相邻的第一亚像素电极503和第二亚像素电极504，第一扫描线501耦接第一亚像素电极503，第二扫描线502耦接第二亚像素电极504，其中第一亚像素区域包括两个第一亚像素电极503，第二亚像素区域包括两个第二亚像素电极504。
较佳地，所述第一亚像素区域包括一个第一亚像素电极，所述第二亚像素区域包括一个第二亚像素电极，所述触控面板还包括：
多条第一扫描线、第二扫描线和多条数据线；
所述第一亚像素电极耦接所述第一扫描线，所述第二亚像素电极耦接所述第二扫描线；
所述第一亚像素电极和所述第二亚像素电极沿所述第一方向交替排列，每条所述数据线耦接相邻的所述第一亚像素电极与所述第二亚像素电极。
耦接为通过开关器件(如薄膜晶体管)进行电连接，即开关器件的栅极与扫描线电连接，开关器件的第一极与数据线电连接，开关器件的第二极与像素电极电连接。这样，当栅极线控制开关器件开启时，数据线可以将信号输入像素电极。
如图6所示，第一亚像素电极503和第二亚像素电极504沿第一方向交替排列，数据线500耦接相邻的第一亚像素电极503和第二亚像素电极504，第一扫描线501耦接第一亚像素电极503，第二扫描线502耦接第二亚像素电极504，其中第一亚像素区域包括一个第一亚像素电极503，第二亚像素区域包括一个第二亚像素电极504。
较佳地，所述第一亚像素区域和所述第二亚像素区域沿所述第二方向交替排列。
如图7所示，每个亚像素区域仅包括一个亚像素的情况，第一方向和第二方向上的亚像素区域交替排列，第一公共电极和第二公共电极的梳齿在衬底基板上的正投影分别与一个亚像素区域相交叠。
其中，第一亚像素的电压极性与第二亚像素的电压极性不同，例如当第一亚像素的电压极性为正时，第二亚像素的电压极性为负；当第一亚像素的电压极性为负时，第二亚像素的电压极性为正。因此，当第一亚像素和第二亚像素在第一方向和第二方向交替排列时，即可实现对相邻像素的正负极性改变，从而实现点反转，降低了功耗。
由于将公共电极分为具有梳状结构且相互咬合、彼此绝缘的两部分，使得在驱动时能够先驱动公共电极的一部分，再驱动另一部分，从而降低了驱动的负载，解决了现有技术中的双栅像素结构的触控面板中将公共电极复用为触控电极进行驱动操作时的驱动负载过大的问题。
较佳地，所述触控面板还包括：
与所述第一公共电极电连接的第一金属线，以及与所述第二公共电极电连接的第二金属线。
连接方式如图8(a)和图8(b)所示，但不限于图8(a)和图8(b)所示的情况，能够使得第一公共电极和第二公共电极电连接一根金属线即可，不限于连接的形式。
由于分别在第一公共电极和第二公共电极设置电连接的金属线，从而降低了第一公共电极和第二公共电极的电阻，进一步降低了的驱动的负载。
如图9所示，本发明实施例提供一种触控检测的方法，触控面板包括：衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠；沿第二方向延伸的第二触控电极，其中，所述第二方向与所述第一方向相交；
该方法包括：
步骤900，驱动所述第一公共电极或所述第二公共电极；
步骤901，在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对所述第一公共电极或所述第二公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测。
需要说明的是，第一公共电极对应的第二触控电极为与第一公共电极在衬底基板正投影在同一亚像素区域的第二触控电极，第一公共电极与对应的第二触控电极形成电容，第二公共电极对应的第二触控电极为与第二公共电极在衬底基板正投影在同一亚像素区域的第二触控电极，第二公共电极与对应的第二触控电极形成互电容。
对于驱动第一公共电极或第二公共电极的方式包括两类：
第一类方式为：
按照第二方向依次驱动所述第一公共电极和所述第二公共电极中的一个，再驱动所述第一公共电极和所述第二公共电极中的另一个，直至驱动完所有的所述第一公共电极和所述第二公共电极。
如图10所示，该触控面板有3个公共电极，其中，a、b分别为公共电极的第一公共电极和第二公共电极。当驱动方式为第一类方式时，包括两种驱动方式：
一、按第二方向可以交替驱动第一公共电极和第二公共电极，如依次驱动a、b、a、b、a、b或b、a、b、a、b、a，
二、也可以不交替驱动，如按第二方向先驱动第一公共电极，再驱动第二公共电极，然后驱动下一个公共电极中的第二公共电极，再驱动第一公共电极，无规律的进行驱动，直至驱动完所有的第一公共电极和第二公共电极，如a、b、b、a、a、b或其它形式。
第二类方式为：
按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，在所有的所述第一公共电极驱动完后，按照所述第二方向依次驱动所述第二公共电极，直至驱动完所有的所述第二公共电极。
以图10为例进行说明，驱动方式为第二类时，按驱动顺序的不同将驱动方式分为两种：
一、驱动的顺序为a、a、a、b、b、b；
二、驱动的顺序为b、b、b、a、a、a。
当驱动方式为第一类时，其检测方式有两种：
一、对部分所述与第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极或与第二公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极进行检测。
以图10为例进行相关说明，1＇、3＇、5＇、7＇为a的梳齿对应的感应电极，2＇、4＇、6＇为b的梳齿对应的感应电极。当驱动a时，只对感应电极1＇、3＇、5＇、7＇进行检测，驱动b时，对2＇、4＇、6＇进行检测。
二、对全部所述与第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极或与第二公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极进行检测。
以图10为例，当驱动a时，对1＇、2＇、3＇、4＇、5＇、6＇、7＇进行检测，当驱动b时，对1＇、2＇、3＇、4＇、5＇、6＇、7＇进行检测。
当驱动方式为第二类时，其检测方式有五种：
一、在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对全部所述与第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极或与第二公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极进行检测。
以图10为例进行相关说明，驱动的顺序为a、a、a、b、b、b时，分别对1＇、2＇、3＇、4＇、5＇、6＇、7＇进行检测。
二、在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对部分所述与第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极或与第二公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极进行检测。
以图10为例，驱动的顺序为a、a、a、b、b、b时，驱动a时对1＇、3＇、5＇、7＇进行检测，驱动b时，对2＇、4＇、6＇进行检测。
三、按照第二方向依次驱动第一公共电极，同时对第一公共电极对应的全部或部分第二触控电极进行检测，在所有的第一公共电极驱动完后，通过检测第二触控电极获得初步坐标作为准确坐标。
以图10为例，驱动的顺序为a、a、a、b、b、b时，驱动a时对1＇、3＇、5＇、7＇进行检测，获得初步坐标作为准确坐标，不再对2＇、4＇、6＇进行检测。
四、若通过检测第二触控电极获得初步坐标，则按照第二方向依次驱动第二公共电极，获得准确坐标。
以图10为例，驱动的顺序为a、a、a、b、b、b时，驱动a时对1＇、3＇、5＇、7＇进行检测，获得初步坐标后，驱动b，再对2＇、4＇、6＇进行检测，获得准确坐标。
五、若通过检测第二触控电极获得初步坐标，则根据获得的初步坐标确定驱动范围，并在驱动范围内按照第二方向依次驱动第二公共电极，获得准确坐标。
以图10为例，驱动顺序先a后b，驱动a时对1＇、3＇、5＇、7＇进行检测，获得初步坐标后，确定驱动b的范围，若只有后两个b落入确定的范围内，则只需驱动后两个，对2＇、4＇、6＇进行检测，获得精准坐标。
较佳地，按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，同时对所述第一公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，在所有的所述第一公共电极驱动完后，该方法还包括：
若通过检测所述第二触控电极没有获得所述初步坐标，则返回按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极的步骤。
也就是说，按照第二方向依次驱动第一公共电极时，对对应的部分或全部感应电极进行检测，没有获得初步坐标，也就是说没有触摸的操作，则继续按第二方向依次驱动第一公共电极。
以图10为例，按照先a后b的驱动顺序，驱动a时对1＇、3＇、5＇、7＇进行检测，未获得初步坐标，则无需对b进行检测，再对a依次进行驱动。
当驱动顺序为b、b、b、a、a、a时，其过程与上述过程类似，在此不再赘述。
如图11所示，本发明实施例提供另一种触控检测的方法，触控面板包括：衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠；
该方法包括：
步骤110，驱动部分或全部所述第一公共电极，并在驱动部分或全部所述第一公共电极结束后，检测所述驱动的部分或全部所述第一公共电极；以及
步骤111，驱动部分或全部所述第二公共电极，并在驱动部分或全部所述第二公共电极结束后，检测所述驱动的部分或全部所述第二公共电极。
需要说明的是，步骤110和步骤111没有必然的先后顺序。也就是说可以先驱动部分第一公共电极，在驱动该部分第一公共电极结束对该部分第一公共电极进行检测，然后驱动部分第二公共电极，驱动该部分第二公共电极结束对该部分第二公共电极进行检测；或先驱动全部第二公共电极，在驱动该全部第二公共电极结束对全部第二公共电极进行检测，然后驱动全部第一公共电极，驱动该全部第一公共电极结束对全部第一公共电极进行检测；或同时驱动全部第一公共电极和第二公共电极，在驱动结束后，进行相应的检测，不限于上述的驱动检测形式，只要满足在驱动结束后对该驱动的公共电极进行相应的检测即可。
其中，还可以先获得初步坐标，以先驱动第一公共电极为例进行说明，先驱动部分或全部第一公共电极，在驱动结束对驱动的第一公共电极进行检测，若驱动的是全部第一公共电极则得到初步坐标，若驱动的部分第一公共电极，则在驱动完所有第一公共电极，并进行相应的检测后得到初步坐标。
然后根据得到的初步坐标确定驱动第二公共电极的范围进行相应的驱动。
如图12所示，其第一公共电极203和第二公共电极204为梯形的示意图，在具体实施例中，第一公共电极203和第二公共电极204还可以为三角形、锯齿等其他形式，只要满足在第二方向上的宽度沿第一方向上有变化，能实现自电容即可。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (16)

1.一种触控面板，包括：
衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；
多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；
所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘，以便对所述第一公共电极和所述第二公共电极分别进行驱动；
所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠。
2.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，还包括：
沿第二方向延伸的第二触控电极，其中，所述第二方向与所述第一方向相交。
3.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述亚像素区域包括第一亚像素区域和第二亚像素区域；
所述第一梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个所述第一亚像素区域交叠，所述第二梳齿在衬底基板上的正投影与至少一个所述第二亚像素区域交叠。
4.如权利要求3所述的触控面板，其特征在于，所述第一亚像素区域和所述第二亚像素区域沿所述第一方向交替排列；
每一所述第一梳齿在衬底基板上的正投影与一个所述第一亚像素区域交叠，每一所述第二梳齿在衬底基板上的正投影与一个所述第二亚像素区域交叠。
5.如权利要求4所述的触控面板，其特征在于，所述第一亚像素区域包括两个第一亚像素电极，所述第二亚像素区域包括两个第二亚像素电极，所述触控面板还包括：
多条第一扫描线、第二扫描线和多条数据线；
所述第一亚像素电极耦接所述第一扫描线，所述第二亚像素电极耦接所述第二扫描线；
两个所述第一亚像素电极与两个所述第二亚像素电极沿所述第一方向交替排列，其中，相邻的所述第一亚像素电极与所述第二亚像素电极耦接同一数据线。
6.如权利要求4所述的触控面板，其特征在于，所述第一亚像素区域包括一个第一亚像素电极，所述第二亚像素区域包括一个第二亚像素电极，所述触控面板还包括：
多条第一扫描线、第二扫描线和多条数据线；
所述第一亚像素电极耦接所述第一扫描线，所述第二亚像素电极耦接所述第二扫描线；
所述第一亚像素电极和所述第二亚像素电极沿所述第一方向交替排列，每条所述数据线耦接相邻的所述第一亚像素电极与所述第二亚像素电极。
7.如权利要求4所述的触控面板，其特征在于，所述第一亚像素区域和所述第二亚像素区域沿第二方向交替排列。
8.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板还包括：
与所述第一公共电极电连接的第一金属线，以及与所述第二公共电极电连接的第二金属线。
9.一种进行触控检测的方法，其特征在于，触控面板包括：衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠；沿第二方向延伸的第二触控电极，其中，所述第二方向与所述第一方向相交；
该方法包括：
驱动所述第一公共电极或所述第二公共电极；
在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对所述第一公共电极或所述第二公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对所述第一公共电极或所述第二公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，包括：
在对所述第一公共电极或所述第二公共电极驱动的同时，对部分或全部与所述第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极或与第二公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的第二触控电极进行检测。
11.如权利要求9所述的方法，其特征在于，驱动所述第一公共电极或所述第二公共电极，包括：
按照第二方向依次驱动所述第一公共电极和所述第二公共电极中的一个，再驱动所述第一公共电极和所述第二公共电极中的另一个，直至驱动完所有的所述第一公共电极和所述第二公共电极。
12.如权利要求9所述的方法，其特征在于，驱动所述第一公共电极或所述第二公共电极，包括：
按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，在所有的所述第一公共电极驱动完后，按照所述第二方向依次驱动所述第二公共电极，直至驱动完所有的所述第二公共电极。
13.如权利要求9所述的方法，其特征在于，驱动所述第一公共电极，以及在对所述第一公共电极驱动的同时，对所述第一公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，包括：
按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，同时对部分或全部与所述第一公共电极在衬底基板同正投影在同一亚像素区域的所述第二触控电极进行检测；
在所有的所述第一公共电极驱动完后，通过检测所述第二触控电极获得初步坐标。
14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，驱动所述第二公共电极，以及在对所述第二公共电极驱动的同时，对所述第二公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，包括：
若通过检测所述第二触控电极获得所述初步坐标，则按照所述第二方向依次驱动所述第二公共电极，获得准确坐标；或
若通过检测所述第二触控电极获得所述初步坐标，则根据获得的所述初步坐标确定驱动范围，并在所述驱动范围内按照所述第二方向依次驱动所述第二公共电极，获得准确坐标。
15.如权利要求13所述的方法，其特征在于，按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极，同时对所述第一公共电极对应的全部或部分所述第二触控电极进行检测，在所有的所述第一公共电极驱动完后，该方法还包括：
若通过检测所述第二触控电极没有获得所述初步坐标，则返回按照所述第二方向依次驱动所述第一公共电极的步骤。
16.一种进行触控检测的方法，其特征在于，触控面板包括：衬底基板，包括多个呈阵列排布的亚像素区域；多个在所述衬底基板上的正投影与至少一行亚像素区域交叠的公共电极；所述公共电极沿第一方向延伸并复用为第一触控电极，并包括具有梳状结构的第一公共电极和具有梳状结构的第二公共电极，且所述第一公共电极和所述第二公共电极相互咬合且彼此绝缘；所述第一公共电极包括多个第一梳齿，每个所述第一梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠，以及所述第二公共电极包括多个第二梳齿，每个所述第二梳齿在所述衬底基板上的正投影与至少一个亚像素区域交叠；
该方法包括：
驱动部分或全部所述第一公共电极，并在驱动部分或全部所述第一公共电极结束后，检测所述驱动的部分或全部所述第一公共电极；以及
驱动部分或全部所述第二公共电极，并在驱动部分或全部所述第二公共电极结束后，检测所述驱动的部分或全部所述第二公共电极。
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