TWI453518B - 顯示裝置 - Google Patents

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TWI453518B
TWI453518B TW099109405A TW99109405A TWI453518B TW I453518 B TWI453518 B TW I453518B TW 099109405 A TW099109405 A TW 099109405A TW 99109405 A TW99109405 A TW 99109405A TW I453518 B TWI453518 B TW I453518B
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Jun Gotoh
Takanori Nakayama
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Hitachi Displays Ltd
Panasonic Liquid Crystal Displ
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Description

顯示裝置
本發明係關於顯示裝置，特別是關於在製造步驟的途中，使基板之配線或薄膜電晶體的檢查成為可能，而可以提高製造產出率之液晶顯示裝置。
在從前的液晶顯示裝置，畫素電極及薄膜電晶體(TFT)等被形成為矩陣狀的TFT基板，與對向於TFT基板而在與TFT基板之畫素電極對應的場所被形成彩色濾光片等之對向基板被設置，在TFT基板與對向基板之間被挾持著液晶。接著藉由於各畫素控制根據液晶分子之光的透過率而形成影像。
在液晶顯示裝置為了提高製造的效率，於母板TFT基板形成複數之TFT基板。此外，於母板對向基板形成複數之對向基板，使母板TFT基板與母板對向基板以密封材黏接而行程包含複數液晶胞之母板基板。接著，複數之液晶胞由母板基板藉由畫線法分離為各個液晶胞。
於TFT基板，於多數的各畫素被形成TFT與畫素電極，此外，被形成多數之掃描線、影像訊號線等。亦即，TFT、畫素電極、各種配線之斷線或短路等不良情形容易產生。這樣的不良情形，只要可以在母板TFT基板的狀態下把握住的話，對於成為不良的胞，沒有施加後續處理的必要。此外，於母板TFT基板存在很多不良的TFT基板的話，沒有必要使該母板TFT基板流到後續步驟的必要。
在「專利文獻1」，記載著在TFT基板的狀態檢查TFT基板的缺陷之技術。亦即，在「專利文獻1」，記載著對閘極配線使用2條檢查用短路棒，對影像訊號線使用3條檢查短路棒，而可以藉由對各短路棒藉由輸入不同的檢查用訊號而檢察所有畫素之缺陷的有無。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2002-341377號公報
在記載於「專利文獻1」的技術，作為檢查用的配線在掃描線用使用2條，在影像訊號線用使用3條。亦即，在TFT基板的狀態下進行檢查的話，必須要把這些的檢查用配線之區域預先形成於母板TFT基板。隨著檢查內容的不同，檢查用配線會變多，檢查配線用之區域變大等，使得每1塊母板TFT基板之可以形成TFT基板的枚數變小，此也造成液晶顯示面板之製造成本的提高。
於液晶顯示裝置，有以多晶矽(poly-Si)形成TFT的形式與以非晶矽(a-Si)形成TFT的形式。以多晶矽形成TFT的形式稱為LTPS(低溫多晶矽，Low Temperature poly-Si)形式之TFT。在LTPS，於TFT基板，可以在顯示區域以外形成驅動電路，所以可利用此驅動電路檢測出畫素缺陷或配線之斷線，短路等之缺陷。具體而言，在LTPS形式之TFT，藉由測定被形成於畫素的蓄積電容的大小，檢測出畫素缺陷、配線缺陷。亦即，在LTPS形式的TFT，可以在不產生檢查用配線區域的問題而在TFT基板的狀態下進行缺陷的檢查。
另一方面，即使於TFT使用非晶矽的場合，電視(TV)等大型的液晶顯示面板之場合，各畫素很大，所以即使不設種種檢查用的配線或檢查用的端子也可以檢查畫素或配線的缺陷。亦即，於大型的TFT基板，使所有畫素為打開(ON)狀態下，例如於顯示區域使電子束掃描，藉由檢查各畫素的表面的電位而進行著檢測畫素或配線的缺陷。其他方法，係替代掃描電子束，而藉由在TFT基板的顯示區域的表面配置液晶包(pack)而進行檢測畫素缺陷。
但是，在使用非晶矽形式的TFT的液晶顯示面板，中小型的液晶顯示面板的場合，各畫素的尺寸很小，所以不能適用如前所述的在大型的液晶顯示面板所使用的檢查方法。如此一來，必須要有在TFT基板的狀態進行檢查之用的配線或端子。如此般供檢查之用的配線或端子，若非在TFT基板的狀態進行檢查的話，是沒有必要的東西。使供檢查之用的配線或端子的面積增大的話，會有每1枚母板TFT基板所可取得的TFT基板的枚數會變少的問題產生。
本發明之課題，係為了解決以上的問題，使在TFT基板的狀態下可進行檢查，同時實現不會減少每1枚母板TFT基板所可取得的TFT基板的枚數之構成。
本發明係克服前述問題者，具體的手段如下。
(1)一種液晶顯示裝置，係具有畫素電極與薄膜電晶體(TFT)的畫素被形成為矩陣狀，掃描線延伸於第1方向而排列於第2方向，影像訊號線延伸於第2方向而排列於第1方向，具有共同配線的顯示區域、與具有端子部的TFT基板、與對向於前述TFT基板而被配置的對向基板藉由被形成於周邊部之密封材而黏接的液晶顯示裝置，其特徵為：於前述端子部，被形成驅動用端子與檢查用端子，在與前述端子部被形成的邊對向的邊之側，與前述掃描線、前述影像訊號線、及前述共同配線不連接的複數配線，係與前述端子部被形成的邊對向的邊平行地被配置。
(2)如(1)之液晶顯示裝置，特徵為前述複數配線係浮動的(float)。
(3)如(1)之液晶顯示裝置，特徵為前述複數配線係使用於其他液晶顯示裝置之TFT基板的檢查。
(4)一種液晶顯示裝置，係具有畫素電極與薄膜電晶體(TFT)的畫素被形成為矩陣狀，掃描線延伸於第1方向而排列於第2方向，影像訊號線延伸於第2方向而排列於第1方向之顯示區域、與具有端子部的TFT基板、與對向於前述TFT基板而被配置的對向基板藉由被形成於周邊部之密封材而黏接的液晶顯示裝置，其特徵為：於前述端子部，被形成驅動用端子與檢查用端子，在與前述端子部被形成的邊對向的邊之側，與前述掃描線或前述影像訊號線不連接的複數配線，係與前述端子部被形成的邊對向的邊平行地被配置，前述複數配線係被形成於與前述端子部被形成的邊對向的邊與前述顯示區域之間，具有由前述複數配線延伸至前述對向的邊為止之拉出配線。
(5)如(4)之液晶顯示裝置，特徵為前述複數配線，中介著絕緣膜被形成前述密封材的下層。
(6)一種液晶顯示裝置，係具有畫素電極與TFT的畫素被形成為矩陣狀，掃描線延伸於第1方向而排列於第2方向，影像訊號線延伸於第2方向而排列於第1方向，具有共同配線的顯示區域、與具有端子部的TFT基板、與對向於前述TFT基板而被配置的對向基板藉由被形成於周邊部之密封材而黏接的液晶顯示裝置，其特徵為：於前述端子部，被形成驅動用端子與檢查用端子，在前述端子部被形成的邊與前述檢查用端子之間，與前述檢查用端子連接的第1之複數配線係與前述邊平行地被配置，在與前述端子部被形成的邊對向的邊之側，與前述掃描線、前述影像訊號線及前述共同配線不連接的第2之複數配線，係與前述端子部被形成的邊對向的邊平行地被配置。
(7)如(6)之液晶顯示裝置，特徵為前述第1之複數配線與前述第2之複數配線係使用於前述TFT基板的檢查。
(8)一種有機電致發光(EL)顯示裝置，係具有有機EL(電致發光)發光層與薄膜電晶體(TFT)的畫素被形成為矩陣狀，掃描線延伸於第1方向而排列於第2方向，影像訊號線延伸於第2方向而排列於第1方向的顯示區域、與具有端子部的元件基板、與對向於前述元件基板而被配置的密封基板藉由被形成於周邊部之密封材而黏接的有機EL顯示裝置，其特徵為：於前述端子部，被形成驅動用端子與檢查用端子，在與前述端子部被形成的邊對向的邊之側，與前述掃描線或前述影像訊號線不連接的複數配線，係與前述端子部被形成的邊對向的邊平行地被配置。
根據本發明，可以不減少由每1枚母板TFT基板取得的TFT基板的枚數，此外，不增大各個TFT基板的外形，而可以在母板TFT基板的狀態下，檢查短路、斷線等之缺陷。亦即，針對有缺陷的基板，沒有必要在後續步驟加以加工，所以可提高液晶顯示裝置的製造效率。對於有機EL顯示裝置之元件基板也是相同的。
在說明本發明的具體實施例之前，針對本發明適用的液晶顯示裝置，及不適用本發明的場合之問題點來進行說明。
圖6係本發明適用之液晶顯示裝置之例。圖6例如係被使用於DSC(數位相機，Digital Still Camera)等之液晶顯示裝置，係小型，且顯示區域為橫長狀，端子部被配置於橫方向的形式之液晶顯示裝置。圖6係本發明適用的液晶顯示裝置之例，此外，例如行動電話等所使用的顯示區域為縱長狀，端子部形成於下方向的液晶顯示裝置當然也可以適用本發明。
於圖6，於TFT基板100上設置有對向基板200。TFT基板100與對向基板200之間挾持著液晶層。TFT基板100與對向基板200係藉由被形成於周邊的密封材15而黏接著。
於圖6，係於液晶顯示裝置的內部低下液晶而封入的方式，所以沒有被形成液晶的封入孔。TFT基板100被形成為較對向基板200更大，在TFT基板100比對向基板200更大的部分，於液晶顯示面板被形成供給電源、影像訊號、掃描訊號等之用的端子部150。
此外，於端子部150，被設置供驅動掃描線、影像訊號線等之用的IC驅動器50。IC驅動器50被分為3個區域，於中央被設置影像訊號驅動電路52，於兩脇被設置掃描訊號驅動電路51。
於圖6之顯示區域10，於橫方向上延伸有未圖示的掃描線，而排列於縱方向。此外，於縱方向上延伸有未圖示的影像訊號線，而排列於橫方向。掃描線藉由掃描線拉出線31，而與IC驅動器50之掃描訊號驅動電路51連接。於圖6，係將顯示區域10配置於液晶顯示裝置的中央，所以影像訊號線拉出線41被配置於顯示區域10的上下，因此，於IC驅動器50，有影像訊號驅動電路51被設置於兩脇。另一方面連接掃描線與IC驅動器50的掃描訊號線拉出線31集中於畫面中央。掃描線拉出線31與被配置於IC驅動器50的中央部之掃描訊號電路51連接。
於圖6，由顯示區域10之端部至密封材15的內側端部為止的間隔為1mm程度，密封材15的寬幅很小的場合，為1mm程度。亦即，由顯示區域10的端部到密封材15的外側端部為止的距離為2mm程度。又，由顯示區域10的端部到密封材15的外側端部為止的區域被稱為框緣區域。
於圖6，在端子部150，除了驅動IC驅動器50或液晶顯示裝置的驅動用端子等以外，檢查用端子101透過之後將說明的檢查用開關，與驅動用端子連接。此外，檢查用端子101，與被形成於圖6所示的液晶顯示裝置的外側之檢查用配線及檢查用外部端子連接。此檢查用端子101使在TFT基板的狀態下進行液晶顯示面板的檢查成為可能。
圖7係顯示圖6之TFT基板100的配線之平面圖。圖8係圖7所示的TFT基板100排列於母板TFT基板1000的狀態之平面圖。圖7係對圖6旋轉90度的狀態被記載的。如圖6所示，即使在製品的狀態為橫向，於製造步驟，亦有如圖8那樣以縱向較容易施作的場合。此外，本發明之說明也因把液晶顯示面板縱向配置於母板TFT基板1000的方式較容易理解而如此配置。
圖7係顯示TFT基板100由母板TFT基板1000分離為各個之前的狀態之平面圖。圖7為了使人容易了解配線或端子部150的狀態，而擴大顯示這些部分。於圖7，切斷線120的內側成為各個之TFT基板100。
於TFT基板100的內側，被形成顯示區域10，於顯示區域10影像訊號線40延伸於橫方向，而排列於縱方向。此外，掃描線30延伸於縱方向，而排列於橫方向。與圖6係縱橫顛倒。影像訊號線40透過影像訊號線拉出線41與影像訊號線用端子401連接。掃描線30透過掃描線拉出線31與掃描線用端子301連接。
於圖7，延伸於橫方向的影像訊號線40與延伸於縱方向的掃描線30所包圍的區域成為畫素。如圖7所示，畫素係由TFT與表示液晶的電容所構成。畫素中的TFT之汲極電極與影像訊號線40連接，源極電極與畫素電極連接。液晶層，被挾持於畫素電極與共同電極之間，於圖7，被顯示為電容。
於圖7，掃描線用端子301被配置於中央部，影像訊號線用端子401被分配配置於掃描線用端子301的左右。掃描線用端子群301與影像訊號線用端子群401之間被形成共同配線60。共同配線60，包圍顯示區域10及端子圍繞著TFT基板100的周邊。係供密封TFT基板100內，而使電位安定之用。共同配線用端子601被形成於共同配線60之緊鄰的外側。
掃描線用端子301與影像訊號線用端子401之下側被配置檢查用端子101。檢查用端子101之檢查項目有限，所以不像影像訊號線用端子401或掃描線用端子301那樣必須要很多的端子。在圖6，檢查用端子101被形成12個。檢查用端子101，藉由檢查用開關103而被分離為掃描線用端子301或影像訊號線用端子401。
檢查用開關103，如圖7所示，係藉由TFT形成的。檢查用端子101之最右側的端子TG與檢查用開關103的TFT的閘極配線連接。亦即，藉由對端子TG施加的電壓可以打開、關閉(ON/OFF)檢查用開關103。又，由端子TG供給的閘極電壓，對於所有的掃描線用端子301及影像訊號線用端子401、與檢查用端子101之間的檢查用開關103同時成為有效。
於圖7，檢查用端子101有12個，1個係與檢查用開關103的閘極電極連接的端子TG，4個與掃描線用端子301連接，6個與影像訊號線用端子401連接，1個與共同配線60連接。在TFT基板100的製造步驟之階段使用圖6的檢查用端子101，因為是1個1個檢查TFT基板100，所以效率很差。亦極，各檢查用端子101，連接於被形成於TFT基板100的外側的檢查用配線102，可以同時由檢查用配線102檢查排列於橫方向的TFT基板100之全部。又，於圖7，TFT基板100沿著切斷線120藉由劃線等方式，由母板TFT基板1000分離為各個之TFT基板100。
圖8係圖7所示的TFT基板100被形成於1枚母板TFT基板1000的狀態之平面圖。於圖8之右下，被形成供確認母板TFT基板1000的朝向之用的定向平面(orientation flat)1100。於圖8，TFT基板100內的配線被省略。作為TFT基板100內的檢查用端子101顯示12個，D1～D6係與影像訊號線40連接的檢查用端子101，G1～G3為與掃描線30連接的檢查用端子101，COM為與共同配線60連接的檢查用端子101，TG為與檢查用開關103的閘極連接的檢查用端子101。
如圖8所示，於母板TFT基板1000，被形成TFT基板100、與供檢查TFT基板100之用的檢查配線區域110。被形成於檢查配線區域110內的檢查用配線102的數目為9條。母板TFT基板1000的兩端被形成供對檢查用配線102供給電壓之用的檢查用外部端子104。TFT基板100的檢查係使用檢查用外部端子104來進行的。
完成母板TFT基板1000，與另行形成的母板TFT基板1000貼合而完成母板基板之後，沿著切斷線120分離為各個之液晶胞。此時，檢查配線區域110變成被捨棄。亦即，由於形成檢查配線區域110，每1枚母板TFT基板1000之TFT基板100的取得枚數會減少。
於圖9顯示此模樣。於圖9，在母板TFT基板1000被形成橫方向上9個，縱方向上A～F為止之7個TFT基板100。亦即，由1枚母板TFT基板1000可以取得63個之TFT基板100。上側TFT基板100與下側TFT基板100之間被形成檢查配線區域110。例如，於1AT被形成TFT基板1A之檢查用配線102，於1BT被形成TFT基板1B之檢查用配線102。
另一方面，不進行母板TFT基板1000之TFT基板100的檢查的場合，檢查用配線102是沒有必要的。亦即，如圖10所示可以由1枚母板TFT基板1000取得更多的TFT基板100。例如，於圖10，TFT基板100的大小與圖9相同的場合，由1枚母板TFT基板1000可取得的TFT基板100的數目成為72枚。
根據以下之實施例所示之本發明的話，不減少每1枚母板TFT基板之TFT基板100的取得枚數，而可以於母板TFT基板的狀態進行TFT基板100的檢查。
[實施例1]
圖1係本發明之液晶顯示裝置之TFT基板100的平面圖。圖1係模式圖，端子部150及檢查配線區域110被擴大記載。於圖1，與圖7相同的構成省略其說明。圖1也與圖7同樣，作為液晶顯示裝置成為製品的場合，如圖6所示係在橫向方向被使用。圖2係於母板TFT基板1000配置圖1所示的TFT基板100的狀態之平面圖。
於圖1，在以切斷線120包圍的TFT基板100的下方被形成該TFT基板100用的檢查用配線102。亦即，檢查配線區域110被形成於一個之下的TFT基板100。此外，於圖1，在該TFT基板100的上側，被形成形成於一個之上的TFT基板100的檢查用配線102。亦即，於本實施例，檢查配線區域110不是被形成於該TFT基板100，而是被形成於一個之下的TFT基板100。
TFT基板100之檢查係在母板TFT基板1000的狀態被檢查，所以檢查用配線102只要導通就不會妨礙到檢查。另一方面，母板基板完成之後，各個之TFT基板100由母板TFT基板1000延著切斷線120被分離。如此一來，檢查用配線102藉由切斷線120而被分斷不能發揮功能，但因檢查用配線102已經完成其功能，所以不會有問題。進行各個之液晶胞的檢查的場合，只要使用被形成於TFT基板100的端子部150的檢查用端子101即可。
又，被切斷為各個之TFT基板100後，殘留於該基板的供檢查其他TFT基板100之用的檢查用配線102，一般而言，不與該TFT基板100之掃描線30或影像訊號線40連接，而成為浮動。此外，檢查用配線102，也不與被形成於TFT基板上的共同配線60連接。又，亦有於TFT基板不形成共同配線的構成，該場合，檢查用配線在共同配線未被連接。此外，由檢查用配線102，為了獲得與前述其他TFT基板連接而朝向TFT基板端部被設有拉出配線。此拉出配線，因為與檢查用端子交叉，所以係藉由被設於與檢查用配線不同的層之導電層來形成的。
於圖6所示之本發明被使用的液晶顯示裝置，右側的短邊相當於圖1所示的TFT基板100的上側之短邊。於圖6，在顯示區域10的上下之密封部，掃描線拉出線31延伸著，因空間有限，所以掃描線拉出線31被形成直到密封材15之下為止。但是，於圖6之右側的短邊不存在掃描線拉出線31。
在本發明，藉由於圖6之右側的短邊之密封材15的下部配置檢查用配線102，而確保檢查用配線102的空間。亦即，藉由使用從前未被使用的，圖6之右側短邊的密封材15的下側，可以不大幅改變TFT基板100的外形，而形成檢查用配線102。又，圖6之右側短邊係圖1之TFT基板100的上側短邊。
於圖1，檢查配線區域110係誇大顯示著，實際上可以在3mm以下。於圖6，由顯示區域10的外側端部到TFT基板100的端部為止的框緣區域為2mm以上，所以檢查配線區域110，於母板TFT基板1000，可幾乎收容於被配置於一個之下側的TFT基板100的框緣部。
圖2係如此般配置TFT基板100之母板TFT基板1000的平面圖。圖2係模式圖，擴大顯示檢查用端子101、檢查用配線102、檢查用外部端子104等，而省略TFT基板100之顯示區域10及驅動配線等。於圖2，與圖8同樣，作為TFT基板100內的檢查用端子101顯示12個，D1～D6係與影像訊號線40連接的檢查用端子101，G1～G3為與掃描線30連接的檢查用端子101，COM為與共同配線60連接的檢查用端子101，TG為與檢查用開關103的閘極連接的檢查用端子101。
於圖2，供檢查特定的TFT基板100之用的檢查配線區域110，被形成於配置在一個之下側的TFT基板100之上側。此部分係相當於一個之下側的TFT基板100之框緣部的部分。於圖2，排列於最下方之行的TFT基板100的檢查用配線102被形成於TFT基板100外。被形成於檢查配線區域110內的檢查用配線102的數目為9條。母板TFT基板1000的兩端被形成供對檢查用配線102供給電壓之用的檢查用外部端子104。TFT基板100的檢查係使用檢查用外部端子104來進行的。
亦即，於本發明，檢查用配線102係被形成於一個之下側的TFT基板100，所以沒有必要捨棄檢查用配線102區域，沒必要減少每1枚母板TFT基板之TFT基板100的取得枚數。此外，一個之上的TFT基板100的檢查用配線102係被形成於該TFT基板100的框緣部，所以也可避免TFT基板100的尺寸變大。
圖3係顯示如圖2所示配置TFT基板100的場合之母板TFT基板1000之TFT基板100與檢查配線區域110者。如圖3所示，檢查配線區域110除了被配置於最下方之行的TFT基板100以外，被形成於下側的TFT基板100，所以每1枚母板TFT基板之TFT基板100的取得枚數，成為與圖10所示之TFT基板100之沒有檢查用配線102的場合相同的枚數。
[實施例2]
實施例1，係於母板TFT基板1000，將檢查用配線102全部形成於下方的TFT基板100的構成。但是，亦有在下一個TFT基板100之對應的框緣部無法收容所有檢查用配線102的場合。這樣的場合，只要使檢查用配線102之一部分形成於該TFT基板100之切斷線120上或者其附近即可。
把TFT基板100由母板TFT基板1000切離時，例如，進行劃線(scribing)，其後，施加衝擊而使玻璃基板破斷。這樣的場合，若欲劃線於極接近密封材15處，而衝擊破 斷(以後簡稱為劃線)的話，會因密封材15導致的應力而使破斷面變成不規則狀。亦即，於切斷線120的附近什麼都沒有形成，而成為無效空間(dead space)。此無效空間也會產生於該TFT基板100的端子部150的端部。
在本實施例，在此成為無效空間的劃線部分配置檢查用配線102。將本實施例顯示於圖4。圖4係被形成於母板TFT基板1000的TFT基板100之平面圖。於圖4，檢查用配線102係被配置於檢查用端子101附近。接著，9條檢查用配線102之中，有4條被收容於該TFT基板100，剩下的5條檢查用配線102被收容於緊鄰其下的TFT基板100。
檢查用配線102之一部分被配置於切斷線120，亦即被配置於劃線區域。被配置於此區域的檢查用配線102藉由劃線而消失，但在劃線時，已經結束TFT基板100的檢查，所以不會有問題。
於圖4，在該TFT基板100的上方，被配置著該TFT基板100的上一個TFT基板100之檢查用配線102之中的5條份，在該TFT基板100的下方，被配置著該TFT基板100的檢查用配線102之中的4條份，於圖4，除了檢查用配線102的位置以及決定TFT基板100的外形之切斷線120以外，與圖1相同，所以省略說明。
被切斷為各個TFT基板100後，殘留於該TFT基板100的TFT基板100檢查用配線102，透過檢查用開關103與檢查端子連接。但是，檢查用開關103在此狀態成為關閉OFF，所以檢查用配線102沒有影響。另一方面，殘留於該TFT基 板100之供檢查其他TFT基板100之用的檢查用配線102，與掃描線30或影像訊號線40等為未連接，一般成為浮動狀態。
圖5係顯示在本實施例之母板TFT基板1000之TFT基板100與檢查配線區域110的配置。該TFT基板100的檢查配線區域110，被配置於該檢查配線區域110，與下一個TFT基板100之雙方。例如，於圖5，TFT基板1A之檢查配線區域1AT，被配置於TFT基板1A之下側與TFT基板1B之上側。於圖5，可以由1枚母板TFT基板1000取得的TFT基板100之數目與沒有TFT基板100檢查用之檢查用配線102的場合是相同的。
如此般，根據本實施例的話，可以將檢查用配線102之配置也形成於劃線區域，所以可更有效地利用TFT基板100之空間。亦即，可以不增大TFT基板100的外形，且可以使每1枚母板TFT基板所取得的TFT基板100的數目，與不進行TFT基板檢查的場合為相同的數目。
[實施例3]
在實施例1與實施例2，針對液晶顯示裝置加以說明。本發明部不限於液晶顯示裝置，對有機EL顯示裝置也可以適用。有機EL顯示裝置，係由元件基板與密封基板所構成。於元件基板的顯示區域，驅動用TFT與開關用TFT，以及有機EL發光層所構成的畫素被形成為矩陣狀。此外，掃描線延伸於第1方向，排列於與第1方向成直角的第2方向 ，影像訊號線延伸於第2方向而排列於第1方向。進而對有機EL發光層供給電流的電源線延伸於第2方向而排列於第1方向。
被形成於元件基板的有機EL發光層，會因水分而使特性劣化，所以藉由密封基板來密封、保護被形成有機EL層的元件基板之面。於密封基板的周邊被形成密封材，藉由密封材黏接元件基板與密封基板。
元件基板被形成為比密封基板更大，元件基板比密封基板更大的部分成為端子部。於端子部，被形成驅動用端子與檢查用端子。如此般，有機EL顯示裝置之元件基板成為與液晶顯示裝置之TFT基板類似的構成。
為了提高製造的效率，於有機EL顯示裝置也於母板元件基板形成複數之元件基板，於母板密封基板也形成複數之密封基板是與液晶顯示裝置的場合相同的。亦即，在母板元件基板的狀態，只要可以檢測出元件基板之斷線、短路等缺陷的話，可以大幅提高製造的效率。亦即，對於有該缺陷的元件基板沒有施加後續加工的必要。此外，缺陷很多的元件基板可以停止送往後續步驟。
藉由於有機EL顯示裝置之元件基板適用前述的實施例1或實施例2等所說明之構成，可以不增大元件基板的外形，此外，不減少每1枚母板元件基板之元件基板取得數，而形成TFT基板之檢查端子或檢查用配線。
10．．．顯示區域
15．．．密封材
30．．．掃描線
31．．．掃描線拉出線
40．．．影像訊號線
41．．．影像訊號線拉出線
50．．．IC驅動器
51．．．掃描訊號線驅動電路
52．．．影像訊號驅動電路
60．．．共同配線
100．．．TFT基板
101．．．檢查用端子
102．．．檢查用配線
103．．．檢查用開關
104．．．檢查用外部端子
110．．．檢查配線區域
120．．．切斷線
150．．．端子部
200．．．對向基板
201．．．對向電極
301．．．檢查線用端子
401．．．影像訊號線用端子
601．．．共同配線用端子
1000．．．母板TFT基板
1100．．．定向平面(orientation flat)
圖1係實施例1之液晶顯示裝置的TFT基板之配線圖。
圖2係實施例1之母板TFT基板之TFT基板與檢查用配線之配置圖。
圖3係實施例1之母板TFT基板之TFT基板與檢查配線區域之配置圖。
圖4係實施例2之液晶顯示裝置的TFT基板之配線圖。
圖5係實施例1之母板TFT基板之TFT基板與檢查配線區域之配置圖。
圖6係本發明適用之液晶顯示裝置的平面圖。
圖7係不適用本發明的液晶顯示裝置的TFT基板之配線圖。
圖8係不適用本發明的母板TFT基板之TFT基板與檢查用配線之配置圖。
圖9係不適用本發明的母板TFT基板之TFT基板與檢查配線區域之配置圖。
圖10係不具有TFT基板檢查用配線的場合之母板TFT基板之TFT基板的配置圖。
10．．．顯示區域
30．．．掃描線
31．．．掃描線拉出線
40．．．影像訊號線
41．．．影像訊號線拉出線
60．．．共同配線
100．．．TFT基板
101．．．檢查用端子
102．．．檢查用配線
103．．．檢查用開關
110．．．檢查配線區域
120．．．切斷線
301．．．檢查線用端子
401．．．影像訊號線用端子
601．．．共同配線用端子
TG．．．端子
TFT．．．薄膜電晶體

Claims (2)

  1. 一種液晶顯示裝置，係具有畫素電極與TFT的畫素被形成為矩陣狀，掃描線延伸於第1方向而排列於第2方向，影像訊號線延伸於第2方向而排列於第1方向之顯示區域、與具有端子部的TFT基板、與對向於前述TFT基板而被配置的對向基板，藉由形成於周邊部之密封材而予以黏接的液晶顯示裝置，其特徵為：前述端子部，被形成於前述TFT基板比前述對向基板變得更大，而與前述對向基板不重疊的部分，於前述端子部，形成有驅動用端子與檢查用端子，在被形成前述端子部的邊與前述檢查用端子之間，與前述檢查用端子連接的第1複數配線係被配置為與被形成前述端子部的邊平行，在與被形成前述端子部的邊對向之邊側，與前述掃描線或前述影像訊號線不連接的第2複數配線，係被配置為與被形成前述端子部的邊對向之邊成平行，具有由前述複數配線延伸至前述對向的邊為止之拉出配線；前述第1複數配線，被使用於前述TFT基板的檢查，前述第2複數配線，被使用於其他液晶顯示裝置的TFT基板的檢查。
  2. 一種有機電致發光(EL)顯示裝置，係具有有機EL(電致發光)發光層與薄膜電晶體(TFT)的畫素被形成為矩陣狀，掃描線延伸於第1方向而排列於第2方向，影像訊號線延伸於第2方向而排列於第1方向的顯示區域、與具 有端子部的元件基板、與對向於前述元件基板而被配置的密封基板，藉由被形成於周邊部之密封材而黏接的有機EL顯示裝置，其特徵為：前述端子部，被形成於前述元件基板比前述密封基板變得更大，而與前述對向基板不重疊的部分，於前述端子部，被形成驅動用端子與檢查用端子，在與被形成前述端子部的邊與前述檢查用端子之間，與前述檢查用端子連接的第1複數配線被配置為與被形成前述端子部之邊平行；於與被形成前述端子部的邊對向之邊側，與前述掃描線或前述影像訊號線不連接的第2複數配線，係被配置為與被形成前述端子部的邊對向之邊成平行，具有由前述複數配線延伸至前述對向的邊為止之拉出配線；前述第1複數配線，被使用於前述元件基板的檢查，前述第2複數配線，被使用於其他有機EL顯示裝置的元件基板的檢查。
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