CN113593457B - 显示面板及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板及其测试方法。该显示面板包括：多个触控电极、多条触控信号线、多个触控端子、测试模块、初始化模块、测试信号线、初始化信号线、第一控制信号线、第二控制信号线和信号端子；测试模块连接第一控制信号线、测试信号线和触控端子，用于响应于第一控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将测试信号线上的信号传输至触控端子；初始化模块连接第二控制信号线、初始化信号线和触控端子，用于响应于第二控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将初始化信号线上的信号传输至触控端子。本发明实施例的技术方案，能够在邦定触控芯片之前，对显示面板的触控性能进行测试。

Description

显示面板及其测试方法

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法。

背景技术

目前，触控显示装置中通常包括多个触控电极和多条触控信号线，触控电极通过对应的触控信号线连接触控芯片。在触控显示装置的各段工艺制程中，需要对触控电极和触控信号线的性能进行测试，然而，在邦定触控芯片之前，难以对触控电极和触控信号线进行测试，不利于不良品的筛查。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及其测试方法，以在邦定触控芯片之前，对显示面板的触控性能进行测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

多个触控电极、多条触控信号线和多个触控端子，所述触控端子位于所述显示面板的非显示区，所述触控电极通过对应的所述触控信号线连接所述触控端子；

测试模块、初始化模块、测试信号线、初始化信号线、第一控制信号线、第二控制信号线和信号端子，均位于所述非显示区；所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线和所述第二控制信号线分别连接对应的所述信号端子；所述测试模块连接所述第一控制信号线、所述测试信号线和所述触控端子，用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述测试信号线上的信号传输至所述触控端子；所述初始化模块连接所述第二控制信号线、所述初始化信号线和所述触控端子，用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述初始化信号线上的信号传输至所述触控端子。

可选地，所述测试模块包括第一开关，所述初始化模块包括第二开关；

每个所述触控端子均通过一所述第一开关连接所述测试信号线，并通过一所述第二开关连接所述初始化信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或断开所述测试信号线和对应的所述触控端子；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，所述第二开关用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或断开所述初始化信号线和对应的所述触控端子。

可选地，各所述触控端子划分为m个触控端子组，每个所述触控端子组均包括n个所述触控端子，不同所述触控端子组的所述触控端子不同；所述测试信号线的数量包括n条，所述第一控制信号线和所述第二控制信号线的数量均为m条；其中m≥2，n≥2；

每个所述触控端子组连接的n个所述第一开关与n条所述测试信号线一一对应连接，第i个所述触控端子组连接的各所述第一开关的控制端均连接第i条所述第一控制信号线，第i个所述触控端子组连接的各所述第二开关的控制端均连接第i条所述第二控制信号线；其中，1≤i≤m。

可选地，所述第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接对应的所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接对应的所述测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接对应的所述触控端子；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接对应的所述第二控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述初始化信号线，所述第二晶体管的第二极连接对应的所述触控端子。

可选地，所述非显示区包括触控芯片邦定区，所述触控端子、所述第一开关、所述第二开关、所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线、所述第二控制信号线和所述信号端子均位于所述触控芯片邦定区；

可选地，所述第一开关、所述第二开关、所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线、所述第二控制信号线和所述信号端子位于两排所述触控端子之间。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括：多个触控电极、多条触控信号线和多个触控端子，所述触控端子位于所述显示面板的非显示区，所述触控电极通过对应的所述触控信号线连接所述触控端子；测试模块、初始化模块、测试信号线、初始化信号线、第一控制信号线、第二控制信号线和信号端子，均位于所述非显示区；所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线和所述第二控制信号线分别连接对应的所述信号端子；所述测试模块连接所述第一控制信号线、所述测试信号线和所述触控端子，用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述测试信号线上的信号传输至所述触控端子；所述初始化模块连接所述第二控制信号线、所述初始化信号线和所述触控端子，用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述初始化信号线上的信号传输至所述触控端子；

所述显示面板的测试方法包括：

在测试阶段，向第一测试模块连接的所述第一控制信号线对应的所述信号端子施加导通电平信号，向第二测试模块连接的所述第一控制信号线对应的所述信号端子施加关断电平信号，以控制所述第一测试模块导通，所述第二测试模块关断；其中，待测的所述触控电极和所述触控信号线对应的所述测试模块为第一测试模块，其余的所述测试模块为第二测试模块；

向第一初始化模块连接的所述第二控制信号线对应的所述信号端子施加关断电平信号，向第二初始化模块连接的所述第二控制信号线对应的所述信号端子施加导通电平信号，以控制所述第一初始化模块关断，所述第二初始化模块导通；其中，待测的所述触控电极和所述触控信号线对应的所述初始化模块为第一初始化模块，其余的所述初始化模块为第二初始化模块；

向所述初始化信号线连接的所述信号端子施加初始化信号，并向所述测试信号线连接的所述信号端子施加测试信号，以对待测的所述触控电极和所述触控信号线进行测试。

可选地，显示面板的测试方法还包括：

对所述测试信号线连接的所述信号端子上的信号进行侦测，以根据所述信号端子上的信号确定所述触控电极和所述触控信号线的性能。

可选地，所述测试模块包括第一开关，所述初始化模块包括第二开关；每个所述触控端子均通过一所述第一开关连接所述测试信号线，并通过一所述第二开关连接所述初始化信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或断开所述测试信号线和对应的所述触控端子；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，所述第二开关用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或断开所述初始化信号线和对应的所述触控端子；各所述触控端子划分为m个触控端子组，每个所述触控端子组均包括n个所述触控端子，不同所述触控端子组的所述触控端子不同；所述测试信号线的数量包括n条，所述第一控制信号线和所述第二控制信号线的数量均为m条；其中m≥2，n≥2；每个所述触控端子组连接的n个所述第一开关与n条所述测试信号线一一对应连接，第i个所述触控端子组连接的各所述第一开关的控制端均连接第i条所述第一控制信号线，第i个所述触控端子组连接的各所述第二开关的控制端均连接第i条所述第二控制信号线；其中，1≤i≤m；

所述显示面板的测试方法包括：

对第i个所述触控端子组对应的所述触控电极和所述触控信号线进行测试时，向第i条所述第一控制信号线连接的所述信号端子施加导通电平信号，向其余所述第一控制信号线连接的所述信号端子施加关断电平信号，以控制第i条所述第一控制信号线连接的所述第一开关导通，其余所述第一开关关断；

向第i条所述第二控制信号线连接的所述信号端子施加关断电平信号，向其余所述第二控制信号线连接的所述信号端子施加导通电平信号，以控制第i条所述第二控制信号线连接的所述第二开关关断，其余所述第二开关导通。

可选地，显示面板的测试方法还包括：

依次对m个所述触控端子组对应的所述触控电极和所述触控信号线进行测试。

可选地，显示面板的测试方法还包括：

对各所述触控端子组对应的所述触控电极和所述触控信号线进行测试，且测试的相邻两组所述触控端子组为相间隔设置的两组所述触控端子组。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括第一方面所述的显示面板。

本发明实施例的技术方案，通过设置测试模块在导通时将测试信号线上的测试信号传输至触控端子，使测试信号可通过测试模块和触控端子传输至待测的触控电极和触控信号线，以对待测的触控电极和触控信号线的性能进行测试。初始化模块在导通时将初始化信号线上的信号传输至触控端子，使初始化信号可通过导通的初始化模块和触控端子传输至除待测的触控电极和触控信号线之外的其他触控电极和触控信号线，以对其他触控电极和触控信号线上的电位进行初始化，从而减弱其他触控电极和触控信号线上的电位对待测的触控电极和触控信号线上的电位的耦合作用，以提高测试结果的准确性。与现有技术相比，本方案能够实现在将触控芯片邦定至显示面板之前，对显示面板的触控性能进行测试，有助于在邦定触控芯片之前进行不良品的筛查，从而降低不良品流入后续工艺制程的概率，减少触控芯片的浪费，并节约生产成本。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是图1中的触控芯片邦定区的一种结构示意图；

图3是图1中的触控芯片邦定区的另一种结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种测试时序图；

图5是图1中的触控芯片邦定区的另一种结构示意图；

图6是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图；

图7是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术所述，现有技术难以对触控电极和触控信号线进行测试，不利于不良品的筛查。经发明人研究发现，出现上述问题的具体原因在于，触控显示装置中通常包括多个触控电极和多条触控信号线，示例性地，在自容式触控显示装置中，每个触控电极均单独引线至触控芯片，即每个触控电极均通过一条触控信号线连接至触控芯片上的引脚，以实现触控电极和触控芯片之间的触控信号传输。现有方案未在触控芯片的邦定区域设置触控测试电路，因此在邦定触控芯片之前，难以对触控电极和触控信号线进行测试，无法进行不良品的筛查，这样会使不良品流入后续工艺制程，造成触控芯片及生产成本的浪费。

针对上述问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图2是图1中的触控芯片邦定区的一种结构示意图，图2示出了图1中的触控芯片邦定区100的一种具体结构。结合图1和图2，该显示面板包括：

多个触控电极110、多条触控信号线120和多个触控端子P，触控端子P位于显示面板的非显示区，触控电极110通过对应的触控信号线120连接触控端子P；

测试模块210、初始化模块220、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260和信号端子，均位于非显示区；测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250和第二控制信号线260分别连接对应的信号端子；测试模块210连接第一控制信号线250、测试信号线230和触控端子P，用于响应于第一控制信号线250上的信号而导通或关断，并在导通时将测试信号线230上的信号传输至触控端子P；初始化模块220连接第二控制信号线260、初始化信号线240和触控端子P，用于响应于第二控制信号线260上的信号而导通或关断，并在导通时将初始化信号线240上的信号传输至触控端子P。

可选地，测试模块210包括第一开关10，初始化模块220包括第二开关20；每个触控端子P均通过一第一开关10连接测试信号线230，并通过一第二开关20连接初始化信号线240；第一开关10的控制端连接第一控制信号线250，第一开关10用于响应于第一控制信号线250上的信号而导通或断开测试信号线230和对应的触控端子P；第二开关20的控制端连接第二控制信号线260，第二开关20用于响应于第二控制信号线260上的信号而导通或断开初始化信号线240和对应的触控端子P。

图1和图2示意性地示出了触控端子P、测试模块210、初始化模块220、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260和信号端子均设置在触控芯片邦定区100的情况，在实际应用中，上述各结构也可以设置在非显示区中的其他区域，本实施例对此不进行限定。

具体地，触控电极110位于显示面板的显示区，在触控阶段，触控电极110用于感应用户的触控操作，触控信号线120用于传输触控信号。触控端子P用于连接触控芯片上的触控信号引脚，每个触控电极110均可通过对应的一条触控信号线120连接至一个触控端子P，不同触控电极110连接的触控信号线120和触控端子P均不同。在触控阶段，触控电极110可感应于用户的触控操作，通过触控信号线120和触控端子P将触控信号传输至触控芯片上的触控信号引脚，触控芯片根据接收到的触控信号可确定触控点的位置，从而实现显示面板的触控功能。

测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250和第二控制信号线260分别连接对应的信号端子，通过对应的信号端子接收信号。示例性地，各条测试信号线230与信号端子TP1至TP4一一对应连接，以通过对应的信号端子接收测试信号。初始化信号线240与信号端子GND连接，以通过信号端子GND接收初始化信号。各条第一控制信号线250与信号端子SW1至SW3一一对应连接，以通过对应的信号端子接收控制信号。各条第二控制信号线260与信号端子SW11至SW13一一对应连接，以通过对应的信号端子接收控制信号。

第一控制信号线250上的信号能够控制测试模块210中的第一开关10的导通和关断，在第一开关10导通时，测试模块210导通，测试信号线230上的测试信号可以通过测试模块210传输至其连接的触控端子P，并通过触控端子P及其连接的触控信号线120传输至对应的触控电极110。第二控制信号线260上的信号能够控制初始化模块220中的第二开关20的导通和关断，在第二开关20导通时，初始化模块220导通，初始化信号线240上的初始化信号可以通过初始化模块220传输至其连接的触控端子P，并通过触控端子P传输至其连接的触控信号线120和触控电极110，以通过初始化信号对触控信号线120和触控电极110上的电位进行初始化，从而减少触控信号线120和触控电极110上残留的电荷。可选地，初始化信号可以是低电平信号，例如初始化信号可以是接地信号。

为便于区分，将图2中的各触控端子P分别记为触控端子P1至触控端子P12。需要说明的是，触控端子P1至触控端子P12仅为显示面板中的部分触控端子，而非全部的触控端子，图2未对触控端子的数量进行限定。以待测的触控电极110和触控信号线120对应的测试模块210均为第一测试模块，其余的测试模块210均为第二测试模块，待测的触控电极110和触控信号线120对应的初始化模块均为第一初始化模块，其余的初始化模块均为第二初始化模块为例，对本实施例中的显示面板的测试原理进行说明。

示例性地，在待测的触控电极110和触控信号线120，是触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120时，本实施例将触控端子P1至触控端子P4连接的测试模块210均称为第一测试模块，将触控端子P5至触控端子P12连接的测试模块210均称为第二测试模块，将触控端子P1至触控端子P4连接的初始化模块220均称为第一初始化模块，将触控端子P5至触控端子P12连接的初始化模块220均称为第二初始化模块。控制各测试模块210和初始化模块220导通的信号均为导通电平信号，控制各测试模块210和初始化模块220关断的信号均为关断电平信号，例如导通电平信号和关断电平信号中的一个可以是高电平信号，另一个可以是低电平信号。

示例性地，在测试阶段，对触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120进行测试时，向各第一测试模块连接的第一控制信号线250所对应的信号端子(即信号端子SW1)施加导通电平信号，向各第二测试模块连接的第一控制信号线250所对应的信号端子(即信号端子SW2、SW3)施加关断电平信号，以控制各第一测试模块导通，各第二测试模块关断。向各第一初始化模块连接的第二控制信号线260所对应的信号端子(即信号端子SW11)施加关断电平信号，向各第二初始化模块连接的第二控制信号线260所对应的信号端子(即信号端子SW12、SW13)施加导通电平信号，以控制各第一初始化模块关断，各第二初始化模块导通。向初始化信号线240连接的信号端子GND施加初始化信号，以使初始化信号通过各导通的初始化模块220传输至触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120，对触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，减少触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上残留的电荷。由于显示面板中的触控信号线的数量较多，并且设置得较为密集，本方案这样设置有助于减弱触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对待测触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，以降低对待测触控电极110和触控信号线120的测试结果的影响，从而提高测试结果的准确性。向各条测试信号线230连接的信号端子施加测试信号，使测试信号通过各导通的测试模块210传输至触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120，以通过测试信号对待测的触控电极110和触控信号线120进行测试。

在向各条测试信号线230连接的信号端子施加测试信号之后，通过对各条测试信号线230连接的信号端子上的信号进行侦测，能够根据信号端子上的信号确定触控电极110和触控信号线120的性能。以触控端子P1连接的触控电极110和触控信号线120为例进行说明，示例性地，在触控端子P1连接的测试模块210导通之后，若触控信号线120的电学性能良好，未出现断路等情况，则信号端子TP1上施加的测试信号可以依次通过测试模块210、触控端子P1和触控信号线120传输至触控电极110，为触控电极110充电。在通过测试信号为触控电极110充电时，触控信号线120上的测试信号的大小会发生变化，因此还可以对信号端子TP1上的信号进行侦测，并根据该信号确定触控电极110和触控信号线120的性能。例如，在信号端子TP1上的电流信号为零时，说明信号端子TP1至触控电极110之间未形成通路，因此可确定触控信号线120发生断路，测试信号当前并未传输至触控电极110；在信号端子TP1上能够侦测到电流信号时，说明信号端子TP1至触控电极110之间形成了通路，触控信号线120能够将测试信号传输至触控电极110以为其进行充电，因此可确定触控信号线120的电学性能良好，未出现断路等情况。

另外，根据信号端子TP1上的信号的变化量，还可以确定触控电极110的规格参数是否满足设计要求。示例性地，在信号端子TP1上的测试信号施加完毕，完成对触控电极110的充电之后，触控电极110会放电，信号端子TP1上的电荷量会逐渐变少。因此，根据信号端子TP1上的电荷变化量，可确定触控电极110的规格参数。例如在触控电极110的规格参数满足设计要求时，触控电极110释放的电荷量应达到预设电荷量，根据信号端子TP1上的电荷变化量是否达到预设电荷量，即可确定触控电极110的规格参数是否满足设计要求。其中，预设电荷量的大小，可根据触控电极110的实际规格参数来确定。

同理，在对其他触控端子连接的触控电极110和触控信号线120进行测试时，也可以参照上述对触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120进行测试的原理，从而实现对显示面板中的各触控电极110和各触控信号线120的测试，具体测试原理不再赘述。

本发明实施例的技术方案，通过设置测试模块在导通时将测试信号线上的测试信号传输至触控端子，使测试信号可通过测试模块和触控端子传输至待测的触控电极和触控信号线，以对待测的触控电极和触控信号线的性能进行测试。初始化模块在导通时将初始化信号线上的信号传输至触控端子，使初始化信号可通过导通的初始化模块和触控端子传输至除待测的触控电极和触控信号线之外的其他触控电极和触控信号线，以对其他触控电极和触控信号线上的电位进行初始化，从而减弱其他触控电极和触控信号线上的电位对待测的触控电极和触控信号线上的电位的耦合作用，以提高测试结果的准确性。与现有技术相比，本方案能够实现在将触控芯片邦定至显示面板之前，对显示面板的触控性能进行测试，有助于在邦定触控芯片之前进行不良品的筛查，从而降低不良品流入后续工艺制程的概率，减少触控芯片的浪费，并节约生产成本。

结合图1和图2，在上述方案的基础上，可选地，将各触控端子P划分为m个触控端子组，每个触控端子组均包括n个触控端子P，不同触控端子组的触控端子P不同；测试信号线230的数量包括n条，第一控制信号线250和第二控制信号线260的数量均为m条；其中m≥2，n≥2；每个触控端子组连接的n个第一开关10与n条测试信号线230一一对应连接，第i个触控端子组连接的各第一开关10的控制端均连接第i条第一控制信号线250，第i个触控端子组连接的各第二开关20的控制端均连接第i条第二控制信号线260；其中，1≤i≤m。

示例性地，以每个触控端子组均包括4个触控端子P为例进行说明，即n＝4，则图2所示的各触控端子P可划分为3个触控端子组，即m＝3。具体地，第1个触控端子组可包括触控端子P1至触控端子P4，第2个触控端子组可包括触控端子P5至触控端子P8，第3个触控端子组可包括触控端子P9至触控端子P12。相应地，测试信号线230的数量为4条，第一控制信号线250和第二控制信号线260的数量均为3条，为便于区分，将4条测试信号线230记为测试信号线230a至测试信号线230d，将3条第一控制信号线250记为第一控制信号线250a至第一控制信号线250c，将3条第二控制信号线260记为第二控制信号线260a至第二控制信号线260c。测试信号线230a连接信号端子TP1，测试信号线230b连接信号端子TP2，测试信号线230c连接信号端子TP3，测试信号线230d连接信号端子TP4。第一控制信号线250a连接信号端子SW1，第一控制信号线250b连接信号端子SW2，第一控制信号线250c连接信号端子SW3。第二控制信号线260a连接信号端子SW11，第二控制信号线260b连接信号端子SW12，第二控制信号线260c连接信号端子SW13。

每个触控端子组中的各触控端子P连接的4个第一开关10与测试信号线230a至230d一一对应连接。第1个触控端子组中的各触控端子P连接的第一开关10的控制端均连接第1条第一控制信号线250，即第一控制信号线250a；第1个触控端子组中的各触控端子P连接的第二开关20的控制端均连接第1条第二控制信号线260，即第二控制信号线260a。第2个触控端子组中的各触控端子P连接的第一开关10的控制端均连接第2条第一控制信号线250，即第一控制信号线250b；第2个触控端子组中的各触控端子P连接的第二开关20的控制端均连接第2条第二控制信号线260，即第二控制信号线260b。第3个触控端子组中的各触控端子P连接的第一开关10的控制端均连接第3条第一控制信号线250，即第一控制信号线250c；第3个触控端子组中的各触控端子P连接的第二开关20的控制端均连接第3条第二控制信号线260，即第二控制信号线260c。

结合图1和图2，以m＝3，n＝4为例，对本实施例中的显示面板的测试原理进行说明。可选地，可依次对3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。示例性地，显示面板的测试阶段包括第一测试阶段、第二测试阶段和第三测试阶段：

在第一测试阶段，对第1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW1施加导通电平信号，向信号端子SW2、SW3施加关断电平信号，以控制触控端子P1至触控端子P4连接的第一开关10导通，其余第一开关10关断。向信号端子SW11施加关断电平信号，向信号端子SW12、SW13施加导通电平信号，以控制触控端子P1至触控端子P4连接的第二开关20关断，其余第二开关20导通。向信号端子GND施加初始化信号，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试，同时，通过对第2、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，还有助减弱第2、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对第1个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

在第二测试阶段，对第2个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW2施加导通电平信号，向信号端子SW1、SW3施加关断电平信号，以控制触控端子P5至触控端子P8连接的第一开关10导通，其余第一开关10关断。向信号端子SW12施加关断电平信号，向信号端子SW11、SW13施加导通电平信号，以控制触控端子P5至触控端子P8连接的第二开关20关断，其余第二开关20导通。向信号端子GND施加初始化信号，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P5至触控端子P8连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试，同时，通过对第1、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，还有助减弱第1、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对第2个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

在第三测试阶段，对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW3施加导通电平信号，向信号端子SW1、SW2施加关断电平信号，以控制触控端子P9至触控端子P12连接的第一开关10导通，其余第一开关10关断。向信号端子SW13施加关断电平信号，向信号端子SW11、SW12施加导通电平信号，以控制触控端子P9至触控端子P12连接的第二开关20关断，其余第二开关20导通。向信号端子GND施加初始化信号，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P9至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试，同时，通过对第1、2个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，还有助于减弱第1、2个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对第3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

在对各触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号之后，通过对信号端子TP1至信号端子TP4上的信号进行侦测，能够根据信号端子上的信号确定触控电极110和触控信号线120的性能，从而得到测试结果。

本实施例的技术方案，能够实现在将触控芯片邦定至显示面板之前，对各触控端子组对应的触控电极和触控信号线的测试，以在邦定触控芯片之前进行不良品的筛查，从而降低不良品流入后续工艺制程的概率。同时，本方案通过将显示面板中的各触控端子划分为多个触控端子组，并分别针对每个触控端子组设置第一开关、第二开关和信号线的连接方式，使得显示面板中的各信号端子的总数量远少于触控信号线的总数量及触控端子的总数量，这样有利于利用非显示区中的空间将各信号端子的尺寸做大，以便于通过测试设备以加压或扎针的方式与信号端子接触，使测试设备通过信号端子向各信号线收发信号，从而实现显示面板的触控性能测试。

需要说明的是，上述实施例仅以m＝3，n＝4为例对显示面板的测试原理进行说明，在实际应用中，可根据需求设置m和n的数量，并根据m和n的数量对信号线的数量、信号端子的数量以及第一开关和第二开关与各信号线的连接方式进行设置，保证m≥2，n≥2即可，以达到减少信号端子的数量的效果。

结合图1和图2，在上述方案的基础上，可选地，对各触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，测试的相邻两组触控端子组可以是相间隔设置的两组触控端子组。其具体含义是，对各触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，在测试顺序上相邻的两组触控端子组是相互间隔设置的。示例性地，对图2所示的3个触控端子组进行测试时，可以先对第1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，再对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。在对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，信号端子GND上的初始化信号可通过初始化信号线240和第二开关20传输至触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120，以减少触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120在上一测试阶段中残留的电荷。并且，由于第1个触控端子组和第3个触控端子组之间还间隔了第2个触控端子组，这样能够进一步减弱触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对触控端子P9至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

图2仅示出了3个触控端子组的情况，示例性地，在显示面板中包括m个触控端子组，且m为偶数时，可以先依次对奇数次序的触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，再依次对偶数次序的触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，例如先依次对第1、3、5、7、......、m-1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，再依次对第2、4、6、8、......、m个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，以使测试的相邻两组触控端子组为相间隔设置的两组触控端子组，从而降低其他触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120上的电位对待测试的触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120上的电位的影响。同理，也可以先依次对偶数次序的触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，再依次对奇数次序的触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，例如先依次对第2、4、6、8、......、m个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，再依次对第1、3、5、7、......、m-1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，同样能够使测试的相邻两组触控端子组为相间隔设置的两组触控端子组。

图3是图1中的触控芯片邦定区的另一种结构示意图，图3示出了图1中的触控芯片邦定区100的另一种具体结构。结合图1至图3，可选地，第一开关包括第一晶体管T1，第一晶体管T1的栅极连接对应的第一控制信号线250，第一晶体管T1的第一极连接对应的测试信号线230，第一晶体管T1的第二极连接对应的触控端子P；第二开关包括第二晶体管T2，第二晶体管T2的栅极连接对应的第二控制信号线260，第二晶体管T2的第一极连接初始化信号线240，第二晶体管T2的第二极连接对应的触控端子P。

其中，第一晶体管T1和第二晶体管T2既可以是P型晶体管，也可以是N型晶体管，图3示出了第一晶体管T1和第二晶体管T2均为N型晶体管的情况。图4是本发明实施例提供的一种测试时序图，图4示意性地示出了在显示面板的各测试阶段中，信号端子SW1至SW3和信号端子SW11至SW13上的信号。结合图3和图4，以第一晶体管T1和第二晶体管T2均为N型晶体管，控制第一晶体管T1和第二晶体管T2导通的信号是高电平信号为例，对本实施例中的显示面板的测试原理进行说明，示例性地，显示面板的测试阶段包括第一测试阶段t1、第二测试阶段t2和第三测试阶段t3：

在第一测试阶段t1，对第1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW1施加高电平信号，并向信号端子SW2和信号端子SW3施加低电平信号，以控制触控端子P1至触控端子P4连接的第一晶体管T1导通，其余第一晶体管T1关断。向信号端子SW11施加低电平信号，并向信号端子SW12和信号端子SW13施加高电平信号，以控制触控端子P1至触控端子P4连接的第二晶体管T2关断，其余第二晶体管T2导通。向信号端子GND施加初始化信号，以对触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试。

在第二测试阶段t2，对第2个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW2施加高电平信号，并向信号端子SW1和信号端子SW3施加低电平信号，以控制触控端子P5至触控端子P8连接的第一晶体管T1导通，其余第一晶体管T1关断。向信号端子SW12施加低电平信号，并向信号端子SW11和信号端子SW13施加高电平信号，以控制触控端子P5至触控端子P8连接的第二晶体管T2关断，其余第二晶体管T2导通。向信号端子GND施加初始化信号，以对触控端子P1至触控端子P4和触控端子P9至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P5至触控端子P8连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试。

在第三测试阶段t3，对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW3施加高电平信号，并向信号端子SW1和信号端子SW2施加低电平信号，以控制触控端子P9至触控端子P12连接的第一晶体管T1导通，其余第一晶体管T1关断。向信号端子SW13施加低电平信号，并向信号端子SW11和信号端子SW12施加高电平信号，以控制触控端子P9至触控端子P12连接的第二晶体管T2关断，其余第二晶体管T2导通。向信号端子GND施加初始化信号，以对触控端子P1至触控端子P8连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P9至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试。

在对各触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号之后，通过对信号端子TP1至信号端子TP4上的信号进行侦测，能够根据信号端子上的信号确定触控电极110和触控信号线120的性能，从而得到测试结果。

需要说明的是，上述实施例仅以第一晶体管T1和第二晶体管T2均为N型晶体管，控制第一晶体管T1和第二晶体管T2导通的信号是高电平信号为例进行说明，在实际应用中，第一晶体管T1和第二晶体管T2既可以是P型晶体管，也可以是N型晶体管，且第一晶体管T1和第二晶体管T2的类型可以相同，也可以不同，可结合具体情况来设置第一晶体管T1和第二晶体管T2的类型，并根据第一晶体管T1和第二晶体管T2的类型向相应的信号端子上施加控制其导通或关断的信号，例如N型晶体管对应的导通的信号是高电平信号，关断电平信号的低电平信号，P型晶体管对应的导通的信号是低电平信号，关断电平信号的高电平信号。

结合图1和图3，在上述各方案的基础上，可选地，显示面板的非显示区包括触控芯片邦定区100，触控端子P、第一开关10、第二开关20、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260和信号端子均位于触控芯片邦定区100。其中，触控芯片邦定区100即触控芯片的邦定区域，触控芯片可以是触控与显示驱动器集成(Touchand Display Driver Integration，TDDI)芯片。将各触控端子P、第一开关10、第二开关20、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260和信号端子(包括信号端子SW1至SW3、信号端子SW11至SW13、信号端子GND和信号端子TP1至TP4)设置在触控芯片邦定区100，能够在将触控芯片邦定至显示面板之前，通过测试设备以加压或扎针的方式与信号端子接触，使测试设备通过信号端子向各信号线收发信号，从而实现显示面板的触控性能测试。

结合图1和图3，在上述方案的基础上，可选地，第一开关10、第二开关20、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260和信号端子位于两排触控端子P之间。示例性地，触控芯片邦定区100中可包括两排触控端子P，例如位于触控芯片邦定区100靠近触控电极110一侧的一排触控端子P，即图3中位于触控芯片邦定区100上方的一排触控端子P(包括触控端子P1至P12，即连接触控信号线120的触控端子)，以及位于触控芯片邦定区100远离触控电极110一侧的一排触控端子P，即图3中位于触控芯片邦定区100下方的一排触控端子P。在对触控芯片进行邦定时，位于触控芯片邦定区100上方的一排触控端子P可用于连接触控芯片的触控信号引脚，使触控电极110可通过触控信号线120和位于触控芯片邦定区100上方的触控端子P向触控芯片传输触控信号，以实现触控功能。位于触控芯片邦定区100下方的一排触控端子P可用于连接触控芯片的其他信号引脚，例如显示信号引脚等。各第一开关10、第二开关20、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260和信号端子可以设置在两排触控端子P之间，以对触控芯片邦定区100的空间进行利用，避免额外占用非显示区中的其他区域。

图3示出了各第一开关10、第二开关20、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260位于两排触控端子P之间，信号端子SW1至SW3、信号端子SW11至SW13、信号端子GND和信号端子TP1至TP4位于两排触控端子P之间的一侧的情况。图5是图1中的触控芯片邦定区的另一种结构示意图，图5示出了图1中的触控芯片邦定区100的另一种具体结构。可选地，也可以将各第一开关10、第二开关20、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260设置在两排触控端子P之间的区域200中，将信号端子SW1至SW3、信号端子SW11至SW13、信号端子GND和信号端子TP1至TP4形成一排，设置在区域200和位于触控芯片邦定区100下方的一排触控端子P之间，这样有利于将各信号端子的尺寸做得更大，以便于通过测试设备以加压或扎针的方式与信号端子接触，使测试设备通过信号端子向各信号线收发信号，从而实现显示面板的触控性能测试。

本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，该方法可适用于对显示面板的触控功能进行测试的情况，图6是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图。结合图1和图2，显示面板包括：多个触控电极110、多条触控信号线120和多个触控端子P，触控端子P位于显示面板的非显示区，触控电极110通过对应的触控信号线120连接触控端子P；测试模块210、初始化模块220、测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250、第二控制信号线260和信号端子，均位于非显示区；测试信号线230、初始化信号线240、第一控制信号线250和第二控制信号线260分别连接对应的信号端子；测试模块210连接第一控制信号线250、测试信号线230和触控端子P，用于响应于第一控制信号线250上的信号而导通或关断，并在导通时将测试信号线230上的信号传输至触控端子P；初始化模块220连接第二控制信号线260、初始化信号线240和触控端子P，用于响应于第二控制信号线260上的信号而导通或关断，并在导通时将初始化信号线240上的信号传输至触控端子P；

相应地，如图6所示，显示面板的测试方法具体包括：

S110、在测试阶段，向第一测试模块连接的第一控制信号线对应的信号端子施加导通电平信号，向第二测试模块连接的第一控制信号线对应的信号端子施加关断电平信号，以控制第一测试模块导通，第二测试模块关断。

以待测的触控电极110和触控信号线120对应的测试模块210均为第一测试模块，其余的测试模块210均为第二测试模块为例，对本实施例中的显示面板的测试原理进行说明。

示例性地，在待测的触控电极110和触控信号线120，是触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120时，本实施例将触控端子P1至触控端子P4连接的测试模块210均称为第一测试模块，将触控端子P5至触控端子P12连接的测试模块210均称为第二测试模块，将触控端子P1至触控端子P4连接的初始化模块220均称为第一初始化模块，将触控端子P5至触控端子P12连接的初始化模块220均称为第二初始化模块。控制各测试模块210和初始化模块220导通的信号均为导通电平信号，控制各测试模块210和初始化模块220关断的信号均为关断电平信号，例如导通电平信号和关断电平信号中的一个可以是高电平信号，另一个可以是低电平信号。

示例性地，在测试阶段，对触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120进行测试时，向各第一测试模块连接的第一控制信号线250所对应的信号端子(即信号端子SW1)施加导通电平信号，向各第二测试模块连接的第一控制信号线250所对应的信号端子(即信号端子SW2、SW3)施加关断电平信号，以控制各第一测试模块导通，各第二测试模块关断。

S120、向第一初始化模块连接的第二控制信号线对应的信号端子施加关断电平信号，向第二初始化模块连接的第二控制信号线对应的信号端子施加导通电平信号，以控制第一初始化模块关断，第二初始化模块导通。

示例性地，以待测的触控电极110和触控信号线120对应的初始化模块均为第一初始化模块，其余的初始化模块均为第二初始化模块为例继续进行说明。

向各第一初始化模块连接的第二控制信号线260所对应的信号端子(即信号端子SW11)施加关断电平信号，向各第二初始化模块连接的第二控制信号线260所对应的信号端子(即信号端子SW12、SW13)施加导通电平信号，以控制各第一初始化模块关断，各第二初始化模块导通。

S130、向初始化信号线连接的信号端子施加初始化信号，并向测试信号线连接的信号端子施加测试信号，以对待测的触控电极和触控信号线进行测试。

向初始化信号线240连接的信号端子GND施加初始化信号，以使初始化信号通过各导通的初始化模块220传输至触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120，对触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，减少触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上残留的电荷。由于显示面板中的触控信号线的数量较多，并且设置得较为密集，本方案这样设置有助于减弱触控端子P5至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对待测触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，以降低对待测触控电极110和触控信号线120的测试结果的影响，从而提高测试结果的准确性。向各条测试信号线230连接的信号端子施加测试信号，使测试信号通过各导通的测试模块210传输至触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120，以通过测试信号对待测的触控电极110和触控信号线120进行测试。

同理，在对其他触控端子连接的触控电极110和触控信号线120进行测试时，也可以参照上述对触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120进行测试的原理，从而实现对显示面板中的各触控电极110和各触控信号线120的测试，具体测试原理不再赘述。

本发明实施例的技术方案，通过设置测试模块在导通时将测试信号线上的测试信号传输至触控端子，使测试信号可通过测试模块和触控端子传输至待测的触控电极和触控信号线，以对待测的触控电极和触控信号线的性能进行测试。初始化模块在导通时将初始化信号线上的信号传输至触控端子，使初始化信号可通过导通的初始化模块和触控端子传输至除待测的触控电极和触控信号线之外的其他触控电极和触控信号线，以对其他触控电极和触控信号线上的电位进行初始化，从而减弱其他触控电极和触控信号线上的电位对待测的触控电极和触控信号线上的电位的耦合作用，以提高测试结果的准确性。与现有技术相比，本方案能够实现在将触控芯片邦定至显示面板之前，对显示面板的触控性能进行测试，有助于在邦定触控芯片之前进行不良品的筛查，从而降低不良品流入后续工艺制程的概率，减少触控芯片的浪费，并节约生产成本。

在上述方案的基础上，可选地，显示面板的测试方法还包括：

对测试信号线连接的信号端子上的信号进行侦测，以根据信号端子上的信号确定触控电极和触控信号线的性能。

具体地，在向各条测试信号线230连接的信号端子施加测试信号之后，通过对各条测试信号线230连接的信号端子上的信号进行侦测，能够根据信号端子上的信号确定触控电极110和触控信号线120的性能。以触控端子P1连接的触控电极110和触控信号线120为例进行说明，示例性地，在触控端子P1连接的测试模块210导通之后，若触控信号线120的电学性能良好，未出现断路等情况，则信号端子TP1上施加的测试信号可以依次通过测试模块210、触控端子P1和触控信号线120传输至触控电极110，为触控电极110充电。在通过测试信号为触控电极110充电时，触控信号线120上的测试信号的大小会发生变化，因此还可以对信号端子TP1上的信号进行侦测，并根据该信号确定触控电极110和触控信号线120的性能。例如，在信号端子TP1上的电流信号为零时，说明信号端子TP1至触控电极110之间未形成通路，因此可确定触控信号线120发生断路，测试信号当前并未传输至触控电极110；在信号端子TP1上能够侦测到电流信号时，说明信号端子TP1至触控电极110之间形成了通路，触控信号线120能够将测试信号传输至触控电极110以为其进行充电，因此可确定触控信号线120的电学性能良好，未出现断路等情况。

另外，根据信号端子TP1上的信号的变化量，还可以确定触控电极110的规格参数是否满足设计要求。示例性地，在信号端子TP1上的测试信号施加完毕，完成对触控电极110的充电之后，触控电极110会放电，信号端子TP1上的电荷量会逐渐变少。因此，根据信号端子TP1上的电荷变化量，可确定触控电极110的规格参数。例如在触控电极110的规格参数满足设计要求时，触控电极110释放的电荷量应达到预设电荷量，根据信号端子TP1上的电荷变化量是否达到预设电荷量，即可确定触控电极110的规格参数是否满足设计要求。其中，预设电荷量的大小，可根据触控电极110的实际规格参数来确定。

结合图1和图2，可选地，测试模块210包括第一开关10，初始化模块220包括第二开关20；每个触控端子P均通过一第一开关10连接测试信号线230，并通过一第二开关20连接初始化信号线240；第一开关10的控制端连接第一控制信号线250，第一开关10用于响应于第一控制信号线250上的信号而导通或断开测试信号线230和对应的触控端子P；第二开关20的控制端连接第二控制信号线260，第二开关20用于响应于第二控制信号线260上的信号而导通或断开初始化信号线240和对应的触控端子P；各触控端子P划分为m个触控端子组，每个触控端子组均包括n个触控端子P，不同触控端子组的触控端子P不同；测试信号线230的数量包括n条，第一控制信号线250和第二控制信号线260的数量均为m条；其中m≥2，n≥2；每个触控端子组连接的n个第一开关10与n条测试信号线230一一对应连接，第i个触控端子组连接的各第一开关10的控制端均连接第i条第一控制信号线250，第i个触控端子组连接的各第二开关20的控制端均连接第i条第二控制信号线260；其中，1≤i≤m；

相应地，显示面板的测试方法包括：

S210、对第i个触控端子组对应的触控电极和触控信号线进行测试时，向第i条第一控制信号线连接的信号端子施加导通电平信号，向其余所述第一控制信号线连接的所述信号端子施加关断电平信号，，以控制第i条第一控制信号线连接的第一开关导通，其余第一开关关断。

S220、向第i条所述第二控制信号线连接的所述信号端子施加关断电平信号，向其余所述第二控制信号线连接的所述信号端子施加导通电平信号，以控制第i条所述第二控制信号线连接的所述第二开关关断，其余所述第二开关导通。

S230、向初始化信号线连接的信号端子施加初始化信号，并向测试信号线连接的信号端子施加测试信号，以第i个触控端子组对应的触控电极和触控信号线进行测试。

结合图1和图2，以m＝3，n＝4为例，对本实施例中的显示面板的测试原理进行说明。示例性地，显示面板的测试阶段包括第一测试阶段、第二测试阶段和第三测试阶段：

在第一测试阶段，对第1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW1施加导通电平信号，向信号端子SW2、SW3施加关断电平信号，以控制触控端子P1至触控端子P4连接的第一开关10导通，其余第一开关10关断。向信号端子SW11施加关断电平信号，向信号端子SW12、SW13施加导通电平信号，以控制触控端子P1至触控端子P4连接的第二开关20关断，其余第二开关20导通。向信号端子GND施加初始化信号，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试，同时，通过对第2、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，还有助减弱第2、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对第1个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

在第二测试阶段，对第2个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW2施加导通电平信号，向信号端子SW1、SW3施加关断电平信号，以控制触控端子P5至触控端子P8连接的第一开关10导通，其余第一开关10关断。向信号端子SW12施加关断电平信号，向信号端子SW11、SW13施加导通电平信号，以控制触控端子P5至触控端子P8连接的第二开关20关断，其余第二开关20导通。向信号端子GND施加初始化信号，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P5至触控端子P8连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试，同时，通过对第1、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，还有助减弱第1、3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对第2个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

在第三测试阶段，对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。向信号端子SW3施加导通电平信号，向信号端子SW1、SW2施加关断电平信号，以控制触控端子P9至触控端子P12连接的第一开关10导通，其余第一开关10关断。向信号端子SW13施加关断电平信号，向信号端子SW11、SW12施加导通电平信号，以控制触控端子P9至触控端子P12连接的第二开关20关断，其余第二开关20导通。向信号端子GND施加初始化信号，并向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号，从而实现对触控端子P9至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120的性能的测试，同时，通过对第1、2个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位进行初始化，还有助于减弱第1、2个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对第3个触控端子组中的触控端子连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

在对各触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，向信号端子TP1至信号端子TP4施加测试信号之后，通过对信号端子TP1至信号端子TP4上的信号进行侦测，能够根据信号端子上的信号确定触控电极110和触控信号线120的性能，从而得到测试结果。

在上述方案的基础上，可选地，显示面板的测试方法还包括：依次对m个触控端子组对应的触控电极和触控信号线进行测试，即，依次对第1、2、3、......、m个触控端子组对应的触控电极和触控信号线进行测试。结合图1和图2，示例性地，以m＝3为例，则显示面板的测试阶段可依次包括第一测试阶段、第二测试阶段和第三测试阶段，在第一测试阶段，对第1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，在第二测试阶段，对第2个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，在第三测试阶段，对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，以完成对显示面板中的各个触控端子组对应的触控电极和触控信号线的测试。

可选地，显示面板的测试方法还包括：对各触控端子组对应的触控电极和触控信号线进行测试，且测试的相邻两组触控端子组为相间隔设置的两组触控端子组。其具体含义是，对各触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，在测试顺序上相邻的两组触控端子组是相互间隔设置的。示例性地，对图2所示的3个触控端子组进行测试时，可以先对第1个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试，再对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试。在对第3个触控端子组对应的触控电极110和触控信号线120进行测试时，信号端子GND上的初始化信号可通过初始化信号线240和第二开关20传输至触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120，以减少触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120在上一测试阶段中残留的电荷，并且，由于第1个触控端子组和第3个触控端子组之间还间隔了第2个触控端子组，这样能够进一步减弱触控端子P1至触控端子P4连接的触控电极110和触控信号线120上的电位对触控端子P9至触控端子P12连接的触控电极110和触控信号线120上的电位的耦合作用，从而提高测试结果的准确性。

本发明实施例还提供了一种显示装置，图7是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。图7示意性地示出了显示装置300为手机的情况，实际应用中，该显示装置300还可以是电脑或平板电脑等具有显示功能的设备。本发明实施例所提供的显示装置，包括本发明上述任意实施例所提供的显示面板，因此，本发明实施例所提供的显示装置具有本发明上述任意实施例所提供的显示面板的功能结构及有益效果，这里不再赘述。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

多个触控电极、多条触控信号线和多个触控端子，所述触控端子位于所述显示面板的非显示区，所述触控电极通过对应的所述触控信号线连接所述触控端子；

测试模块、初始化模块、测试信号线、初始化信号线、第一控制信号线、第二控制信号线和信号端子，均位于所述非显示区；所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线和所述第二控制信号线分别连接对应的所述信号端子；所述测试模块连接所述第一控制信号线、所述测试信号线和所述触控端子，用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述测试信号线上的信号传输至所述触控端子；所述初始化模块连接所述第二控制信号线、所述初始化信号线和所述触控端子，用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述初始化信号线上的信号传输至所述触控端子；

所述测试模块包括第一开关，所述初始化模块包括第二开关；

各所述触控端子划分为m个触控端子组，每个所述触控端子组均包括n个所述触控端子，不同所述触控端子组的所述触控端子不同；所述测试信号线的数量包括n条，所述第一控制信号线和所述第二控制信号线的数量均为m条；其中m≥2，n≥2；

每个所述触控端子组连接的n个所述第一开关与n条所述测试信号线一一对应连接，第i个所述触控端子组连接的各所述第一开关的控制端均连接第i条所述第一控制信号线，第i个所述触控端子组连接的各所述第二开关的控制端均连接第i条所述第二控制信号线；其中，1≤i≤m。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

每个所述触控端子均通过一所述第一开关连接所述测试信号线，并通过一所述第二开关连接所述初始化信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或断开所述测试信号线和对应的所述触控端子；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，所述第二开关用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或断开所述初始化信号线和对应的所述触控端子。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接对应的所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接对应的所述测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接对应的所述触控端子；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接对应的所述第二控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述初始化信号线，所述第二晶体管的第二极连接对应的所述触控端子。

4.根据权利要求1-3中任一所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括触控芯片邦定区，所述触控端子、所述第一开关、所述第二开关、所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线、所述第二控制信号线和所述信号端子均位于所述触控芯片邦定区。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关、所述第二开关、所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线、所述第二控制信号线和所述信号端子位于两排所述触控端子之间。

6.一种显示面板的测试方法，用于对权利要求1-5任一项所述的显示面板进行测试，其特征在于，所述显示面板包括：多个触控电极、多条触控信号线和多个触控端子，所述触控端子位于所述显示面板的非显示区，所述触控电极通过对应的所述触控信号线连接所述触控端子；测试模块、初始化模块、测试信号线、初始化信号线、第一控制信号线、第二控制信号线和信号端子，均位于所述非显示区；所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线和所述第二控制信号线分别连接对应的所述信号端子；所述测试模块连接所述第一控制信号线、所述测试信号线和所述触控端子，用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述测试信号线上的信号传输至所述触控端子；所述初始化模块连接所述第二控制信号线、所述初始化信号线和所述触控端子，用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述初始化信号线上的信号传输至所述触控端子；

所述显示面板的测试方法包括：

在测试阶段，向第一测试模块连接的所述第一控制信号线对应的所述信号端子施加导通电平信号，向第二测试模块连接的所述第一控制信号线对应的所述信号端子施加关断电平信号，以控制所述第一测试模块导通，所述第二测试模块关断；其中，待测的所述触控电极和所述触控信号线对应的所述测试模块为第一测试模块，其余的所述测试模块为第二测试模块；

向第一初始化模块连接的所述第二控制信号线对应的所述信号端子施加关断电平信号，向第二初始化模块连接的所述第二控制信号线对应的所述信号端子施加导通电平信号，以控制所述第一初始化模块关断，所述第二初始化模块导通；其中，待测的所述触控电极和所述触控信号线对应的所述初始化模块为第一初始化模块，其余的所述初始化模块为第二初始化模块；

向所述初始化信号线连接的所述信号端子施加初始化信号，并向所述测试信号线连接的所述信号端子施加测试信号，以对待测的所述触控电极和所述触控信号线进行测试。

7.根据权利要求6所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：

对所述测试信号线连接的所述信号端子上的信号进行侦测，以根据所述信号端子上的信号确定所述触控电极和所述触控信号线的性能。

8.根据权利要求7所述的显示面板的测试方法，其特征在于，所述测试模块包括第一开关，所述初始化模块包括第二开关；每个所述触控端子均通过一所述第一开关连接所述测试信号线，并通过一所述第二开关连接所述初始化信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或断开所述测试信号线和对应的所述触控端子；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，所述第二开关用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或断开所述初始化信号线和对应的所述触控端子；各所述触控端子划分为m个触控端子组，每个所述触控端子组均包括n个所述触控端子，不同所述触控端子组的所述触控端子不同；所述测试信号线的数量包括n条，所述第一控制信号线和所述第二控制信号线的数量均为m条；其中m≥2，n≥2；每个所述触控端子组连接的n个所述第一开关与n条所述测试信号线一一对应连接，第i个所述触控端子组连接的各所述第一开关的控制端均连接第i条所述第一控制信号线，第i个所述触控端子组连接的各所述第二开关的控制端均连接第i条所述第二控制信号线；其中，1≤i≤m；

所述显示面板的测试方法包括：

对第i个所述触控端子组对应的所述触控电极和所述触控信号线进行测试时，向第i条所述第一控制信号线连接的所述信号端子施加导通电平信号，向其余所述第一控制信号线连接的所述信号端子施加关断电平信号，以控制第i条所述第一控制信号线连接的所述第一开关导通，其余所述第一开关关断；

向第i条所述第二控制信号线连接的所述信号端子施加关断电平信号，向其余所述第二控制信号线连接的所述信号端子施加导通电平信号，以控制第i条所述第二控制信号线连接的所述第二开关关断，其余所述第二开关导通。

9.根据权利要求8所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：

依次对m个所述触控端子组对应的所述触控电极和所述触控信号线进行测试。

10.根据权利要求8所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：

对各所述触控端子组对应的所述触控电极和所述触控信号线进行测试，且测试的相邻两组所述触控端子组为相间隔设置的两组所述触控端子组。