JP6711376B2 - 電気光学装置および電子機器 - Google Patents

Description

本発明は、電気光学装置および電子機器に関する。

液晶素子を用いて画像を表示する電気光学装置は、各画素の階調を指定する画像信号に基づくビデオ電圧を、信号線を介して各画素に供給することで、各画素が有する液晶の透過率をビデオ電圧に基づく透過率に制御する。この結果、各画素の階調は、画像信号で指定される階調に設定される。

各画素にビデオ電圧を供給する時間を十分に確保できない場合等、各画素へのビデオ電圧の書き込みが不十分な場合には、各画素が画像信号の指定する階調を正確に表示することができない場合がある。このため、従来の電気光学装置では、例えば、信号線を所定の電圧レベルに予め充電するプリチャージを実行することで、各画素に対するビデオ電圧の書き込み不足を対策している。例えば、特許文献１には、１水平走査期間に、全ての信号線に対するプリチャージと、ビデオ電圧の画素への書き込みとを時分割で実行する液晶装置が開示されている。また、特許文献２には、１水平走査期間に、複数の信号線のうちの一部の信号線に対するプリチャージと、ビデオ電圧の画素への書き込みとを同時に実行する電気光学装置が開示されている。

また、特許文献３には、全ての信号線に対して同時にプリチャージを実行する液晶装置において、信号線の状態を検査する検査回路とプリチャージ回路とを兼用する構成が開示されている。

再表９９／００４３８４号公報 特開２０１５−１０６１０８号公報 特開平１１−２７１８０６号公報

しかし、検査対象の信号線を特定するためのアドレッシング機能を含む検査回路は、プリチャージ回路と兼用されずに、独立に設けられる。この場合、信号線に画像信号を供給するためのスイッチ、検査用のスイッチおよびプリチャージ用のスイッチ等が信号線に接続される。信号線に接続されるスイッチが増加すると、検査用のスイッチ、プリチャージ用のスイッチおよび信号線等の配置間隔を狭くすることが困難になる。

上記課題を解決するために本発明の電気光学装置の一態様は、画像信号を第１信号線および第２信号線に供給する電気光学装置であって、前記第１信号線における前記画像信号の入力端を始点にして前記第１信号線の延在する方向を第１方向とする場合、画像を表示する表示領域に対して前記第１方向の側に配置され、プリチャージ制御信号に基づいて前記第１信号線および前記第２信号線にプリチャージ信号を異なるタイミングで供給するプリチャージ回路と、前記表示領域に対して前記第１方向の側に配置され、前記第１信号線および前記第２信号線を検査する検査動作において、前記第１信号線および前記第２信号線が検査対象であるかを示す検査制御信号を前記プリチャージ回路に出力する検査回路とを備え、前記プリチャージ回路は、前記第１信号線と前記プリチャージ信号が供給されるプリチャージ電源線との間の電気的な接続状態を第１接続制御信号に基づいて導通状態と非導通状態との間で切り替える第１スイッチと、前記第２信号線と前記プリチャージ信号が供給されるプリチャージ電源線との間の電気的な接続状態を第２接続制御信号に基づいて導通状態と非導通状態との間で切り替える第２スイッチと、前記検査制御信号と前記プリチャージ制御信号とに基づいて前記第１接続制御信号を前記第１スイッチに出力する第１信号選択回路と、前記検査制御信号と前記プリチャージ制御信号とに基づいて前記第２接続制御信号を前記第２スイッチに出力する第２信号選択回路とを備えている。

本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の説明図である。 第１実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 画素の構成を示す回路図である。 図２のプリチャージ回路および検査回路の構成を示す回路図である。 第１実施形態に係る電気光学装置の動作タイミングの一例を示す図である。 信号線の状態を検査する際に電気光学パネルに供給する信号の一例を示す図である。 互いに隣接する信号線の短絡を検査する短絡検査の説明図である。 信号線の断線を検査する断線検査の説明図である。 第２実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 図９のプリチャージ回路および検査回路の構成を示す回路図である。 互いに隣接する信号線の短絡を検査する短絡検査の一例の説明図である。 信号線の断線を検査する断線検査の一例の説明図である。 信号線の状態を検査する際に電気光学パネルに供給する信号の一例を示す図である。 互いに隣接する信号線の短絡を検査する短絡検査の一例の説明図である。 信号線の断線を検査する断線検査の一例の説明図である。 互いに隣接する信号線の短絡の有無を検査する短絡検査の一例の説明図である。 第３実施形態に係る電気光学装置のプリチャージ回路および検査回路の構成を示す回路図である。 電気光学パネルの端子配置の一例を示す図である。 電子機器の一例であるパーソナルコンピューターを示す斜視図である。 電子機器の一例であるスマートフォンを示す正面図である。 電子機器の一例である投射型表示装置を示す模式図である。

＜第１実施形態＞
本発明の第１実施形態について図１から図８を参照しつつ説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置１の説明図である。なお、図１は、電気光学装置１に対する信号伝送系の構成を示す。電気光学装置１は、電気光学パネル１００と、ドライバーＩＣ（Integrated Circuit）等の駆動用集積回路２００と、フレキシブル回路基板３００とを有する。電気光学パネル１００は、駆動用集積回路２００が搭載されるフレキシブル回路基板３００に接続される。また、電気光学パネル１００は、フレキシブル回路基板３００および駆動用集積回路２００を介して、図示しないホストＣＰＵ（Central Processing Unit）装置に接続される。駆動用集積回路２００は、画像信号および駆動制御のための各種の制御信号をホストＣＰＵ装置からフレキシブル回路基板３００を介して受信し、フレキシブル回路基板３００を介して電気光学パネル１００を駆動する装置である。

図２は、第１実施形態に係る電気光学装置１の構成を示すブロック図である。図２の第１方向Ｄ１は、電気光学パネル１００において、複数本の信号線１１１のうち一の信号線１１１における画像信号Ｓの入力端を始点にして一の信号線１１１の延在する方向を示す。なお、図２では、図を見やすくするために、第１の検査パッド１７１以外の検査パッドの記載を省略している。例えば、データ線１１２の検査パッド、書き込み選択信号線１１４の検査パッド、プリチャージ制御信号線１１３の検査パッドおよび図４に示す第２の検査パッド１７２等の記載を省略している。

電気光学装置１の電気光学パネル１００は、ｍ本の走査線１１０、ｎ本の信号線１１１、プリチャージ制御信号線１１３、プリチャージ電源線１１５、表示領域１２０、走査線駆動回路１３０、ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］、プリチャージ回路１５０および検査回路１６０を有する。なお、ｍ、ｎおよびｋは、自然数である。図２に示す例では、ｎ本の信号線１１１が８個の信号線１１１を含むｋ個の信号線群に分類されるため、ｋはｎを８で除算して得られる値である。電気光学装置１の駆動用集積回路２００は、信号線１１１に画像信号Ｓを供給する信号線駆動回路２１０、プリチャージ電源２２０、第１電源２３０および第２電源２３２を有する。なお、駆動用集積回路２００は、プリチャージ電源２２０、第１電源２３０および第２電源２３２の各電源と信号線駆動回路２１０とを分離した形態としてもよい。

表示領域１２０は、画像を表示する領域である。例えば、表示領域１２０は、ｍ本の走査線１１０とｎ本の信号線１１１との各交差に対応して設けられる画素１２２を含む。画素１２２は、図３に示すように、印加電圧に応じて透過率が変化する液晶１２３ｃを有する。液晶１２３ｃに印加される電圧に応じて液晶１２３ｃの透過率が変化することにより、画素１２２の表示階調が変化する。図２では、図の一番上側に記載されている画素１２２の行を１行目とし、図の一番左側に記載されている画素１２２の列を１列目とする。

走査線駆動回路１３０は、駆動用集積回路２００から受ける制御信号に基づいて走査信号Ｇ［１］〜Ｇ［ｍ］を生成し、走査信号Ｇ［１］〜Ｇ［ｍ］をｍ本の走査線１１０の各々に出力する。例えば、走査線駆動回路１３０は、垂直走査期間内に各走査線１１０に対する走査信号Ｇ［１］〜Ｇ［ｍ］を１水平走査期間毎に順次アクティブにする。

なお、走査線駆動回路１３０は、第１電源２３０から低電位側電源線１１６を介して供給される第１電源電圧ＶＳＳＹと、第２電源２３２から高電位側電源線１１７を介して供給される第２電源電圧ＶＤＤＹとを電源電圧として動作する。第２電源電圧ＶＤＤＹは、第１電源電圧ＶＳＳＹより高い。例えば、走査信号Ｇは、第２電源２３２に基づいて生成されるハイレベル等の選択電圧に維持されている期間にアクティブとなり、第１電源２３０に基づいて生成されるローレベル等の非選択電圧に維持されている期間に非アクティブとなる。すなわち、第２電源２３２は、選択状態の走査線１１０に電位を与え、第１電源２３０は、非選択状態の走査線１１０に電位を与える。

例えば、第ｐ行に対応する走査信号Ｇ［ｐ］が選択電圧に維持されている期間では、第ｐ行に対応する走査線１１０が選択状態であり、第ｐ行のｎ個の画素１２２の各々が有する各液晶１２３ｃは、ｎ本の信号線１１１にそれぞれ電気的に接続される。なお、ｐは、１〜ｍの自然数である。また、走査信号Ｇ［ｐ］が非選択電圧に維持されている期間では、第ｐ行に対応する走査線１１０が非選択状態であり、第ｐ行のｎ個の画素１２２の各々が有する各液晶１２３ｃとｎ本の信号線１１１との間の電気的な接続状態は、非導通状態である。

ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］は、ｋ個の信号線群にそれぞれ対応している。例えば、ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］は、信号線駆動回路２１０からｋ本のデータ線１１２［１］〜１１２［ｋ］にそれぞれ供給される画像信号Ｓをそれぞれ受ける。なお、本実施形態では、信号線１１１を８本単位で区分しているため、１本のデータ線１１２に８画素分の画像信号Ｓが信号線駆動回路２１０から時分割で供給される。したがって、各デマルチプレクサー１４０は、対応する信号線群に含まれる８本の信号線１１１に画像信号Ｓを時分割で供給する。

各デマルチプレクサー１４０は、対応する信号線群に含まれる８本の信号線１１１にそれぞれ接続される８個の書き込みスイッチ１４２［１］〜１４２［８］を有する。すなわち、ｉを１〜ｋの自然数とすると、デマルチプレクサー１４０［ｉ］の８個の書き込みスイッチ１４２［１］〜１４２［８］の各々の一方の接点は、８×ｉ−７列目から８×ｉ列目までの８本の信号線１１１にそれぞれ接続される。そして、デマルチプレクサー１４０［ｉ］の８個の書き込みスイッチ１４２［１］〜１４２［８］の各々の他方の接点、すなわち、信号線１１１に接続されていない接点は、データ線１１２［ｉ］に共通に接続される。ｋ本のデータ線１１２［１］〜１１２［ｋ］は、フレキシブル回路基板３００を介して駆動用集積回路２００の信号線駆動回路２１０に接続される。

書き込みスイッチ１４２［１］〜１４２［８］は、例えば、ＴＦＴ（thin film transistor）等で構成されるＮチャネル型のトランジスターであり、ゲート等の制御端子で受ける書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［８］のレベルに応じて、導通状態と非導通状態とのいずれかに設定される。なお、書き込みスイッチ１４２［１］〜１４２［８］は、ＴＦＴ以外のスイッチング素子でもよい。以下では、書き込み選択信号ＳＬ［ｊ］で制御される書き込みスイッチ１４２［ｊ］は、第ｊ系列の書き込みスイッチ１４２とも称される。なお、ｊは、１以上８以下の自然数である。また、第ｊ系列の書き込みスイッチ１４２［ｊ］に接続される信号線１１１は、第ｊ系列の信号線１１１とも称される。したがって、書き込み選択信号ＳＬの符号の角括弧内の数字等は、制御対象の信号線１１１の系列番号に対応する。同様に、後述するプリチャージ制御信号ＰＳＬの角括弧内の数字等も、制御対象の信号線１１１の系列番号に対応する。互いに異なる２つの系列の一方の系列の信号線１１１の１つは、第１信号線の一例であり、他方の系列の信号線の１つは、第２信号線の一例である。

各デマルチプレクサー１４０の８個の書き込みスイッチ１４２［１］〜１４２［８］は、書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［８］を、駆動用集積回路２００の信号線駆動回路２１０から書き込み選択信号線１１４を介して受ける。書き込み選択信号線１１４は、フレキシブル回路基板３００を介して駆動用集積回路２００の信号線駆動回路２１０に接続される。書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［８］は、信号線１１１に画像信号Ｓを出力する開始タイミングを指定する。

例えば、１個の書き込み選択信号ＳＬ［１］がハイレベル、他の７個の書き込み選択信号ＳＬ［２］〜ＳＬ［８］がローレベルである場合には、ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］の各々に含まれるｋ個の書き込みスイッチ１４２［１］のみが導通状態となる。したがって、ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］の各々は、ｋ本のデータ線１１２に供給される画像信号Ｓを各信号線群の第１系列の信号線１１１にそれぞれ出力する。以下、同様にして、ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］の各々は、ｋ本のデータ線１１２に供給される画像信号Ｓを各信号線群の第２系列、第３系列、第４系列、第５系列、第６系列、第７系列および第８系列の信号線１１１にそれぞれ出力する。

プリチャージ回路１５０は、画像を表示する表示領域１２０に対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。すなわち、プリチャージ回路１５０は、表示領域１２０に対して、ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］と反対側に配置される。プリチャージ回路１５０は、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］に基づいて、ｎ本の信号線１１１にプリチャージ信号ＰＲＣを所定の順序で供給する。例えば、プリチャージ回路１５０は、プリチャージ制御信号ＰＳＬに基づいて、互いに異なる２つの系列の信号線１１１の一方の系列の信号線１１１の１つである第１信号線と、他方の系列の信号線１１１の１つである第２信号線とにプリチャージ信号ＰＲＣを異なるタイミングで供給する。

プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］は、信号線駆動回路２１０からプリチャージ制御信号線１１３を介してプリチャージ回路１５０に供給される。なお、本実施形態では、信号線１１１を８個の系列に区分しているため、プリチャージ制御信号線１１３の数は、８本である。プリチャージ制御信号線１１３は、第１プリチャージ制御信号線および第２プリチャージ制御信号線の一例である。プリチャージ信号ＰＲＣは、プリチャージ電源２２０からプリチャージ電源線１１５を介してプリチャージ回路１５０に供給される。

なお、プリチャージ回路１５０は、第１電源２３０から低電位側電源線１１６を介して供給される第１電源電圧ＶＳＳＹと、第２電源２３２から高電位側電源線１１７を介して供給される第２電源電圧ＶＤＤＹとを電源電圧として動作する。プリチャージ回路１５０の詳細は、図４で説明する。

検査回路１６０は、表示領域１２０およびプリチャージ回路１５０に対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。検査回路１６０は、ｎ本の信号線１１１を検査する検査動作において、ｎ本の信号線１１１のうちの検査対象の信号線１１１を選択する検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］をプリチャージ回路１５０に出力する。なお、検査回路１６０には、検査動作において、第１の検査パッド１７１から検査電源線１１８を介して、第１電源電圧ＶＳＳＹより高い第３電源電圧ＶＤＤＸが供給される。検査回路１６０の詳細は、図４で説明する。

駆動用集積回路２００は、信号線駆動回路２１０と走査線駆動回路１３０とプリチャージ回路１５０とを同期制御する。信号線駆動回路２１０は、８画素分の画像信号Ｓを時系列的なシリアル信号として、各デマルチプレクサー１４０に出力する。例えば、信号線駆動回路２１０は、画像信号Ｓ［１］〜Ｓ［８］をデマルチプレクサー１４０［１］に順番に出力するとともに、画像信号Ｓ［ｎ−７］〜Ｓ［ｎ］をデマルチプレクサー１４０［ｋ］に順番に出力する。同じ系列の信号線１１１に供給される画像信号Ｓは、信号線駆動回路２１０から各デマルチプレクサー１４０に並列に出力される。すなわち、信号線駆動回路２１０は、同じ系列の信号線１１１に供給するそれぞれの画像信号Ｓを、複数の信号線群の各々に並列に出力する。

プリチャージ電源２２０は、プリチャージ電源線１１５に電位を与える。この結果、例えば、プリチャージ電源線１１５にプリチャージ信号ＰＲＣが供給される。第１電源２３０は、低電位側電源線１１６に電位を与える。この結果、低電位側電源線１１６に第１電源電圧ＶＳＳＹが供給される。第２電源２３２は、低電位側電源線１１６に与えられる電位より高い電位を、高電位側電源線１１７に与える。この結果、第１電源電圧ＶＳＳＹより高い第２電源電圧ＶＤＤＹが高電位側電源線１１７に供給される。次に、図３を用いて、画素１２２の構成を説明する。

図３は、画素１２２の構成を示す回路図である。各画素１２２は、液晶素子１２３、保持容量１２４および画素トランジスター１２５を有する。液晶素子１２３は、互いに対向する画素電極１２３ａおよびコモン電極１２３ｂと、画素電極１２３ａおよびコモン電極１２３ｂ間に配置される液晶１２３ｃとを含む電気光学素子である。画素電極１２３ａとコモン電極１２３ｂとの間の印加電圧に応じて液晶１２３ｃの透過率が変化することにより、表示階調が変化する。なお、コモン電極１２３ｂには、図示しないコモン線を介して、一定の電圧であるコモン電圧Ｖｃｏｍが供給される。

保持容量１２４は、液晶素子１２３と並列に設けられている。保持容量１２４の一方の端子は、画素トランジスター１２５に接続され、他方の端子は、図示しない容量線を介してコモン電極１２３ｂに接続される。

画素トランジスター１２５は、例えば、ＴＦＴ等で構成されるＮチャネル型のトランジスターであり、液晶素子１２３と信号線１１１との間に設けられる。そして、画素トランジスター１２５は、ゲートに接続される走査線１１０に供給される走査信号Ｇのレベルに応じて、導通状態と非導通状態とのいずれかに設定される。すなわち、画素トランジスター１２５は、液晶素子１２３と信号線１１１との間の電気的な接続を制御する。例えば、走査信号Ｇ［ｐ］が選択電圧に設定されることで、第ｐ行目の各画素１２２における画素トランジスター１２５が同時またはほぼ同時に導通状態に遷移する。

画素トランジスター１２５が導通状態に制御されると、液晶素子１２３には、信号線１１１から供給される画像信号Ｓが印加される。液晶１２３ｃは、画像信号Ｓが印加されることにより、画像信号Ｓに基づく透過率に設定される。この結果、各画素１２２の階調は、画像信号Ｓで指定される階調に設定される。例えば、図示しない光源が点灯状態になると、光源から出射される光は、画素１２２が有する液晶素子１２３の液晶１２３ｃを透過して、電気光学装置１の外部に出力される。すなわち、液晶素子１２３に画像信号Ｓが印加され、かつ、光源が点灯状態となることで、画素１２２は、画像信号Ｓに基づく階調を表示する。

また、液晶素子１２３と並列に設けられる保持容量１２４は、液晶素子１２３に印加される電圧に充電される。すなわち、各画素１２２は、画像信号Ｓに対応する電位を保持容量１２４に保持する。

なお、電気光学装置１では、電気光学材料の電気的な劣化を防止するため、液晶素子１２３に印加する電圧の極性を一定周期毎に反転する極性反転駆動が採用される。例えば、電気光学装置１は、信号線１１１を介して画素１２２に供給する画像信号Ｓのレベルを、画像信号Ｓの中心電圧に対して１垂直走査期間毎に反転する。なお、極性を反転させる周期は任意に設定することができ、例えば、垂直走査期間の自然数倍であってもよい。本明細書においては、画像信号Ｓの電圧が中心電圧等の所定電圧に対して高電圧となる場合を正極性とし、画像信号Ｓの電圧が所定電圧に対して低電圧となる場合を負極性とする。次に、図４を参照して、プリチャージ回路１５０および検査回路１６０の構成を説明する。

図４は、図２のプリチャージ回路１５０および検査回路１６０の構成を示す回路図である。図４の第１方向Ｄ１の意味は、図２の第１方向Ｄ１と同じである。図４に示す第１の検査パッド１７１から第６の検査パッド１７６は、検査工程等で使用される。例えば、第１の検査パッド１７１には、第１電源電圧ＶＳＳＹより高い第３電源電圧ＶＤＤＸが供給される。第２の検査パッド１７２には、第１クロック信号ＣＬＫが供給され、第３の検査パッド１７３には、第１クロック信号ＣＬＫの反転信号である第２クロック信号ＣＬＫＢが供給される。また、第４の検査パッド１７４には、スタートパルスＤＸが供給され、第５の検査パッド１７５には、検査モード信号ＴＸが供給される。また、第６の検査パッド１７６は、プリチャージ電源線１１５に接続される。

プリチャージ回路１５０は、ｋ個の信号線群にそれぞれ対応して設けられるｋ個のプリチャージ選択回路１５２［１］〜１５２［ｋ］と、ｋ個のプリチャージ選択回路１５２［１］〜１５２［ｋ］にそれぞれ対応して設けられるｋ個のスイッチ駆動回路１５４［１］〜１５４［ｋ］とを有する。

各プリチャージ選択回路１５２は、対応する信号線群に含まれる８本の信号線１１１にそれぞれ接続される８個のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］を有する。すなわち、プリチャージスイッチ１５２ａは、信号線１１１に対応して設けられる。例えば、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］の８個のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］の各々の一方の接点は、８×ｉ−７列目から８×ｉ列目までの８本の信号線１１１にそれぞれ接続される。そして、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］の８個のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］の各々の他方の接点、すなわち、信号線１１１に接続されていない接点は、プリチャージ電源線１１５に共通に接続される。プリチャージ電源線１１５は、フレキシブル回路基板３００を介して駆動用集積回路２００のプリチャージ電源２２０に接続される。

プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］は、接続制御信号ＣＬ［１，ｉ］〜ＣＬ［８，ｉ］に基づいて、信号線１１１とプリチャージ電源線１１５との間の電気的な接続状態を導通状態と非導通状態との間で切り替える。例えば、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］は、ＴＦＴ等で構成されるＮチャネル型のトランジスターであり、ゲート等の制御端子で受ける接続制御信号ＣＬのレベルに応じて、導通状態と非導通状態とのいずれかに設定される。なお、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］は、ＴＦＴ以外のスイッチング素子でもよい。プリチャージスイッチ１５２ａは、第１スイッチおよび第２スイッチ等のスイッチの一例である。接続制御信号ＣＬは、第１接続制御信号および第２接続制御信号の一例である。

画像信号Ｓに応じて画像を表示する通常動作では、接続制御信号ＣＬ［１，ｉ］〜ＣＬ［８，ｉ］として、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］が、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］からプリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］に供給される。図４では、プリチャージスイッチ１５２ａの動作を通常動作を中心に説明する。

通常動作では、各プリチャージ選択回路１５２のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］は、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］を、駆動用集積回路２００の信号線駆動回路２１０からプリチャージ制御信号線１１３およびスイッチ駆動回路１７０を介して受ける。プリチャージ制御信号線１１３は、フレキシブル回路基板３００を介して駆動用集積回路２００の信号線駆動回路２１０に接続される。プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］は、信号線１１１にプリチャージ信号ＰＲＣを出力する開始タイミングを指定する。

例えば、１個のプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］がハイレベル、他の７個のプリチャージ制御信号ＰＳＬ［２］〜ＰＳＬ［８］がローレベルである場合には、ｋ個のプリチャージ選択回路１５２［１］〜１５２［ｋ］の各々に含まれるｋ個のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］のみが導通状態となる。したがって、ｋ個のプリチャージ選択回路１５２［１］〜１５２［ｋ］の各々は、プリチャージ電源線１１５に供給されるプリチャージ信号ＰＲＣを各信号線群の第１系列の信号線１１１にそれぞれ出力する。以下、同様にして、ｋ個のプリチャージ選択回路１５２［１］〜１５２［ｋ］の各々は、プリチャージ電源線１１５に供給されるプリチャージ信号ＰＲＣを各信号線群の第２系列、第３系列、第４系列、第５系列、第６系列、第７系列および第８系列の信号線１１１にそれぞれ出力する。

各スイッチ駆動回路１５４は、第１電源２３０および第２電源２３２から供給される電源電圧で動作する８個の論理積回路１５４ａ［１］〜１５４ａ［８］を有する。論理積回路１５４ａは、第１信号選択回路および第２信号選択回路等の信号選択回路の一例であり、プリチャージスイッチ１５２ａに対応して設けられる。すなわち、プリチャージスイッチ１５２ａと、プリチャージスイッチ１５２ａに対応して設けられる論理積回路１５４ａとを含む回路群は、ｎ本の信号線１１１と１対１に対応して設けられる。したがって、プリチャージ回路１５０は、ｎ本の信号線１１１と１対１に対応して設けられるｎ個の処理回路として、プリチャージスイッチ１５２ａおよび論理積回路１５４ａを含むｎ個の回路群を有する。

各論理積回路１５４ａは、２つの入力端子で受ける信号の論理積の演算結果を出力する。例えば、各論理積回路１５４ａは、第１の否定論理積回路１５４ｂと、第１の否定論理積回路１５４ｂの出力端子に入力端子が接続される第１のインバーター１５４ｃとを有する。第１の否定論理積回路１５４ｂは、２つの入力端子で受ける信号の否定論理積の演算結果を、第１のインバーター１５４ｃに出力する。また、第１のインバーター１５４ｃは、入力端子で受ける信号の反転信号を出力する。

例えば、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［ｊ］は、２つの入力端子で受ける信号の論理積の演算結果を、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［ｊ］の制御端子に出力する。なお、ｉは、１〜ｋの自然数であり、ｊは、１以上８以下の自然数である。

スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［ｊ］の２つの入力端子は、第１の否定論理積回路１５４ｂの２つの入力端子であり、後述する単位回路１６２［ｉ］の第４のインバーター１６２ｅの出力端子および第ｊ系列のプリチャージ制御信号線１１３にそれぞれ接続される。また、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［ｊ］の出力端子は、第１のインバーター１５４ｃの出力端子であり、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［ｊ］の制御端子に接続される。

すなわち、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］は、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］の各々と検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］との論理積により生成される接続制御信号ＣＬ［１，ｉ］〜ＣＬ［８，ｉ］を、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］に出力する。検査制御信号ＳＯＵＴのハイレベルおよびローレベルは、第１論理レベルおよい第２論理レベルの一例である。

信号線１１１を検査する検査動作では、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［ｊ］は、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］がハイレベルである場合、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［ｊ］を接続制御信号ＣＬ［ｊ，ｉ］として、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［ｊ］の制御端子に出力する。

また、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［ｊ］は、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］がローレベルである場合、ローレベルの検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］を接続制御信号ＣＬ［ｊ，ｉ］として、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［ｊ］の制御端子に出力する。すなわち、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］は、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］がローレベルである場合、プリチャージスイッチ１５２ａを非導通状態に設定する接続制御信号ＣＬを、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］に出力する。

また、通常動作では、検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］は、ハイレベルに維持される。したがって、通常動作では、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［ｊ］は、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［ｊ］を接続制御信号ＣＬ［ｊ，ｉ］として、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［ｊ］の制御端子に出力する。すなわち、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［ｊ］は、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］とプリチャージ制御信号ＰＳＬ［ｊ］との論理演算により接続制御信号ＣＬ［ｊ，ｉ］を生成する。

なお、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］は、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］に接続される信号線１１１が検査対象であるかを示す。例えば、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａに接続される信号線１１１が検査対象として選択される場合、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］がハイレベルに設定される。すなわち、プリチャージ選択回路１５２［ｉ］のプリチャージスイッチ１５２ａに接続される信号線１１１が検査対象として選択されていない場合、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］は、ローレベルに設定される。

したがって、論理積回路１５４ａは、検査動作では、対応するプリチャージスイッチ１５２ａが検査制御信号ＳＯＵＴにより選択されている場合、プリチャージ制御信号ＰＳＬを接続制御信号ＣＬとしてプリチャージスイッチ１５２ａに出力する。例えば、スイッチ駆動回路１５４［１］の論理積回路１５４ａ［１］は、検査動作では、第１系列の信号線１１１が検査対象であることを検査制御信号ＳＯＵＴ［１］が示す場合、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］を接続制御信号ＣＬ［１，１］として、プリチャージ選択回路１５２［１］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］に出力する。

また、論理積回路１５４ａは、検査動作では、対応するプリチャージスイッチ１５２ａが検査制御信号ＳＯＵＴで選択されていない場合、プリチャージスイッチ１５２ａを非導通状態に設定する接続制御信号ＣＬを、プリチャージスイッチ１５２ａに出力する。例えば、スイッチ駆動回路１５４［１］の論理積回路１５４ａ［１］は、検査動作では、第１系列の信号線１１１が検査対象でないことを検査制御信号ＳＯＵＴ［１］が示す場合、プリチャージ選択回路１５２［１］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］を非導通状態に設定する接続制御信号ＣＬ［１，１］を、プリチャージ選択回路１５２［１］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］に出力する。

そして、論理積回路１５４ａは、通常動作では、プリチャージ制御信号ＰＳＬを接続制御信号ＣＬとしてプリチャージスイッチ１５２ａに出力する。例えば、スイッチ駆動回路１５４［１］の論理積回路１５４ａ［１］は、通常動作では、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］を接続制御信号ＣＬ［１，１］として、プリチャージ選択回路１５２［１］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］に出力する。

検査回路１６０は、例えば、シフトレジスターであり、検査対象の信号線１１１を含む信号線群を示す検査制御信号ＳＯＵＴをスイッチ駆動回路１５４に出力する。例えば、検査回路１６０は、第１のクロックドインバーター１６１ａ、第２のインバーター１６１ｂ、第２のクロックドインバーター１６１ｃおよびｋ個の単位回路１６２［１］〜１６２［ｋ］を有する。なお、以下では、第１のクロックドインバーター１６１ａ等のクロックドインバーターがクロック信号を受ける２つの端子を第１クロック端子および第２クロック端子として、検査回路１６０の動作等を説明する。

第１のクロックドインバーター１６１ａの入力端子は、第４の検査パッド１７４に接続され、第１のクロックドインバーター１６１ａの出力端子は、第２のインバーター１６１ｂの入力端子に接続される。そして、第１のクロックドインバーター１６１ａは、第１クロック端子で受ける第１クロック信号ＣＬＫと第２クロック端子で受ける第２クロック信号ＣＬＫＢとに基づいて動作する。例えば、第１のクロックドインバーター１６１ａは、第１クロック信号ＣＬＫがハイレベルで、かつ、第２クロック信号ＣＬＫＢがローレベルの場合にインバーターとして動作し、第１クロック信号ＣＬＫがローレベルで、かつ、第２クロック信号ＣＬＫＢがハイレベルの場合には出力端子をハイインピーダンスにする。

第２のインバーター１６１ｂは、入力端子で受ける信号の反転信号を出力する。第２のインバーター１６１ｂの入力端子は、第１のクロックドインバーター１６１ａの出力端子および第２のクロックドインバーター１６１ｃの出力端子に接続される。第２のインバーター１６１ｂの出力端子は、第２のクロックドインバーター１６１ｃの入力端子および単位回路１６２［１］の入力端子に接続される。

第２のクロックドインバーター１６１ｃの入力端子は、第２のインバーター１６１ｂの出力端子に接続され、第２のクロックドインバーター１６１ｃの出力端子は、第２のインバーター１６１ｂの入力端子に接続される。そして、第２のクロックドインバーター１６１ｃは、第１クロック端子で受ける第２クロック信号ＣＬＫＢと第２クロック端子で受ける第１クロック信号ＣＬＫとに基づいて動作する。例えば、第２のクロックドインバーター１６１ｃは、第２クロック信号ＣＬＫＢがハイレベルで、かつ、第１クロック信号ＣＬＫがローレベルの場合にインバーターとして動作し、第２クロック信号ＣＬＫＢがローレベルで、かつ、第１クロック信号ＣＬＫがハイレベルの場合には出力端子をハイインピーダンスにする。

ｋ個の単位回路１６２［１］〜１６２［ｋ］の各々は、例えば、シフトレジスターの各段に対応する。例えば、各単位回路１６２は、第３のクロックドインバーター１６２ａ、第３のインバーター１６２ｂ、第４のクロックドインバーター１６２ｃ、第２の否定論理積回路１６２ｄ、第４のインバーター１６２ｅおよび検査モード制御スイッチ１６２ｆを有する。単位回路１６２［１］等の奇数番目の単位回路１６２では、第３のクロックドインバーター１６２ａは、第１クロック端子で受ける第２クロック信号ＣＬＫＢと第２クロック端子で受ける第１クロック信号ＣＬＫとに基づいて動作し、第４のクロックドインバーター１６２ｃは、第１クロック端子で受ける第１クロック信号ＣＬＫと第２クロック端子で受ける第２クロック信号ＣＬＫＢとに基づいて動作する。また、単位回路１６２［２］等の偶数番目の単位回路１６２では、第３のクロックドインバーター１６２ａは、第１クロック端子で受ける第１クロック信号ＣＬＫと第２クロック端子で受ける第２クロック信号ＣＬＫＢとに基づいて動作し、第４のクロックドインバーター１６２ｃは、第１クロック端子で受ける第２クロック信号ＣＬＫＢと第２クロック端子で受ける第１クロック信号ＣＬＫとに基づいて動作する。

単位回路１６２［ｉ］が単位回路１６２［１］である場合、第３のクロックドインバーター１６２ａの入力端子は、第２のインバーター１６１ｂの出力端子に接続され、第３のクロックドインバーター１６２ａの出力端子は、第３のインバーター１６２ｂの入力端子に接続される。単位回路１６２［ｉ］が単位回路１６２［２］〜１６２［ｋ］のいずれかである場合、第３のクロックドインバーター１６２ａの入力端子は、前段の単位回路１６２［ｉ−１］の第３のインバーター１６２ｂの出力端子に接続され、第３のクロックドインバーター１６２ａの出力端子は、第３のインバーター１６２ｂの入力端子に接続される。

単位回路１６２［ｉ］が奇数番目の単位回路１６２である場合、第３のクロックドインバーター１６２ａは、第２クロック信号ＣＬＫＢがハイレベルで、かつ、第１クロック信号ＣＬＫがローレベルの場合にインバーターとして動作し、第２クロック信号ＣＬＫＢがローレベルで、かつ、第１クロック信号ＣＬＫがハイレベルの場合には出力端子をハイインピーダンスにする。また、単位回路１６２［ｉ］が偶数番目の単位回路１６２である場合、第３のクロックドインバーター１６２ａは、第１クロック信号ＣＬＫがハイレベルで、かつ、第２クロック信号ＣＬＫＢがローレベルの場合にインバーターとして動作し、第１クロック信号ＣＬＫがローレベルで、かつ、第２クロック信号ＣＬＫＢがハイレベルの場合には出力端子をハイインピーダンスにする。

単位回路１６２［ｉ］の第３のインバーター１６２ｂは、入力端子で受ける信号の反転信号を出力する。第３のインバーター１６２ｂの入力端子は、第３のクロックドインバーター１６２ａの出力端子および第４のクロックドインバーター１６２ｃの出力端子に接続される。単位回路１６２［ｉ］が単位回路１６２［１］〜１６２［ｋ−１］のいずれかである場合、第３のインバーター１６２ｂの出力端子は、第４のクロックドインバーター１６２ｃの入力端子および次段の単位回路１６２［ｉ＋１］の入力端子に接続される。単位回路１６２［ｉ］が単位回路１６２［ｋ］である場合、第３のインバーター１６２ｂの出力端子は、第４のクロックドインバーター１６２ｃの入力端子に接続される。

単位回路１６２［ｉ］の第４のクロックドインバーター１６２ｃの入力端子は、第３のインバーター１６２ｂの出力端子に接続され、第４のクロックドインバーター１６２ｃの出力端子は、第３のインバーター１６２ｂの入力端子に接続される。単位回路１６２［ｉ］が奇数番目の単位回路１６２である場合、第４のクロックドインバーター１６２ｃは、第１クロック信号ＣＬＫがハイレベルで、かつ、第２クロック信号ＣＬＫＢがローレベルの場合にインバーターとして動作し、第１クロック信号ＣＬＫがローレベルで、かつ、第２クロック信号ＣＬＫＢがハイレベルの場合には出力端子をハイインピーダンスにする。また、単位回路１６２［ｉ］が偶数番目の単位回路１６２である場合、第４のクロックドインバーター１６２ｃは、第２クロック信号ＣＬＫＢがハイレベルで、かつ、第１クロック信号ＣＬＫがローレベルの場合にインバーターとして動作し、第２クロック信号ＣＬＫＢがローレベルで、かつ、第１クロック信号ＣＬＫがハイレベルの場合には出力端子をハイインピーダンスにする。

単位回路１６２［ｉ］の第２の否定論理積回路１６２ｄは、２つの入力端子で受ける信号の否定論理積の演算結果を出力する。第２の否定論理積回路１６２ｄの２つの入力端子は、第３のクロックドインバーター１６２ａの入力端子および第３のインバーター１６２ｂの出力端子にそれぞれ接続され、第２の否定論理積回路１６２ｄの出力端子は、第４のインバーター１６２ｅの入力端子に接続される。

単位回路１６２［ｉ］の第４のインバーター１６２ｅは、入力端子で受ける信号の反転信号を出力する。第４のインバーター１６２ｅの入力端子は、第２の否定論理積回路１６２ｄの出力端子に接続される。また、単位回路１６２［ｉ］の第４のインバーター１６２ｅの出力端子は、スイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［１］〜１５４ａ［８］の入力端子に共通に接続される。すなわち、単位回路１６２［ｉ］の第４のインバーター１６２ｅは、検査制御信号ＳＯＵＴ［ｉ］をスイッチ駆動回路１５４［ｉ］の論理積回路１５４ａ［１］〜１５４ａ［８］に出力する。

単位回路１６２［ｉ］の検査モード制御スイッチ１６２ｆの一方の接点は、単位回路１６２［ｉ］の第４のインバーター１６２ｅの入力端子に接続される。単位回路１６２［ｉ］の検査モード制御スイッチ１６２ｆの他方の接点、すなわち、第４のインバーター１６２ｅの入力端子に接続されていない接点には、低電位側の電源である第１電源２３０から第１電源電圧ＶＳＳＹが供給される。例えば、検査モード制御スイッチ１６２ｆの他方の接点は、低電位側電源線１１６に接続される。検査モード制御スイッチ１６２ｆの制御端子は、検査モード信号ＴＸが供給される第５の検査パッド１７５に接続される。なお、第５の検査パッド１７５は、第２電源電圧ＶＤＤＹが供給される高電位側電源線１１７にプルアップ抵抗１６４を介して接続される。

検査モード制御スイッチ１６２ｆは、例えば、ＴＦＴ等で構成されるＮチャネル型のトランジスターであり、ゲート等の制御端子で受ける検査モード信号ＴＸのレベルに応じて、導通状態と非導通状態とのいずれかに設定される。なお、検査モード制御スイッチ１６２ｆは、ＴＦＴ以外のスイッチング素子でもよい。

第３のクロックドインバーター１６２ａ、第３のインバーター１６２ｂ、第４のクロックドインバーター１６２ｃおよび第２の否定論理積回路１６２ｄは、例えば、第１の検査パッド１７１から供給される第３電源電圧ＶＤＤＸと低電位側電源線１１６から供給される第１電源電圧ＶＳＳＹとを電源電圧として動作する。第４のインバーター１６２ｅおよび検査モード制御スイッチ１６２ｆは、高電位側電源線１１７から供給される第２電源電圧ＶＤＤＹと低電位側電源線１１６から供給される第１電源電圧ＶＳＳＹとを電源電圧として動作する。

図４に示す例では、プリチャージスイッチ１５２ａは、表示領域１２０に対して第１方向Ｄ１の側に配置され、スイッチ駆動回路１５４は、プリチャージスイッチ１５２ａに対して第１方向Ｄ１の側に配置され、検査回路１６０は、スイッチ駆動回路１５４に対して第１方向Ｄ１の側に配置される。

スイッチ駆動回路１５４をプリチャージスイッチ１５２ａの近くに配置することにより、プリチャージスイッチ１５２ａを駆動する際の駆動負荷の増加を低減することができる。次に、図５を参照して、電気光学装置１の通常動作について説明する。

図５は、第１実施形態に係る電気光学装置１の動作タイミングの一例を示す図である。なお、図５は、正極性駆動における各水平走査期間Ｈの通常動作の動作タイミングを示す。通常動作では、例えば、第１の検査パッド１７１、第２の検査パッド１７２、第３の検査パッド１７３、第４の検査パッド１７４、第５の検査パッド１７５および第６の検査パッド１７６等は、ハイインピーダンスに設定される。

通常動作では、第５の検査パッド１７５がハイインピーダンスに設定されるため、検査モード信号ＴＸは、プルアップ抵抗１６４により、ハイレベルに維持される。この場合、検査モード制御スイッチ１６２ｆが導通状態に設定されるため、検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］がハイレベルに維持される。したがって、通常動作では、論理積回路１５４ａは、プリチャージ制御信号ＰＳＬを接続制御信号ＣＬとしてプリチャージスイッチ１５２ａに出力する。この結果、プリチャージ回路１５０は、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］にしたがって、プリチャージを実行する。

第１の水平走査期間Ｈ［１］は、画像信号Ｓに基づくビデオ電圧を１行目の画素１２２に書き込むための水平走査期間Ｈである。第１の水平走査期間Ｈ［１］では、１行目の走査線１１０に供給される走査信号Ｇ［１］の電位がハイレベルに設定される。１行目以外の走査線１１０に供給される走査信号Ｇ［２］〜Ｇ［ｍ］は、ローレベルに維持される。書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［８］の各々のハイレベルの期間は、書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［８］の順に切り替わる。すなわち、第１系列の信号線１１１から第８系列の信号線１１１までの各系列の信号線１１１に対して、画像信号Ｓの供給期間が順番に割り当てられる。この結果、各系列の信号線１１１に画像信号Ｓが順番に供給される。

また、書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［７］の各々のハイレベル期間の切り替わりに合わせて、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［２］〜ＰＳＬ［８］の各々のハイレベル期間が切り替わる。例えば、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［２］は、書き込み選択信号ＳＬ［１］がハイレベルに遷移するタイミングに同期してハイレベルに遷移し、所定時間経過後にローレベルに遷移する。プリチャージ制御信号ＰＳＬ［２］がハイレベルに維持されている第２系列のプリチャージ期間に、第２系列の信号線１１１に対するプリチャージが実行される。すなわち、第２系列のプリチャージ期間に、第２系列の信号線１１１にプリチャージ信号ＰＲＣが供給される。このため、第２系列の信号線１１１は、プリチャージ信号ＰＲＣに基づく正極性のプリチャージ電圧Ｖｐｒｃｐに充電される。なお、第１の水平走査期間Ｈ［１］では、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］は、ローレベルに維持される。

第２の水平走査期間Ｈ［２］では、２行目の走査線１１０に供給される走査信号Ｇ［２］の電位がハイレベルに設定され、２行目以外の走査線１１０に供給される走査信号Ｇは、ローレベルに維持される。第２の水平走査期間Ｈ［２］では、第１系列から第８系列までの各系列の信号線１１１に画像信号Ｓを順番に供給する際の順番が第１の水平走査期間Ｈ［１］と異なる。例えば、書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［８］の各々のハイレベルの期間は、書き込み選択信号ＳＬ［２］〜ＳＬ［８］、ＳＬ［１］の順に切り替わる。書き込み選択信号ＳＬ［２］〜ＳＬ［８］の各々のハイレベル期間の切り替わりに合わせて、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［３］〜ＰＳＬ［８］、ＰＳＬ［１］の各々のハイレベル期間が順番に切り替わる。なお、第２の水平走査期間Ｈ［２］では、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［２］は、ローレベルに維持される。

第ｍの水平走査期間Ｈ［ｍ］では、ｍ行目の走査線１１０に供給される走査信号Ｇ［ｍ］の電位がハイレベルに設定され、ｍ行目以外の走査線１１０に供給される走査信号Ｇは、ローレベルに維持される。図５に示す例では、ｍは８の倍数である。第ｍの水平走査期間Ｈ［ｍ］では、第１系列から第８系列までの各系列の信号線１１１に画像信号Ｓを順番に供給する際の順番が第１の水平走査期間Ｈ［１］と異なる。例えば、書き込み選択信号ＳＬ［１］〜ＳＬ［８］の各々のハイレベルの期間は、書き込み選択信号ＳＬ［８］、ＳＬ［１］〜ＳＬ［７］の順に切り替わる。書き込み選択信号ＳＬ［８］、ＳＬ［１］〜ＳＬ［６］の各々のハイレベル期間の切り替わりに合わせて、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［７］の各々のハイレベル期間が順番に切り替わる。なお、第ｍの水平走査期間Ｈ［ｍ］では、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［８］は、ローレベルに維持される。図５に示す動作タイミングでは、電気光学装置１は、最初の供給期間に画像信号Ｓが供給される信号線１１１を８つの水平走査期間Ｈで異ならせる。

なお、負極性駆動における各水平走査期間Ｈの動作タイミングでは、プリチャージ動作で、プリチャージ信号ＰＲＣに基づく負極性のプリチャージ電圧に信号線１１１が充電される。走査信号Ｇ、書き込み選択信号ＳＬおよびプリチャージ制御信号ＰＳＬは、正極性駆動の場合と同様に制御される。次に、図６を参照して、信号線１１１の状態を検査する際に電気光学パネル１００に供給する信号について説明する。

図６は、信号線１１１の状態を検査する際に電気光学パネル１００に供給する信号の一例を示す図である。信号線１１１の状態を検査する検査動作では、第１クロック信号ＣＬＫが第２の検査パッド１７２に供給され、第２クロック信号ＣＬＫＢが第３の検査パッド１７３に供給され、ローレベルの検査モード信号ＴＸが第５の検査パッド１７５に供給される。この場合、検査モード制御スイッチ１６２ｆは、非導通状態に設定される。

検査動作では、ハイレベルの期間が第１クロック信号ＣＬＫの１周期分のスタートパルスＤＸが、第４の検査パッド１７４に供給される。この場合、ハイレベルの期間が第１クロック信号ＣＬＫの０．５周期分の検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］が、第１クロック信号ＣＬＫの立ち上がりおよび第２クロック信号ＣＬＫＢの立ち上がりに同期して、順次出力される。なお、各系列のプリチャージ制御信号線１１３の検査パッドには、検査制御信号ＳＯＵＴがハイレベルの期間Ｔ内にプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］を順番に導通状態に設定するプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］が供給される。

例えば、期間Ｔ［２］では、検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］のうちの検査制御信号ＳＯＵＴ［１］のみがハイレベルであるため、プリチャージ選択回路１５２［１］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］が順番に導通状態に設定される。すなわち、期間Ｔ［２］では、１列目から８列目までの信号線１１１がプリチャージ電源線１１５に順次接続される。

また、例えば、期間Ｔ［ｋ＋１］では、検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］のうちの検査制御信号ＳＯＵＴ［ｋ］のみがハイレベルであるため、プリチャージ選択回路１５２［ｋ］のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］が順番に導通状態に設定される。すなわち、期間Ｔ［ｋ＋１］では、ｎ−７列目からｎ列目までの信号線１１１がプリチャージ電源線１１５に順次接続される。次に、図７を参照して、互いに隣接する信号線１１１の短絡を検査する短絡検査について説明する。

図７は、互いに隣接する信号線１１１の短絡を検査する短絡検査の説明図である。なお、図７では、デマルチプレクサー１４０［１］に接続される信号線１１１の短絡を検査する場合を例にして、短絡検査を説明する。例えば、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］が導通状態に設定されている期間では、第１系列の信号線１１１に隣接する第２系列および第８系列の信号線１１１に接続される書き込みスイッチ１４２［２］および１４２［８］が書き込み選択信号ＳＬ［２］およびＳＬ［８］により導通状態に設定される。

例えば、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１と第２系列の信号線１１１との間に短絡部ＳＨ１が存在する場合、第６の検査パッド１７６とデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えることにより電流が流れる。このため、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１と第２系列の信号線１１１との短絡を検出することができる。なお、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１と第２系列の信号線１１１とが短絡していない場合、第６の検査パッド１７６とデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えても、電流は流れない。次に、図８を参照して、信号線１１１の断線を検査する断線検査について説明する。

図８は、信号線１１１の断線を検査する断線検査の説明図である。なお、図８では、デマルチプレクサー１４０［１］に接続される信号線１１１の断線を検査する場合を例にして、断線検査を説明する。例えば、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］が導通状態に設定されている期間では、第１系列の信号線１１１に接続される書き込みスイッチ１４２［１］が書き込み選択信号ＳＬ［１］により導通状態に設定される。図８のバツ印は、断線を示す。

例えば、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１に断線部ＤＣ１が存在する場合、第６の検査パッド１７６とデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えても、電流は流れない。これに対し、信号線１１１が断線していない場合、例えば、第６の検査パッド１７６とデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えることにより電流が流れる。すなわち、第６の検査パッド１７６とデータ線１１２との間に電位差を与えることにより、信号線１１１の断線を検出することができる。

電気光学装置１では、検査動作において、プリチャージスイッチ１５２ａが検査用のスイッチとして、検査対象の信号線１１１を示す検査制御信号ＳＯＵＴとプリチャージ制御信号ＰＳＬとの論理積に基づいて生成される接続制御信号ＣＬにより制御される。すなわち、電気光学装置１では、プリチャージスイッチ１５２ａが検査用のスイッチを兼用する。このため、電気光学装置１では、プリチャージスイッチ１５２ａと検査用のスイッチとをそれぞれ設ける構成に比べて、信号線１１１に接続されるスイッチの数を低減することができる。すなわち、電気光学装置１では、プリチャージスイッチ１５２ａと検査用のスイッチとをそれぞれ設ける構成に比べて、プリチャージスイッチ１５２ａおよび信号線１１１等の配置間隔を狭くすることができる。この結果、電気光学装置１では、プリチャージスイッチ１５２ａおよび信号線１１１等を狭ピッチで配置することができる。

以上、第１実施形態では、電気光学装置１は、ｎ本の信号線１１１のうち一の信号線１１１における画像信号Ｓの入力端を始点にして一の信号線１１１の延在する方向を第１方向Ｄ１とする場合、画像を表示する表示領域１２０に対して第１方向Ｄ１の側に配置されるプリチャージ回路１５０および検査回路１６０を有する。検査回路１６０は、ｎ本の信号線１１１を検査する検査動作において、ｎ本の信号線１１１のうちの検査対象の信号線１１１を選択する検査制御信号ＳＯＵＴをプリチャージ回路１５０に出力する。

また、プリチャージ回路１５０は、プリチャージ制御信号ＰＳＬに基づいてｎ本の信号線１１１にプリチャージ信号ＰＲＣを所定の順序で供給する。例えば、プリチャージ回路１５０は、ｎ本の信号線１１１と１対１に対応して設けられるｎ個の処理回路として、プリチャージスイッチ１５２ａおよび論理積回路１５４ａを含むｎ個の回路群を有する。すなわち、１個の処理回路は、プリチャージスイッチ１５２ａおよび論理積回路１５４ａを有する。

プリチャージスイッチ１５２ａは、１本の信号線１１１とプリチャージ信号ＰＲＣが供給されるプリチャージ電源線１１５との間の電気的な接続状態を接続制御信号ＣＬに基づいて導通状態と非導通状態との間で切り替える。

信号選択回路として機能する論理積回路１５４ａは、検査動作において、プリチャージスイッチ１５２ａが検査制御信号ＳＯＵＴに基づいて選択される場合、プリチャージ制御信号ＰＳＬを接続制御信号ＣＬとしてプリチャージスイッチ１５２ａに出力する。また、論理積回路１５４ａは、検査動作において、プリチャージスイッチ１５２ａが検査制御信号ＳＯＵＴで選択されない場合、プリチャージスイッチ１５２ａを非導通状態に設定する接続制御信号ＣＬをプリチャージスイッチ１５２ａに出力する。また、論理積回路１５４ａは、画像信号Ｓに応じて画像を表示する通常動作では、プリチャージ制御信号ＰＳＬを接続制御信号ＣＬとしてプリチャージスイッチ１５２ａに出力する。

すなわち、電気光学装置１では、プリチャージスイッチ１５２ａが検査用のスイッチを兼用する。このため、電気光学装置１では、プリチャージスイッチ１５２ａと検査用のスイッチとをそれぞれ設ける構成に比べて、プリチャージスイッチ１５２ａおよび信号線１１１等の配置間隔を狭くすることができる。この結果、電気光学装置１では、プリチャージスイッチ１５２ａおよび信号線１１１等を狭ピッチで配置することができる。

＜第２実施形態＞
第２実施形態と第１実施形態の主な相違点は、８本のプリチャージ制御信号線１１３が４本のプリチャージ制御信号線１１３を含む２個の信号線群に分けられ、２個の信号線群の間に論理積回路１５４ａが配置される点である。

図９は、第２実施形態に係る電気光学装置１の構成を示すブロック図である。図１から図８で説明済みの要素と同一の要素については、同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。図９の第１方向Ｄ１の意味は、図２の第１方向Ｄ１と同じである。また、第２方向Ｄ２は、電気光学パネル１００において、ｍ本の走査線１１０のうち一の走査線１１０の延在する方向を示す。

図９に示す電気光学装置１は、電気光学パネル１００内の論理積回路１５４ａ等の配置を除いて、図１の電気光学装置１と同一である。例えば、電気光学装置１は、電気光学パネル１００と、駆動用集積回路２００と、図１のフレキシブル回路基板３００とを有する。駆動用集積回路２００は、図２の駆動用集積回路２００と同一である。

図９に示す電気光学パネル１００は、図２のプリチャージ回路１５０の代わりにプリチャージ回路１５０Ａを有し、１系統のプリチャージ電源線１１５の代わりに２系統のプリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂを有する。図９の電気光学パネル１００のその他の構成は、図２の電気光学パネル１００と同一である。例えば、電気光学パネル１００は、ｍ本の走査線１１０、ｎ本の信号線１１１、プリチャージ制御信号線１１３、プリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂ、表示領域１２０、走査線駆動回路１３０、ｋ個のデマルチプレクサー１４０［１］〜１４０［ｋ］、プリチャージ回路１５０Ａおよび検査回路１６０を有する。なお、本実施形態では、信号線１１１を８個の系列に区分しているため、プリチャージ制御信号線１１３の数は、８本である。

なお、図９では、図２と同様に、図を見やすくするために、第１の検査パッド１７１以外の検査パッドの記載を省略している。図９以降では、プリチャージ電源線１１５ａに供給されるプリチャージ信号ＰＲＣは、プリチャージ信号ＰＲＣａとも称され、プリチャージ電源線１１５ｂに供給されるプリチャージ信号ＰＲＣは、プリチャージ信号ＰＲＣｂとも称される。

プリチャージ回路１５０Ａには、２系統のプリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂからプリチャージ信号ＰＲＣａおよびＰＲＣｂがそれぞれ供給される。プリチャージ回路１５０Ａの詳細は、図１０で説明する。

図１０は、図９のプリチャージ回路１５０Ａおよび検査回路１６０の構成を示す回路図である。図１０の第１方向Ｄ１および第２方向Ｄ２の意味は、図９の第１方向Ｄ１および第２方向Ｄ２と同じである。図１０に示すプリチャージ回路１５０Ａでは、プリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂが第６の検査パッド１７６ａおよび１７６ｂにそれぞれ接続される。検査回路１６０は、図４の検査回路１６０と同一である。このため、図１０では、プリチャージ回路１５０Ａを中心に説明する。

プリチャージ回路１５０Ａは、２系統のプリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂからプリチャージ信号ＰＲＣａおよびＰＲＣｂがそれぞれ供給されることとスイッチ駆動回路１５４の配置とを除いて、図４のプリチャージ回路１５０と同一である。例えば、プリチャージ回路１５０Ａは、ｋ個の信号線群にそれぞれ対応して設けられるｋ個のプリチャージ選択回路１５２［１］〜１５２［ｋ］と、ｋ個のプリチャージ選択回路１５２［１］〜１５２［ｋ］にそれぞれ対応して設けられるｋ個のスイッチ駆動回路１５４［１］〜１５４［ｋ］とを有する。

プリチャージ選択回路１５２［ｉ］の８個のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］〜１５２ａ［８］の各々の一方の接点は、図４のプリチャージスイッチ１５２ａと同様に、８×ｉ−７列目から８×ｉ列目までの８本の信号線１１１にそれぞれ接続される。そして、各プリチャージ選択回路１５２の奇数系列のプリチャージスイッチ１５２ａ［１］、１５２ａ［３］、１５２ａ［５］および１５２ａ［７］の各々の他方の接点、すなわち、信号線１１１に接続されていない接点は、プリチャージ電源線１１５ａに共通に接続される。また、各プリチャージ選択回路１５２の偶数系列のプリチャージスイッチ１５２ａ［２］、１５２ａ［４］、１５２ａ［６］および１５２ａ［８］の各々の他方の接点、すなわち、信号線１１１に接続されていない接点は、プリチャージ電源線１１５ｂに共通に接続される。プリチャージ回路１５０Ａのその他の構成は、図４のプリチャージ回路１５０と同一である。

また、図１０に示す例では、８本のプリチャージ制御信号線１１３は、第１系列、第３系列、第５系列および第７系列の４本のプリチャージ制御信号線１１３を含む第１群と、第２系列、第４系列、第６系列および第８系列の４本のプリチャージ制御信号線１１３を含む第２群とに分けられる。なお、複数本のプリチャージ制御信号線１１３の分け方は、奇数系列のプリチャージ制御信号線１１３の群と偶数系列のプリチャージ制御信号線１１３の群とに分けることに限定されない。例えば、８本のプリチャージ制御信号線１１３は、第１系列、第２系列、第３系列および第４系列の４本のプリチャージ制御信号線１１３を含む群と、第５系列、第６系列、第７系列および第８系列の４本のプリチャージ制御信号線１１３を含む群とに分けられてもよい。

第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分は、プリチャージ選択回路１５２に対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。すなわち、第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分は、プリチャージスイッチ１５２ａに対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。なお、プリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分は、電気光学パネル１００内のプリチャージ制御信号線１１３の配線のうち、第２方向Ｄ２に延在する部分である。

スイッチ駆動回路１５４は、第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分に対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。すなわち、信号選択回路として機能する論理積回路１５４ａは、第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分に対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。

そして、第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分は、スイッチ駆動回路１５４に対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。すなわち、第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分は、論理積回路１５４ａに対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。検査回路１６０は、第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線の一部分に対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。

図１０に示すように、スイッチ駆動回路１５４は、第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分と、第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分との間に配置される。このため、スイッチ駆動回路１５４にプリチャージ制御信号ＰＳＬを２方向から入力するレイアウトが可能になる。この結果、プリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分から第１の否定論理積回路１５４ｂの入力端子であるゲート電極までの支線１１３ａの長さを、図４の構成に比べて短くすることができる。図１０では、プリチャージ制御信号線１１３の配線のうち、支線１１３ａに対応する部分を太線で示す。プリチャージ回路１５０Ａは、プリチャージ制御信号線１１３の支線１１３ａの長さを短くすることができるため、プリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷となる寄生容量を低減でき、プリチャージスイッチ１５２ａを高速に駆動できる。

また、検査回路１６０からスイッチ駆動回路１５４までの配線は、第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線と交差する前に８本に分岐している。この結果、プリチャージ回路１５０Ａでは、検査回路１６０からスイッチ駆動回路１５４までの配線と第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線との交差数と、第１のインバーター１５４ｃの出力端子からプリチャージスイッチ１５２ａの接点までの配線と第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線との交差数とは、互いに同じである。この構成により、第１群のプリチャージ制御信号線１１３と第２群のプリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷がほぼ同一となるので、スイッチ駆動回路１５４単位でみた場合の各画素列に対するプリチャージ動作の信号線１１１間の遅延差を抑制することができ、表示上の不具合の発生を抑制することができる。

詳細に説明すると、ある水平走査期間Ｈの時刻Ｔ１に第１系列の信号線１１１にプリチャージを行いたい場合、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］が供給される第１系列のプリチャージ制御信号線１１３の末端部で制御される第１系列の信号線１１１へのプリチャージは時刻Ｔ１＋δＴ１に実施される。ここで、δＴ１は、第１系列のプリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷と配線抵抗によって生じる遅延時間である。同様にして、時刻Ｔ２に第２系列の信号線１１１にプリチャージを行いたい場合、プリチャージ制御信号ＰＳＬ［２］が供給される第２系列のプリチャージ制御信号線１１３の末端部で制御される第２系列の信号線１１１へのプリチャージは時刻Ｔ２＋δＴ２に実施される。ここで、δＴ２は、第２系列のプリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷と配線抵抗によって生じる遅延時間である。プリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷を近しくするとδＴ１＝δＴ２とできるので、表示上の不具合の発生を抑制することができる。

さらに、第２群のプリチャージ制御信号線１１３のうち、第２系列のプリチャージ制御信号線１１３の配線についてみると、一方側にはスイッチ駆動回路１５４が隣接し、他方側には第４系列のプリチャージ制御信号線１１３が隣接している。同様に、第１群のプリチャージ制御信号線１１３のうち、第１系列のプリチャージ制御信号線１１３の配線についてみると、一方側にはスイッチ駆動回路１５４が隣接し、他方側には第３系列のプリチャージ制御信号線１１３が隣接している。プリチャージ制御信号線１１３と他ノードとの寄生容量関係が互いに近しくなるので、隣接する２つの信号線１１１へのプリチャージ動作を制御する第１系列および第２系列のプリチャージ制御信号線１１３は近しい駆動負荷を有する。同様にして、第３系列および第４系列のプリチャージ制御信号線１１３は近しい駆動負荷となり、第５系列および第６系列のプリチャージ制御信号線１１３は近しい駆動負荷となり、第７系列および第８系列のプリチャージ制御信号線１１３は近しい駆動負荷となる。この構成も表示上の不具合の発生の抑制に有効である。

ここで、図４の構成と図１０の構成とを比較して、プリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷について説明する。例えば、プリチャージ制御信号線１１３の支線１１３ａがゲート電極層であり、プリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分が第１金属層配線層であり、検査回路１６０からスイッチ駆動回路１５４までの配線のうちのプリチャージ制御信号線１１３と重なる部分が第２金属配線層である場合を考える。

例えば、ゲート電極層と第１金属層配線層との間に介在する絶縁層による交差配線容量を１Ａとし、第１金属層配線層と第２金属層配線層との間に介在する絶縁層による交差配線容量を０．４Ａとする。なおここで、Ａは２つの容量比を表すために便宜上設定している単位であって固有の数値を示すものではない。この場合、図４の構成における第８系列のプリチャージ制御信号線１１３では、１つのスイッチ駆動回路１５４あたりの交差配線容量の合計は、１Ａ×７箇所と０．４×１箇所との和で７．４Ａとなる。これに対し、図１０の構成における第２系列のプリチャージ制御信号線１１３では、１つのスイッチ駆動回路１５４あたりの交差配線容量の合計は、１Ａ×３箇所と０．４×８箇所との和で６．２Ａとなる。したがって、図１０の構成では、図４の構成に比べて、交差配線容量を小さくすることができる。

さらに、図１０の構成では、図４の構成に比べて、互いに隣接する支線１１３ａの間隔が約２倍になる。このため、図１０の構成では、図４の構成に比べて、支線１１３ａ間の並行配線容量も小さくすることができる。図１０の構成では、図４の構成に比べて、交差配線容量および支線１１３ａ間の並行配線容量等を小さくできるため、プリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷を小さくすることができる。

電気光学装置１の通常動作における動作タイミングは、例えば、図５の動作タイミングと同じである。また、信号線１１１の状態を検査する検査動作では、図６の信号タイミングと同じタイミングで電気光学パネル１００に信号が供給されてもよいし、図６の信号タイミングと異なるタイミングで電気光学パネル１００に信号が供給されてもよい。次に、図１１および図１２を参照して、図６の信号タイミングと同じタイミングで信号を電気光学パネル１００に供給して信号線１１１の状態を検査する例について説明する。

図１１は、互いに隣接する信号線１１１の短絡を検査する短絡検査の一例の説明図である。図１１に示す短絡検査では、検査モード信号ＴＸ、第１クロック信号ＣＬＫ、第２クロック信号ＣＬＫＢ、スタートパルスＤＸおよびプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］が、図７の短絡検査と同じように、電気光学パネル１００に供給される。例えば、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］が導通状態に設定されている期間では、第１系列の信号線１１１に隣接する第２系列および第８系列の信号線１１１に接続される書き込みスイッチ１４２［２］および１４２［８］が書き込み選択信号ＳＬ［２］およびＳＬ［８］により導通状態に設定される。

例えば、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１と第２系列の信号線１１１との間に短絡部ＳＨ２が存在する場合、第６の検査パッド１７６ａとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えることにより電流が流れる。このため、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１と第２系列の信号線１１１との短絡を検出することができる。次に、図１２を参照して、信号線１１１の断線を検査する断線検査について説明する。

図１２は、信号線１１１の断線を検査する断線検査の一例の説明図である。図１２に示す断線検査では、検査モード信号ＴＸ、第１クロック信号ＣＬＫ、第２クロック信号ＣＬＫＢ、スタートパルスＤＸおよびプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］が、図８の断線検査と同じように、電気光学パネル１００に供給される。例えば、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］が導通状態に設定されている期間では、第１系列の信号線１１１に接続される書き込みスイッチ１４２［１］が書き込み選択信号ＳＬ［１］により導通状態に設定される。図１２のバツ印は、断線を示す。

例えば、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１に断線部ＤＣ２が存在する場合、第６の検査パッド１７６ａとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えても、電流は流れない。これに対し、信号線１１１が断線していない場合、例えば、第６の検査パッド１７６ａとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えることにより電流が流れる。すなわち、第６の検査パッド１７６ａおよび１７６ｂの一方とデータ線１１２との間に電位差を与えることにより、信号線１１１の断線を検出することができる。次に、図１３から図１５を参照して、図６の信号タイミングと異なるタイミングで信号を電気光学パネル１００に供給して信号線１１１の状態を検査する例について説明する。

図１３は、信号線１１１の状態を検査する際に電気光学パネル１００に供給する信号の一例を示す図である。信号線１１１の状態を検査する検査動作では、第１クロック信号ＣＬＫが第２の検査パッド１７２に供給され、第２クロック信号ＣＬＫＢが第３の検査パッド１７３に供給され、ローレベルの検査モード信号ＴＸが第５の検査パッド１７５に供給される。この場合、検査モード制御スイッチ１６２ｆは、非導通状態に設定される。

検査動作では、ハイレベルの期間が第１クロック信号ＣＬＫの１周期分のスタートパルスＤＸが、第４の検査パッド１７４に供給される。この場合、ハイレベルの期間が第１クロック信号ＣＬＫの０．５周期分の検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］が、第１クロック信号ＣＬＫの立ち上がりおよび第２クロック信号ＣＬＫＢの立ち上がりに同期して、順次出力される。

なお、各系列のプリチャージ制御信号線１１３の検査パッドには、検査制御信号ＳＯＵＴがハイレベルの期間Ｔ内にプリチャージスイッチ１５２ａの組毎に順番に導通状態に設定するプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］が供給される。図１１に示す例では、プリチャージスイッチ１５２ａの組は、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］および１５２ａ［２］の組と、プリチャージスイッチ１５２ａ［３］および１５２ａ［４］の組と、プリチャージスイッチ１５２ａ［５］および１５２ａ［６］の組と、プリチャージスイッチ１５２ａ［７］および１５２ａ［８］の組とである。

例えば、期間Ｔ［２］では、検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］のうちの検査制御信号ＳＯＵＴ［１］のみがハイレベルであるため、プリチャージ選択回路１５２［１］のプリチャージスイッチ１５２ａの組が順番に導通状態に設定される。すなわち、期間Ｔ［２］では、１列目および２列目の信号線１１１の組と、３列目および４列目の信号線１１１の組と、５列目および６列目の信号線１１１の組と、７列目および８列目の信号線１１１の組とがプリチャージ電源線１１５に順次接続される。

また、例えば、期間Ｔ［ｋ＋１］では、検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］のうちの検査制御信号ＳＯＵＴ［ｋ］のみがハイレベルであるため、プリチャージ選択回路１５２［ｋ］のプリチャージスイッチ１５２ａの組が順番に導通状態に設定される。すなわち、期間Ｔ［ｋ＋１］では、ｎ−７列目およびｎ−６列目の信号線１１１の組と、ｎ−５列目およびｎ−４列目の信号線１１１の組と、ｎ−３列目およびｎ−２列目の信号線１１１の組と、ｎ−１列目およびｎ列目の信号線１１１の組とがプリチャージ電源線１１５に順次接続される。次に、図１４を参照して、互いに隣接する信号線１１１の短絡を検査する短絡検査について説明する。

図１４は、互いに隣接する信号線１１１の短絡を検査する短絡検査の一例の説明図である。図１４に示す短絡検査では、検査モード信号ＴＸ、第１クロック信号ＣＬＫ、第２クロック信号ＣＬＫＢ、スタートパルスＤＸおよびプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］が、図１３の信号タイミングで、電気光学パネル１００に供給される。

例えば、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］および１５２ａ［２］が導通状態に設定されている期間では、第１系列および第２系列の信号線１１１の組に隣接する第３系列および第８系列の信号線１１１に接続される書き込みスイッチ１４２［３］および１４２［８］が書き込み選択信号ＳＬ［３］およびＳＬ［８］により導通状態に設定される。

例えば、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１と第２系列の信号線１１１との間に短絡部ＳＨ２が存在する場合、第６の検査パッド１７６ａおよび１７６ｂ間に電位差を与えることにより電流が流れる。このため、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１と第２系列の信号線１１１との短絡を検出することができる。

また、例えば、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第２系列の信号線１１１と第３系列の信号線１１１との間に短絡部ＳＨ３が存在する場合、第６の検査パッド１７６ｂとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えることにより電流が流れる。このため、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第２系列の信号線１１１と第３系列の信号線１１１との短絡を検出することができる。すなわち、第６の検査パッド１７６ａ、１７６ｂおよびデータ線１１２の図示しない検査パッドの３つの検査パッド間に電位差を与えることにより、互いに隣接する信号線１１１の短絡を検査することができる。次に、図１５を参照して、信号線１１１の断線を検査する断線検査について説明する。

図１５は、信号線１１１の断線を検査する断線検査の一例の説明図である。図１５に示す断線検査では、検査モード信号ＴＸ、第１クロック信号ＣＬＫ、第２クロック信号ＣＬＫＢ、スタートパルスＤＸおよびプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］が、図１３の信号タイミングで、電気光学パネル１００に供給される。

例えば、プリチャージスイッチ１５２ａ［１］および１５２ａ［２］が導通状態に設定されている期間では、第１系列および第２系列の信号線１１１に接続される書き込みスイッチ１４２［１］および１４２［２］が書き込み選択信号ＳＬ［１］およびＳＬ［２］により導通状態に設定される。図１５のバツ印は、断線を示す。

例えば、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第１系列の信号線１１１に断線部ＤＣ２が存在する場合、第６の検査パッド１７６ａとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えても、電流は流れない。これに対し、信号線１１１が断線していない場合、例えば、第６の検査パッド１７６ａとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えることにより電流が流れる。すなわち、第６の検査パッド１７６ａとデータ線１１２との間に電位差を与えることにより、信号線１１１の断線を検出することができる。

また、図１５に示す例では、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第２系列の信号線１１１が断線していないため、第６の検査パッド１７６ｂとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えると電流が流れる。なお、デマルチプレクサー１４０［１］に対応する信号線群の第２系列の信号線１１１が断線している場合、第６の検査パッド１７６ｂとデータ線１１２［１］の図示しない検査パッドとの間に電位差を与えても、電流は流れない。すなわち、第６の検査パッド１７６ｂとデータ線１１２との間に電位差を与えることにより、信号線１１１の断線を検出することができる。次に、図１６を参照して、互いに隣接する信号線１１１の短絡の有無を検査する短絡検査について説明する。

図１６は、互いに隣接する信号線１１１の短絡の有無を検査する短絡検査の一例の説明図である。図１６に示す短絡検査では、例えば、第１の検査パッド１７１、第２の検査パッド１７２、第３の検査パッド１７３、第４の検査パッド１７４および第５の検査パッド１７５は、ハイインピーダンスに設定される。この場合、検査モード信号ＴＸがプルアップ抵抗１６４によりハイレベルに維持されるため、検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］がハイレベルに維持される。なお、各系列のプリチャージ制御信号線１１３の検査パッドには、ハイレベルの電圧が印加される。

すなわち、図１６に示す短絡検査では、全ての検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］を強制的にハイレベルに設定し、全てのプリチャージ制御信号ＰＳＬ［１］〜ＰＳＬ［８］をハイレベルに設定することにより、全てのプリチャージスイッチ１５２ａを導通状態に設定する。

互いに隣接する信号線１１１間に短絡部ＳＨ２等が存在する場合、第６の検査パッド１７６ａおよび１７６ｂ間に電位差を与えることにより電流が流れるため、互いに隣接する信号線１１１間の短絡部ＳＨの有無を検出することができる。

なお、図１６に示す短絡検査では、検査モード信号ＴＸ、第１クロック信号ＣＬＫおよび第２クロック信号ＣＬＫＢが、図７の短絡検査と同じように、電気光学パネル１００に供給され、スタートパルスＤＸがハイレベルに維持されてもよい。この場合でも、全ての検査制御信号ＳＯＵＴ［１］〜ＳＯＵＴ［ｋ］は、ハイレベルに維持される。

以上、第２実施形態においても、第１実施形態と同様の効果を得ることができる。また、第２実施形態では、複数本のプリチャージ制御信号線１１３が第１群のプリチャージ制御信号線１１３と第２群のプリチャージ制御信号線１１３とに分けられる。そして、スイッチ駆動回路１５４は、第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分と、第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分との間に配置される。

このため、第２実施形態では、スイッチ駆動回路１５４にプリチャージ制御信号ＰＳＬを２方向から入力するレイアウトが可能になる。この結果、プリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分から第１の否定論理積回路１５４ｂの入力端子であるゲート電極までの支線１１３ａの長さを、図４の構成に比べて短くすることができる。プリチャージ制御信号線１１３の支線１１３ａの長さを短くすることができるため、プリチャージ制御信号線１１３の駆動負荷となる寄生容量を低減することができ、プリチャージスイッチ１５２ａを高速に駆動することができる。

＜第３実施形態＞
第３実施形態と第２実施形態の主な相違点は、論理積回路１５４ａの配置の仕方である。

図１７は、第３実施形態に係る電気光学装置１のプリチャージ回路１５０Ａおよび検査回路１６０の構成を示す回路図である。図１から図１６で説明済みの要素と同一の要素については、同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。第３実施形態に係る電気光学装置１は、プリチャージ回路１５０Ａ内の論理積回路１５４ａの配置の仕方を除いて、第２実施形態の電気光学装置１と同一である。したがって、図１７では、プリチャージ回路１５０Ａ内の論理積回路１５４ａの配置について説明する。なお、図１７では、図を見やすくするために、論理積回路１５４ａに含まれる第１の否定論理積回路１５４ｂおよび第１のインバーター１５４ｃの記載を省略していが、図１７に示す論理積回路１５４ａは、図１０の論理積回路１５４ａと同一である。

論理積回路１５４ａは、第１群のプリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分と、第２群のプリチャージ制御信号線１１３の配線のうちの第２方向Ｄ２に延在する部分との間に配置される。さらに、第２群のプリチャージ制御信号線１１３に接続される論理積回路１５４ａは、第１群のプリチャージ制御信号線１１３に接続される論理積回路１５４ａに対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。図１７に示す例では、論理積回路１５４ａ［２］は、論理積回路１５４ａ［１］に対して第１方向Ｄ１の側に配置され、論理積回路１５４ａ［４］は、論理積回路１５４ａ［３］に対して第１方向Ｄ１の側に配置される。また、論理積回路１５４ａ［６］は、論理積回路１５４ａ［５］に対して第１方向Ｄ１の側に配置され、論理積回路１５４ａ［８］は、論理積回路１５４ａ［７］に対して第１方向Ｄ１の側に配置される。

図１７の構成では、２個の論理積回路１５４ａが第１方向Ｄ１に沿って配置されるため、論理積回路１５４ａを、第２方向Ｄ２に沿って、２画素間隔で配置することができる。例えば、論理積回路１５４ａ［１］、１５４ａ［３］、１５４ａ［５］および１５４ａ［７］を２画素ピッチで配置することができる。したがって、図１０の構成において、信号線１１１等を狭ピッチで配置する際のボトルネックが論理積回路１５４ａの配置間隔である場合、図１７の構成にすることにより、図１０の構成に比べて、信号線１１１等を狭ピッチで配置することができる。

以上、第３実施形態においても、第２実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、第３実施形態では、第２群のプリチャージ制御信号線１１３に接続される論理積回路１５４ａは、第１群のプリチャージ制御信号線１１３に接続される論理積回路１５４ａに対して、第１方向Ｄ１の側に配置される。この結果、論理積回路１５４ａを第２方向Ｄ２に沿って２画素ピッチで配置することができ、信号線１１１等を狭ピッチで配置することができる。したがって、第３実施形態の電気光学装置１は、高精細パネルに適用可能である。

図１８は、電気光学パネル１００の端子配置の一例を示す図である。なお、図１８は、第２実施形態および第３実施形態の電気光学パネル１００の端子配置の一例を示す。第１実施形態の電気光学パネル１００の端子配置は、プリチャージ回路１５０Ａと、プリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂと、プリチャージ信号ＰＲＣａおよびＰＲＣｂとを、それぞれ、プリチャージ回路１５０とプリチャージ電源線１１５とプリチャージ信号ＰＲＣとに読み替えることにより、図１８で説明される。

画像信号端子ＰＮ１０は、信号線駆動回路２１０から画像信号Ｓを受ける端子である。プリチャージ制御信号端子ＰＮ１１は、プリチャージ制御信号線１１３が接続される端子である。なお、図１８では、図を見やすくするために、複数のプリチャージ制御信号端子ＰＮ１１のうちの１つを記載している。符号１８０は、上下導通点を示す。第１電源端子ＰＮ２１は、スイッチ駆動回路１５４の低電位側電源線１１６が接続される端子である。また、プリチャージ電源端子ＰＮ２２ａおよびＰＮ２２ｂは、プリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂが接続される端子である。以下では、プリチャージ電源端子ＰＮ２２ａおよびＰＮ２２ｂは、プリチャージ電源端子ＰＮ２２ａおよびＰＮ２２ｂを区別する必要が無い場合等、単に、プリチャージ電源端子ＰＮ２２とも称される。

図１８に示す例では、電気光学パネル１００において、第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２の両方は、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺に対向する辺に配置される。この場合、プリチャージ回路１５０Ａに近い辺に配置される端子からプリチャージ信号ＰＲＣ等が供給されるため、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺と同じ辺に第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２が配置される場合に比べて、配線抵抗を小さくすることができる。この結果、プリチャージ回路１５０Ａへの電力供給を強化することができる。

なお、電気光学パネル１００において、第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２の両方は、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺に対向する辺以外で、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺とは異なる辺に配置されてもよい。また、第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２の一方が、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺とは異なる辺に配置されてもよい。

また、電気光学パネル１００において、プリチャージ制御信号端子ＰＮ１１は、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺と同じ辺に配置される。この場合、プリチャージ制御信号端子ＰＮ１１を第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２が配置される辺と同じ辺に配置する場合に比べて、第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２等の端子の配置間隔を広くすることができる。また、高速駆動すべき信号端子を同一辺に集約することになるので、駆動用集積回路２００までの接続に好適な構成となる。同一の集積回路からプリチャージ制御信号ＰＳＬ、画像信号Ｓ、書き込み選択信号ＳＬ等の各種信号を出力する構成が容易になるので、各信号間で精度よく同期させた駆動を実現できる。なお、プリチャージ制御信号端子ＰＮ１１は、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺と異なる辺に配置されてもよい。

また、フレキシブル回路基板３００は、第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２の両方を含む第２端子群ＰＮＧ２に接続される。フレキシブル回路基板３００のコネクター部３２０は、例えば、駆動用集積回路２００に接続される。図１８では、画像信号端子ＰＮ１０を含む第１端子群ＰＮＧ１に接続されるフレキシブル回路基板３００の記載を省略している。なお、第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２の一方が、画像信号端子ＰＮ１０が配置される辺とは異なる辺に配置される場合、図１８のフレキシブル回路基板３００は、第１電源端子ＰＮ２１およびプリチャージ電源端子ＰＮ２２の一方を含む端子群に接続される。

また、フレキシブル回路基板３００の複数の配線のうち、プリチャージ電源端子ＰＮ２２に接続される配線と第１電源端子ＰＮ２１に接続される配線との間に、安定化容量が設けられてもよい。さらに、フレキシブル回路基板３００の複数の配線のうち、コモン電圧Ｖｃｏｍが供給される配線と第１電源端子ＰＮ２１に接続される配線との間に、安定化容量が設けられてもよい。

プリチャージ電源端子ＰＮ２２の大きさがプロービング可能な大きさである場合、プリチャージ電源線１１５ａおよび１１５ｂの検査パッドは、省かれてもよい。同様に、第１電源端子ＰＮ２１の大きさがプロービング可能な大きさである場合、低電位側電源線１１６の検査パッドは、省かれてもよい。なお、電気光学パネル１００の端子配置は、図１８に示す例に限定されない。

＜変形例＞
第１実施形態から第３実施形態までの各形態は多様に変形され得る。具体的な変形の態様を以下に例示する。以下の例示から任意に選択される２以上の態様は、相互に矛盾しない範囲で適宜に併合され得る。

＜変形例１＞
第１実施形態から第３実施形態までの各形態において、ｎ本の信号線１１１は、ｋ個の信号線群に分類されなくてもよい。

＜変形例２＞
第１実施形態から第３実施形態までの各形態において、論理積回路１５４ａの低電位側の電源は、走査線駆動回路１３０の低電位側の電源から分離されてもよい。この場合、論理積回路１５４ａが駆動することにより発生するノイズが走査線駆動回路１３０の低電位側の電源に重畳することを抑止でき、画像信号Ｓに基づく電位を保持している画素１２２からリーク電流が発生することを低減できる。

＜変形例３＞
第１実施形態から第３実施形態までの各形態において、各スイッチ駆動回路１５４は、論理積回路１５４ａの代わりに、論理和回路を有してもよい。この場合、第４のインバーター１６２ｅが省かれてもよいし、第４のインバーター１６２ｅの出力端子と論理和回路の入力端子との間にインバーターが追加されてもよい。

＜変形例４＞
第１実施形態から第３実施形態までの各形態において、電気光学パネル１００は、反射型の電気光学装置でもよい。また、電気光学パネル１００は、反射型とする場合、信号線１１１等が形成される素子基板に半導体基板を用いるＬＣＯＳ（Liquid Crystal on Silicon）型としてもよい。

＜応用例＞
この発明は、各種の電子機器に利用され得る。図１９から図２１は、この発明の適用対象となる電子機器の具体的な形態を例示するものである。

図１９は、電子機器の一例であるパーソナルコンピューター２０００を示す斜視図である。パーソナルコンピューター２０００は、各種の画像を表示する電気光学装置１と、電源スイッチ２００１やキーボード２００２が設置される本体部２０１０とを有する。

図２０は、電子機器の一例であるスマートフォン３０００を示す正面図である。スマートフォン３０００は、操作ボタン３００１と、各種の画像を表示する電気光学装置１とを有する。操作ボタン３００１の操作に応じて電気光学装置１に表示される画面内容が変更される。

図２１は、電子機器の一例である投射型表示装置４０００を示す模式図である。投射型表示装置４０００は、例えば、３板式のプロジェクターである。図２１に示す電気光学装置１ｒは、赤色の表示色に対応する電気光学装置１であり、電気光学装置１ｇは、緑の表示色に対応する電気光学装置１であり、電気光学装置１ｂは、青色の表示色に対応する電気光学装置１である。

すなわち、投射型表示装置４０００は、赤、緑および青の表示色に各々対応する３個の電気光学装置１ｒ、１ｇ、１ｂを有する。照明光学系４００１は、光源である照明装置４００２からの出射光のうち赤色成分ｒを電気光学装置１ｒに供給し、緑色成分ｇを電気光学装置１ｇに供給し、青色成分ｂを電気光学装置１ｂに供給する。各電気光学装置１ｒ、１ｇ、１ｂは、照明光学系４００１から供給される各単色光を表示画像に応じて変調するライトバルブ等の光変調器として機能する。投射光学系４００３は、各電気光学装置１ｒ、１ｇ、１ｂからの出射光を合成して投射面４００４に投射する。

前述のパーソナルコンピューター２０００、スマートフォン３０００および投射型表示装置４０００の各々は、前述の電気光学装置１を有するため、表示画像の画質を向上できる。

なお、本発明が適用される電子機器としては、図１９、図２０および図２１に例示される機器のほか、ＰＤＡ（Personal Digital Assistants）、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、車載用の表示器、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話およびＰＯＳ（Point of sale）端末等が挙げられる。さらに、本発明が適用される電子機器としては、プリンター、スキャナー、複写機、ビデオプレーヤーまたはタッチパネルを備える機器等が挙げられる。

以上、本発明の液晶装置および電子機器は、前述の各実施形態に限定されない。また、本発明の各部の構成は、前述の実施形態の同様の機能を発揮する任意の構成に置換でき、また、任意の構成を付加できる。

１、１ｂ、１ｇ、１ｒ…電気光学装置、１００…電気光学パネル、１１０…走査線、１１１…信号線、１１２…データ線、１１３…プリチャージ制御信号線、１１３ａ…支線、１１４…書き込み選択信号線、１１５、１１５ａ、１１５ｂ…プリチャージ電源線、１１６…低電位側電源線、１１７…高電位側電源線、１１８…検査電源線、１２０…表示領域、１２２…画素、１２３…液晶素子、１２３ａ…画素電極、１２３ｂ…コモン電極、１２３ｃ…液晶、１２４…保持容量、１２５…画素トランジスター、１３０…走査線駆動回路、１４０…デマルチプレクサー、１４２…書き込みスイッチ、１５０、１５０Ａ…プリチャージ回路、１５２…プリチャージ選択回路、１５２ａ…プリチャージスイッチ、１５４…スイッチ駆動回路、１５４ａ…論理積回路、１５４ｂ…第１の否定論理積回路、１５４ｃ…第１のインバーター、１６０…検査回路、１６１ａ…第１のクロックドインバーター、１６１ｂ…第２のインバーター、１６１ｃ…第２のクロックドインバーター、１６２…単位回路、１６２ａ…第３のクロックドインバーター、１６２ｂ…第３のインバーター、１６２ｃ…第４のクロックドインバーター、１６２ｄ…第２の否定論理積回路、１６２ｅ…第４のインバーター、１６２ｆ…検査モード制御スイッチ、１６４…プルアップ抵抗、１７０…スイッチ駆動回路、１７１…第１の検査パッド、１７２…第２の検査パッド、１７３…第３の検査パッド、１７４…第４の検査パッド、１７５…第５の検査パッド、１７６、１７６ａ、１７６ｂ…第６の検査パッド、１８０…上下導通点、２００…駆動用集積回路、２１０…信号線駆動回路、２２０…プリチャージ電源、２３０…第１電源、２３２…第２電源、３００…フレキシブル回路基板、３２０…コネクター部、２０００…パーソナルコンピューター、２００１…電源スイッチ、２００２…キーボード、２０１０…設置される本体部、３０００…スマートフォン、３００１…操作ボタン、４０００…投射型表示装置、４００１…照明光学系、４００２…照明装置、４００３…投射光学系、４００４…合成して投射面、Ｄ１…第１方向、Ｄ２…第２方向、ＤＣ１…断線部、ＤＣ２…断線部、ＳＨ１…短絡部、ＳＨ２…短絡部、ＳＨ３…短絡部、ＰＮ１０…画像信号端子、ＰＮ１１…プリチャージ制御信号端子、ＰＮ２１…第１電源端子、ＰＮ２２…プリチャージ電源端子、ＰＮ２２ａ…プリチャージ電源端子、ＰＮＧ１…第１端子群、ＰＮＧ２…第２端子群。

Claims (6)

1. 画像信号を第１信号線および第２信号線に供給する電気光学装置であって、
   前記第１信号線における前記画像信号の入力端を始点にして前記第１信号線の延在する方向を第１方向とする場合、画像を表示する表示領域に対して前記第１方向の側に配置され、プリチャージ制御信号に基づいて前記第１信号線および前記第２信号線にプリチャージ信号を異なるタイミングで供給するプリチャージ回路と、
   前記表示領域に対して前記第１方向の側に配置され、前記第１信号線および前記第２信号線を検査する検査動作において、前記第１信号線および前記第２信号線が検査対象であるかを示す検査制御信号を前記プリチャージ回路に出力する検査回路とを備え、
   前記プリチャージ回路は、
   前記第１信号線と前記プリチャージ信号が供給されるプリチャージ電源線との間の電気的な接続状態を第１接続制御信号に基づいて導通状態と非導通状態との間で切り替える第１スイッチと、
   前記第２信号線と前記プリチャージ信号が供給されるプリチャージ電源線との間の電気的な接続状態を第２接続制御信号に基づいて導通状態と非導通状態との間で切り替える第２スイッチと、
   前記検査制御信号と前記プリチャージ制御信号とに基づいて前記第１接続制御信号を前記第１スイッチに出力する第１信号選択回路と、
   前記検査制御信号と前記プリチャージ制御信号とに基づいて前記第２接続制御信号を前記第２スイッチに出力する第２信号選択回路と
   を備えていることを特徴とする電気光学装置。
2. 前記第１信号選択回路に前記プリチャージ制御信号を供給する第１プリチャージ制御信号線と、
   前記第２信号選択回路に前記プリチャージ制御信号を供給する第２プリチャージ制御信号線を備え、
   前記第１プリチャージ制御信号線の配線の一部分は、前記第１スイッチおよび前記第２スイッチに対して前記第１方向の側に配置され、
   前記第１信号選択回路および前記第２信号選択回路は、前記第１プリチャージ制御信号線の配線の一部分に対して前記第１方向の側に配置され、
   前記第２プリチャージ制御信号線の配線の一部分は、前記第１信号選択回路および前記第２信号選択回路に対して前記第１方向の側に配置され、
   前記検査回路は、前記第２プリチャージ制御信号線の配線の一部分に対して前記第１方向の側に配置される、
   ことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
3. 前記第２信号選択回路は、前記第１信号選択回路に対して前記第１方向の側に配置される、
   ことを特徴とする請求項２に記載の電気光学装置。
4. 前記第１信号選択回路は、
   前記検査動作では、前記第１信号線が検査対象であることを前記検査制御信号が示す場合、前記プリチャージ制御信号を前記第１接続制御信号として前記第１スイッチに出力し、前記第１信号線が検査対象でないことを前記検査制御信号が示す場合、前記第１スイッチを非導通状態に設定する前記第１接続制御信号を前記第１スイッチに出力し、
   前記画像信号に応じて画像を表示する通常動作では、前記第１信号線がプリチャージ対象であることを前記プリチャージ制御信号が示す場合、前記第１スイッチを導通状態に設定する前記第１接続制御信号を前記第１スイッチに出力し、前記第１信号線がプリチャージ対象でないことを前記プリチャージ制御信号が示す場合、前記第１スイッチを非導通状態に設定する前記第１接続制御信号を前記第１スイッチに出力し、
   前記第２信号選択回路は、
   前記検査動作では、前記第２信号線が検査対象であることを前記検査制御信号が示す場合、前記プリチャージ制御信号を前記第２接続制御信号として前記第２スイッチに出力し、前記第２信号線が検査対象でないことを前記検査制御信号が示す場合、前記第２スイッチを非導通状態に設定する前記第２接続制御信号を前記第２スイッチに出力し、
   前記通常動作では、前記第２信号線がプリチャージ対象であることを前記プリチャージ制御信号が示す場合、前記第２スイッチを導通状態に設定する前記第２接続制御信号を前記第２スイッチに出力し、前記第２信号線がプリチャージ対象でないことを前記プリチャージ制御信号が示す場合、前記第２スイッチを非導通状態に設定する前記第２接続制御信号を前記第２スイッチに出力する、
   ことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の電気光学装置。
5. 前記検査回路は、前記検査動作では、前記第１信号線を検査対象とする場合、第１論理レベルおよび第２論理レベルのうちの前記第１論理レベルの前記検査制御信号を前記第１信号選択回路に出力し、前記第２信号線を検査対象とする場合、前記第１論理レベルの前記検査制御信号を前記第２信号選択回路に出力し、前記画像信号に応じて画像を表示する通常動作では、前記第１論理レベルの前記検査制御信号を前記第１信号選択回路および前記第２信号選択回路に出力し、
   前記第１信号選択回路は、前記検査制御信号と前記プリチャージ制御信号との論理演算により前記第１接続制御信号を生成し、
   前記第２信号選択回路は、前記検査制御信号と前記プリチャージ制御信号との論理演算により前記第２接続制御信号を生成する、
   ことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の電気光学装置。
6. 請求項１から５のいずれか１項に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。

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