CN105632383B - 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置 - Google Patents

一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN105632383B
CN105632383B CN201610016286.1A CN201610016286A CN105632383B CN 105632383 B CN105632383 B CN 105632383B CN 201610016286 A CN201610016286 A CN 201610016286A CN 105632383 B CN105632383 B CN 105632383B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
control
switch
signal input
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610016286.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105632383A (zh
Inventor
韩约白
金鑫鑫
白晓鹏
包珊珊
赵普查
赵锦
高弘玮
张明洋
杨涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201610016286.1A priority Critical patent/CN105632383B/zh
Publication of CN105632383A publication Critical patent/CN105632383A/zh
Priority to US15/229,310 priority patent/US10229619B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN105632383B publication Critical patent/CN105632383B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3266—Details of drivers for scan electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0286—Details of a shift registers arranged for use in a driving circuit
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/04—Maintaining the quality of display appearance
    • G09G2320/043—Preventing or counteracting the effects of ageing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/04—Maintaining the quality of display appearance
    • G09G2320/043—Preventing or counteracting the effects of ageing
    • G09G2320/045—Compensation of drifts in the characteristics of light emitting or modulating elements
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/06—Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0626—Adjustment of display parameters for control of overall brightness
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/831—Aging

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

本发明公开了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置，每个信号输入端可以分时输入多种信号，进而通过对应的开关控制形成多条输入信号线路，多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同，例如，其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线，另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理，这样通过控制信号端控制相应的开关，使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板，以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求，相对于现有技术测试信号的输入可以不经过移位寄存器单元，避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏，保证了显示面板的正常显示功能。

Description

一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置。
背景技术
有机发光二极管(OLED，Organic Light Emitting Diode)由于其具有自发光、高亮度、广视角、快速响应时间以及超轻、超薄、可实现柔性等特性，已经被视为显示器的明星产品。目前主流生产的有源矩阵有机发光二极管(AMOLED，Active Matrix Organic LightEmitting Diode)显示器件工艺流程相对于液晶显示器比较复杂，且由于AMOLED显示器件内部复杂的电路致使其也容易产生较多的电学性不良，阵列基板段制程的晶体管在未经老化之前存在较大的漏电流，在正常点灯检测时黑色画面下极易显示亮点缺陷，给产品的良率造成严重影响。因此，目前业界通用的手段是对AMOLED显示面板进行晶体管老化处理，即通过老化手段对显示面板的像素电路中的相关开关晶体管进行老化工艺，进而可以极大的消弱晶体管在栅极关态电压下的漏电流，从而消除因为显示区域晶体管漏电流较高产生的亮点不良和漏光现象，然而老化过程中加入的信号明显区别于正常点灯检测或正常使用过程中的信号，一般地，对晶体管进行老化的信号具有高电压和反向的特性。
晶体管老化过程主要针对显示区域的晶体管进行老化，但由于显示面板的栅扫描驱动方式限制，我们必须将老化信号输入移位寄存器单元，再通过移位寄存器单元的内部转化输出一组老化信号进入显示区域，在这个过程中由于老化信号的高电压和反向性容易造成移位寄存器单元发生损坏，甚至无法正常工作，进而造成显示面板一系列显示异常等问题，同时，由于移位寄存器单元的信号输出限制，无法输出高效的老化信号，因而无法高效的完成对晶体管的老化效果。
因此，如何不经过移位寄存器单元向显示面板内部输入检测信号和老化信号，实现显示面板的正常检测和老化处理，避免老化信号损坏移位寄存器单元影响显示面板正常显示，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置，用以解决现有技术中存在对显示面板的显示区域的晶体管进行老化处理时，老化信号需要经过移位寄存器单元的转化输出，造成移位寄存器单元的损坏进而影响显示面板的正常显示的问题。
本发明实施例提供了一种测试电路，包括：多个信号输入端、多个控制信号端，以及多个开关；其中，
每个所述控制信号端对应多个所述开关；每个所述信号输入端对应多个所述开关；
各所述开关的控制端与对应的所述控制信号端相连，输入端与对应的所述信号输入端相连；各所述开关用于在对应的所述控制信号端的控制下，将对应的所述信号输入端输入的信号通过输出端输出。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述开关，具体包括：开关晶体管；
所述开关晶体管的栅极与对应的所述控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述测试电路包括：三个所述信号输入端、三个所述控制信号端和九个所述开关晶体管；其中，
每个所述控制信号端对应三个所述开关晶体管；每个所述信号输入端对应三个所述开关晶体管；
各所述开关晶体管的栅极与对应的所述控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述测试电路包括：三个所述信号输入端、两个所述控制信号端和六个所述开关晶体管；其中，
每个所述控制信号端对应三个所述开关晶体管；每个所述信号输入端对应两个所述开关晶体管；
各所述开关晶体管的栅极与对应的所述控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，还包括：多个扫描信号输入端，多个发光信号输入端、多个第一控制开关、多个第二控制开关、多个第三控制开关、多个第四控制开关和多个第五控制开关；
三个所述信号输入端分别为第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端；两个所述控制信号端分别为第一控制信号端和第二控制信号端；每个所述信号输入端分别对应一个第一开关晶体管和一个第二开关晶体管；所述第一开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；所述第二开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；
每个所述扫描信号输入端对应两个所述第一控制开关，每个所述发光信号输入端对应一个所述第二控制开关；
各所述第一控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连，输入端与对应的所述扫描信号输入端相连；各所述第一控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下，将对应的所述扫描信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第二控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连，输入端与对应的所述发光信号输入端相连；各所述第二控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下，将对应的所述发光信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第三控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第一信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第三控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第一信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第四控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第二信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第四控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第二信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第五控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第三信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第五控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第三信号输入端输入的信号通过输出端输出。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述第一控制开关，具体包括：第三开关晶体管；
所述第三开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连，源极与对应的所述扫描信号输入端相连，漏极用于将对应的所述扫描信号输入端输入的信号输出。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述第二控制开关，具体包括：第四开关晶体管；
所述第四开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连，源极与对应的所述发光信号输入端相连，漏极用于将对应的所述发光信号输入端输入的信号输出。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述第三控制开关，具体包括：第五开关晶体管；
所述第五开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与所述第一信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连，漏极用于将所述第一信号输入端输入的信号输出。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述第四控制开关，具体包括：第六开关晶体管；
所述第六开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与所述第二信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连，漏极用于将所述第二信号输入端输入的信号输出。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述第五控制开关，具体包括：第七开关晶体管；
所述第七开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与所述第三信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连，漏极用于将所述第三信号输入端输入的信号输出。
本发明实施例提供了一种本发明实施例提供的上述测试电路的测试方法，包括：
在各控制信号端分时输入开启信号时，各所述控制信号端对应的多个开关在对应的所述控制信号端的控制下导通；
导通的各所述开关将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试方法中，在各所述控制信号端分时输入开启信号时，各所述控制信号端对应的多个所述开关在对应的所述控制信号端的控制下导通，具体包括：
在第一控制信号端输入开启信号时，多个第一开关晶体管、多个第三开关晶体管和多个第四开关晶体管在所述第一控制信号端的控制下导通；
在第二控制信号端输入开启信号时，多个第二开关晶体管、多个第五开关晶体管、多个第六开关晶体管和多个第七开关晶体管在所述第二控制信号端的控制下导通。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试方法中，导通的各所述开关将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出，具体包括：
在第一控制信号端输入开启信号时，第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端输入一组正常测试信号，扫描信号输入端输入扫描信号，发光信号输入端输入发光信号；所述第一开关晶体管将所述正常测试信号输出，所述第三开关晶体管将所述扫描信号输出，所述第四开关晶体管将所述发光信号输出；
在第二控制信号端输入开启信号时，第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端输入一组老化测试信号；所述第一信号输入端输入的老化测试信号通过对应的第二开关晶体管输出到所述第五开关晶体管，所述第五开关晶体管将所述第一信号输入端输入的老化测试信号输出；所述第二信号输入端输入的老化测试信号通过对应的第二开关晶体管输出到所述第六开关晶体管，所述第六开关晶体管将所述第二信号输入端输入的老化测试信号输出；所述第三信号输入端输入的老化测试信号通过对应的所述第二开关晶体管输出到所述第七开关晶体管，所述第七开关晶体管将所述第三信号输入端输入的老化测试信号输出。
本发明实施例提供了一种显示面板，包括：本发明实施例提供的上述测试电路，多个用于向显示面板的显示区域输入扫描信号的第一移位寄存器单元，以及多个用于向显示面板的显示区域输入发光信号的第二移位寄存器单元；其中，
各所述第一移位寄存器单元与所述测试电路中的各扫描信号输入端一一对应相连，各所述第一移位寄存器单元用于向各所述扫描信号输入端输入扫描信号；
各所述第二移位寄存器单元与所述测试电路中的各发光信号输入端一一对应相连，各所述第二移位寄存器单元用于向各所述发光信号输入端输入发光信号。
本发明实施例提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述显示面板。
本发明实施例的有益效果包括：
本发明实施例提供了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置，该测试电路包括：多个信号输入端、多个控制信号端，以及多个开关；其中，每个控制信号端对应多个开关；每个信号输入端对应多个开关；各开关的控制端与对应的控制信号端相连，输入端与对应的信号输入端相连；各开关用于在对应的控制信号端的控制下，将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出。
具体地，本发明实施例提供的测试电路中，每个信号输入端可以分时输入多种信号，进而通过对应的开关控制，形成多条信号线路，多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同，例如，其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线，另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理，用来输入与正常点灯信号完全不同的信号，这样通过控制信号端控制相应的开关，使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板，以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求，相对于现有技术本发明实施例提供的测试电路可以不经过移位寄存器单元，将显示面板进行检测或老化处理的信号输入到显示面板的显示区域，以实现显示面板的相关测试处理，避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏，保证了显示面板的正常显示功能。
附图说明
图1为本发明实施例提供的测试电路的结构示意图；
图2和图3分别为本发明实施例提供的测试电路的具体结构示意图；
图4为本发明实施例提供的对显示面板进行点灯测试与老化处理的测试电路结构示意图；
图5-图8分别为本发明实施例提供的对显示面板进行点灯测试与老化处理时测试电路的工作示意图。
具体实施方式
下面结合附图，对本发明实施例提供的测试电路、补偿方法、显示面板及显示装置的具体实施方式进行详细的说明。
本发明实施例提供了一种测试电路，如图1所示，可以包括：多个信号输入端Ln、多个控制信号端Sn，以及多个开关Tn；其中，每个控制信号端Sn对应多个开关Tn；每个信号输入端Ln对应多个开关Tn；各开关Tn的控制端与对应的控制信号端Sn相连，输入端与对应的信号输入端Ln相连；各开关Tn用于在对应的控制信号端Sn的控制下，将对应的信号输入端Ln输入的信号通过输出端输出。
本发明实施例提供的上述测试电路中，每个信号输入端可以分时输入多种信号，进而通过对应的开关控制，形成多条信号线路，多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同，例如，其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线，另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理，用来输入与正常点灯信号完全不同的信号，这样通过控制信号端控制相应的开关，使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板，以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求，相对于现有技术本发明实施例提供的测试电路可以不经过移位寄存器单元，将显示面板进行检测或老化处理的信号输入到显示面板的显示区域，以实现显示面板的相关测试处理，避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏，保证了显示面板的正常显示功能。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图1所示，开关可以具体包括：开关晶体管；开关晶体管的栅极与对应的控制信号端相连，源极与对应的信号输入端相连，漏极用于输出对应的信号输入端输入的信号。具体地，各开关晶体管在对应控制信号端的控制下可以开启，即当控制信号端输入开启信号时，由该控制信号端控制的开关晶体管处于导通状态，进而将对应信号输入端的信号输出。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图2所示，测试电路可以包括：三个信号输入端、三个控制信号端和九个开关晶体管；其中，每个控制信号端对应三个开关晶体管；每个信号输入端对应三个开关晶体管；各开关晶体管的栅极与对应的控制信号端相连，源极与对应的信号输入端相连，漏极用于输出对应的信号输入端输入的信号。具体地，如图2所示，例如开关晶体管以P型晶体管为例说明，当控制信号端S1输入低电平信号、控制信号端S2和S3输入高电平信号时，由控制信号端S1控制的开关晶体管处于导通状态，因此导通的各开关晶体管将信号输入端L1、L2、L3输入一组信号(A、D、G)输出；当控制信号端S1和S3输入高电平信号、控制信号端S2输入低电平信号时，由控制信号端S2控制的开关晶体管处于导通状态，因此导通的各开关晶体管将信号输入端L1、L2、L3输入另一组信号(B、E、H)输出；当控制信号端S1和S2输入高电平信号、控制信号端S3输入低电平信号时，由控制信号端S3控制的开关晶体管处于导通状态，因此导通的各开关晶体管将信号输入端L1、L2、L3输入另一组信号(C、F、J)输出。这样通过多个控制信号端之间的配合，可以将各信号输入端分时输入的多组信号，通过不同的信号线路输入到显示面板，且每增加一个控制信号端，就可以多设置一组输入信号。在具体实施时，可以根据实际需要设定输入信号端和控制信号端的数量，在此不作限定。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图1所示，测试电路包括：三个信号输入端、两个控制信号端和六个开关晶体管；其中，每个控制信号端对应三个开关晶体管；每个信号输入端对应两个开关晶体管；各开关晶体管的栅极与对应的控制信号端相连，源极与对应的信号输入端相连，漏极用于输出对应的信号输入端输入的信号。如图3所示，例如开关晶体管以P型晶体管为例说明，当控制信号端S1输入低电平信号、控制信号端S2输入高电平信号时，由控制信号端S1控制的开关晶体管处于导通状态，因此导通的各开关晶体管将信号输入端L1、L2、L3输入一组信号(A、B、C)输出；当控制信号端S1输入高电平信号、控制信号端S2输入低电平信号时，由控制信号端S2控制的开关晶体管处于导通状态，因此导通的各开关晶体管将信号输入端L1、L2、L3输入另一组信号(D、E、F)输出。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图4所示，还可以包括：多个扫描信号输入端Gate，多个发光信号输入端EM、多个第一控制开关M1、多个第二控制开关M2、多个第三控制开关M3、多个第四控制开关M4和多个第五控制开关M5；
三个信号输入端分别为第一信号输入端L1、第二信号输入端L2和第三信号输入端L3；两个控制信号端分别为第一控制信号端S1和第二控制信号端S2；每个信号输入端分别对应一个第一开关晶体管T1和一个第二开关晶体管T2；第一开关晶体管T1的栅极与第一控制信号端S1相连，源极与对应的信号输入端相连，漏极用于输出对应的信号输入端输入的信号；第二开关晶体管T2的栅极与第二控制信号端S2相连，源极与对应的信号输入端相连，漏极用于输出对应的信号输入端输入的信号；
每个扫描信号输入端Gate对应两个第一控制开关M1，每个发光信号输入端EM对应一个第二控制开关M2；
各第一控制开关M1的控制端与第一控制信号端S1相连，输入端与对应的扫描信号输入端Gate相连；各第一控制开关M1用于在第一控制信号端S1的控制下，将对应的扫描信号输入端Gate输入的信号通过输出端输出；
各第二控制开关M2的控制端与第一控制信号端S1相连，输入端与对应的发光信号输入端EM相连；各第二控制开关M2用于在第一控制信号端S1的控制下，将对应的发光信号输入端EM输入的信号通过输出端输出；
各第三控制开关M3的控制端与第二控制信号端S2相连，输入端与第一信号输入端L1对应的第二开关晶体管T2的漏极相连；各第三控制开关M3用于在第二控制信号端S2的控制下，将对应的第一信号输入端L1输入的信号通过输出端输出；
各第四控制开关M4的控制端与第二控制信号端S2相连，输入端与第二信号输入端L2对应的第二开关晶体管T2的漏极相连；各第四控制开关M4用于在第二控制信号端S2的控制下，将对应的第二信号输入端L2输入的信号通过输出端输出；
各第五控制开关M5的控制端与第二控制信号端S2相连，输入端与第三信号输入端L3对应的第二开关晶体管T2的漏极相连；各第五控制开关M5用于在第二控制信号端S2的控制下，将对应的第三信号输入端L3输入的信号通过输出端输出。
本发明实施例提供的上述测试电路，可以用来对显示面板进行正常点灯测试和老化处理：
具体地，当第一控制信号端输入开启信号、第二控制信号端输入非开启信号时，由第一控制信号端控制的对应三个信号输入端的第一开关晶体管、对应扫描信号输入端的第一控制开关、对应发光信号输入端的第二控制开关均处于开启状态；此时开启的第一控制开关将对应的扫描信号输入端输入的栅驱动扫描信号输出到显示面板的显示区域；开启的第二控制开关将对应的发光信号输入端输入的发光信号输出到显示面板的显示区域；此时第一信号输入端L1、第二信号输入端L2、第三信号输入端L3输入一组正常驱动显示面板中各像素发光的数据信号，由此可以实现显示面板的正常点灯测试；
具体地，当第一控制信号端输入非开启信号、第二控制信号端输入开启信号时，由第二控制信号端控制的对应三个信号输入端的第二开关晶体管、电控制开关、第四控制开关和第五控制开关处于开启状态，此时第一信号输入端L1、第二信号输入端L2、第三信号输入端L3可以入一组对驱动显示面板中显示区域的晶体管进行老化处理的信号，该老化信号经过开启的各第二开关晶体管、第三控制开关、第四控制开关和第五控制开关输出到显示面板的显示区域，实现显示面板的老化处理，该组老化信号没有经过移位寄存器单元，而是通过本发明的测试电路直接输出到显示面板的显示区域，因此避免了老化信号由于高电压和反向的特性对移位寄存器单元的损坏。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图4所示，第一控制开关可以具体包括：第三开关晶体管T3；第三开关晶体管T3的栅极与第一控制信号端S1相连，源极与对应的扫描信号输入端Gate相连，漏极用于将对应的扫描信号输入端Gate输入的信号输出。具体地，当第一控制信号端输入开启信号时，第三开关晶体管处于导通状态，导通的第三开关晶体管将对应的扫描信号输入端输入的信号输出。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图4所示，第二控制开关可以具体包括：第四开关晶体管T4；第四开关晶体管T4的栅极与第一控制信号端S1相连，源极与对应的发光信号输入端EM相连，漏极用于将对应的发光信号输入端输入的信号输出。具体地，当第一控制信号端输入开启信号时，第四开关晶体管处于导通状态，导通的第四开关晶体管将对应的发光信号输入端输入的信号输出。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图4所示，第三控制开关可以具体包括：第五开关晶体管T5；第五开关晶体管T5的栅极与第二控制信号端S2相连，源极与第一信号输入端L1对应的第二开关晶体管T2的漏极相连，漏极用于将第一信号输入端L1输入的信号输出。具体地，当第二控制信号端输入开启信号时，第五开关晶体管处于导通状态，导通的第五开关晶体管将第一信号输入端输入的信号输出。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图4所示，第四控制开关可以具体包括：第六开关晶体管T6；第六开关晶体管T6的栅极与第二控制信号端S2相连，源极与第二信号输入端L2对应的第二开关晶体管T2的漏极相连，漏极用于将第二信号输入端L2输入的信号输出。具体地，当第二控制信号端输入开启信号时，第六开关晶体管处于导通状态，导通的第六开关晶体管将第二信号输入端输入的信号输出。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试电路中，如图4所示，第五控制开关可以具体包括：第七开关晶体管T7；第七开关晶体管T7的栅极与第二控制信号端S2相连，源极与第三信号输入端L3对应的第二开关晶体管T2的漏极相连，漏极用于将第三信号输入端L3输入的信号输出。具体地，当第二控制信号端输入开启信号时，第七开关晶体管处于导通状态，导通的第七开关晶体管将第三信号输入端输入的信号输出。
基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种本发明实施例提供的上述测试电路的测试方法，可以具体包括：
在各控制信号端分时输入开启信号时，各控制信号端对应的多个开关在对应的控制信号端的控制下导通；
导通的各开关将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出。
本发明实施例提供的上述测试方法中，每个信号输入端可以分时输入多种信号，进而通过对应的开关控制，形成多条输入信号线路，多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同，例如，其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线，另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理，用来输入与正常点灯信号完全不同的信号，这样通过控制信号端控制相应的开关，使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板，以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求，相对于现有技术本发明实施例提供的测试电路可以不经过移位寄存器单元，将显示面板进行检测或老化处理的信号输入到显示面板的显示区域，以实现显示面板的相关测试处理，避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏，保证了显示面板的正常显示功能。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试方法中，在各控制信号端分时输入开启信号时，各控制信号端对应的多个开关在对应的控制信号端的控制下导通，可以具体包括：
在第一控制信号端输入开启信号时，多个第一开关晶体管、多个第三开关晶体管和多个第四开关晶体管在第一控制信号端的控制下导通；
在第二控制信号端输入开启信号时，多个第二开关晶体管、多个第五开关晶体管、多个第六开关晶体管和多个第七开关晶体管在第二控制信号端的控制下导通。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述测试方法中，导通的各开关将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出，可以具体包括：
在第一控制信号端输入开启信号时，第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端输入一组正常测试信号，扫描信号输入端输入扫描信号，发光信号输入端输入发光信号；第一开关晶体管将正常测试信号输出，第三开关晶体管将扫描信号输出，第四开关晶体管将发光信号输出；
在第二控制信号端输入开启信号时，第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端输入一组老化测试信号；第一信号输入端输入的老化测试信号通过对应的第二开关晶体管输出到第五开关晶体管，第五开关晶体管将第一信号输入端输入的老化测试信号输出；第二信号输入端输入的老化测试信号通过对应的第二开关晶体管输出到第六开关晶体管，第六开关晶体管将第二信号输入端输入的老化测试信号输出；第三信号输入端输入的老化测试信号通过对应的第二开关晶体管输出到第七开关晶体管，第七开关晶体管将所述第三信号输入端输入的老化测试信号输出。
具体地，本发明实施例提供的上述测试方法中，各开关晶体管可以在对应的控制信号端的控制下开启，进而将对应信号输入端输入的信号输出，以实现显示面板的相关测试处理。
基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种显示面板，可以具体包括：本发明实施例提供的上述测试电路，多个用于向显示面板的显示区域输入扫描信号的第一移位寄存器单元，以及多个用于向显示面板的显示区域输入发光信号的第二移位寄存器单元；其中，各第一移位寄存器单元与测试电路中的各扫描信号输入端一一对应相连，各第一移位寄存器单元用于向各扫描信号输入端输入扫描信号；各第二移位寄存器单元与测试电路中的各发光信号输入端一一对应相连，各第二移位寄存器单元用于向各发光信号输入端输入发光信号。
具体地，下面以一个具体实施例详细说明，采用本发明实施例提供的上述测试方法对显示面板进行点灯测试和老化处理的具体实现过程：
对显示面板进行正常点灯测试时，如图5所示，各开关晶体管以P型为例进行说明，此时第一移位寄存器单元GateGOA向显示面板正常输出扫描信号，第二移位寄存器单元EmGOA向显示面板正常输出发光信号，第一信号输入端L1、第二信号输入端L2、第三信号输入端L3输入一组正常驱动显示面板中各像素发光的数据信号，第一控制信号端S1输入低电平信号，第二控制信号端S2输入高电平信号；因此，如图5所示，各第二开关晶体管T2、第五开关晶体管T5、第六开关晶体管T6、第七开关晶体管T7处于截止状态；各第一开关晶体管T1、第三开关晶体管T3、第四开关晶体管T4处于导通状态；导通的第三开关晶体管T3将对应的第一移位寄存器单元GateGOA输出的扫描信号输出到显示面板的显示区域，导通的第四开关晶体管T4将对应的第二移位寄存器单元EmGOA输出的发光信号输出到显示面板的显示区域，导通的第一开关晶体管T1将第一信号输入端L1、第二信号输入端L2、第三信号输入端L3输入的一组正常驱动显示面板中各像素发光的数据信号输出到显示面板的显示区域，进而显示面板可以实现正常的点灯测试，此时可以将图5简化为图6，图6可以清晰地展现用于实现显示面板正常点灯测试的扫描信号、发光信号以及数据信号输入到显示面板的显示区域的示意图。
对显示面板进行老化处理时，如图7所示，各开关晶体管以P型为例进行说明，此时，第一信号输入端L1、第二信号输入端L2、第三信号输入端L3输入一组对显示面板中显示区域的晶体管进行老化处理的信号，第一控制信号端S1输入高电平信号，第二控制信号端S2输入低电平信号，因此，如图6所示，各第二开关晶体管T2、第五开关晶体管T5、第六开关晶体管T6、第七开关晶体管T7处于导通状态；各第一开关晶体管T1、第三开关晶体管T3、第四开关晶体管T4处于截止状态；各导通的第二开关晶体管T2将第一信号输入端L1、第二信号输入端L2、第三信号输入端L3输入老化信号分别对应输出到第五开关晶体管T5、第六开关晶体管T6和第七开关晶体管T7，进而通过导通的第五开关晶体管T5、第六开关晶体管T6和第七开关晶体管T7输出到显示面板的显示区域，用以对显示面板的显示区域的晶体管进行老化处理。此时可以将图7简化为图8，图8可以清晰地展现用于实现显示面板老化处理的信号输入到显示面板的显示区域的示意图；同于也清晰地展现了，由于第一控制信号端S1输入高电平信号，因此各第一开关晶体管T1、第三开关晶体管T3、第四开关晶体管T4处于截止状态，进而使得第一移位寄存器单元GateGOA和第二移位寄存器单元EmGOA与向显示区域输入信号的端口断开，从而将移位寄存器单元与显示区域的信号通路端开，由此实现了不需要经过移位寄存器单元而将进行老化处理的信号直接输入到显示面板的显示区域，避免老化处理信号对移位寄存器单元的损坏，也有利于实现对显示面板进行高效直接的老化处理。
基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述显示面板。该显示装置可以应用于手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。由于该显示装置解决问题的原理与显示面板相似，因此该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施，重复之处不再赘述。
本发明实施例提供了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置，该测试电路包括：多个信号输入端、多个控制信号端，以及多个开关；其中，每个控制信号端对应多个开关；每个信号输入端对应多个开关；各开关的控制端与对应的控制信号端相连，输入端与对应的信号输入端相连；各开关用于在对应的控制信号端的控制下，将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出。
具体地，本发明实施例提供的测试电路中，每个信号输入端可以分时输入多种信号，进而通过对应的开关控制，形成多条信号线路，多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同，例如，其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线，另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理，用来输入与正常点灯信号完全不同的信号，这样通过控制信号端控制相应的开关，使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板，以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求，相对于现有技术本发明实施例提供的测试电路可以不经过移位寄存器单元，将显示面板进行检测或老化处理的信号输入到显示面板的显示区域，以实现显示面板的相关测试处理，避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏，保证了显示面板的正常显示功能。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种测试电路，其特征在于，包括：三个信号输入端、两个控制信号端、六个开关晶体管、多个扫描信号输入端、多个发光信号输入端、多个第一控制开关、多个第二控制开关、多个第三控制开关、多个第四控制开关以及多个第五控制开关；其中，每个控制信号端对应三个所述开关晶体管；每个所述信号输入端对应两个所述开关晶体管；
各所述开关晶体管的栅极与对应的所述控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；各所述开关晶体管用于在对应的所述控制信号端的控制下，将对应的所述信号输入端输入的信号通过输出端输出；
三个所述信号输入端分别为第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端；两个所述控制信号端分别为第一控制信号端和第二控制信号端；每个所述信号输入端分别对应一个第一开关晶体管和一个第二开关晶体管；所述第一开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；所述第二开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；
每个所述扫描信号输入端对应两个所述第一控制开关，每个所述发光信号输入端对应一个所述第二控制开关；
各所述第一控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连，输入端与对应的所述扫描信号输入端相连；各所述第一控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下，将对应的所述扫描信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第二控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连，输入端与对应的所述发光信号输入端相连；各所述第二控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下，将对应的所述发光信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第三控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第一信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第三控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第一信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第四控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第二信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第四控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第二信号输入端输入的信号通过输出端输出；
各所述第五控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第三信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第五控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第三信号输入端输入的信号通过输出端输出。
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一控制开关，具体包括：第三开关晶体管；
所述第三开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连，源极与对应的所述扫描信号输入端相连，漏极用于将对应的所述扫描信号输入端输入的信号输出。
3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第二控制开关，具体包括：第四开关晶体管；
所述第四开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连，源极与对应的所述发光信号输入端相连，漏极用于将对应的所述发光信号输入端输入的信号输出。
4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第三控制开关，具体包括：第五开关晶体管；
所述第五开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与所述第一信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连，漏极用于将所述第一信号输入端输入的信号输出。
5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第四控制开关，具体包括：第六开关晶体管；
所述第六开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与所述第二信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连，漏极用于将所述第二信号输入端输入的信号输出。
6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第五控制开关，具体包括：第七开关晶体管；
所述第七开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与所述第三信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连，漏极用于将所述第三信号输入端输入的信号输出。
7.一种如权利要求1-6任一项所述的测试电路的测试方法，其特征在于，包括：
在各控制信号端分时输入开启信号时，各所述控制信号端对应的多个开关在对应的所述控制信号端的控制下导通；
导通的各所述开关将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出。
8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在各所述控制信号端分时输入开启信号时，各所述控制信号端对应的多个所述开关在对应的所述控制信号端的控制下导通，具体包括：
在第一控制信号端输入开启信号时，多个第一开关晶体管、多个第三开关晶体管和多个第四开关晶体管在所述第一控制信号端的控制下导通；
在第二控制信号端输入开启信号时，多个第二开关晶体管、多个第五开关晶体管、多个第六开关晶体管和多个第七开关晶体管在所述第二控制信号端的控制下导通。
9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，在所述第一控制开关具体包括第三开关晶体管，所述第二控制开关具体包括第四开关晶体管，所述第三控制开关具体包括第五开关晶体管，所述第四控制开关具体包括第六开关晶体管；所述第五控制开关具体包括第七开关晶体管时，导通的各所述开关将对应的信号输入端输入的信号通过输出端输出，具体包括：
在第一控制信号端输入开启信号时，第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端输入一组正常测试信号，扫描信号输入端输入扫描信号，发光信号输入端输入发光信号；所述第一开关晶体管将所述正常测试信号输出，所述第三开关晶体管将所述扫描信号输出，所述第四开关晶体管将所述发光信号输出；
在第二控制信号端输入开启信号时，第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端输入一组老化测试信号；所述第一信号输入端输入的老化测试信号通过对应的第二开关晶体管输出到所述第五开关晶体管，所述第五开关晶体管将所述第一信号输入端输入的老化测试信号输出；所述第二信号输入端输入的老化测试信号通过对应的第二开关晶体管输出到所述第六开关晶体管，所述第六开关晶体管将所述第二信号输入端输入的老化测试信号输出；所述第三信号输入端输入的老化测试信号通过对应的所述第二开关晶体管输出到所述第七开关晶体管，所述第七开关晶体管将所述第三信号输入端输入的老化测试信号输出。
10.一种显示面板，其特征在于，包括：如权利要求1-6任一项所述的测试电路，多个用于向显示面板的显示区域输入扫描信号的第一移位寄存器单元，以及多个用于向显示面板的显示区域输入发光信号的第二移位寄存器单元；其中，
各所述第一移位寄存器单元与所述测试电路中的各扫描信号输入端一一对应相连，各所述第一移位寄存器单元用于向各所述扫描信号输入端输入扫描信号；
各所述第二移位寄存器单元与所述测试电路中的各发光信号输入端一一对应相连，各所述第二移位寄存器单元用于向各所述发光信号输入端输入发光信号。
11.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求10所述的显示面板。
CN201610016286.1A 2016-01-11 2016-01-11 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置 Active CN105632383B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610016286.1A CN105632383B (zh) 2016-01-11 2016-01-11 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置
US15/229,310 US10229619B2 (en) 2016-01-11 2016-08-05 Test circuit, test method, display panel and display apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610016286.1A CN105632383B (zh) 2016-01-11 2016-01-11 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105632383A CN105632383A (zh) 2016-06-01
CN105632383B true CN105632383B (zh) 2018-09-11

Family

ID=56047248

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610016286.1A Active CN105632383B (zh) 2016-01-11 2016-01-11 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10229619B2 (zh)
CN (1) CN105632383B (zh)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106200181A (zh) * 2016-09-07 2016-12-07 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶显示面板测试线路及液晶显示面板
TWI627622B (zh) * 2017-08-30 2018-06-21 友達光電股份有限公司 電壓補償電路及電壓補償方法
CN107613619B (zh) * 2017-09-22 2019-06-04 京东方科技集团股份有限公司 点灯控制电路和信号分屏及带保护功能转换点灯设备
CN108120915B (zh) * 2017-12-15 2020-05-05 京东方科技集团股份有限公司 应用于显示面板的老化处理方法及老化处理系统
CN108257539B (zh) * 2018-01-19 2021-06-29 苏州清越光电科技股份有限公司 Oled显示装置及其驱动芯片
CN108932922B (zh) * 2018-07-03 2021-05-14 京东方科技集团股份有限公司 一种修复能力测试装置及方法
CN109360519B (zh) * 2018-11-09 2020-08-11 惠科股份有限公司 量测讯号电路及其量测方法
CN109697938B (zh) * 2019-01-24 2021-11-30 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、制备方法、检测方法及显示装置
CN112164371B (zh) * 2020-10-14 2022-02-22 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 驱动电路及显示面板
CN112599061A (zh) * 2021-01-05 2021-04-02 厦门天马微电子有限公司 阵列基板、显示面板及检测方法
CN113160744B (zh) * 2021-03-18 2023-01-31 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其驱动方法、显示装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5053700A (en) * 1989-02-14 1991-10-01 Amber Engineering, Inc. Method for wafer scale testing of redundant integrated circuit dies
CN1116710A (zh) * 1994-06-08 1996-02-14 三星电子株式会社 半导体存储器装置的晶片老化检测电路
US5608335A (en) * 1992-12-31 1997-03-04 Sgs-Thomson Microelectronics, S.A. Method for the testing of integrated circuit chips and corresponding integrated circuit device
US6067067A (en) * 1997-01-08 2000-05-23 Lg Electronics Inc. Scan driver IC for a liquid crystal display
JP2000200053A (ja) * 1999-01-07 2000-07-18 Futaba Corp 表示素子用基板の製造方法及び表示素子用基板
CN1400470A (zh) * 2001-07-31 2003-03-05 爱斯佩克株式会社 显示装置的检查装置、驱动信号供应装置以及显示装置的检查系统
CN1924963A (zh) * 2005-08-31 2007-03-07 三星Sdi株式会社 执行片状单元测试的oeld和使用该oeld的测试方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001265248A (ja) * 2000-03-14 2001-09-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
KR101040859B1 (ko) * 2009-09-02 2011-06-14 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치
KR20130070206A (ko) * 2011-12-19 2013-06-27 삼성디스플레이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
US9817418B2 (en) * 2012-06-26 2017-11-14 Siemens Aktiengesellschaft Power supply system comprising a preprocessing device
KR101987434B1 (ko) * 2013-01-15 2019-10-01 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그것의 테스트 방법
KR102047005B1 (ko) * 2013-05-31 2019-11-21 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
KR102098743B1 (ko) * 2013-10-02 2020-04-09 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
CN104021747A (zh) * 2014-05-23 2014-09-03 京东方科技集团股份有限公司 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法
CN104167175B (zh) * 2014-08-06 2016-08-31 上海和辉光电有限公司 有机发光显示器
TWI546786B (zh) * 2014-08-22 2016-08-21 友達光電股份有限公司 顯示面板

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5053700A (en) * 1989-02-14 1991-10-01 Amber Engineering, Inc. Method for wafer scale testing of redundant integrated circuit dies
US5608335A (en) * 1992-12-31 1997-03-04 Sgs-Thomson Microelectronics, S.A. Method for the testing of integrated circuit chips and corresponding integrated circuit device
CN1116710A (zh) * 1994-06-08 1996-02-14 三星电子株式会社 半导体存储器装置的晶片老化检测电路
US6067067A (en) * 1997-01-08 2000-05-23 Lg Electronics Inc. Scan driver IC for a liquid crystal display
JP2000200053A (ja) * 1999-01-07 2000-07-18 Futaba Corp 表示素子用基板の製造方法及び表示素子用基板
CN1400470A (zh) * 2001-07-31 2003-03-05 爱斯佩克株式会社 显示装置的检查装置、驱动信号供应装置以及显示装置的检查系统
CN1924963A (zh) * 2005-08-31 2007-03-07 三星Sdi株式会社 执行片状单元测试的oeld和使用该oeld的测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20170200404A1 (en) 2017-07-13
US10229619B2 (en) 2019-03-12
CN105632383A (zh) 2016-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105632383B (zh) 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置
CN105427806B (zh) 像素电路、显示基板及显示装置、驱动显示基板的方法
CN107016965B (zh) Oled显示装置的ovss电压降的补偿方法及像素驱动电路
CN104699347B (zh) 一种阵列基板、显示面板及电子设备
CN105913801B (zh) 一种有机发光显示面板及其驱动方法
CN106415702B (zh) 显示装置和电子设备
CN104062784B (zh) 一种面板检测电路及显示面板
CN106409233A (zh) 一种像素电路、其驱动方法及有机发光显示面板
CN207425322U (zh) 像素电路、显示基板及显示装置
CN107170408A (zh) 像素电路、驱动方法、有机电致发光显示面板及显示装置
CN107256690A (zh) 一种电致发光显示面板、其驱动方法及显示装置
CN107452334A (zh) 像素电路及其驱动方法、显示基板及其驱动方法、显示装置
CN109599062A (zh) 像素电路及其驱动方法、显示装置
CN109523943A (zh) 显示面板和显示装置
CN109584788A (zh) 像素驱动电路、像素单元及驱动方法、阵列基板、显示装置
CN105609051B (zh) 一种像素电路、显示面板及显示装置
CN110349542A (zh) 一种显示面板、显示装置及其控制方法
CN110136637B (zh) 一种像素电路及其驱动方法、显示装置
CN108364598A (zh) 显示基板及其短路检测方法、显示装置
CN110021273A (zh) 像素电路及其驱动方法、显示面板
CN108428434A (zh) 像素电路、有机发光显示面板及显示装置
CN110364119A (zh) 像素电路及其驱动方法、显示面板
CN110178175A (zh) 显示面板及其驱动方法、显示装置
CN109148548A (zh) 阵列基板及显示面板
CN108492777A (zh) 像素驱动电路的驱动方法、显示面板和显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant