JP7415423B2 - 電気光学装置、電子機器および電気光学装置の検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、電気光学装置、電子機器および電気光学装置の検査方法に関するものである。

電気光学装置の一例として、液晶プロジェクターのライトバルブとして用いられる液晶パネルが上げられる。このような液晶パネルは、延在する複数行の走査線と、複数列のデータ線と、複数行の走査線と複数列のデータ線との各交差に対応して設けられた複数の画素電極、及び各種回路等を備えている。

各種回路には分配器が含まれる。複数列のデータ線は複数の列毎にブロック化されている。各ブロックに対応して設けられたビデオ線から供給されたビデオ信号を分配器が各データ線に分配する。

走査線、データ線及びビデオ線等を形成した後、液晶パネルの製造工程において、ビデオ線等の欠陥の有無を判別する検査が行われる。液晶パネルの小型化、高精細化が進んでいるので、実装端子の配列ピッチが狭くなっている。その結果、検査用プローブを実装端子に直接接触させることが困難となっている。このため、例えば、特許文献１では、複数の液晶パネルが面付された大判基板の状態において、液晶パネルの周辺領域に、検査用補助線等を設けることで検査を可能としている。

特開２０１８－１８５４１５号公報

しかしながら、特許文献１の検査方法では、液晶パネルの品質低下を招き兼ねないという課題があった。詳しくは、検査用補助線は、液晶パネルのブレイク線を跨いで形成されているため、大判基板から液晶パネルをスクライブする際に、導電性パーティクルが発生してしまい、これが液晶パネルに付着することで、短絡不良等を誘発し兼ねない恐れがあった。また、検査用補助線を含む検査回路を液晶パネルのブレイク線内に設けることも考えられるが、液晶パネルのサイズが大きくなってしまう。そこで、小型化を阻害せずに、信頼性に優れた検査を行える電気光学装置、及び検査方法が求められていた。

電気光学装置は、隣り合う第１ビデオ線及び第２ビデオ線と、第１ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１高電位線と、第２ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１低電位線と、前記第１高電位線と電気的に接続する第１実装端子及び第１検査端子と、前記第１低電位線と電気的に接続する第２実装端子及び第２検査端子と、第３ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２高電位線と、第４ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２低電位線と、前記第２高電位線と電気的に接続する第３実装端子及び第３検査端子と、前記第２低電位線と電気的に接続する第４実装端子及び第４検査端子と、を備え、前記第１ダイオードのアノードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第２ダイオードのカソードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第３ダイオードのアノードが前記第２ビデオ線と電気的に接続し、前記第４ダイオードのカソードが前記第２ビデオ線と電気的に接続することを特徴とする。

上記の電気光学装置では、走査信号を送信する走査線駆動回路と、前記走査線駆動回路に走査データ信号を供給する走査制御線と、第５ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３高電位線と、第６ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３低電位線と、を備え、前記第５ダイオードのアノードが前記走査制御線と電気的に接続し、前記第６ダイオードのカソードが前記走査制御線と電気的に接続し、前記第３高電位線及び前記第３低電位線は前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線とそれぞれ電気的に分離することが好ましい。

上記の電気光学装置では、前記第３高電位線と電気的に接続する第５実装端子及び第５検査端子と、前記第３低電位線と電気的に接続する第６実装端子及び第６検査端子と、を備え、前記第５実装端子は前記第１実装端子または前記第３実装端子の隣に配置され、前記第６実装端子は前記第２実装端子または前記第４実装端子の隣に配置されることが好ましい。

上記の電気光学装置では、前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線は基板上に配置され、前記基板と接続するフレキシブルプリント配線基板を備え、前記フレキシブルプリント配線基板は駆動ＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、第１配線、第２配線、第３配線及び第４配線を有し、前記第１高電位線と電気的に接続する前記第１配線と、前記第１低電位線と電気的に接続する前記第２配線とが前記駆動ＩＣの内部で通過し、前記第２高電位線と電気的に接続する前記第３配線と、前記第２低電位線と電気的に接続する前記第４配線とが前記駆動ＩＣの内部を通過することが好ましい。

電子機器は、上記の何れか一項に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする。

電気光学装置の検査方法は、隣り合う第１ビデオ線及び第２ビデオ線と、第１ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１高電位線と、第２ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１低電位線と、第３ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２高電位線と、第４ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２低電位線と、を備え、前記第１ダイオードのアノードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第２ダイオードのカソードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第３ダイオードのアノードが前記第２ビデオ線と電気的に接続し、前記第４ダイオードのカソードが前記第２ビデオ線と電気的に接続する電気光学装置において、前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線に印加される電圧をそれぞれ第１高電位、第１低電位、第２高電位、第２低電位とするとき、前記第１高電位＞＝前記第１低電位＞前記第２高電位＞＝前記第２低電位となる電圧をそれぞれ前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線に印加し、前記第１ビデオ線と前記第２ビデオ線とが短絡するとき、前記第１低電位線、前記第２ダイオード、前記第１ビデオ線、短絡部、前記第２ビデオ線、前記第３ダイオード、前記第２高電位線の順に流れる電流を検出して、前記第１ビデオ線と前記第２ビデオ線とが短絡していることを検出することを特徴とする。

第１の実施形態にかかわる電気光学装置の構成を示す図。 ビデオ線の短絡検査を説明するための図。 ビデオ線の短絡検査を説明するための図。 第２の実施形態にかかわるデータ線の断線検査を説明するための図。 データ線の断線検査を説明するための図。 第３の実施形態にかかわるデータ線の断線検査を説明するための図。 データ線の断線検査を説明するための図。 第４の実施形態にかかわる配線端子の位置を説明するための図。 液晶パネルと接続するフレキシブル配線基板の配線を説明するための模式図。 第５の実施形態にかかわる静電保護回路を説明するための図。 第６の実施形態にかかわる静電保護回路を説明するための図。 第７の実施形態にかかわる静電保護回路を説明するための図。 第８の実施形態にかかわる電気光学装置を用いた投射型表示装置の構成を示す構成図。 変形例にかかわる静電保護回路を説明するための図。

第１の実施形態
図１は、電気光学装置の構成を示す図である。図１に示すように、電気光学装置１は、液晶パネル２と、データ信号供給回路３とを備える。液晶パネル２では素子基板と対向基板とが互いに一定の間隙を保って貼り合わせられる。間隙には、例えば、ＴＮ（Ｔｗｉｓｔｅｄ Ｎｅｍａｔｉｃ）型の液晶が封入される。素子基板には、選択回路４や走査線駆動回路５等が形成されている。素子基板にはフレキシブル配線基板が接続される。フレキシブル配線基板にはデータ信号供給回路３が形成された半導体チップがＣＯＦ（ＣｈｉｐｏｎＦｉｌｍ）技術等により実装される。

液晶パネル２の中央には画像を表示する画素領域６が配置される。画素領域６には画素７がマトリックス状に配置される。画素７の行数及び列数は特に限定されないが、本実施形態の画素領域６には例えば１０８０行、１９２０列の画素７が配置される。図中には図を見やすくするために、２行１６列に配置された画素７が表示されている。

図中における素子や配線の位置を説明するために方向を設定する。図中右側を＋Ｘ方向とし、左側を－Ｘ方向とする。図中下側を＋Ｙ方向とし、上側を－Ｙ方向とする。

図の中央に画素領域６が配置される。画素領域６の＋Ｘ方向には走査線駆動回路５が配置される。走査線駆動回路５から－Ｘ方向に向かって複数の走査線８が配置される。走査線８は画素７の行毎に配置される。走査線８の本数は画素７の行数である。走査線駆動回路５は、複数の走査線８の中から１本の走査線８を選択するための走査信号を出力する。走査線駆動回路５は各行の走査線８に走査信号を送信する。走査信号は高い電圧と低い電圧とが切り換わる。以下、高い電圧の状態をＨレベルとし、低い電圧の状態をＬレベルとする。走査信号は順次ＨレベルとＬレベルが切換わる信号である。

画素領域６の－Ｙ方向には検査回路９が配置される。画素領域６の＋Ｙ方向には分配回路１１が配置される。分配回路１１はデマルチプレクサーともいう。画素領域６、検査回路９、分配回路１１を通る複数のデータ線１２が＋－Ｙ方向に配置される。データ線１２は画素７の列毎に配置される。データ線１２と走査線８とは電気的に絶縁されている。データ線１２の本数は画素７の列数である。分配回路１１は特定のデータ線１２を選択してデータ信号を分配する。検査回路９は各データ線１２を用いて、各データ線に関する短絡や断線を検査する。検査回路９は各データ線１２を用いて、画素７に関する短絡や断線も検査する。データ線１２はゲート信号線や制御信号線ともいう。

各画素７にはＮ型チャネルの薄膜トランジスター等からなる画素トランジスターが配置される。画素トランジスターのゲートは走査線８に接続される。画素トランジスターのソースはデータ線１２に接続される。画素トランジスターのドレインは画素電極に接続される。画素トランジスターのドレイン及び画素電極は蓄積容量の一端を接続され、蓄積容量の他端は図示しない容量線に接続されている。容量線には共通電位が印加されている。

対向基板の素子基板と対向する面には共通電極が形成されている。画素電極は共通電極との間に液晶による電気容量を構成する。電気容量はコンデンサーともいう。共通電極はすべての画素７に対して共通である。共通電極には共通電位が印加される。走査線８からＨレベルの電圧が供給された画素７では画素電極にデータ信号が供給される。データ信号の電圧に応じて液晶のねじれ状態が変わる。液晶のねじれ状態の変化に応じて液晶を通過する光の偏光状態が変わる。液晶パネル２は偏光板に挟まれており、各画素７を通過する光の量が変化する。つまり、データ信号の電圧により各画素７を通過する光の量が制御される。

走査線駆動回路５がＨレベルを供給する走査線８を順次切り換える。分配回路１１がデータ信号を供給するデータ線１２を順次切り換える。走査線駆動回路５及び分配回路１１によりデータ信号が供給される画素７が順次切り換えられる。

データ信号供給回路３と分配回路１１とはビデオ端子１３を介して複数のビデオ線１４により電気的に接続される。分配回路１１には多数のビデオ線スイッチ１５が配置される。ビデオ線スイッチ１５はデータ線１２毎に配置される。１つのビデオ線１４はビデオ線スイッチ１５を介して４つのデータ線１２と電気的に接続される。ビデオ線スイッチ１５はＦＥＴ（ｆｉｅｌｄ ｅｆｆｅｃｔ ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）により構成される。

分配回路１１では１つのビデオ線１４から伝送されるデータ信号を４つのデータ線１２に分配する。分配回路１１には各ビデオ線スイッチ１５のゲートと電気的に接続する４つの第１選択線１６が配置される。第１選択線１６は第１選択信号を伝送する。第１選択信号はＨレベルとＬレベルが切り換わる信号である。Ｈレベルの第１選択信号が供給されたビデオ線スイッチ１５はデータ信号をビデオ線１４からデータ線１２に伝送する。

４つの第１選択線１６は４つの選択端子１６ａを介してデータ信号供給回路３と電気的に接続される。つまり１つの第１選択線１６には、１つの選択端子１６ａと１つの選択検査端子１６ｂとを備える。４つの第１選択線１６には４つの選択検査端子１６ｂが電気的に接続される。尚、図中の選択端子１６ａ及び選択検査端子１６ｂは図を見やすくするために１つの端子マークに省略されている。選択端子１６ａと選択検査端子１６ｂとの間の配線も１つの線に省略されている。

分配回路１１の＋Ｙ方向には静電保護回路１７が配置される。ビデオ線１４のうち走査線駆動回路５に近い方から奇数番目のビデオ線１４を第１ビデオ線１４ａとする。ビデオ線１４のうち走査線駆動回路５に近い方から偶数番目のビデオ線１４を第２ビデオ線１４ｂとする。第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとは互いに隣り合う。

静電保護回路１７は第１静電保護回路１７ａ及び第２静電保護回路１７ｂを備える。第１静電保護回路１７ａは第１ビデオ線１４ａにおける静電気を除去する回路である。第２静電保護回路１７ｂは第２ビデオ線１４ｂにおける静電気を除去する回路である。

静電保護回路１７には所定の電圧が供給される第３高電位線としての高電位線１８、第１高電位線１９、第２高電位線２１、第３低電位線としての低電位線２２、第１低電位線２３及び第２低電位線２４が配置されている。高電位線１８及び低電位線２２は第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４とそれぞれ電気的に分離する。高電位線１８、第１高電位線１９、第２高電位線２１、低電位線２２、第１低電位線２３及び第２低電位線２４はそれぞれ異なる電圧に設定できる。また、高電位線１８、第１高電位線１９、第２高電位線２１は同じ電圧に設定してもよいし、低電位線２２、第１低電位線２３及び第２低電位線２４は同じ電圧に設定してもよい。

高電位線１８には第５実装端子としての高電位端子１８ａ及び第５検査端子としての高電位検査端子１８ｂが電気的に接続される。第１高電位線１９には第１実装端子としての第１高電位端子１９ａ及び第１検査端子としての第１高電位検査端子１９ｂが電気的に接続される。第２高電位線２１には第３実装端子としての第２高電位端子２１ａ及び第３検査端子としての第２高電位検査端子２１ｂが電気的に接続される。

高電位線１８は、走査線駆動回路５、検査回路９及び静電保護回路１７等の回路に高電位の電圧を供給する配線である。高電位線１８には高電位端子１８ａから高電位の電圧が供給される。高電位検査端子１８ｂは、検査時に高電位線１８の電圧を供給するときにプローブを当てる端子である。低電位線２２は、走査線駆動回路５や検査回路９に低電位の電圧を供給する配線である。低電位線２２には第６実装端子としての低電位端子２２ａから低電位の電圧が供給される。第６検査端子としての低電位検査端子２２ｂは、検査時に低電位線２２の電圧を供給するときにプローブを当てる端子である。

低電位線２２には低電位端子２２ａ及び低電位検査端子２２ｂが電気的に接続される。第１低電位線２３には第２実装端子としての第１低電位端子２３ａ及び第２検査端子としての第１低電位検査端子２３ｂが電気的に接続される。第２低電位線２４には第４実装端子としての第２低電位端子２４ａ及び第４検査端子としての第２低電位検査端子２４ｂが電気的に接続される。

第１高電位線１９及び第２高電位線２１は静電保護回路１７に高電位の電圧を供給する配線である。第１高電位線１９には第１高電位端子１９ａから高電位の電圧が供給される。第１高電位検査端子１９ｂは、検査時に第１高電位線１９の電圧を供給するときにプローブを当てる端子である。第２高電位線２１には第２高電位端子２１ａから高電位の電圧が供給される。第２高電位検査端子２１ｂは、検査時に第２高電位線２１の電圧を供給するときにプローブを当てる端子である。

第１低電位線２３及び第２低電位線２４は静電保護回路１７に低電位の電圧を供給する配線である。第１低電位線２３には第１低電位端子２３ａから低電位の電圧が供給される。第１低電位検査端子２３ｂは第１低電位線２３の電圧を供給するときにプローブを当てる端子である。第２低電位線２４には第２低電位端子２４ａから低電位の電力が供給される。第２低電位検査端子２４ｂは第２低電位線２４の電圧を供給するときにプローブを当てる端子である。

高電位端子１８ａは第１高電位端子１９ａの隣に配置される。高電位端子１８ａは第２高電位端子２１ａの隣に配置される。低電位端子２２ａは第１低電位端子２３ａの隣に配置される。低電位端子２２ａは第２低電位端子２４ａの隣に配置される。

画素７を駆動するとき第１高電位線１９と第２高電位線２１とには同じ電圧が供給される。第１低電位線２３と第２低電位線２４とには同じ電圧が供給される。

第１高電位線１９と第１ビデオ線１４ａとは第１ダイオード２５を介して電気的に接続される。換言すれば、第１高電位線１９は第１ダイオード２５を介して第１ビデオ線１４ａと電気的に接続する。第１ダイオード２５のアノードが第１ビデオ線１４ａと電気的に接続し、第１ダイオード２５のカソードが第１高電位線１９と電気的に接続する。第１高電位線１９の電位はデータ信号より高い電位に設定される。静電気により第１ビデオ線１４ａに第１高電位線１９より高い電圧が生じるとき電流が第１ダイオード２５を通って第１高電位線１９に流れる。

第１低電位線２３と第１ビデオ線１４ａとは第２ダイオード２６を介して電気的に接続される。換言すれば、第１低電位線２３は第２ダイオード２６を介して第１ビデオ線１４ａと電気的に接続する。第２ダイオード２６のカソードが第１ビデオ線１４ａと電気的に接続し、第２ダイオード２６のアノードが第１低電位線２３と電気的に接続する。第１低電位線２３の電位はデータ信号より低い電位に設定される。静電気により第１ビデオ線１４ａに第１低電位線２３より低い電圧が生じるとき電流が第２ダイオード２６を通って第１低電位線２３に流れる。

第２高電位線２１と第２ビデオ線１４ｂとは第３ダイオード２７を介して電気的に接続される。換言すれば、第２高電位線２１は第３ダイオード２７を介して第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続する。第３ダイオード２７のアノードが第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続し、第３ダイオード２７のカソードが第２高電位線２１と電気的に接続する。第２高電位線２１の電位はデータ信号より高い電位に設定される。静電気により第２ビデオ線１４ｂに第２高電位線２１より高い電圧が生じるとき電流が第３ダイオード２７を通って第２高電位線２１に流れる。

第２低電位線２４と第２ビデオ線１４ｂとは第４ダイオード２８を介して電気的に接続される。換言すれば、第２低電位線２４は第４ダイオード２８を介して第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続する。第４ダイオード２８のカソードが第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続し、第４ダイオード２８のアノードが第２低電位線２４と電気的に接続する。第２低電位線２４の電位はデータ信号より低い電位に設定される。静電気により第２ビデオ線１４ｂに第２低電位線２４より低い電圧が生じるとき電流が第４ダイオード２８を通って第２低電位線２４に流れる。

第１ダイオード２５～第４ダイオード２８はＮ型チャネルのトランジスターをダイオード接続して形成されている。液晶パネル２には複数種類のトランジスターが配置されている。トランジスターをダイオード接続することよりトランジスターの製造プロセスでダイオードを形成できる。従って、生産性良く第１ダイオード２５～第４ダイオード２８を形成できる。第１ダイオード２５～第４ダイオード２８は一般的なＰＮ接合等によって構成してもよい。

走査線駆動回路５には走査データ信号を供給する走査制御線２９が電気的に接続される。走査データ信号は４つの信号で構成されており、走査制御線２９は４本の配線で構成される。走査データ信号にはクロック信号、スタートパルス信号が含まれる。走査制御線２９には走査制御端子２９ａが電気的に接続される。走査データ信号は走査制御端子２９ａを介してデータ信号供給回路３から供給される。尚、図中の走査制御端子２９ａは図を見やすくするために１つの端子に省略されている。走査制御線２９も１つの線に省略されている。

静電保護回路１７の＋Ｘ方向において、高電位線１８と走査制御線２９の各配線とは第５ダイオード３１を介して電気的に接続される。換言すれば、高電位線１８は第５ダイオード３１を介して走査制御線２９の各配線と電気的に接続する。第５ダイオード３１のアノードが走査制御線２９の各配線と電気的に接続し、第５ダイオード３１のカソードが高電位線１８と電気的に接続する。高電位線１８の電位は走査データ信号より高い電位に設定される。静電気により走査データ信号に高電位線１８より高い電圧が生じるとき電流が第５ダイオード３１を通って高電位線１８に流れる。

低電位線２２と走査制御線２９の各配線とは第６ダイオード３２を介して電気的に接続される。換言すれば、低電位線２２は第６ダイオード３２を介して走査制御線２９と電気的に接続する。第６ダイオード３２のカソードが走査制御線２９と電気的に接続し、第６ダイオード３２のアノードが低電位線２２と電気的に接続する。低電位線２２の電位はデータ信号より低い電位に設定される。静電気により走査制御線２９に低電位線２２より低い電圧が生じるとき電流が第６ダイオード３２を通って低電位線２２に流れる。低電位線２２と走査制御線２９の各配線とは第１抵抗３３を介して電気的に接続される。第１抵抗３３は例えば数１００ｋΩ～１ＭΩ程度の抵抗体である。

静電保護回路１７内の－Ｘ方向側において、高電位線１８と第１選択線１６の各配線とは第７ダイオード３４を介して電気的に接続される。換言すれば、高電位線１８は第７ダイオード３４を介して第１選択線１６の各配線と電気的に接続する。第７ダイオード３４のアノードが第１選択線１６の各配線と電気的に接続し、第７ダイオード３４のカソードが高電位線１８と電気的に接続する。高電位線１８の電位は第１選択信号より高い電位に設定される。静電気により第１選択信号に高電位線１８より高い電圧が生じるとき電流が第７ダイオード３４を通って高電位線１８に流れる。

低電位線２２と第１選択線１６の各配線とは第８ダイオード３５を介して電気的に接続される。換言すれば、低電位線２２は第８ダイオード３５を介して第１選択線１６と電気的に接続する。第８ダイオード３５のカソードが第１選択線１６と電気的に接続し、第８ダイオード３５のアノードが低電位線２２と電気的に接続する。低電位線２２の電位は第１選択信号より低い電位に設定される。静電気により第１選択線１６に低電位線２２より低い電圧が生じるとき電流が第８ダイオード３５を通って低電位線２２に流れる。低電位線２２と第１選択線１６の各配線とは第２抵抗３６を介して電気的に接続される。第２抵抗３６は例えば数１００ｋΩ～１ＭΩ程度の抵抗体である。第７ダイオード３４及び第８ダイオード３５は４つの第１選択線１６にそれぞれ配置される。尚、図中では１つずつに省略して表示されている。

液晶パネル２の＋－Ｘ方向の両側には共通電極配線３７が配置される。共通電極配線３７には共通電極端子３７ａが電気的に接続される。共通電極端子３７ａから共通電極配線３７に共通電極の電圧である共通電極電圧が供給される。低電位線２２と共通電極配線３７とは第３抵抗３８を介して電気的に接続される。第３抵抗３８は例えば数１００ｋΩ～１ＭΩ程度の抵抗体である。

検査回路９には各データ線１２と同数のデータ線スイッチ３９が配置される。データ線スイッチ３９はデータ線１２毎に配置される。検査回路９は４つの配線で構成される検査線４１を備える。１つのデータ線１２はデータ線スイッチ３９を介して４つの検査線４１のいずれかと電気的に接続される。検査線４１は検査信号を伝送する。データ線スイッチ３９はＦＥＴにより構成される。検査線４１はＦＥＴのソースと電気的に接続される。ＦＥＴのドレインはデータ線１２と電気的に接続される。各検査線４１はそれぞれデータ検査端子４１ａと電気的に接続される。データ検査端子４１ａは検査するときにプローブを当てる端子である。尚、データ検査端子４１ａは４つ配置される。図中のデータ検査端子４１ａは省略されて１つのみ表示される。

選択回路４には各データ線スイッチ３９のゲートと電気的に接続する４つの第２選択線４２が配置される。第２選択線４２は第２選択信号を伝送する。第２選択信号はＨレベルとＬレベルとが切り換わる信号である。Ｈレベルの第２選択信号が供給されたデータ線スイッチ３９は検査線４１とデータ線１２との間で検査信号を伝送する。

４つのデータ線スイッチ３９が１つのグループを構成する。１つのグループに１つの第２選択線４２が配置されている。第２選択信号はグループ毎にデータ線スイッチ３９を切り換える。

各第２選択線４２は選択回路４及び検査スイッチ４３と電気的に接続される。検査スイッチ４３は低電位線２２と第２選択線４２とに電気的に接続される。検査スイッチ４３はＦＥＴにより構成される。検査回路９には各検査スイッチ４３のゲートと電気的に接続する検査切換線４４が配置される。検査切換線４４は検査切換線端子４４ａと電気的に接続される。検査切換線端子４４ａは検査するときにプローブを当てる端子である。検査切換線４４は第４抵抗４５を介して高電位線１８と電気的に接続される。第４抵抗４５は例えば数１００ｋΩ～１ＭΩ程度の抵抗体である。

検査切換線端子４４ａにはプローブから検査選択信号が入力される。検査切換線４４は検査選択信号を伝送する。検査選択信号がＨレベルのとき、第２選択線４２では第２選択信号がＬレベルになる。検査選択信号がＬレベルのとき、第２選択線４２では第２選択信号は選択回路４から伝送されるレベルになる。第２選択信号はＨレベルとＬレベルとが切り換わる信号である。Ｈレベルの第２選択信号が供給されたデータ線スイッチ３９は検査線４１とデータ線１２との間で検査信号を伝送する。より詳細には、検査時には選択回路４には全ての駆動電圧が入力され、検査切換線端子４４ａにはプローブから検査選択信号を入力する。第４抵抗４５は高抵抗なので、検査切換線４４の電位はプローブから入力する検査選択信号に従う。非検査時（通常駆動時）には、選択回路４には低電位線２２からの電圧のみが入力される。検査切換線端子４４ａにはプローブから検査選択信号を入力しない。検査切換線４４は第４抵抗４５を介して高電位線１８と電気的に接続されるので、検査切換線４４の電位は高電位線１８の電位となる。従って検査スイッチ４３はオンとなり、第２選択線４２はＬレベルの電位となる。従ってデータ線スイッチ３９は全てオフとなり、検査線４１とデータ線１２は分離される。

選択回路４には選択制御線４６が電気的に接続される。選択制御線４６は選択制御線端子４６ａと電気的に接続される。選択制御線端子４６ａは検査するときにプローブを当てる端子である。選択制御線端子４６ａには選択制御信号が入力される。選択制御信号にはクロック信号、スタートパルス信号、選択回路４の高電位側電源が含まれる。選択制御線端子４６ａは複数配置されるが、図中では省略して１つのみ表示されている。

検査信号にて画素領域６の検査を行なわないとき、検査切換線端子４４ａにＨレベルの検査選択信号が入力される。検査スイッチ４３が入り、第２選択線４２では第２選択信号がＬレベルになる。データ線スイッチ３９にＬレベルの第２選択信号が伝送されてデータ線スイッチ３９がオフ状態となる。このとき、検査線４１の検査信号はデータ線１２へ伝送されない。

検査信号にて画素領域６の検査を行うとき、検査切換線端子４４ａにＬレベルの検査選択信号が入力される。検査スイッチ４３がオフ状態になり、第２選択線４２には選択回路４から第２選択信号が供給される。データ線スイッチ３９のゲートに第２選択信号が伝送されてデータ線スイッチ３９が切り換わる。選択回路４は検査する画素７の列に対応するデータ線スイッチ３９のグループに供給する第２選択信号をＨレベル信号にする。第２選択信号にＨレベル信号が供給されたグループのデータ線スイッチ３９が入り、検査線４１の検査信号がデータ線１２に伝送される。

画素領域６に画像を表示するときには、第４抵抗４５を介して検査切換線４４はＨレベルとなる。そして、データ線スイッチ３９をオフ状態にして検査回路９と画素領域６との間の電気的接続を非通電状態にする。

検査回路９と画素領域６との間の電気的接続を非通電状態に保持して、走査線駆動回路５は複数の走査線８のうち１つだけ走査信号をＨレベルにして他の走査信号をＬレベルにする。走査線駆動回路５は走査線８に供給するＨレベルの走査信号を－Ｙ方向側から＋Ｙ方向側へ順次切り換える。Ｈレベルの走査信号が＋Ｙ方向の端まできたとき、走査線駆動回路５は－Ｙ方向の端の走査信号をＨレベルにして繰り返す。画素７では走査信号がＨレベルのときデータ信号の電圧を入力する。

データ信号供給回路３は第１選択信号を選択端子１６ａから第１選択線１６に供給する。第１選択信号は第１選択線１６に伝送されて、４つのビデオ線スイッチ１５を順次切り換える。ビデオ線スイッチ１５が入る列のデータ線１２にはデータ信号供給回路３からデータ信号が供給される。走査信号がＨレベルの画素７はデータ信号を入力される。各画素７は電気容量を備え、入力されたデータ信号の電圧を保持する。画素７では入力された電圧に応答して明るさが変化する。

走査線駆動回路５が供給する走査信号、データ信号供給回路３が供給する第１選択信号により各画素７が選択される。選択された画素７はデータ信号を入力される。

図２及び図３はビデオ線の短絡検査を説明するための図である。図２は第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの間で短絡していない時の電流の流れを示す図である。図３は第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの間で短絡している時の電流の流れを示す図である。次に、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの間の短絡を検査する方法を説明する。

図２に示すように、液晶パネル２にはデータ信号供給回路３が接続されていない。選択検査端子１６ｂから第１選択線１６に入力する第１選択信号をＬレベルにする。ビデオ線スイッチ１５がオフ状態となる。ビデオ線１４とデータ線１２とは非通電状態になる。

高電位線１８、低電位線２２にはそれぞれ高電位検査端子１８ｂ、低電位検査端子２２ｂからプローブにより電圧が印加される。高電位線１８、低電位線２２に印加される電圧をそれぞれ第３高電位、第３低電位とする。

第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４にはそれぞれ第１高電位検査端子１９ｂ、第１低電位検査端子２３ｂ、第２高電位検査端子２１ｂ、第２低電位検査端子２４ｂからプローブにより電圧が印加される。第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４に印加される電圧をそれぞれ第１高電位、第１低電位、第２高電位、第２低電位とする。第１高電位＞＝第１低電位＞第２高電位＞＝第２低電位となる電圧をそれぞれ第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４に印加する。

本実施形態では、例えば、第３高電位＝１５．５Ｖ、第１高電位＝１４．５Ｖ、第１低電位＝１０．５Ｖ、第２高電位＝５．５Ｖ、第２低電位＝１Ｖ、第３低電位＝０Ｖとした。このとき、電位の順位は第３高電位＞第１高電位＞第１低電位＞第２高電位＞第２低電位＞第３低電位となる。

第１低電位検査端子２３ｂに印加された電圧により電流が第１低電位線２３及び第２ダイオード２６を通って第１ビデオ線１４ａまで流れる。ビデオ線スイッチ１５はオフ状態であり、データ線１２へは電流が流れない。第１低電位線２３の電圧は１０．５Ｖであり第１高電位線１９の電圧は１４．５Ｖである。第１高電位は第１低電位より高い電圧なので、電流は第１ダイオード２５を流れない。このとき、第１高電位検査端子１９ｂと第２高電位検査端子２１ｂとの間を流れる電流は検出されない。第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとは短絡していないので、第１ビデオ線１４ａから第２ビデオ線１４ｂへ電流が流れない。

図３に示すように、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡するとき、第１ビデオ線１４ａから第２ビデオ線１４ｂに電流が流れる。第２ビデオ線１４ｂは第３ダイオード２７を介して第２高電位線２１と電気的に接続される。第２高電位線２１の電圧は第２高電位検査端子２１ｂと同じ５．５Ｖである。

第１低電位線２３と第２高電位線２１との間の電圧差は式１０．５Ｖ－５．５Ｖ＝５Ｖで算出されるように、５Ｖである。第１低電位線２３と第２高電位線２１との間には第２ダイオード２６と第３ダイオード２７とが直列接続された回路になっている。

本実施形態では、第１ダイオード２５～第４ダイオード２８、第５ダイオード３１、第６ダイオード３２を構成するＮ型トランジスターは、ダイオード接続したとき、例えばアノード・カソード間電圧２Ｖで約１００ｎＡの電流を流すことができる（チャネル幅Ｗ＝２０μｍ、チャネル長Ｌ＝５μｍ時）。第１ダイオード２５～第４ダイオード２８はチャネル幅Ｗとして数１００μｍある。従って２個の直列ダイオードに対しては、４Ｖあれば十分検出可能な電流を流すことができる。

第１低電位検査端子２３ｂと第２高電位検査端子２１ｂとの間を流れる電流を検出して第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡しているか否かを検出する。詳しくは、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡するとき、第１低電位線２３、第２ダイオード２６、第１ビデオ線１４ａ、第２ビデオ線１４ｂ、第３ダイオード２７、第２高電位線２１の順に流れる電流を検出して、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡していることを検出する。

第１低電位検査端子２３ｂと第２高電位検査端子２１ｂとの間を流れる電流は本実施形態では、例えば、数μＡ～１ｍＡ程度である。第１低電位検査端子２３ｂと第２高電位検査端子２１ｂとの間を流れる電流の値を調整するときは第２ダイオード２６及び第３ダイオード２７の特性等を鑑みて第１低電位検査端子２３ｂと第２高電位検査端子２１ｂに印加する電圧を調整しても良い。

第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡していない場合、例えば、第１静電保護回路１７ａにおいては第１高電位検査端子１９ｂから第１低電位検査端子２３ｂに向かってのリーク電流がある。リーク電流は、例えば、１ｎＡより十分小さい。本実施形態では、例えば、画素領域６の画素７の列数が１９２０列である。第１静電保護回路１７ａと第２静電保護回路１７ｂとを合わせた個数は式１９２０／４＝４８０で示すように４８０個である。第１静電保護回路１７ａの個数は式４８０／２＝２４０で示すように２４０個である。第１高電位検査端子１９ｂから第１低電位検査端子２３ｂに向かってのリーク電流は総合すると１μＡ以下に収まる。従って短絡電流の判定としてのしきい値電流は、例えば、２μＡに設定すればよい。

本実施形態では、例えば、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡していない場合、第１低電位検査端子２３ｂの電流は、第１高電位検査端子１９ｂから第１低電位検査端子２３ｂに向かうリーク電流からなる吸い込み電流である。第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡している場合、第１低電位検査端子２３ｂの電流は、短絡電流はリーク電流より大きな短絡電流なのだから、第１低電位検査端子２３ｂから第２高電位検査端子２１ｂへ向かう吐き出し電流となる。従って、第１低電位検査端子２３ｂの電流の向きで判定してもよい。

他にも、例えば、第３高電位＝１５．５Ｖ、第１高電位＝１０．５Ｖ、第１低電位＝１０．５Ｖ、第２高電位＝５．５Ｖ、第２低電位＝５．５Ｖ、第３低電位＝０Ｖとしても良い。このとき、電位の順位は第３高電位＞第１高電位＝第１低電位＞第２高電位＝第２低電位＞第３低電位となる。

このような電位設定にすると、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡していない場合、第１静電保護回路１７ａにおいて存在していた第１高電位線１９から第１低電位線２３に向かってのリーク電流が生じない。従って短絡電流の判別精度を向上させることができる。

液晶パネル２内の残留電荷抜きや工程中の静電破壊防止のために、液晶パネル２内の映像信号線について１ＭΩ程度の抵抗を介して第３低電位に接続する構成がある。これを単純に本実施形態に適用すると、すべてのビデオ線１４が抵抗を介して低電位線２２に接続される構成となる。その場合、第１低電位検査端子２３ｂから低電位検査端子２２ｂ流れる電流が発生する。第１低電位を１０Ｖとするならば、ビデオ線１４には１本あたり１０μＡ程度の電流が流れる。

しかし、第１低電位検査端子２３ｂに第２ダイオード２６を経由して接続されているビデオ線１４は２４０本あるので、検査時に検出すべき電流に２４００μＡ以上の電流が重畳される。このため、短絡時の電流の検出が難しくなる。また、通常駆動においても表示ムラを生じる可能性がある。従って、ビデオ線１４には低電位線２２への接続抵抗は設けないことが好ましい。液晶パネル２内の残留電荷を抜くときは液晶パネル２のオフシーケンス時にすべてのビデオ線１４の電荷を抜く方式が好ましい。

図中では＋Ｘ方向側の端の第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡するときの電流の流れを示した。他のビデオ線１４においても隣り合う第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡するときには同様に電流が流れる。

（１）本実施形態における電気光学装置１の構成及び電気光学装置１の検査方法によれば、第１低電位検査端子２３ｂと第２高電位検査端子２１ｂとの間に流れる電流を検出して、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡しているか否かを検出できる。

短絡検査をするために第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの各ビデオ線に検査端子を配置する方法が考えられる。この方法では、検査端子が多数必要なので、配置が困難である。この方法に比べて電気光学装置１では、既存の静電保護回路を構成する第１ダイオード２５～第４ダイオード２８を利用し、第１高電位検査端子１９ｂ、第１低電位検査端子２３ｂ、第２高電位検査端子２１ｂ、第２低電位検査端子２４ｂを設けることにより第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの間の短絡検査ができる。従って、第１ビデオ線１４ａ及び第２ビデオ線１４ｂの数が多いときにも、小型化を阻害せずに、信頼性に優れた検査をすることができる。

（２）本実施形態における電気光学装置１の構成によれば、高電位線１８及び低電位線２２は第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４とそれぞれ電気的に分離されている。従って、走査線駆動回路５の動作を妨げることなく第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの間の短絡検査を実施できる。

（３）本実施形態における電気光学装置１の構成によれば、高電位端子１８ａは第１高電位端子１９ａ及び第２高電位端子２１ａの隣に配置されている。低電位端子２２ａは第１低電位端子２３ａ及び第２低電位端子２４ａの隣に配置されている。検査終了後は第１高電位端子１９ａ、第２高電位端子２１ａ及び高電位端子１８ａに同じ電位の電圧を印加しても良い。また、第１低電位端子２３ａ、第２低電位端子２４ａ及び低電位端子２２ａに同じ電位の電圧を印加しても良い。

高電位端子１８ａは第１高電位端子１９ａ及び第２高電位端子２１ａの隣に配置されているので、電気的に接続し易い。低電位端子２２ａは第１低電位端子２３ａ及び第２低電位端子２４ａの隣に配置されているので、電気的に接続し易い。従って、第１高電位端子１９ａ、第２高電位端子２１ａ及び高電位端子１８ａに同じ電位の電圧を容易に印加できる。また、第１低電位端子２３ａ、第２低電位端子２４ａ及び低電位端子２２ａに同じ電位の電圧を容易に印加できる。同電位となる端子同士が隣接するので素子基板に実装されたフレキシブル配線基板上の配線パターンを単純化できる。なお高電位端子１８ａは第１高電位端子１９ａ及び第２高電位端子２１ａのうち少なくとも２つが隣接していれば上記の効果を享受できる。第１低電位端子２３ａ、第２低電位端子２４ａ及び低電位端子２２ａのうち少なくとも２つが隣接していれば上記の効果を享受できる。

第２の実施形態
本実施形態が第１の実施形態と異なるところは、画素領域６におけるデータ線１２の断線を検出する点にある。尚、第１の実施形態と同じ点については説明を省略する。

図４及び図５はデータ線１２の断線検査を説明するための図である。図４はデータ線１２が断線していない時の電流の流れを示す図である。図５はデータ線１２の一部が断線している時の電流の流れを示す図である。次に、データ線１２の断線を検査する方法を説明する。

図４に示すように、液晶パネル２にはデータ信号供給回路３が接続されていない。高電位線１８、低電位線２２にはそれぞれ高電位検査端子１８ｂ、低電位検査端子２２ｂからプローブにより電圧が印加される。高電位線１８、低電位線２２に印加される電圧はそれぞれ第３高電位、第３低電位である。

第１選択線１６には選択検査端子１６ｂからＨレベルの電圧が印加される。Ｈレベルの電圧は第３高電位と同じ電圧である。すべてのビデオ線スイッチ１５がオン状態になる。検査切換線端子４４ａにはＬレベルの電圧が印加される。Ｌレベルの電圧は第３低電位と同じ電圧である。検査スイッチ４３はオフ状態になる。

選択回路４は複数の第２選択線４２の１つにＨレベルの第２選択信号を出力し、他の第２選択線４２にＬレベルの第２選択信号を出力する。そして、選択回路４はＨレベルの第２選択信号を出力する第２選択線４２を＋Ｘ方向側から－Ｘ方向側へ順次切り換える。Ｈレベルの第２選択信号の電圧を第４高電位とする。第４高電位の電圧は選択制御線端子４６ａに印加される電圧信号の１つで示される。

第２選択信号はグループ毎にデータ線スイッチ３９を切り換える。従って、データ線スイッチ３９はグループ毎に順次オン状態とオフ状態が切り換わる。図中＋Ｘ方向の端のデータ線スイッチ３９のグループを第１グループ３９ａとする。第１グループ３９ａではデータ線スイッチ３９がオン状態になっている。

４つのデータ検査端子４１ａには固定電位である同電位の検査信号が印加される。第３高電位＝第４高電位＞第１高電位＝第１低電位＝第２高電位＝第２低電位＞検査信号＞第３低電位となる電圧をそれぞれ高電位線１８、第２選択線４２、第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４、検査線４１、第３低電位に印加する。

本実施形態では、例えば、第３高電位＝１５．５Ｖ、第４高電位＝１５．５Ｖ、第１高電位＝１０Ｖ、第１低電位＝１０Ｖ、第２高電位＝１０Ｖ、第２低電位＝１０Ｖ、検査信号＝２Ｖ、第３低電位＝０Ｖとした。このとき、電位の順位は第３高電位＝第４高電位＞第１高電位＝第１低電位＝第２高電位＝第２低電位＞検査信号＞第３低電位となる。

第１低電位と検査信号との電位差は静電保護回路１７における第２ダイオード２６の電圧降下と分配回路１１のビデオ線スイッチ１５の電圧降下と検査回路９のデータ線スイッチ３９の電圧降下とを合計した電圧降下の値より大きく設定する。尚、第２ダイオード２６の電圧降下と第４ダイオード２８の電圧降下は同じとする。

第２低電位検査端子２４ｂの電圧が１０Ｖである。データ検査端子４１ａの電圧が２Ｖである。図中では第１グループ３９ａのデータ線スイッチ３９がオン状態になっている。ビデオ線スイッチ１５もオン状態になっている。

データ線１２が導通している場合、第１低電位検査端子２３ｂから第１低電位線２３及び第２ダイオード２６を通って第１ビデオ線１４ａへ電流が流れる。第１高電位線１９の電圧は１０Ｖであり第１ビデオ線１４ａより電圧が高いので第１ダイオード２５は電流が流れない。

ビデオ線スイッチ１５がオン状態なので、第１ビデオ線１４ａからデータ線１２へ電流が流れる。データ線スイッチ３９がオン状態なので、データ線１２から検査線４１へ電流が流れる。第１グループ３９ａのデータ線スイッチ３９と電気的に接続するデータ線１２から検査線４１へ電流が流れる。

例えば、第２ダイオード２６の電圧降下を２Ｖとする。ビデオ線スイッチ１５の電圧降下を２Ｖとする。データ線スイッチ３９の電圧降下を２Ｖとする。その場合、第１低電位線２３及び第２低電位線２４と検査線４１と間に８Ｖあれば配線抵抗による電圧降下は２Ｖである。ここで配線抵抗はデータ線１２、ビデオ線１４、検査線４１の各抵抗の合計であり、２ｋΩを想定するならば導通電流は１ｍＡ程度を見込める。

ビデオ線１４、データ線１２、検査線４１が導通していれば、第１低電位検査端子２３ｂ、ビデオ線１４、データ線１２、検査線４１、データ検査端子４１ａ経路で電流が流れる。データ線スイッチ３９が同時にオン状態になるデータ線１２は４本あり、それぞれに検査線４１が設けられているので、同時に４本のデータ線１２について検査できる。この経路を流れる電流の大きさでビデオ線１４、データ線１２、検査線４１の断線欠陥を検出できる。

図５において、図中＋Ｘ方向側の端のデータ線１２を第１データ線１２ａとする。第１データ線１２ａは途中で断線している。データ線スイッチ３９がオン状態になっていても、第１データ線１２ａから検査線４１に電流が流れない。検査線４１を流れる電流の大きさでデータ線１２の断線欠陥を検出する。実際には微弱なリーク電流があるので、リーク電流を考慮して電流の判定値を設定して判別する。

１つの検査線４１には式１９２０／４＝４８０で算出される４８０個のデータ線スイッチ３９が接続されている。第１グループ３９ａ以外のデータ線スイッチ３９はオフ状態であり、１つのデータ線スイッチ３９のリーク電流は１ｎＡ以下である。１つの検査線４１におけるリーク電流は総合しても１μＡ未満である。データ検査端子４１ａに設けた電流計でデータ線１２の断線を判定する場合、電流の判定値は、例えば、１０μＡと設定する。データ検査端子４１ａで１０μＡ以上の吸い込み電流を検出するとき、データ線１２が導通していると判定する。データ検査端子４１ａの吸い込み電流が１０μＡ未満のとき、データ線１２が断線していると判定する。

図中では＋Ｘ方向側の４つのデータ線１２を検査している。選択回路４はＨレベルの第２選択信号を出力する第２選択線４２を＋Ｘ方向側から－Ｘ方向側へ順次切り換えて、すべてのデータ線１２を検査する。

上述のように、電位の順位を第３高電位＝第４高電位＞第１高電位＝第１低電位＝第２高電位＝第２低電位＞検査信号の電位とすることにより、データ線１２が断線しているか否かを検出できる。

第３の実施形態
本実施形態が第２の実施形態と異なるところは、検査端子へ印加する電圧が異なる点にある。尚、第２の実施形態と同じ点については説明を省略する。

図６及び図７はデータ線の断線検査を説明するための図である。図６はデータ線１２が断線していない時の電流の流れを示す図である。図７はデータ線１２の一部が断線している時の電流の流れを示す図である。次に、データ線１２の断線を検査する方法を説明する。

図６において、４つのデータ検査端子４１ａには同電位の検査信号が印加される。第２の実施形態とは異なり、第３高電位＝第４高電位＞検査信号＞第１高電位＝第１低電位＝第２高電位＝第２低電位＞第３低電位となる電圧をそれぞれ高電位線１８、第２選択線４２、検査線４１、第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４、第３低電位線２２に印加する。

本実施形態では、例えば、第３高電位＝１５．５Ｖ、第４高電位＝１５．５Ｖ、検査信号＝１０Ｖ、第１高電位＝２Ｖ、第１低電位＝２Ｖ、第２高電位＝２Ｖ、第２低電位＝２Ｖ、第３低電位＝０Ｖとした。

第１高電位と検査信号との電位差は静電保護回路１７における第１ダイオード２５の電圧降下と分配回路１１のビデオ線スイッチ１５の電圧降下と検査回路９のデータ線スイッチ３９の電圧降下とを合計した電圧降下の値より大きく設定する。尚、第１ダイオード２５の電圧降下と及び第３ダイオード２７の電圧降下は同じとする。

データ検査端子４１ａの電圧が１０Ｖである。第１高電位検査端子１９ｂの電圧が２Ｖである。図中では第１グループ３９ａのデータ線スイッチ３９がオン状態になっている。ビデオ線スイッチ１５もオン状態になっている。データ線スイッチ３９がオン状態なので、検査線４１からデータ線１２へ電流が流れる。

ビデオ線スイッチ１５がオン状態なので、データ線１２から第１ビデオ線１４ａへ電流が流れる。静電保護回路１７では第１ビデオ線１４ａより第１高電位検査端子１９ｂの電位が低い。従って、第１ビデオ線１４ａから第１ダイオード２５及び第１高電位線１９を通って第１高電位検査端子１９ｂへ電流が流れる。第１低電位線２３の電圧は２Ｖであり第１ビデオ線１４ａより電圧が低いので、第２ダイオード２６は電流が流れ難い。

図７において、第１グループ３９ａの＋Ｘ方向の端のデータ線スイッチ３９と電気的に接続するデータ線１２を第１データ線１２ａとする。第１データ線１２ａはデータ線スイッチ３９とビデオ線スイッチ１５との間で断線している。ビデオ線スイッチ１５がオン状態になっていても、第１データ線１２ａから第１ビデオ線１４ａに電流が流れない。検査線４１を流れる電流の大きさでデータ線１２の断線欠陥を検出する。実際には微弱なリーク電流があるので、リーク電流を考慮して電流の判定値を設定して判別する。

データ検査端子４１ａで１０μＡ以上の吐き出し電流を検出するとき、データ線１２が導通していると判定する。データ検査端子４１ａの吐き出し電流が１０μＡ未満のとき、データ線１２が断線していると判定する。第１データ線１２ａと電気的に接続する検査線４１を第１検査線４１ｂとする。第１検査線４１ｂと電気的に接続するデータ検査端子４１ａでは吐き出し電流が１０μＡ未満になるので、第１データ線１２ａが断線していることを検出できる。

上述のように、電位の順位を第３高電位＝第４高電位＞検査信号＞第１高電位＝第１低電位＝第２高電位＝第２低電位＞第３低電位とすることにより、データ線１２が断線しているか否かを検出できる。

第３の実施形態では第１ダイオード２５または第３ダイオード２７に電流が流れるように第３高電位、第４高電位、第１高電位、第１低電位、第２高電位、第２低電位及び検査信号の電位を設定した。第２の実施形態では第２ダイオード２６または第４ダイオード２８に電流が流れるように第３高電位、第４高電位、第１高電位、第１低電位、第２高電位、第２低電位及び検査信号の電位を設定した。

第３高電位、第４高電位、第１高電位、第１低電位、第２高電位、第２低電位及び検査信号の電位を変えて２回検査すると、静電保護回路１７の電流が流れるダイオードを変えることができる。つまり、第１ダイオード２５～第４ダイオード２８の各ダイオードを流れる経路の断線を検出できる。静電保護回路１７の導通検査も実施できる為、信頼性の高い液晶パネル２を製造できる。

第４の実施形態
本実施形態が第１の実施形態と異なるところは、第１高電位端子１９ａ及び第１低電位端子２３ａ、さらに第２高電位端子２１ａ及び第２低電位端子２４ａの配置が異なる点にある。尚、第１の実施形態と同じ点については説明を省略する。

図８は配線端子の位置を説明するための図である。図８に示すように、電気光学装置５１が備える液晶パネル５２では＋Ｙ方向側に端子が配列する。＋Ｘ方向側では共通電極端子３７ａ、低電位端子２２ａ、高電位端子１８ａ、走査制御端子２９ａ、第１低電位端子２３ａ、第１高電位端子１９ａ、ビデオ端子１３の順番に端子が配列する。－Ｘ方向側では、共通電極端子３７ａ、低電位端子２２ａ、高電位端子１８ａ、選択端子１６ａ、第２低電位端子２４ａ、第２高電位端子２１ａ、ビデオ端子１３の順番に端子が配列する。このように端子が配列するとき、高電位線１８と第１低電位線２３とが交差しない。高電位線１８と第２低電位線２４とが交差しない。

第１高電位検査端子１９ｂ及び第２高電位検査端子２１ｂは第１低電位線２３より＋Ｙ方向側に配置される。このように検査端子が配置されるとき、第２高電位線２１と第２低電位線２４とが交差しない。第１高電位線１９と第１低電位線２３とが交差しない。

配線の検査が終了した後では、第１高電位、第２高電位及び第３高電位を同じ電位にする。高電位線１８、第１高電位線１９及び第２高電位線２１の電圧は同じ電位になる。第１低電位、第２低電位及び第３低電位を同じ電位にする。低電位線２２、第１低電位線２３及び第２低電位線２４は同じ電位になる。

第１低電位端子２３ａ、第１高電位端子１９ａをビデオ端子１３側に寄せ、第２低電位端子２４ａ、第２高電位端子２１ａをビデオ端子１３側に寄せたので、液晶パネル５２内で高電位線１８と第１低電位線２３との交差を減らすことができる。同様に、高電位線１８と第２低電位線２４との交差を減らすことができる。さらに、第２高電位線２１と第２低電位線２４との交差を減らすことができる。さらに、第１高電位線１９と第１低電位線２３とを減らすことができる。その結果、配線間短絡による歩留りの低下を低減できる。

図９は液晶パネルと接続するフレキシブル配線基板の配線を説明するための模式図である。図９に示すように、液晶パネル５２は基板としての素子基板５２ａを備え、素子基板５２ａにはフレキシブルプリント配線基板としてのフレキシブル配線基板５３が接続される。フレキシブル配線基板５３にはデータ信号供給回路３が形成された半導体チップが実装されている。

素子基板５２ａ上には第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４、高電位線１８及び低電位線２２が配置される。フレキシブル配線基板５３は第１高電位線１９、第１低電位線２３、第２高電位線２１、第２低電位線２４、高電位線１８及び低電位線２２と電気的に接続する。

フレキシブル配線基板５３は駆動ＩＣ５４、第１配線５５、第２配線５６、第３配線５７及び第４配線５８を有する。駆動ＩＣ５４にはデータ信号供給回路３が形成されている。第１配線５５は第１高電位線１９と電気的に接続する。第２配線５６は第１低電位線２３と電気的に接続する。第３配線５７は第２高電位線２１と電気的に接続する。第４配線５８は第２低電位線２４と電気的に接続する。

第１配線５５と第２配線５６とが駆動ＩＣ５４の内部で交差する。第３配線５７と第４配線５８とが駆動ＩＣ５４の内部で交差する。駆動ＩＣ５４では絶縁膜を介して第１配線５５と第２配線５６とを重ねることにより、容易に第１配線５５と第２配線５６とを交差させることができる。同様に、駆動ＩＣ５４では絶縁膜を介して第３配線５７と第４配線５８とを重ねることにより、容易に第３配線５７と第４配線５８とを交差させることができる。そうすると第１高電位線１９に接続される第１配線５５を、同電位を供給する高電位線１８に隣接してフレキシブル配線基板５３上に配置させることができる。同様に第２高電位線２１に接続される第３配線５７を、同電位を供給する高電位線１８に隣接してフレキシブル配線基板５３上に配置させることができる。同電位となる配線同士が隣接するので素子基板５２ａに実装されたフレキシブル配線基板５３上の配線パターンを単純化できる。

なお素子基板５２ａにおいて、第１高電位端子１９ａと第１低電位端子２３ａの配置関係を逆にしてもよい。そうすると第１配線５５と第２配線５６とを駆動ＩＣ５４の内部で交差させることなく、第１高電位線１９に接続される第１配線５５を、同電位を供給する高電位線１８に隣接してフレキシブル配線基板５３上に配置させることができる。同様に第２高電位端子２１ａと第２低電位端子２４ａの配置関係を逆にしてもよい。そうすると第３配線５７と第４配線５８とを駆動ＩＣ５４の内部で交差させることなく、第２高電位線２１に接続される第３配線５７を、同電位を供給する高電位線１８に隣接してフレキシブル配線基板５３上に配置させることができる。いずれにしても、駆動ＩＣ５４内を通過する第１配線５５、第２配線５６、第３配線５７及び第４配線５８を設けたので素子基板５２ａ上の第１高電位端子１９ａ、第１低電位端子２３ａ、第２高電位端子２１ａ、第２低電位端子２４ａの配置を調整し易くできる。特にこれらの端子をビデオ端子１３に寄せて配置できるので、液晶パネル５２内での交差部を減らすことができる。また同電位となる配線同士をフレキシブル配線基板５３上で隣接させることができるので、フレキシブル配線基板５３上の配線パターンを単純化できる。

ビデオ線１４と電気的に接続される配線をビデオ接続線５９とする。ビデオ線１４、ビデオ端子１３及びビデオ接続線５９は図中では省略され４つだけ表示されている。第１配線５５及び第２配線５６はビデオ接続線５９の＋Ｘ方向側に配置される。第３配線５７及び第４配線５８はビデオ接続線５９の－Ｘ方向側に配置される。このように配置することにより、駆動ＩＣ５４ではビデオ接続線５９は第１配線５５～第４配線５８と交差しない配置にできる。

尚、フレキシブル配線基板５３上にて配線を容易に交差させることができるときには、駆動ＩＣ５４内でなく、フレキシブル配線基板５３上にてジャンパー線等を用いて配線を交差させても良い。

第５の実施形態
本実施形態が第１の実施形態と異なるところは、高電位線１８及び低電位線２２に放電する静電保護回路が付加されている点にある。尚、第１の実施形態と同じ点については説明を省略する。

図１０は静電保護回路を説明するための図である。図１０に示すように、電気光学装置６２は液晶パネル６３を備え、液晶パネル６３は静電保護回路６４を備える。静電保護回路６４は第１静電保護回路６４ａ、第２静電保護回路６４ｂ及び第３静電保護回路６４ｃを備える。尚、図中では走査制御線２９及び第１選択線１６の静電保護回路が省略されている。

第１静電保護回路６４ａ、第２静電保護回路６４ｂはそれぞれ第１の実施形態における第１静電保護回路１７ａ、第２静電保護回路１７ｂと同じ回路である。第１静電保護回路６４ａは第１ビデオ線１４ａの静電気を第１低電位線２３または第１高電位線１９に放電する。第２静電保護回路６４ｂは第２ビデオ線１４ｂの静電気を第２低電位線２４または第２高電位線２１に放電する。第３静電保護回路６４ｃは第１ビデオ線１４ａ及び第２ビデオ線１４ｂの静電気を低電位線２２または高電位線１８に放電する。

第１ビデオ線１４ａ及び第２ビデオ線１４ｂは高電位線１８と第５ダイオード６５を介して電気的に接続される。換言すれば、高電位線１８は第５ダイオード６５を介して第１ビデオ線１４ａ及び第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続する。第５ダイオード６５のアノードが第１ビデオ線１４ａまたは第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続し、第５ダイオード６５のカソードが高電位線１８と電気的に接続する。高電位線１８の電位はデータ信号より高い電位に設定される。静電気により第１ビデオ線１４ａまたは第２ビデオ線１４ｂに高電位線１８より高い電圧が生じるとき電流が第５ダイオード６５を通って高電位線１８に流れる。

第１ビデオ線１４ａ及び第２ビデオ線１４ｂは低電位線２２と第６ダイオード６６を介して電気的に接続される。換言すれば、低電位線２２は第６ダイオード６６を介して第１ビデオ線１４ａまたは第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続する。第６ダイオード６６のカソードが第１ビデオ線１４ａまたは第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続し、第６ダイオード６６のアノードが低電位線２２と電気的に接続する。低電位線２２の電位はデータ信号より低い電位に設定される。静電気により第１ビデオ線１４ａまたは第２ビデオ線１４ｂに低電位線２２より低い電圧が生じるとき電流が第６ダイオード６６を通って低電位線２２に流れる。本構成は静電保護回路を２系統配置している。静電保護回路の放電先を分離し、検査時にダイオード接続となって電流を流す経路を設けた構成になっている。

例えば、通常駆動時に欲しい静電保護回路６４のＮ型トランジスターのチャネル幅Ｗを３００μｍとする。高電位線１８または低電位線２２を放電先とする第３静電保護回路６４ｃのチャネル幅Ｗに２５０μｍを割り振る。第１高電位線１９、第２高電位線２１、第１低電位線２３、第２低電位線２４を放電先とする第１静電保護回路６４ａ及び第２静電保護回路６４ｂのチャネル幅Ｗに５０μｍを割り振る。静電保護回路６４の全のチャネル幅Ｗを検査に割り当てる構成と比較すると、同じ電圧設定であれば検査時に流れる電流は小さくなる。

映像信号線間に短絡があって電流が流れる場合、大電流となると配線が溶断してしまい短絡電流がゼロとなるケースがあり得る。このような場合には欠陥を検出できないことになる。本実施形態の回路にすれば短絡電流を小さくできるので、配線が溶断することを抑制できる。そして、欠陥を検出できなくなるリスクを下げることができる。また検査時の電圧設定の自由度を大きくできる。さらには液晶パネル６３の高電位線１８と低電位線２２を放電先とする第３静電保護回路６４ｃが常に動作するので、ビデオ端子１３から侵入する静電気から効果的に保護することができる。

尚、第１静電保護回路６４ａ及び第２静電保護回路６４ｂは第３静電保護回路６４ｃより＋Ｙ方向側である端子側に設けることが好適である。端子側に配置されることでビデオ線１４の導通検査の範囲を長くできる。

第６の実施形態
本実施形態が第１の実施形態と異なるところは、第１ダイオード２５及び第３ダイオード２７がＰ型チャネルのトランジスターからなるダイオードに変更されている点にある。尚、第１の実施形態と同じ点については説明を省略する。

図１１は静電保護回路を説明するための図である。図１１に示すように、電気光学装置６９が備える液晶パネル７０は静電保護回路７１を備える。静電保護回路７１は第１静電保護回路７１ａ及び第２静電保護回路７１ｂを備える。静電保護回路７１、第１静電保護回路７１ａ、第２静電保護回路７１ｂはそれぞれ第１の実施形態における静電保護回路１７、第１静電保護回路１７ａ、第２静電保護回路１７ｂと同じ機能を有する。

第１静電保護回路７１ａでは第１高電位線１９と第１ビデオ線１４ａとは第１ダイオード７２を介して電気的に接続される。換言すれば、第１高電位線１９は第１ダイオード７２を介して第１ビデオ線１４ａと電気的に接続する。第１ダイオード７２のアノードが第１ビデオ線１４ａと電気的に接続し、第１ダイオード７２のカソードが第１高電位線１９と電気的に接続する。静電気により第１ビデオ線１４ａに第１高電位線１９より高い電圧が生じるとき電流が第１ダイオード７２を通って第１高電位線１９に流れる。第１低電位線２３と第１ビデオ線１４ａとは第２ダイオード２６を介して電気的に接続される。

第２静電保護回路７１ｂでは第２高電位線２１と第２ビデオ線１４ｂとは第３ダイオード７３を介して電気的に接続される。換言すれば、第２高電位線２１は第３ダイオード７３を介して第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続する。第３ダイオード７３のアノードが第２ビデオ線１４ｂと電気的に接続し、第３ダイオード７３のカソードが第２高電位線２１と電気的に接続する。静電気により第２ビデオ線１４ｂに第２高電位線２１より高い電圧が生じるとき電流が第３ダイオード７３を通って第２高電位線２１に流れる。第２低電位線２４と第２ビデオ線１４ｂとは第４ダイオード２８を介して電気的に接続される。

第１ダイオード７２及び第３ダイオード７３はＰ型チャネルのトランジスターをダイオード接続して形成されている。

第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡するとき、第２ダイオード２６と第３ダイオード７３とが直列接続される。第２ダイオード２６と第３ダイオード７３とが直列接続された回路の電圧降下はダイオード接続したＰ型トランジスターのしきい値がダイオード接続したＮ型トランジスターのしきい値よりもやや大きいので、実施例１よりもやや大きくなる。本実施形態では、例えば、第１の実施形態と同様に第３高電位＝１５．５Ｖ、第１高電位＝１４．５Ｖ、第１低電位＝１０．５Ｖ、第２高電位＝５．５Ｖ、第２低電位＝１Ｖ、第３低電位＝０Ｖとした。第１低電位線２３と第２高電位線２１との電位差は式１０．５－５．５＝５が示すように５Ｖである。第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとが短絡するとき、第１低電位線２３から第２高電位線２１へ電流が流れる。従って、第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの短絡を検出できる。

Ｐ型トランジスターの方がＮ型トランジスターよりしきい値電圧がやや高い。第１の実施形態のほうが検査時における各種電圧調整範囲の自由度の点で好ましい。

第７の実施形態
本実施形態が第２の実施形態と異なるところは、第１高電位線１９と第２高電位線２１とが電気的に接続されている。さらに、第１低電位線２３と第２低電位線２４とが電気的に接続されている点にある。尚、第２の実施形態と同じ点については説明を省略する。

図１２は静電保護回路を説明するための図である。図１２に示すように、電気光学装置７６が備える液晶パネル７７は静電保護回路７８を備える。静電保護回路７８には所定の電圧が供給される高電位線１８、低電位線２２、第１高電位線７９、第１低電位線８０が配置されている。高電位線１８及び低電位線２２は第１高電位線７９、第１低電位線８０とそれぞれ電気的に分離する。第１高電位線７９は第１の実施形態における第１高電位線１９と第２高電位線２１とが電気的に接続された配線である。第１低電位線８０は第１の実施形態における第１低電位線２３と第２低電位線２４とが電気的に接続された配線である。

第１高電位線７９には第１高電位端子７９ａ及び第１高電位検査端子７９ｂが電気的に接続される。第１低電位線８０には第１低電位端子８０ａ及び第１低電位検査端子８０ｂが電気的に接続される。

第１高電位線７９の電位を第１高電位とし、第１低電位線８０の電位を第１低電位とする。第２の実施形態と同様に、第３高電位＝１５．５Ｖ、第４高電位＝１５．５Ｖ、第１高電位＝１０Ｖ、第１低電位＝１０Ｖ、検査信号＝２Ｖ、第３低電位＝０Ｖとする。

第２の実施形態と同様に電位の順位を第３高電位＝第４高電位＞第１高電位＝第１低電位＞検査信号＞第３低電位となるようにすることにより、データ線１２及びビデオ線１４が断線しているか否かを検出できる。第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの短絡検査はできない。第２の実施形態と比べて第２高電位線２１及び第２低電位線２４を省略できるので、配線を簡易にすることができる。第１ビデオ線１４ａと第２ビデオ線１４ｂとの間隔が広く短絡し難いときに適用できる。

第８の実施形態
本実施形態では上述した実施形態にかかる電気光学装置１、電気光学装置５１、電気光学装置６２、電気光学装置６９、電気光学装置７６のいずれかを用いた電子機器について説明する。

図１３は、電気光学装置を用いた投射型表示装置の構成を示す構成図である。図１３に示すように、電子機器としての投射型表示装置８６の内部には、ハロゲンランプ等の白色光源を有するランプユニット８７が設けられている。ランプユニット８７から射出された投射光は、内部に配置された３枚のミラー８８及び２枚のダイクロイックミラー８９によって赤色、緑色、青色の３原色に分離される。

３原色に分離された投射光は、各原色に対応する赤色ライトバルブ９０ｒ、緑色ライトバルブ９０ｇ及び青色ライトバルブ９０ｂにそれぞれ導かれる。尚、青色の光は、他の赤色や緑色と比較すると光路が長いので、その損失を防ぐために、入射レンズ９１、リレーレンズ９２及び射出レンズ９３を有するリレーレンズ系９４を介して導かれる。

赤色ライトバルブ９０ｒ、緑色ライトバルブ９０ｇ及び青色ライトバルブ９０ｂは投射型表示装置８６内の上位回路と接続される。赤色、緑色、青色のそれぞれの原色成分の階調レベルを指定する画像信号がそれぞれ外部上位回路から供給されて、投射型表示装置８６内の上位回路で処理され、赤色ライトバルブ９０ｒ、緑色ライトバルブ９０ｇ及び青色ライトバルブ９０ｂがそれぞれ駆動される。赤色ライトバルブ９０ｒ、緑色ライトバルブ９０ｇ、青色ライトバルブ９０ｂによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイックプリズム９６に３方向から入射する。そして、ダイクロイックプリズム９６において、赤色及び青色の光は９０度に反射し、緑色の光は透過する。したがって、各原色の画像が合成された後、スクリーン９７には、投射レンズ群９８によってカラー画像が投射される。

赤色ライトバルブ９０ｒ、緑色ライトバルブ９０ｇ及び青色ライトバルブ９０ｂには電気光学装置１、電気光学装置５１、電気光学装置６２、電気光学装置６９、電気光学装置７６のいずれかが用いられる。

電気光学装置１、電気光学装置５１、電気光学装置６２、電気光学装置６９、電気光学装置７６はビデオ線１４及びデータ線１２の数が多いときにも、簡易な端子の構成でビデオ線１４及びデータ線１２を検査することができる光学装置である。従って、投射型表示装置８６は簡易な端子の構成でビデオ線１４及びデータ線１２を検査することができる電気光学装置１、電気光学装置５１、電気光学装置６２、電気光学装置６９、電気光学装置７６のいずれかの装置を備えた機器とすることができる。

変形例１
電気光学装置１、電気光学装置５１、電気光学装置６２、電気光学装置６９、電気光学装置７６を備えた電子機器は、上記実施形態の投射型表示装置８６に限定されない。例えば、投射型のヘッドアップディスプレイや直視型のヘッドマウントディスプレイ、パーソナルコンピューター、デジタルスチールカメラ、液晶テレビ等の電子機器に用いてもよい。

変形例２
第１の実施形態及び第２の実施形態において、ビデオ線１４に設けられた第１静電保護回路１７ａ及び第２静電保護回路１７ｂを含む放電先の電位線は、他の信号の静電保護回路の電位線を兼ねることを禁止するものではない。ビデオ線１４間の短絡検査や、データ線１２の導通検査の時には走査線駆動回路５は静止状態である。例えば、静電保護回路１７は走査制御線２９を伝送する走査線駆動回路５のスタートパルス信号の静電保護回路を含むように変形してもよい。他にも、静電保護回路１７はスタートパルス信号以外にも走査制御線２９を伝送する走査線駆動回路５のシフトレジスターの出力と論理積をとってゲート線の選択を制御する出力制御信号の静電保護回路を含むように変形してもよい。

変形例３
図１４は静電保護回路を説明するための図である。第５の実施形態では、第１静電保護回路６４ａ及び第２静電保護回路６４ｂは第３静電保護回路６４ｃより＋Ｙ方向側に設けた。図１４に示すように、第１静電保護回路６４ａ及び第２静電保護回路６４ｂは第３静電保護回路６４ｃより－Ｙ方向側に設けてもよい。この場合、ビデオ端子１３から侵入する静電気からの保護を重視する例となる。その時は第１静電保護回路６４ａ及び第２静電保護回路６４ｂと第３静電保護回路６４ｃを接続するビデオ線１４に、抵抗体９９を設けて内部回路側への静電気の侵入を緩和するようにしてもよい。

以下に、実施形態から導きだされる内容を記載する。

電気光学装置は、隣り合う第１ビデオ線及び第２ビデオ線と、第１ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１高電位線と、第２ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１低電位線と、前記第１高電位線と電気的に接続する第１実装端子及び第１検査端子と、前記第１低電位線と電気的に接続する第２実装端子及び第２検査端子と、第３ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２高電位線と、第４ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２低電位線と、前記第２高電位線と電気的に接続する第３実装端子及び第３検査端子と、前記第２低電位線と電気的に接続する第４実装端子及び第４検査端子と、を備え、前記第１ダイオードのアノードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第２ダイオードのカソードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第３ダイオードのアノードが前記第２ビデオ線と電気的に接続し、前記第４ダイオードのカソードが前記第２ビデオ線と電気的に接続することを特徴とする。

この構成によれば、第１ビデオ線に第１高電位線より高い電圧の信号が入力されるとき、第１ダイオードを介して第１ビデオ線から第１高電位線に電流が流れる。第１ビデオ線に第１低電位線より低い電圧の信号が入力されるとき、第２ダイオードを介して第１低電位線から第１ビデオ線に電流が流れる。第２ビデオ線に第２高電位線より高い電圧の信号が入力されるとき、第３ダイオードを介して第２ビデオ線から第２高電位線に電流が流れる。第２ビデオ線に第２低電位線より低い電圧の信号が入力されるとき、第４ダイオードを介して第２低電位線から第２ビデオ線に電流が流れる。第１ダイオード～第４ダイオードは第１ビデオ線及び第２ビデオ線の電位を所定の範囲内に留める保護回路になっている。

第１高電位線、第１低電位線、第２高電位線、第２低電位線はそれぞれ第１検査端子、第２検査端子、第３検査端子、第４検査端子と電気的に接続する。各端子にプローブを介して電圧が印加され、電流が測定される。

第１高電位線、第１低電位線、第２高電位線、第２低電位線に印加される電圧をそれぞれ第１高電位、第１低電位、第２高電位、第２低電位とする。第１高電位＞＝第１低電位＞第２高電位＞＝第２低電位となる電圧をそれぞれ第１検査端子、第２検査端子、第３検査端子、第４検査端子に印加する。

第１ビデオ線と第２ビデオ線とが短絡するとき、第１低電位線から第２高電位線へ電流が流れる。詳しくは、第１低電位線、第２ダイオード、第１ビデオ線、短絡部、第２ビデオ線、第３ダイオード、第２高電位線の順に電流が流れる。第２検査端子と第３検査端子との間に流れる電流を検出して、第１ビデオ線と第２ビデオ線とが短絡していることを検出する。

短絡検査をするために第１ビデオ線と第２ビデオ線との各ビデオ線に端子を配置する方法が考えられる。この方法では、端子が多数必要なので、プローブが接触する端子の配置が困難になる。この方法に比べて本電気光学装置では第１検査端子、第２検査端子、第３検査端子、第４検査端子を設けることにより第１ビデオ線と第２ビデオ線との間の短絡検査ができる。従って、第１ビデオ線及び第２ビデオ線の数が多いときにも、小型化を阻害せずに、信頼性に優れた検査をすることができる。

上記の電気光学装置では、走査信号を送信する走査線駆動回路と、前記走査線駆動回路に走査データ信号を供給する走査制御線と、第５ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３高電位線と、第６ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３低電位線と、を備え、前記第５ダイオードのアノードが前記走査制御線と電気的に接続し、前記第６ダイオードのカソードが前記走査制御線と電気的に接続し、前記第３高電位線及び前記第３低電位線は前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線とそれぞれ電気的に分離することが好ましい。

この構成によれば、走査線駆動回路は走査制御線から走査データ信号が供給される。走査制御線に第３高電位線より高い電圧の信号が入力されるとき、第５ダイオードを介して走査制御線から第３高電位線に電流が流れる。走査制御線に第３低電位線より低い電圧の信号が入力されるとき、第６ダイオードを介して第３低電位線から走査制御線に電流が流れる。第５ダイオード及び第６ダイオードは走査制御線の電位を所定の範囲内に留める保護回路になっている。

第３高電位線及び第３低電位線は第１高電位線、第１低電位線、第２高電位線、第２低電位線とそれぞれ電気的に分離されている。従って、走査線駆動回路の動作を妨げることなく第１ビデオ線と第２ビデオ線との間の短絡検査を実施できる。

上記の電気光学装置では、前記第３高電位線と電気的に接続する第５実装端子及び第５検査端子と、前記第３低電位線と電気的に接続する第６実装端子及び第６検査端子と、を備え、前記第５実装端子は前記第１実装端子及び前記第３実装端子の隣に配置され、前記第６実装端子は前記第２実装端子及び前記第４実装端子の隣に配置されることが好ましい。

この構成によれば、第５実装端子は第１実装端子及び第３実装端子の隣に配置されている。第６実装端子は第２実装端子及び第４実装端子の隣に配置されている。検査終了後は第１実装端子、第３実装端子及び第５実装端子に同じ電位の電圧を印加しても良い。また、第２実装端子、第４実装端子及び第６実装端子に同じ電位の電圧を印加しても良い。

第５実装端子は第１実装端子及び第３実装端子の隣に配置されているので、電気的に接続し易い。第６実装端子は第２実装端子及び第４実装端子の隣に配置されているので、電気的に接続し易い。従って、第１実装端子、第３実装端子及び第５実装端子に同じ電位の電圧を容易に印加できる。また、第２実装端子、第４実装端子及び第６実装端子に同じ電位の電圧を容易に印加できる。

上記の電気光学装置では、前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線は基板上に配置され、前記基板と接続するフレキシブルプリント配線基板を備え、前記フレキシブルプリント配線基板は駆動ＩＣ、第１配線、第２配線、第３配線及び第４配線を有し、前記第１高電位線と電気的に接続する前記第１配線と、前記第１低電位線と電気的に接続する前記第２配線とが前記駆動ＩＣの内部を通過し、前記第２高電位線と電気的に接続する前記第３配線と、前記第２低電位線と電気的に接続する前記第４配線とが前記駆動ＩＣの内部を通過することが好ましい。

この構成によれば、電気光学装置はフレキシブルプリント配線基板を備え、フレキシブルプリント配線基板には駆動ＩＣが配置されている。第１高電位線と電気的に接続する第１配線と、第１低電位線と電気的に接続する第２配線とが駆動ＩＣの内部を通過する。第２高電位線と電気的に接続する第３配線と、第２低電位線と電気的に接続する第４配線とが駆動ＩＣの内部を通過する。従って、基板上の第１実装端子、第２実装端子、第３実装端子、第４実装端子の配置を調整し易くできる。

電子機器は、上記の何れか一項に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする。

この構成によれば、電子機器は上記の電気光学装置を備えている。上記の電気光学装置は第１ビデオ線及び第２ビデオ線の数が多いときにも、簡易な端子の構成で第１ビデオ線及び第２ビデオ線を検査することができる装置である。従って、電子機器は簡易な端子の構成で第１ビデオ線及び第２ビデオ線を検査することができる電気光学装置を備えた機器とすることができる。

電気光学装置の検査方法は、隣り合う第１ビデオ線及び第２ビデオ線と、第１ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１高電位線と、第２ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１低電位線と、第３ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２高電位線と、第４ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２低電位線と、を備え、前記第１ダイオードのアノードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第２ダイオードのカソードが前記第１ビデオ線と電気的に接続し、前記第３ダイオードのアノードが前記第２ビデオ線と電気的に接続し、前記第４ダイオードのカソードが前記第２ビデオ線と電気的に接続する電気光学装置において、前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線に印加される電圧をそれぞれ第１高電位、第１低電位、第２高電位、第２低電位とするとき、前記第１高電位＞＝前記第１低電位＞前記第２高電位＞＝前記第２低電位となる電圧をそれぞれ前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線、前記第２低電位線に印加し、前記第１ビデオ線と前記第２ビデオ線とが短絡するとき、前記第１低電位線、前記第２ダイオード、前記第１ビデオ線、短絡部、前記第２ビデオ線、前記第３ダイオード、前記第２高電位線の順に流れる電流を検出して、前記第１ビデオ線と前記第２ビデオ線とが短絡していることを検出することを特徴とする。

この構成によれば、第１低電位線と第２高電位線との間に流れる電流を検出して、第１ビデオ線と第２ビデオ線とが短絡しているか否かを検出している。短絡検査をするために第１ビデオ線と第２ビデオ線との間の抵抗を測定する方法がある。このとき、第１ビデオ線と第２ビデオ線とに端子を配置する必要がある。この方法では端子が多数必要なので、プローブを接触させる端子の配置が困難になる。この方法に比べて本電気光学装置の検査方法では第１高電位線、第１低電位線、第２高電位線、第２低電位線とそれぞれ電気的に接続する端子を設けることにより第１ビデオ線と第２ビデオ線との間の短絡検査ができる。従って、第１ビデオ線及び第２ビデオ線の数が多いときにも、小型化を阻害せずに、信頼性に優れた検査をすることができる。

１，５１，６２，６９，７６…電気光学装置、５…走査線駆動回路、１４ａ…第１ビデオ線、１４ｂ…第２ビデオ線、１８…第３高電位線としての高電位線、１８ａ…第５実装端子としての高電位端子、１８ｂ…第５検査端子としての高電位検査端子、１９…第１高電位線、１９ａ…第１実装端子としての第１高電位端子、１９ｂ…第１検査端子としての第１高電位検査端子、２１…第２高電位線、２１ａ…第３実装端子としての第２高電位端子、２１ｂ…第３検査端子としての第２高電位検査端子、２２…第３低電位線としての低電位線、２２ａ…第６実装端子としての低電位端子、２２ｂ…第６検査端子としての低電位検査端子、２３…第１低電位線、２３ａ…第２実装端子としての第１低電位端子、２３ｂ…第２検査端子としての第１低電位検査端子、２４…第２低電位線、２４ａ…第４実装端子としての第２低電位端子、２４ｂ…第４検査端子としての第２低電位検査端子、２５…第１ダイオード、２６…第２ダイオード、２７…第３ダイオード、２８…第４ダイオード、２９…走査制御線、３１…第５ダイオード、３２…第６ダイオード、５２ａ…基板としての素子基板、５３…フレキシブルプリント配線基板としてのフレキシブル配線基板、５４…駆動ＩＣ、５５…第１配線、５６…第２配線、５７…第３配線、５８…第４配線、８６…電子機器としての投射型表示装置。

Claims (4)

1. 隣り合う第１ビデオ線及び第２ビデオ線と、
   アノードが前記第１ビデオ線と電気的に接続された第１ダイオードと、前記第１ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１高電位線と、カソードが前記第１ビデオ線と電気的に接続された第２ダイオードと、前記第２ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１低電位線と、を有する第１静電保護回路と、
   前記第１高電位線と電気的に接続する第１高電位端子及び第１検査端子と、
   前記第１低電位線と電気的に接続する第１低電位端子及び第２検査端子と、
   アノードが前記第２ビデオ線と電気的に接続された第３ダイオードと、前記第３ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２高電位線と、カソードが前記第２ビデオ線と電気的に接続された第４ダイオードと、前記第４ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２低電位線と、を有する第２静電保護回路と、
   前記第２高電位線と電気的に接続する第２高電位端子及び第３検査端子と、
   前記第２低電位線と電気的に接続する第２低電位端子及び第４検査端子と、
   走査信号を送信する走査線駆動回路と、
   前記走査線駆動回路に走査データ信号を供給する走査制御線と、
   アノードが前記走査制御線と電気的に接続された第５ダイオードと、前記第５ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３高電位線と、カソードが前記走査制御線と電気的に接続された第６ダイオードと、前記第６ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３低電位線と、を有する第３静電保護回路と、
   前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線及び前記第２低電位線が配置される基板と、
   前記基板と接続するフレキシブルプリント配線基板と、を備え、
   前記第３高電位線及び前記第３低電位線は、前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線及び前記第２低電位線とそれぞれ電気的に分離し、
   前記フレキシブルプリント配線基板は駆動ＩＣ、第１配線、第２配線、第３配線及び第４配線を有し、前記第１高電位線と電気的に接続する前記第１配線と、前記第１低電位線と電気的に接続する前記第２配線と、が前記駆動ＩＣの内部を通過し、
   前記第２高電位線と電気的に接続する前記第３配線と、前記第２低電位線と電気的に接続する前記第４配線と、が前記駆動ＩＣの内部を通過することを特徴とする電気光学装置。
2. 請求項１に記載の電気光学装置であって、
   前記第３高電位線と電気的に接続する第３高電位端子及び第５検査端子と、
   前記第３低電位線と電気的に接続する第３低電位端子及び第６検査端子と、を備え、
   前記第３高電位端子は前記第１高電位端子または前記第２高電位端子の隣に配置され、
   前記第３低電位端子は前記第１低電位端子または前記第２低電位端子の隣に配置されることを特徴とする電気光学装置。
3. 請求項１または２に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする電子機器。
4. 隣り合う第１ビデオ線及び第２ビデオ線と、
   アノードが前記第１ビデオ線と電気的に接続された第１ダイオードと、前記第１ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１高電位線と、カソードが前記第１ビデオ線と電気的に接続された第２ダイオードと、前記第２ダイオードを介して前記第１ビデオ線と電気的に接続する第１低電位線と、を有する第１静電保護回路と、
   アノードが前記第２ビデオ線と電気的に接続された第３ダイオードと、前記第３ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２高電位線と、カソードが前記第２ビデオ線と電気的に接続された第４ダイオードと、前記第４ダイオードを介して前記第２ビデオ線と電気的に接続する第２低電位線と、を有する第２静電保護回路と、
   走査信号を送信する走査線駆動回路と、
   前記走査線駆動回路に走査データ信号を供給する走査制御線と、
   アノードが前記走査制御線と電気的に接続された第５ダイオードと、前記第５ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３高電位線と、カソードが前記走査制御線と電気的に接続された第６ダイオードと、前記第６ダイオードを介して前記走査制御線と電気的に接続する第３低電位線と、を有する第３静電保護回路と、
   前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線及び前記第２低電位線が配置される基板と、
   前記基板と接続するフレキシブルプリント配線基板と、を備え、
   前記第３高電位線及び前記第３低電位線は、前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線及び前記第２低電位線とそれぞれ電気的に分離し、
   前記フレキシブルプリント配線基板は、駆動ＩＣ、第１配線、第２配線、第３配線及び第４配線を有し、前記第１高電位線と電気的に接続する前記第１配線と、前記第１低電位線と電気的に接続する前記第２配線と、が前記駆動ＩＣの内部を通過し、
   前記第２高電位線と電気的に接続する前記第３配線と、前記第２低電位線と電気的に接続する前記第４配線と、が前記駆動ＩＣの内部を通過する電気光学装置において、
   前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線及び前記第２低電位線に印加される電圧をそれぞれ第１高電位、第１低電位、第２高電位及び第２低電位とするとき、前記第１高電位＞＝前記第１低電位＞前記第２高電位＞＝前記第２低電位となる電圧をそれぞれ前記第１高電位線、前記第１低電位線、前記第２高電位線及び前記第２低電位線に印加し、
   前記第１ビデオ線と前記第２ビデオ線とが短絡するとき、前記第１低電位線、前記第２ダイオード、前記第１ビデオ線、短絡部、前記第２ビデオ線、前記第３ダイオード、前記第２高電位線の順に流れる電流を検出して、前記第１ビデオ線と前記第２ビデオ線とが短絡していることを検出することを特徴とする電気光学装置の検査方法。

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