CN112289241B - 显示面板及其控制方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板及其控制方法和显示装置。该显示面板具有显示区和非显示区，该显示面板包括：多条数据线，位于显示区；多条第一数据连接线、多条第二数据连接线、多个第一开关和多个第二开关，均位于非显示区；第一选择信号线、第二选择信号线和第一状态控制信号线，均位于非显示区；测试焊盘、第二状态控制信号线和多个第三开关，均位于非显示区。本发明的技术方案，在显示阶段，能够控制子像素单元进行正常的发光显示，在检测阶段，能够有效检测第一数据连接线的短路和断路情况，有助于提升产品良率。

Description

显示面板及其控制方法和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其控制方法和显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展，显示装置的应用在人们的日常生活中占据的比例越来越大，人们对于显示装置的性能要求越来越高。为提升显示装置的产品良率，需要对显示面板进行测试。

目前，显示面板的CT(Cell Test)点屏测试仅可以点单色画面检测，但是无法检测出显示面板中的信号线的短路或断路情况，造成产品良率下降以及产品成本浪费。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及其控制方法和显示装置，以在检测阶段，检测显示面板中的信号线的短路和断路情况，从而提升产品良率。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，所述显示面板具有显示区和非显示区，所述显示面板包括：

多条数据线，位于所述显示区；

多条第一数据连接线、多条第二数据连接线、多个第一开关和多个第二开关，均位于所述非显示区；所述第一数据连接线用于向对应的所述数据线传输数据电压，每条所述第一数据连接线通过一所述第一开关连接一所述第二数据连接线，每条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接一所述第一数据连接线；不同所述第二数据连接线所连接的所述第一数据连接线不同；

第一选择信号线、第二选择信号线和第一状态控制信号线，均位于所述非显示区；同一所述第二数据连接线与对应的所述第一数据连接线之间的传输路径上所连接的不同所述第一开关的控制端，分别连接所述第一选择信号线和所述第二选择信号线，所述第一开关用于响应所连接的所述第一选择信号线或者所述第二选择信号线上的选择信号导通或关断；所述第二开关的控制端连接所述第一状态控制信号线，所述第二开关用于响应所述第一状态控制信号线上的控制信号导通或关断；

测试焊盘、第二状态控制信号线和多个第三开关，均位于所述非显示区；所述第三开关连接于对应所述第二数据连接线和所述测试焊盘之间；所述第三开关的控制端连接所述第二状态控制信号线，所述第三开关用于响应于所述第二状态控制信号线上的控制信号导通或关断。

进一步地，各所述第一数据连接线位于所述显示面板中的同一膜层，第2m-1和2m条所述第一数据连接线分别通过一所述第一开关连接第m条所述第二数据连接线，第m条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接第2m条所述第一数据连接线；

第2m-1条所述第一数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第一选择信号线连接，第2m条所述第二数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第二选择信号线连接，其中m为正整数。

进一步地，第2n-1条所述第一数据连接线和第2n条所述第一数据连接线位于所述显示面板中的不同膜层，其中n为奇数；

第2n-1和2n+1条所述第一数据连接线分别通过一所述第一开关连接第n条所述第二数据连接线，第n条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接第2n+1条所述第一数据连接线；

第2n和2n+2条所述第一数据连接线分别通过一所述第一开关连接第n+1条所述第二数据连接线，第n+1条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接第2n条所述第一数据连接线；

第2n-1和2n条所述第一数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第一选择信号线连接，第2n+1和2n+2条所述第二数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第二选择信号线连接。

进一步地，所述显示面板还包括：

多个子像素单元，位于所述显示区，每个所述子像素单元连接对应的所述数据线，所述多个子像素单元包括第一子像素单元、第二子像素单元和第三子像素单元；

第一多路选择信号线、第二多路选择信号线、第三多路选择信号线、多个第四开关、多个第五开关和多个第六开关，均位于所述非显示区；所述第一数据连接线通过所述第四开关连接所述第一子像素单元所连接的所述数据线，所述第四开关的控制端连接所述第一多路选择信号线，所述第四开关用于响应于所述第一多路选择信号线上的第一多路选择信号导通或关断；所述第一数据连接线通过所述第五开关连接所述第二子像素单元所连接的所述数据线，所述第五开关的控制端连接所述第二多路选择信号线，所述第五开关用于响应于所述第二多路选择信号线上的第二多路选择信号导通或关断；所述第一数据连接线通过所述第六开关连接所述第三子像素单元所连接的所述数据线，所述第六开关的控制端连接所述第三多路选择信号线，所述第六开关用于响应于所述第三多路选择信号线上的第三多路选择信号导通或关断。

进一步地，所述第一开关包括第一晶体管，所述第二开关包括第二晶体管，所述第三开关包括第三晶体管；

所述第一晶体管的第一极连接所述第二数据连接线或所述第二晶体管的第二极，所述第一晶体管的第二极连接所述第一数据连接线，所述第一晶体管的栅极连接所述第一选择信号线或所述第二选择信号线；

所述第二晶体管的第一极连接所述第二数据连接线，所述第二晶体管的栅极连接所述第一状态控制信号线；

所述第三晶体管的栅极连接所述第二状态控制信号线，第一个所述第三晶体管的第一极连接所述测试焊盘，第二极连接所述第二数据连接线，其他所述第三晶体管的第一极连接一条所述第二数据连接线，第二极连接与该所述第二数据连接线相邻的所述第二数据连接线。

进一步地，所述第四开关包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极连接所述第一多路选择信号线，所述第四晶体管的第一极连接所述第一数据连接线，所述第四晶体管的第二极连接所述数据线；

所述第五开关包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极连接所述第二多路选择信号线，所述第五晶体管的第一极连接所述第一数据连接线，所述第五晶体管的第二极连接所述数据线；

所述第六开关包括第六晶体管，所述第六晶体管的栅极连接所述第三多路选择信号线，所述第六晶体管的第一极连接所述第一数据连接线，所述第六晶体管的第二极连接所述数据线。

进一步地，一条所述第一数据连接线通过一所述第四开关、一所述第五开关和一所述第六开关向三条所述数据线传输数据电压，不同所述第一数据连接线向不同所述数据线传输数据电压；

或者，一条所述第一数据连接线通过两个所述第四开关、两个所述第五开关和两个所述第六开关向六条所述数据线传输数据电压，不同所述第一数据连接线向不同所述数据线传输数据电压。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的控制方法，用于控制第一方面所述的显示面板，所述显示面板的控制方法包括：

在测试阶段，向测试焊盘施加测试信号，向所述第一状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第二开关关断，向所述第二状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第三开关导通，并向所述第一选择信号线和所述第二选择信号线施加信号，以控制所述第一选择信号线或所述第二选择信号线连接的第一开关导通。

进一步地，在显示阶段，向所述第一状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第二开关导通，向所述第二状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第三开关关断，向第二数据连接线施加数据电压，并向第一选择信号线和第二选择信号线施加信号，以控制所述第一选择信号线和所述第二选择信号线连接的第一开关交替导通。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括第一方面所述的显示面板。

本发明实施例提供了一种显示面板及其控制方法和显示装置，显示面板包括第一选择信号线、第二选择信号线、第一状态控制信号线、测试焊盘、第二状态控制信号线、多条数据线、多条第一数据连接线、多条第二数据连接线、多个第一开关、多个第二开关和多个第三开关。在测试阶段，向测试焊盘施加测试信号，向第一状态控制信号线和第二状态控制信号线施加信号，以控制第二开关关断，第三开关导通，并向第一选择信号线和第二选择信号线施加信号，以控制第一选择信号线或第二选择信号线连接的第一开关导通。这样，在第一选择信号线连接的第一开关导通时，测试焊盘上的测试信号通过第二数据连接线和导通的第一开关传输至部分第一数据连接线，使得该第一数据连接线通过数据线向对应的子像素单元传输数据电压，对应的子像素单元进行发光显示，根据各子像素单元的发光情况，即可确定第一数据连接线是否出现短路或断路现象。在显示阶段，向第一状态控制信号线和第二状态控制信号线施加控制信号，以控制第二开关导通，第三开关关断，分时向第二数据连接线施加数据电压，并向第一选择信号线和第二选择信号线施加信号，以控制第一选择信号线和第二选择信号线连接的第一开关交替导通。这样，第二数据连接线上的数据电压可通过第一开关传输至一部分第一数据连接线，通过第一开关和第二开关传输至另一部分第一数据连接线，分时向第二数据连接线施加数据电压，即可实现通过第一数据连接线分时向各子像素单元对应的数据线分时传输数据电压，驱动各子像素单元发光，以实现显示面板的正常显示功能。本发明实施例的技术方案，在显示阶段，能够控制子像素单元进行正常的发光显示，在检测阶段，能够有效检测第一数据连接线的短路和断路情况，避免了现有技术因无法检测显示面板中的信号线的短路或断路情况，从而造成的产能及产品成本浪费，在检测阶段确定第一数据连接线的短路和断路情况，有助于提升产品良率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种检测画面的示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种检测画面的示意图；

图6是本发明实施例提供的另一种检测画面的示意图；

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图8是发明实施例提供的一种显示面板的控制方法的流程示意图；

图9是本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术所述，现有技术的CT(Cell Test)点屏测试仅能实现显示面板的单色画面检测。例如现有技术在显示面板的驱动芯片(IC)侧设置一组CT电路，通过CT电路测试各子像素单元是否能够正常点亮单色画面。然而，经发明人研究发现，上述CT电路存在无法检测出显示面板中的信号线，例如扇出型信号线(Fanoutline)的短路或断路情况的问题，造成产品良率下降以及产品成本浪费。

针对上述问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图2是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，结合图1和图2，该显示面板具有显示区AA和非显示区NAA，该显示面板包括：第一选择信号线DemuxA、第二选择信号线DemuxB、第一状态控制信号线SW1、测试焊盘CT PAD、第二状态控制信号线SW2、多条数据线DL、多条第一数据连接线P、多条第二数据连接线Q、多个第一开关10、多个第二开关20和多个第三开关30。

多条数据线DL位于显示区AA；多条第一数据连接线P、多条第二数据连接线Q、多个第一开关10和多个第二开关20均位于非显示区NAA；第一数据连接线P用于向对应的数据线DL传输数据电压，每条第一数据连接线P通过一第一开关10连接一第二数据连接线Q，每条第二数据连接线Q依次通过串接的一第二开关20和一第一开关10连接一第一数据连接线P；不同第二数据连接线Q所连接的第一数据连接线P不同。

第一选择信号线DemuxA、第二选择信号线DemuxB和第一状态控制信号线SW1均位于非显示区NAA；同一第二数据连接线Q与对应的第一数据连接线P之间的传输路径上所连接的不同第一开关10的控制端，分别连接第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB，第一开关10用于响应所连接的第一选择信号线DemuxA或者第二选择信号线DemuxB上的选择信号导通或关断；第二开关20的控制端连接第一状态控制信号线SW1，第二开关20用于响应第一状态控制信号线SW1上的控制信号导通或关断。

测试焊盘CT PAD、第二状态控制信号线SW2和多个第三开关30均位于非显示区NAA；第三开关30连接于对应第二数据连接线Q和测试焊盘CT PAD之间；第三开关30的控制端连接第二状态控制信号线SW2，第三开关30用于响应于第二状态控制信号线SW2上的控制信号导通或关断。

其中，显示面板的显示区AA具有多个子像素单元PX，每个子像素单元PX均包括多个子像素，子像素包括像素电路和发光器件。其中，发光器件可以是有机发光二极管。像素电路由多个薄膜晶体管和存储电容构成，例如像素电路可以是2T1C或7T1C等结构的像素电路，其中，T代表薄膜晶体管，C代表存储电容。薄膜晶体管包括驱动晶体管和开关晶体管，像素电路通过开关晶体管连接数据线DL，开关晶体管在导通时，可以将数据线DL上的数据电压传输至存储电容，通过存储电容来存储数据电压，以使驱动晶体管能够根据数据电压产生稳定的驱动电流，进而驱动有机发光二极管发光。

图1示意性地示出了一条第二数据连接线Q用于向相邻两条第一数据连接线P传输信号的情况，例如第二数据连接线Q上的数据电压信号能够通过第二数据连接线Q传输至第一数据连接线P，以将数据电压通过第一数据连接线P传输至数据线DL，进而传输至子像素单元PX。示例性地，第一数据连接线P1所连接的第一开关10导通时，第二数据连接线Q1上的信号能够通过第一数据连接线P1传输至对应的数据线DL。第一数据连接线P2所连接的第一开关10导通，且第二数据连接线Q1所连接的第二开关20导通时，第二数据连接线Q1上的信号能够通过第一数据连接线P2传输至对应的数据线DL。同理，第一数据连接线P3所连接的第一开关10导通时，第二数据连接线Q2上的信号能够通过第一数据连接线P3传输至对应的数据线DL。第一数据连接线P4所连接的第一开关10导通，且第二数据连接线Q2所连接的第二开关20导通时，第二数据连接线Q2上的信号能够通过第一数据连接线P4传输至对应的数据线DL。

参见图1，示例性地，第二数据连接线Q1对应第一数据连接线P1和第一数据连接线P2，第一数据连接线P1所连接的第一开关10的控制端g1连接第一选择信号线DemuxA，第一数据连接线P2所连接的第一开关10的控制端g2连接第二选择信号线DemuxB。第二数据连接线Q2对应第一数据连接线P3和第一数据连接线P4，第一数据连接线P3所连接的第一开关10的控制端g3连接第一选择信号线DemuxA，第一数据连接线P4所连接的第一开关10的控制端g4连接第二选择信号线DemuxB。第一数据连接线P1和第一数据连接线P3所连接的第一开关10，响应于第一选择信号线DemuxA上的选择信号导通或关断。第一数据连接线P2和第一数据连接线P4所连接的第一开关10，响应于第二选择信号线DemuxB上的选择信号导通或关断。

测试焊盘CT PAD用于输入测试信号，第二数据连接线Q所连接的第三开关30导通时，测试焊盘CT PAD上的测试信号能够传输至第二数据连接线Q，以通过第二数据连接线Q和第一数据连接线P，将测试信号传输至子像素单元PX。可以设置显示面板中的一个第三开关30的第一端连接测试焊盘CT PAD，第二端连接另一第三开关30，多个第三开关30串联，这样多个第三开关30导通时，测试焊盘CT PAD上的测试信号能够传输至多条第二数据连接线Q。

需要说明的是，图1仅示意性地示出了每条数据线DL连接一个子像素单元PX，实际应用中，每条数据线DL均与一列子像素单元PX相连，当数据线DL中输入数据电压信号或测试信号时，数据电压信号或测试信号可通过数据线DL传输至一列子像素单元PX，使得该列子像素单元PX能够根据接收到的数据电压信号或测试信号而发光。

示例性地，参见图1，在测试阶段，向测试焊盘CT PAD施加测试信号，向第一状态控制信号线SW1施加控制信号，以控制第二开关20关断，向第二状态控制信号线SW2施加控制信号，以控制第三开关30导通，并向第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB施加信号，以控制第一选择信号线DemuxA或第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10导通。

具体地，测试阶段可以是显示面板出厂前的测试阶段。在测试阶段，测试焊盘CTPAD上的测试信号传输至第二数据连接线Q。由于每条第二数据连接线Q通过第一开关10连接一部分第一数据连接线P，通过第二开关20和第一开关10连接另一部分第一数据连接线P，当第一开关10导通，第二开关20关断时，第二数据连接线Q上的测试信号仅能通过导通的第一开关10传输至部分第一数据连接线P。例如，第一选择信号线DemuxA连接的第一开关10导通，第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10关断时，第二数据连接线Q1上的测试信号通过导通的第一开关10传输至第一数据连接线P1，第二数据连接线Q2上的测试信号通过导通的第一开关10传输至第一数据连接线P3，第一数据连接线P1和第一数据连接线P3能够通过对应的数据线DL向一列子像素单元PX传输测试信号，以驱动对应的子像素单元PX发光。第一数据连接线P2和第一数据连接线P4未输入测试信号，第一数据连接线P2和第一数据连接线P4无法通过对应的数据线DL向子像素单元PX传输测试信号，子像素单元PX不发光。

结合图1和图2，第一数据连接线P，可以是显示面板中的扇出型信号线(Fanoutline)，由于第一数据连接线P所在区域走线较为密集，因此第一数据连接线P容易产生短路或断路的情况。本实施例中，在测试阶段，若各第一数据连接线P没有发生短路或断路，则第一数据连接线P1对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX1至子像素单元PX3所在的像素列)，以及第一数据连接线P3对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX7至子像素单元PX9所在的像素列)根据接收到的测试信号发光，第一数据连接线P2对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX4至子像素单元PX6所在的像素列)，以及第一数据连接线P3对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX10至子像素单元PX12所在的像素列)未接收到测试信号，因此不发光。若第一数据连接线P存在短路现象，例如第一数据连接线P1和第一数据连接线P2短接，则第一数据连接线P2中也会输入测试信号，子像素单元PX1至子像素单元PX6所在的像素列均根据测试信号发光，显示面板所显示的检测画面出现异常粗大的亮线。若第一数据连接线P存在断路现象，例如第一数据连接线P3发生断路，则第二数据连接线Q2上的测试信号无法传输至第一数据连接线P3，同时第一数据连接线P2和第一数据连接线P4中也未输入测试信号，因此子像素单元PX4至子像素单元PX12所在的像素列均不发光，显示面板所显示的检测画面出现异常粗大的暗线。因此，根据检测画面中是否出现异常亮线或暗线，即可确定第一数据连接线P的短路或断路情况。

示例性地，参见图1，在显示阶段，向第一状态控制信号线SW1施加控制信号，以控制第二开关20导通，向第二状态控制信号线SW2施加控制信号，以控制第三开关30关断，向第二数据连接线Q施加数据电压，并向第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB施加信号，以控制第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10交替导通。

具体地，显示阶段可以是显示面板投入使用时的正常显示阶段。可选地，显示面板的非显示区还包括多个焊盘，例如焊盘Data1 PAD和焊盘Data2 PAD，焊盘Data1 PAD和焊盘Data2 PAD用于输入数据电压。在显示阶段，焊盘Data1PAD向第二数据连接线Q1依次传输子像素单元PX1至子像素单元PX6对应的数据电压，第一数据连接线P1和第一数据连接线P2所连接的第一开关10交替导通。第一数据连接线P1所连接的第一开关10导通时，第一数据连接线P1可通过多路分配(DEMUX)电路分时向子像素单元PX1至子像素单元PX3所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX1至子像素单元PX3所在的像素列发光。第一数据连接线P2所连接的第二开关20和第一开关10导通时，第一数据连接线P2可通过DEMUX电路分时向子像素单元PX4至子像素单元PX6所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX4至子像素单元PX6所在的像素列发光。同理，第一数据连接线P3能够通过DEMUX电路分时向子像素单元PX7至子像素单元PX9所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX7至子像素单元PX9所在的像素列发光。第一数据连接线P4能够通过DEMUX电路分时向子像素单元PX10至子像素单元PX12所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX10至子像素单元PX12所在的像素列发光。因此，在显示阶段，本发明实施例所提供的显示面板还可用于驱动子像素单元进行发光显示。并且，本方案中设置一条第二数据连接线Q向多条第一数据连接线P传输信号，有利于减少第二数据连接线Q的数量，从而简化电路结构。

本发明实施例的技术方案，在显示阶段，能够控制子像素单元进行正常的发光显示，在检测阶段，能够有效检测第一数据连接线的短路和断路情况，避免了现有技术因无法检测显示面板中的信号线的短路或断路情况，从而造成的产能及产品成本浪费，在检测阶段确定第一数据连接线的短路和断路情况，有助于提升产品良率。

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，图3所示显示面板可以是图1所示显示面板的一种具体化电路结构。示例性地，如图3所示，各第一数据连接线P位于显示面板中的同一膜层，第2m-1和2m条第一数据连接线P分别通过一第一开关10连接第m条第二数据连接线Q，第m条第二数据连接线Q依次通过串接的一第二开关20和一第一开关10连接第2m条第一数据连接线P；第2m-1条第一数据连接线P所连接的第一开关10的控制端，与第一选择信号线DemuxA连接，第2m条第二数据连接线Q所连接的第一开关10的控制端，与第二选择信号线DemuxB连接，其中m为正整数。

其中，第一数据连接线P位于显示面板中的同一膜层，即第一数据连接线P1至第一数据连接线P4均位于显示面板中的同一膜层，该膜层可以是像素电路中的薄膜晶体管的栅极、源极和漏极以及存储电容的两个电极板等所在膜层之中的任意金属膜层。

示例性地，参见图3，当m＝1时，第1条第一数据连接线P(即第一数据连接线P1)和第2条第一数据连接线P(即第一数据连接线P2)，分别通过一第一开关10连接第1条第二数据连接线Q(即第二数据连接线Q1)，第二数据连接线Q1依次通过第二开关20和第一开关10连接第一数据连接线P2；第一数据连接线P1所连接的第一开关10的控制端，与第一选择信号线DemuxA连接，第一数据连接线P2所连接的第一开关10的控制端，与第二选择信号线DemuxB连接。以此类推，当m的取值为其他正整数时，上述原理依然适用。即每条第二数据连接线Q对应相邻两条第一数据连接线P，不同第二数据连接线Q对应不同第一数据连接线P。

需要说明的是，图3仅示意性地示出了每个数据线DL连接一个子像素单元PX，实际应用中，每条数据线DL均与一列子像素单元PX相连，当数据线DL中输入数据电压信号或测试信号时，数据电压信号或测试信号可通过数据线DL传输至一列子像素单元PX，使得该列子像素单元PX能够根据接收到的数据电压信号或测试信号而发光。

继续参见图3，在检测阶段，向测试焊盘CT PAD施加测试信号，向第一状态控制信号线SW1和第二状态控制信号线SW2施加控制信号，控制第二开关20关断，第三开关30导通，并向第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB施加信号，以控制第一选择信号线DemuxA或第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10导通。当控制第一选择信号线DemuxA连接的第一开关10导通时，奇数列的第一数据连接线P(即第一数据连接线P1和第一数据连接线P3)输入测试信号，第一数据连接线P1对应的子像素单元PX1至PX3所在的像素列被点亮，第一数据连接线P3对应的子像素单元PX7至PX9所在的像素列被点亮，偶数列的第一数据连接线P(即第一数据连接线P2和第一数据连接线P4)未输入测试信号，第一数据连接线P2对应的子像素单元PX4至PX6所在的像素列不发光，第一数据连接线P4对应的子像素单元PX10至PX12所在的像素列不发光。

图4是本发明实施例提供的一种检测画面的示意图，图4示意性地示出了在检测阶段，第一数据连接线P无短路或断路等情况时，显示面板所显示的正常检测画面。结合图3和图4，示例性地，在检测阶段，第一数据连接线P无短路或断路等情况时，奇数列的第一数据连接线P对应的各列子像素单元PX点亮，例如子像素单元PX点亮时显示白颜色，对应图4中的白色条纹亮线，偶数列的第一数据连接线P对应的各列子像素单元PX熄灭，例如子像素单元PX熄灭时显示黑画面，即黑色条纹暗线(图4中以斜线填充的长条状图案示出该黑色条纹暗线)，检测画面呈现白色亮线与黑色暗线等间距交替出现的形式。

图5是本发明实施例提供的另一种检测画面的示意图，图5示意性地示出了在检测阶段，第一数据连接线P出现短路时，显示面板所显示的检测画面。结合图3和图5，示例性地，在检测阶段，第一数据连接线P出现短路时，例如第一数据连接线P1和第一数据连接线P2短接，第一数据连接线P1和第一数据连接线P2对应的各列子像素单元PX同时点亮，检测画面出现异常粗大的白色条纹亮线，根据检测画面是否出现异常亮线，即可确定第一数据连接线P的短路情况。

图6是本发明实施例提供的另一种检测画面的示意图，图6示意性地示出了在检测阶段，第一数据连接线P出现断路时，显示面板所显示的检测画面。结合图3和图6，示例性地，在检测阶段，第一数据连接线P出现断路时，例如第一数据连接线P3断路，第一数据连接线P2、第一数据连接线P3和第一数据连接线P4对应的各列子像素单元PX同时熄灭，检测画面出现异常粗大的黑色条纹暗线(图6中以斜线填充的长条状图案示出黑色条纹暗线)，根据检测画面是否出现异常暗线，即可确定第一数据连接线P的断路情况。

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，示例性地，如图7所示，第2n-1条第一数据连接线P和第2n条第一数据连接线P位于显示面板中的不同膜层，其中n为奇数；第2n-1和2n+1条第一数据连接线P分别通过一第一开关10连接第n条第二数据连接线Q，第n条第二数据连接线Q依次通过串接的一第二开关20和一第一开关10连接第2n+1条第一数据连接线P；第2n和2n+2条第一数据连接线P分别通过一第一开关10连接第n+1条第二数据连接线Q，第n+1条第二数据连接线Q依次通过串接的一第二开关20和一第一开关10连接第2n条第一数据连接线P；第2n-1和2n条第一数据连接线P所连接的第一开关10的控制端，与第一选择信号线DemuxA连接，第2n+1和2n+2条第二数据连接线Q所连接的第一开关10的控制端，与第二选择信号线DemuxB连接。

其中，第2n-1条第一数据连接线P和第2n条第一数据连接线P位于显示面板中的不同膜层，即相邻第一数据连接线P位于显示面板中的不同膜层，示例性地，可以将第2n-1条第一数据连接线P均设置在第一金属层，将第2n条第一数据连接线P均设置在第二金属层，即奇数列的第一数据连接线P均设置在第一金属层，偶数列的第一数据连接线P均设置在第二金属层，第一金属层和第二金属层，可以是像素电路中的薄膜晶体管的栅极、源极和漏极以及存储电容的两个电极板等所在膜层之中的任意两个不同金属膜层。n＝1时，第一数据连接线P1和第一数据连接线P2位于显示面板中的不同膜层，n＝3时，第一数据连接线P3和第一数据连接线P4位于显示面板中的不同膜层，其中，第一数据连接线P1和第一数据连接线P3可以位于第一金属层，第一数据连接线P2和第一数据连接线P4可以位于第二金属层。以此类推，当n的取值为其他奇数时，上述原理依然适用。

示例性地，参见图7，当第一数据连接线P1和第一数据连接线P3位于第一金属层，第一数据连接线P2和第一数据连接线P4位于第二金属层时，设置第二数据连接线Q向同一金属层中的相邻两条第一数据连接线P传输信号。例如，第一数据连接线P1所连接的第一开关10导通时，第二数据连接线Q1上的信号能够通过第一数据连接线P1传输至对应的数据线DL。第一数据连接线P3所连接的第一开关10导通，且第二数据连接线Q1所连接的第二开关20导通时，第二数据连接线Q1上的信号能够通过第一数据连接线P3传输至对应的数据线DL。同理，第一数据连接线P4所连接的第一开关10导通时，第二数据连接线Q2上的信号能够通过第一数据连接线P4传输至对应的数据线DL。第一数据连接线P2所连接的第一开关10导通，且第二数据连接线Q2所连接的第二开关20导通时，第二数据连接线Q2上的信号能够通过第一数据连接线P2传输至对应的数据线DL。

第二数据连接线Q1对应第一数据连接线P1和第一数据连接线P3，第一数据连接线P1所连接的第一开关10的控制端g1连接第一选择信号线DemuxA，第一数据连接线P3所连接的第一开关10的控制端g3连接第二选择信号线DemuxB。第二数据连接线Q2对应第一数据连接线P2和第一数据连接线P4，第一数据连接线P2所连接的第一开关10的控制端g2连接第一选择信号线DemuxA，第一数据连接线P4所连接的第一开关10的控制端g4连接第二选择信号线DemuxB。第一数据连接线P1和第一数据连接线P2所连接的第一开关10，响应于第一选择信号线DemuxA上的选择信号导通或关断。第一数据连接线P3和第一数据连接线P4所连接的第一开关10，响应于第二选择信号线DemuxB上的选择信号导通或关断。

需要说明的是，图7仅示意性地示出了每个数据线DL连接一个子像素单元PX，实际应用中，每条数据线DL均与一列子像素单元PX相连，当数据线DL中输入数据电压信号或测试信号时，数据电压信号或测试信号可通过数据线DL传输至一列子像素单元PX，使得该列子像素单元PX能够根据接收到的数据电压信号或测试信号而发光。

继续参见图7，在测试阶段，向测试焊盘CT PAD施加测试信号，向第一状态控制信号线SW1施加控制信号，以控制第二开关20关断，向第二状态控制信号线SW2施加控制信号，以控制第三开关30导通，并向第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB施加信号，以控制第一选择信号线DemuxA或第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10导通。当控制第一选择信号线DemuxA连接的第一开关10导通，第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10关断时，第一数据连接线P1和第一数据连接线P4输入测试信号，第一数据连接线P1对应的子像素单元PX1至PX3所在的像素列，以及第一数据连接线P4对应的子像素单元PX10至PX12所在的像素列被点亮，由于第二开关20关断，第一数据连接线P2和第一数据连接线P3未输入测试信号，第一数据连接线P2对应的子像素单元PX4至PX6所在的像素列，以及第一数据连接线P3对应的子像素单元PX7至PX9所在的像素列不发光。

在测试阶段，若第一数据连接线P无短路或断路情况，则子像素单元PX1至PX3所在的像素列，以及子像素单元PX10至PX12所在的像素列根据接收到的测试信号发光，子像素单元PX4至PX9所在的像素列未接收到测试信号，因此不发光。若第一数据连接线P存在短路现象，例如第一金属层中的第一数据连接线P1和第一数据连接线P3短接，第一数据连接线P3中也会输入测试信号，子像素单元PX1至子像素单元PX3所在的像素列，以及子像素单元PX7至PX12所在的像素列均根据测试信号发光，显示面板所显示的检测画面出现异常粗大的亮线(即子像素单元PX7至PX12所在的像素列发光显示的亮线)。若第一数据连接线P存在断路现象，例如第一数据连接线P4发生断路，则第二数据连接线Q2上的测试信号无法传输至第一数据连接线P4，同时第一数据连接线P2和第一数据连接线P3中也未输入测试信号，因此子像素单元PX4至子像素单元PX12所在的像素列均不发光，显示面板所显示的检测画面出现异常粗大的暗线。因此，根据检测画面中是否出现异常亮线或暗线，即可确定第一数据连接线P的短路或断路情况。

参见图7，在显示阶段，向第一状态控制信号线SW1施加控制信号，以控制第二开关20导通，向第二状态控制信号线SW2施加控制信号，以控制第三开关30关断，向第二数据连接线Q施加数据电压，并向第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB施加信号，以控制第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10交替导通。在显示阶段，焊盘Data1 PAD向第二数据连接线Q1依次传输子像素单元PX1至子像素单元PX6对应的数据电压，第一数据连接线P1和第一数据连接线P3所连接的第一开关10交替导通。第一数据连接线P1所连接的第一开关10导通时，第一数据连接线P1可通过DEMUX电路分时向子像素单元PX1至子像素单元PX3所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX1至子像素单元PX3所在的像素列发光。第一数据连接线P3所连接的第二开关20和第一开关10导通时，第一数据连接线P3可通过DEMUX电路分时向子像素单元PX7至子像素单元PX9所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX7至子像素单元PX9所在的像素列发光。同理，第一数据连接线P2能够通过DEMUX电路分时向子像素单元PX4至子像素单元PX6所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX4至子像素单元PX6所在的像素列发光。第一数据连接线P4能够通过DEMUX电路分时向子像素单元PX10至子像素单元PX12所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX10至子像素单元PX12所在的像素列发光。因此，在显示阶段，本发明实施例所提供的显示面板还可用于驱动子像素单元进行发光显示。

参见图3和图7，示例性地，第一开关10包括第一晶体管T1，第二开关20包括第二晶体管T2，第三开关30包括第三晶体管T3。

第一晶体管T1的第一极连接第二数据连接线Q或第二晶体管T2的第二极(例如，图3中第一数据连接线P1和第一数据连接线P3所连接的第一晶体管T1的第一极连接第二数据连接线Q，第一数据连接线P2和第一数据连接线P4所连接的第一晶体管T1的第一极连接第二晶体管T2的第二极，图7中的第一数据连接线P1和第一数据连接线P4所连接的第一晶体管T1的第一极连接第二数据连接线Q，第一数据连接线P2和第一数据连接线P3所连接的第一晶体管T1的第一极连接第二晶体管T2的第二极)，第一晶体管T1的第二极连接第一数据连接线P，第一晶体管T1的栅极连接第一选择信号线DemuxA或第二选择信号线DemuxB(例如图3中第一数据连接线P1和第一数据连接线P3所连接的第一晶体管T1的栅极连接第一选择信号线DemuxA，第一数据连接线P2和第一数据连接线P4所连接的第一晶体管T1的栅极连接第二选择信号线DemuxB，图7中的第一数据连接线P1和第一数据连接线P2所连接的第一晶体管T1的栅极连接第一选择信号线DemuxA，第一数据连接线P3和第一数据连接线P4所连接的第一晶体管T1的栅极连接第二选择信号线DemuxB)。

第二晶体管T2的第一极连接第二数据连接线Q，第二晶体管T2的栅极连接第一状态控制信号线SW1。

第三晶体管T3的栅极连接第二状态控制信号线SW2，第一个第三晶体管T3的第一极连接测试焊盘CT PAD，第二极连接第二数据连接线Q，其他第三晶体管T3的第一极连接一条第二数据连接线Q，第二极连接与该第二数据连接线Q相邻的第二数据连接线Q。

参见图1、图3和图7，显示面板还包括：多个子像素单元PX，位于显示区，每个子像素单元PX连接对应的数据线DL，多个子像素单元PX包括第一子像素单元、第二子像素单元和第三子像素单元。

第一多路选择信号线D_Mux1、第二多路选择信号线D_Mux2、第三多路选择信号线D_Mux3、多个第四开关40、多个第五开关50和多个第六开关60，均位于非显示区；第一数据连接线P通过第四开关40连接第一子像素单元所连接的数据线DL，第四开关40的控制端连接第一多路选择信号线D_Mux1，第四开关40用于响应于第一多路选择信号线D_Mux1上的第一多路选择信号导通或关断；第一数据连接线P通过第五开关50连接第二子像素单元所连接的数据线DL，第五开关50的控制端连接第二多路选择信号线D_Mux2，第五开关50用于响应于第二多路选择信号线D_Mux2上的第二多路选择信号导通或关断；第一数据连接线P通过第六开关60连接第三子像素单元所连接的数据线DL，第六开关60的控制端连接第三多路选择信号线D_Mux3，第六开关60用于响应于第三多路选择信号线D_Mux3上的第三多路选择信号导通或关断。

其中，第一子像素单元、第二子像素单元和第三子像素单元可以是发光颜色不同的子像素单元，例如第一子像素单元为绿色子像素单元，第二子像素单元为蓝色子像素单元，第三子像素单元为红色子像素单元。示例性地，子像素单元PX1、子像素单元PX4、子像素单元PX7和子像素单元PX10均为第一子像素单元，子像素单元PX2、子像素单元PX5、子像素单元PX8和子像素单元PX11均为第二子像素单元，子像素单元PX3、子像素单元PX6、子像素单元PX9和子像素单元PX12均为第三子像素单元。

第一多路选择信号线D_Mux1输入开态的第一多路选择信号时，第四开关40导通，第一数据连接线P上的数据电压或测试信号可通过第四开关40输入一列第一子像素单元。第二多路选择信号线D_Mux2输入开态的第二多路选择信号时，第五开关50导通，第一数据连接线P上的数据电压或测试信号可通过第五开关50输入一列第二子像素单元。第三多路选择信号线D_Mux3输入开态的第三多路选择信号时，第六开关60导通，第一数据连接线P上的数据电压或测试信号可通过第六开关60输入一列第三子像素单元。这样，第一多路选择信号线D_Mux1、第二多路选择信号线D_Mux2、第三多路选择信号线D_Mux3、第四开关40、第五开关50和第六开关60能够构成DEMUX电路，分时向第一多路选择信号线D_Mux1、第二多路选择信号线D_Mux2和第三多路选择信号线D_Mux3输入开态的多路选择信号，即可实现将第一数据连接线P上的信号分时传输至第一子像素单元、第二子像素单元和第三子像素单元。

继续参见图1、图3和图7，示例性地，一条第一数据连接线P通过一第四开关40、一第五开关50和一第六开关60向三条数据线DL传输数据电压，不同第一数据连接线P向不同数据线DL传输数据电压。

例如，第一数据连接线P1通过一第四开关40、一第五开关50和一第六开关60向三条数据线DL传输数据电压，以通过对应的数据线DL传输数据电压至子像素单元PX1至PX3所在的像素列，即，每条第一数据连接线P1均可通过一第四开关40、一第五开关50、一第六开关60，以及对应的三条数据线DL，向三个子像素单元PX所在的像素列传输信号。分时向第一多路选择信号线D_Mux1、第二多路选择信号线D_Mux2和第三多路选择信号线D_Mux3输入开态的多路选择信号，即可实现将一条第一数据连接线P上的信号分时传输至三条数据线DL，以分时驱动第一子像素单元、第二子像素单元和第三子像素单元所在的像素列发光。一条第一数据连接线P分时向三条数据线DL传输信号，有利于减少第一数据连接线P的数量，从而降低第一数据连接线P出现短路或断路的概率。

示例性地，还可以设置一条第一数据连接线通过两个第四开关、两个第五开关和两个第六开关向六条数据线传输数据电压，不同第一数据连接线向不同数据线传输数据电压。即，每条第一数据连接线均可通过两个第四开关、两个第五开关、两个第六开关，以及对应的六条数据线，向六个子像素单元所在的像素列传输信号。分时向第一多路选择信号线、第二多路选择信号线和第三多路选择信号线输入开态的多路选择信号，即可实现将一条第一数据连接线上的信号分时传输至六条数据线，以分时驱动六个子像素单元所在的像素列发光。一条第一数据连接线分时向六条数据线传输信号，能够进一步减少第一数据连接线的数量，从而降低第一数据连接线出现短路或断路的概率。

参见图3和图7，示例性地，第四开关40包括第四晶体管T4，第四晶体管T4的栅极连接第一多路选择信号线D_Mux1，第四晶体管T4的第一极连接第一数据连接线P，第四晶体管T4的第二极连接数据线DL。

第五开关50包括第五晶体管T5，第五晶体管T5的栅极连接第二多路选择信号线D_Mux2，第五晶体管T5的第一极连接第一数据连接线P，第五晶体管T5的第二极连接数据线DL。

第六开关60包括第六晶体管T6，第六晶体管T6的栅极连接第三多路选择信号线D_Mux3，第六晶体管T6的第一极连接第一数据连接线P，第六晶体管T6的第二极连接数据线DL。

图3和图7示出了第一晶体管T1至第六晶体管T6均为P沟道的薄膜晶体管的情况，当第一晶体管T1至第六晶体管T6均为P沟道的薄膜晶体管时，第一晶体管T1至第六晶体管T6均响应于脉冲形式信号中的低电平信号而导通，响应于脉冲形式信号中的高电平信号而关断。实际应用中，第一晶体管T1至第六晶体管T6也可以是N沟道的薄膜晶体管。当第一晶体管T1至第六晶体管T6均为N沟道的薄膜晶体管时，第一晶体管T1至第六晶体管T6均响应于脉冲形式信号中的高电平信号而导通，响应于脉冲形式信号中的低电平信号而关断。

本发明实施例还提供了一种显示面板的控制方法，图8是发明实施例提供的一种显示面板的控制方法的流程示意图，本发明实施例所提供的显示面板的控制方法，用于控制本发明上述任意实施例所提供的显示面板。如图8所示，显示面板的控制方法具体包括：

S110、在测试阶段，向测试焊盘施加测试信号。

参见图1，在测试阶段，向测试焊盘CT PAD施加测试信号。测试阶段可以是显示面板出厂前的测试阶段。在测试阶段，测试焊盘CT PAD上的测试信号传输至第二数据连接线Q。

S120、向第一状态控制信号线施加控制信号，以控制第二开关关断。

S130、向第二状态控制信号线施加控制信号，以控制第三开关导通。

参见图1，第一状态控制信号线SW1施加控制信号，以控制第二开关20关断，向第二状态控制信号线SW2施加控制信号，以控制第三开关30导通。由于每条第二数据连接线Q通过第一开关10连接一部分第一数据连接线P，通过第二开关20和第一开关10连接另一部分第一数据连接线P，当第一开关10导通，第二开关20关断时，第二数据连接线Q上的测试信号仅能通过导通的第一开关10传输至部分第一数据连接线P。

S140、向第一选择信号线和第二选择信号线施加信号，以控制第一选择信号线或第二选择信号线连接的第一开关导通。

继续参见图1，示例性地，第一选择信号线DemuxA连接的第一开关10导通，第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10关断时，第二数据连接线Q1上的测试信号通过导通的第一开关10传输至第一数据连接线P1，第二数据连接线Q2上的测试信号通过导通的第一开关10传输至第一数据连接线P3，第一数据连接线P1和第一数据连接线P3能够通过对应的数据线DL向一列子像素单元PX传输测试信号，以驱动对应的子像素单元PX发光。第一数据连接线P2和第一数据连接线P4未输入测试信号，第一数据连接线P2和第一数据连接线P4无法通过对应的数据线DL向子像素单元PX传输测试信号，子像素单元PX不发光。

结合图1和图2，第一数据连接线P，可以是显示面板中的扇出型信号线(Fanoutline)，由于第一数据连接线P所在区域走线较为密集，因此第一数据连接线P容易产生短路或断路的情况。本实施例中，在测试阶段，若各第一数据连接线P没有发生短路或断路，则第一数据连接线P1对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX1至子像素单元PX3所在的像素列)，以及第一数据连接线P3对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX7至子像素单元PX9所在的像素列)根据接收到的测试信号发光，第一数据连接线P2对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX4至子像素单元PX6所在的像素列)，以及第一数据连接线P3对应的子像素单元PX(例如子像素单元PX10至子像素单元PX12所在的像素列)未接收到测试信号，因此不发光。若第一数据连接线P存在短路现象，例如第一数据连接线P1和第一数据连接线P2短接，则第一数据连接线P2中也会输入测试信号，子像素单元PX1至子像素单元PX6所在的像素列均根据测试信号发光，显示面板所显示的检测画面出现异常粗大的亮线。若第一数据连接线P存在断路现象，例如第一数据连接线P3发生断路，则第二数据连接线Q2上的测试信号无法传输至第一数据连接线P3，同时第一数据连接线P2和第一数据连接线P4中也未输入测试信号，因此子像素单元PX4至子像素单元PX12所在的像素列均不发光，显示面板所显示的检测画面出现异常粗大的暗线。因此，根据检测画面中是否出现异常亮线或暗线，即可确定第一数据连接线P的短路或断路情况。

本发明实施例提供的显示面板，包括第一选择信号线、第二选择信号线、第一状态控制信号线、测试焊盘、第二状态控制信号线、多条数据线、多条第一数据连接线、多条第二数据连接线、多个第一开关、多个第二开关和多个第三开关。在测试阶段，向测试焊盘施加测试信号，向第一状态控制信号线和第二状态控制信号线施加信号，以控制第二开关关断，第三开关导通，并向第一选择信号线和第二选择信号线施加信号，以控制第一选择信号线或第二选择信号线连接的第一开关导通。这样，在第一选择信号线连接的第一开关导通时，测试焊盘上的测试信号通过第二数据连接线和导通的第一开关传输至部分第一数据连接线，使得该第一数据连接线通过数据线向对应的子像素单元传输数据电压，对应的子像素单元进行发光显示，根据各子像素单元的发光情况，即可确定第一数据连接线是否出现短路或断路现象。本发明实施例的技术方案，在检测阶段，能够有效检测第一数据连接线的短路和断路情况，避免了现有技术因无法检测显示面板中的信号线的短路或断路情况，从而造成的产能及产品成本浪费，在检测阶段确定第一数据连接线的短路和断路情况，有助于提升产品良率。

示例性地，显示面板的控制方法还包括：在显示阶段，向第一状态控制信号线施加控制信号，以控制第二开关导通，向第二状态控制信号线施加控制信号，以控制第三开关关断，向第二数据连接线施加数据电压，并向第一选择信号线和第二选择信号线施加信号，以控制第一选择信号线和第二选择信号线连接的第一开关交替导通。

示例性地，参见图1，在显示阶段，向第一状态控制信号线SW1施加控制信号，以控制第二开关20导通，向第二状态控制信号线SW2施加控制信号，以控制第三开关30关断，分时向第二数据连接线Q施加数据电压，并向第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB施加信号，以控制第一选择信号线DemuxA和第二选择信号线DemuxB连接的第一开关10交替导通。

具体地，显示阶段可以是显示面板投入使用时的正常显示阶段。可选地，显示面板的非显示区还包括多个焊盘，例如焊盘Data1 PAD和焊盘Data2 PAD，焊盘Data1 PAD和焊盘Data2 PAD用于输入数据电压。在显示阶段，焊盘Data1PAD向第二数据连接线Q1依次传输子像素单元PX1至子像素单元PX6对应的数据电压，第一数据连接线P1和第一数据连接线P2所连接的第一开关10交替导通。第一数据连接线P1所连接的第一开关10导通时，第一数据连接线P1可通过多路分配(DEMUX)电路分时向子像素单元PX1至子像素单元PX3所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX1至子像素单元PX3所在的像素列发光。第一数据连接线P2所连接的第二开关20和第一开关10导通时，第一数据连接线P2可通过DEMUX电路分时向子像素单元PX4至子像素单元PX6所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX4至子像素单元PX6所在的像素列发光。同理，第一数据连接线P3能够通过DEMUX电路分时向子像素单元PX7至子像素单元PX9所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX7至子像素单元PX9所在的像素列发光。第一数据连接线P4能够通过DEMUX电路分时向子像素单元PX10至子像素单元PX12所连接的数据线DL传输数据电压，以驱动子像素单元PX10至子像素单元PX12所在的像素列发光。因此，在显示阶段，本发明实施例所提供的显示面板还可用于驱动子像素单元进行发光显示。并且，本方案中设置一条第二数据连接线Q向多条第一数据连接线P传输信号，有利于减少第二数据连接线Q的数量，从而简化电路结构。

本发明实施例还提供了一种显示装置，图9是本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。图9示意性地示出了显示装置200为手机的情况，实际应用中，该显示装置200还可以是电脑或平板电脑等具有显示功能的设备。本发明实施例所提供的显示装置，包括本发明上述任意实施例所提供的显示面板。因此，本发明实施例所提供的显示装置具有本发明上述任意实施例所提供的显示面板的功能结构及有益效果，这里不再赘述。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区和非显示区，所述显示面板包括：

多条数据线，位于所述显示区；

多条第一数据连接线、多条第二数据连接线、多个第一开关和多个第二开关，均位于所述非显示区；所述第一数据连接线用于向对应的所述数据线传输数据电压，每条所述第一数据连接线通过一所述第一开关连接一所述第二数据连接线，每条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接一所述第一数据连接线；不同所述第二数据连接线所连接的所述第一数据连接线不同；

第一选择信号线、第二选择信号线和第一状态控制信号线，均位于所述非显示区；同一所述第二数据连接线与对应的所述第一数据连接线之间的传输路径上所连接的不同所述第一开关的控制端，分别连接所述第一选择信号线和所述第二选择信号线，所述第一开关用于响应所连接的所述第一选择信号线或者所述第二选择信号线上的选择信号导通或关断；所述第二开关的控制端连接所述第一状态控制信号线，所述第二开关用于响应所述第一状态控制信号线上的控制信号导通或关断；

测试焊盘、第二状态控制信号线和多个第三开关，均位于所述非显示区；所述第三开关连接于对应所述第二数据连接线和所述测试焊盘之间；所述第三开关的控制端连接所述第二状态控制信号线，所述第三开关用于响应于所述第二状态控制信号线上的控制信号导通或关断。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，各所述第一数据连接线位于所述显示面板中的同一膜层，第2m-1和2m条所述第一数据连接线分别通过一所述第一开关连接第m条所述第二数据连接线，第m条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接第2m条所述第一数据连接线；

第2m-1条所述第一数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第一选择信号线连接，第2m条所述第二数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第二选择信号线连接，其中m为正整数。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，第2n-1条所述第一数据连接线和第2n条所述第一数据连接线位于所述显示面板中的不同膜层，其中n为奇数；

第2n-1和2n+1条所述第一数据连接线分别通过一所述第一开关连接第n条所述第二数据连接线，第n条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接第2n+1条所述第一数据连接线；

第2n和2n+2条所述第一数据连接线分别通过一所述第一开关连接第n+1条所述第二数据连接线，第n+1条所述第二数据连接线依次通过串接的一所述第二开关和一所述第一开关连接第2n条所述第一数据连接线；

第2n-1和2n条所述第一数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第一选择信号线连接，第2n+1和2n+2条所述第二数据连接线所连接的所述第一开关的控制端，与所述第二选择信号线连接。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：

多个子像素单元，位于所述显示区，每个所述子像素单元连接对应的所述数据线，所述多个子像素单元包括第一子像素单元、第二子像素单元和第三子像素单元；

第一多路选择信号线、第二多路选择信号线、第三多路选择信号线、多个第四开关、多个第五开关和多个第六开关，均位于所述非显示区；所述第一数据连接线通过所述第四开关连接所述第一子像素单元所连接的所述数据线，所述第四开关的控制端连接所述第一多路选择信号线，所述第四开关用于响应于所述第一多路选择信号线上的第一多路选择信号导通或关断；所述第一数据连接线通过所述第五开关连接所述第二子像素单元所连接的所述数据线，所述第五开关的控制端连接所述第二多路选择信号线，所述第五开关用于响应于所述第二多路选择信号线上的第二多路选择信号导通或关断；所述第一数据连接线通过所述第六开关连接所述第三子像素单元所连接的所述数据线，所述第六开关的控制端连接所述第三多路选择信号线，所述第六开关用于响应于所述第三多路选择信号线上的第三多路选择信号导通或关断。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关包括第一晶体管，所述第二开关包括第二晶体管，所述第三开关包括第三晶体管；

所述第一晶体管的第一极连接所述第二数据连接线或所述第二晶体管的第二极，所述第一晶体管的第二极连接所述第一数据连接线，所述第一晶体管的栅极连接所述第一选择信号线或所述第二选择信号线；

所述第二晶体管的第一极连接所述第二数据连接线，所述第二晶体管的栅极连接所述第一状态控制信号线；

所述第三晶体管的栅极连接所述第二状态控制信号线，第一个所述第三晶体管的第一极连接所述测试焊盘，第二极连接所述第二数据连接线，其他所述第三晶体管的第一极连接一条所述第二数据连接线，第二极连接与该所述第二数据连接线相邻的所述第二数据连接线。

6.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第四开关包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极连接所述第一多路选择信号线，所述第四晶体管的第一极连接所述第一数据连接线，所述第四晶体管的第二极连接所述数据线；

所述第五开关包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极连接所述第二多路选择信号线，所述第五晶体管的第一极连接所述第一数据连接线，所述第五晶体管的第二极连接所述数据线；

所述第六开关包括第六晶体管，所述第六晶体管的栅极连接所述第三多路选择信号线，所述第六晶体管的第一极连接所述第一数据连接线，所述第六晶体管的第二极连接所述数据线。

7.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，一条所述第一数据连接线通过一所述第四开关、一所述第五开关和一所述第六开关向三条所述数据线传输数据电压，不同所述第一数据连接线向不同所述数据线传输数据电压；

或者，一条所述第一数据连接线通过两个所述第四开关、两个所述第五开关和两个所述第六开关向六条所述数据线传输数据电压，不同所述第一数据连接线向不同所述数据线传输数据电压。

8.一种显示面板的控制方法，其特征在于，用于控制权利要求1-7中任一所述的显示面板，所述显示面板的控制方法包括：

在测试阶段，向测试焊盘施加测试信号，向所述第一状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第二开关关断，向所述第二状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第三开关导通，并向所述第一选择信号线和所述第二选择信号线施加信号，以控制所述第一选择信号线或所述第二选择信号线连接的第一开关导通。

9.根据权利要求8所述的显示面板的控制方法，其特征在于，在显示阶段，向所述第一状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第二开关导通，向所述第二状态控制信号线施加控制信号，以控制所述第三开关关断，向第二数据连接线施加数据电压，并向第一选择信号线和第二选择信号线施加信号，以控制所述第一选择信号线和所述第二选择信号线连接的第一开关交替导通。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-7中任一所述的显示面板。

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