CN114255680B - 显示装置及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种显示装置及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备。显示装置包括多条信号线、检测线、复位线、至少两个检测开关、至少一个复位开关以及至少三个移位单元。信号线通过检测开关与检测线电连接，复位线通过复位开关与检测线电连接，检测开关的控制端与移位单元电连接。在缺陷检测阶段：与相邻的两条信号线连接的两个检测开关分别连接的两个移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出，则相邻两条信号线依次与检测线导通；且在相邻两条信号线与检测线分别导通的期间，控制复位开关开启，通过复位线对检测线进行复位。能够实现对依次相邻的至少两条信号线自动进行线缺陷的检测，且避免检测信号之间的相互干扰。

Description

显示装置及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备

技术领域

本发明属于显示技术领域，更具体的涉及一种显示装置及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备。

背景技术

随着显示技术的发展，具有显示功能的手机、电脑、电视、智能穿戴设备等在人们工作和生活中的重要性越来越高，用户对这些显示产品的品质要求也越来越高。无论是液晶显示技术还是有机自发光显示技术，为了实现显示都需要在显示面板中设置各种信号线。而由于信号线的工艺制程或者其他原因，信号线存在断线风险，导致显示时出现黑线条或者白线条，而影响显示效果、甚至影响显示信息的准确性。

当显示屏存在信号线断线时，目前主要通过软件定位或者显微镜定位的方法确定断线的位置。当用户使用的产品出现显示问题时，需要返厂进行维修检测，而且需要用到装有软件的检测设备、显微镜等设备。对线缺陷检测的成本高、效率低。

因此，提供一种显示装置及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备，能够实现对线缺陷的自动检测、降低检测成本，是本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种显示装置及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备，解决了对线缺陷自动检测、降低检测成本的技术问题。

第一方面，本申请实施例提供一种显示装置，显示装置包括芯片、多条信号线和多个子像素，多条信号线与芯片相连，多条信号线用于传输芯片向其输出的电信号；多条信号线与多个子像素电连接，在显示装置工作在显示阶段时，多条信号线用于向多个子像素提供信号以控制多个子像素发光；

显示装置还包括检测线、复位线、至少两个检测开关、至少一个复位开关和至少三个移位单元；其中，

检测开关的控制端与一个移位单元电连接，用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

至少两个检测开关包括第一检测开关和第二检测开关；第一检测开关的第一端和第二端分别与第一信号线和检测线电连接；第二检测开关的第一端和第二端分别与第二信号线和检测线电连接；其中，第一信号线和第二信号线是相邻的两条信号线；

至少一个复位开关的第一端和第二端分别与检测线和复位线电连接；复位开关用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

至少三个移位单元依次连接，至少三个移位单元用于在接收控制信号之后依次输出有效电平信号；

芯片用于确定显示装置工作在缺陷检测阶段时：

向信号线提供检测参考信号；

向至少三个移位单元提供控制信号，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号，其中，与第一检测开关电连接的移位单元和与第二检测开关电连接的移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出；

向复位线提供复位信号，使得第一检测开关的控制端和第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位；

接收检测线获取的检测结果信号；并根据检测结果信号、以及向信号线提供的检测参考信号，确定与该检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷。

进一步的，至少两个检测开关还包括第三检测开关，第三检测开关的第一端和第二端分别与第三信号线和检测线电连接，其中，第一信号线、第二信号线和第三信号线依次相邻；

向至少三个移位单元提供控制信号，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号，还包括：与第二检测开关电连接的移位单元和与第三检测开关电连接的移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出；

芯片还用于确定显示装置工作在缺陷检测阶段时：向复位线提供复位信号，使得在第二检测开关的控制端和第三检测开关的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位。

在一种实施例中，复位开关的控制端与一个移位单元的输出端电连接；向复位线提供复位信号，使得第一检测开关的控制端和第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位，具体包括：

向复位线提供复位信号；

向与复位开关的控制端相连的移位单元提供控制信号，使得第一检测开关的控制端和第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位。

在另一种实施例中，显示装置还包括复位控制线，复位开关的控制端与复位控制线电连接；向复位线提供复位信号，使得第一检测开关的控制端和第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位，具体包括：

向复位线提供复位信号；向复位控制线提供复位控制信号，使得第一检测开关的控制端和第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位。

在一种实施例中，至少三个移位单元包括第1移位单元、第2移位单元至第N移位单元，N为整数，且N≥3；移位单元包括输入端、输出端和复位端；其中，

至少三个移位单元依次连接，包括：第n移位单元的输入端与第n-1移位单元的输出端电连接，且，第n移位单元的输出端与第n-1移位单元的复位端电连接，2≤n≤N，n为整数；

控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号；

向至少三个移位单元提供控制信号，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号，包括：向第1移位单元的输入端提供起始信号，向至少三个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号，在起始信号、时钟信号和参考电压信号的共同控制下、使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号。

在另一种实施例中，至少三个移位单元包括第1移位单元、第2移位单元至第N移位单元，N为整数，且N≥3；移位单元包括输入端、输出端和复位端；其中，

至少三个移位单元依次连接，包括：第1移位单元的复位端与第2移位单元的输出端电连接，第2移位单元的复位端与第3移位单元的输出端电连接；第m移位单元的输入端与第m-2移位单元的输出端电连接，且第m移位单元的复位端与第m+1移位单元的输出端电连接，3≤m≤N，m为整数；

控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号；

向至少三个移位单元提供控制信号，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号，包括：向第1移位单元的输入端提供第一起始信号，向第2移位单元的输入端提供第二起始信号；向至少三个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号；在第一起始信号、第二起始信号、时钟信号和参考电压信号的共同控制下、使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号。

在本申请实施例提供的显示装置中，移位单元包括输出子单元、复位子单元、以及第一节点；其中，输出子单元用于在移位单元的输入端的信号、时钟信号、以及第一节点电位的控制下，控制移位单元的输出端输出有效电平信号；复位子单元用于在移位单元的复位端的信号、参考电压信号、以及第一节点电位的控制下，控制移位单元的输出端输出非有效电平信号。

具体的，输出子单元包括第一晶体管的和第二晶体管，第一晶体管的控制端和第一晶体管的第一端均与移位单元的输入端电连接，第一晶体管的第二端与第一节点电连接；第二晶体管的控制端与第一节点电连接，第二晶体管的第一端与时钟信号端电连接，第二晶体管的第二端与移位单元的输出端电连接，时钟信号端用于提供时钟信号；

具体的，复位子单元包括第三晶体管和第四晶体管；第三晶体管的控制端和第四晶体管的控制端均与移位单元的复位端电连接，第三晶体管的第一端和第四晶体管的第一端均与参考电压端电连接；第三晶体管的第二端与第一节点电连接，第四晶体管的第二端与移位单元的输出端电连接，参考电压端用于提供参考电压信号；

移位单元包括第一电容，第一电容的第一极板与第一节点电连接，第一电容的第二极板与移位单元的输出端电连接。

在一种实施例中，芯片为显示驱动芯片。

在另一种实施例中，芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片；在显示装置工作在缺陷检测阶段时，显示驱动芯片用于向信号线提供检测参考信号；应用处理器芯片用于向至少三个移位单元提供控制信号，控制信号包括起始信号、时钟信号、以及参考电压信号；应用处理器芯片还用于向复位线提供复位信号、以及接收检测线获取的检测结果信号，并根据检测参考信号和检测结果信号，确定与检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷。

在另一种实施例中，芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片；控制信号包括起始信号、时钟信号、以及参考电压信号；在显示装置工作在缺陷检测阶段时，显示驱动芯片用于向信号线提供检测参考信号；显示驱动芯片还用于向至少三个移位单元提供起始信号、时钟信号；以及接收检测线获取的检测结果信号，并根据检测参考信号和检测结果信号，确定与检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷；应用处理器芯片用于向至少三个移位单元提供参考电压信号、以及向复位线提供复位信号。

第二方面，本申请实施例还提供一种显示装置的检测方法，显示装置包括多条信号线、多个子像素、检测线、复位线、至少两个检测开关、至少一个复位开关和至少三个移位单元，其中，信号线与子像素电连接，在显示装置工作在显示阶段时，信号线用于向子像素提供信号以控制子像素发光；

检测开关的控制端与一个移位单元电连接，检测开关用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

至少两个检测开关包括第一检测开关和第二检测开关；第一检测开关的第一端和第二端分别与第一信号线和检测线电连接；第二检测开关的第一端和第二端分别与第二信号线和检测线电连接；其中，第一信号线和第二信号线是相邻的两条信号线；

至少一个复位开关的第一端和第二端分别与检测线和复位线电连接；复位开关用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

至少三个移位单元依次连接，至少三个移位单元用于在接收控制信号之后依次输出有效电平信号；检测方法包括：

向信号线提供检测参考信号；

控制至少三个移位单元依次输出有效电平信号，控制第一检测开关和第二检测开关依次打开，使得检测线依次采集第一信号线和第二信号线上的信号得到相应的检测结果信号；

向复位线提供复位信号，在采集第一信号线上的信号和第二信号线上的信号的期间，控制复位开关打开，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位；

将检测结果信号与检测参考信号进行对比，当检测结果信号与检测参考信号不同时，确定该检测结果信号对应的信号线存在缺陷。

具体的，控制至少三个移位单元依次输出有效电平信号，包括：向至少三个移位单元提供控制信号，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号，控制信号包括起始信号、时钟信号和参考信号；检测方法还包括：当检测结果信号与检测参考信号不同时，根据时钟信号确定存在缺陷的信号线的位置。

第三方面，本申请实施例还提供一种存储介质，包括计算机程序，计算机程序可被处理器执行以完成本申请实施例提供的检测方法。

第四方面，本申请实施例还提供一种显示驱动芯片，显示驱动芯片用于：

提供信号，使得与显示驱动芯片相连的多个子像素根据接收到的信号进行发光；

提供检测参考信号，以使得检测参考信号在与显示驱动芯片电连接的信号线上进行传输；

提供控制信号，控制信号用于控制与显示驱动芯片电连接的至少三个移位单元依次输出有效电平信号、以控制与显示驱动芯片电连接的检测线依次采集相邻的至少两条信号线的检测结果信号，以使得显示驱动芯片获取检测结果信号；

提供复位信号，复位信号用于在采集相邻的两条信号线的检测结果信号的期间，对检测线进行复位；

以及接收检测结果信号，并将检测结果信号与检测参考信号进行对比，当检测结果信号与检测参考信号不同时，确定该检测结果信号对应的信号线存在缺陷。

第五方面，本申请实施例还提供一种设备，包括本申请任意实施例提供的显示装置。

本申请提供的显示面板及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备，具有如下有益效果：在显示装置中设置缺陷检测模块，缺陷检测模块包括检测线、复位线、检测开关、复位开关以及至少三个移位单元。其中，信号线通过检测开关与检测线电连接，复位线通过复位开关与检测线电连接，检测开关的控制端与移位单元电连接。至少三个移位单元能够依次输出有效电平信号，并且，与相邻的两条信号线连接的两个检测开关分别连接的两个移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出。则通过移位单元的控制，相邻的两条信号线依次与检测线导通，从而检测线能够依次采集相邻两条信号线上的电压信号。并且通过复位开关的开启时序与移位单元向检测开关提供有效电平信号的时序相互配合，能够实现在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对检测线进行复位，避免检测信号之间的干扰。通过对缺陷检测模块的控制，能够实现对依次相邻的至少两条信号线依次自动检测，并且准确有效的检测出存在缺陷的信号线。而且在进行线缺陷检测时，不需要借助检测软件或者显微镜等检测设备，能够降低检测成本，提高检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的显示装置的一种示意图；

图2为本申请实施例提供的显示装置的一种可选实施方式示意图；

图3为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；

图4为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；

图5为缺陷检测模块的一种工作时序图；

图6为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；

图7为缺陷检测模块的另一种工作时序图；

图8为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；

图9为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；

图10为缺陷检测模块的另一种工作时序图；

图11为本申请实施例中移位单元的一种结构示意图；

图12为图11实施例提供的移位单元的一种时序图；

图13为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；

图14为图13中缺陷检测模块的一种时序图；

图15为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；

图16为图15中缺陷检测模块的一种时序图；

图17为本申请实施例提供的检测方法流程图；

图18为本申请实施例提供的显示驱动芯片的结构示意图；

图19为本申请实施例提供的设备的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

本申请实施例提一种显示装置及其检测方法、存储介质、显示驱动芯片和设备。在显示装置中设置线缺陷检测模块，线缺陷检测模块包括能够依次输出有效电平信号的多个移位单元、检测线、复位线、检测开关和复位开关。在缺陷检测阶段，通过多个移位单元依次输出的有效电平信号能够控制依次采集多条信号线上的电压信号得到检测结果信号，将检测结果信号与检测参考信号进行对比，即能实现对信号线的线缺陷的检测。本申请通过移位单元的控制能够实现对多条信号线依次自动检测，并且准确有效的检测出存在缺陷的信号线。而且在进行线缺陷检测时，不需要借助检测软件或者显微镜等检测设备，能够降低检测成本，提高检测效率。下面将在具体的实施例中对本申请的实现方式进行举例说明。

本申请实施例提供一种显示装置，显示装置的显示区包括多条信号线，信号线与显示装置中的子像素电连接，在显示装置工作在显示阶段时，信号线用于向子像素提供信号以控制子像素发光。通过设置缺陷检测模块能够实现对多条信号线进行检测，以判断信号线是否存在断线。其中，信号线为数据线、扫描线中任意一种。本申请能够适用于液晶显示装置、有机发光显示装置、微型LED(Light Emitting Diode，发光二极管)显示装置等现有技术中任意一种显示装置。

图1为本申请实施例提供的显示装置的一种示意图。如图1所示，显示装置001包括显示区AA和非显示区BB，显示区AA包括多条信号线，其中，信号线包括数据线21和扫描线22，数据线21和扫描线22的延伸方向相互交叉，多条数据线21在第二方向y上依次排列，多条扫描线22在第一方向x上依次排列。显示装置还包括缺陷检测模块10，图中示意缺陷检测模块10位于非显示区BB。缺陷检测模块10包括检测线11、复位线12、检测开关131、复位开关132和至少三个移位单元14。显示装置的工作阶段包括缺陷检测阶段，在缺陷检测阶段，至少三个移位单元14的输出端依次输出有效电平信号。也就是说，将至少三个移位单元14按一定的顺序排序，通过控制信号的控制能够实现至少三个移位单元依次输出有效电平信号。图1中示意出了多个移位单元14，其连接方式仅作示意，在下述具体的实施例中将对移位单元14的连接方式进行详细的说明。

每条数据线21分别通过一个检测开关131与检测线11电连接。检测开关131的控制端与移位单元14的输出端电连接。其中，检测开关131用于在其控制端接收有效电平信号时，将其第一端和第二端导通。检测开关131的开启与否由与其连接的移位单元14提供的信号来控制。当移位单元14提供有效电平信号时，检测开关131开启，则数据线21与检测线11导通连接，数据线21上的信号能够传递给检测线11，从而能够通过检测线11采集数据线21上的电压信号；当移位单元14提供非有效电平信号时，检测开关131关闭，则数据线21与检测线11断开连接。

复位线12通过复位开关132与检测线11电连接，也即复位开关的第一端和第二端分别与检测线和复位线电连接。复位线用于在其控制端接收有效电平信号时，将其第一端和第二端导通。也即复位线12与检测线11的导通与否通过复位开关132来控制。其中，在缺陷检测阶段，复位线12用于提供复位信号对检测线11进行复位。图1中示意复位开关132的控制端与移位单元14电连接，则当移位单元14向复位开关132提供有效电平信号时，则复位开关132开启，复位线12提供复位信号对检测线11复位；当移位单元14向复位开关132提供非有效电平信号时，则复位开关132关闭，复位线与检测线11断开连接。在另一种实施例中，复位开关132的控制端也可以与复位控制线连接，通过复位控制线提供的控制信号来控制复位开关132的开启或关闭，该种实施方式将在下述实施例中进行说明。

本申请实施例中，与相邻的两条数据线21连接的两个检测开关131分别连接的两个移位单元14在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出。图1中标示出了相邻的第一信号线21-a和第二信号线21-b。其中，第一检测开关131-1与第一信号线21-a电连接，第二检测开关131-2与第二信号线21-b电连接。第一检测开关131-1的控制端与移位单元14-a电连接，第二检测开关131-2的控制端与移位单元14-b电连接，其中，移位单元14-a和移位单元14-b在输出有效电平信号的次序上间隔一个有效电平信号的输出。则第一检测开关131-1和第二检测开关131-2的开启时间上间隔一定的时间，也就是说，在第一检测开关131-1关闭之后，第二检测开关131-2不会立马开启。

在缺陷检测阶段，第一检测开关131-1开启，第一信号线21-a将其电压信号传递给检测线11，然后第一检测开关131-1关闭。然后间隔一定时间后，第二检测开关131-2开启，第二信号线21-b将其电压信号传递给检测线11，然后第一检测开关131-2关闭。其中，在第一检测开关131-1开启和第二检测开关131-2开启的间隔时间内可以控制复位开关132开启，则复位线12提供复位信号对检测线11进行复位。也就是说，在检测线采集一条数据线上的电压信号之后，对检测线进行复位，然后再控制检测线采集下一条数据线上的电压信号。通过对检测线进行复位，能够防止检测信号之间的干扰，确保检测信号的准确性。

本申请实施例提供的显示装置还包括芯片(图1中并未示出)，其中，多条信号线与芯片相连，多条信号线用于传输芯片向其输出的电信号。芯片还用于在确定显示装置工作在线缺陷检测阶段时：

向信号线提供检测参考信号，检测参考信号能够作为检测信号线是否存在缺陷的参考值。其中，当信号线不存在断线缺陷时，信号线上能够正常传输检测参考信号，在检测过程中检测线上采集到的检测结果信号与检测参考信号相同；而当信号线上存在断线缺陷时，则信号线上不能传输信号，在检测过程中检测线上采集到的检测结果信号与检测参考信号不同。

向至少三个移位单元提供控制信号，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号。其中，能够控制与第一检测开关电连接的移位单元和与第二检测开关电连接的移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出。从而能够控制检测线在采集相邻的第一信号线和第二信号线上的电压信号的时刻上间隔一定时间。

向复位线提供复位信号，使得第一检测开关的控制端和第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位。也就是说，在采集相邻的第一信号线和第二信号线上的电压信号期间对检测线进行复位。

接收检测线获取的检测结果信号；并根据检测结果信号、以及向信号线提供的检测参考信号，确定与该检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷。其中，当检测结果信号与检测参考信号相同时，则确定与该检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线不存在线缺陷；当检测结果信号与检测参考信号不同时，则确定与该检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线存在线缺陷。显示装置的工作阶段还包括显示阶段，芯片还用于确定显示装置工作在显示阶段时，向信号线提供电压信号以控制显示装置显示指定的内容。

显示阶段和缺陷检测阶段为显示装置的两个不同的工作阶段。在一种实施方式中，对显示装置的工作方式进行设定，设置显示阶段的累计时间达到一定阈值之后，即触发缺陷检测功能对信号线进行线缺陷检测；或者，设置在显示装置息屏状态时，触发缺陷检测功能对信号线进行线缺陷检测。在另一种实施方式中，根据用户的操作来触发缺陷检测功能，则在芯片中设置触发检测模块，当触发检测模块接收到触发缺陷检测功能的指令之后，则触发缺陷检测功能对信号线进行线缺陷检测。

本申请实施例提供的显示装置设置检测线、复位线、检测开关、复位开关以及至少三个移位单元。其中，信号线通过检测开关与检测线电连接，复位线通过复位开关与检测线电连接，检测开关的控制端与移位单元电连接。移位单元能够依次输出有效电平信号，并且，与相邻的两条信号线连接的两个检测开关分别连接的两个移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出。则通过移位单元的控制，相邻的两条信号线依次与检测线导通，从而检测线能够依次采集相邻两条信号线上的电压信号。并且通过复位开关的开启时序与移位单元向检测开关提供有效电平信号的时序相互配合，能够实现在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对检测线进行复位，避免检测信号之间的干扰。本申请能够实现对依次相邻的至少两条信号线依次自动检测，并且准确有效的检测出存在缺陷的信号线。而且在进行线缺陷检测时，不需要借助检测软件或者显微镜等检测设备，能够降低检测成本，提高检测效率。

继续参考图1中示意的，至少两个检测开关还包括第三检测开关131-3，第三检测开关131-3的第一端和第二端分别与第三信号线21-c和检测线11电连接，其中，第一信号线21-a、第二信号线21-b和第三信号线21-c依次相邻。其中，第三检测开关131-3的控制端与移位单元14-c电连接。

向至少三个移位单元14提供控制信号，使得至少三个移位单元14依次输出有效电平信号，还包括：与第二检测开关131-2电连接的移位单元14-b和与第三检测开关131-3电连接的移位单元14-c在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出。当第二检测开关131-2的控制端接收有效电平信号时，第二信号线21-b与检测线11导通，检测线11采集第二信号线21-b上的电压信号；当第三检测开关131-3的控制端接收有效电平信号时，第三信号线21-c与检测线11导通，检测线11采集第三信号线21-c上的电压信号。从而实现检测线11依次采集第二信号线21-b和第三信号线21-c上的电压信号，并且在采集相邻的第二信号线和第三信号线上的电压信号的时刻上间隔一定时间。

芯片还用于确定显示装置工作在缺陷检测阶段时：向复位线12提供复位信号，使得在第二检测开关131-2的控制端和第三检测开关131-3的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位。也就是说，在采集相邻的第二信号线和第三信号线上的电压信号期间对检测线进行复位。

本申请实施例通过控制多个移位单元依次输出有效电平信号，能够实现采集依次相邻的三条信号线的电压信号，并进行线缺陷的检测。而且在采集相邻的两条信号线上的电压信号期间通过复位信号对检测线进行复位，能够防止检测信号之间的干扰，确保检测信号的准确性。

具体的，显示装置中包括M条数据线，M为大于等于4的整数，设置M条数据线分别连接一个检测开关，每个检测开关的控制端分别连接一个移位单元。能够通过控制多个移位单元依次输出有效电平信号，进而控制检测线依次采集M条数据线上的电压信号；同时在检测相邻的两条数据线上的电压信号的期间，控制复位线对检测线进行复位。实现对M条数据线依次自动检测。

图2为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图3为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图。图2和图3中均示出了显示装置001的显示区AA和非显示区BB，显示装置包括多条扫描线22和多条数据线21，扫描线22在第一方向x上排列，数据线21在第二方向y上排列，第一方向x和第二方向y相互交叉。扫描线22和数据线21交叉限定出子像素P0，子像素P0至少包括红色子像素P1、绿色子像素P2和蓝色子像素P3。其中，多条数据线21分别与缺陷检测模块10电连接，缺陷检测模块10位于非显示区BB。

在图2实施方式中，显示驱动芯片30绑定在显示装置001的非显示区BB。显示驱动芯片30用于驱动显示装置进行发光显示。多条数据线21通过多路分配电路40与显示驱动芯片30电连接，显示驱动芯片30通过多路分配电路40向数据线21提供数据信号。在第一方向x上，缺陷检测模块10和显示驱动芯片30分别位于显示区AA的两侧，缺陷检测模块10通过设置在非显示区BB的绕线X与显示驱动芯片30电连接。在应用中，显示驱动芯片30通过柔性电路板002与系统板003电连接，其中系统板003中包括应用处理器芯片。图中仅示意出一条绕线X，实际缺陷检测模块10中的检测线、复位线、以及多个移位单元的控制线均需要在非显示区BB设置绕线连接到显示驱动芯片30。

在图3实施方式中，与图2实施方式不同的是，显示驱动芯片30固定在柔性线路板004上形成覆晶薄膜(Chip On Film，COF)，柔性线路板004与显示装置001绑定连接。在应用中，显示驱动芯片30通过柔性线路板004中的走线与柔性电路板005电连接，显示驱动芯片30通过柔性电路板005与系统板003电连接，其中系统板003中包括应用处理器芯片。

在一种实施例中，显示装置为液晶显示装置，显示装置包括阵列基板、彩膜基板、以及位于阵列基板和彩膜基板之间的液晶分子层。其中，阵列基板包括位于显示区的多个像素电路，彩膜基板包括色组层和黑矩阵，色组层至少包括红色色组、蓝色色组和绿色色组。可选的，显示装置还包括位于彩膜基板的远离阵列基板一侧的触控模组。本申请实施例中，在显示装置中增加缺陷检测模块用于对显示装置中的线缺陷进行检测，其中，缺陷检测模块位于非显示区，且缺陷检测模块位于阵列基板的膜层结构中，也就是说缺陷检测模块中的检测线、复位线、检测开关和复位开关均在阵列基板的工艺制程中制作完成。

在另一种实施例中，显示装置为有机发光显示装置，显示装置包括依次排列的阵列基板、发光器件层、封装结构。可选的，显示装置还包括位于封装结构远离阵列基板一侧的触控模组。发光器件层包括多个发光器件，发光器件包括依次堆叠的阳极、发光层和阴极。封装结构用于对发光器件进行封装保护，以保证发光器件的使用寿命。其中，缺陷检测模块位于非显示区，且缺陷检测模块位于阵列基板的膜层结构中，也就是说缺陷检测模块中的检测线、复位线、检测开关和复位开关均在阵列基板的工艺制程中制作完成。

在一些实施方式中，通过依次输出有效电平信号的多个移位单元来控制检测开关和复位开关的开启和关闭。显示装置工作在缺陷检测阶段时，与两个检测开关分别电连接的两个移位单元分别输出一次有效电平信号的期间，与复位开关电连接的移位单元的输出端输出一次有效电平信号，从而控制复位开关打开，复位线将复位信号提供给检测线。从而实现依次采集至少两条信号线上的电压信号，同时，在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对检测线进行复位。

具体的，在一种实施例中，多个移位单元依次级联设置，图4为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图5为缺陷检测模块的一种工作时序图。

如图4所示，示出了多个移位单元包括第1移位单元14_1、第2移位单元14_2、第3移位单元14_3至第N移位单元14_N，N为正整数；移位单元14包括输入端IN、输出端OUT和复位端RESET；其中，至少三个移位单元依次连接包括：第1移位单元的输入端IN与起始信号端STV电连接；第n移位单元14_n的输入端IN与第n-1移位单元14_n-1的输出端OUT电连接，且，第n移位单元14-n的输出端OUT与第n-1移位单元14_n-1的复位端RESET电连接，2≤n≤N，n为整数。具体的，在显示装置工作在缺陷检测阶段时，由芯片向起始信号端STV提供起始信号。

在显示装置工作在缺陷检测阶段时，芯片向至少三个移位单元提供控制信号，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号，其中，控制信号包括：起始信号、时钟信号和参考电压信号。具体的，向第1移位单元的输入端提供起始信号，向至少三个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号，在起始信号、时钟信号和参考电压信号的共同控制下，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号。

相邻的两级移位单元14中：一个移位单元14的输出端OUT与检测开关131的控制端电连接，另一个移位单元14的输出端OUT与复位开关132的控制端电连接。图4中示意第奇数移位单元的输出端与检测开关131的控制端电连接，第偶数移位单元的输出端与复位单元132的控制端电连接。该实施方式中，复位开关132的控制端与移位单元电连接，当与复位开关132连接的移位单元向其控制端提供有效电平信号时，复位开关132的第一端和第二端导通，复位线12将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位。

图4中示意出了第一检测开关131-1和第二检测开关131-2，与第一检测开关131-1对应的信号线21-1为第一信号线，与第二检测开关131-2对应的信号线21-2为第二信号线，第一信号线和第二信号线相邻。其中，向复位线12提供复位信号，使得第一检测开关131-1的控制端和第二检测开关131-2的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位，具体包括：向复位线12提供复位信号；向与复位开关132的控制端相连的移位单元14提供控制信号，使得第一检测开关131-1的控制端和第二检测开关131-2的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位。

具体的，检测开关131包括一个晶体管T5，晶体管T5的控制端与移位单元的输出端电连接，图中示意与第奇数移位单元的输出端电连接。晶体管T5的第一端与信号线21电连接，晶体管T5的第二端与检测线11电连接。复位开关132包括一个晶体管T6，晶体管T6的控制端与移位单元的输出端电连接，图中示意与第偶数移位单元的输出端电连接。晶体管T6的第一端与复位线12电连接，晶体管T6的第二端与检测线11电连接。复位开关和检测开关均只包括一个晶体管，开关的控制方式简单，且在装置中占用面积较小，能节省非显示区的空间。图4中晶体管T5和晶体管T6均以n型晶体管进行示意。在另一种实施例中，晶体管T5和晶体管T6也可以均为p型晶体管。本申请下述实施例中，在移位单元中涉及到的晶体管也均以n型晶体管进行示意。其中，本申请中晶体管为薄膜晶体管，晶体管的控制端为晶体管的栅极，当晶体管的第一端为源极时，则第二端为漏极；当晶体管的第一端为漏极时，则第二端为源极。

图4中示意出了信号线21_1、21_2、21_5、21_(N+1)/2，还示意第N移位单元14_N与检测开关131电连接。第1移位单元14_1输出的有效电平信号控制实现对信号线21_1上电压信号的采集，第3移位单元14_3输出的有效电平信号控制实现对信号线21_2上电压信号的采集，第10移位单元14_n-1输出的有效电平信号控制实现对信号线21_5上电压信号的采集，第N移位单元14_N输出的有效电平信号控制实现对信号线21_(N+1)/2上电压信号的采集，在此示例中N大于11。

参考图5示意的时序图，以高电平信号为有效电平信号为例。在显示装置工作在缺陷检测阶段时，起始信号端STV提供起始信号给到第1移位单元14_1，同时向各个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号，多个移位单元14的输出端OUT依次输出有效电平信号。以显示装置工作在缺陷检测阶段时，向信号线21提供相同的高电平信号作为检测参考信号Z0为例，复位线12提供低电平的复位信号RE。在第一时刻t1，第1移位单元14_1的输出端OUT输出有效电平信号，则与信号线21_1电连接的检测开关131打开，信号线21_1与检测线11导通，检测线11采集信号线21_1上的信号得到检测结果信号Zn。在第二时刻t2，第2移位单元14_2的输出端OUT输出有效电平信号，则与第2移位单元14_2电连接的复位单元132打开，复位信号RE对检测线11进行复位。在第三时刻t3，第3移位单元14_3的输出端OUT输出有效电平信号，与信号线21_2电连接的检测开关131打开，信号线21_2与检测线11导通，检测线11采集信号线21_2上的信号得到检测结果信号Zn，可以看出在第三时刻t3检测结果信号Zn为低电平信号，则说明信号线21_2存在断线。在第四时刻t4，第4移位单元14_4的输出端输出有效电平信号，复位单元132打开，复位信号RE对检测线11进行复位。以此类推，通过依次输出有效电平信号的多个移位单元的控制，检测开关和复位开关交替打开，能够实现通过检测线依次采集多条信号线的电压信号，并且在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对通过复位信号对检测线进行复位，以避免电压信号的干扰，确保检测信号的准确性。另外，该实施方式中通过一组级联的移位单元来同时控制检测开关和复位开关实现依次对多条信号线进行缺陷检测，不需要增加额外的控制线，控制方式简单。能够依次输出有效电平信号的多个移位单元为依次级联的多个移位单元，多个移位单元的连接方式简单，并且控制方式简单。

具体的，在另一种实施例中，能够依次输出有效电平信号的多个移位单元中，第奇数次输出有效电平信号的移位单元级联，第偶数次输出有效电平信号的移位单元级联。图6为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图。图7为缺陷检测模块的另一种工作时序图。

如图6所示，仅示出了N个移位单元中的第1移位单元14_1、第2移位单元14_2、第3移位单元14_3至第8移位单元14_8；移位单元14包括输入端IN、输出端OUT和复位端RESET。至少三个移位单元依次连接包括：第1移位单元的输入端与第一起始信号端STV1电连接，第2移位单元的输入端与第二起始信号端STV2电连接，第1移位单元的复位端RESET与第2移位单元的输出端OUT电连接，第2移位单元的复位端RESET与第3移位单元的输出端OUT电连接。第3移位单元14_3的输入端IN与第1移位单元14_1的输出端OUT电连接，且第3移位单元14_3的复位端与第4移位单元14_4的输出端OUT电连接。第4移位单元14_4的输入端IN与第2移位单元14_2的输出端OUT电连接，且第4移位单元14_4的复位端与第5移位单元14_5的输出端OUT电连接。以此类推，也即第m移位单元的输入端与第m-2移位单元的输出端电连接，且第m移位单元的复位端与第m+1移位单元的输出端电连接，3≤m≤N，m为整数。

具体的，在显示装置工作在缺陷检测阶段时，由芯片向第一起始信号端STV1提供第一起始信号，向第二始信号端STV2提供第二起始信号；向至少三个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号，在第一起始信号、第二起始信号、时钟信号和参考电压信号的共同控制下，使得至少三个移位单元依次输出有效电平信号。采用上述级联方式，通过第一起始信号端STV1的信号和第二起始信号端STV2的信号的配合，能够实现多个移位单元依次输出有效电平信号。图6中示意第奇数移位单元的输出端与检测开关131的控制端电连接，第偶数移位单元的输出端与复位单元132的控制端电连接。图6中示意出了第一检测开关131-1和第二检测开关131-2，与第一检测开关131-1对应的信号线21-1为第一信号线，与第二检测开关131-2对应的信号线21-2为第二信号线，第一信号线和第二信号线相邻。其中，向复位线12提供复位信号，使得第一检测开关131-1的控制端和第二检测开关131-2的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位，具体包括：向复位线12提供复位信号；向与复位开关132的控制端相连的移位单元14提供控制信号，使得第一检测开关131-1的控制端和第二检测开关131-2的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位。

图6中同样示意出检测开关131包括一个晶体管T5，复位开关132包括一个晶体管T6。图6中还示意出了与检测开关131连接的四条第一信号线21_1、21_2、21_3和21_4。

参考图7示意的时序图，以高电平信号为有效电平信号为例。在显示装置工作在缺陷检测阶段时，第一起始信号端STV1提供第一起始信号给到第1移位单元14_1，第二起始信号端STV2提供第二起始信号给到第2移位单元14_2，同时向各个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号，通过第一起始信号端STV1的信号和第二起始信号端STV2的信号的配合，多个移位单元14的输出端OUT依次输出有效电平信号。以在缺陷检测阶段，向信号线21提供相同的高电平信号作为检测参考信号Z0为例，复位线12提供低电平的复位信号RE。

图7中示意的时刻t1、t3、t5和t7为控制检测开关131打开的时刻，检测线11依次采集信号线21-1、21_2、21_3和21_4上的电压信号。时刻t2、t4、t6和t8为控制复位开关132打开的时刻，这些时刻复位线12提供复位信号RE对检测线11进行复位。也即检测线11完成一次电压信号采集之后，复位线12就对检测线11进行一次复位。多个移位单元、以及检测开关和复位开关的工作过程可以参考上述图5实施例中的说明，在此不再赘述，可以看出在时刻t3检测结果信号Zn为低电平信号，则说明信号线21_2存在断线。该实施方式中，通过依次输出有效电平信号的多个移位单元的控制检测开关和复位开关交替打开，能够实现通过检测线依次采集多条信号线的电压信号，并且在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对通过复位信号对检测线进行复位，以避免电压信号的干扰，确保检测信号的准确性。

在另一种实施例方式中，图8为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，如图8所示，能够依次输出有效电平信号的N个移位单元包括第1移位单元14-1、第2移位单元14-2、第3移位单元14-3至第N移位单元14-N，图8中以N＝8进行示意。其中，第m移位单元的输入端与第m-2移位单元的输出端电连接，且第m移位单元的复位端与第m+1移位单元的输出端电连接，3≤m≤N，m为整数。第1移位单元的输入端连接起始信号端，第1移位单元14-1的输出端OUT连接第2移位单元14-2的输入端IN和第3移位单元14-3的输入端IN，第1移位单元14-1的复位端RESET连接第2移位单元14-2的输出端OUT，第2移位单元14-2的复位端RESET连接第3移位单元14-3的输出端OUT。该实施方式相当于第奇数移位单元级联，第偶数移位单元级联，且与图6中多个移位单元的连接方式的区别在于：第2移位单元的输入端连接第1移位单元的输出端，则第1移位单元的输出端的信号作为第2移位单元的起始信号。

在一些实施方式中，复位开关不与移位单元电连接，通过设置复位控制线来控制复位开关的开启和关闭。显示装置工作在缺陷检测阶段时，通过设置复位控制线的时序与多个移位单元输出有效电平信号的时序相互配合，能够实现依次采集至少两条信号线上的电压信号，同时，在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对检测线进行复位。具体的，在一种实施例中，多个移位单元依次级联设置，图9为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图10为缺陷检测模块的另一种工作时序图。如图9中示意出了多个移位单元中的第1移位单元14_1、第2移位单元14_2、第3移位单元14_3至第8移位单元14_8；移位单元14包括输入端IN、输出端OUT和复位端RESET；第1移位单元的输入端IN与起始信号端STV电连接，该实施方式中多个移位单元的级联方式与图4实施例中相同。区别在于，图9实施例中，显示装置还包括复位控制线15，复位开关132的控制端与复位控制线15电连接。当复位控制线15提供有效电平信号时，复位开关132打开，则复位线15对检测线11进行复位。第1移位单元14_1输出的有效电平信号控制实现对信号线21_1上电压信号的采集，第3移位单元14_3输出的有效电平信号控制实现对信号线21_2上电压信号的采集，第5移位单元14_5输出的有效电平信号控制实现对信号线21_3上电压信号的采集，第7移位单元14_7输出的有效电平信号控制实现对信号线21_4上电压信号的采集。

图9中示意出了第一检测开关131-1和第二检测开关131-2，与第一检测开关131-1对应的信号线21-1为第一信号线，与第二检测开关131-2对应的信号线21-2为第二信号线，第一信号线和第二信号线相邻。在显示装置工作在缺陷检测阶段时，芯片向复位线12提供复位信号，使得第一检测开关131-1的控制端和第二检测开关131-2的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位，具体包括：向复位线12提供复位信号；向复位控制线15提供复位控制信号，使得第一检测开关131-1的控制端和第二检测开关131-2的控制端分别接收有效电平信号的期间，将复位信号提供给检测线11，对检测线11进行复位。

如图10所示，仍然以高电平信号为有效电平信号为例。在显示装置工作在缺陷检测阶段时，起始信号端STV提供起始信号给到第1移位单元14_1，同时向各个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号，多个移位单元14的输出端OUT依次输出有效电平信号。以显示装置工作在缺陷检测阶段时，向信号线21提供相同的高电平信号作为检测参考信号Z0为例，复位线12提供低电平的复位信号RE。其中，时刻t1、t3、t5和t7为控制检测开关131打开的时刻，检测线11依次采集信号线21-1、21_2、21_3和21_4上的电压信号。在时刻t2、t4、t6和t8，复位控制线15提供有效电平信号控制复位开关132打开，在时刻t2、t4、t6和t8这些时刻复位线12提供复位信号RE对检测线11进行复位。通过复位控制线15输出有效电平信号的时序与移位单元输出有效电平信号的时序相互配合，能够实现检测线11完成一次电压信号采集之后，复位线12就对检测线11进行一次复位。检测线依次采集多条信号线的电压信号实现对信号线缺陷的检测，同时也电压信号的干扰，确保检测信号的准确性。图10中并未对检测线上的检测信号进行示意，对于信号线断线与否的判断方式，可以参考上述图5实施例中的说明。

进一步，参考上述图9所示的，检测开关131包括一个晶体管T5，晶体管T5的控制端与移位单元的输出端电连接，晶体管T5的第一端与信号线21电连接，晶体管T5的第二端与检测线11电连接。复位开关132包括一个晶体管T6，晶体管T6的控制端与复位控制线15电连接，晶体管T6的第一端与复位线12电连接，晶体管T6的第二端与检测线11电连接。复位开关和检测开关均只包括一个晶体管，开关的控制方式简单，且在显示装置中占用面积较小，能节省非显示区的空间。

在另一种实施例中，缺陷检测模块中多个移位单元的连接方式与图6实施例中连接方式相同，部分移位单元的输出端与检测开关的控制端电连接，复位开关不与移位单元的输出端电连接，而是通过在显示装置中设置复位控制线实现对复位开关的控制。通过复位控制线提供的控制信号与第一起始信号和第二起始信号的配合，能够实现控制多个检测开关依次打开，且在与相邻的两条信号线分别连接的两个检测开关打开的期间控制复位开关打开。从而能够实现通过检测线依次采集多条信号线的电压信号，并且在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对通过复位信号对检测线进行复位，以避免电压信号的干扰。

另外，对于图9实施例中，复位开关132的个数不做限定。在一种实施例中，显示装置中设置有一个复位开关132，控制该复位开关的复位控制线15通过采用如图10中示意的时序，复位开关能够配合多个移位单元，在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间，对控制复位开关打开对检测线进行复位。

下面对本申请中移位单元的工作过程、以及移位单元的结构进行举例说明。

图11为本申请实施例中移位单元的一种结构示意图。如图11所示，移位单元14包括输出子单元141、复位子单元142、以及第一节点N1；其中，输出子单元141用于在移位单元的输入端IN的信号、时钟信号端CK的信号、以及第一节点N1电位的控制下，控制移位单元的输出端OUT输出有效电平信号；复位子单元142用于在移位单元的复位端RESET的信号、参考电压端V1的信号、以及第一节点N1电位的控制下，控制移位单元的输出端OUT输出非有效电平信号。也即输出子单元141用于控制移位单元的输出端OUT输出有效电平信号，复位子单元142用于对移位单元进行复位。移位单元的输出端输出有效电平信号时，可以控制与其连接的开关开启。其中，参考电压端V1用于提供参考电压信号，可选的参考电压信号为恒定电压信号。时钟信号端CK用于提供时钟信号。

具体的，继续参考图11所示的，输出子单元141包括第一晶体管T1的和第二晶体管T2，第一晶体管T1的控制端和第一晶体管T1的第一端均与移位单元的输入端IN电连接，第一晶体管T1的第二端与第一节点N1电连接；第二晶体管T2的控制端与第一节点N1电连接，第二晶体管T2的第一端与时钟信号端CK电连接，第二晶体管T2的第二端与移位单元的输出端OUT电连接；

复位子单元142包括第三晶体管T3和第四晶体管T4；第三晶体管T3的控制端和第四晶体管T4的控制端均与移位单元的复位端RESET电连接，第三晶体管T3的第一端和第四晶体管T4的第一端均与参考电压端V1电连接；第三晶体管T3的第二端与第一节点N1电连接，第四晶体管T4的第二端与移位单元的输出端OUT电连接；

移位单元包括第一电容C1，第一电容C1的第一极板与第一节点N1电连接，第一电容C1的第二极板与移位单元的输出端OUT电连接。

图12为图11实施例提供的移位单元的一种时序图。如图12所示，示意出了移位单元的三个工作阶段。在时刻P1，输入端IN提供高电平有效电平信号，第一晶体管T1打开，则将高电平信号写入第一节点N1。第一节点N1为高电平，则控制第二晶体管打开，时钟信号端CK将低电平信号提供给移位单元的输出端OUT，此时输出端OUT示出低电平的非有效电平信号。在时刻P2，由于第一电容C1的作用第一节点N1维持高电平电位，第一节点N1控制第二晶体管T2打开，时钟信号端CK将高电平信号提供给移位单元的输出端OUT，此时输出端OUT示出高电平的有效电平信号。在时刻P3，复位端RESET提供高电平有效信号，则第三晶体管T3和第四晶体管T4打开，第三晶体管T3将参考电压端V1的低电平信号提供给第一节点N1，第四晶体管T4将参考电压端V1的低电平信号提供给输出端OUT，此时输出端OUT输出低电平的非有效电平信号。也即在时刻P2，移位单元输出有效电平信号，在时刻P3，移位单元复位。

图13为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图14为图13中缺陷检测模块的一种时序图。图13中以图4实施例中示意的移位单元的连接方式为例，图13中仅示出了多个移位单元中的第1移位单元14_1、第2移位单元14_2、第3移位单元14_3至第8移位单元14_8。其中，移位单元14采用上述图11中的结构。显示装置中还设置有参考电压信号线16、第一时钟信号线17和第二时钟信号线18，其中，参考电压信号线16为移位单元的参考电压端V1提供参考电压信号，第一时钟信号线17提供第一时钟信号CK1，第二时钟信号线18提供第二时钟信号CK2，第一时钟信号CK1和第二时钟信号CK2互为反向信号。第奇数移位单元的时钟信号端与第一时钟信号线17电连接，第偶数移位单元的时钟信号端与第二时钟信号线18电连接。

单个移位单元的工作过程参考上述图12对应的实施例进行理解。对于多个移位单元来说，在时刻q1，第1移位单元14_1的输入端IN输入起始信号STV，第1移位单元14_1中的第一晶体管T1打开，第一节点N1写入高电平信号。在时刻q2，第一节点N1维持高电位控制第二晶体管T2打开，第一时钟信号线17的将高电平信号提供给第1移位单元14_1的输出端OUT，则在时刻q2第1移位单元14_1的输出端OUT输出有效电平信号。时刻q2，第1移位单元14_1的输出端OUT将有效电平信号提供给检测开关131，则检测开关131打开，信号线21_1与检测线11电连接，检测线11采集信号线21_1上的电压信号。

同时，在时刻q2，第1移位单元14_1的输出端OUT将有效电平信号提供给第2移位单元14_2的输入端IN，也就是说第1移位单元14_1的输出端OUT的信号为第2移位单元14_2的起始信号。时刻q2，第2移位单元14_2中的第一晶体管T1打开，第一节点N1写入高电平信号。在时刻q3，第一节点N1维持高电位控制第二晶体管T2打开，第一时钟信号线17的将高电平信号提供给第2移位单元14_2的输出端OUT，则在时刻q3第2移位单元14_2的输出端OUT输出有效电平信号。时刻q3，第2移位单元14_2的输出端OUT将有效电平信号提供给复位开关132，则复位开关132打开，复位线12上的复位信号对检测线11进行复位。时刻q3，第2移位单元14_2的输出端OUT将有效电平信号提供给第1移位单元14_1的复位端RESET，则在时刻q3，第1移位单元14_1的输出端OUT输出非有效电平信号，与信号线21_1电连接的检测开关131关闭。也就是说，在时刻q2，检测线11采集信号线21_1上的电压信号；在时刻q3，检测线11与信号线21_1断开链接，复位线12与检测线11连接，复位线12对检测线11进行复位。

同时，在时刻q3，第2移位单元14_2的输出端OUT将有效电平信号提供给第3移位单元14_3的输入端IN。重复上述工作过程，在时刻q4，检测线11采集信号线21_2上的电压信号；在时刻q5，检测线11与信号线21_2断开连接，复位线12与检测线11连接，复位线12对检测线11进行复位。以此类推，在检测线11采集信号线21_3上的电压信号之后，复位线12对检测线11复位一次；然后检测线11采集信号线21_4上的电压信号之后，复位线12对检测线11复位一次。通过多个移位单元依次输出有效电平信号，控制检测开关和复位开关交替打开，能够实现通过检测线依次采集多条信号线的电压信号，并且在采集相邻两条信号线上的电压信号的期间对通过复位信号对检测线进行复位，以避免电压信号的干扰。

在另一种实施例中，图15为本申请实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图16为图15中缺陷检测模块的一种时序图。图15中以图6实施例中示意的移位单元的连接方式为例，图15中仅示出了多个移位单元中的第1移位单元14_1、第2移位单元14_2、第3移位单元14_3至第8移位单元14_8。其中，移位单元14采用上述图11中的结构。显示装置中还设置有参考电压信号线16、第三时钟信号线51、第四时钟信号线52和第五时钟信号线53。其中，参考电压信号线16为移位单元的参考电压端V1提供参考电压信号，第三时钟信号线51为第1移位单元14_1、第4移位单元14_4和第7移位单元14_7提供时钟信号，第四时钟信号线52为第2移位单元14_2、第5移位单元14_5和第8移位单元14_8提供时钟信号，第五时钟信号线53为第3移位单元14_3和第7移位单元14_7提供时钟信号。

对于单个移位单元的工作过程可参考上述图12对应的实施例进行理解。结合图15示意的时序图进行理解，通过第一起始信号端STV1的信号、第二起始信号端STV2的信号、第三时钟信号线51的信号、第四时钟信号线52的信号和第五时钟信号线53的信号、以及参考电压信号的相互配合，能够实现多个移位单元14的输出端OUT依次输出有效电平信号。该实施方式中增加了时钟信号线的条数，但时钟信号的输出频率降低，能够有利于降低功能。

上述图11实施例示意了一种具体的移位单元的结构。本申请实施例中移位单元也可以为现有技术中任意一种能够实现移位功能的结构。

在一种实施方式中，芯片为显示驱动芯片，在显示装置工作在显示阶段时，显示驱动芯片向信号线提供电压信号以驱动显示装置显示画面。在确定显示装置工作在缺陷检测阶段时，显示驱动芯片用于实现缺陷检测的功能。其中，显示驱动芯片用于：向信号线提供检测参考信号；向至少三个移位单元提供控制信号以控制至少三个移位单元依次输出有效电平信号，控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号；向复位线提供复位信号；以及接收检测线获取的检测结果信号，并根据检测参考信号和检测结果信号，确定与检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷。该实施方式中，显示驱动芯片能够驱动显示装置显示画面，同时还能够驱动显示装置进行线缺陷的检测。

在另一种实施方式中，芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片，在显示装置工作在显示阶段时，显示驱动芯片向信号线提供电压信号以驱动显示装置显示画面。在确定显示装置工作在缺陷检测阶段时，显示驱动芯片用于向信号线提供检测参考信号。应用处理器芯片用于：向至少三个移位单元提供控制信号，其中，控制信号包括起始信号、时钟信号、以及参考电压信号；还用于向复位线提供复位信号、以及接收检测线获取的检测结果信号，并根据检测参考信号和检测结果信号，确定与检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷。该实施方式中，显示驱动芯片能够驱动显示装置显示画面，同时显示驱动芯片和应用处理器芯片进行配合实现驱动显示装置进行线缺陷的检测。

在另一种实施方式中，芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片，在显示装置工作在显示阶段时，显示驱动芯片向信号线提供电压信号以驱动显示装置显示画面。在确定显示装置工作在缺陷检测阶段时，显示驱动芯片用于向信号线提供检测参考信号；显示驱动芯片还用于向至少三个移位单元提供起始信号、时钟信号；以及接收检测线获取的检测结果信号，并根据检测参考信号和检测结果信号，确定与检测结果信号对应的检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷。应用处理器芯片用于向至少三个移位单元提供参考电压信号。该实施方式中，显示驱动芯片能够驱动显示装置显示画面，同时显示驱动芯片和应用处理器芯片进行配合实现驱动显示装置进行线缺陷的检测。本申请实施例还提供一种显示装置的检测方法，能够用于对本申请实施例提供的显示装置进行缺陷检测。图17为本申请实施例提供的检测方法流程图。如图17所示，检测方法包括：

步骤S101：向信号线提供检测参考信号。在一种实施方式中，向信号线提供相同大小的电压信号。在另一种实施方式中，多条信号线上输入的检测参考信号的电压大小不同。

步骤S102：控制至少三个移位单元依次输出有效电平信号，控制第一检测开关和第二检测开关依次打开，使得检测线依次采集第一信号线和第二信号线上的信号得到相应的检测结果信号；

步骤S103：向复位线提供复位信号，在采集第一信号线上的信号和第二信号线上的信号的期间，控制复位开关打开，将复位信号提供给检测线，对检测线进行复位。通过对多个移位单元的级联方式进行设计，比如上述图4实施例或者图6实施例中的连接方式，能够实现缺陷检测模块中的多个移位单元依次输出有效电平信号。该步骤能够实现检测线依次采集至少两条信号线的电压信号，并且检测线在采集一条信号线的电压信号的之后，则对检测线进行一次复位，然后再采集下一条信号线上的电压信号，能够避免电压信号的干扰，确保检测信号的准确性。

具体的，在一些实施方式中，将复位开关的控制端与移位单元的输出端电连接，则多个移位单元控制检测开关和复位开关。在采集相邻的两条信号线上的信号期间，通过移位单元控制复位开关打开，如上述图4或图6中的示意。

在另一种实施方式中，在显示装置中设置复位控制线，复位开关的控制端与复位控制线电连接；在采集相邻的两条信号线上的信号期间，通过复位控制线控制复位开关打开。如上述图9中的示意。

步骤S104：将检测结果信号与检测参考信号进行对比，当检测结果信号与检测参考信号不同时，确定该检测结果信号对应的信号线存在缺陷。判断信号线是否存在缺陷的方式，可以参考上述图5时序图中的说明。以向信号线提供高电平信号作为检测参考信号Z0为例，在第一时刻t1检测结果信号Zn为高电平信号，说明在第一时刻t1，信号线21_1将高电平的检测参考信号Z0传输给检测线，信号线21_1完好没有断线；而在第三时刻t3，检测结果信号Zn为低电平信号，则说明信号线21_2存在断线。

进一步的，控制至少三个移位单元的输出端依次输出有效电平信号，包括：向至少三个移位单元提供控制信号，使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，控制信号包括起始信号、时钟信号和参考信号；检测方法还包括：当检测结果信号与检测参考信号不同时，根据时钟信号确定存在缺陷的信号线的位置。以图11示意的移位单元结构为例，移位单元的时钟信号端需要接收时钟信号。移位单元中晶体管、以及开关单元中晶体管均为n型晶体管时，当移位单元中输入的时钟信号为高电平信号时，则移位单元输出有效电平信号，检测开关打开，检测线采集信号线上的信号得到检测结果信号。在输出时钟信号时记录高电平的次序，高电平的次序与信号线的检测次序相对应。则当检测结果信号与检测参考信号不同时，能够根据对应关系确定存在缺陷的信号线的位置。

本申请实施例还提供一种存储介质，存储介质包括计算机程序，计算机程序可被处理器执行以完成本申请上述实施例提供的缺陷检测方法。

本申请实施例还提供一种显示驱动芯片，显示驱动芯片能够用于显示装置中驱动显示装置进行显示，同时能够用于本申请实施例提供的显示装置中对缺陷检测进行控制，图18为本申请实施例提供的显示驱动芯片的结构示意图。如图18所示，显示驱动芯片包括控制单元200和输入输出单元300，其中，控制单元200用于在确定进入缺陷检测阶段时，指示输入输出单元300输出检测参考信号、控制信号、以及复位信号，具体包括：

向与显示驱动芯片电连接的信号线提供检测参考信号，以使得检测参考信号在信号线上进行传输，同时检测参考信号作为检测信号线是否存在缺陷的参考值；

向与显示驱动芯片电连接的至少三个移位单元提供控制信号，以控制至少三个移位单元依次输入有效电平信号，进而控制与显示驱动芯片电连接的检测线依次采集相邻的至少两条信号线的检测结果信号，以使得显示驱动芯片获取检测结果信号；

提供复位信号，具体的，向与显示驱动芯片电连接的复位线提供复位信号，复位信号用于在采集相邻的两条信号线的检测结果信号的期间，对检测线进行复位。

控制单元200还用于指示输入输出单元30接收检测结果信号，控制单元200在接收检测结果信号后，将检测结果信号与检测参考信号进行对比，当检测结果信号与检测参考信号不同时，确定该检测结果信号对应的信号线存在缺陷。

另外，控制单元200还用于在确定进行显示阶段时，指示输入输出单元300输出待显示信息，以使得与显示驱动芯片相连的显示面板能够显示指定的内容。其中，包括提供信号，使得与显示驱动芯片相连的多个子像素根据接收到的信号进行发光。

具体的，控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号；控制单元200还用于当检测结果信号与检测参考信号不同时，根据时钟信号确定存在缺陷的信号线的位置。

本申请还提供一种设备，图19为本申请实施例提供的设备示意图，如图19所示，设备包括本申请任意实施例提供的显示装置001。其中，显示装置001的具体结构已经在上述实施例中进行了详细说明，此处不再赘述。当然，图19所示的设备仅仅为示意说明，例如可以是手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书、电视机、智能手表等任何具有显示功能的电子设备。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (14)

1.一种显示装置，所述显示装置包括芯片、多条信号线和多个子像素，所述多条信号线与所述芯片相连，所述多条信号线用于传输所述芯片向其输出的电信号；所述多条信号线与所述多个子像素电连接，在所述显示装置工作在显示阶段时，所述多条信号线用于向所述多个子像素提供信号以控制所述多个子像素发光；其特征在于，

所述显示装置还包括检测线、复位线、至少两个检测开关、至少一个复位开关和至少三个移位单元；其中，

所述检测开关的控制端与一个所述移位单元电连接，用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

所述至少两个检测开关包括第一检测开关和第二检测开关；所述第一检测开关的第一端和第二端分别与第一信号线和所述检测线电连接；所述第二检测开关的第一端和第二端分别与第二信号线和所述检测线电连接；其中，所述第一信号线和所述第二信号线是相邻的两条信号线；

所述至少一个复位开关的第一端和第二端分别与所述检测线和所述复位线电连接；所述复位开关用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

所述至少三个移位单元依次连接，所述至少三个移位单元用于在接收控制信号之后依次输出有效电平信号；

所述芯片用于确定所述显示装置工作在缺陷检测阶段时：

向所述信号线提供检测参考信号；

向所述至少三个移位单元提供控制信号，使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，其中，与所述第一检测开关电连接的所述移位单元和与所述第二检测开关电连接的所述移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出；

向所述复位线提供复位信号，在所述第一检测开关的控制端和所述第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号控制所述第一检测开关开启和所述第二检测开关开启的间隔时间内、控制所述复位开关开启，将所述复位信号提供给所述检测线，对所述检测线进行复位；

接收所述检测线获取的检测结果信号；并根据所述检测结果信号、以及向所述信号线提供的所述检测参考信号，确定与该检测结果信号对应的所述检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述至少两个检测开关还包括第三检测开关，所述第三检测开关的第一端和第二端分别与第三信号线和所述检测线电连接，其中，所述第一信号线、所述第二信号线和所述第三信号线依次相邻；

向所述至少三个移位单元提供控制信号，使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，还包括：与所述第二检测开关电连接的所述移位单元和与所述第三检测开关电连接的所述移位单元在输出有效电平信号的次序上间隔一次有效电平信号的输出；

所述芯片还用于确定所述显示装置工作在缺陷检测阶段时：向所述复位线提供复位信号，在所述第二检测开关的控制端和所述第三检测开关的控制端分别接收有效电平信号控制所述第二检测开关开启和所述第三检测开关开启的间隔时间内、控制所述复位开关开启，将所述复位信号提供给所述检测线，对所述检测线进行复位。

3.根据权利要求1或2所述的显示装置，其特征在于，

所述复位开关的控制端与一个所述移位单元的输出端电连接；

所述向所述复位线提供复位信号，在所述第一检测开关的控制端和所述第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号控制所述第一检测开关开启和所述第二检测开关开启的间隔时间内、控制所述复位开关开启，将所述复位信号提供给所述检测线，对所述检测线进行复位，具体包括：

向所述复位线提供复位信号；

向与所述复位开关的控制端相连的移位单元提供控制信号，在所述第一检测开关的控制端和所述第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号控制所述第一检测开关开启和所述第二检测开关开启的间隔时间内、控制所述复位开关开启，将所述复位信号提供给所述检测线，对所述检测线进行复位。

4.根据权利要求1或2所述的显示装置，其特征在于，

所述显示装置还包括复位控制线，所述复位开关的控制端与所述复位控制线电连接；

所述向所述复位线提供复位信号，在所述第一检测开关的控制端和所述第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号控制所述第一检测开关开启和所述第二检测开关开启的间隔时间内、控制所述复位开关开启，将所述复位信号提供给所述检测线，对所述检测线进行复位，具体包括：

向所述复位线提供复位信号；

向所述复位控制线提供复位控制信号，在所述第一检测开关的控制端和所述第二检测开关的控制端分别接收有效电平信号控制所述第一检测开关开启和所述第二检测开关开启的间隔时间内、控制所述复位开关开启，将所述复位信号提供给所述检测线，对所述检测线进行复位。

5.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述至少三个移位单元包括第1移位单元、第2移位单元至第N移位单元，N为整数，且N≥3；

所述移位单元包括输入端、输出端和复位端；其中，

所述至少三个移位单元依次连接，包括：第n移位单元的输入端与第n-1移位单元的输出端电连接，且，第n移位单元的输出端与第n-1移位单元的复位端电连接，2≤n≤N，n为整数；

所述控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号；

向所述至少三个移位单元提供控制信号，使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，包括：向所述第1移位单元的输入端提供起始信号，向所述至少三个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号，在所述起始信号、所述时钟信号和所述参考电压信号的共同控制下、使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号。

6.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述至少三个移位单元包括第1移位单元、第2移位单元至第N移位单元，N为整数，且N≥3；

所述移位单元包括输入端、输出端和复位端；其中，

所述至少三个移位单元依次连接，包括：所述第1移位单元的复位端与所述第2移位单元的输出端电连接，所述第2移位单元的复位端与第3移位单元的输出端电连接；第m移位单元的输入端与第m-2移位单元的输出端电连接，且第m移位单元的复位端与第m+1移位单元的输出端电连接，3≤m≤N，m为整数；

所述控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号；

向所述至少三个移位单元提供控制信号，使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，包括：向所述第1移位单元的输入端提供第一起始信号，向所述第2移位单元的输入端提供第二起始信号；向所述至少三个移位单元分别提供时钟信号和参考电压信号；在所述第一起始信号、所述第二起始信号、所述时钟信号和所述参考电压信号的共同控制下、使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号。

7.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述移位单元包括输出子单元、复位子单元、以及第一节点；其中，

所述输出子单元用于在所述移位单元的输入端的信号、时钟信号、以及所述第一节点电位的控制下，控制所述移位单元的输出端输出有效电平信号；

所述复位子单元用于在所述移位单元的复位端的信号、参考电压信号、以及所述第一节点电位的控制下，控制所述移位单元的输出端输出非有效电平信号。

8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，

所述输出子单元包括第一晶体管的和第二晶体管，

所述第一晶体管的控制端和所述第一晶体管的第一端均与所述移位单元的输入端电连接，所述第一晶体管的第二端与所述第一节点电连接；所述第二晶体管的控制端与所述第一节点电连接，所述第二晶体管的第一端与时钟信号端电连接，所述第二晶体管的第二端与所述移位单元的输出端电连接，所述时钟信号端用于提供时钟信号；

所述复位子单元包括第三晶体管和第四晶体管；所述第三晶体管的控制端和所述第四晶体管的控制端均与所述移位单元的复位端电连接，所述第三晶体管的第一端和所述第四晶体管的第一端均与参考电压端电连接；所述第三晶体管的第二端与所述第一节点电连接，所述第四晶体管的第二端与所述移位单元的输出端电连接，所述参考电压端用于提供参考电压信号；

所述移位单元包括第一电容，所述第一电容的第一极板与所述第一节点电连接，所述第一电容的第二极板与所述移位单元的输出端电连接。

9.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述芯片为显示驱动芯片；或者，

所述芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片；在所述显示装置工作在缺陷检测阶段时，所述显示驱动芯片用于向所述信号线提供检测参考信号；所述应用处理器芯片用于向所述至少三个移位单元提供控制信号，所述控制信号包括起始信号、时钟信号、以及参考电压信号；所述应用处理器芯片还用于向所述复位线提供复位信号、以及接收所述检测线获取的检测结果信号，并根据所述检测参考信号和所述检测结果信号，确定与检测结果信号对应的所述检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷；或者，

所述芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片；所述控制信号包括起始信号、时钟信号、以及参考电压信号；在所述显示装置工作在缺陷检测阶段时，所述显示驱动芯片用于向所述信号线提供检测参考信号；所述显示驱动芯片还用于向所述至少三个移位单元提供起始信号、时钟信号；以及接收所述检测线获取的检测结果信号，并根据所述检测参考信号和所述检测结果信号，确定与检测结果信号对应的所述检测开关电连接的信号线是否存在线缺陷；所述应用处理器芯片用于向所述至少三个移位单元提供参考电压信号、以及向所述复位线提供复位信号。

10.一种显示装置的检测方法，所述显示装置包括多条信号线、多个子像素、检测线、复位线、至少两个检测开关、至少一个复位开关和至少三个移位单元，其中，

所述信号线与所述子像素电连接，在所述显示装置工作在显示阶段时，所述信号线用于向所述子像素提供信号以控制所述子像素发光；

所述检测开关的控制端与一个所述移位单元电连接，所述检测开关用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

所述至少两个检测开关包括第一检测开关和第二检测开关；所述第一检测开关的第一端和第二端分别与第一信号线和所述检测线电连接；所述第二检测开关的第一端和第二端分别与第二信号线和所述检测线电连接；其中，所述第一信号线和所述第二信号线是相邻的两条信号线；

所述至少一个复位开关的第一端和第二端分别与所述检测线和所述复位线电连接；所述复位开关用于在其控制端接收到有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；

所述至少三个移位单元依次连接，所述至少三个移位单元用于在接收控制信号之后依次输出有效电平信号；其特征在于，所述检测方法包括：

向所述信号线提供检测参考信号；

控制所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，控制所述第一检测开关和所述第二检测开关依次打开，使得所述检测线依次采集所述第一信号线和所述第二信号线上的信号得到相应的检测结果信号；

向所述复位线提供复位信号，在采集所述第一信号线上的信号和所述第二信号线上的信号的间隔时间内，控制所述复位开关打开，将所述复位信号提供给所述检测线，对所述检测线进行复位；

将所述检测结果信号与所述检测参考信号进行对比，当所述检测结果信号与所述检测参考信号不同时，确定该检测结果信号对应的所述信号线存在缺陷。

11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，

控制所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，包括：向所述至少三个移位单元提供控制信号，使得所述至少三个移位单元依次输出有效电平信号，所述控制信号包括起始信号、时钟信号和参考信号；

所述检测方法还包括：当所述检测结果信号与所述检测参考信号不同时，根据所述时钟信号确定存在缺陷的所述信号线的位置。

12.一种存储介质，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序可被处理器执行以完成权利要求10至11任一项所述的检测方法。

13.一种显示驱动芯片，其特征在于，所述显示驱动芯片用于：

提供信号，使得与所述显示驱动芯片相连的多个子像素根据接收到的信号进行发光；

提供检测参考信号，以使得所述检测参考信号在与所述显示驱动芯片电连接的信号线上进行传输；

提供控制信号，所述控制信号用于控制与所述显示驱动芯片电连接的至少三个移位单元依次输出有效电平信号、以控制与所述显示驱动芯片电连接的检测线依次采集相邻的至少两条所述信号线的检测结果信号，以使得所述显示驱动芯片获取所述检测结果信号；

提供复位信号，所述复位信号用于在采集相邻的两条所述信号线的检测结果信号的间隔时间内，对所述检测线进行复位；

以及接收所述检测结果信号，并将所述检测结果信号与所述检测参考信号进行对比，当所述检测结果信号与所述检测参考信号不同时，确定该检测结果信号对应的信号线存在缺陷。

14.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求1至9任一项所述的显示装置。