CN103676239B - 一种液晶面板及其图像残留的检测方法 - Google Patents

一种液晶面板及其图像残留的检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种液晶面板，包括成品区和测试区，测试区设置RGB测试块和空白测试块，所述RGB测试块由红色、绿色和蓝色三种颜色的光阻叠加而成，所述RGB测试块与成品区的液晶面板的电阻和金属离子浓度相同，通过对RGB测试块进行电阻和金属离子浓度检测，以判定成品区的液晶面板的相关指标是否达标。本发明还提供了对所述液晶面板进行图像残留检测的方法。通过本发明的液晶面板和影响残留的检测方法，通过小样测试块提前对液晶面板的电阻和金属离子浓度进行检测，以判定成品区的液晶面板上图像残留是否超标，大大缩短了液晶面板的图像残留的测试时间，明显地提高液晶面板的检测效率，提高了液晶面板的良品率，优化了产品质量，呈现优质的显示效果。

Description

一种液晶面板及其图像残留的检测方法
技术领域
本发明涉及一种液晶面板及检测方法，尤其是指一种液晶面板及其图像残留的检测方法。
背景技术
图像残留(IS，ImageSticking)是液晶面板制程(Opencell)的一个主要检测项目，引起图像残留的因素有很多：TFT驱动部分电容设计不良，制程中金属残留，液晶材料电阻规格不够。目前判断图像残留的方式主要是将液晶屏高温高湿存储测试168小时后，再测试液晶屏的画面效果，耗时7天，测试时间长，不能及时监测产品状况。另一种是通过检测待测物阻值，确定液晶材料或制程材料金属是否不符合规格而造成寄生电容，影响液晶的旋转。
液晶面板完成可靠性测试后再进行图像残留检测，需要的时间较长，一旦出现图像残留问题，一般通过液晶面板拆片解析或设计实验进行层别来分析和追踪图像残留产生的最终原因，造成的产能和材料的浪费。
发明内容
基于现有技术的不足，本发明的主要目的在于提供一种可对图像残留进行快速检测的液晶面板及其检测方法。
本发明提供了一种液晶面板，其包括成品区和测试区，其中，在测试区设置RGB测试块和空白测试块，所述RGB测试块由红色、绿色和蓝色三种颜色的光阻叠加而成，所述RGB测试块与成品区的液晶面板的电阻和金属离子浓度相同，通过对RGB测试块进行电阻和金属离子浓度检测，以判定成品区的液晶面板的相关指标是否达标。
优选地，所述测试区设置于成品区的任一侧，所述测试区还可进一步包括红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块三个单色测试块。所述RGB测试块、空白测试块、红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块排列成一直线。各测试块的长度大于5mm，宽度大于3mm。
本发明还提供了一种液晶面板的图像残留检测方法，其包括以下步骤：
步骤1)在液晶面板上设置测试区，在测试区上设置有RGB测试块和空白测试块；
步骤2)对RGB测试块的目标参数进行检测，若测定的目标参数在设定标准范围内，则判定液晶面板未出现图像残留超标；若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，转步骤3)；
步骤3)对空白检测块的目标参数进行检测，若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶基板材料超标。
其中，所述待测定的目标参数为RGB测试块和/或空白测试块的电阻和金属离子浓度。
优选地，可增设红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块三个单色测试块，通过单色检测，以分辨确认出哪一种颜色的光阻使得图像残留超标。依次对红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块的目标参数进行检测，若任一测试块的目标参数超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，并在检测结果中输出显示所检测的测试块。
优选地，还可进一步包括步骤4)保存各测试块所测定的电阻和金属离子浓度，以追踪对影响残留造成影响的因素和待检测液晶面板的质量状况。
与现有技术相比，通过本发明的液晶面板和影响残留的检测方法，通过小样测试块提前对液晶面板的电阻和金属离子浓度进行检测，以判定成品区的液晶面板上图像残留是否超标，大大缩短了液晶面板的图像残留的测试时间，提前了7天获得液晶面板上图像残留的检测结果，明显地提高液晶面板的检测效率，减少因图像残留问题造成的不良品，提高了液晶面板的良品率，优化了产品质量，呈现更为优质的显示效果。通过单色光阻的检测，可更快地判定图像残留超标的影响因素，减少设计实验进行层别造成的产能和材料的浪费。可快速确认同一片玻璃上的产品对应的液晶面板参数和质量状况，对于检测项目超标而造成异常的产品，可迅速框货，禁止异常品出货。
附图说明
图1为本发明一种液晶面板的实施例一的结构示意图；
图2为本发明一种液晶面板的实施例二的结构示意图。
具体实施方式
为了提高液晶面板的检测效率，本发明提供了一种改进的液晶面板结构，以便于快速检测液晶面板上的图像残留(IS，ImageSticking)，并提供了一种对液晶面板的图像残留进行检测的方法，以在液晶面板成型(opencell)后，通过取小样检测的方式，对液晶面板进行多重检测，一方面可大大缩短检测时间，有效地提高检测效率，避免造成出厂抽检时才发现图像残留的现象，影响液晶屏出厂成品的质量。
本发明提供了一种液晶面板，在生产时，制成成品区1和测试区2，测试区2同步成型于成品区1的任一侧，测试区2上设置有若干个测试块，借助对测试块的单独检测以判定成品区的液晶面板是否合格达标。以下通过两个实施例分别详细说明液晶面板的结构和图像残留检测方法。
实施例一
参照图1所示，在本实施例一中，液晶面板的测试区2设置有RGB测试块21a和空白测试块22a，所述RGB测试块21a由红色(R)、绿色(G)和蓝色(B)三种颜色的光阻叠加而成，所述RGB测试块21a与成品区1的液晶面板的电阻、金属离子浓度和像素相同，通过对RGB测试块21a进行电阻和金属离子浓度检测，以判定成品区1的液晶面板的图像残留是否达标。测试区2设于成品区1的右侧，其可切割与成品区1相分离，以单独进行检测。RGB测试块21a和空白测试块22a的长度大于5mm，宽度大于3mm。
以下具体说明采用对本实施例的液晶面板进行图像残留检测的方法。
一种液晶面板的图像残留检测方法，其包括以下步骤：
步骤1)在液晶面板上设置测试区，在测试区上设置有RGB测试块21a和空白测试块22a；
步骤2)对RGB测试块的目标参数进行检测，若测定的目标参数在设定标准范围内，则判定液晶面板未出现图像残留超标；若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，转步骤3)；
步骤3)对空白检测块的目标参数进行检测，若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶基板材料超标。
其中，在步骤1)中，液晶面板上的测试区设置于成品区的任一侧，可切割分离，测试区上设有空白测试块22a以及与成品区的液晶面板同步成型的RGB测试块21a，空白测试块22a中未涂布任何光阻，呈现液晶基板本身的特性，RGB测试块21a由不同颜色的光阻：红色(R)光阻、绿色(G)光阻和蓝色(B)光阻叠加涂布形成，其与成品区的液晶面板同步成型，两者特性完全相同。
在步骤2)中，所述待测定的目标参数为RGB测试块和/或空白测试块的电阻和金属离子浓度。将测试区与成品区切割分离，通过对RGB测试块21a进行电阻和金属离子浓度的测定，若RGB测试块21a的电阻或金属离子浓度超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，并在检测结果中输出显示所检测的测试块，如在检测结果中标示出：RGB测试块中的电阻或金属离子浓度超标，则该RGB测试块上的图像残留超标，反馈成品区的液晶面板上的图像残留超标。
接下来，也对空白检测块的电阻和金属离子浓度进行检测，若超出设定标准范围，则表明液晶基板材料本身的金属离子浓度超出标准。
通过设置小样测试块对液晶面板的图像残留是否超标进行检测，可在液晶面板成品成型前，对其进行电阻和金属离子浓度的检测，以判定在完成液晶面板(opencell)工序后，液晶面板上的图像残留指标是否达标。还可通过对空白测试块进行单独检测，分析所采用的液晶基板材料中的金属离子浓度是否超标。由此，不仅可快速地判断出成品区的液晶面板的图像残留指标是否达标，大大缩短了检测的时间，尽早地排出不良品，提高成品率；并且，可分析出影响图像残留超标的因素。
实施例二
参照图2所示，在本实施例二中，液晶面板的测试区2设置有RGB测试块21b、空白测试块22b、红色测试块(R测试块)23b、绿色测试块(G测试块)24b和蓝色测试块(B测试块)25b三个单色测试块，所述测试区2设置于成品区1的任一侧，所述RGB测试块21b、空白测试块22b、红色测试块23b、绿色测试块24b和蓝色测试块25b排列成一直线。红色测试块(R测试块)23b为涂布有红色光阻的测试块，绿色测试块(G测试块)24b为涂布有绿色光阻的测试块，蓝色测试块(B测试块)25b为涂布有蓝色光阻的测试块。测试区2设于成品区1的右侧，其可切割与成品区1相分离，以单独进行检测。各测试块的长度大于5mm，宽度大于3mm。
以下具体说明采用对本实施例的液晶面板进行图像残留检测的方法。
一种液晶面板的图像残留检测方法，其包括以下步骤：
步骤1)在液晶面板上设置测试区，在测试区上设置有RGB测试块21b、空白测试块22b、红色测试块(R测试块)23b、绿色测试块(G测试块)24b和蓝色测试块(B测试块)25b三个单色测试块；
步骤2)依次对各测试块的目标参数进行检测，若测定的目标参数在设定标准范围内，则判定液晶面板未出现图像残留超标；若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，转步骤3)；
步骤3)对空白检测块的目标参数进行检测，若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶基板材料超标。
其中，在步骤1)中，液晶面板上的测试区设置于成品区的任一侧，可切割分离，测试区上设有空白测试块22a以及与成品区的液晶面板同步成型的RGB测试块21a，空白测试块22a中未涂布任何光阻，呈现液晶基板本身的特性，RGB测试块21a由不同颜色的光阻：红色(R)光阻、绿色(G)光阻和蓝色(B)光阻叠加涂布形成，其与成品区的液晶面板同步成型，两者特性完全相同，三个单色测试块则分别呈现单独涂布红色、绿色和蓝色光阻时对图像残留指标的影响。
在步骤2)中，依次对红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块的目标参数进行检测，若任一测试块的目标参数超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，并在检测结果中输出显示所检测的测试块。
在步骤2)中，所述待测定的目标参数为RGB测试块和/或空白测试块的电阻和金属离子浓度。进一步包括以下步骤：
步骤21)首先，将测试区与成品区切割分离，通过对RGB测试块21a进行电阻和金属离子浓度的测定，若RGB测试块21a的电阻或金属离子浓度超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，并在检测结果中输出显示所检测的测试块，如在检测结果中标示出：RGB测试块中的电阻或金属离子浓度超标，则该RGB测试块上的图像残留超标，反馈成品区的液晶面板上的图像残留超标；
步骤22)接着，若上述检测结果中RGB测试块的图像残留超标，则对红色测试块(R测试块)、绿色测试块(G测试块)和蓝色测试块(B测试块)三个单色测试块分别进行电阻和金属离子浓度检测，若任一单色测试块中的电阻或金属离子浓度超标，则在检测结果中标示出，影响图像残留的单色测试块，以使检测者获知对图像残留产生影响的具体因素，如红色测试块中的金属离子浓度超标，根据检测结果中的超量值对应地降低红色光阻的金属离子浓度，通过对各个单色光阻的测试块进行分别检测，可清晰量测并界定究竟是哪一种颜色光阻的用量影响图像残留超标，并根据超量值对应地调整相应光阻的用量，以更为精确地调整液晶面板的光阻用量，快速排除影响因素，优化产品质量。
在本发明的又一个优选实施例中，还可进一步包括步骤4)保存各测试块所测定的电阻和金属离子浓度，通过对液晶面板的测试块ID进行建档存储，以便于通过对测试块小样进行追踪确认，以追踪对影响残留造成影响的因素和待检测液晶面板的质量状况。
通过本发明的液晶面板和影响残留的检测方法，通过小样测试块提前对液晶面板的电阻和金属离子浓度进行检测，以判定成品区的液晶面板上图像残留是否超标，大大缩短了液晶面板的图像残留的测试时间，明显地提高液晶面板的检测效率，提高了液晶面板的良品率，优化了产品质量，呈现更为优质的显示效果。

Claims (9)

1.一种液晶面板，其包括成品区和测试区，其特征在于：在测试区设置RGB测试块和空白测试块，所述RGB测试块由红色、绿色和蓝色三种颜色的光阻叠加而成，所述RGB测试块与成品区的液晶面板的电阻和金属离子浓度相同，空白测试块中未涂布任何光阻，呈现液晶基板本身的特性，通过对RGB测试块进行电阻和金属离子浓度检测，以判定成品区的液晶面板的相关指标是否达标。
2.根据权利要求1所述的液晶面板，其特征在于：所述测试区进一步包括红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块三个单色测试块，红色测试块为涂布有红色光阻的测试块，绿色测试块为涂布有绿色光阻的测试块，蓝色测试块为涂布有蓝色光阻的测试块。
3.根据权利要求2所述的液晶面板，其特征在于：所述RGB测试块、空白测试块、红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块的长度大于5mm，宽度大于3mm。
4.根据权利要求2所述的液晶面板，其特征在于：所述测试区设置于成品区的任一侧。
5.根据权利要求2所述的液晶面板，其特征在于：所述RGB测试块、空白测试块、红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块排列成一直线。
6.一种液晶面板的图像残留检测方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤1)在液晶面板上设置测试区，在测试区上设置有RGB测试块和空白测试块，其中，所述RGB测试块由红色、绿色和蓝色三种颜色的光阻叠加而成，所述RGB测试块与成品区的液晶面板的电阻和金属离子浓度相同，空白测试块中未涂布任何光阻，呈现液晶基板本身的特性；
步骤2)对RGB测试块的目标参数进行检测，若测定的目标参数在设定标准范围内，则判定液晶面板未出现图像残留超标；若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，其中，所述待测定的目标参数为RGB测试块和/或空白测试块的电阻和金属离子浓度，转步骤3)；
步骤3)对空白检测块的目标参数进行检测，若目标参数超出设定标准范围，则判定液晶基板材料超标。
7.根据权利要求6所述的液晶面板的图像残留检测方法，其特征在于：在步骤1)中，增设红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块三个单色测试块，红色测试块为涂布有红色光阻的测试块，绿色测试块为涂布有绿色光阻的测试块，蓝色测试块为涂布有蓝色光阻的测试块。
8.根据权利要求7所述的液晶面板的图像残留检测方法，其特征在于：在步骤2)中，依次对红色测试块、绿色测试块和蓝色测试块的目标参数进行检测，若任一测试块的目标参数超出设定标准范围，则判定液晶面板图像残留超标，并在检测结果中输出显示所检测的测试块。
9.根据权利要求8所述的液晶面板的图像残留检测方法，其特征在于：进一步包括步骤4)保存各测试块所测定的电阻和金属离子浓度，以追踪对影响残留造成影响的因素和待检测液晶面板的质量状况。
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