CN101572045B - 一种平面显示器及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明适用于显示器领域，提供了一种平面显示器及其测试方法。其中，平面显示器的晶片放置区设置两组数据衬垫。晶片放置区中还形成数个测试开关单元，每一测试开关单元的控制端耦接测试开关控制信号输入衬垫，部分测试开关单元的第一端和第二端分别耦接于第一组数据衬垫和第一测试衬垫，另一部分测试开关单元的第一端和第二端分别耦接于第二组数据衬垫和第二测试衬垫。在驱动晶片置入晶片放置区后，提供测试开关控制信号予测试开关控制信号输入衬垫并测量第一和第二测试衬垫是否导通以决定驱动晶片接脚间有无短路。本发明实现了在量产液晶显示器的过程中尤其在形成信号导线的制程时马上进行修补或是汰换，以免流入下一个制程。
Description
技术领域
本发明属于显示器领域，尤其涉及一种平面显示器及其测试方法。
背景技术
功能先进的显示器渐成为现今消费电子产品的重要特色，其中液晶显示器已经逐渐成为各种电子设备如行动电话、个人数码助理(PDA)、数码相机、电脑荧幕或笔记型电脑荧幕所广泛应用具有高解析度彩色荧幕的显示器。
请参阅图1，图1是现有技术液晶显示器10的示意图。液晶显示器10包括一玻璃基板12、多个源极驱动晶片16、多个闸极驱动晶片18以及一液晶显示区20。源极驱动晶片16、闸极驱动晶片18以及液晶显示区20都设置于玻璃基板12上，印刷电路板22上设置时脉控制晶片14。多个源极驱动晶片16串接(cascade connection)。时脉控制晶片14产生的时钟脉冲信号传送至多个闸极驱动晶片18时，多个闸极驱动晶片18会产生扫描信号至液晶显示区20，此时，时脉控制晶片14则会发送时钟脉冲信号给源极驱动晶片16，而源极驱动晶片16就会接收时脉控制晶片14传送的数字数据信号，并将时钟脉冲信号传至下一级的源极驱动晶片16。同样的方法直到时钟脉冲信号传送至最后一级源极驱动晶片16。当液晶显示区20接收到扫描信号时，就会依据源极驱动晶片16的数字数据信号显示影像。
在制造液晶显示器的过程中，基板与驱动晶片的连接方式分为以下数种：卷带式晶粒自动粘合技术(Tape Automated Bonding，TAB)、晶粒软板粘合技术(Chip on Film，COF)、晶粒玻璃粘合技术(Chip on Glass，COG)。卷带式晶粒自动粘合技术与晶粒软板粘合技术都是将驱动晶片粘合在软板上，软板再粘合至玻璃基板。而晶粒玻璃粘合技术则是直接将驱动晶片粘合在玻璃基板上。
请参阅图2，图2是现有技术的闸极驱动晶片16的接脚(bump)32压合于玻璃基板12对应的衬垫(pad)34时的示意图。晶粒玻璃粘合技术是利用异向性导电膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)36将闸极驱动晶片16或是源极驱动晶片18(在图2中仅用闸极驱动晶片16表示)粘合于玻璃基板12上。如图2所示，当驱动晶片16的接脚32插入玻璃基板12对应的衬垫34并压合时，会夹破ACF 36的导电粒子，导致接脚32和衬垫34透过导电粒子36a-36c电性导通。多余的导电粒子36d则有可能被挤压聚集于两接脚32(或两衬垫34)中的间隙，使得两接脚32(或两衬垫34)横向间发生短路。
在驱动晶片16压合于玻璃基板12之后，为了避免不必要的短路，现行主要是以显微镜观察ACF 36导电粒子的压合状态与接脚32和衬垫34之间的导电粒子个数来判定。至于两接脚32(或两衬垫34)之间是否形成横向导通(短路)则难以判定。由于粘合驱动晶片后，若是发现驱动晶片接脚32的信号连接有问题，则必须适时将这些不良品取出。如果能在量产液晶显示器的过程中，尤其在形成信号导线的制程时，能增加一道用来快速地检测信号导线是否正常连接的检测程序，则一旦发现驱动晶片无法正常发送信号或短路的时候，则可以马上修补或是汰换，以免流入下一个制程。
发明内容
本发明实施例目的在于提供一种平面显示器方法，旨在解决现有技术在量产液晶显示器过程中不良品不能马上修补或汰换而流入下一个制程的问题。
本发明实施例是这样实现的，一种平面显示器之测试方法，包括以下步骤：(a)形成一晶片放置区于一玻璃基板上，所述晶片放置区包括多个数据衬垫，所述等数据衬垫包括一第一组数据衬垫以及一第二组数据衬垫，其中相邻的两个数据衬垫分别属于所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫；(b)形成一测试开关控制信号输入衬垫、一第一测试衬垫以及一第二测试衬垫于所述玻璃基板上；(c)于所述晶片放置区之中形成多个测试开关单元，且每一测试开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，其中每一测试开关单元的所述控制端耦接于所述测试开关控制信号输入衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第一组数据衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第一测试衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第二组数据衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第二测试衬垫；(d)在晶片放置区上贴异向性导电膜，将驱动晶片的接脚置入对应晶片放置区上的数据衬垫而将一驱动晶片放置于所述晶片放置区内；(e)当一测试开关控制信号输入所述测试开关控制信号输入衬垫时，测量所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫的电性参数值；(f)当所述电性参数值表示所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫电性导通时，重新将所述驱动晶片放置于所述晶片放置区内。
更具体地，每一测试开关单元为一电晶体，所述第一端为所述电晶体的汲极，所述第二端为所述电晶体的源极，所述控制端所述电晶体的闸极。
更具体地，所述驱动晶片为一闸极驱动晶片，用于产生扫瞄信号，或者，所述驱动晶片为一源极驱动晶片，用于产生一数据信号。
本发明实施例的另一目的在于提供一种平面显示器，其包括一玻璃基板、一晶片放置区、一驱动晶片、一测试开关控制信号输入衬垫、一第一测试衬垫和一第二测试衬垫以及多个测试开关单元。所述晶片放置区形成于所述玻璃基板上，所述晶片放置区包括多个数据衬垫，所述多个数据衬垫包括一第一组数据衬垫以及一第二组数据衬垫，相邻的两个数据衬垫分别属于所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫。所述驱动晶片，在晶片放置区上贴异向性导电膜，将驱动晶片的接脚置入对应晶片放置区上的数据衬垫而将该驱动晶片放置于所述晶片放置区上。所述测试开关控制信号输入衬垫，用于接收一测试开关控制信号。所述第一测试衬垫和所述第二测试衬垫用于所述测试开关控制信号输入时，测量电性参数值。每一测试开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，每一测试开关单元的所述控制端耦接于所述测试开关控制信号输入衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第一组数据衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第一测试衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第二组数据衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第二测试衬垫；当所述电性参数值表示所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫电性导通时，重新将所述驱动晶片放置于所述晶片放置区内。
更具体地，每一测试开关单元为一电晶体。所述第一端为所述电晶体的汲极，所述第二端为所述电晶体的源极，所述控制端为所述电晶体之闸极。
更具体地，所述驱动晶片为一闸极驱动晶片，用于产生扫瞄信号，或者，所述驱动晶片为一源极驱动晶片，用于产生数据信号。
在本发明的一个实施例中，所述第一测试衬垫以及对应于所述第一组数据衬垫的所述测试开关单元设置于所述玻璃基板上。而且所述第二测试衬垫以及对应于所述第二组数据衬垫的所述测试开关单元也设置于所述玻璃基板上。
在本发明另一实施例中，所述第一测试衬垫以及对应于所述第一组数据衬垫的所述测试开关单元设置于所述玻璃基板上。而所述第二测试衬垫以及对应于所述第二组数据衬垫的所述测试开关单元设置于所述驱动晶片上。
本发明通过采用多个测试开关单元以及两个测试衬垫，并将COG数据衬垫依据奇、偶数分成两组数据衬垫，每一数据衬垫则耦接到一测试开关单元，而每一组数据衬垫则分别耦接到一测试衬垫。通过对两个测试衬垫电性测量判断是否断路，并根据结果确认COG数据衬垫间是否发生横向导通。实现了在量产液晶显示器的过程中，尤其在形成信号导线的制程时，增加一道快速地检测信号导线是否正常连接的检测程序，一旦发现驱动晶片无法正常发送信号或短路的时候，则可以马上修补或是汰换，以免流入下一个制程。
附图说明
图1是现有技术提供的液晶显示器的示意图；
图2是现有技术提供的闸极驱动晶片的接脚压合于玻璃基板对应的衬垫时的示意图；
图3是本发明一个实施例提供的平面显示器的玻璃基板在安装驱动晶片前的示意图；
图4是本发明实施例提供的驱动晶片和软性电路板安装于玻璃基板后的示意图；
图5是本发明实施例提供的检测平面显示器的方法流程图；
图6是本发明另一实施例提供的平面显示器的玻璃基板在安装驱动晶片前的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
在本发明实施例中，通过采用多个测试开关单元以及两个测试衬垫，并将COG数据衬垫依据奇、偶数分成两组数据衬垫，每一数据衬垫则耦接到一测试开关单元，而每一组数据衬垫则分别耦接到一测试衬垫。通过对两个测试衬垫电性测量判断是否断路，并根据结果确认COG数据衬垫间是否发生横向导通。实现了在量产液晶显示器的过程中，尤其在形成信号导线的制程时，发现驱动晶片无法正常发送信号或短路的时则可以马上修补或是汰换，以免流入下一个制程。
请参阅图3，图3是本发明实施例提供的平面显示器100的玻璃基板101在安装驱动晶片前的示意图。平面显示器100可以是液晶显示器，其包括玻璃基板101、多个闸极驱动晶片和源极驱动晶片、软性电路板104以及液晶显示区102。驱动晶片(图未示出)以及液晶显示区102均设置于玻璃基板101上。闸极驱动晶片会产生扫描信号至液晶显示区102。当液晶显示区102接收到扫描信号时，就会依据源极驱动晶片产生的数据信号显示影像。
请一并参阅图3、图4以及图5，图4是本发明实施例提供的驱动晶片和软性电路板安装于玻璃基板后的示意图。图5是本发明实施例提供的检测平面显示器的方法流程图。在图3中，每一闸极驱动晶片和源极驱动晶片均放置于玻璃基板101的晶片放置区1021上，即所谓的晶粒玻璃粘合技术(Chip on glass，COG)。软性电路板104上的多个软性电路板端子1041会耦接到玻璃基板101上的多个接触垫1040，接触垫1040再与晶片放置区1021的多个数据衬垫1022、1024耦接(如图4所示)，以作为驱动晶片205与其它透过软性电路板104传递的电路传输电性信号之用。在本发明实施例中，制造平面显示器100的流程包括下列步骤：
步骤S500：形成晶片放置区1021于玻璃基板101上，晶片放置区1021包括多个数据衬垫，多个数据衬垫被区分为第一组数据衬垫1022以及第二组数据衬垫1024。其中相邻的两个数据衬垫分别属于第一组数据衬垫1022以及第二组数据衬垫1024，也就是说，把数据衬垫分成奇、偶两组。
步骤S502：形成测试开关控制信号输入衬垫110、第一测试衬垫111以及第二测试衬垫112于玻璃基板101上。
步骤S504：于晶片放置区1021的中形成多个测试开关单元，测试开关单元也分成奇、偶两组，第一组测试开关单元1042对应于第一组数据衬垫1022，第二组测试开关单元1044对应于第二组数据衬垫1024。每一测试开关单元的控制端耦接于测试开关控制信号输入衬垫110，第一组测试开关单元1042的第一端耦接于第一组数据衬垫1022，第一组测试开关单元1042的第二端耦接于第一测试衬垫111。第二组测试开关单元1044的第一端耦接于第二组数据衬垫1024，第二组测试开关单元1044的第二端耦接于第二测试衬垫112。
步骤S506：将驱动晶片放置于晶片放置区1021内。
步骤S508：将测试开关控制信号输入测试开关控制信号输入衬垫110，并测量第一测试衬垫111与第二测试衬垫112的电性参数值。
步骤S510：判断电性参数值是否符合预设值，是则执行步骤S512，否则执行步骤S511。
步骤S512：若电性参数值符合所述预设值，表示第一测试衬垫111与第二测试衬垫112的间是断路，也就是说，驱动晶片在安装于晶片放置区102后，两相邻数据衬垫并没有短路，继续下一制程。
步骤S514：若电性参数值不符合预设值，表示第一测试衬垫111与第二测试衬垫112之间是短路，也就是说，驱动晶片在安装于晶片放置区102后，两相邻数据衬垫发生短路，需重新将驱动晶片放置于晶片放置区1021中。
在平面显示器100的制造过程中，会先形成多个晶片放置区1021于玻璃基板101上，晶片放置区1021上均具有第一组数据衬垫1022以及第二组数据衬垫1024，其中奇数个数据衬垫为第一组数据衬垫1022、偶数个数据衬垫为第二组数据衬垫1024(步骤S500)。接下来，形成测试开关控制信号输入衬垫110、第一测试衬垫111以及第二测试衬垫112于玻璃基板101上。(步骤S502)。于晶片放置区1021之中形成多个测试开关单元。测试开关单元可用电晶体加以实现。而第一组测试开关单元1042对应于第一组数据衬垫1022，第二组测试开关单元1044对应于第二组数据衬垫1024。每一测试开关单元的控制端(即电晶体的闸极)耦接于测试开关控制信号输入衬垫110，第一组测试开关单元1042的第一端(即电晶体的汲极)耦接于第一组数据衬垫1022，第一组测试开关单元1042的第二端(即电晶体的源极)耦接于第一测试衬垫111。第二组测试开关单元1044的第一端耦接于第二组数据衬垫1024，第二组测试开关单元1044的第二端耦接于第二测试衬垫112。(步骤S504)。然后在晶片放置区1021上贴异向性导电膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)，并将驱动晶片205的接脚208置入对应晶片放置区1021上的数据衬垫，以利压合(步骤S506)。将测试开关控制信号输入测试开关控制信号输入衬垫110，此时所有的测试开关单元1042、1044的控制端都会因测试开关控制信号的输入而开启。对第一测试衬垫111或第二测试衬垫112施加一电流(或一电压)，以在另一测试衬垫获得一电性参数值，其中电性参数值可以是电压值或是电流值(步骤S508)。接着判断电性参数值是否符合一预设值，预设值用来判断第一测试衬垫111与第二测试衬垫112之间是断路或是短路(步骤S510)。若该电性参数值符合该预设值(即电阻值是无穷大)，表示第一测试衬垫111与第二测试衬垫112之间是断路。也就是说，驱动晶片在安装于晶片放置区102后，两相邻数据衬垫1022、1024并没有短路，所以驱动晶片可以正常运作。故可继续下一制程(步骤S512)。相对的，若该电性参数值不符合该预设值(即电阻值是0)，表示第一测试衬垫111与第二测试衬垫112的间是短路，也就是说，驱动晶片在安装于晶片放置区102后，两相邻数据衬垫发生短路，需重新将驱动晶片放置于晶片放置区1021中(步骤S514)。
请参阅图6，图6是本发明另一实施例提供的平面显示器100的玻璃基板201在安装驱动晶片205时的示意图。在图3中，第一组数据衬垫1022、第二组数据衬垫1024、第一测试衬垫111、第二测试衬垫112、第一组测试开关单元1042以及第二组测试开关单元1044均设置于玻璃基板201上。但在图6的实施例中，驱动晶片205的接脚208与玻璃基板201位于晶片放置区上的数据衬垫1024接触后，第一测试衬垫111以及第一组测试开关单元1042仍设置于玻璃基板201上，但是第二测试衬垫112与第二组测试开关单元1044设置于驱动晶片205上。
相较于现有技术，本发明实施例提供多个测试开关单元以及二测试衬垫，并将多个数据衬垫依据奇、偶数分成两组数据衬垫，每一数据衬垫则耦接到一测试开关单元，而每一组数据衬垫则分别耦接到一测试衬垫。在放置驱动晶片于该这些数据衬垫后，对二测试衬垫电性测量，以判断是否断路，并根据结果确认数据衬垫间是否发生横向导通。若发现数据衬垫间发生横向导通时，则可以马上重新放置驱动晶片或是汰换，以免流入下一个制程。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包括在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种平面显示器的测试方法，其特征在于，所述方法包括步骤：
(a)形成一晶片放置区于一玻璃基板上，所述晶片放置区包括多个数据衬垫，所述多个数据衬垫包括一第一组数据衬垫以及一第二组数据衬垫，其中相邻的两个数据衬垫分别属于所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫；
(b)形成一测试开关控制信号输入衬垫、一第一测试衬垫以及一第二测试衬垫于所述玻璃基板上；
(c)于所述晶片放置区之中形成多个测试开关单元，且每一测试开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，其中每一测试开关单元的所述控制端耦接于所述测试开关控制信号输入衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第一组数据衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第一测试衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第二组数据衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第二测试衬垫；
(d)在晶片放置区上贴异向性导电膜，将驱动晶片的接脚置入对应晶片放置区上的数据衬垫而将一驱动晶片放置于所述晶片放置区内；以及
(e)当一测试开关控制信号输入所述测试开关控制信号输入衬垫时，测量所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫的电性参数值；
(f)当所述电性参数值表示所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫电性导通时，重新将所述驱动晶片放置于所述晶片放置区内。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电性参数值为电流值或电压值。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，每一测试开关单元为一电晶体；
所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫的数量相等；所述驱动晶片为一闸极驱动晶片，用于产生扫瞄信号；或者是所述驱动晶片为一源极驱动晶片，用于产生数据信号。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一端为所述电晶体的汲极，所述第二端为所述电晶体的源极，所述控制端为所述电晶体的闸极。
5.一种平面显示器，其特征在于，所述平面显示器包括：
一玻璃基板；
一晶片放置区，形成于所述玻璃基板上，所述晶片放置区包括多个数据衬垫，所述多个数据衬垫包括一第一组数据衬垫以及一第二组数据衬垫，相邻的两个数据衬垫分别属于所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫；
一驱动晶片，在晶片放置区上贴异向性导电膜，将驱动晶片的接脚置入对应晶片放置区上的数据衬垫而将该驱动晶片放置于所述晶片放置区上；
一测试开关控制信号输入衬垫，用于接收测试开关控制信号；
一第一测试衬垫和一第二测试衬垫，用于在所述测试开关控制信号输入时，测量电性参数值；以及
多个测试开关单元，每一测试开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，每一测试开关单元的所述控制端耦接于所述测试开关控制信号输入衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第一组数据衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第一测试衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第二组数据衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第二测试衬垫；当所述电性参数值表示所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫电性导通时，重新将所述驱动晶片放置于所述晶片放置区内。
6.如权利要求5所述的平面显示器，其特征在于，所述电性参数值为一电流值或电压值；每一测试开关单元为一电晶体；所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫的数量相等；所述第一测试衬垫以及对应于所述第一组数据衬垫的所述测试开关单元设置于所述玻璃基板上；所述第二测试衬垫以及对应于所述第二组数据衬垫的所述测试开关单元设置于所述玻璃基板或者所述驱动晶片上。
7.如权利要求6所述的平面显示器，其特征在于，所述第一端为所述电晶体的汲极，所述第二端为所述电晶体的源极，所述控制端为所述电晶体的闸极。
8.如权利要求5所述的平面显示器，其特征在于，所述平面显示器为液晶显示器。
9.如权利要求8所述的平面显示器，其特征在于，所述驱动晶片为一闸极驱动晶片，用于产生扫瞄信号；或者是所述驱动晶片为一源极驱动晶片，用于产生数据信号。
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