CN108806563A - 一种检测电路及显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测电路包括：检测信号线、与检测信号线且与待检测显示面板数据线相连的多个开关单元以及与多个开关单元连接检测控制信号线，检测信号线包括奇数检测信号线和偶数检测信号线，多个所述开关单元的一端间隔地连接奇数检测信号线和偶数检测信号线，开关单元包括多个串联的开关元件，检测完成之后检测控制信号线输送低电压信号，开关单元保持关断状态，检测电路通过设置多路检测线，多个开关元件串联形成开关单元，同时在测试完成之后不同的开关元件在同一时间输入不同信号，交替开关，从而避免开关元件长期处于同一低电压信号而出现的负漂移现象，防止检测电路短路，提升显示面板的稳定性。

Description

一种检测电路及显示面板

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种检测电路及显示面板。

背景技术

液晶显示面板在成盒工艺完成之后需要对产品进行初期检测，筛除一些不良品，避免后期组装完成之后浪费模组材料。

图1为现有技术中的检测电路，包括检测信号线1、与检测信号线1连接且与待检测显示面板4的数据线相连的多个开关元件21以及与多个开关元件21连接的检测控制信号线3，检测完成之后，检测控制信号线3持续输送低电压信号，开关元件保持关断状态。

在测试完成之后，持续以低电压信号关断开关元件21，当测试环境比较严苛，会造成开关元件21的开关特性曲线负漂移，如图2所示，开关元件21出现开关特性曲线负漂移，会使得开关元件21难以关断，造成测试电路短路漏电，如图3所示，驱动芯片5为了维持电压稳定，需要持续输出电流，会使整个驱动芯片5功耗上升或者驱动芯片5工作温度增加。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种检测电路及显示面板，避免了测试电路中开关元件长期关断导致的负漂移现象。

本发明公开了一种检测电路，其包括：检测信号线、与检测信号线连接且与待检测显示面板的数据线相连的多个开关单元以及与多个开关单元连接的检测控制信号线，所述检测信号线包括奇数检测信号线和偶数检测信号线，多个开关单元依序呈奇数列和偶数列排列，奇数列的开关单元均与奇数检测信号线连接，偶数列的开关单元均与偶数检测信号线连接，所述开关单元包括至少两个串联的开关元件，检测完成之后检测控制信号线输送低电压信号，开关单元保持关断状态。

优选的，所述每个开关单元包括第一三极管和第二三极管，第一三极管的漏极和第二三极管的源极连接，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第二三极管的漏极连接奇数检测信号线，偶数列的第二三极管的漏极连接偶数检测信号线。

优选的，所述第一三极管和第二三极管的栅极均与检测控制信号线相连。

优选的，所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线和第二检测控制信号线，所述第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，所述第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线与第二检测控制信号线交替传输低电压信号，使得第一三极管和第二三极管中至少一个处于关闭状态。

优选的，所述每个开关单元包括第一三极管、第二三极管以及第三三极管，所述第一三极管的漏极和第二三极管的源极相连，第二三极管的漏极与第三三极管的源极相连，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第三三极管的漏极与奇数检测信号线相连，偶数列的第三三极管的漏极与偶数检测信号线相连。

优选的，所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线、第二检测控制信号线以及第三检测控制信号线，第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，第三三极管的栅极与第三检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线、第二检测控制信号线及第三检测控制信号线交替传输低电压信号，保证在同一时间至少有一条检测控制信号线传输低电压信号，使得第一三极管、第二三极管以及第三三极管中至少一个处于关闭状态。

本发明还公开了一种显示面板，包括：上述检测电路，与所述检测电路连接的显示面板以及与该显示面板连接的驱动芯片，所述检测电路并联在驱动芯片和显示面板之间。

优选的，所述检测电路包括源极检测电路和栅极检测电路。

与现有技术相比，本发明的检测电路通过设置多路检测线，多个开关元件串联形成开关单元，同时在测试完成之后不同的开关元件在同一时间输入不同信号，交替开关，从而避免开关元件长期处于同一低电压信号而出现的负漂移现象，防止检测电路短路，提升显示面板的稳定性，不需要再检测完成之后对检测电路进行熔断处理，不需要对检测电路进行移除处理，降低了生产成本，提升了生产效率。

附图说明

图1为现有技术检测电路示意图；

图2为开关元件负漂移电性能示意图；

图3为现有技术检测电路短路示意图；

图4为本发明的实施例一检测电路示意图；

图5为本发明的实施例一检测电路连接驱动芯片示意图；

图6为本发明的实施例二检测电路示意图；

图7为本发明的实施例二检测电路连接驱动芯片示意图；

图8为本发明的实施例二控制信号线时序图；

图9为本发明的实施例三检测电路示意图；

图10为本发明的实施例三检测电路连接驱动芯片示意图；

图11为本发明的实施例三控制信号线时序图；

附图标记列表：1-检测信号线，2-开关单元，3-控制信号线，4-显示面板，5-驱动芯片，11-奇数检测信号线，12-偶数检测信号线，21-开关元件，31-第一控制信号线，32-第二控制信号线，33-第三控制信号线，T1-第一三极管，T2-第二三极管，T3-第三三极管。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

本发明公开了一种检测电路，其包括：检测信号线、与检测信号线连接且与待检测显示面板的数据线相连的多个开关单元以及与多个开关单元连接的检测控制信号线，所述检测信号线包括奇数检测信号线和偶数检测信号线，多个开关单元依序呈奇数列和偶数列排列，奇数列的开关单元均与奇数检测信号线连接，偶数列的开关单元均与偶数检测信号线连接，所述开关单元包括至少两个串联的开关元件，检测完成之后检测控制信号线输送低电压信号，开关单元保持关断状态。

对上述方案进行改进，优选的，所述每个开关单元包括第一三极管和第二三极管，第一三极管的漏极和第二三极管的源极连接，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第二三极管的漏极连接奇数检测信号线，偶数列的第二三极管的漏极连接偶数检测信号线。

对上述方案进行改进，优选的，所述第一三极管和第二三极管的栅极均与检测控制信号线相连。

对上述方案进行改进，优选的，所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线和第二检测控制信号线，所述第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，所述第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线与第二检测控制信号线交替传输低电压信号，使得第一三极管和第二三极管中至少一个处于关闭状态。

对上述方案进行改进，优选的，所述每个开关单元包括第一三极管、第二三极管以及第三三极管，所述第一三极管的漏极和第二三极管的源极相连，第二三极管的漏极与第三三极管的源极相连，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第三三极管的漏极与奇数检测信号线相连，偶数列的第三三极管的漏极与偶数检测信号线相连。

对上述方案进行改进，优选的，所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线、第二检测控制信号线以及第三检测控制信号线，第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，第三三极管的栅极与第三检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线、第二检测控制信号线及第三检测控制信号线交替传输低电压信号，保证在同一时间至少有一条检测控制信号线传输低电压信号，使得第一三极管、第二三极管以及第三三极管中至少一个处于关闭状态。

本发明还公开了一种显示面板，包括：上述检测电路，与所述检测电路连接的显示面板以及与该显示面板连接的驱动芯片，所述检测电路并联在驱动芯片和显示面板之间。

对上述方案进行改进，优选的，所述检测电路包括源极检测电路和栅极检测电路。

实施例一：

图4和图5是本发明第一实施例检测电路示意图，如图4所示，检测电路包括检测信号线、与检测信号线连接且与待检测显示面板4的数据线相连的多个开关单元2以及与多个开关单元2连接检测控制信号线3。具体的，检测信号线包括奇数检测信号线11和偶数检测信号线12，多个开关单元2依序呈奇数列和偶数列排列，奇数列的开关单元2均与奇数检测信号线11连接，偶数列的开关单元2均与偶数检测信号线12连接。

即：多个开关单元2的一端间隔地连接奇数检测信号线11或偶数检测信号线12。在检测时，奇数检测信号线11和偶数检测信号线12分别控制奇数和偶数的栅极或者源极信号输入显示面板4，使得检测更加准确，排除面板不良。

具体的，开关单元2包括多个串联的开关元件，本实施例中，开关元件为三极管，开关单元2包括第一三极管T1和第二三极管T2，第一三极管T1的漏极和第二三极管T2的源极连接，第一三极管T1的源极与待检测显示面板4的数据线相连，第二三极管T2的漏极间隔地与奇数检测信号线11或偶数检测信号线12相连(即：奇数列的第二三极管T2的漏极连接奇数检测信号线11，偶数列的第二三极管T2的漏极连接偶数检测信号线12)，第一三极管T1和第二三极管T2的栅极均与检测控制信号线3相连。在检测时，检测控制信号输出高电压，使得第一三极管T1和第二三极管T2同时打开，检测信号线的输入信号可以经由第一三极管T1和第二三极管T2传输给显示面板4，从而使得显示面板4进行显示，并对显示面板4进行检测。在本实施例中，开关单元2包括两个串联的第一三极管T1和第二三极管T2，如此，通道电阻倍增，降低了TFT漏电流情况产生概率。

如图5所示，当检测完成之后，在显示面板4上绑定驱动芯片5，驱动芯片5与显示面板4的数据线相连，显示面板4由驱动芯片5提供驱动信号进行驱动显示，检测电路并联在显示面板4与驱动芯片5之间，不需要额外的工艺进行去除，检测控制信号线3输送低电压信号，第一三极管T1和第二三极管T2处于关断状态，即开关单元2保持关断状态，因为开关单元2处于关断状态，因此驱动芯片5提供的驱动信号不会仅会输出给与之连接的显示面板4的数据线。

实施例二：

图6-8是本发明第二实施例检测电路示意图，如图6所示，对上述实施例进行改进，对上述实施例中的检测控制信号线设置成两条，分为第一检测控制信号线31和第二检测控制信号线32，第一三极管T1的栅极与第一检测控制信号线31相连，所述第二三极管T2的栅极与第二检测控制信号线32相连，检测过程中，第一检测控制信号线31和第二检测控制信号线32同时输出高电压，使得第一三极管T1和第二三极管T2同时打开，检测信号线的输入信号可以经由第一三极管T1和第二三极管T2传输给显示面板4，从而使得显示面板4进行显示，进行检测。

如图7所示，当检测完成之后，在显示面板4上绑定驱动芯片5，驱动芯片5与显示面板4的数据线相连，显示面板4由驱动芯片5提供驱动信号进行驱动显示，检测电路并联在显示面板4与驱动芯片5之间，不需要对检测电路进行清除，第一检测控制信号线31和第二检测控制信号线32交替输出高电压和低电压，第一检测控制信号线31和第二检测控制信号线32的电压输出时序如图8所示，在同一时间点，保证第一检测控制信号线31和第二检测控制信号线32之间至少一个处于低电压状态，即第一三极管T1和第二三极管T2中至少一个处于关断状态。

相比于实施例一，本实施例在显示面板4检测完成之后可以交替关闭第一三极管T1和第二三极管T2，使得单个开关元件处于低电压时间减少，从而彻底解决了开关元件长时间处于低电压状态下的负漂移现象。

实施例三：

图9-11是本发明第三实施例检测电路示意图，如图9所示，本实施例是在实施例二的基础上进行改进，在实施例二的基础上，开关单元2中增加了第三三极管T3，第一三极管T1的漏极和第二三极管T2的源极相连，第二三极管T2的漏极与第三三极管T3的源极相连，第一三极管T1的源极与待检测显示面板4的数据线相连，第三三极管T3的漏极间隔地与奇数检测信号线11或偶数检测信号线12相连(即：奇数列的第三三极管T3的漏极连接奇数检测信号线11，偶数列的第三三极管T3的漏极连接偶数检测信号线12)。

同时在实施例二的基础上增加了一条第三检测控制信号线33，第三三极管T3的栅极与第三检测控制信号线33相连。

检测过程中，第一检测控制信号线31、第二检测控制信号线32和第三检测控制信号线33同时输出高电压，使得第一三极管T1、第二三极管T2和第三三极管T3同时打开打，检测信号线的输入信号可以经由第一三极管T1、第二三极管T2和第三三极管T3传输给显示面板4，从而使得显示面板4进行显示，进行检测。

如图10所示，当检测完成之后，在显示面板4上绑定驱动芯片5，驱动芯片5与显示面板4的数据线相连，显示面板4由驱动芯片5提供驱动信号进行驱动显示，检测电路并联在显示面板4与驱动芯片5之间，不需要对检测电路进行清除，第一检测控制信号线31、第二检测控制信号线32和第三检测控制信号线33交替输出高电压和低电压，第一检测控制信号线31、第二检测控制信号线32和第三检测控制信号线33的电压输出时序如图11所示，在同一时间点，保证第一检测控制信号线31、第二检测控制信号线32和第三检测控制信号线33中至少一个检测控制信号线处于低电压状态，即第一三极管T1、第二三极管T2和第三三极管T3中至少一个处于关断状态。

相比于实施例二，本实施例进一步的增加了检测控制信号线和开关元件，在显示面板4检测完成之后，三条检测控制信号线轮流输入高电压，使得开关元件处于关断状态时间进一步减少，进一步地降低了开关元件发生负漂移的风险。

需要说明的是，本实施例中，图11给出了同一时间一个开关元件关闭的情况，在同时时间，两个开关元件同时关闭，一个开关元件打开也可以达到相同的效果。

需要说明的是，本发明所举实施例中控制信号线输出高电压与低电压的时间间隔是相同，当控制信号线输出的高电压与低电压的时间不同也可以实现相同的效果，仅仅需要满足的是同一时间内，至少一个开关元件保持关断即可。

本发明还公开了一种显示面板，包括上述检测电路，与检测电路连接的显示面板4以及与该显示面板4连接的驱动芯片5，检测电路并联在驱动芯片5和显示面板4之间。

进一步地，检测电路包括源极检测电路和栅极检测电路。

以上详细描述了本发明的优选实施方式，但是本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明的技术构思范围内，可以对本发明的技术方案进行多种等同变换(如数量、形状、位置等)，这些等同变换均属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种检测电路，其包括：检测信号线、与检测信号线连接且与待检测显示面板的数据线相连的多个开关单元以及与多个开关单元连接的检测控制信号线，其特征在于：所述检测信号线包括奇数检测信号线和偶数检测信号线，多个开关单元依序呈奇数列和偶数列排列，奇数列的开关单元均与奇数检测信号线连接，偶数列的开关单元均与偶数检测信号线连接，所述开关单元包括至少两个串联的开关元件，检测完成之后检测控制信号线输送低电压信号，开关单元保持关断状态。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于：所述每个开关单元包括第一三极管和第二三极管，第一三极管的漏极和第二三极管的源极连接，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第二三极管的漏极连接奇数检测信号线，偶数列的第二三极管的漏极连接偶数检测信号线。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于：所述第一三极管和第二三极管的栅极均与检测控制信号线相连。

4.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于：所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线和第二检测控制信号线，所述第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，所述第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线与第二检测控制信号线交替传输低电压信号，使得第一三极管和第二三极管中至少一个处于关闭状态。

5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于：所述每个开关单元包括第一三极管、第二三极管以及第三三极管，所述第一三极管的漏极和第二三极管的源极相连，第二三极管的漏极与第三三极管的源极相连，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第三三极管的漏极与奇数检测信号线相连，偶数列的第三三极管的漏极与偶数检测信号线相连。

6.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于：所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线、第二检测控制信号线以及第三检测控制信号线，第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，第三三极管的栅极与第三检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线、第二检测控制信号线及第三检测控制信号线交替传输低电压信号，保证在同一时间至少有一条检测控制信号线传输低电压信号，使得第一三极管、第二三极管以及第三三极管中至少一个处于关闭状态。

7.一种显示面板，其特征在于，包括：如权利要求1-6中任一项所述检测电路，与所述检测电路连接的显示面板以及与该显示面板连接的驱动芯片，所述检测电路并联在驱动芯片和显示面板之间。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于：所述检测电路包括源极检测电路和栅极检测电路。