KR20060109194A - 액정표시패널의 검사방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 액정표시패널의 검사방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 액정표시패널의 검사방법은, 복수의 신호선과 상기 복수의 신호선 각각에 연결되어 있는 복수의 패드를 포함하는 액정표시패널을 마련하는 단계와; 적어도 두개 이상의 상기 패드에 단일의 신호인가부재를 접촉시키는 단계와; 상기 신호인가부재에 검사 신호를 인가하여 상기 신호선의 불량을 검출하는 단계와; 불량이 검출된 상기 신호선에 개별 검사 신호를 인가하여 불량 좌표를 검출하는 단계를 포함한다. 이에 의하여 액정표시패널의 불량좌표를 효율적으로 검출할 수 있는 액정표시패널의 검사방법이 제공된다.

Description

액정표시패널의 검사방법{TESTING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL}

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시패널의 검사방법을 나타낸 순서도이고,

도2내지 도 4는 본 발명의 제 1실시예에 따른 검사방법을 설명하기 위한 도면, 및

도 5및 도 6은 각각 본 발명의 제 2실시예 및 제 3실시예에 따른 액정표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 도면이다.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *

1 : 액정표시패널 10 : 박막트랜지스터 기판

11 : 절연 기판 12 : 게이트 절연막

13 : 보호막 14 : 투명 전극

21 : 데이터 패드 22 : 데이터선

23 : 데이터 패드 접촉구 31 : 게이트 패드

32 : 게이트선 40,41,42,43,44 : 신호인가부재

51,52,52 : 데이터 블록 61,62,63 : 게이트 블록

70 : 컬러필터 기판

본 발명은 액정표시패널의 검사방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 액정표시패널의 불량 좌표를 효율적으로 검출할 수 있는 검사방법에 관한 것이다.

액정표시장치는 박막트랜지스터가 형성되어 있는 박막트랜지스터 기판과 컬러필터층이 형성되어 있는 컬러필터 기판, 그리고 이들 사이에 액정층이 위치하고 있는 액정표시패널을 포함한다. 액정표시패널은 비발광소자이기 때문에 박막트랜지스터 기판의 후면에는 빛을 조사하기 위한 백라이트 유닛이 위치할 수 있다. 백라이트 유닛에서 조사된 빛은 액정층의 배열상태에 따라 투과량이 조절된다. 또한액정표시패널의 각 화소를 구동하기 위해서, 구동회로와, 구동회로로부터 구동신호를 받아 표시영역내의 데이터선과 게이트선 등의 신호선에 전압을 인가하는 데이터 드라이버와 게이트 드라이버가 마련되어 있다.

액정표시패널의 제조 공정에는, 각 단계에서 제품의 불량여부를 검출하기 위한 다양한 검사가 요구된다. 이러한 검사는 어레이 테스트(array test), 비쥬얼 인스펙션(visual inspection, VI), 그로스 테스트(gross test, G/T), 파이널 테스트(final test) 등을 포함한다.

이중 비쥬얼 인스펙션은 액정표시패널의 완성후 게이트선과 데이트선등의 신호선을 연결하고 있는 쇼팅바를 통해 검사신호를 인가하여 신호선의 불량을 검출하는 테스트를 말한다. 비쥬얼 인스펙션에서의 검사신호 인가는 쇼팅바에 연결되어 있는 검사신호 인가 패드를 통해 이루어진다. 그러나, 쇼팅바를 통한 비쥬얼 인스 펙션은 검사신호 인가 패드로부터 신호선까지의 길이가 서로 다르기 때문에 동시에 단일 신호를 인가하더라도 신호선의 길이 차이에 따른 검사 신호가 왜곡되는 문제점이 있으며 쇼팅바가 제거된 후에는 단일 신호 인가에 의한 불량 검출은 할 수 없는 문제점이 있다.

한편, 그로스 테스트는 쇼팅바가 제거된 후의 불량여부 검사방법으로서 각각 개별 게이트선 및 데이터선으로 분리되어 있는 신호선에 대해 게이트 패드 및 데이터 패드에 개별적으로 접촉되는 탐침을 통해 개별 검사신호를 인가함으로써 게이트선 및 데이터선의 불량이나 불량좌표를 검출하는 방법이다.

그러나 그로스 테스트는 신호선별로 개별적 검사 신호를 인가하기 때문에 복잡하고 시간이 많이 걸린다. 또한, 각각의 패드간의 간격이 매우 좁기 때문에 탐침을 정확히 패드에 접촉시키는 것이 용이하지 않아 접촉불량과 실제 불량의 구분이 어려운 문제점이 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 액정표시패널의 불량좌표를 효율적으로 검출 할 수 있는 액정표시패널의 검사방법을 제공하는데 있다.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 복수의 신호선과, 상기 복수의 신호선 각각에 연결되어 있는 복수의 패드를 포함하는 액정표시패널을 마련하는 단계와, 적어도 두개 이상의 상기 패드에 단일의 신호인가부재를 접촉시키는 단계와, 상기 신호인가부재에 검사 신호를 인가하여 상기 신호선의 불량을 검출하는 단계와, 불량이 검 출된 상기 신호선에 개별 검사 신호를 인가하여 불량 좌표를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법에 의해 달성된다.

상기 신호선의 불량 검출 단계에서는, 상기 액정표시패널의 저항이미지를 측정하는 단계를 포함하도록 할 수 있다.

상기 신호선의 불량 검출 단계에서는, 상기 신호선 각각의 저항을 측정하고 상기 신호선 각각의 저항이 적정영역에 속하는지를 판단하는 단계를 포함하도록 할 수 있다.

상기 신호인가부재를 상기 패드에 접촉하기 전에, 상기 복수의 패드를 전기적으로 상호 분리하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.

상기 패드는 게이트 패드를 포함하며, 상기 신호인가부재는 전체 게이트 패드에 접촉되도록 할 수 있다.

상기 패드는 데이터 패드를 포함하며, 상기 신호인가부재는 전체 데이터 패드에 접촉되도록 할 수 있다.

상기 신호인가부재는 바형인 것이 바람직하다.

상기 신호인가부재를 이용한 불량 검출은 상기 패드를 복수의 블록으로 나누어 수행되도록 할 수 있다.

상기 신호인가부재는 상기 블록별로 마련되도록 할 수 있다.

이하에서는 도1내지 도4를 참조하여 본 발명에 대해서 더욱 상세히 설명하기로 한다. 도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시패널의 검사방법을 나타낸 순서도이고, 도 2내지 도4는 본 발명의 제1실시예에 따른 검사방법을 설명하기 위 한 도면이다.

본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시패널(1)의 검사방법은 비쥬얼 인스펙션을 거쳐 쇼팅바가 절단된 액정표시패널(1)을 마련하는 단계(S100)에서 출발한다. 비쥬얼 인스펙션은 데이터선(22)과 게이트선(32)에 일정한 전압을 인가하여 통상 저항 이미지를 관찰하여 각 신호선(22,32)의 불량 여부를 판단하는 테스트이다. 비쥬얼 인스펙션 테스트를 용이하게 하기 위하여 신호선(22,32) 각각에 전기적으로 연결되어 있는 쇼팅바(미도시)가 사용된다. 쇼팅바는 각 신호선(22,32)에 단일의 검사 신호를 인가 할 수 있으므로 비쥬얼 인스펙션을 용이하게 할 뿐만 아니라 액정표시패널의 제조과정 중 발생하는 정전기로부터 박막트랜지스터 기판이 파괴되는 것을 방지하는 역할을 한다. 즉 예를 들어 어느 하나의 데이터선(22)에 정전기가 발생한 경우, 이 정전기는 개별 데이터선(22)을 전기적으로 연결해주는 쇼팅바를 통해 복수의 데이터선(22)으로 분산된다. 따라서 박막트랜지스터 기판이 파괴되는 것을 방지한다. 쇼팅바는 절단선과 그라인딩선 사이에 위치해 있는데 비쥬얼 인스펙션 후에는 남아있는 쇼팅바를 그라인딩을 통해 제거하며 이에 따라 도 2와 같이 각각 개별 게이트선(32)과 데이터선(22)으로 분리된 액정표시패널(1)이 마련된다.

도2에서 보는 바와 같이 비쥬얼 인스펙션을 거쳐 쇼팅바가 그라인딩되어 제거된 액정표시패널(1)은 박막트랜지스터 기판(10)과 박막트랜지스터 기판(10)과 대면하고 있는 컬러필터 기판(70), 양 기판(10,70)을 접합시키며 셀갭(cell gap)을 형성하는 실런트(미도시), 양 기판(10,70)과 실런트 사이에 위치하는 액정층(미도시)을 포함한다. 액정표시패널(1)은 액정층(미도시)의 배열을 조정하여 화면을 형 성하지만 비발광소자이기 때문에 배면에 위치한 광원(미도시)으로부터 빛을 공급 받아야 한다. 박막트랜지스터 기판(10)상에는 신호선인 데이터선(22)과 게이트선(32)이 형성되어 있으며 신호선의 말단에는 데이터 패드(21)와 게이트 패드(31)가 마련되어 있다.

이후 도3 및 도4와 같이 복수의 데이터 패드(21) 또는 복수의 게이트 패드(31) 각각에 신호인가부재(40)를 접촉시킨다(S200). 본 발명의 제 1실시예에서 신호인가부재(40)는 복수의 데이터 패드(21)에 모두 접촉되는 단일의 신호인가부재(40)와 복수의 게이트 패드(31)에 모두 접촉되는 단일의 신호인가부재(40)로 마련된다. 본 실시예에서 신호인가부재(40)는 바형으로 마련되었으나 여기에 한정되지 않으며 불량 검사의 편의를 위한 여러 형상으로 다양하게 변형 가능하다.

도4는 도3의 Ⅳ-Ⅳ선을 따라 자른 단면도로서, 절연기판(11)위에 게이트 절연막(12)이 형성되어 있으며, 게이트 절연막(12)은 실리콘 질화물등의 무기물로 이루어져 있다. 게이트 절연막(12)의 상부에는 데이터 패드(21)가 형성되어 있다. 데이터 패드(21)는 알루미늄, 크롬, 몰리브덴 또는 이들의 합금 등을 사용할 수 있으며, 다중층도 가능하다.

데이터 패드(21)의 상부에는 보호막(13)이 형성되어 있다. 보호막(13)은 주로 질화규소로 이루어진 무기막이지만 벤조사이클로부텐과 아크릴계 수지 중 어느 하나인 유기막으로 구성되거나 무기막위에 유기막을 적층시킨 이중막으로 구성 할 수도 있다. 보호막(13)은 데이터 패드 접촉구(23)에서는 제거되어 있다.

보호막(13)의 상부에는 투명전극(14)이 형성되어 있다. 투명전극(14)은 데이터 패드 접촉구(23)를 통하여 데이터 패드(21)와 연결되도록 형성되어 있다. 여기서 투명 전극은 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide)로 이루어져 있다.

투명전극(14)의 상부에는 신호인가부재(40)가 투명전극(14)과 접촉하고 있다.

신호인가부재(40)는 금속으로 만들어 질 수 있으나 각 패드(21,31)를 보호할 수 있으며 각 패드(21,31)와 접촉이 용이한 도전성 고무인 것이 바람직하다.

이후 투명전극(14)과 접하고 있는 신호인가부재(40)에 신호선인 데이터 선(22)과 게이트 선(32)의 불량 여부 검출을 위한 단일의 검사 신호를 인가한다(S300).

검사 신호 인가 단계(S300)를 자세히 살펴보면, 전원 공급원(미도시)에 연결된 검사 신호 발생기(미도시)를 통해 발생된 검사 신호를 신호인가부재(40)에 인가하게 된다. 신호인가부재(40)는 이를 투명 전극(14)을 통하여 데이터 패드(21) 및 게이트 패드(31)에 단일의 검사 신호를 보내게 되며 데이터 패드(21)와 게이트 패드(31)는 이 신호를 각각의 데이터 선(22)과 게이트 선(32)에 인가하게 된다.

신호 인가 과정을 거치게 되면 인가된 신호를 바탕으로 신호선인 데이터 선(22)과 게이트 선(32)의 불량 검출 단계(S400)를 거치게 된다. 불량 검출방법으로는 액정표시패널(1)에 나타난 이미지를 눈으로 확인하기도 하나 더욱 정밀하게 측정하기 위해서는 액정표시패널(1)에 나타나는 저항이미지를 측정하거나 신호선(22,23)의 개별적인 저항을 측정하여 측정된 저항값이 적정 저항값 영역에 속하는 지를 판단 함으로써 신호선(22,23) 중에 불량인 개별 데이터선(22) 또는 게이트선(32)을 검출 할 수 있다. 따라서, 본 발명의 제 1실시예에 따르면 전체 데이터 패드(21)와 게이트 패드(31) 각각에 접촉된 신호인가부재(40)를 통해 동시에 단일의 검사 신호를 인가함으로써 쇼팅바를 이용한 비쥬얼 인스펙션에서 발생하는 신호의 왜곡 문제는 발생하지 않게 된다.

이 후 통상 불량이 검출된 개별 데이터선(22) 또는 게이트선(32)에 대해서만 개별 신호 인가를 통한 불량좌표 검출단계(S500)를 거치게 된다. 이러한 불량좌표 검출방법을 그로스 테스트라 한다. 그로스 테스트란 불량임이 확인된 개별 신호선(22,32)에 대해서 신호 인가용 탐침(probe)을 이용하여 불량임이 확인된 신호선(22,32)의 개별 게이트 패드(31)와 데이터 패드(21)에 불량검출 신호를 인가함으로써 액정표시패널(1)상의 불량좌표를 검출하게 된다.

그로스 테스트는 완제품인 액정표시장치를 구성하기 전인 액정표시패널(1) 상태에서의 검사이지만 완제품인 액정표시장치와 동일한 조건하에서 검사를 진행하게 된다. 따라서, 그로스 테스트 설비는 백라이트 유닛 및 인터페이스 회로가 결합되지 않은 액정표시패널(1)을 완제품인 액정표시장치와 동일하게 구동할 수 있도록 구성되며, 여기에 생산을 편리하고 빠르게 할 수 있도록 한 자동반송 장치와 검사 데이터의 온 라인(on line) 장치가 부가되어 있다.

이상의 단계를 거침으로서 비쥬얼 인스펙션 후 쇼팅바를 그라인딩하여 제거하고 바로 그로스 테스트를 수행하는 이전의 검출방법에 비하여 액정표시패널의 불 량좌표를 효율적으로 검출 할 수 있게 된다.

이하 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시패널의 검사방법을 도 5를 참조하여 설명한다. 도 5는 도3과 달리 데이터선(22)과 게이트선(32)은 각각 복수의 데이터 블록(51,52,52)과 게이트 블록(61,62,63)으로 나누어져 있다. 신호인가부재(41,42)는 전체 데이터 패드(21)와 게이트 패드(31) 각각에 걸쳐 접촉되어 있는 것이 아니라 각 블록 별 데이터 패드(21)와 게이트 패드(31)에 접촉되어 있다. 따라서 도 1의 S200에서 S400까지의 단계를 살펴 보면 특정 데이터 블록(61)에 대한 데이터 패드(21)에 대해서만 신호인가부재(41)가 접촉되어 특정 데이터 블록(61)에 속한 데이터 선(22)에만 검사신호를 인가함으로써 특정 데이터 블록에 속한 데이터선(22)의 불량여부를 검출하게 된다. 마찬가지로 특정 게이트블록(61)에 해당하는 게이트선(31)의 불량여부를 신호인가부재(42)에 신호를 인가하여 측정하게 된다. 이 후 다른 데이터 블록(52)과 게이트 블록(62)으로 신호인가부재(41,42)가 이동하고 해당 블록(52,62)에 대한 신호선(22,32)의 불량여부를 검출한 후 순차적으로 이동하면서 다음 블록의 신호선(22,32)의 불량여부를 검출한다.

이하에서는 본 발명의 제 3실시예에 따른 액정표시패널의 검사방법을 도 6을 참조하여 설명하겠다. 도 6에서는 도5와 달리 데이터 블록(51,52,53)과 게이트 블록(61,62,63)에 대해 각각 하나의 신호인가부재(41,42)가 각 블록의 데이터 패드(21)와 게이트 패드(31)에 순차적으로 접촉하는 것이 아니라 개개의 블록전부에 대해 복수개의 신호인가부재(43,44)가 동시에 접촉되게 된다. 따라서 불량 검사 신호인가는 복수개의 신호인가부재(43,44) 사이에는 별도로 인가되나 블록단위에서 는 하나의 신호인가부재(43,44)에 의한 단일한 불량 검사 신호가 각 블록에 속한 패드(21,31)를 통해 신호선(22,32)에 인가되게 되는 것이다.

이상의 실시예에서는 쇼팅바가 제거된 후에 신호인가부재(40,41,42,43,44)가 데이터 패드(21) 및 게이트 패드(31) 각각에 접촉되는 것으로 설명하였으나 이에 한정되는 것은 아니다. 즉 각각의 데이터 패드(21)와 게이트 패드(31)에서 연장된 신호선(22,32)에 연결되어 있는 쇼팅바를 이용한 비쥬얼 인스펙션 후에 쇼팅바를 제거하지 않고 바로 신호인가부재(40,41,42,43,44)를 각각의 패드(22,32)에 접촉시켜 불량 검사 신호를 인가함으로써 신호 왜곡 문제를 해결 할 수 있다.

따라서 비록 본 발명의 몇몇 실시예들이 도시되고 설명되었지만, 본 발명의 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 액정표시패널의 불량좌표를 효율적으로 검출할 수 있는 액정표시패널의 검사방법이 제공된다.

Claims (9)

1. 복수의 신호선과, 상기 복수의 신호선 각각에 연결되어 있는 복수의 패드를 포함하는 액정표시패널을 마련하는 단계와;

   적어도 두개 이상의 상기 패드에 단일의 신호인가부재를 접촉시키는 단계와;

   상기 신호인가부재에 검사 신호를 인가하여 상기 신호선의 불량을 검출하는 단계와;

   불량이 검출된 상기 신호선에 개별 검사 신호를 인가하여 불량 좌표를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 신호선의 불량 검출 단계에서는,

   상기 액정표시패널의 저항이미지를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
3. 제 1항에 있어서,

   상기 신호선의 불량 검출 단계에서는,

   상기 신호선 각각의 저항을 측정하고 상기 신호선 각각의 저항이 적정영역에 속하는지를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
4. 제 1항에 있어서,

   상기 신호인가부재를 상기 패드에 접촉하기 전에,

   상기 복수의 패드를 전기적으로 상호 분리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
5. 제 1항에 있어서,

   상기 패드는 게이트 패드를 포함하며, 상기 신호인가부재는 전체 게이트 패드에 접촉되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
6. 제 1항에 있어서,

   상기 패드는 데이터 패드를 포함하며, 상기 신호인가부재는 전체 데이터 패드에 접촉되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
7. 제 1항에 있어서,

   상기 신호인가부재는 바형인 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
8. 제 1항에 있어서,

   상기 신호인가부재를 이용한 불량 검출은 상기 패드를 복수의 블록으로 나누어 수행되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.
9. 제 8항에 있어서,

   상기 신호인가부재는 상기 블록별로 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 검사방법.

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