CN112305454A - 显示面板测试的电路板、显示面板的测试装置和测试方法 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种显示面板测试的电路板、显示面板的测试装置和测试方法，属于显示技术领域。所述显示面板具有焊盘绑定区，所述焊盘绑定区设置有沿直线排列且依次相邻的多个绿光信号焊盘，各个所述绿光信号焊盘与所述显示面板的各列绿色子像素一一对应的电连接。所述电路板包括第一探针区和测试绑定区，所述第一探针区具有沿直线依次相邻排列的多个测试探针，各个所述测试探针与所述显示面板的各个所述绿光信号焊盘一一对应设置；所述测试绑定区设置有第一绑定垫和第二绑定垫。其中，各个第奇数个所述测试探针与所述第一绑定垫电连接，各个第偶数个所述测试探针与所述第二绑定垫电连接。该电路板能够检测出相邻两个绿光信号焊盘之间的短路不良。

Description

显示面板测试的电路板、显示面板的测试装置和测试方法

技术领域

本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板测试的电路板、显示面板的测试装置和测试方法。

背景技术

在OLED(有机电致发光二极管)显示面板的制备过程中，不可避免地会产生导电的微粒(Particle)，这些导电的微粒如果掉落在显示面板的焊盘绑定区(bonding)，可能会导致相邻的两个数据信号引线之间发生短路。

参见图1，在显示面板的焊盘绑定区设置有沿一直线排列且依次相邻的绿光信号焊盘，各个绿光信号焊盘与显示面板的各列绿色子像素一一对应的电连接。当导电微粒150掉落至该绑定区后，可能会导致相邻的两个绿光信号焊盘之间短路。根据现有的显示面板的测试方法，无法检测出相邻的两个绿光信号焊盘之间发生短路的情形，导致该漏检的不良面板进入后续工序而造成浪费。

所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种显示面板测试的电路板、显示面板的测试装置和测试方法，以便检测出相邻两个绿光信号焊盘之间的短路不良。

为实现上述发明目的，本公开采用如下技术方案：

根据本公开的第一个方面，提供一种用于显示面板测试的电路板，所述显示面板具有焊盘绑定区，所述焊盘绑定区设置有沿直线排列且依次相邻的多个绿光信号焊盘，各个所述绿光信号焊盘与所述显示面板的各列绿色子像素一一对应的电连接；

所述电路板包括第一探针区和测试绑定区，所述第一探针区具有沿直线依次相邻排列的多个测试探针，各个所述测试探针与所述显示面板的各个所述绿光信号焊盘一一对应设置；所述测试绑定区设置有第一绑定垫和第二绑定垫；

其中，各个第奇数个所述测试探针与所述第一绑定垫电连接，各个第偶数个所述测试探针与所述第二绑定垫电连接。

在本公开的一种示例性实施例中，所述电路板还包括：

第一连接引线，与各个第奇数个所述测试探针连接；

第一走线，一端连接所述第一绑定垫，另一端连接一个第奇数个所述测试探针或者连接所述第一连接引线；

第二连接引线，与各个第偶数个所述测试探针连接；

第二走线，一端连接所述第二绑定垫，另一端连接一个第偶数个所述测试探针或者连接所述第二连接引线。

在本公开的一种示例性实施例中，所述显示面板还设置有电性检测单元以及与所述电性检测单元电连接的多个电性检测焊盘；

所述电路板还包括与各个所述电性检测焊盘一一对应设置的电性检测探针。

在本公开的一种示例性实施例中，所述显示面板包括第一电性检测绑定区和第二电性检测绑定区，所述第一电性检测绑定区和所述第二电性检测绑定区分别位于所述焊盘绑定区的两侧；所述电性检测焊盘包括位于所述第一电性检测绑定区的第一电性检测焊盘和位于所述第二电性检测绑定区的第二电性检测焊盘；

所述电路板包括第二探针区和第三探针区；沿所述测试探针的排列方向，所述第一探针区位于所述第二探针区和所述第三探针区之间；

所述电性检测探针包括位于所述第二探针区的第一电性检测探针和位于所述第三探针区的第二电性检测探针；各个所述第一电性检测探针与各个所述第一电性检测焊盘一一对应设置，各个所述第二电性检测探针与各个所述第二电性检测焊盘一一对应设置。

在本公开的一种示例性实施例中，各个所述测试探针和各个所述电性检测探针沿同一直线排列。

在本公开的一种示例性实施例中，所述电性检测焊盘包括第一控制焊盘和第一数据焊盘；所述电性检测单元包括多个第一开关，任意一个所述第一开关的控制端与所述第一控制焊盘电连接，第一端与所述第一数据焊盘电连接，第二端与一列绿色子像素电连接；

所述电性检测探针包括第一控制探针和第一数据探针，所述第一控制探针用于与所述第一控制焊盘对应连接，所述第一数据探针用于与所述第一数据焊盘对应连接。

在本公开的一种示例性实施例中，所述电性检测焊盘还包括第二控制焊盘、第三控制焊盘、第二数据焊盘和第三数据焊盘；

所述电性检测单元包括还多个第二开关和第三开关；任意一个所述第二开关的控制端与所述第二控制焊盘电连接，第一端与所述第二数据焊盘电连接，第二端与一列红色子像素电连接；任意一个所述第三开关的控制端与所述第三控制焊盘电连接，第一端与所述第三数据焊盘电连接，第二端与一列蓝色子像素电连接；

所述电性检测探针还包括用于与所述第二控制焊盘对应连接的第二控制探针、用于与所述第三控制焊盘对应连接的第三控制探针、用于与所述第二数据焊盘对应连接的第二数据探针、用于与所述第三数据焊盘对应连接的第三数据探针。

根据本公开的第二个方面，提供一种显示面板的测试装置，包括上述用于显示面板测试的电路板。

根据本公开的第三个方面，提供一种显示面板的测试方法，包括：

将显示面板与上述的用于显示面板测试的电路板连接，使得任意一个所述测试探针与对应的所述绿光信号焊盘连接；

测量所述第一绑定垫和所述第二绑定垫之间的电阻值；

如果所述第一绑定垫和所述第二绑定垫之间的电阻值不大于预设阈值，则判断所述显示面板的相邻两个绿光信号焊盘之间存在短路不良；

如果所述第一绑定垫和所述第二绑定垫之间的电阻值大于所述预设阈值，则判断所述显示面板的相邻两个绿光信号焊盘之间不存在短路不良。

根据本公开的第四个方面，提供一种显示面板的测试方法，包括：

将所述显示面板与上述的用于显示面板测试的电路板连接，使得任意一个所述测试探针与对应的所述绿光信号焊盘连接，使得任意一个所述电性检测探针与对应的所述电性检测焊盘连接；

向所述第一控制焊盘写入第一信号，以使得各个所述第一开关截止；向所述第二数据焊盘、第三数据焊盘写入第二信号，以使得红色子像素和绿色子像素不发光；向所述第一绑定垫和所述第二绑定垫中的一个加载第三信号，另一个加载第四信号，其中，第三信号能够使得所述绿色子像素发光，且第四信号使得所述绿色子像素不发光；

检测所述显示面板的显示区是否存在暗线；

如果存在暗线，则判断所述显示面板的相邻两个绿光信号焊盘之间存在短路不良。

本公开的用于显示面板测试的电路板、测试装置和测试方法，可以检测出相邻两个绿光信号焊盘之间存在的短路不良，克服了现有技术中在电性测试和点灯测试中无法检测出该不良的缺陷。如此，本公开的显示面板测试的电路板应用于显示面板的测试时，可以降低不良产品的漏检率，提高模组段的产品的良率，减少模组段等工序的浪费。不仅如此，当检测出相邻两个绿光信号焊盘之间的短路不良时，可以尝试通过清洁的方法去除导电粒子以消除该不良，将不良面板转化为良品，提高显示面板的良率。尤其是，通过检测出相邻两个绿光信号焊盘之间的短路不良，可以及时发现不良品并进行拦截，并能够推动前端工艺的改进以降低该短路不良的发生率。

附图说明

通过参照附图详细描述其示例实施方式，本公开的上述和其它特征及优点将变得更加明显。

图1是相关技术中显示面板的结构示意图。

图2是一种显示面板的结构示意图。

图3是另一种显示面板的结构示意图。

图4是本公开实施方式的一种用于显示面板测试的电路板的结构示意图。

图5是本公开实施方式的一种显示面板的测试方法的流程示意图。

图中主要元件附图标记说明如下：

100、显示面板；101、焊盘绑定区；102、第一电性检测绑定区；103、第二电性检测绑定区；111、绿光信号焊盘；112、红光信号焊盘；113、蓝光信号焊盘；120、电性检测单元；121、第一开关；130、电性检测焊盘；131、第一电性检测焊盘；132、第二电性检测焊盘；141、第一控制焊盘；142、第一数据焊盘；150、导电微粒；160、数据线；200、电路板；201、第一探针区；202、第二探针区；203、第三探针区；204、测试绑定区；210、测试探针；220、第一绑定垫；221、第一连接引线；222、第一走线；230、第二绑定垫；231、第二连接引线；232、第二走线；240、电性检测探针；241、第一电性检测探针；242、第二电性检测探针；251、第一控制探针；252、第一数据探针；A、显示区；B、外围区。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。

所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、材料等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本公开的主要技术创意。

用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。用语“第一”和“第二”等仅作为标记使用，不是对其对象的数量限制。

相关技术中，参见图1，显示面板100具有显示区A和围绕显示区A的外围区B，在外围区B具有焊盘绑定区101，该焊盘绑定区101内可以设置有绿光信号焊盘111、红光信号焊盘112和蓝光信号焊盘113。其中，各个红光信号焊盘112与显示面板100的各列红色子像素一一对应的电连接；各个蓝光信号焊盘113与显示面板100的各列蓝色子像素一一对应的电连接；各个绿光信号焊盘111与显示面板100的各列绿色子像素一一对应的电连接。各个绿光信号焊盘111沿一直线排列且依次相邻；各红光信号焊盘112和各蓝光信号焊盘113沿另一直线依次交替排列。

可以在点灯测试中检测相邻两个信号焊盘之间是否存在短路不良。如果红光信号焊盘112和蓝光信号焊盘113之间存在短路时，在进行红色画面点灯测试或者进行蓝色画面点灯测试时，单色画面将会出现暗线，这使得红光信号焊盘112和蓝光信号焊盘113之间的短路不良可以在点灯测试时检测出来。但是，当相邻两个绿光信号焊盘111之间出现短路不良时，在点灯测试过程中，由于相邻两个绿光信号焊盘111均加载有相同的驱动信号以点亮绿色子像素，因此不会出现暗线。因此，在点灯测试阶段，相邻绿光信号焊盘111之间的短路不良不能被检测出来，导致该不良面板进入后续工序而导致浪费。

为解决上述问题，本公开提供了一种用于显示面板测试的电路板200。参见图2(未示出电性检测单元)，显示面板100具有焊盘绑定区101，焊盘绑定区101设置有沿直线排列且依次相邻的多个绿光信号焊盘111，各个绿光信号焊盘111与显示面板100的各列绿色子像素一一对应的电连接。参见图4，电路板200包括第一探针区201和测试绑定区204，第一探针区201具有沿直线依次相邻排列的多个测试探针210，各个测试探针210与显示面板100的各个绿光信号焊盘111一一对应设置；测试绑定区204设置有第一绑定垫220和第二绑定垫230；其中，各个第奇数个测试探针210与第一绑定垫220电连接，各个第偶数个测试探针210与第二绑定垫230电连接。

根据本公开的用于显示面板测试的电路板200，在电性检测阶段，可以使得各个测试探针210一一对应的压接各个绿光信号焊盘111，然后检测第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻。如果相邻两个绿光信号焊盘111之间没有发生短路，则第一绑定垫220和第二绑定垫230之间断路，进而可以检测到很大的电阻值。如果相邻两个绿光信号焊盘111之间发生短路，则第一绑定垫220和第二绑定垫230之间短路，进而检测出很小的电阻值。因此，通过检测第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻值，可以有效地判断相邻两个绿光信号焊盘111之间是否发生短路。

另外，根据本公开的用于显示面板测试的电路板200，在点灯测试阶段，还可以通过向第一绑定垫220和第二绑定垫230分别独立地加载驱动信号，进而将显示面板100的各绿色子像素列分为两组分别进行点亮，且任意相邻的两列绿色子像素列分别位于两组中。如此，在对任意一组的绿色子像素列进行点灯测试中，如果发现有暗线的存在，则表明相邻两个绿色信号焊盘之间存在短路不良。

如此，本公开的用于显示面板测试的电路板200，可以应用于显示面板100的不同测试方法中以检测出相邻两个绿光信号焊盘111之间存在的短路不良，克服了现有技术中在电性测试和点灯测试中无法检测出该不良的缺陷。如此，本公开的显示面板测试的电路板200应用于显示面板的测试时，可以降低不良产品的漏检率，提高模组段的产品的良率，减少模组段等工序的浪费；不仅如此，当检测出相邻两个绿光信号焊盘111之间的短路不良时，可以尝试通过清洁的方法去除导电粒子以消除该不良，将不良面板转化为良品，提高显示面板的良率。尤其是，通过检测出相邻两个绿光信号焊盘111之间的短路不良，可以及时发现不良品并进行拦截，并能够推动前端工艺的改进以降低该短路不良的发生率。

在本公开中，一列子像素可以为连接于同一数据线上的各个子像素。例如，参见图3(未示出红光信号焊盘112和蓝光信号焊盘113)，一列绿色子像素，可以为连接于同一数据线160上的各个绿色子像素，该数据线160与一个绿光信号焊盘111连接。

下面，结合附图对本公开的用于显示面板测试的电路板的结构、原理和应用方式进行进一步地介绍和说明。

本公开提供一种用于显示面板测试的电路板200，该电路板200可以应用于一显示面板的测试装置中，以便使得显示面板的测试装置能够向显示面板100输入信号以对显示面板100进行测试。该电路板200可以设置有探针，且该探针对应于显示面板100上设置的焊盘。当需要对显示面板100进行测试时，可以将显示面板100与显示面板的测试装置连接，具体地使得电路板200上的探针与显示面板100上的焊盘压接；然后，显示面板的测试装置通过电路板200向显示面板100加载测试信号或者接收测试数据。在测试完成后，可以使得电路板200的探针与显示面板100的焊盘分离。

在本公开中，电路板200上的探针可以为针形、凸起的圆点、凸起的条形或者其他形状，以能够实现与焊盘的压接为准。示例性地，参见图4，电路板200上的探针可以为长条形。

在本公开的一种实施方式中，参见图4，电路板200还包括：

第一连接引线221，与各个第奇数个测试探针210连接；

第一走线222，一端连接第一绑定垫220，另一端连接一个第奇数个测试探针210或者连接第一连接引线221；

第二连接引线231，与各个第偶数个测试探针210连接；

第二走线232，一端连接第二绑定垫230，另一端连接一个第偶数个测试探针210或者连接第二连接引线231。

如此，本公开的电路板200中，第奇数个测试探针210连接至第一绑定垫220，第偶数个测试探针210连接至第二绑定垫230。换言之，相邻两个测试探针210连接至不同的绑定垫。

在一些实施方式中，参见图2和图3，显示面板100还设置有电性检测单元120以及与电性检测单元120电连接的多个电性检测焊盘130。参见图4，电路板200还包括与各个电性检测焊盘130一一对应设置的电性检测探针240。如此，该电路板200不仅可以应用于测试相邻两个绿光信号焊盘111之间是否存在短路不良，而且还可以用于显示面板100的电性测试，实现电路板200的复用，提高显示面板的测试装置的利用率。

在本公开的一些实施方式中，参见图2，显示面板100包括第一电性检测绑定区102和第二电性检测绑定区103，第一电性检测绑定区102和第二电性检测绑定区103分别位于焊盘绑定区101的两侧；电性检测焊盘130包括位于第一电性检测绑定区102的第一电性检测焊盘131和位于第二电性检测绑定区103的第二电性检测焊盘132。参见图4，电路板200包括第二探针区202和第三探针区203；沿测试探针210的排列方向，第一探针区201位于第二探针区202和第三探针区203之间；电性检测探针240包括位于第二探针区202的第一电性检测探针241和位于第三探针区203的第二电性检测探针242；各个第一电性检测探针241与各个第一电性检测焊盘131一一对应设置，各个第二电性检测探针242与各个第二电性检测焊盘132一一对应设置。

进一步地，参见图4，各个测试探针210和各个电性检测探针240沿同一直线排列。

在本公开的一种实施方式中，参见图3，电性检测焊盘130包括第一控制焊盘141和第一数据焊盘142；电性检测单元120包括多个第一开关121，任意一个第一开关121的控制端与第一控制焊盘141电连接，第一端与第一数据焊盘142电连接，第二端与一列绿色子像素的数据线160电连接。参见图4，电性检测探针240包括第一控制探针251和第一数据探针252，第一控制探针251用于与第一控制焊盘141对应连接，第一数据探针252用于与第一数据焊盘142对应连接。

如此，在对显示面板100进行测试时，可以使得第一控制探针251压接于第一控制焊盘141，且使得第一数据探针252压接于第一数据焊盘142；同时，还能够使得各个测试探针210与各个绿光信号焊盘111一一对应的连接。然后，可以通过第一控制探针251向第一控制焊盘141加载第一信号，该第一信号可以使得各个第一开关121截止，避免不同列绿色子像素通过同导通的第一开关121元件相互电连接。

在一种测试方式中，可以检测第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻值，并根据电阻值判断相邻两个绿光信号焊盘111之间是否存在短路不良。在本公开的一种实施方式中，如果第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻值不大于预设阈值，则判断显示面板100的相邻两个绿光信号焊盘111之间存在短路不良；如果第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻值大于预设阈值，则判断显示面板100的相邻两个绿光信号焊盘111之间不存在短路不良。进一步地，预设阈值可以为750欧姆～1200欧姆。

在另一种测试方式中，显示面板100上的绿色子像素列分为了两部分，第一部分与第一绑定垫220连接，第二部分与第二绑定垫230连接。如此，可以向第一绑定垫220和第二绑定垫230中的一个加载第三信号，另一个加载第四信号，其中，第三信号能够使得绿色子像素发光，且第四信号使得绿色子像素不发光。这样，可以将两部分绿色子像素列分别点亮，且当点亮任何一部分时如果检测到暗线，则可以判断显示面板100存在相邻两个绿光信号焊盘111之间相互短路的不良。

更进一步地，电性检测焊盘130还包括第二控制焊盘、第三控制焊盘、第二数据焊盘和第三数据焊盘。电性检测单元120包括还多个第二开关和第三开关。任意一个第二开关的控制端与第二控制焊盘电连接，第一端与第二数据焊盘电连接，第二端与一列红色子像素的数据线电连接。任意一个第三开关的控制端与第三控制焊盘电连接，第一端与第三数据焊盘电连接，第二端与一列蓝色子像素的数据线电连接。电性检测探针240还包括用于与第二控制焊盘对应连接的第二控制探针、用于与第三控制焊盘对应连接的第三控制探针、用于与第二数据焊盘对应连接的第二数据探针、用于与第三数据焊盘对应连接的第三数据探针。

如此，在使得显示面板100与电路板200连接时，可以使得任意一个测试探针210与对应的绿光信号焊盘111连接，使得任意一个电性检测探针240与对应的电性检测焊盘130连接。在进行测试时，可以向第一控制焊盘141写入第一信号，以使得各个第一开关121截止；向第二数据焊盘、第三数据焊盘写入第二信号，以使得红色子像素和绿色子像素不发光；向第一绑定垫220和第二绑定垫230中的一个加载第三信号，另一个加载第四信号，其中，第三信号能够使得绿色子像素发光，且第四信号使得绿色子像素不发光。然后，可以检测显示面板100的显示区A是否存在暗线；如果存在暗线，则判断显示面板100的相邻两个绿光信号焊盘111之间存在短路不良。

在本公开中，电性检测单元120的第一开关121、第二开关和第三开关可以为薄膜晶体管，尤其可以是均为P型薄膜晶体管或者均为N型薄膜晶体管。第一信号至第四信号的电压大小可以根据电性检测单元120的薄膜晶体管的类型、显示面板100的像素驱动电路的薄膜晶体管类型等进行确定。

示例性地，第一开关121、第二开关和第三开关均为P型薄膜晶体管。第一信号可以为7V的高电平信号，以使得第一开关121截止。第二信号可以为7V的高电平信号，以使得显示面板100的红色子像素和蓝色子像素不发光。第三信号和第四信号中的一个可以为7V的高电平，另一个可以为1～3V的低电平。其中，高电平使得绿色子像素不发光，低电平使得绿色子像素发光。

可选地，电路板200的基板为柔性基板。如此，本公开提供的电路板200可以为柔性电路板200。

本公开实施方式还提供一种显示面板的测试装置，该显示面板的测试装置包括上述用于显示面板测试的电路板实施方式所描述的任意一种用于显示面板测试的电路板200。由于该显示面板的测试装置具有上述用于显示面板测试的电路板实施方式所描述的任意一种用于显示面板测试的电路板200，因此具有相同的有益效果，本公开在此不再赘述。

本公开还提供一种显示面板100的测试方法，如图5所示，包括：

步骤S110，将显示面板100与上述显示面板100测试的电路板200实施方式所描述的任意一种用于显示面板测试的电路板200连接，使得任意一个测试探针210与对应的绿光信号焊盘111连接；

步骤S120，测量第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻值；

步骤S130，如果第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻值不大于预设阈值，则判断显示面板100的相邻两个绿光信号焊盘111之间存在短路不良；

步骤S140，如果第一绑定垫220和第二绑定垫230之间的电阻值大于预设阈值，则判断显示面板100的相邻两个绿光信号焊盘111之间不存在短路不良。

本公开还提供另一种显示面板100的测试方法，其中，显示面板100具有焊盘绑定区101，焊盘绑定区101设置有沿直线排列且依次相邻的多个绿光信号焊盘111，各个绿光信号焊盘111与显示面板100的各列绿色子像素一一对应的电连接。显示面板100还设置有电性检测单元120以及与电性检测单元120电连接的多个电性检测焊盘130。电性检测焊盘130包括第一控制焊盘141和第一数据焊盘142；电性检测单元120包括多个第一开关121，任意一个第一开关121的控制端与第一控制焊盘141电连接，第一端与第一数据焊盘142电连接，第二端与一列绿色子像素电连接。电性检测焊盘130还包括第二控制焊盘、第三控制焊盘、第二数据焊盘和第三数据焊盘。电性检测单元120包括还多个第二开关和第三开关；任意一个第二开关的控制端与第二控制焊盘电连接，第一端与第二数据焊盘电连接，第二端与一列红色子像素电连接；任意一个第三开关的控制端与第三控制焊盘电连接，第一端与第三数据焊盘电连接，第二端与一列蓝色子像素电连接。

该显示面板100的测试方法包括：

步骤S210，将显示面板100与用于显示面板测试的电路板200连接。其中，电路板200包括第一探针区201和测试绑定区204，第一探针区201具有沿直线依次相邻排列的多个测试探针210，各个测试探针210与显示面板100的各个绿光信号焊盘111一一对应设置；测试绑定区204设置有第一绑定垫220和第二绑定垫230。其中，各个第奇数个测试探针210与第一绑定垫220电连接，各个第偶数个测试探针210与第二绑定垫230电连接。电路板200还包括与各个电性检测焊盘130一一对应设置的电性检测探针240。电性检测探针240包括第一控制探针251和第一数据探针252，第一控制探针251用于与第一控制焊盘141对应连接，第一数据探针252用于与第一数据焊盘142对应连接。电性检测探针240还包括用于与第二控制焊盘对应连接的第二控制探针、用于与第三控制焊盘对应连接的第三控制探针、用于与第二数据焊盘对应连接的第二数据探针、用于与第三数据焊盘对应连接的第三数据探针。

在将显示面板100与用于显示面板测试的电路板200连接时，使得任意一个测试探针210与对应的绿光信号焊盘111连接，使得任意一个电性检测探针240与对应的电性检测焊盘130连接。

步骤S220，向第一控制焊盘141写入第一信号，以使得各个第一开关121截止；向第二数据焊盘、第三数据焊盘写入第二信号，以使得红色子像素和绿色子像素不发光；向第一绑定垫220和第二绑定垫230中的一个加载第三信号，另一个加载第四信号，其中，第三信号能够使得绿色子像素发光，且第四信号使得绿色子像素不发光；

步骤S230，检测显示面板100的显示区A是否存在暗线；

步骤S240，如果存在暗线，则判断显示面板100的相邻两个绿光信号焊盘111之间存在短路不良。

需要说明的是，尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等，均应视为本公开的一部分。

应可理解的是，本公开不将其应用限制到本说明书提出的部件的详细结构和布置方式。本公开能够具有其他实施方式，并且能够以多种方式实现并且执行。前述变形形式和修改形式落在本公开的范围内。应可理解的是，本说明书公开和限定的本公开延伸到文中和/或附图中提到或明显的两个或两个以上单独特征的所有可替代组合。所有这些不同的组合构成本公开的多个可替代方面。本说明书的实施方式说明了已知用于实现本公开的最佳方式，并且将使本领域技术人员能够利用本公开。

Claims (10)

1.一种用于显示面板测试的电路板，其特征在于，所述显示面板具有焊盘绑定区，所述焊盘绑定区设置有沿直线排列且依次相邻的多个绿光信号焊盘，各个所述绿光信号焊盘与所述显示面板的各列绿色子像素一一对应的电连接；

所述电路板包括第一探针区和测试绑定区，所述第一探针区具有沿直线依次相邻排列的多个测试探针，各个所述测试探针与所述显示面板的各个所述绿光信号焊盘一一对应设置；所述测试绑定区设置有第一绑定垫和第二绑定垫；

其中，各个第奇数个所述测试探针与所述第一绑定垫电连接，各个第偶数个所述测试探针与所述第二绑定垫电连接。

2.根据权利要求1所述的用于显示面板测试的电路板，其特征在于，所述电路板还包括：

第一连接引线，与各个第奇数个所述测试探针连接；

第一走线，一端连接所述第一绑定垫，另一端连接一个第奇数个所述测试探针或者连接所述第一连接引线；

第二连接引线，与各个第偶数个所述测试探针连接；

第二走线，一端连接所述第二绑定垫，另一端连接一个第偶数个所述测试探针或者连接所述第二连接引线。

3.根据权利要求1所述的用于显示面板测试的电路板，其特征在于，所述显示面板还设置有电性检测单元以及与所述电性检测单元电连接的多个电性检测焊盘；

所述电路板还包括与各个所述电性检测焊盘一一对应设置的电性检测探针。

4.根据权利要求3所述的用于显示面板测试的电路板，其特征在于，所述显示面板包括第一电性检测绑定区和第二电性检测绑定区，所述第一电性检测绑定区和所述第二电性检测绑定区分别位于所述焊盘绑定区的两侧；所述电性检测焊盘包括位于所述第一电性检测绑定区的第一电性检测焊盘和位于所述第二电性检测绑定区的第二电性检测焊盘；

所述电路板包括第二探针区和第三探针区；沿所述测试探针的排列方向，所述第一探针区位于所述第二探针区和所述第三探针区之间；

所述电性检测探针包括位于所述第二探针区的第一电性检测探针和位于所述第三探针区的第二电性检测探针；各个所述第一电性检测探针与各个所述第一电性检测焊盘一一对应设置，各个所述第二电性检测探针与各个所述第二电性检测焊盘一一对应设置。

5.根据权利要求3所述的用于显示面板测试的电路板，其特征在于，各个所述测试探针和各个所述电性检测探针沿同一直线排列。

6.根据权利要求3所述的用于显示面板测试的电路板，其特征在于，所述电性检测焊盘包括第一控制焊盘和第一数据焊盘；所述电性检测单元包括多个第一开关，任意一个所述第一开关的控制端与所述第一控制焊盘电连接，第一端与所述第一数据焊盘电连接，第二端与一列绿色子像素电连接；

所述电性检测探针包括第一控制探针和第一数据探针，所述第一控制探针用于与所述第一控制焊盘对应连接，所述第一数据探针用于与所述第一数据焊盘对应连接。

7.根据权利要求6所述的用于显示面板测试的电路板，其特征在于，所述电性检测焊盘还包括第二控制焊盘、第三控制焊盘、第二数据焊盘和第三数据焊盘；

所述电性检测单元包括还多个第二开关和第三开关；任意一个所述第二开关的控制端与所述第二控制焊盘电连接，第一端与所述第二数据焊盘电连接，第二端与一列红色子像素电连接；任意一个所述第三开关的控制端与所述第三控制焊盘电连接，第一端与所述第三数据焊盘电连接，第二端与一列蓝色子像素电连接；

所述电性检测探针还包括用于与所述第二控制焊盘对应连接的第二控制探针、用于与所述第三控制焊盘对应连接的第三控制探针、用于与所述第二数据焊盘对应连接的第二数据探针、用于与所述第三数据焊盘对应连接的第三数据探针。

8.一种显示面板的测试装置，其特征在于，包括权利要求1～7任意一项所述的用于显示面板测试的电路板。

9.一种显示面板的测试方法，其特征在于，包括：

将所述显示面板与权利要求1～7任意一项所述的用于显示面板测试的电路板连接，使得任意一个所述测试探针与对应的所述绿光信号焊盘连接；

测量所述第一绑定垫和所述第二绑定垫之间的电阻值；

如果所述第一绑定垫和所述第二绑定垫之间的电阻值不大于预设阈值，则判断所述显示面板的相邻两个绿光信号焊盘之间存在短路不良；

如果所述第一绑定垫和所述第二绑定垫之间的电阻值大于所述预设阈值，则判断所述显示面板的相邻两个绿光信号焊盘之间不存在短路不良。

10.一种显示面板的测试方法，其特征在于，包括：

将所述显示面板与权利要求7所述的用于显示面板测试的电路板连接，使得任意一个所述测试探针与对应的所述绿光信号焊盘连接，使得任意一个所述电性检测探针与对应的所述电性检测焊盘连接；

向所述第一控制焊盘写入第一信号，以使得各个所述第一开关截止；向所述第二数据焊盘、第三数据焊盘写入第二信号，以使得红色子像素和绿色子像素不发光；向所述第一绑定垫和所述第二绑定垫中的一个加载第三信号，另一个加载第四信号，其中，第三信号能够使得所述绿色子像素发光，且第四信号使得所述绿色子像素不发光；

检测所述显示面板的显示区是否存在暗线；

如果存在暗线，则判断所述显示面板的相邻两个绿光信号焊盘之间存在短路不良。

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