KR102449721B1 - 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법 - Google Patents

표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법 Download PDF

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Abstract

표시 장치는 표시부, 상기 표시부에 연결된 제1 보드부 및 상기 제1 보드부에 연결된 제1 연결 부재를 포함하는 패널부, 상기 제1 연결 부재가 부착 가능하도록 구성된 접속 부재를 포함하고, 상기 패널부에 영상 신호를 제공하는 입력부, 상기 제1 연결 부재와 상기 접속 부재의 전기적 연결을 진단하기 위한 전송 신호를 출력하는 마스터, 상기 마스터에 연결된 전송 라인, 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 연결되는 검사 라인, 및 상기 검사 라인을 통해 상기 마스터에 연결되고, 상기 전송 신호를 수신 신호로서 수신하고, 상기 수신 신호의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티를 카운팅하여 상기 패널부와 상기 입력부 간의 연결 불량을 판단하는 슬레이브를 포함한다.

Description

표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD OF INSPECTING DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 자가 진단 기능을 포함하는 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법에 관한 것이다.
표시 장치는 표시 패널과 표시 패널의 구동을 위한 다수의 부품들의 조립체로 이루어진다. 표시 패널은 기판 상에 복수의 화소와 각종 배선과 박막 트랜지스터를 형성하는 과정을 통해 제조될 수 있다. 이러한 과정을 통해 제조된 표시 패널에 표시 패널을 구동할 수 있는 검사 장비를 연결하고 표시 패널의 화면의 이상 유무를 확인하는 검사 과정이 진행된다.
표시 패널과 검사 장비를 연결하는 과정에서 접촉 오류가 발생하는 경우 표시 패널의 화면이 정상적으로 표시되지 않는 경우가 발생할 수 있고, 이러한 경우 해당 표시 패널은 불량품으로 판정될 수 있다. 즉, 표시 패널의 배선이나 박막 트랜지스터 등의 불량에 의한 표시 패널의 진성 불량이 아니라 표시 패널과 검사 장비 간의 접촉 오류에 의해 양품의 표시 패널이 불량품으로 판정되는 경우가 발생할 수 있다. 이는 표시 패널의 생산 수율을 저하시키는 원인이 될 수 있다. 또한, 표시 패널의 진성 불량과 접촉 불량을 구분하지 못함에 따라, 표시 패널의 불량 원인을 정확하게 찾지 못하게 되고 표시 패널의 불량 방지를 위한 개선 대책을 마련할 수 없게 된다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 패널부와 검사부 간의 접촉 불량, 및 패널부와 입력부 간의 연결 불량을 자가 진단할 수 있는 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시부, 상기 표시부에 연결된 제1 보드부 및 상기 제1 보드부에 연결된 제1 연결 부재를 포함하는 패널부, 상기 제1 연결 부재가 부착 가능하도록 구성된 접속 부재를 포함하고, 상기 패널부에 영상 신호를 제공하는 입력부, 상기 제1 연결 부재와 상기 접속 부재의 전기적 연결을 진단하기 위한 전송 신호를 출력하는 마스터, 상기 마스터에 연결된 전송 라인, 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 연결되는 검사 라인, 및 상기 검사 라인을 통해 상기 마스터에 연결되고, 상기 전송 신호를 수신 신호로서 수신하고, 상기 수신 신호의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티를 카운팅하여 상기 패널부와 상기 입력부 간의 연결 불량을 판단하는 슬레이브를 포함한다.
상기 입력부는, 상기 접속 부재에 연결된 제2 연결 부재, 상기 제2 연결 부재에 연결된 제2 보드부. 및 상기 제2 보드에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고, 상기 신호 제어부는 상기 마스터와 상기 슬레이브를 포함할 수 있다.
상기 슬레이브에 연결되고 상기 제2 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되는 수신 라인을 더 포함하고, 상기 전송 라인은 상기 제2 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되고, 상기 검사 라인은 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 접촉하는 일단 및 상기 접속 부재를 통해 상기 수신 라인에 접촉하는 타단을 포함하고 상기 제1 연결 부재에 위치할 수 있다.
상기 입력부는, 상기 접속 부재에 연결된 제3 연결 부재, 및 상기 제3 연결 부재에 연결된 영상 신호 생성부를 더 포함하고, 상기 패널부는, 상기 제1 보드부에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고, 상기 신호 제어부는 상기 마스터와 상기 슬레이브를 포함할 수 있다.
상기 슬레이브에 연결되고 상기 제1 연결 부재를 따라 연장되는 수신 라인을 더 포함하고, 상기 전송 라인은 상기 제1 연결 부재를 따라 연장되고, 상기 검사 라인은 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 접촉하는 일단 및 상기 접속 부재를 통해 상기 수신 라인에 접촉하는 타단을 포함하고 상기 제3 연결 부재에 위치할 수 있다.
상기 입력부는, 상기 접속 부재에 연결된 제3 연결 부재, 및 상기 제3 연결 부재에 연결된 영상 신호 생성부를 더 포함하고, 상기 패널부는, 상기 제1 보드부에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고, 영상 신호 생성부가 상기 마스터와 상기 슬레이브를 포함할 수 있다.
상기 슬레이브에 연결되고 상기 제3 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되는 수신 라인을 더 포함하고, 상기 전송 라인은 상기 제3 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되고, 상기 검사 라인은 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 접촉하는 제1 검사 라인 및 상기 접속 부재를 통해 상기 수신 라인에 접촉하는 제2 검사 라인을 포함할 수 있다.
상기 신호 제어부는 상기 제1 검사 라인 및 상기 제2 검사 라인에 연결되고, 상기 제1 검사 라인과 상기 제2 검사 라인을 전기적으로 연결시키는 스위칭부를 포함할 수 있다.
상기 스위칭부는, 상기 제1 검사 라인과 상기 제2 검사 라인을 전기적으로 연결시키는 제1 스위치, 상기 제1 검사 라인을 상기 신호 제어부의 입력 단자에 연결시키는 제2 스위치, 및 상기 제2 검사 라인을 상기 신호 제어부의 입력 단자에 연결시키는 제3 스위치를 포함할 수 있다.
상기 제1 스위치는 상기 패널부와 상기 입력부 간의 연결 진단을 수행하는 연결 진단 기간에 턴 온되고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치는 상기 표시부에 영상을 표시하는 정상 구동 기간에 턴 온될 수 있다.
상기 입력부는, 상기 접속 부재에 연결된 제3 연결 부재, 및 상기 제3 연결 부재에 연결된 영상 신호 생성부를 더 포함하고, 상기 패널부는, 상기 제1 보드부에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고, 상기 영상 신호 생성부가 상기 마스터를 포함하고, 상기 신호 제어부가 상기 슬레이브를 포함할 수 있다.
상기 신호 제어부는 상기 검사 라인을 상기 슬레이브에 전기적으로 연결시키는 스위칭부를 더 포함하고, 상기 전송 라인은 상기 제3 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되고, 상기 검사 라인은 상기 제1 연결 부재를 따라 연장되어 상기 스위칭부에 연결될 수 있다.
상기 스위칭부는, 상기 검사 라인과 상기 슬레이브를 전기적으로 연결시키는 제1 스위치, 및 상기 검사 라인을 상기 신호 제어부의 입력 단자에 연결시키는 제2 스위치를 포함할 수 있다.
상기 제1 스위치는 상기 패널부와 상기 입력부 간의 연결 진단을 수행하는 연결 진단 기간에 턴 온되고, 상기 제2 스위치는 상기 표시부에 영상을 표시하는 정상 구동 기간에 턴 온될 수 있다.
상기 마스터는 상기 전송 신호를 복수의 기간으로 분리하여 전송하고, 상기 전송 신호는 상기 복수의 기간마다 서로 다른 주기의 파형으로 출력될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법은 표시부, 상기 표시부에 연결된 제1 보드부 및 상기 제1 보드부에 연결된 제1 연결 부재를 포함하는 패널부와 상기 제1 연결 부재가 부착 가능하도록 구성된 접속 부재를 포함하는 검사부를 연결하는 단계, 상기 제1 연결 부재와 상기 접속 부재 간의 접촉 진단을 위한 전송 신호를 전송 라인에 인가하는 단계, 및 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 연결되는 검사 라인을 통해 상기 전송 신호를 수신 신호로서 수신하고, 상기 수신 신호의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티를 카운팅하여 상기 패널부와 상기 검사부 간의 접촉 불량을 판단하는 단계를 포함한다.
상기 전송 신호를 상기 전송 라인에 인가하는 단계는, 제1 기간 동안 제1 파형의 전송 신호를 출력하는 단계, 및 상기 제1 기간보다 짧은 제2 기간 동안 제2 파형의 전송 신호를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 제2 파형의 전송 신호의 주기는 상기 제1 파형의 전송 신호의 주기보다 짧을 수 있다.
상기 패널부와 상기 검사부 간의 접촉이 정상인 경우 접촉 정상을 지시하는 미리 정해진 영상을 상기 표시부에 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 패널부와 상기 검사부 간의 접촉이 불량인 경우 접촉 불량을 지시하는 미리 정해진 영상을 상기 표시부에 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
패널부와 검사부 간의 접촉 불량이 자가 진단될 수 있고, 이에 따라 표시 패널의 생산 수율이 향상될 수 있다.
또한, 생산된 표시 장치의 패널부와 입력부 간의 연결 오류가 자가 진단될 수 있고, 표시 장치의 고장 여부가 쉽게 파악될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 패널부와 검사부 간의 접촉 진단 또는 패널부와 구동부 간의 연결 진단을 수행하는 방법을 설명하기 위한 파형도를 나타낸다.
도 4는 패널부와 검사부 간의 접촉 진단에 의해 접촉 정상을 나타내는 화면의 일 예를 나타낸다.
도 5는 패널부와 검사부 간의 접촉 진단에 의해 접촉 불량을 나타내는 화면의 일 예를 나타낸다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 9는 도 8의 표시 장치의 스위칭부의 일 예를 나타낸다.
도 10은 도 9의 스위칭부의 동작을 설명하기 위한 파형도를 나타낸다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 12는 도 11의 표시 장치의 스위칭부의 일 예를 나타낸다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 마스터와 슬레이브 간의 채널을 나타낸다.
도 14는 본 발명의 다른 실시예에 따른 마스터와 슬레이브 간의 채널을 나타낸다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
이하, 도 1을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치에 대하여 설명하고, 도 2 내지 도 5를 참조하여 표시 장치의 제조 과정에서 패널부의 검사를 수행하는 방법에 대하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치는 패널부(PN) 및 입력부(INP)를 포함한다.
패널부(PN)는 표시부(100), 제1 보드부(110), 데이터 구동부(115) 및 제1 연결 부재(117)를 포함할 수 있다. 입력부(INP)는 접속 부재(120), 제2 보드부(130), 제2 연결 부재(135), 신호 제어부(140), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다.
표시부(100)는 표시 영역(DA)과 비표시 영역(NDA)을 포함하고, 표시 영역(DA)에는 복수의 화소(PX)가 위치하며, 비표시 영역(NDA)에는 복수의 화소(PX)를 구동하기 위한 복수의 신호 라인(미도시)이 위치할 수 있다.
제1 보드부(110)는 인쇄 회로(printed circuit), 인쇄 배선(printed wiring) 등을 포함할 수 있다. 또한, 제1 보드부(110)는 인쇄 회로 또는 인쇄 배선에 전기적으로 연결되는 기계적 부품 등을 포함할 수 있다. 기계적 부품은 표시부(100)의 구동을 위한 칩(chip), 메모리 등을 포함할 수 있다.
데이터 구동부(115)는 표시부(100)와 제1 보드부(110) 사이에 연결된다. 데이터 구동부(115)는 가요성 인쇄 회로 필름(flexible printed circuit film) 상에 칩 온 필름(chip on film, COF) 방식으로 실장될 수 있다. 가요성 인쇄 회로 필름을 통해 표시부(100)와 제1 보드부(110)가 전기적으로 연결될 수 있다. 데이터 구동부(115)는 복수의 화소(PX)에 인가되는 데이터 전압을 생성할 수 있다.
제1 연결 부재(117)는 제1 보드부(110)를 제2 보드부(130)와 전기적으로 연결하기 위한 복수의 배선이 형성된 케이블을 포함할 수 있다. 제1 연결 부재(117)에 포함된 복수의 배선은 제1 보드부(110)의 인쇄 회로 또는 인쇄 배선에 연결될 수 있다. 제1 연결 부재(117)는 FFC(flexible flat cable)을 포함할 수 있다. 제1 연결 부재(117)는 제1 보드부(110)에 연결되는 일단 및 제1 보드부(110)로부터 일 방향으로 연장된 타단을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 보드부(110)에서 데이터 구동부(115)가 연결된 부분과 다른 부분에 제1 연결 부재(117)가 연결되고, 데이터 구동부(115)가 연장된 방향과 다른 방향으로 제1 연결 부재(117)가 연장될 수 있다.
제1 보드부(110), 데이터 구동부(115)와 제1 연결 부재(117)가 결합된 조립체를 제1 인쇄 보드 조립체(printed board assembly, PBA)라 할 수 있다. 도 1에서는 제1 인쇄 보드 조립체에 포함되는 제1 보드부(110), 데이터 구동부(115) 및 제1 연결 부재(117)가 각각 2개씩인 것으로 예시하였으나, 제1 보드부(110), 데이터 구동부(115) 및 제1 연결 부재(117)의 개수는 제한되지 않는다.
제2 보드부(130)는 인쇄 회로, 인쇄 배선 등을 포함할 수 있다. 또한, 제2 보드부(130)는 인쇄 회로 또는 인쇄 배선에 전기적으로 연결되는 기계적 부품을 포함할 수 있다. 기계적 부품은 표시부(100)의 구동을 위한 칩, 메모리 등을 포함할 수 있다.
제2 연결 부재(135)는 제2 보드부(130)와 접속 부재(120) 사이에 연결되고, 제1 보드부(110)와 제2 보드부(130)를 전기적으로 연결하기 위한 복수의 배선을 포함할 수 있다. 제2 연결 부재(135)의 일단은 제2 보드부(130)에 연결되고 타단은 접속 부재(120)에 연결될 수 있다. 제2 연결 부재(135)에 포함된 복수의 배선의 일단은 제2 보드부(130)의 인쇄 회로 또는 인쇄 배선에 연결되고 타단은 접속 부재(120)에 연결될 수 있다. 제2 연결 부재(135)는 가요성 인쇄 회로(flexible printed circuit, FPC)를 포함할 수 있다.
접속 부재(120)는 제2 연결 부재(135)의 타단에 연결되고, 제1 연결 부재(117)가 탈부착 가능하도록 마련될 수 있다. 접속 부재(120)를 통해 제1 연결 부재(117)와 제2 연결 부재(135)가 접촉하여 연결될 수 있다. 접속 부재(120)를 통해 제1 연결 부재(117)의 복수의 배선과 제2 연결 부재(135)의 복수의 배선이 접촉하여 연결될 수 있다. 즉, 접속 부재(120)는 패널부(PN)와 입력부(INP)를 전기적으로 연결하는 역할을 할 수 있다. 접속 부재(120)는 제1 연결 부재(117)와 제2 연결 부재(135)를 전기적으로 연결하는 커넥터를 포함할 수 있다.
신호 제어부(140)는 영상 신호 생성부(150)로부터 입력되는 영상 신호와 이의 표시를 제어하는 입력 제어 신호를 수신하고, 표시부(100)와 데이터 구동부(115)의 동작 조건에 맞게 영상 신호를 처리한다. 신호 제어부(140)는 영상 데이터 신호를 생성하여 데이터 구동부(115)에 제공할 수 있다. 신호 제어부(140)는 제2 보드부(130) 상에 칩 온 보드(chip on board, COB) 방식으로 실장될 수 있다.
영상 신호 생성부(150)는 제3 연결 부재(155)를 통해 제2 보드부(130)에 전기적으로 연결될 수 있다. 영상 신호 생성부(150)는 영상 신호와 입력 제어 신호를 생성하여 신호 제어부(140)에 제공한다. 제3 연결 부재(155)는 가요성 인쇄 회로 또는 FFC 등을 포함할 수 있다.
제2 보드부(130), 제2 연결 부재(135)와 접속 부재(120)가 결합된 조립체를 제2 인쇄 보드 조립체라 할 수 있다.
신호 제어부(140)는 마스터(141)와 슬레이브(142)를 포함할 수 있다.
마스터(141)는 전송 라인(TXL)에 연결되고, 접촉 진단 또는 연결 진단을 위한 전송 신호(도 3의 TXS 참조)를 전송 라인(TXL)에 인가한다. 전송 라인(TXL)은 마스터(141)로부터 제2 연결 부재(135)로 연장되고, 제2 연결 부재(135)를 통해 접속 부재(120)에 연결될 수 있다. 즉, 제2 연결 부재(135)는 마스터(141)에 연결되는 전송 라인(TXL)을 포함할 수 있다. 도 1에 예시한 바와 같이, 전송 라인(TXL)은 2개의 제2 연결 부재(135) 각각에 포함될 수 있다. 전송 라인(TXL)은 제2 연결 부재(135)에 포함되는 복수의 배선 중 적어도 하나일 수 있다.
슬레이브(142)는 수신 라인(RXL)에 연결되고, 수신 라인(RXL)을 통해 수신 신호(표 1의 RXS 참조)를 수신한다. 수신 라인(RXL)은 슬레이브(142)로부터 제2 연결 부재(135)로 연장되고, 제2 연결 부재(135)를 통해 접속 부재(120)에 연결될 수 있다. 즉, 제2 연결 부재(135)는 슬레이브(142)에 연결되는 수신 라인(RXL)을 포함할 수 있다. 도 1에 예시한 바와 같이, 수신 라인(RXL)은 2개의 제2 연결 부재(135) 각각에 포함될 수 있다. 수신 라인(RXL)은 제2 연결 부재(135)에 포함되는 복수의 배선 중에서 전송 라인(TXL)과 다른 적어도 하나일 수 있다.
제1 연결 부재(117)는 검사 라인(DTL)을 포함할 수 있다. 검사 라인(DTL)은 제1 연결 부재(117)의 타단에 위치하는 일단 및 타단을 포함할 수 있다. 제1 연결 부재(117)가 정확한 위치에서 접속 부재(120)에 연결될 때, 검사 라인(DTL)의 일단은 접속 부재(120)를 통해 전송 라인(TXL)에 접촉되고, 검사 라인(DTL)의 타단은 접속 부재(120)를 통해 수신 라인(RXL)에 접촉될 수 있다. 전송 라인(TXL)에 접촉된 검사 라인(DTL)은 제1 연결 부재(117)를 따라 연장된 후 제1 보드부(110)에서 되돌아 다시 제1 연결 부재(117)를 따라 연장되어 수신 라인(RXL)에 접촉될 수 있다. 검사 라인(DTL)은 전송 라인(TXL)과 수신 라인(RXL)을 전기적으로 서로 연결시킬 수 있다.
패널부(PN)와 입력부(INP)는 접속 부재(120)를 통해 서로 연결되는데, 마스터(141)와 슬레이브(142)는 접속 부재(120)를 통한 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 상태가 정상인지 여부를 진단할 수 있다. 다시 말해, 마스터(141)와 슬레이브(142)는 제1 인쇄 보드 조립체와 제2 인쇄 보드 조립체 간의 연결 진단을 수행할 수 있다. 이에 대해서는 도 6에서 후술한다.
한편, 표시 장치에 제조 과정에서 패널부(PN)의 검사를 위해 패널부(PN)를 구동할 수 있는 검사부(DT)를 패널부(PN)에 연결한다. 검사부(DT)는 표시 장치의 입력부(INP)와 실질적으로 동일한 구조를 포함할 수 있다. 즉, 검사부(DT)는 접속 부재(120), 제2 보드부(130), 제2 연결 부재(135), 신호 제어부(140), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다. 검사부(DT)는 입력부(INP)가 패널부(PN)에 연결되는 방식과 동일한 방식으로 패널부(PN)에 연결된다. 즉, 접속 부재(120)를 통해 패널부(PN)와 검사부(DT)가 서로 연결될 수 있다.
검사부(DT)에 포함된 마스터(141)가 전송 신호(TXS)를 전송 라인(TXL)에 인가하고, 검사부(DT)에 포함된 슬레이브(142)가 수신 라인(RXL)을 통해 수신 신호(RXS)를 수신하여 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉이 정상적으로 이루어졌는지 여부를 진단할 수 있다. 이에 대하여 도 2 내지 도 5에서 후술한다.
이하, 도 2 내지 도 5를 참조하여 표시 장치의 제조 과정에서 패널부(PN)의 검사를 수행하는 방법에 대하여 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 나타내는 흐름도이다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 패널부와 검사부 간의 접촉 진단 또는 패널부와 구동부 간의 연결 진단을 수행하는 방법을 설명하기 위한 파형도를 나타낸다. 도 4는 패널부와 검사부 간의 접촉 진단에 의해 접촉 정상을 나타내는 화면의 일 예를 나타낸다. 도 5는 패널부와 검사부 간의 접촉 진단에 의해 접촉 불량을 나타내는 화면의 일 예를 나타낸다.
도 2를 참조하면, 패널부(PN)와 검사부(DT)를 연결한다(S110). 패널부(PN)의 제1 연결 부재(117)가 검사부(DT)의 접속 부재(120)에 접촉할 수 있도록 패널부(PN)의 위치를 정렬한 후 제1 연결 부재(117)를 접속 부재(120)에 접촉시킬 수 있다. 패널부(PN)의 위치를 정렬하는 방식은 표시 장치의 제조 설비에 따라 육안으로 수행되거나 마커(marker)를 이용한 자동 정렬 또는 메뉴얼 정렬 방식으로 수행될 수 있다.
패널부(PN)와 검사부(DT)가 연결되면, 패널부(PN)의 제1 연결 부재(117)가 접속 부재(120)에 정상적으로 접촉되었는지 여부를 진단하는 접촉 진단이 수행된다(S120). 접촉 진단을 마스터(141)와 슬레이브(142)를 포함하는 신호 제어부(140)에 의해 수행될 수 있다. 마스터(141)는 전송 신호(TXS)를 전송 라인(TXL)에 인가하고, 슬레이브(142)는 수신 신호(RXS)를 수신 라인(RXL)을 통해 수신하며, 마스터(141)가 전송한 전송 신호(TXS)와 슬레이브(142)가 수신한 수신 신호(RXS)가 동일한지 여부로 접촉 진단을 수행할 수 있다. 이에 대하여 도 3을 참조하여 설명한다.
도 3을 참조하면, 패널부(PN)와 검사부(DT)가 연결되면 접촉 진단을 위한 인에이블 신호(DE)가 마스터(141)와 슬레이브(142)에 인가된다. 마스터(141)는 인에이블 신호(DE)가 하이 레벨로 인가되는 제1 내지 제3 기간 동안 미리 정해진 파형의 전송 신호(TXS)를 출력하고, 슬레이브(142)는 제1 내지 제3 기간 동안 수신되는 수신 신호(RXS)가 미리 정해진 파형과 동일한지 여부를 확인한다.
제1 기간과 제2 기간 사이 및 제2 기간과 제3 기간 사이에는 인에이블 신호(DE)가 로우 레벨로 인가되는 분리 기간이 위치할 수 있다. 즉, 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단 또는 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단은 복수의 기간으로 분리되어 진행될 수 있다. 마스터(141)는 전송 신호(TXS)를 복수의 기간으로 분리하여 전송하고, 슬레이브(142)는 수신 신호(RXS)를 복수의 기간으로 분리하여 수신할 수 있다.
제1 내지 제3 기간의 길이는 서로 다를 수 있다. 그리고 제1 내지 제3 기간 동안 출력되는 전송 신호(TXS)의 파형은 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 제1 기간의 길이가 가장 길고 제3 기간의 길이가 가장 짧을 때, 제1 기간에 온 타임 듀티(on time duty)와 오프 타임 듀티(off time duty)가 가장 긴 파형의 전송 신호(TXS)가 출력되고, 제3 기간에 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티가 가장 짧은 파형의 전송 신호(TXS)가 출력될 수 있다. 온 타임 듀티는 전송 신호(TXS)가 하이 레벨로 인가되는 기간이고, 오프 타임 듀티는 전송 신호(TXS)가 로우 레벨로 인가되는 기간일 수 있다.
도 3에 예시한 바와 같이, 제1 기간은 인에이블 신호(DE)가 하이 레벨로 인가되는 32 클록 기간(CK)에 해당하고, 제2 기간은 인에이블 신호(DE)가 하이 레벨로 인가되는 16 클록 기간(CK)에 해당하고, 제3 기간은 인에이블 신호(DE)가 하이 레벨로 인가되는 8 클록 기간(CK)에 해당할 수 있다. 클록 기간(CK)은 신호 제어부(140)가 생성하거나 외부로부터 입력되는 클록 신호의 주기에 대응할 수 있다. 이와 같이, 제2 기간은 제1 기간의 1/2에 해당하고, 제3 기간은 제2 기간의 1/2에 해당할 수 있다.
제1 기간 동안, 전송 신호(TXS)는 16 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티, 4 클록 기간(CK)의 오프 타임 듀티, 4 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티, 4 클록 기간(CK)의 오프 타임 듀티 및 4 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티를 갖는 파형으로 출력될 수 있다. 그리고 제2 기간 동안, 전송 신호(TXS)는 8 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티, 2 클록 기간(CK)의 오프 타임 듀티, 2 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티, 2 클록 기간(CK)의 오프 타임 듀티 및 2 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티를 갖는 파형으로 출력될 수 있다. 그리고 제3 기간 동안, 전송 신호(TXS)는 4 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티, 1 클록 기간(CK)의 오프 타임 듀티, 1 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티, 1 클록 기간(CK)의 오프 타임 듀티 및 1 클록 기간(CK)의 온 타임 듀티를 갖는 파형으로 출력될 수 있다. 이와 같이, 제2 기간 동안 인가되는 전송 신호(TXS)의 파형은 제1 기간 동안 인가된 전송 신호(TXS)보다 주기가 1/2 짧은 파형이고, 제3 기간 동안 인가되는 전송 신호(TXS)의 파형은 제2 기간 동안 인가된 전송 신호(TXS)보다 주기가 1/2 짧은 파형일 수 있다.
상술한 바와 같이, 제1 내지 제3 기간 동안 출력되는 전송 신호(TXS)의 파형을 서로 다르게 함으로써, 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단이 더욱 정확하게 수행될 수 있다. 이에 대하여 표 1을 참조하여 설명한다.
표 1은 마스터(141)가 출력한 전송 신호(TXS)와 슬레이브(142)가 수신한 수신 신호(RXS)의 일 예를 나타낸다.
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슬레이브(142)는 제1 내지 제3 기간 동안 수신한 수신 신호(RXS)의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티를 카운팅한다. 즉, 슬레이브(142)는 수신 신호(RXS)의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티가 얼마의 클록 기간(CK)에 해당하는지 카운팅할 수 있다. 슬레이브(142)는 마스터(141)가 제1 내지 제3 기간 동안 전송한 전송 신호(TXS)의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티와 동일한지 여부를 확인하고, 패널부(PN)의 제1 연결 부재(117)가 접속 부재(120)에 정상적으로 접촉되었는지 판단할 수 있다. 슬레이브(142)는 제1 내지 제3 기간의 진단 결과 중 하나만이라도 에러로 판정되는 경우 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉이 불량이라고 판단할 수 있다.
패널부(PN)의 제1 연결 부재(117)가 정확한 위치에서 접속 부재(120)에 연결되지 않아 검사 라인(DTL)이 전송 라인(TXL) 또는 수신 라인(RXL)에 연결되지 않는 경우 제1 기간의 수신 신호(RXS)가 전송 신호(TXS)와 일치하지 않아 접촉 에러로 판정될 수 있다.
하지만, 패널부(PN)의 제1 연결 부재(117)가 정확한 위치에서 미세하게 벗어난 위치에서 접속 부재(120)에 연결되는 경우, 표 1에서 예시한 바와 같이 제1 기간과 제2 기간에서 접촉 상태가 정상으로 판정될 수 있다. 하지만, 짧은 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티의 전송 신호(TXS)가 출력되는 제3 기간에서는 검사 라인(DTL)이 전송 라인(TXL)과 접촉하는 부분 또는 수신 라인(RXL)과 접촉하는 부분에서의 저항 증가에 의해 수신 신호(RXS)가 전송 신호(TXS)와 다르게 수신되어 접촉 상태가 에러로 판정될 수 있다. 즉, 패널부(PN)의 제1 연결 부재(117)와 접속 부재(120) 간의 미세한 접촉 에러가 검출될 수 있다.
다시 도 2를 참조하면, 접촉 진단의 수행 결과에 따라 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 상태가 정상인지 여부를 판단한다(S130).
패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 상태가 정상인 경우 표시부(100)에 접촉 정상을 지시하는 영상을 표시할 수 있다(S140). 접촉 정상을 지시하는 영상은 도 4에 예시한 바와 같이 미리 정해진 영상일 수 있다. 접촉 정상을 지시하는 영상의 종류는 제한되지 않는다.
패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 상태가 정상인 경우 패널 검사를 진행한다(S150). 표시부(100)에 패널 검사를 위해 미리 정해진 영상을 표시하고, 카메라로 영상을 촬영하거나 육안으로 영상을 검사하여 패널부(PN)가 정상 구동되는지 여부를 확인할 수 있다.
패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 상태가 불량인 경우 표시부(100)에 접촉 에러를 지시하는 영상이 표시될 수 있다(S160). 이때, 접촉 불량을 지시하는 코드가 생성되어 검사부(DT)에 마련되는 메모리에 기록될 수 있다. 접촉 불량을 지시하는 영상은 도 5에 예시한 바와 같이 미리 정해진 영상일 수 있다. 접촉 불량을 지시하는 영상의 종류는 제한되지 않는다.
패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 상태가 불량인 경우 패널부(PN)와 검사부의 접촉을 재시도할 것인지 판단한다(S170). 패널부(PN)와 검사부의 접촉을 재시도하는 경우 패널부(PN)와 검사부(DT)를 연결하는 단계(S110)부터 다시 수행할 수 있다. 패널부(PN)와 검사부의 접촉을 재시도하지 않는 경우 패널 검사 과정을 종료한다.
상술한 바와 같이, 패널부(PN)의 정상 구동 여부를 확인하는 패널 검사 과정에서 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단을 수행함으로써 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 불량과 패널부(PN)의 진성 불량을 구분할 수 있다. 또한, 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 불량에 의해 양품의 패널부(PN)가 불량품으로 판정되는 경우가 발생하지 않도록 할 수 있다.
이하, 도 6을 참조하여 제조 완료된 표시 장치에서 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단을 수행하는 방법에 대하여 설명한다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 6을 참조하면, 표시 장치에 전원이 켜지면(S210), 입력부(INP)는 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단을 수행한다(S220). 연결 진단을 수행하는 방법은 도 2 및 도 3에서 상술한 접촉 진단을 수행하는 방법과 동일한 방법으로 수행될 수 있다. 단지, 입력부(INP)에 속하는 마스터(141)와 슬레이브(142)가 연결 진단을 수행하는 차이가 있을 뿐이며, 이러한 차이점을 제외하고 도 2 및 도 3에서 상술한 특징은 도 6에 적용될 수 있으므로 중복되는 설명은 생략한다.
연결 진단의 수행 결과에 따라 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 상태가 정상인지 여부를 판단한다(S230).
패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 상태가 정상인 경우 표시 장치는 영상을 표시하고 정상 구동하게 된다(S240).
패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 상태가 불량인 경우 표시부(100)에 연결 불량을 지시하는 영상이 표시될 수 있다(S250). 연결 불량을 지시하는 영상은 도 5에 예시한 바와 같이 미리 정해진 영상일 수 있다. 연결 불량을 지시하는 영상의 종류는 제한되지 않는다.
상술한 바와 같이, 생산된 표시 장치의 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 불량이 자기 진단될 수 있고, 이에 따라 표시 장치의 고장 여부가 쉽게 파악될 수 있다.
이하, 도 7 내지 도 12를 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치들에 대하여 설명한다. 도 1과 비교하여 차이점 위주로 설명하고, 중복되는 설명은 생략한다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 7을 참조하면, 신호 제어부(140)가 제1 보드부(110)에 위치하고, 도 1의 제2 보드부(130)가 생략된다. 신호 제어부(140)는 제1 보드부(110) 상에 칩 온 보드(COB) 방식으로 실장될 수 있다. 즉, 패널부(PN)는 표시부(100), 제1 보드부(110), 데이터 구동부(115), 제1 연결 부재(117) 및 신호 제어부(140)를 포함할 수 있다.
영상 신호 생성부(150)에 연결된 제3 연결 부재(155)에 접속 부재(120)가 연결된다. 즉, 입력부(INP)는 접속 부재(120), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다. 또한, 검사부(DT)도 접속 부재(120), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다.
신호 제어부(140)는 마스터(141)와 슬레이브(142)를 포함하고, 마스터(141)에 연결된 전송 라인(TXL)은 마스터(141)로부터 제1 연결 부재(117)로 연장된다. 전송 라인(TXL)의 일단은 마스터(141)의 연결되고 타단은 제1 연결 부재(117)의 타단에 위치할 수 있다. 슬레이브(142)에 연결된 수신 라인(RXL)은 슬레이브(142)로부터 제1 연결 부재(117)로 연장된다. 수신 라인(RXL)의 일단은 슬레이브(142)에 연결되고 타단은 제1 연결 부재(117)의 타단에 위치할 수 있다.
제3 연결 부재(155)의 일단은 영상 신호 생성부(150)에 연결되고 타단은 접속 부재(120)에 연결된다. 제3 연결 부재(155)는 검사 라인(DTL)을 포함할 수 있다. 검사 라인(DTL)은 일단과 타단은 접속 부재(120)에 연결되고, 제1 연결 부재(117)가 정확한 위치에서 접속 부재(120)에 연결될 때, 검사 라인(DTL)의 일단은 접속 부재(120)를 통해 전송 라인(TXL)에 접촉되고, 검사 라인(DTL)의 타단을 접속 부재(120)를 통해 수신 라인(RXL)에 접촉될 수 있다. 전송 라인(TXL)에 접촉된 검사 라인(DTL)은 제3 연결 부재(155)를 따라 연장된 후 영상 신호 생성부(150)에서 되돌아 다시 제3 연결 부재(155)를 따라 연장되어 수신 라인(RXL)에 접촉될 수 있다.
이러한 차이점을 제외하고, 앞서 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명한 실시예의 특징들은 도 7을 참조로 설명한 실시예에 모두 적용될 수 있으므로, 실시예들 간에 중복되는 설명은 생략한다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다. 도 9는 도 8의 표시 장치의 스위칭부의 일 예를 나타낸다. 도 10은 도 9의 스위칭부의 동작을 설명하기 위한 파형도를 나타낸다.
도 8 내지 도 10을 참조하면, 신호 제어부(140)가 제1 보드부(110)에 위치하고, 도 1의 제2 보드부(130)와 제2 연결 부재(135)가 생략된다. 신호 제어부(140)는 제1 보드부(110) 상에 칩 온 보드(COB) 방식으로 실장될 수 있다. 패널부(PN)는 표시부(100), 제1 보드부(110), 데이터 구동부(115), 제1 연결 부재(117) 및 신호 제어부(140)를 포함할 수 있다.
영상 신호 생성부(150)에 연결된 제3 연결 부재(155)에 접속 부재(120)가 연결된다. 입력부(INP)는 접속 부재(120), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다. 또한, 검사부(DT)도 접속 부재(120), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다.
영상 신호 생성부(150)가 마스터(141)와 슬레이브(142)를 포함한다. 마스터(141)에 연결된 전송 라인(TXL)은 마스터(141)로부터 제3 연결 부재(155)로 연장된다. 전송 라인(TXL)의 일단은 마스터(141)의 연결되고 타단은 접속 부재(120)에 연결될 수 있다. 슬레이브(142)에 연결된 수신 라인(RXL)은 슬레이브(142)로부터 제3 연결 부재(155)로 연장된다. 수신 라인(RXL)의 일단은 슬레이브(142)에 연결되고 타단은 접속 부재(120)에 연결될 수 있다.
신호 제어부(140)는 스위칭부(145)를 포함할 수 있다. 제1 검사 라인(DTL1)은 제1 연결 부재(117)의 타단에 위치하는 일단 및 스위칭부(145)에 연결되는 타단을 포함할 수 있다. 제2 검사 라인(DTL2)은 제1 연결 부재(117)의 타단에 위치하는 일단 및 스위칭부(145)에 연결되는 타단을 포함할 수 있다. 제1 연결 부재(117)가 정확한 위치에서 접속 부재(120)에 연결될 때, 제1 검사 라인(DTL1)의 일단은 접속 부재(120)를 통해 전송 라인(TXL)에 접촉되고, 제2 검사 라인(DTL2)의 일단은 접속 부재(120)를 통해 수신 라인(RXL)에 접촉될 수 있다. 제1 검사 라인(DTL1)과 제2 검사 라인(DTL2)은 제1 연결 부재(117)를 따라 연장되고, 스위칭부(145)를 통해 서로 연결될 수 있다.
스위칭부(145)는 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단 또는 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단을 수행할 때 제1 검사 라인(DTL1)과 제2 검사 라인(DTL2)을 서로 연결시킬 수 있다. 그리고 스위칭부(145)는 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단 또는 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단이 수행된 후 표시부(100)에 영상을 표시하는 정상 구동시에 제1 검사 라인(DTL1)과 제2 검사 라인(DTL2)을 서로 분리시킬 수 있다. 스위칭부(145)의 동작은 신호 제어부(140)에 의해 제어될 수 있다.
도 9에 예시한 바와 같이, 스위칭부(145)는 제1 스위치(SW1), 제2 스위치(SW2) 및 제3 스위치(SW3)를 포함할 수 있다.
제1 스위치(SW1)는 접촉 검사 신호(CDS)가 인가되는 게이트 전극, 제1 검사 라인(DTL1)에 연결된 제1 전극 및 제2 검사 라인(DTL2)에 연결된 제2 전극을 포함한다. 제1 스위치(SW1)는 접촉 검사 신호(CDS)에 의해 턴 온되어 제1 검사 라인(DTL1)과 제2 검사 라인(DTL2)을 전기적으로 연결시킬 수 있다.
제2 스위치(SW2)는 정상 구동 신호(NDS)가 인가되는 게이트 전극, 제1 검사 라인(DTL1)에 연결된 제1 전극 및 입력단(IN)에 연결된 제2 전극을 포함한다. 제2 스위치(SW2)에 연결된 입력단(IN)은 영상 신호 생성부(150)로부터 신호 제어부(140)로 전달되는 영상 신호와 입력 제어 신호가 입력되는 복수의 입력 단자 중 하나일 수 있다.
제3 스위치(SW3)는 정상 구동 신호(NDS)가 인가되는 게이트 전극, 제2 검사 라인(DTL2)에 연결된 제1 전극 및 입력단(IN)에 연결된 제2 전극을 포함한다. 제3 스위치(SW3)에 연결된 입력단(IN)은 영상 신호 생성부(150)로부터 신호 제어부(140)로 전달되는 영상 신호와 입력 제어 신호가 입력되는 복수의 입력 단자 중 다른 하나일 수 있다.
제1 스위치(SW1), 제2 스위치(SW2) 및 제3 스위치(SW3)는 n-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다. n-채널 전계 효과 트랜지스터를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 하이 레벨 전압이고 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 로우 레벨 전압이다. 도 9에서 예시한 바와 달리, 제1 스위치(SW1), 제2 스위치(SW2) 및 제3 스위치(SW3) 중 적어도 하나는 p-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다. p-채널 전계 효과 트랜지스터를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 로우 레벨 전압이고 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 하이 레벨 전압이다.
도 10에 예시한 바와 같이, 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단 또는 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단을 수행하는 접촉 진단 기간(또는 연결 진단 기간)(T1)에 접촉 검사 신호(CDS)는 게이트 온 전압으로 출력되고, 정상 구동 신호(NDS)는 게이트 오프 전압으로 출력된다. 이에 따라, 제1 스위치(SW1)가 턴 온되어 제1 검사 라인(DTL1)과 제2 검사 라인(DTL2)이 전기적으로 연결된다. 제1 검사 라인(DTL1)과 제2 검사 라인(DTL2)이 전기적으로 연결됨에 따라 마스터(141)에서 인가한 전송 신호(TXS)는 전송 라인(TXL), 접속 부재(120), 제1 검사 라인(DTL1), 제1 스위치(SW1), 제2 검사 라인(DTL2), 접속 부재(120), 수신 라인(RXL)을 통해 수신 신호(RXS)로서 슬레이브(142)에 수신될 수 있다. 이때, 제2 스위치(SW2)와 제3 스위치(SW3)는 턴 오프된 상태이고, 제2 스위치(SW2)와 제3 스위치(SW3)는 전송 신호(TXS)가 영상 신호나 입력 제어 신호로서 신호 제어부(140)에 전달되지 않도록 차단할 수 있다.
연결 진단 또는 접촉 진단을 수행하는 기간(T1) 이후, 정상 구동 기간(T2)에 접촉 검사 신호(CDS)는 게이트 오프 전압으로 출력되고, 정상 구동 신호(NDS)는 게이트 온 전압으로 출력된다. 이에 따라, 제1 스위치(SW1)는 턴 오프되고, 제2 스위치(SW2)와 제3 스위치(SW3)가 턴 온된다. 영상 신호 생성부(150)는 제2 스위치(SW2)와 제3 스위치(SW3)를 통해 신호 제어부(140)에 영상 신호나 입력 제어 신호를 전달할 수 있다.
이러한 차이점을 제외하고, 앞서 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명한 실시예의 특징들은 도 8 내지 도 10을 참조로 설명한 실시예에 모두 적용될 수 있으므로, 실시예들 간에 중복되는 설명은 생략한다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다. 도 12는 도 11의 표시 장치의 스위칭부의 일 예를 나타낸다.
도 11 및 도 12를 참조하면, 신호 제어부(140)가 제1 보드부(110)에 위치하고, 도 1의 제2 보드부(130)와 제2 연결 부재(135)가 생략된다. 신호 제어부(140)는 제1 보드부(110) 상에 칩 온 보드(COB) 방식으로 실장될 수 있다. 패널부(PN)는 표시부(100), 제1 보드부(110), 데이터 구동부(115), 제1 연결 부재(117) 및 신호 제어부(140)를 포함할 수 있다.
영상 신호 생성부(150)에 연결된 제3 연결 부재(155)에 접속 부재(120)가 연결된다. 즉, 입력부(INP)는 접속 부재(120), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다. 또한, 검사부(DT)도 접속 부재(120), 영상 신호 생성부(150) 및 제3 연결 부재(155)를 포함할 수 있다.
영상 신호 생성부(150)가 마스터(141)를 포함하고, 신호 제어부(140)가 슬레이브(142)를 포함한다. 그리고 신호 제어부(140)는 스위칭부(147)를 더 포함한다. 마스터(141)에 연결된 전송 라인(TXL)은 마스터(141)로부터 제3 연결 부재(155)로 연장된다. 전송 라인(TXL)의 일단은 마스터(141)의 연결되고 타단은 접속 부재(120)에 연결될 수 있다. 검사 라인(DTL)은 제1 연결 부재(117)의 타단에 위치하는 일단 및 스위칭부(147)에 연결되는 타단을 포함할 수 있다. 검사 라인(DTL)은 제1 연결 부재(117)를 따라 연장되고, 스위칭부(147)를 통해 슬레이브(142)에 연결될 수 있다. 제1 연결 부재(117)가 정확한 위치에서 접속 부재(120)에 연결될 때, 검사 라인(DTL)의 일단은 접속 부재(120)를 통해 전송 라인(TXL)에 접촉될 수 있다.
스위칭부(147)는 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단 또는 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단을 수행할 때 검사 라인(DTL)을 슬레이브(142)에 연결시킬 수 있다. 그리고 스위칭부(147)는 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단 또는 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단이 수행된 후 표시부(100)에 영상을 표시하는 정상 구동시에 검사 라인(DTL)을 슬레이브(142)로부터 분리시킬 수 있다. 스위칭부(147)의 동작은 신호 제어부(140)에 의해 제어될 수 있다.
도 12에 예시한 바와 같이, 스위칭부(147)는 제1 스위치(SW11) 및 제2 스위치(SW12)를 포함할 수 있다.
제1 스위치(SW11)는 접촉 검사 신호(CDS)가 인가되는 게이트 전극, 검사 라인(DTL)에 연결된 제1 전극 및 슬레이브(142)에 연결된 제2 전극을 포함한다. 제1 스위치(SW1)는 접촉 검사 신호(CDS)에 의해 턴 온되어 검사 라인(DTL)과 슬레이브(142)를 전기적으로 연결시킬 수 있다.
제2 스위치(SW12)는 정상 구동 신호(NDS)가 인가되는 게이트 전극, 검사 라인(DTL)에 연결된 제1 전극 및 입력단(IN)에 연결된 제2 전극을 포함한다. 제2 스위치(SW12)에 연결된 입력단(IN)은 영상 신호 생성부(150)로부터 신호 제어부(140)로 전달되는 영상 신호와 입력 제어 신호가 입력되는 복수의 단자 중 하나일 수 있다.
제1 스위치(SW11)와 제2 스위치(SW12)는 n-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다. 도 12에서 예시한 바와 달리, 제1 스위치(SW11)와 제2 스위치(SW12) 중 적어도 하나는 p-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다.
스위칭부(147)를 제어하는 접촉 검사 신호(CDS)와 정상 구동 신호(NDS)는 도 10에서 예시한 바와 같이 인가될 수 있다. 패널부(PN)와 입력부(INP) 간의 연결 진단 또는 패널부(PN)와 검사부(DT) 간의 접촉 진단을 수행하는 기간(T1)에 접촉 검사 신호(CDS)는 게이트 온 전압으로 출력되고, 정상 구동 신호(NDS)는 게이트 오프 전압으로 출력된다. 이에 따라, 제1 스위치(SW11)가 턴 온되어 검사 라인(DTL)과 슬레이브(142)가 전기적으로 연결된다. 검사 라인(DTL)이 슬레이브(142)에 연결됨에 따라 마스터(141)에서 인가한 전송 신호(TXS)는 전송 라인(TXL), 접속 부재(120), 검사 라인(DTL) 및 제1 스위치(SW11)를 통해 수신 신호(RXS)로서 슬레이브(142)에 수신될 수 있다. 이때, 제2 스위치(SW12)는 턴 오프된 상태이고, 제2 스위치(SW12)는 전송 신호(TXS)가 영상 신호나 입력 제어 신호로서 신호 제어부(140)에 전달되지 않도록 차단할 수 있다.
연결 진단 또는 접촉 진단을 수행하는 기간(T1) 이후, 정상 구동 기간(T2)에 접촉 검사 신호(CDS)는 게이트 오프 전압으로 출력되고, 정상 구동 신호(NDS)는 게이트 온 전압으로 출력된다. 이에 따라, 제1 스위치(SW11)는 턴 오프되고, 제2 스위치(SW12)가 턴 온된다. 영상 신호 생성부(150)는 제2 스위치(SW12)를 통해 신호 제어부(140)에 영상 신호나 입력 제어 신호를 전달할 수 있다.
이러한 차이점을 제외하고, 앞서 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명한 실시예의 특징들은 도 11 및 도 12를 참조로 설명한 실시예에 모두 적용될 수 있으므로, 실시예들 간에 중복되는 설명은 생략한다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 마스터와 슬레이브 간의 채널을 나타낸다.
도 13을 참조하면, 마스터(141)는 복수의 마스터 블럭(MST1, MST2, MST3, ..., MSTn)을 포함하고, 슬레이브(142)는 복수의 마스터 블럭(MST1, MST2, MST3, ..., MSTn)에 대응하는 복수의 슬레이브 블럭(SLV1, SLV2, SLV3, ..., SLVn)을 포함할 수 있다. 복수의 마스터 블럭(MST1, MST2, MST3, ..., MSTn)과 복수의 슬레이브 블럭(SLV1, SLV2, SLV3, ..., SLVn)은 복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn)을 통해 각각 연결될 수 있다.
복수의 마스터 블럭(MST1, MST2, MST3, ..., MSTn) 각각은 도 1, 도 7, 도 8 및 도 11에서 상술한 마스터(141)와 동일한 기능을 수행할 수 있다. 그리고 복수의 슬레이브 블럭(SLV1, SLV2, SLV3, ..., SLVn) 각각은 도 1, 도 7, 도 8 및 도 11에서 상술한 슬레이브(142)와 동일한 기능을 수행할 수 있다.
복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn)은 복수의 마스터 블럭(MST1, MST2, MST3, ..., MSTn)과 복수의 슬레이브 블럭(SLV1, SLV2, SLV3, ..., SLVn)이 연결되는 경로를 의미한다. 예를 들어, 복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn) 각각은 도 1 및 도 7에서 상술한 마스터(141)와 슬레이브(142)가 전기적으로 연결되는 경로인 전송 라인(TXL), 검사 라인(DTL) 및 수신 라인(RXL)에 대응될 수 있다. 또는 복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn) 각각은 도 8에서 상술한 마스터(141)와 슬레이브(142)가 전기적으로 연결되는 경로인 전송 라인(TXL), 제1 검사 라인(DTL1), 제2 검사 라인(DTL2) 및 수신 라인(RXL)에 대응될 수 있다. 또는 복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn) 각각은 도 11에서 상술한 마스터(141)와 슬레이브(142)가 전기적으로 연결되는 경로인 전송 라인(TXL)과 검사 라인(DTL)에 대응될 수 있다.
즉, 도 1, 도 7, 도 8 및 도 11에서 상술한 마스터(141)와 슬레이브(142)는 복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn)을 통해 서로 연결될 수 있고, 마스터(141)와 슬레이브(142)는 복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn)에 대한 접촉 진단 또는 연결 진달을 수행할 수 있다.
도 14는 본 발명의 다른 실시예에 따른 마스터와 슬레이브 간의 채널을 나타낸다. 도 13과 비교하여 차이점 위주로 설명하고, 중복되는 설명은 생략한다.
도 14를 참조하면, 마스터(141)와 슬레이브(142) 간에 형성될 수 있는 복수의 채널(CH1, CH2, CH3, ..., CHn) 중에서 마스터(141)는 특정 채널(CH1, CHn)에 대응하는 마스터 블럭(MST1, MST2)을 포함하고, 슬레이브(142)는 특정 채널(CH1, CHn)에 대응하는 슬레이브 블럭(SLV1, SLV2)을 포함할 수 있다. 특정 채널(CH1, CHn)은 제1 연결 부재(117)에 포함된 복수의 배선 중에서 접속 부재(120)와의 접촉에 취약한 배선, 또는 접촉 진단이나 연결 진단을 수행하기에 유리한 배선에 해당할 수 있다. 예를 들어, 특정 채널(CH1, CHn)은 제1 연결 부재(117)를 따라 연장되는 복수의 배선 중에서 가장 바깥쪽에 위치하는 배선에 해당할 수 있다.
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100: 표시부
110: 제1 보드부
120: 접속 부재
130: 제2 보드부;
140: 신호 제어부
141: 마스터
142: 슬레이브
150: 영상 신호 생성부

Claims (20)

  1. 영상을 표시할 수 있는 복수의 화소를 포함하는 표시부, 상기 표시부에 연결된 제1 보드부 및 상기 제1 보드부에 연결된 제1 연결 부재를 포함하는 패널부;
    상기 제1 연결 부재가 부착 가능하도록 구성된 접속 부재를 포함하고, 상기 패널부에 영상 신호를 제공하는 입력부;
    상기 제1 연결 부재와 상기 접속 부재의 전기적 연결을 진단하기 위한 전송 신호를 출력하는 마스터;
    상기 마스터에 연결된 전송 라인;
    상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 연결되는 검사 라인; 및
    상기 검사 라인을 통해 상기 마스터에 연결되고, 상기 전송 신호를 수신 신호로서 수신하고, 상기 수신 신호의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티를 카운팅하여 상기 패널부와 상기 입력부 간의 연결 불량을 판단하는 슬레이브를 포함하고,
    상기 제1 연결 부재는 상기 제1 보드부에 연결된 일단 및 상기 접속 부재에 연결된 타단을 포함하는
    표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 입력부는,
    상기 접속 부재에 연결된 제2 연결 부재;
    상기 제2 연결 부재에 연결된 제2 보드부; 및
    상기 제2 보드에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고,
    상기 신호 제어부는 상기 마스터와 상기 슬레이브를 포함하고,
    상기 제2 연결 부재는, 상기 제2 보드부에 연결된 일단 및 상기 제2 보드부로부터 돌출된 방향으로 연장된 타단을 포함하고,
    상기 제2 연결 부재의 상기 타단은 상기 접속 부재에 연결된
    표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 슬레이브에 연결되고 상기 제2 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되는 수신 라인을 더 포함하고,
    상기 전송 라인은 상기 제2 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되고, 상기 검사 라인은 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 접촉하는 일단 및 상기 접속 부재를 통해 상기 수신 라인에 접촉하는 타단을 포함하고 상기 제1 연결 부재에 위치하는 표시 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 입력부는,
    상기 접속 부재에 연결된 제3 연결 부재; 및
    상기 제3 연결 부재에 연결된 영상 신호 생성부를 더 포함하고,
    상기 패널부는,
    상기 제1 보드부에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고,
    상기 신호 제어부는 상기 마스터와 상기 슬레이브를 포함하는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 슬레이브에 연결되고 상기 제1 연결 부재를 따라 연장되는 수신 라인을 더 포함하고,
    상기 전송 라인은 상기 제1 연결 부재를 따라 연장되고, 상기 검사 라인은 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 접촉하는 일단 및 상기 접속 부재를 통해 상기 수신 라인에 접촉하는 타단을 포함하고 상기 제3 연결 부재에 위치하는 표시 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 입력부는,
    상기 접속 부재에 연결된 제3 연결 부재; 및
    상기 제3 연결 부재에 연결된 영상 신호 생성부를 더 포함하고,
    상기 패널부는,
    상기 제1 보드부에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고,
    영상 신호 생성부가 상기 마스터와 상기 슬레이브를 포함하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 슬레이브에 연결되고 상기 제3 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되는 수신 라인을 더 포함하고,
    상기 전송 라인은 상기 제3 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되고,
    상기 검사 라인은 상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 접촉하는 제1 검사 라인 및 상기 접속 부재를 통해 상기 수신 라인에 접촉하는 제2 검사 라인을 포함하는 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 신호 제어부는 상기 제1 검사 라인 및 상기 제2 검사 라인에 연결되고, 상기 제1 검사 라인과 상기 제2 검사 라인을 전기적으로 연결시키는 스위칭부를 포함하는 표시 장치.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 스위칭부는,
    상기 제1 검사 라인과 상기 제2 검사 라인을 전기적으로 연결시키는 제1 스위치;
    상기 제1 검사 라인을 상기 신호 제어부의 입력 단자에 연결시키는 제2 스위치; 및
    상기 제2 검사 라인을 상기 신호 제어부의 입력 단자에 연결시키는 제3 스위치를 포함하는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 스위치는 상기 패널부와 상기 입력부 간의 연결 진단을 수행하는 연결 진단 기간에 턴 온되고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치는 상기 표시부에 영상을 표시하는 정상 구동 기간에 턴 온되는 표시 장치.
  11. 제1 항에 있어서,
    상기 입력부는,
    상기 접속 부재에 연결된 제3 연결 부재; 및
    상기 제3 연결 부재에 연결된 영상 신호 생성부를 더 포함하고,
    상기 패널부는,
    상기 제1 보드부에 위치하는 신호 제어부를 더 포함하고,
    상기 영상 신호 생성부가 상기 마스터를 포함하고, 상기 신호 제어부가 상기 슬레이브를 포함하는 표시 장치.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 신호 제어부는 상기 검사 라인을 상기 슬레이브에 전기적으로 연결시키는 스위칭부를 더 포함하고,
    상기 전송 라인은 상기 제3 연결 부재를 따라 연장되어 상기 접속 부재에 연결되고, 상기 검사 라인은 상기 제1 연결 부재를 따라 연장되어 상기 스위칭부에 연결되는 표시 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 스위칭부는,
    상기 검사 라인과 상기 슬레이브를 전기적으로 연결시키는 제1 스위치; 및
    상기 검사 라인을 상기 신호 제어부의 입력 단자에 연결시키는 제2 스위치를 포함하는 표시 장치.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 제1 스위치는 상기 패널부와 상기 입력부 간의 연결 진단을 수행하는 연결 진단 기간에 턴 온되고, 상기 제2 스위치는 상기 표시부에 영상을 표시하는 정상 구동 기간에 턴 온되는 표시 장치.
  15. 제1 항에 있어서,
    상기 마스터는 상기 전송 신호를 복수의 기간으로 분리하여 전송하고, 상기 전송 신호는 상기 복수의 기간마다 서로 다른 주기의 파형으로 출력되는 표시 장치.
  16. 영상을 표시할 수 있는 복수의 화소를 포함하는 표시부, 상기 표시부에 연결된 제1 보드부 및 상기 제1 보드부에 연결된 제1 연결 부재를 포함하는 패널부와 상기 제1 연결 부재가 부착 가능하도록 구성된 접속 부재를 포함하는 검사부를 연결하는 단계;
    상기 제1 연결 부재와 상기 접속 부재 간의 접촉 진단을 위한 전송 신호를 전송 라인에 인가하는 단계; 및
    상기 접속 부재를 통해 상기 전송 라인에 연결되는 검사 라인을 통해 상기 전송 신호를 수신 신호로서 수신하고, 상기 수신 신호의 온 타임 듀티와 오프 타임 듀티를 카운팅하여 상기 패널부와 상기 검사부 간의 접촉 불량을 판단하는 단계를 포함하고,
    상기 제1 연결 부재는 상기 제1 보드부에 연결된 일단 및 상기 접속 부재에 연결된 타단을 포함하는
    표시 장치의 검사 방법.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 전송 신호를 상기 전송 라인에 인가하는 단계는,
    제1 기간 동안 제1 파형의 전송 신호를 출력하는 단계; 및
    상기 제1 기간보다 짧은 제2 기간 동안 제2 파형의 전송 신호를 출력하는 단계를 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 제2 파형의 전송 신호의 주기는 상기 제1 파형의 전송 신호의 주기보다 짧은 표시 장치의 검사 방법.
  19. 제16 항에 있어서,
    상기 패널부와 상기 검사부 간의 접촉이 정상인 경우 접촉 정상을 지시하는 미리 정해진 영상을 상기 표시부에 표시하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  20. 제16 항에 있어서,
    상기 패널부와 상기 검사부 간의 접촉이 불량인 경우 접촉 불량을 지시하는 미리 정해진 영상을 상기 표시부에 표시하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
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