CN105549792A - 阵列基板以及显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种阵列基板以及显示面板，阵列基板包括显示区域以及围绕显示区域的边框区域，显示区域设置有公共电极层、触控走线层和栅极层；公共电极层包括多个公共电极单元，触控走线层包括多条与公共电极单元电连接的第一触控走线，栅极层包括多条沿第一方向延伸的栅极走线，所述显示区域还包括多条第二触控走线，所述第二触控走线与所述栅极走线平行，每个所述公共电极单元通过过孔电连接所述第二触控走线；边框区域设置有多个第一开关以及多条沿第二方向延伸的测试引线，第二触控走线的至少一端电连接第一开关，测试引线电连接第一开关。本发明提供的阵列基板以及显示面板改善了显示效果。

Description

阵列基板以及显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种改善面板显示效果的阵列基板以及显示面板。
背景技术
随着人机交互技术的发展，触控技术越来越多地使用在各种显示器上。电容性触控技术由于其耐磨损、寿命长，用户使用时维护成本低，并且可以支持手势识别及多点触控的优点而被广泛地使用。
电容性触控技术根据不同对象之间的电容的检测方式，可以分为自电容式触控技术和互电容式触控技术。自电容式触控技术根据输入对象和电极之间的电容变化来检测输入对象在触摸屏上的存在、位置及运动。互电容式触控技术则根据输入对象导致的电极间的电容变化来检测输入对象在触摸屏上的存在、位置及运动。
在现有技术中，无论自电容触控技术还是互电容触控技术，阵列基板中的公共电极可以复用为触控电极来进行触控检测。进行显示时，向公共电极输入公共电极信号；进行触控时，向公共电极输入触控信号。公共电极的信号传输及公共电极电性检测都需要通过触控走线来实现。
具体而言，参见图1所示现有技术的阵列基板100，阵列基板100沿Y方向的边长大于阵列基板100沿X方向的边长。阵列基板100包括多块复用为触控电极的公共电极110。每块公共电极110通过过孔130与沿Y方向延伸的触控走线120电连接，并通过触控走线120电连接到触控IC140。触控IC140通过各个触控走线120向公共电极110传输公共电极信号或者触控信号来进行显示或触控检测。
为了提高阵列基板100的显示和触控良率，需要对公共电极110的触控和显示功能进行检测。参见图2，为了实现公共电极110的触控和显示功能检测，还需要设置测试引线和开关元件150。每根触控走线120电连接至一个开关元件150的第一极。开关元件150的控制端电连接至测试引线160C，开关元件150的第二极电连接至测试引线160A或160B。当进行测试时，测试引线160C向开关元件150输入控制信号，导通开关元件150，测试引线160A和160B输入不同的电压。当进行显示和触控时，关断开关元件150，各个公共电极110通过图1所示的触控走线120电连接触控IC140。
然而，现有技术中，阵列基板100这样的结构会导致如下问题：
1)与顶端公共电极电连接的触控走线的电阻相比与底端公共电极电连接的触控走线的电阻要大得多，导致在显示严苛画面(dotcheck/pixelcheck)时，会出现顶端可见不良的现象；
2)无法通过开关元件和测试引线将公共电极短接来消除上述电阻差异；
3)对于大尺寸(8英寸及以上)的显示面板，其所造成的电阻差异更大，加剧显示不良的现象。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明的目的在于提供一种阵列基板以及显示面板，克服了现有技术存在的技术问题，提高显示面板的显示效果。
根据本发明的一个方面，提供一种阵列基板，所述阵列基板包括显示区域以及围绕所述显示区域的边框区域，所述显示区域设置有公共电极层、触控走线层和栅极层；所述公共电极层包括多个公共电极单元，所述触控走线层包括多条与所述公共电极单元电连接的第一触控走线，所述栅极层包括多条沿第一方向延伸的栅极走线，所述显示区域还包括多条第二触控走线，所述第二触控走线与所述栅极走线平行，每个所述公共电极单元通过过孔电连接所述第二触控走线；所述边框区域设置有多个第一开关以及多条沿第二方向延伸的测试引线，所述第二触控走线的至少一端电连接所述第一开关，所述测试引线电连接所述第一开关。
根据本发明的另一个方面，还提供一种显示面板，包括：相对设置的阵列基板和彩膜基板，以及位于所述阵列基板与所述彩膜基板之间的液晶层，其中，所述阵列基板为上述的阵列基板。
本发明的阵列基板以及显示面板相比现有技术具有如下优势：
1)通过增加沿第一方向(阵列基板短边)延伸的第二触控走线来进行测试和显示，相比沿第二方向(阵列基板长边)延伸的第一触控走线，减少电阻差异，进而改善显示面板的显示效果；
2)通过列反转和点反转检测方式对公共电极单元进行显示触控测试，提高测试精度；
3)通过第一开关和测试引线的设置，使得显示面板显示时短接公共电极，进而使每行公共电极单元上触控走线的电阻相同，进一步改善显示面板的显示效果。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为现有技术的阵列面板的示意图；
图2为现有技术的具有测试引线和开关元件的阵列面板的示意图；
图3为根据本发明实施例的阵列基板的示意图；
图4为根据本发明实施例的阵列基板的局部示意图；
图5为图4所示的阵列基板的一实施例的A-A’向截面图；
图6为图4所示的阵列基板的另一实施例的A-A’向截面图；
图7为图3所示实施例的公共电极单元、第一开关及测试引线连接方式的示意图；
图8为另一实施例的公共电极单元、第一开关及测试引线连接方式的示意图；
图9为又一实施例的公共电极单元、第一开关及测试引线连接方式的示意图；
图10为根据本发明实施例显示面板的示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本发明将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。
为了解决现有技术中显示面板显示不良的缺陷，本发明提供一种阵列基板。该阵列基板包括显示区域以及围绕显示区域的边框区域。显示区域设置有公共电极层、触控走线层和栅极层。公共电极层包括多个公共电极单元，触控走线层包括多条与公共电极单元电连接的第一触控走线，栅极层包括多条沿第一方向延伸的栅极走线，所述显示区域还包括多条第二触控走线，所述第二触控走线与所述栅极走线平行，每个所述公共电极单元通过过孔电连接所述第二触控走线。边框区域设置有多个第一开关以及多条沿第二方向延伸的测试引线，第二触控走线的至少一端电连接所述第一开关，测试引线电连接所述第一开关。
本发明揭示了一种阵列基板，首先参见图3，图3为根据本发明实施例的阵列基板200的示意图。阵列基板200包括显示区域210以及围绕显示区域210的边框区域220。
显示区域210设置有公共电极层、触控走线层和栅极层。
公共电极层包括多个公共电极单元230。在本实施例中，多个公共电极单元230按X方向(第一方向)和Y方向(第二方向)排列，形成公共电极单元230的矩阵。其中，X方向与Y方向垂直，并且可选地，在本实施例中，X方向为阵列基板200短边的延展方向，Y方向为阵列基板200长边的延展方向。为了清楚起见，公共电极单元230在图3中示出为矩形形状。本领域技术人员理解，公共电极单元230也可以是其他规则或不规则形状，视具体制程和显示需求而定。
在一些实施例中，公共电极单元230可以复用为自电容触控电极。换言之，在这样的情况下，公共电极单元230在显示阶段用作公共电极，在触控阶段用作自电容触控电极。当公共电极单元230复用为自电容触控电极时，通过感测公共电极单元230和例如触控笔之类的输入对象之间的电容变化来进行触控检测。
在又一些实施例中，公共电极单元230可以复用为互电容触控技术中的驱动触控电极或感应触控电极。换言之，在这样的情况下，公共电极单元230在显示阶段用作公共电极，在触控阶段用作驱动触控电极或感应触控电极。当公共电极单元230复用为驱动触控电极时，其还需要与感应触控电极配合来进行触控检测，该感应触控电极可以与公共电极设置在同一基板或不同的基板上。当公共电极单元230复用为感应触控电极时，其还需要与驱动触控电极配合来进行触控检测，该驱动触控电极可以与公共电极设置在同一基板或不同的基板上。
无论是公共电极单元230复用为自电容触控电极还是驱动触控电极(或感应触控电极)，都需要通过触控走线来实现触控信号的传输。
为了实现触控信号的传输，触控走线层包括多条与公共电极单元230电连接的第一触控走线241。在本实施例中，多条第一触控走线241沿Y方向延伸，并沿X方向排列。每条第一触控走线241通过过孔251电连接一个公共电极单元230来传递触控信号。
可选的，本发明在阵列基板200的栅极层还设置第二触控走线242。换言之，在本实施例中，栅极层包括多条沿X方向延伸的栅极走线和第二触控走线242。每个公共电极单元230通过过孔252电连接一条第二触控走线242。同时，边框区域220设置有多个第一开关260以及多条沿Y方向延伸的测试引线270。第二触控走线242的至少一端电连接第一开关260，测试引线270电连接第一开关270。在其他实施例中，第二触控走线242还可以与栅极走线不同层，在此不作举例，技术人员对此的延伸拓展方案均属于本发明保护内容。
具体而言，第一开关260可以是薄膜晶体管。第二触控走线242的一端电连接薄膜晶体管260的第一极(例如，源极或漏极)。测试引线270电连接薄膜晶体管260的第二极(例如，源极或漏极)。在本实施例中，阵列基板还包括至少一测试控制线271，测试控制线271电连接薄膜晶体管260的控制端(栅极)。
在本实施例中，测试引线270包括第一测试线272和第二测试线273。第一测试线272和第二测试线273分别通过第一开关260电连接不同的公共电极单元230。
具体而言，在图3所示的实施例中，每个第二触控走线242的一端电连接一个薄膜晶体管260。换言之，每个公共电极单元230通过一条第二触控走线242与一个薄膜晶体管260电连接。各个薄膜晶体管260的栅极都电连接到一条测试控制线271，各个薄膜晶体管260的源极(或漏极)电连接到一条第一测试线272或第二测试线273。
本发明通过上述走线的设置方式来实现显示功能、触控功能以及显示触控测试功能。具体而言，当进行显示测试时，测试控制线271控制薄膜晶体管260处于导通状态，第一测试线272和第二测试线273通过第二触控走线242输入公共电压。在进行触控测试时，在每个周期的第一阶段，第一测试线272向通过第二触控走线242与其电连接的公共电极单元230传输高电平信号，第二测试线273向通过第二触控走线242与其电连接的公共电极单元230传输低电平信号；在每个周期的第二阶段，第一测试线272向通过第二触控走线242与其电连接的公共电极单元230传输低电平信号，第二测试线273向通过第二触控走线242与其电连接的公共电极单元230传输高电平。通过这样的方式来实现公共电极单元230的触控显示测试功能。
当进行显示时，测试控制线271控制薄膜晶体管260处于导通状态，由第一测试线272和第二测试线273输入公共电极信号。具体而言，在显示阶段，第一测试线272和第二测试线273通过第二触控走线242向公共电极单元230传输显示信号(公共电极信号)来实现显示功能。
当进行触控时，测试控制线271控制薄膜晶体管260处于关断状态。具体而言，在触控阶段，由于薄膜晶体管260处于关断状态，触控信号由第一触控走线241来进行传输。
由此可见，在本发明中，显示功能以及显示触控测试功能都通过第二触控走线242来实现，而触控功能由第一触控走线241来实现。同时，由于阵列基板沿X方向延展的短边短于沿Y方向延展的长边，相应地，显示区域210沿X方向延展的短边短于沿Y方向延展的长边，使得在显示区域210中，沿X方向延伸的最长的第二触控走线242的长度短于沿Y方向延伸的最长的第一触控走线241的长度。由此，各个第二触控走线242之间的最大长度差异小于各个第一触控走线241之间的最大长度差异。换言之，各个第二触控走线242之间的最大电阻差异小于各个第一触控走线241之间的最大电阻差异。这样，利用第二触控走线242进行显示时可以改善显示不良的现象，利用第二触控走线242进行显示触控测试时可以增加检测精度。
此外，在本实施例的一个具体实施例中，阵列基板200还包括设置在边框区域220的触控IC280。第一触控走线241电连接到触控IC280。第二触控走线242通过薄膜晶体管260和测试引线270电连接到触控IC280。触控IC280用于通过第一触控走线241向公共电极单元230传输触控信号、通过第二触控走线242向公共电极单元230传输显示信号(公共电极信号)以及通过第二触控走线242向不同的公共电极单元230传输触控信号和显示信号(公共电极信号)。
在图3所示实施例中，边框区域220包括沿X方向分布在显示区域210两侧的第一边框分区221和第二边框分区222。由于图3所示的实施例中，每条第二触控走线242仅一端电连接薄膜晶体管260，因此，薄膜晶体管260位于第一边框分区221，并且测试引线270部分位于第一边框分区221。在本实施例一些变化例中，薄膜晶体管260也可以位于第二边框分区222，测试引线270也可以部分位于第二边框分区222。在有一些变化例中，每条第二触控走线242的两端电连接薄膜晶体管260，因此，薄膜晶体管260位于第一边框分区221和第二边框分区222，并且测试引线270部分位于第一边框分区221和第二边框分区222。
在图3所示实施例中，边框区域还包括沿Y方向分布在显示区域220另两侧的第三边框分区223和第四边框分区224。触控IC280可以位于第三边框分区223或第四边框分区224。
下面参见图4至图6来说明本发明阵列基板层叠结构的两种实现方式。
如图4所示，阵列基板300的显示区域内包括多个像素区390。每个像素区390内设置驱动像素显示的薄膜晶体管320以及像素电极360。公共电极单元350覆盖多个像素区390。第一触控走线331和数据线340沿Y方向延伸。第二触控走线332和栅极线380沿X方向延伸。图4仅示意性地示出阵列基板300的俯视图，为了清楚起见，简化了阵列基板300上各层的图案并省略了部分过孔。
参见图5，图5示出图4所示阵列基板300一种实施例的A-A’向截面图。阵列基板300包括基板310。基板310上设置有用于驱动像素电极360的薄膜晶体管320。薄膜晶体管320包括依次形成在基板310上的半导体层323、栅极321、栅绝缘层322、源极324和漏极325。可选的，在本实施例中，半导体层323为低温多晶硅材料。第二触控走线332与栅极321位于同一层。数据线340与源极324和漏极325位于同一层。数据线340通过过孔374和第二触控走线332电连接。第一触控走线331位于公共电极层350和数据线340所在层之间。公共电极层350在第一触控走线331之上。公共电极层350通过深孔373电连接数据线340进而电连接第二触控走线332。公共电极层350通过浅孔372电连接第一触控走线331。像素电极层360位于公共电极层350之上，并通过过孔371与源极324电连接。
参见图6，图6示出图4所示阵列基板300另一种实施例的A-A’向截面图。图6中阵列基板包括基板410。基板410上设置有用于驱动像素电极460的薄膜晶体管420。薄膜晶体管420包括依次形成在基板410上的栅极421、栅绝缘层422、半导体层423、源极424和漏极425。可选的，在本实施例中，半导体层423为非晶硅材料。第二触控走线432与栅极421位于同一层。数据线440与源极424和漏极425位于同一层。第一触控走线431位于数据线440所在层之上。公共电极层450位于第一触控走线431之上。公共电极层450通过过孔472电连接第一触控走线431。公共电极层450通过过孔473电连接第二触控走线432。公共电极层450通过过孔474电连接数据线440。尽管图6中公共电极层450断开，实际上，电连接第一触控走线431的公共电极层450和电连接第二触控走线432的公共电极层450在别处连接。像素电极层460位于公共电极层450之上，并通过过孔471与源极424电连接。
本领域技术人员理解，图5和图6仅示意性示出阵列基板的层叠结构。各层之间的上下关系也不限于此，例如，公共电极层可以位于像素电极之上。又例如，第一触控引线可以与像素电极位于同一层。本领域技术人员可以通过实际的面板设计实现更多的变化例，在此不再一一赘述。
下面结合图7至图9描述公共电极单元、第一开关及测试引线不同连接方式的实施例。
图7为图3所示实施例的公共电极单元、第一开关及测试引线连接方式的示意图。在图7所示的实施例中，位于奇数列的公共电极单元230A(在图中以阴影示出)通过薄膜晶体管260电连接第一测试线272。位于偶数列的公共电极单元230B通过薄膜晶体管260电连接第二测试线273。
进行测试时，测试控制线271控制薄膜晶体管260处于导通状态，第一测试线272通过第二触控走线242向位于奇数列的公共电极单元230A输入电压。第二测试线273通过第二触控走线242向位于偶数列的公共电极单元230B输入与第一测试线272不同的电压。第一测试线272和第二测试线273输入的电压周期性变化，来实现列反转的显示触控测试。列反转的显示触控测试可以用来检测列方向的显示效果。
在本实施例中，由于第二触控走线242仅一端电连接薄膜晶体管260，第二触控走线242上的最大电阻差异相对较小，同时位于边框区域的薄膜晶体管260和测试引线270的走线区域也相对较小。
图8为另一实施例的公共电极单元、第一开关及测试引线连接方式的示意图。在图8所示的实施例中，与图7类似地实现列反转检测，列反转检测的具体实施方式在此不再赘述。与图7所示的实施例不同的是，第二触控走线542的两端均电连接薄膜晶体管560。由于第二触控走线542的两端均电连接薄膜晶体管560，在测试控制线571控制薄膜晶体管560处于导通状态时，公共电极单元530A(及公共电极单元530B)被短接，进而使得各条第二触控走线542的电阻相同(或接近相同)。
在本实施例中，由于各条第二触控走线542的电阻相同(或接近相同)，相对图7所示的实施例进一步改善了显示效果。但本实施例需要在每行公共电极单元的两端设置多个薄膜晶体管560、测试控制线571及测试引线570(包括第一测试线572及第二测试线573)，这样会增加走线区域的宽度。
图9为又一实施例的公共电极单元、第一开关及测试引线连接方式的示意图。在图9所示的实施例中，位于奇数列且位于奇数行的公共电极单元630A，以及位于偶数列且位于偶数行的公共电极单元630A通过薄膜晶体管660电连接第一测试线672(其中，公共电极单元630A以阴影示出)；位于奇数列且位于偶数行的公共电极单元630B，以及位于偶数列且位于奇数行的公共电极单元630B通过薄膜晶体管660电连接第二测试线673。公共电极单元630A和公共电极单元630B交叉排列成棋盘格形式。
进行测试时，测试控制线671控制薄膜晶体管660处于导通状态，第一测试线672及第二测试线673通过第二触控走线642分别向公共电极单元630A和公共电极单元630B输入不同的电压。第一测试线672和第二测试线673输入的电压周期性变化，来实现点反转的显示触控测试。
由于点反转的显示触控测试中，每个公共电极单元应与其周围(上下左右)的公共电极单元显示不同的颜色，若发现有公共电极单元与其周围(上下左右)的公共电极单元显示相同的颜色，则可以判断该公共电极单元被短路或断路。
在本实施例中，除了通过减少触控走线的电阻差异来改善显示效果，其还通过点反转的显示触控测试实现高精度的断路短路测试。
上述图7至图9仅示意性地示出公共电极单元、第一开关及测试引线三种连接方式。本领域技术人员可以根据说明书的描述实现更多的变化例，例如，还可以结合点反转的显示触控测试和第二触控走线两端的第一开关设置，来进一步改善显示效果并提高测试精度。
根据本发明的又一方面，还提供一种显示面板，如图10所示。显示面板700包括阵列基板710、彩膜基板720以及位于阵列基板710与彩膜基板720之间的液晶层730。阵列基板710和彩膜基板720相对。阵列基板710可以具有如图3至图9所示的任一种结构。阵列基板710也可以是图3至图9所示的阵列基板的变化例。本领域技术人员可以根据实际面板制程及面板设计实现更多的变化方式，在此不再一一赘述。
本发明的阵列基板以及显示面板相比现有技术具有如下优势：
1)通过增加沿第一方向(阵列基板短边)延伸的第二触控走线来进行测试和显示，相比沿第二方向(阵列基板长边)延伸的第一触控走线，减少电阻差异，进而改善显示面板的显示效果；
2)通过列反转和点反转检测方式对公共电极单元进行显示触控测试，提高测试精度；
3)通过第一开关和测试引线的设置，使得显示面板显示时短接公共电极，进而使每行公共电极单元上触控走线的电阻相同，进一步改善显示面板的显示效果。
以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本发明的实质内容。

Claims (20)

1.一种阵列基板，所述阵列基板包括显示区域以及围绕所述显示区域的边框区域，其特征在于：
所述显示区域设置有公共电极层、触控走线层和栅极层；所述公共电极层包括多个公共电极单元，所述触控走线层包括多条与所述公共电极单元电连接的第一触控走线，所述栅极层包括多条沿第一方向延伸的栅极走线；
所述显示区域还包括多条第二触控走线，所述第二触控走线与所述栅极走线平行，每个所述公共电极单元通过过孔电连接所述第二触控走线；
所述边框区域设置有多个第一开关以及多条沿第二方向延伸的测试引线，所述第二触控走线的至少一端电连接所述第一开关，所述测试引线电连接所述第一开关。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第二触控走线与所述栅极走线同层设置。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第二方向与所述第一方向垂直。
4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关为薄膜晶体管，所述第二触控走线的至少一端电连接所述薄膜晶体管的第一极，所述测试引线电连接所述薄膜晶体管的第二极。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，还包括至少一测试控制线，所述测试控制线电连接所述薄膜晶体管的控制端。
6.根据权利要求5所述的阵列基板，其特征在于：所述测试引线包括第一测试线和第二测试线，所述公共电极单元沿所述第一方向与所述第二方向顺序排列；
位于所述奇数列的公共电极单元通过所述薄膜晶体管电连接所述第一测试线；
位于所述偶数列的公共电极单元通过所述薄膜晶体管电连接所述第二测试线。
7.根据权利要求5所述的阵列基板，其特征在于：所述测试引线包括第一测试线和第二测试线，所述公共电极单元沿所述第一方向与所述第二方向顺序排列；
位于所述奇数列且位于所述奇数行的公共电极单元，以及位于所述偶数列且位于所述偶数行的公共电极单元通过所述薄膜晶体管电连接所述第一测试线；
位于所述奇数列且位于所述偶数行的公共电极单元，以及位于所述偶数列且位于所述奇数行的公共电极单元通过所述薄膜晶体管电连接所述第二测试线。
8.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述边框区域包括：沿所述第一方向分布在所述显示区两侧的第一边框分区和第二边框分区，所述薄膜晶体管位于所述第一边框分区和/或所述第二边框分区，所述测试引线至少部分位于所述第一边框分区和/或所述第二边框分区。
9.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述公共电极单元在显示阶段用作公共电极，在触控阶段用作驱动触控电极或感应触控电极。
10.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述公共电极单元在显示阶段用作公共电极，在触控阶段用作自电容触控电极。
11.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，每根所述第二触控走线的两端分别电连接一第一开关。
12.根据权利要求5至7中任意一项所述的阵列基板，其特征在于：所述薄膜晶体管在测试阶段处于导通状态，所述第一测试线和第二测试线输入不同电压。
13.根据权利要求5至7中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述测试控制线在显示阶段控制所述薄膜晶体管处于导通状态，所述第一测试线和所述第二测试线输入公共电极信号，短接所述公共电极单元。
14.根据权利要求5至7中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述测试控制线在触控阶段控制所述薄膜晶体管处于关断状态。
15.根据权利要求2至11中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述第一触控走线通过过孔电连接所述公共电极单元。
16.根据权利要求2至11中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述第一触控走线沿所述第二方向延伸。
17.根据权利要求16所述的阵列基板，其特征在于，所述第一方向是所述阵列基板的短边的延展方向，所述第二方向是所述阵列基板的长边的延展方向。
18.根据权利要求1至11中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述边框区域设置有一触控IC，所述第一触控走线和所述第二触控走线电连接到所述触控IC。
19.根据权利要求18所述的阵列基板，其特征在于，所述边框区域还包括沿所述第二方向分布在所述显示区域另两侧的第三边框分区或第四边框分区，所述触控IC位于所述第三边框分区或所述第四边框分区。
20.一种显示面板，其特征在于，包括：相对设置的阵列基板和彩膜基板，以及位于所述阵列基板与所述彩膜基板之间的液晶层，其中，所述阵列基板为权利要求1至19中任意一项所述的阵列基板。
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