TWI435093B - 顯示面板的檢測電路 - Google Patents

Description

顯示面板的檢測電路

本發明是有關於一種檢測電路，且特別是有關於一種顯示面板的檢測電路。

在目前顯示面板(display panel)的製造過程中，會透過一個檢測程序來檢測顯示面板的陣列基板中各個畫素的驅動電路運作是否正確。舉例來說，在所述的驅動電路的周圍設置有檢測用的電路佈線，一般來說，可區分有環狀短路佈線(short-ring layout)與桿狀短路佈線(shorting-bar layout)兩種。

所述的檢測程序主要利用將檢測訊號透過檢測電路佈線輸入至所述的驅動電路，以驅動顯示面板中的各畫素進行測試。接著，於檢測完顯示面板後，利用雷射切割製程將所述的檢測電路佈線切斷，然而所述的檢測程序需要增加雷射切割製程。

本發明提出一種顯示面板的檢測電路可提供薄膜探針與金屬探針進行檢測，以對顯示面板進行異常攔檢與修復，並且無需增加雷射切割製程，亦可簡化檢測程序。

因此，本發明實施例的顯示面板的檢測電路，包括有第一測試部、第二測試部、第三測試部、複數個第一多工器、複數個第一開關單元與第二多工器。所述的第一測試部具有複數個第一切換端、第一致能端、複數個第一控制端、以及複數個第 一資料端。該些第一切換端電性連接至該些第一多工器的第一輸入端，其中每一第一多工器包含複數個輸出端、複數個第一輸入端，以及第二輸入端，該些第一多工器的輸出端分別電性連接至顯示面板的複數條資料線。所述的第二測試部具有複數個第二切換端、第二致能端、複數個第二控制端、以及第二資料端，其中該些第二切換端電性連接至該些第一多工器的第一輸入端。所述的第三測試部具有複數個第三切換端、第三致能端、以及第三資料端，其中該些第三切換端電性連接至該些第一多工器的第一輸入端。該些第一開關單元分別電性連接至該些第一多工器，該些第一開關單元用以選擇該些測試部其中之一。該第二多工器分別電性連接至該些第一控制端、該些第二控制端與該些第一多工器。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

請參照圖1，圖1係為本發明第一實施例之檢測電路的細部示意圖。如圖1所示，本發明實施例之檢測電路100電性連接於顯示面板200。所述的檢測電路100包括有第一測試部(由複數個第一切換端111、一第一致能端113、複數個第一控制端115與複數個第一資料端117所組成)、第二測試部(由複數個第二切換端121、一第二致能端123、複數個第二控制端125與一第二資料端127所組成)、第三測試部(由複數個第三切換端131、一第三致能端133與一第三資料端137所組成)、複數個第一多工器140、複數個第一開關單元170與第二多工器180。在此圖中，該些第一切換端111係以同一個虛框來框選 表示之；該些第一控制端115係以同一個虛框來框選表示之；該些第一資料端117係以同一個虛框來框選表示之；該些第二切換端121係以同一個虛框來框選表示之；該些第二控制端125係以同一個虛框來框選表示之；該些第三切換端131係以同一個虛框來框選表示之。

第一測試部電性連接於顯示面板200。第一測試部用以接收一訊號產生裝置(未繪示)所提供的資料訊號、控制訊號與致能訊號。在利用第一測試部測試顯示面板200時，訊號產生裝置所產生的資料訊號可以是模擬用於顯示面板200之一驅動積體電路(IC)所輸出的驅動訊號。第二測試部電性連接於顯示面板200與薄膜探針(圖中未示)。第二測試部用以接收薄膜探針提供的資料訊號、控制訊號與致能訊號，以對顯示面板200中的畫素陣列進行檢測程序。舉例來說，薄膜探針可針對顯示面板200中特定位置的畫素進行點亮，以測試各畫素是否正常，進而提供測試人員對異常的畫素進行修復工作。第三測試部電性連接於顯示面板200與金屬探針(圖中未示)。第三測試部用以接收金屬探針提供的資料訊號、控制訊號與致能訊號，以對顯示面板200中的畫素陣列進行檢測程序。舉例來說，金屬探針可傳送訊號至顯示面板200，以檢測其顯示紅色、綠色、藍色、黑畫面、白畫面與灰畫面是否正常。

如圖1所示，每一第一多工器140包含複數個輸出端141、複數個第一輸入端143與一第二輸入端145。所述的第一多工器140的輸出端141分別電性連接至顯示面板200的複數條資料線，複數個第一多工器140的複數個第一輸入端143係彼此分別電性連接。所述的第一多工器140可由複數個N型或P型薄膜電晶體來組成。在此例中，每一第一多工器140 係由多個N型薄膜電晶體來組成。此外，所述的第一切換端111電性連接於該些第一多工器140的第一輸入端143。所述的第二切換端121電性連接於該些第一多工器140的第一輸入端143。而所述的第三切換端131亦電性連接於該些第一多工器140的第一輸入端143。

該些第一開關單元170分別電性連接至該些第一多工器140的第二輸入端145、第三測試部的第三致能端133、第三測試部的第三資料端137、第二測試部的第二致能端123、第一測試部的第一致能端113。本實施例之每一第一開關單元170係由一N型薄膜電晶體來實現，然本發明並不以此為限，本領域具有通常知識者當知每一第一開關單元170係可由一N型或一P型薄膜電晶體來實現。具體地，每一第一開關單元170具有第一端、第二端與控制端。每一第一開關單元170的第一端電性連接至其中一第一多工器140的第二輸入端145。每一第一開關單元170的第二端電性連接至第三測試部的第三資料端137。每一第一開關單元170的控制端電性連接至第一測試部的第一致能端113、第二測試部的第二致能端123與第三測試部的第三致能端133。由圖1可知，第一多工器140的數目必須和第一開關單元170的數目相等。

第二多工器180具有複數個輸出端、複數個第一輸入端與一第二輸入端。此第二多工器180的該些輸出端分別電性連接至對應之該些第一開關單元170的第一端，以及第一測試部的該些第一資料端117，第二多工器180的第二輸入端電性連接至第二測試部的第二資料端127，而第二多工器180的該些第一輸入端分別電性連接至第一測試部的該些第一控制端115與第二測試部的該些第二控制端125。具體地，第二多工器180 電性連接至該些第一多工器140的第二輸入端145、第一測試部的該些第一控制端115、第一測試部的該些第一資料端117、第二測試部的該些第二控制端125與第二測試部的第二資料端127。所述的第二多工器180可由複數個N型或P型薄膜電晶體所組成。在此例中，第二多工器180係由多個N型薄膜電晶體所組成。具體地，第二多工器180中的每一電晶體皆具有第一端、第二端與控制端。第二多工器180中之該些電晶體的第一端分別電性連接至該些第一開關單元170的第一端。第二多工器180中之該些電晶體的第二端皆電性連接至第二測試部的第二資料端127。第二多工器180中之該些電晶體的控制端分別電性連接至第一測試部的該些第一控制端115與第二測試部的該些第二控制端125。另外，第二多工器180中之該些電晶體的第一端亦分別電性連接至第一測試部的該些第一資料端117。

以下將說明檢測電路100的動作原理。請再參照圖1，當欲利用薄膜探針(圖中未示)來對顯示面板200進行測試時，便可將薄膜探針電性連接於第二測試部的該些第二切換端121、第二致能端123、該些第二控制端125與第二資料端127，以利用第二資料端127來傳送資料訊號，並利用第二致能端123傳送致能訊號來關閉該些第一開關單元170，以及利用該些第二控制端125傳送多個控制訊號(控制訊號的數目實質上相等於第一多工器140的數目，在此例中，控制訊號的數目為六個)來決定第二多工器180中的電晶體有哪些要導通，以進一步決定資料訊號要傳送到哪些第一多工器140。此外，還利用該些第二切換端121傳送多個選擇訊號(在此例為三個)至該些第一多工器140，以控制第一多工器140將其所接收到的資料訊號 從選定的輸出端141輸出至顯示面板200。其中，第二切換端121的數目實質上等於第一多工器140的輸出端141數目。藉此，便可利用薄膜探針對顯示面板200進行所需的檢測程序。

當欲利用金屬探針(圖中未示)來對顯示面板200進行測試時，便可將金屬探針電性連接於第三測試部的該些第三切換端131、第三致能端133與第三資料端137，以利用第三資料端137來傳送資料訊號，並利用第三致能端133傳送致能訊號來導通該些第一開關單元170，以及利用該些第三切換端131傳送多個選擇訊號(在此例為三個)至該些第一多工器140，以控制第一多工器140將其所接收到的資料訊號從選定的輸出端141輸出至顯示面板200。其中，第三切換端131的數目實質上等於第一多工器140的輸出端141數目。藉此，便可利用金屬探針對顯示面板200進行所需的檢測程序。

當欲測試顯示面板200在電性連接至所需之驅動積體電路後，其是否能根據驅動積體電路所輸出的訊號而正常地執行對應的操作時，便可將訊號產生裝置(未繪示)電性連接至第一測試部的該些第一切換端111、第一致能端113、該些第一控制端115與該些第一資料端117，以利用該些第一資料端117來傳送多個資料訊號(在此例為六個)，並利用第一致能端113傳送致能訊號來關閉該些第一開關單元170，以及利用該些第一控制端115傳送多個控制訊號(在此例為六個)來關閉第二多工器180中的所有電晶體。其中，第一資料端117的數量與第一控制端115的數量實質上與第二多工器180之電晶體的數量相同。此外，還利用該些第一切換端111傳送多個選擇訊號(在此例為三個)至該些第一多工器140，以控制第一多工器140將其所接收到的資料訊號從選定的輸出端141輸出至顯示面 板200。藉此，便可檢測出顯示面板200在電性連接至所需之驅動積體電路後，其是否能根據驅動積體電路所輸出的訊號而正常地執行對應的操作。從以上說明可知，本發明之實施例於檢測完顯示面板200後無需額外的雷射切割(laser cut)製程，就可將顯示面板200所需的驅動積體電路焊接(BONDING)上去。

接下來，請參照圖2，圖2係為本發明第二實施例之檢測電路的細部示意圖。如圖2所示，本發明第二實施例與第一實施例不同之處在於：第二實施例具有保護單元390，其餘部分與第一實施例相同，以下不再贅述。

保護單元390具有複數個第一端391、一控制端393與一第二端395。保護單元390的該些第一端391分別電性連接至第二多工器180中之該些電晶體的控制端。保護單元390的控制端393電性連接至該些第一開關單元170的控制端。保護單元390的第二端395電性連接至一參考電位135。如圖2所示，保護單元390可由多個第二開關單元來組成。保護單元390中的每一第二開關單元包含第一端、第二端與控制端，且每一第二開關單元的第一端係電性連接至保護單元390中對應之第一端，每一第二開關單元的控制端係電性連接至保護單元390中對應之控制端，而每一第二開關單元的第二端係電性連接至保護單元390中對應之第二端。保護單元390中的每一第二開關單元皆可為N型或P型薄膜電晶體。在此例中，保護單元390中的每一第二開關單元皆以一N型薄膜電晶體來實現，所述參考電位135可為低電壓準位例如是-30V。當欲利用第三測試部的第三資料端137傳送資料，因而利用第三測試部的第三致能端133傳送致能訊號來導通該些第一開關單元170時，為避免第二多工器180中各電晶體的控制端因未電性連接任何 訊號造成位準浮動而導致誤動作，便可透過第三測試部的第三致能端133傳送致能訊號來導通該保護單元390中的所有電晶體，並將參考電位135電性連接至低電壓，以確保第，二多工器180中的各電晶體保持在關閉狀態。藉此，可避免檢測電路300因第二多工器180的誤動作而影響其檢測結果。

此外，從以上說明可知，保護單元390之每一第二開關單元更可以包含串接多個第二開關單元，其中每一第二開關單元包含一第一端、一第二端以及一控制端，其中該些第二開關單元之控制端係電性連接至保護單元390的控制端，並且所述串接多個第二開關單元其中之一第一端與所述串聯多個第二開關單元其中另一第二端係分別電性連接至保護單元390的其中一第一端391與保護單元390之第二端395，其餘所述串接多個第二開關之第一端電性連接至其餘所述串接多個第二開關第二端。

接著，請參照圖3，圖3係為本發明第三實施例之檢測電路的細部示意圖。如圖3所示，本發明第三實施例與第二實施例不同之處在於：第三實施例的保護單元490中具有更多的第二開關單元，其餘部分與第二實施例相同，以下不再贅述。而如此圖所示，此保護單元490具有複數個第一端491、一控制端493與一第二端495。而此保護單元490包含有複數的第二開關單元，每一第二開關單元包含一第一端、一第二端以及一控制端。此外，在保護單元490之其中一第一端491與保護單元490之第二端495之間係串接至少二個第二開關單元。

綜上所述，本發明的顯示面板的檢測電路透過佈線規畫、開關配置與訊號控制，使檢測電路可提供薄膜探針進行電性連接，以測試與修復顯示面板的異常問題，進而降低顯示面板的 製造成本，並且檢測電路還可提供金屬探針進行電性連接，以傳送訊號至顯示面板，進而點亮顯示面板並檢測其顯示紅色、綠色、藍色、黑畫面、白畫面與灰畫面是否正常。另外，於檢測完顯示面板後，本發明實施例透過控制開關的狀態，避免顯示面板受到檢測電路的影響，因此無需額外的雷射切割製程，進而簡化檢測程序與提升顯示面板的產能。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100、300、400‧‧‧檢測電路

110‧‧‧第一測試部

111‧‧‧第一切換端

113‧‧‧第一致能端

115‧‧‧第一控制端

117‧‧‧第一資料端

120‧‧‧第二測試部

121‧‧‧第二切換端

123‧‧‧第二致能端

125‧‧‧第二控制端

127‧‧‧第二資料端

130‧‧‧第三測試部

131‧‧‧第三切換端

133‧‧‧第三致能端

135‧‧‧參考電位

137‧‧‧第三資料端

140‧‧‧第一多工器

141‧‧‧輸出端

143‧‧‧第一輸入端

145‧‧‧第二輸入端

390、490‧‧‧保護單元

391、491‧‧‧第一端

393、493‧‧‧控制端

395、495‧‧‧第二端

170‧‧‧第一開關單元

180‧‧‧第二多工器

200‧‧‧顯示面板

圖1係為本發明第一實施例之檢測電路的細部示意圖。

圖2係為本發明第二實施例之檢測電路的細部示意圖。

圖3係為本發明第三實施例之檢測電路的細部示意圖。

100‧‧‧檢測電路

111‧‧‧第一切換端

113‧‧‧第一致能端

115‧‧‧第一控制端

117‧‧‧第一資料端

121‧‧‧第二切換端

123‧‧‧第二致能端

125‧‧‧第二控制端

127‧‧‧第二資料端

131‧‧‧第三切換端

133‧‧‧第三致能端

137‧‧‧第三資料端

140‧‧‧第一多工器

141‧‧‧輸出端

143‧‧‧第一輸入端

145‧‧‧第二輸入端

170‧‧‧第一開關單元

180‧‧‧第二多工器

200‧‧‧顯示面板

Claims (12)

1. 一種顯示面板的檢測電路，該顯示面板具有複數條資料線，包括：複數個第一多工器，每一第一多工器包含複數個輸出端，複數個第一輸入端，以及一第二輸入端，該些第一多工器的該些輸出端分別電性連接至該顯示面板的複數條資料線；一第一測試部，具有複數個第一切換端、一第一致能端、複數個第一控制端以及複數個第一資料端，該些第一切換端分別電性連接至複數個第一多工器的該些第一輸入端；一第二測試部，具有複數個第二切換端、一第二致能端、複數個第二控制端以及一第二資料端，該些第二切換端分別電性連接至該些第一多工器的該些第一輸入端；一第三測試部，具有複數個第三切換端、一第三致能端以及一第三資料端，該些第三切換端分別電性連接至該些第一多工器的該些第一輸入端；複數個第一開關單元，分別電性連接至該些第一多工器，用以選擇該些測試部其中之一；及一第二多工器，分別電性連接至該些第一控制端、該些第二控制端與該些第一多工器之該些第二輸入端。
2. 如請求項1之顯示面板的檢測電路，其中每一該些第一開關單元具有一第一端、一第二端與一控制端，該些第一開關單元的第一端電性連接至該些第一多工器的第二輸入端，該些第一開關單元的第二端電性連接至該第三測試部的第三資料端，該些第一開關單元的控制端電性連接至該第一測試部的第一致能端、該第二測試部的第二致能端與該第三測試部的第三 致能端，用以選擇該些測試部其中之一。
3. 如請求項2之顯示面板的檢測電路，其中該第二多工器具有複數個輸出端、複數個第一輸入端與一第二輸入端，該第二多工器的該些輸出端分別電性連接至對應之該些第一開關單元的第一端，該第二多工器的該第二輸入端電性連接至該第二測試部的第二資料端，該第二多工器的該些第一輸入端分別電性連接至該第一測試部的第一控制端與該第二測試部的第二控制端。
4. 如請求項3之顯示面板的檢測電路，其中該第二多工器的該些輸出端分別電性連接至該第一測試部的第一資料端。
5. 如請求項3之顯示面板的檢測電路，更包含一保護單元，該保護單元具有電性連接至該第二多工器的該些第一輸入端的複數個第一端，電性連接至該些第一開關單元的控制端的一控制端，以及電性連接至一參考電位的一第二端。
6. 如請求項5之顯示面板的檢測電路，其中該保護單元包含複數個第二開關單元，每一第二開關單元包含一第一端電性連接至該保護單元中對應之第一端、一第二端電性連接至該保護單元中之該第二端以及一控制端電性連接至該保護單元之該控制端。
7. 如請求項5之顯示面板的檢測電路，其中該保護單元包含複數個第二開關單元，每一第二開關單元包含一第一端電性連接至該保護單元中對應之第一端、一第二端電性連接至該保 護單元中之該第二端以及一控制端電性連接至該保護單元之該控制端，且在該保護單元之其中一第一端與該保護單元之該第二端之間係串接至少二個第二開關單元。
8. 如請求項5之顯示面板的檢測電路，其中該參考電位係為一低電位。
9. 如請求項3之顯示面板的檢測電路，其中該第三測試部的第三致能端提供一第三致能訊號導通該些第一開關單元，用以切換該第三測試部檢測該顯示面板。
10. 如請求項3之顯示面板的檢測電路，其中該第二測試部的第二致能端提供一第二致能訊號關閉該些第一開關單元，並且該第二測試部的第二控制端提供複數個第二控制訊號導通該第二多工器，用以切換該第二測試部檢測該顯示面板。
11. 如請求項4之顯示面板的檢測電路，其中該第一測試部設置有驅動積體電路時，該些第一開關單元與該第二多工器為關閉。
12. 如請求項4之顯示面板的檢測電路，其中該第一測試部的第一致能端提供一第一致能訊號關閉該些第一開關單元，並且該第一測試部的第一控制端提供複數個第一控制訊號關閉該第二多工器，用以切換該第一測試部檢測該顯示面板。