CN1924963A - 执行片状单元测试的oeld和使用该oeld的测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种执行片状单元测试的有机电致发光显示器(OELD)，其包括：包括用于接收第一供电电压(ELVDD)、第二供电电压(ELVSS)、扫描信号并发光的多个像素的像素单元；用于将扫描信号提供给像素单元的扫描驱动单元；用于测试像素单元中是否存在缺陷的测试单元，以及还包括沿第一方向布置并具有浮置端的第一布线组；以及沿第二方向布置并具有浮置端的第二布线组。通过提供供电电压和用于测试的信号到母板上形成的多个OELD中，允许进行片状单元测试，而不用划片每个OELD。

Description

执行片状单元测试的OELD和使用该OELD的测试方法
优先权请求
本申请要求于2005年8月31日递交到韩国知识产权局的韩国专利申请No.10-2005-0080994的权益，在此将其公开内容全部引入作为参考。
技术领域
本发明涉及一种有机电致发光显示器(OELD)及使用该OELD的测试方法，更具体而言，涉及执行片状单元(sheet unit)测试的OELD和使用该OELD的测试方法。
背景技术
通常，在一个母板上形成多个OELD，然后划片，以分成分开的OELD。通过分开地测试已经完成划片的OELD来对这种OELD进行测试。
OELD具有扫描驱动单元、数据驱动单元、数据分配单元和像素单元。
扫描驱动单元产生扫描信号。扫描驱动单元中产生的扫描信号被顺序地提供到扫描线中。
数据驱动单元产生数据信号。数据驱动单元中产生的数据信号被顺序地提供到输出线中。
数据分配单元提供数据信号到至少两个数据线中，数据信号是从数据驱动单元的各个输出线提供的。
像素单元由包括有机发光二极管的多个像素构成。这种像素单元显示对应于从扫描驱动单元提供的扫描信号和从数据分配单元提供的数据信号的预定图像。
产生问题是因为对这种OELD的测试应该在用于测试每个OELD的测试设备中进行。如果构成OELD的电路布线改变，或OELD的尺寸变化，那么测试设备也应该改变，或用于测试需要的夹具也应该改变。此外，因为各个OELD被分开测试，由于延长的测试时间和增加的费用，因而降低测试效率。
发明内容
由此，本发明的目的是提供一种用于对在母板中形成的多个OELD执行片状单元测试的有机电致发光显示器(OELD)及使用该OELD的测试方法。
通过提供一种有机电致发光显示器(OELD)来实现本发明的一个目的，该显示器包括：包括用于接收第一供电电压、第二供电电压和扫描信号并发光的多个像素的像素单元；用于将扫描信号提供给像素单元的扫描驱动单元；用于测试像素单元中是否存在缺陷的测试单元；沿第一方向布置并具有浮置端的第一布线组；以及沿第二方向布置并具有浮置端的第二布线组。
第一布线组和第二布线组优选分别与像素单元、扫描驱动单元和测试单元电隔离。
该OELD优选还包括用于提供对应于外部提供的数据的数据信号到像素单元的数据驱动单元。该OELD优选还包括用于将从数据驱动单元提供的数据信号提供给像素单元的至少两个像素的数据分配单元，其中从数据驱动单元提供的数据信号对应于至少两个选择信号。
数据分配单元优选与第一布线组和第二布线组电隔离。
通过提供一种测试片状单元型有机电致发光显示器(OELD)的方法来实现本发明的另一目的，该显示器包括布置在母板上的多个OELD，该方法用于确定多个OELD的任意一个是否有任意缺陷，该方法包括：共同连接第一布线组和第二布线组的每一个到沿相对于母板上多个OELD的第一方向和第二方向排列的OELD；连接第一布线组或第二布线组中包含的至少一个布线到多个OELD的每一个，以提供第一供电电压和第二供电电压；通过第一布线组的布线将第一驱动信号提供给多个OELD中的至少一个，并且通过第二布线组的布线将第二驱动信号提供给多个OELD中的至少一个；以及响应于第一和第二供电电压、第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个，测试多个OELD中的至少一个。
第一布线组和第二布线组的至少一个优选还将第三供电电压和第四供电电压提供给布置在多个OELD的每一个中的扫描驱动单元；第一驱动信号和第二驱动信号的至少一个优选包括扫描控制信号或测试控制信号，以及测试信号，用于控制扫描驱动单元。
扫描控制信号优选包括布置在多个OELD的每一个中的扫描驱动单元的时钟信号、输出使能信号和开始脉冲的至少一个。
测试信号优选启动发光测试、老化测试和漏电流测试中的至少一种。
对多个OELD的至少一个进行测试优选还包括：生成对应于第三供电电压、第四供电电压和扫描控制信号的扫描信号；将扫描信号提供给布置在多个OELD的至少一个中的像素单元；响应于测试控制信号将测试信号提供给像素单元；以及在像素单元上显示对应于扫描信号和测试信号的预定图像。
该方法优选还包括将测试信号提供给设置在像素单元中的多个像素，以对应于第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个中包含的多个选择信号。
第二驱动信号优选还包括控制信号，用于控制第一供电电压、第二供电电压、第三供电电压、第四供电电压以及第一驱动信号的至少一个是否从第一布线组提供给多个OELD。
优选对接收对应于控制信号的第一供电电压、第二供电电压、第三供电电压、第四供电电压、第一驱动信号和第二驱动信号的多个OELD的至少一个进行测试。
通过提供一种有机电致发光显示器(OELD)的母板实现本发明的另一目的，包括：多个OELD的每一个包括：具有用于接收第一供电电压、第二供电电压、扫描信号和测试信号并发光的多个像素的像素；用于将扫描信号提供给像素单元的扫描驱动单元；用于通过数据线将测试信号提供给像素单元的测试单元；以及用于将在测试单元和数据线之间连接的测试信号提供给多个数据线的数据分配单元，测试单元和数据线之间连接的测试信号被提供给分开的测试单元的输出线；连接到沿第一方向排列的多个OELD的OELD的第一布线组；以及连接到沿第二方向排列的多个OELD的OELD的第二布线组；其中第一和第二布线组的至少一个将预定的测试信号和预定的供电电压提供给自连接的分开的OELD。
第二布线组中包含的至少一个布线优选电连接到第一布线组中包含的至少一个布线。第一布线组优选包括：用于接收第一供电电压的第一布线；用于接收第二供电电压的第七布线；用于接收第三供电电压以驱动扫描驱动单元的第四布线；以及用于接收第四供电电压以驱动扫描驱动单元的第五布线，并且第二布线组优选包括：用于接收第一供电电压的第十一布线；用于接收第二供电电压的第十七布线；用于接收第三供电电压以驱动扫描驱动单元的第十四布线；以及用于接收第四电电压以驱动扫描驱动单元的第十五布线。第一布线和第十一布线；第七布线和第十七布线；第四布线和第十四布线；以及第五布线和第十五布线优选互相连接。扫描驱动单元优选用于从第十四布线接收第三供电电压，以及从第十五布线接收第四供电电压。第十四布线和第十五布线与扫描驱动单元的电节点优选布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。像素单元优选用于从第十一布线接收第一供电电压，以及从第十七布线接收第二供电电压。第十一布线和第十七布线与像素单元的电节点优选被布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。第十一布线和第十七布线优选交替地排列，以布置在不同的行。像素单元优选用于从第十一布线接收第一供电电压，以及从第一布线组中包含的第七布线接收第二供电电压。第十一布线和第七布线与像素单元的电节点优选被布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。第十四布线和第十五布线优选交替地排列，以布置在不同的行。扫描驱动单元优选用于从第十四布线接收第三供电电压，以及从第一布线组中包含的第五布线接收第四供电电压。第十四布线和第五布线与扫描驱动单元的电节点优选布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
第一布线组的任何一个优选还包括：用于接收提供给数据分配单元的至少两个选择信号的第二布线；用于接收提供给测试单元的测试控制信号和测试信号的第三布线；以及用于接收提供给扫描驱动单元的扫描控制信号的第六布线；或者第二布线组还包括：用于接收提供给数据分配单元的至少两个选择信号的第十二布线；用于接收提供给测试单元的测试信号的第十三布线；以及用于接收提供给扫描驱动单元的扫描控制信号的第十六布线。
每个第二布线优选连接到第十二布线之一；每个第三布线优选连接到第十三布线之一；以及每个第六布线优选连接到第十六布线之一。数据分配单元优选通过第一电节点连接到第二布线和第十二布线之一；测试单元优选通过第二电节点连接到第三布线和第十三布线之一；以及扫描驱动单元优选通过第三电节点连接到第六布线和第十六布线之一。
第一电节点、第二电节点以及第三电节点优选布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
该母板优选还包括用于连接第一布线组中包括的至少一个布线到每个OELD的传输门，用于控制至少一个信号的提供和从相连的布线提供到OELD的供电电压。该母板优选还包括第二布线组中包含的第十八布线和第十九布线，第十八布线和第十九布线连接到传输门的栅极端，以提供控制信号，控制传输门的导通/截止。第一布线组优选包括用于接收提供给数据分配单元的至少两个选择信号的第二布线，以及用于接收提供给扫描驱动单元的扫描控制信号的第六布线，并且第二布线组包括用于接收提供给测试单元的测试信号的第十三布线。
数据分配单元优选通过第一电节点连接到第二布线；扫描驱动单元优选通过第二电节点连接到第六布线；并且测试单元优选通过第三电节点连接到第十三布线。
第一电节点、第二电节点以及第三电节点优选布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
测试信号优选用于启动发光测试、老化测试和漏电流测试中的至少一种。
附图说明
通过参考下列详细描述，同时结合附图考虑，本发明变得更容易理解，因此，可以更全面理解本发明，并将容易明白本发明的许多伴随的优点。附图中相同参考标记表示相同的或类似的元件，其中：
图1是其划片已经完成的有机电致发光显示器(OELD)的视图；
图2是其中形成有根据本发明实施例的OELD的母板的视图；
图3是图2的OELD和布线组的第一实施例的视图；
图4是图2的OELD和布线组的第二实施例的视图；
图5是图2的OELD和布线组的第三实施例的视图；
图6是图2的OELD和布线组的第四实施例的视图；
图7是图2至6的测试单元的例子的电路图；
图8是图2至6的测试单元和数据分配单元的例子的电路图；
图9是用来说明发光测试的像素例子的电路图；
图10A是图9的像素正常地工作时控制像素电路的控制信号的波形；
图10B是进行发光测试时控制图9的像素电路的控制信号的波形；
图11是在OELD的母板上进行片状单元测试的实施例的视图；以及
图12是在OELD的母板上进行片状单元测试的另一实施例的视图。
具体实施方式
图1是其划片已经完成的有机电致发光显示器(OELD)的视图。
参见图1，OELD 110具有扫描驱动单元120、数据驱动单元130、数据分配单元140和像素单元150。
扫描驱动单元120产生扫描信号。由扫描驱动单元120产生的扫描信号被顺序地提供给扫描线(S1至Sn)。
数据驱动单元130产生数据信号。由数据驱动单元130产生的数据信号被顺序地提供给输出线(O1至Om)。
数据分配单元140提供数据信号到至少两个数据线(D)，数据信号是从数据驱动单元130的输出线(O1至Om)提供的。
像素单元150由包括有机发光二极管的多个像素(未示出)构成。这种像素单元150显示对应于从扫描驱动单元120提供的扫描信号和从数据分配单元140提供的数据信号的预定图像。
产生问题是由于对每个OELD 110的测试必须在用于测试每个OELD的测试设备中进行。如果构成OELD 110的电路布线改变，或OELD 110的尺寸变化，那么测试设备也必须改变，或测试所需的夹具也必须改变。此外，因为各个OELD 110被分开测试，由于延长的测试时间和增加的费用，因此降低测试效率。
下面，参照附图2至12描述本发明的示例性实施例。
图2是其中形成有根据本发明实施例的OELD的母板的视图。
参见图2，根据本发明实施例的OELD的母板200具有多个OELD 210。每个OELD 210具有扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240、像素单元250、第一布线组260和第二布线组270。
第一布线组260沿纵向方向(第一方向)形成，共同连接到位于母板200上的相同列中的OELD 210。第二布线组270沿横向方向(第二方向)形成，共同连接到位于母板200上的相同行中的OELD 210。第一和第二布线组260和270将用于片状单元测试的供电电压和信号提供给形成在每个OELD 210上的扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250中的至少一个。
扫描驱动单元220从第一布线组260和/或第二布线组270接收扫描控制信号、第三供电电压(VDD)和第四供电电压(VSS)。扫描驱动单元220响应于扫描控制信号、第三供电电压(VDD)和第四供电电压(VSS)产生扫描信号。由扫描驱动单元220产生的扫描信号被提供给像素单元250。
测试单元230从第一布线组260和/或第二布线组270接收测试控制信号和测试信号。测试OELD中是否存在缺陷的测试信号，可以包括，例如，发光测试信号、老化测试信号和漏电流测试信号及像素单元250中所包含的像素的其他测试信号。测试单元230响应于该测试控制信号将测试信号提供给数据分配单元240。
数据分配单元240从第一布线组260和/或第二布线组270接收至少两个选择信号。接收选择信号的数据分配单元240，将提供给每个测试单元230的输出线的测试信号提供给至少两个数据线。当插入数据驱动单元(未示出)时，数据分配单元240响应于从外面提供的至少两个选择信号，将提供给每个数据驱动单元的输出线的数据信号提供给至少两个数据线。在下文中，为了方便描述，假定数据分配单元240提供测试信号到三个数据线，该测试信号仅仅被提供给一个输出线。
像素单元250由包括有机发光二极管的多个像素(未示出)构成。一个像素具有红、绿和蓝子像素，以及还可以包括白色子像素。像素单元250接收：从第一布线组260和/或第二布线组270提供的第一供电电压(ELVDD)和第二供电电压(ELVSS)；从扫描驱动单元220提供的扫描信号；以及从数据分配单元240提供的测试信号，然后显示预定图像。
OELD 210还可以包括数据驱动单元。在从母板200划片每个OELD 210之后，数据驱动单元响应于从外部提供的数据而产生数据信号。由数据驱动单元220产生的数据信号被提供给数据分配单元240。作为一个例子，数据驱动单元可以安装成与测试单元230重叠。
这种OELD的母板200可以通过第一布线组260和第二布线组270，向母板200上形成的多个OELD 210提供供电电压和用于测试的信号。因此，可以在不划片每个OELD 210的条件下进行片状单元测试。由此，可通过降低测试时间和降低成本来提高测试效率。此外，如果构成OELD 210的电路布线改变，或OELD 210的尺寸改变，如果第一布线组260和第二布线组270的电路布线的尺寸以及母板200未被改变，那么还可以进行测试，而不改变测试设备或夹具。
在片状单元测试完成之后，将形成在母板200上的每个OELD 210划片。划片线280布置为在将OELD 210划片之后，扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250与第一布线组260和第二布线组270电隔离。也就是说，第一布线组260和第二布线组270与扫描驱动单元220、测试单元230、数据驱动单元240和像素单元250之间的电节点，位于OELD210的划片线外侧。因此，噪声如静电未被提供给扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250，该噪声是从外面被输入第一布线组260和第二布线组270的。
图3是图2的OELD和布线组的第一实施例的视图。与图2相同的部分具有相同的参考标记，以及下面省略了这些相同部分的描述。
参见图3，根据第一实施例的OELD 210具有包括多个布线的第一布线组260和第二布线组270。
第一布线组260包括用于接收第一供电电压(ELVDD)的第一布线261、用于接收至少两个选择信号的第二布线262、用于接收测试控制信号和测试信号的第三布线263、用于接收第三供电电压(VDD)的第四布线264、用于接收第四供电电压(VSS)的第五布线265，用于接收扫描控制信号的第六布线266以及用于接收第二供电电压(ELVSS)的第七布线267。
第一布线261提供在片状单元测试过程中提供的第一供电电压(ELVDD)到每个OELD 210中形成的像素单元250。提供给像素单元250的第一供电电压(ELVDD)被提供给像素单元250中形成的像素。
第二布线262提供至少两个选择信号给数据分配单元240，以便提供给测试单元230的每个输出线(O1至Om)的测试信号可以被提供给至少两个数据线(D)。数据分配单元240接收三个选择信号，这是由于数据分配单元240提供被提供给一个输出线(O)的测试信号到三个数据线(D)。为此，第二布线262每个由三个布线构成。
第三布线263从外面接收测试控制信号和测试信号，然后提供这些信号到每个OELD 210中形成的测试单元230。为此用途，第三布线263每个由两个布线构成。
第四布线264提供在片状单元测试过程中提供的第三供电电压(VDD)到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。
第五布线265提供在片状单元测试过程中提供的第四供电电压(VSS)到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。
第六布线266从外面接收扫描控制信号，然后提供这些信号到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220中。在扫描控制信号中可以包括扫描驱动单元220的时钟信号、输出使能信号和开始脉冲。实际上，提供给扫描驱动单元220的扫描控制信号的数目可以被设为宽范围，这取决于扫描驱动单元220的电路布局。由此，根据扫描驱动单元220的电路布局来确定第六布线266中包含的布线数目。
在下文中，为了描述方便，假定在第六布线266中包含三个布线。
第七布线267提供片状单元测试过程中提供的第二供电电压(ELVSS)到每个OELD 210中形成的像素单元250。提供给像素单元250的第二供电电压(ELVSS)被提供给像素单元250中形成的像素。
第二布线组270包括用于接收第一供电电压(ELVDD)的第十一布线271、用于接收至少两个选择信号的第十二布线272、用于接收测试控制信号和测试信号的第十三布线273、用于接收第三供电电压(VDD)的第十四布线274、用于接收第四供电电压(VSS)的第十五布线275、用于接收扫描控制信号的第十六布线276，以及用于接收第二供电电压(ELVSS)的第十七布线277。
第十一布线271提供在片状单元测试过程中提供的第一供电电压(ELVDD)到每个OELD 210中形成的像素单元250。为此用途，第十一布线271被电连接到第一布线261。提供给像素单元250的第一供电电压(ELVDD)被提供给像素单元250中形成的像素。
第十二布线272提供三个选择信号到数据分配单元240，以便提供给测试单元230的每个输出线(O1至Om)的测试信号可以被提供给三个数据线(D)。为此用途，第十二布线272被电连接到第二布线262。也就是说，第十二布线272每个由与第二布线262数目相等的三个布线构成，而且每个第十二布线272电连接到第二布线262之一。
第十三布线273从外面接收测试控制信号和测试信号，然后提供这些信号到每个OELD 210中形成的测试单元230。为此用途，第十三布线273被电连接到第三布线263。也就是说，第十三布线273每个由与第三布线263的数目相等的两个布线构成，并且每个第十三布线273电连接到第三布线263之一。
第十四布线274将在片状单元测试过程中提供的第三供电电压(VDD)提供给每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。为此用途，第十四布线274被电连接到第四布线264。
第十五布线275将在片状单元测试过程中提供的第四供电电压(VDD)提供给每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。为此用途，第十五布线275被电连接到第五布线265。
第十六布线276从外面接收扫描控制信号，然后将这些信号提供到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220中。为此，第十六布线276电连接到第六布线266。也就是说，第十六布线276每个由与第六布线266的数目相等的三个布线构成，并且每个第十六布线276电连接到第六布线266之一。
第十七布线277将片状单元测试过程中提供的第二供电电压(ELVSS)提供给每个OELD 210中形成的像素单元250。为此用途，第十七布线277电连接到第七布线267。提供给像素单元250的第二供电电压(ELVSS)被提供给像素单元250中形成的像素。
第二布线262、第三布线263、第六布线266、第十二布线272、第十三布线273以及第十六布线276中包含的布线数目不局限于本发明的实施例的那些数目。也就是说，可以将布线数目设为对应于测试的种类、分布数据线数目以及扫瞄驱动单元220的电路布局的宽范围。
在本发明的此第一实施例中，扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240以及像素单元250从第二布线组270中包含的布线接收供电电压和信号。第二布线组270的电节点被布置为，在OELD 210被划片之后，这些电节点与扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250电隔离。由此，划片之后从外面输入的噪声不被传输到扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250。
如上所述，第一实施例的第一至第七布线(261至267)和第十一至第十七布线271至277布置成网状结构，以电连接接收相同供电电压或信号的布线。因此，可以根据本发明的第一实施例的OELD的母板200进行片状单元测试。此外，通过以网状结构形成所有供电电压线和信号线，以便在第一布线组260和第二布线组270中可以包含供电电压线和信号线，可以最小化电压降(IR下降)、信号延迟(RC延迟)及其他问题。
图4是图2的OELD和布线组的第二实施例的视图。与图2相同的部分具有相同的参考标记，因此下面省略了这些相同部分的描述。
参见图4，根据第二实施例的OELD 210具有包含多个布线的第一布线组260和第二布线组270。
第一布线组260包括用于接收第一供电电压(ELVDD)的第一布线261，用于接收至少两个选择信号的第二布线262，用于接收测试控制信号和测试信号的第三布线263，用于接收第三供电电压(VDD)的第四布线264，用于接收第四供电电压(VSS)的第五布线265，用于接收扫描控制信号的第六布线266，以及用于接收第二供电电压(ELVSS)的第七布线267。提供给这种第一布线组260的信号或供电电压与图3的那些相同，因此下面省略了它们的描述。
第二布线组270具有用于接收第一供电电压(ELVDD)的第十一布线271，用于接收第三供电电压(VDD)的第十四布线274，用于接收第四供电电压(VSS)的第十五布线275，以及用于接收第二供电电压(ELVSS)的第十七布线277。
第十一布线271将在片状单元测试过程中提供的第一供电电压(ELVDD)提供给每个OELD210中形成的像素单元250。为此用途，第十一布线271被电连接到第一布线261。提供给像素单元250的第一供电电压(ELVDD)被提供给像素单元250中形成的像素。
第十四布线274将在片状单元测试过程中提供的第三供电电压(VDD)提供给每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。为此用途，第十四布线274被电连接到第四布线264。
第十五布线275将在片状单元测试过程中提供的第四供电电压(VDD)提供给每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。为此用途，第十五布线275被电连接到第五布线265。
第十七布线277将片状单元测试过程中提供的第二供电电压(ELVSS)提供给每个OELD 210中形成的像素单元250。为此用途，第十七布线277被电连接到第七布线267。提供给像素单元250的第二供电电压(ELVSS)被提供给像素单元250中形成的像素。
第十一布线271和第十四布线274；以及第十五布线275和第十七布线277交替地位于不同的行中，以便更容易地布置供电电压线和有效地使用其中布置供电电压线的空间。例如，第十一布线271和第十四布线274可以被布置在奇数行中，第十五布线275和第十七布线277可以被布置在偶数行中。或者，第十一布线271和第十四布线274可以被布置在偶数行中，第十五布线275和第十七布线277可以被布置在奇数行中。
在本发明的第二实施例中，扫描驱动单元220从第一布线组260当中的第五布线265和第六布线266接收第四供电电压(VSS)和扫描控制信号。扫描驱动单元220从第二布线组270当中的第十四布线274接收第三供电电压(VDD)。
测试单元230从第一布线组260当中的第三布线263接收测试控制信号和测试信号。
数据分配单元240从第一布线组260当中的第二布线262接收选择信号。
像素单元250从第一布线组260当中的第七布线267接收第二供电电压(ELVSS)，以及从第二布线组当中的第十一布线271接收第一供电电压(ELVDD)。
第一布线组260的电节点和/或第二布线组270和第一布线组260的电节点布置在OELD 210的划片线外侧，以便在OELD 210被划片之后，这些电节点与扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250电隔离。
如上所述，在第二实施例中，仅在第一布线组260中包含信号线(即，第二布线262、第三布线263和第六布线266)。以网状结构形成供电电压线(即，第一布线261、第四布线264、第五布线265、第七布线267、第十一布线271、第十四布线274、第十五布线275以及第十七布线277)，以便它们可以即包含在第一布线组260，又包含在第二布线组270中。
实际上，这些信号可以正常地驱动扫描驱动单元220、测试单元230和数据分配单元240，尽管电压降(IR下降)及其他下降发生，只要维持一定的电压水平。由此，在此实施例中，仅在第一布线组260中包含信号线。因此，由于与图3的第一实施例相比第二布线组270中包含的布线数目减少，因而可降低制造成本和不工作区，并可保证设计的效率。此外，由于仅在一个方向(即，第一方向)上形成信号线，所以可以以列为单元测试OELD 210。也就是说，通过提供信号到位于某些列中的信号线，可以仅对位于某些列中的OELD 210进行预定测试。
如果在提供给第一布线组260和第二布线组270的供电电压中发生电压降(IR下降)，那么会产生不显示希望的图像的问题。由此，在此实施例中，可以通过以网状结构沿第一方向和第二方向都布置供电电压线来显示想要的图像。通过将第十一布线271和第十四布线274与第十五布线275和第十七布线277交替布置在不同的行中，可以更容易布置供电电压线，并且可以更有效地利用布置供电电压线的空间。
图5是图2的OELD和布线组的第三实施例的视图。在对图5的描述中，下面省略了与图4中相同部分的描述。
参见图5，根据本发明的第三实施例的OELD 210具有连接到第一布线组260中包含的至少一个布线的传输门275、用于驱动传输门275的第二布线组270中包含的第十八布线278和第十九布线279。
在本发明的第三实施例中，将传输门275连接到第一布线组260中包含的一个布线，以控制是否从相连的布线提供信号(或供电电压)到OELD 210。例如，传输门275可以位于用于提供扫描控制信号的第六布线266的任意一个中。如上所述，如果将传输门275连接到第六布线266之一，以控制是否提供扫描控制信号，那么可以对母板200中的某些OELD进行测试。也就是说，由于在未接收扫描控制信号的扫描驱动单元220中没有产生扫描信号，因此可以控制传输门275的导通/截止，以便以行为单元选择OELD 210。尽管为了说明目的而将传输门275连接到第一布线组260中包含的一个布线，实际上可以将传输门275连接到第一布线组260中包含的任意一个或所有布线上。
第十八布线278和第十九布线279包含在第二布线组270中，并连接到传输门275的栅极端子，以提供用于控制传输门275的导通/截止的控制信号(CP，/CP)。
下面详细描述对某一OELD 210的测试过程。首先，将供电电压提供给母板200。将控制信号(CP，/CP)提供给位于某些行中的第十八布线278和第十九布线279，同时将这些信号仅提供给位于某些列中的信号线(即，第二布线262、第三布线263和第六布线266)。然后，仅对位于某些行和某些列交叉点中的OELD 210执行预定测试。也就是说，在本发明的第三实施例中，通过安装连接到第一布线组260中包含的至少一个布线的至少一个传输门275，可以对母板200上某一OELD进行测试。
在第三实施例中，扫描驱动单元220从第一布线组260当中的第五布线265和第六布线266接收第四供电电压(VSS)和扫描控制信号。扫描驱动单元220从第二布线组270当中的第十四布线274接收第三供电电压(VDD)。
测试单元230从第一布线组260当中的第三布线263接收测试控制信号和测试信号。
数据分配单元240从第一布线组260当中的第二布线262接收选择信号。
像素单元250从第一布线组260当中的第七布线267接收第二供电电压(ELVSS)，以及从第二布线组270当中的第十一布线271接收第一供电电压(ELVDD)。
扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250中的至少一个控制是否使用传输门275提供信号(或供电电压)
第一布线组260的电节点布置在OELD 210的划片线外侧，以便在OELD 210被划片之后，这些电节点与扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250电隔离。
如上所述，在本发明的第三实施例中，通过连接到第一布线组260中包含的至少一个布线的至少一个传输门275，可以对母板200上某一OELD 210进行测试。
图6是图2的OELD和布线组的第四实施例的视图。
参见图6，根据本发明的第四实施例的OELD 210具有包括多个布线的第一布线组260和第二布线组270。
第一布线组260具有用于接收第一供电电压(ELVDD)的第一布线261，用于接收至少两个选择信号的第二布线262，用于接收第三供电电压(VDD)的第四布线264，用于接收第四供电电压(VSS)的第五布线265，用于接收扫描控制信号的第六布线266，以及用于接收第二供电电压(ELVSS)的第七布线267。
第一布线261提供在片状单元测试过程中提供的第一供电电压(ELVDD)到每个OELD 210中形成的像素单元250。提供给像素单元250的第一供电电压(ELVDD)被提供给像素单元250中形成的像素。
第二布线262提供至少两个选择信号到数据分配单元240，以便可以将提供给测试单元230的每个输出线(O1至Om)的测试信号提供给至少两个数据线(D)。数据分配单元240接收三个选择信号，因为提供给一个输出线(O)的测试信号被提供到三个数据线(D)。为此，第二布线262每个由三个布线构成。
第四布线264提供在片状单元测试过程中提供的第三供电电压(VDD)到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。
第五布线265提供片状单元测试过程中提供的第四供电电压(VSS)到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。
第六布线266从外面接收扫描控制信号，然后将这些信号提供到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220中。在扫描控制信号中可以包括扫描驱动单元220的时钟信号、输出使能信号和开始脉冲。实际上，根据扫描驱动单元220的电路布局，提供给扫描驱动单元220的扫描控制信号的数目可以被设为宽范围。由此，根据扫描驱动单元220的电路布局确定第六布线266中包含的布线数目。
在本发明中，为了描述方便，假定第六布线266中包含三个布线。
第七布线267提供片状单元测试过程中提供的第二供电电压(ELVSS)到每个OELD 210中形成的像素单元250。将提供给像素单元250的第二供电电压(ELVSS)提供给像素单元250中形成的像素。
第二布线组270具有用于接收第一供电电压(ELVDD)的第十一布线271，用于接收测试控制信号和测试信号的第十三布线273，用于接收第三供电电压(VDD)的第十四布线274，用于接收第四供电电压(VSS)的第十五布线275，以及用于接收第二供电电压(ELVSS)的第十七布线277。
第十一布线271提供在片状单元测试过程中提供的第一供电电压(ELVDD)到每个OELD 210中形成的像素单元250。为此用途，将第十一布线271电连接到第一布线261。将提供给像素单元250的第一供电电压(ELVDD)提供给像素单元250中形成的像素。
第十三布线273从外面接收测试控制信号和测试信号，然后将这些信号提供到每个OELD 210中形成的测试单元230。为此用途，第十三布线273每个由两个布线构成。
第十四布线274提供在片状单元测试过程中提供的第三供电电压(VDD)到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。为此用途，将第十四布线274电连接到第四布线264。
第十五布线275提供在片状单元测试过程中提供的第四供电电压(VDD)到每个OELD 210中形成的扫描驱动单元220。为此用途，将第十五布线275电连接到第五布线265。
第十七布线277提供片状单元测试过程中提供的第二供电电压(ELVSS)到每个OELD 210中形成的像素单元250。为此用途，将第十七布线277电连接到第七布线267。将提供给像素单元250的第二供电电压(ELVSS)提供给像素单元250中形成的像素。
第十一布线271和第十四布线274；以及第十五布线275和第十七布线277交替地位于不同的行中，以便更容易地布置供电电压线和有效地使用其中布置供电电压线的空间。例如，第十一布线271和第十四布线274可以布置在奇数行中，第十五布线275和第十七布线277可以布置在偶数行中。或者，第十一布线271和第十四布线274可以布置在偶数行中，第十五布线275和第十七布线277可以布置在奇数行中。
在第四实施例中，扫描驱动单元220从第一布线组260当中的第五布线265和第六布线266接收第四供电电压(VSS)和扫描控制信号。扫描驱动单元220从第二布线组270当中的第十四布线274接收第三供电电压(VDD)。
测试单元230从第二布线组270当中的第十三布线273接收测试控制信号和测试信号。
数据分配单元240从第一布线组260当中的第二布线262接收选择信号。
像素单元250从第一布线组260当中的第七布线267接收第二供电电压(ELVSS)，以及从第二布线组270当中的第十一布线271接收第一供电电压(ELVDD)。
第一布线组260和/或第二布线组270的电节点布置在OELD 210的划片线外侧，以便在OELD 210被划片之后，这些电节点与扫描驱动单元220、测试单元230、数据分配单元240和像素单元250电隔离。
如上所述，在本发明的第四实施例中，将第一布线组260中包含的每个供电电压线电连接到第二布线组270中包含的一个供电电压线。也就是说，以网状结构沿第一方向和第二方向形成供电电压线。因此，可以显示想要的图像图形。
在本发明的第四实施例中，第十三布线273未被连接到第一布线组260中包含的布线，第十三布线273是第二布线组270当中的信号线。结果，可以在母板200上对某一OELD 210进行测试，而不增加布线。
下面详细描述某一OELD 210的测试过程。首先，将供电电压提供给母板200。将测试控制信号和测试信号提供给位于某些行中的第十三布线273，同时将这些信号仅提供在位于某些列中的信号线(即，第二布线262和第六布线266)。然后，仅对位于某些行和某些列交叉点上的OELD 210执行预定测试。
图7是图2至6的测试单元的例子的电路图。
参见图7，该测试单元230具有多个晶体管(M1至Mm)。这些晶体管在图7中被示为PMOS晶体管。但是，本发明不限于此。
将多个晶体管(M1至Mm)的栅电极连接到第三布线263(或，第十三布线273)中包含的测试控制信号线263a。将多个晶体管(M1至Mm)的第一电极连接到第三布线263(或，第十三布线273)中包含的测试信号线263b，并且将多个晶体管(M1至Mm)的第二电极连接到输出线(O1至Om)。
下面将详细描述测试过程。首先，将第三供电电压(VDD)、第四供电电压(VSS)和扫描控制信号分别从第四布线264(或第十四布线274)、第五布线265(或第十五布线275)以及第六布线266(或第十六布线276)提供给扫描驱动单元220。然后扫描驱动单元220产生扫描信号并将它们提供给像素单元250。
将测试控制信号(TEST_GATE)(低电平)从测试控制信号线263a提供给晶体管(M1至Mm)，以导通晶体管(M1至Mm)。
如果晶体管(M1至Mm)导通，那么提供给测试信号线263b的测试信号(TEST_DATA)被提供给输出线(O1至Om)。
接着，将提供给输出线(O1至Om)的测试信号(TEST_DATA)通过数据分配单元240提供给数据线(D1至D3m)，以对应于三个选择信号。
每个OELD 210中包含的像素接收扫描信号和测试信号(TEST_DATA)，然后以对应于测试信号(TEST_DATA)的预定形式发光。例如，如果提供发光测试信号作为测试信号(TEST_DATA)，那么像素对应于发光测试信号而发光。某些像素可能不以希望的形式发光。结果，就可以证实是否存在热像素(hot pixel)。此外，由于将相同的发光测试信号提供给像素，因而可以测量像素的白平衡，还可以检测进行性(progressive)缺陷。
还可以提供老化测试信号作为测试信号(TEST_DATA)。提供高偏压或偏置电流到数据线(D1至D3m)的老化测试信号，探测有机发光二极管的进行性缺陷。同样，通过设置基板200至低温或高温级别，接着提供发光测试信号，就可以证实在温度变化过程中有机发光二极管是否正常地工作。
也可以提供漏电流测试信号作为测试信号(TEST_DATA)。当第一供电电压(ELVDD)和第二供电电压(ELVSS)持续地提供给像素时，通过测量流入第一布线261(或第十一布线271)和第七布线267(或第十七布线277)的电流进行漏电流测试。也就是说，当持续提供第一供电电压(ELVDD)和第二供电电压(ELVSS)时，在测试单元230作为一个整体截止之后，通过测量流入第一布线261(或第十一布线271)和第七布线267(或第十七布线277)的电流，可以测量漏电流。
图8是图2至6的测试单元和数据分配单元的例子的电路图。
参见图8，数据分配单元240包括分别连接到每个测试单元230的输出线(O1至Om)的晶体管组(G1至Gm)。
晶体管组(G1至Gm)每个包括三个晶体管，将每个晶体管连接到红、绿和蓝像素之一。也就是说，连接到三个晶体管的三个数据线的每一个分别被连接到红、绿和蓝像素的每一个。
每个晶体管组(G1至Gm)具有：连接到第二布线262中包含的红选择信号线262a的第一晶体管(M11，M21，…，Mm1)；连接到第二布线262中包含的绿选择信号线262b的第二晶体管(M12，M22，…，Mm2)；以及连接到第二布线262中包含的蓝选择信号线262c的第三晶体管(M13，M23，…，Mm3)。
当从红选择信号线262a提供红选择信号(SLRs)时，第一晶体管(M11，M21，…，Mm1)的每一个导通，从而将从测试单元的输出线(O1至Om)提供的测试信号提供到连接到数据线(D3，D6，…，D3m)的红像素。
当从绿选择信号线262b提供绿选择信号(SLGs)时，第二晶体管(M12，M22，…，Mm2)的每一个导通，从而将从测试单元的输出线(O1至Om)提供的测试信号提供到连接到数据线(D2，D5，…，D3m-1)的绿像素。
当从蓝选择信号线262c提供蓝选择信号(SLBs)时，第三晶体管(M13，M23，…，Mm3)的每一个导通，从而从测试单元的输出线(O1至Om)提供的测试信号提供到连接到数据线(D1，D4，…，D3m-2)的蓝像素。
在不同的时间提供红选择信号(SLRs)、绿选择信号(SLGs)以及蓝选择信号(SLBs)。如上所述，如果在不同的时间提供红选择信号(SLRs)、绿选择信号(SLGs)以及蓝选择信号(SLBs)，那么提供给每个输出线(O)的测试信号可以被分开并被提供给三个数据线(D)。
图9是用来说明发光测试的像素的例子的电路图。为了方便起见，图9示出了连接到第n个扫描线、第n个发光控制线和第m个数据线的像素。
参见图9，每个像素具有：有机发光二极管；连接到第n-1个扫描线(Sn-1)、第n个扫描线(Sn)、第n个发光控制线(Emn)、第m个数据线(Dm)、第一供电电压(ELVDD)、复位供电电压(Vinit)和有机发光二极管的像素电路910。
将有机发光二极管的第一电极连接到像素电路910，将第二电极连接到第二供电电压(ELVSS)。该有机发光二极管产生对应于提供给像素电路910的电流的预定光。
像素电路910具有第一至第六晶体管(T1至T6)以及第一电容器(C1)。
将第一晶体管(T1)的栅电极连接到第一节点(N1)。将第一晶体管(T1)的第一电极连接到第二节点(N2)，并将第二电极连接到第三节点(N3)。第一晶体管(T1)控制从第二节点(N2)流入第三节点(N3)的电流，以对应于提供给其栅电极的电压。
将第二晶体管(T2)的栅电极连接到第n个扫描线(Sn)。将第二晶体管(T2)的第一电极连接到第m个数据线(Dm)，并将第二电极连接到第二节点(N2)。当扫描信号被提供给第n个扫描线(Sn)时，第二晶体管(T2)导通，从而将提供给第m个数据线(Dm)的数据信号提供到第二节点(N2)。
将第三晶体管(T3)的栅电极连接到第n个扫描线(Sn)。将第三晶体管(T3)的第一电极连接到第三节点(N3)，并将第二电极连接到第一节点(N1)。当扫描信号被提供给第n个扫描线(Sn)时，第三晶体管(T3)导通，从而连接第一晶体管(T1)而形成一个二极管。
将第四晶体管(T4)的栅电极连接到第n-1个扫描线(Sn-1)。将第四晶体管(T4)的第一电极连接到复位供电电压(Vinit)，并将第二电极连接到第一节点(N1)。当扫描信号被提供给第n-1个扫描线(Sn-1)时，第四晶体管(T4)导通，从而将复位供电电压(Vinit)的电压提供到第一节点(N1)。
将第五晶体管(T5)的栅电极连接到第n个发光控制线(Emn)。将第五晶体管(T5)的第一电极连接到第四节点(N4)，并将第二电极连接到第二节点(N2)。当发光控制信号没有被提供给第n个发光控制线(Emn)时(也就是说，当低电平的信号被输入给第n个发光控制线(Emn)时)，第五晶体管(T5)导通，从而将第一供电电压(ELVDD)提供到第二节点(N2)。
将第六晶体管(T6)的栅电极连接到第n个发光控制线(Emn)。将第六晶体管(T6)的第一电极连接到第三节点(N3)，并将第二电极连接到有机发光二极管的阳极。当发光控制信号没有被提供给第n个发光控制线(Emn)时，第六晶体管(T6)导通，从而电连接有机发光二极管至第三节点(N3)。
将第一电容器(C1)的一个侧端连接到第四节点(N4)，并将另一侧端连接到第一节点(N1)。第一电容器(C1)充电至对应于数据信号和第一晶体管(T1)的阈值电压(Vth)的电压，并且当扫描信号被提供给第n个扫描线(Sn)时，在一个帧期间持续该充电电压。
图10A是当图9的像素正常地工作时用于控制像素电路的控制信号的波形。图10B是当进行发光测试时用于控制图9所示的像素电路的控制信号的波形。在下文中，将结合图9和图10A和10B详细描述图9的像素的工作方式。
参见图10A，在T1期间，将扫描信号(SSs)首先提供给第n-1个扫描线(Sn-1)将发光控制信号(EMIs)首先提供给第n个发光控制线(Emn)。如果发光控制信号(EMIs)被提供给第n个发光控制线(Emn)，那么第五和第六晶体管(T5，T6)截止。如果扫描信号(SSs)被提供给第n-1个扫描线(Sn-1)，那么第四晶体管(T4)导通。如果第四晶体管(T4)导通，那么第一节点(N1)的电压转变为复位供电电压(Vinit)。将复位供电电压(Vinit)设为具有比数据信号的电压值更低的电压值。
接着，在T2期间，将扫描信号(SSs)提供给第n个扫描线(Sn)。如果扫描信号(SSs)被提供给第n个扫描线(Sn)，那么第二和第三晶体管(T2，T3)导通。
如果第三晶体管(T3)导通，那么第一晶体管(T1)被连接而形成一个二极管。
如果第二晶体管(T2)导通，那么提供给第m个数据线(Dm)的数据信号被提供给第二节点(N2)。由于第一节点(N1)的电压值被转变为复位供电电压(Vinit)的电压值(也就是说，第一节点(N1)被设为具有比第二节点(N2)更低的电压)，因而第一晶体管(T1)导通。如果第一晶体管(T1)导通，那么被提供给第二节点(N2)的数据信号经由第一晶体管(T1)和晶体管(T3)提供给第一节点(N1)。第一电容器(C1)充电至对应于第一节点(N1)和第四节点(N4)之间的电压差(即，第一供电电压(ELVDD))的电压。
由于数据信号经由第一晶体管(T1)和第三晶体管(T3)提供给第一节点(N1)，因此第一节点(N1)的电压值被设为通过从数据信号减去第一晶体管(T1)的阈值电压而获得的值。由此，第一电容器(C1)被充电至对应于第一晶体管(T1)的阈值电压和数据信号的电压。
接着，如果发光控制信号(EMIs)没有被提供给第n个发光控制线(Emn)，那么第五和第六晶体管(T5，T6)导通。如果第五晶体管(T5)导通，那么第一供电电压(ELVDD)经由第五晶体管(T5)提供给第二节点(N2)。如果第六晶体管(T6)导通，那么从第一晶体管(T1)提供的电流被提供给有机发光二极管，以对应于由第一电容器(C1)充电的电压。由此，通过有机发光二极管产生对应于数据信号的光，而与第一晶体管(T1)的阈值电压无关。
参见图10B，在T1期间，将扫描信号(SSs)首先提供给第n-1个扫描线(Sn-1)，将发光控制信号(EMIs)首先提供给第n个发光控制线(Emn)。如果发光控制信号(EMIs)被提供给第n个发光控制线(Emn)，那么第五和第六晶体管(T5，T6)截止。如果扫描信号(SSs)被提供给第n-1个扫描线(Sn-1)，那么第四晶体管(T4)导通。如果第四晶体管(T4)导通，那么第一节点(N1)的电压转变为复位供电电压(Vinit)。将复位供电电压(Vinit)设为具有比数据信号的电压值更低的电压值。
接着，在T2期间，将扫描信号(SSs)提供给第n个扫描线(Sn)。如果扫描信号(SSs)被提供给第n个扫描线(Sn)，那么第二和第三晶体管(T2，T3)导通。如果第三晶体管(T3)导通，那么第一晶体管(T1)被连接而形成一个二极管。
如果第二晶体管(T2)导通，那么提供给第m个数据线(Dm)的数据信号被提供给第二节点(N2)。由于第一节点(N1)的电压值被转变为复位供电电压(Vinit)的电压值(就是说，第一节点(N1)被设为具有比第二节点(N2)更低的电压)，因而第一晶体管(T1)导通。如果第一晶体管(T1)导通，那么被提供给第二节点(N2)的数据信号经由第一晶体管(T1)和第三晶体管(T3)提供给第一节点(N1)。第一电容器(C1)充电至对应于第一节点(N1)和第四节点(N4)之间的电压差(即，第一供电电压(ELVDD))的电压。
由于数据信号经由第一晶体管(T1)和第三晶体管(T3)提供给第一节点(N1)，因此第一节点(N1)的电压值被设为通过从数据信号减去第一晶体管(T1)的阈值电压而获得的值。由此，第一电容器(C1)被充电至对应于数据信号和第一晶体管(T1)的阈值电压的电压。
将发光控制信号(EMIs)继续提供给第n个发光控制线(Emn)，以进行发光测试。然后在T2期间，对应于数据信号的电压被保存在第一电容器(C1)中，但是第六晶体管(T6)截止，然后有机发光二极管不发光。在此情况下，每个OELD 210的像素单元250中包含的所有像素都应该持续截止状态。由此，通过测试像素单元250中包含的像素是否导通或截止，就可以进行OELD 210的发光测试。
图11是在OELD的母板上进行片状单元测试的实施例的视图。图11的母板的每个OELD是根据图6的第四实施例的OELD。
参见图11，将第一供电电压(ELVDD)和第二供电电压(ELVSS)首先提供给连接到母板200中形成的某一OELD 300的第一布线261(和/或第十一布线271)和第七布线267。将供电电压和信号提供给分别连接到该某一OELD 300的第二布线262、第四布线264(和/或第十四布线274)、第五布线265、第六布线266和第十三布线273。然后，仅对该某一OELD 300进行测试，而不对其他OELD 210进行测试。
下面将详细描述测试过程。首先，将第一供电电压(ELVDD)和第二供电电压(ELVSS)提供给连接到某一OELD 300的第一布线261(和/或第十一布线271)和第七布线267。从分别连接到某一OELD 300的第四布线264(和/或第十四布线274)、第五布线265和第六布线266提供第三供电电压(VDD)、第四供电电压(VSS)和扫描控制信号。然后，设置在该某一OELD 300中的扫描驱动单元220产生扫描信号和/或发光控制信号。设置在该某一OELD 300中的测试单元230，从第十三布线273接收测试控制信号(TEST_GATE)和测试信号(TEST_DATA)。然后，测试单元230提供测试信号(TEST_DATA)给数据分配单元240，以对应于测试控制信号(TEST_GATE)。数据分配单元240通过数据线(D1至Dm)提供从测试单元230提供的测试信号(TEST_DATA)到像素单元250，以对应于分别从第二布线262提供的红选择信号(SLRs)、绿选择信号(SLGs)和蓝选择信号(SLBs)。如果提供老化测试信号、漏电流测试信号、发光测试信号及其他测试信号作为测试信号(TEST_DATA)，那么可以对该某一OELD300顺序地进行老化测试、漏电流测试和发光测试。此外，可以对选定的OELD 300进行各种测试，而且测试的顺序可以变化。
在本发明中，也可以对在母板200中形成的至少两个OELD 210进行测试。在此情况下，供电电压和信号被提供给分别连接到至少两个OELD 210的第一布线(和/或第十一布线271)、第二布线262、第四布线264(和/或第十四布线274)、第五布线265、第六布线266、第七布线267和第十三布线273。
图12是在OELD的母板上进行片状单元测试的另一实施例的视图。图12的母板的每个OELD是根据图6的第四实施例的OELD。
参见图12，将供电电压和信号提供给分别连接到布置在母板上的第一行和列中的OELD、布置在第二行和列中的OELD、布置在第三行和列中的OELD的多个第一布线(和/或第十一布线271)、第二布线262、第四布线(和/或第十四布线274)、第五布线265、第六布线266、第七布线267以及第十三布线273。
将用于发光测试的信号提供给布置在第一行和列中的OELD，作为测试信号(TEST_DATA)。然后对布置在第一行和列中的OELD进行发光测试。
将用于漏电流测试的信号提供给布置在第二行和列中的OELD，作为测试信号(TEST_DATA)。然后对布置在第二行和列中的OELD进行漏电流测试。
将用于老化测试的信号提供给布置在第三行和列中的OELD，作为测试信号(TEST_DATA)。然后对布置在第三行和列中的OELD进行老化测试。
可以同时和顺序地进行发光测试、漏电流测试和老化测试。如果已经完成了对所选OELD的测试，那么可以按一列或按一行改变图12的测试，然后再次进行。这样执行测试，直到对母板200上形成的所有OELD的测试完成为止。
尽管已经参考示例性实施例详细描述了本发明的技术思想，但是在此提及的实施例仅是用于说明的例子，并不打算限制本发明的范围。此外，应当理解，在其处可以进行各种等效和改进，而不脱离本发明的精神和范围，这些对于与本发明有关的所属领域的技术人员来说是显而易见的。
如上所述，由于有第一布线组和第二布线组，根据本发明的OELD和使用该OELD的测试方法，可以提供供电电压和用于其测试的信号到母板上形成的多个OELD。因此，可以在不划片每个OELD 210的情况下进行片状单元测试。由此，它可以用于增加测试效率，例如可以缩短测试时间和可以降低成本。可以仅对某个OELD的测试。此外，即使构成OELD的电路布线或OELD的尺寸变化，如果第一布线组的电路布线、第二布线组的电路布线以及母板的尺寸不变化，那么也可以进行测试，而不用改变测试设备或夹具。

Claims (37)

1.一种有机电致发光显示器OELD，包括：
像素单元，包括用于接收第一供电电压、第二供电电压、扫描信号并发光的多个像素；
扫描驱动单元，用于将扫描信号提供给该像素单元；
测试单元，用于测试该像素单元中是否存在缺陷；
沿第一方向布置且具有浮置端的第一布线组；以及
沿第二方向布置且具有浮置端的第二布线组。
2.根据权利要求1的OELD，其中第一布线组和第二布线组分别与像素单元、扫描驱动单元和测试单元电隔离。
3.根据权利要求1的OELD，还包括数据驱动单元，用于将对应于外部提供的数据的数据信号提供给该像素单元。
4.根据权利要求3的OELD，还包括数据分配单元，用于将从数据驱动单元提供的数据信号提供给像素单元的至少两个像素，其中从数据驱动单元提供的所述数据信号对应于至少两个选择信号。
5.根据权利要求4的OELD，其中数据分配单元与第一布线组和第二布线组电隔离。
6.一种测试片状单元型有机电致发光显示器OELD的方法，该显示器包括布置在母板上的多个OELD，所述方法用于确定所述多个OELD的任意一个是否有任意缺陷，该方法包括：
对于母板上的多个OELD，将第一布线组和第二布线组的每一个共同连接到沿第一方向和第二方向排列的OELD；
将第一布线组或第二布线组中包含的至少一个布线连接到所述多个OELD的每一个，以提供第一供电电压和第二供电电压；
通过第一布线组的布线将第一驱动信号提供给所述多个OELD中的至少一个，并且通过第二布线组的布线将第二驱动信号提供给所述多个OELD中的至少一个；以及
响应于第一和第二供电电压、第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个，测试所述多个OELD中的至少一个。
7.根据权利要求6的方法，
其中第一布线组和第二布线组的至少一个还提供第三供电电压和第四供电电压，以驱动布置在所述多个OELD的每个OELD中的扫描驱动单元；以及
其中第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个包括扫描控制信号或测试控制信号，以及测试信号，以控制扫描驱动单元。
8.根据权利要求7的方法，其中扫描控制信号包括布置在所述多个OELD的每一个中的扫描驱动单元的时钟信号、输出使能信号和起始脉冲中的至少一个。
9.根据权利要求7的方法，其中该测试信号启动发光测试、老化测试和漏电流测试中的至少一种。
10.根据权利要求7的方法，其中对所述多个OELD中的至少一个进行测试的步骤还包括：
生成对应于第三供电电压、第四供电电压和扫描控制信号的扫描信号；
将扫描信号提供给布置在所述多个OELD中的至少一个中的像素单元；
响应于所述测试控制信号将所述测试信号提供给像素单元；以及
在像素单元上显示对应于所述扫描信号和测试信号的预定图像。
11.根据权利要求10的方法，还包括将所述测试信号提供给设置在像素单元中的多个像素，以对应于第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个中包含的多个选择信号。
12.根据权利要求7的方法，其中第二驱动信号还包括控制信号，用于控制是否从第一布线组将第一供电电压、第二供电电压、第三供电电压、第四供电电压和第一驱动信号中的至少一个提供给所述多个OELD。
13.根据权利要求12的方法，其中在接收对应于控制信号的第一供电电压、第二供电电压、第三供电电压、第四供电电压、第一驱动信号和第二驱动信号的所述多个OELD的至少一个中进行所述测试。
14.一种有机电致发光显示器OELD的母板，包括：
多个OELD，每个包括：像素单元，具有用于接收第一供电电压、第二供电电压、扫描信号和测试信号并发光的多个像素；扫描驱动单元，用于将扫描信号提供给像素单元；测试单元，用于通过数据线将测试信号提供给像素单元；以及数据分配单元，用于将在测试单元和数据线之间连接的测试信号提供给多个数据线，测试单元和数据线之间连接的所述测试信号被提供给分开的测试单元的输出线；
连接到沿第一方向排列的所述多个OELD的OELD的第一布线组；以及
连接到沿第二方向排列的所述多个OELD的OELD的第二布线组；
其中第一和第二布线组的至少一个将预定的测试信号和预定的供电电压提供给自连接的分开的OELD。
15.根据权利要求14的OELD的母板，其中第二布线组中包含的至少一个布线电连接到第一布线组中包含的至少一个布线。
16.根据权利要求14的OELD的母板，其中第一布线组包括：
用于接收第一供电电压的第一布线；
用于接收第二供电电压的第七布线；
用于接收第三供电电压以驱动扫描驱动单元的第四布线；以及
用于接收第四供电电压以驱动扫描驱动单元的第五布线，
其中第二布线组包括：
用于接收第一供电电压的第十一布线；
用于接收第二供电电压的第十七布线；
用于接收第三供电电压以驱动扫描驱动单元的第十四布线；以及
用于接收第四电电压以驱动扫描驱动单元的第十五布线。
17.根据权利要求16的OELD的母板，其中第一布线和第十一布线互相连接；第七布线和第十七布线互相连接；第四布线和第十四布线互相连接；以及第五布线和第十五布线互相连接。
18.根据权利要求17的OELD的母板，其中扫描驱动单元用于从第十四布线接收第三供电电压，以及从第十五布线接收第四供电电压。
19.根据权利要求18的OELD的母板，其中第十四布线和第十五布线与扫描驱动单元的电节点布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
20.根据权利要求17的OELD的母板，其中像素单元用于从第十一布线接收第一供电电压，以及从第十七布线接收第二供电电压。
21.根据权利要求20的OELD的母板，其中第十一布线和第十七布线与像素单元的电节点布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
22.根据权利要求16的OELD的母板，其中第十一布线和第十七布线交替地排列，以布置在不同的行中。
23.根据权利要求22的OELD的母板，其中像素单元用于从第十一布线接收第一供电电压，以及从第一布线组中包含的第七布线接收第二供电电压。
24.根据权利要求23的OELD的母板，其中第十一布线和第七布线与像素单元的电节点布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
25.根据权利要求16的OELD的母板，其中第十四布线和第十五布线交替地排列，以布置在不同的行中。
26.根据权利要求25的OELD的母板，其中扫描驱动单元用于从第十四布线接收第三供电电压，以及从第一布线组中包含的第五布线接收第四供电电压。
27.根据权利要求26的OELD的母板，其中第十四布线和第五布线与扫描驱动单元的电节点布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
28.根据权利要求14的OELD的母板，其中第一布线组还包括：
用于接收提供给数据分配单元的至少两个选择信号的第二布线；
用于接收提供给测试单元的测试控制信号和测试信号的第三布线；以及
用于接收提供给扫描驱动单元的扫描控制信号的第六布线；或者
其中第二布线组还包括：
用于接收提供给数据分配单元的所述至少两个选择信号的第十二布线；
用于接收提供给测试单元的测试信号的第十三布线；以及
用于接收提供给扫描驱动单元的扫描控制信号的第十六布线。
29.根据权利要求28的OELD的母板，其中
每个第二布线连接到第十二布线之一；
每个第三布线连接到第十三布线之一；
每个第六布线连接到第十六布线之一。
30.根据权利要求28的OELD的母板，其中
数据分配单元通过第一电节点连接到第二布线和第十二布线之一；
测试单元通过第二电节点连接到第三布线和第十三布线之一；并且
扫描驱动单元通过第三电节点连接到第六布线和第十六布线之一。
31.根据权利要求30的OELD的母板，其中第一电节点、第二电节点以及第三电节点布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
32.根据权利要求28的OELD的母板，还包括用于连接第一布线组中包含的至少一个布线到每个OELD的传输门，用于控制从相连的布线提供到OELD的信号和供电电压的至少一个的提供。
33.根据权利要求32的OELD的母板，还包括第二布线组中包括的第十八布线和第十九布线，连接到传输门的栅极端的第十八布线和第十九布线用于提供控制信号，以控制传输门的导通/截止。
34.根据权利要求14的OELD的母板，其中第一布线组包括用于接收提供给数据分配单元的至少两个选择信号的第二布线，以及用于接收提供给扫描驱动单元的扫描控制信号的第六布线，并且其中第二布线组包括用于接收提供给测试单元的测试信号的第十三布线。
35.根据权利要求34的OELD的母板，其中
数据分配单元通过第一电节点连接到第二布线；
扫描驱动单元通过第二电节点连接到第六布线；并且
测试单元通过第三电节点连接到第十三布线；
36.根据权利要求35的OELD的母板，其中第一电节点、第二电节点以及第三电节点布置在OELD的划片线外侧，以便在母板被划片之后与其电隔离。
37.根据权利要求14的OELD的母板，其中所述测试信号用于启动发光测试、老化测试和漏电流测试中的至少一种。
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