CN103885217B - 一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置 - Google Patents
一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103885217B CN103885217B CN201410086067.1A CN201410086067A CN103885217B CN 103885217 B CN103885217 B CN 103885217B CN 201410086067 A CN201410086067 A CN 201410086067A CN 103885217 B CN103885217 B CN 103885217B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- cylindrical spacer
- image
- liquid crystal
- crystal panel
- defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
本发明公开了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置，用以准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。所述检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，包括获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
Description
技术领域
本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置。
背景技术
液晶面板中的柱状隔垫物的良率会直接影响整个液晶面板的显示效果，目前，在彩膜工厂使用全数检查机检测柱状隔垫物的缺陷，并监控各个型号产品的柱状隔垫物良率。柱状隔垫物的图像具有周期性，而目前对于柱状隔垫物的检出存在很大的漏检和误检，由于在制作柱状隔垫物工艺中存在柱状隔垫物异物和柱状隔垫物缺失等问题，导致严重影响其柱状隔垫物的良率。
现有技术针对柱状隔垫物检测是通过五点比对方法来检测的，具体的检测如图1所示。图中，10表示彩膜基板中的红色（R）子像素俯视图，11表示彩膜基板中的绿色（G）子像素俯视图，12表示彩膜基板中的蓝色（B）子像素俯视图，13、14、15、16和17分别表示位于彩膜基板和阵列基板之间的柱状隔垫物俯视图，其中，以柱状隔垫物俯视图13为测试点，柱状隔垫物俯视图14、15、16和17为参考点，在测试过程中，若13的灰度值为A1，14的灰度值为A2，15的灰度值为A3，16的灰度值为A4，17的灰度值为A5。若上述五个灰度值的大小关系为：A2<A3<A5<A4<A1，取五个灰度值的中间值A5，当︱A1-A5︱大于设定值时，表示测试的柱状隔垫物俯视图13对应的柱状隔垫物存在缺陷，当︱A1-A5︱小于设定值时，表示测试的柱状隔垫物俯视图13对应的柱状隔垫物无缺陷，这里的设定值对于不同的生产工艺其值也不同，目前该设定值一般为30或50，这种通过五点比对方法来检测柱状隔垫物的方法存在一定的弊端，由于柱状隔垫物是透明状，对于光源不是特别敏感，其灰度反应出来的数据波动较小。
综上所述，现有技术中检测柱状隔垫物的方法无法准确的检查出柱状隔垫物存在的缺陷，并且当有大范围面积的柱状隔垫物缺失时，则无法进行检测，从而无法监控柱状隔垫物工艺。
发明内容
本发明实施例提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置，用以准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
本发明实施例提供的一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，所述方法包括：
获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
由本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，包括：获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标，因此，本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法能够准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
较佳地，所述计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括：
计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
这样，由于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型，极大的方便了后续对柱状隔垫物缺陷的修复。
较佳地，所述获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，包括：
通过CCD相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像。
这样，通过CCD相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，在实际检测过程中方便、简单。
较佳地，所述将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，包括：通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对。
这样，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，在实际检测过程中可以方便、简单的确定与所述标准图像不同的第一子区域图像。
本发明实施例还提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，所述装置包括：
图像获取单元，用于获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
图像比对单元，用于将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
灰度检测单元，用于检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
由本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，包括：图像获取单元，用于获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；图像比对单元，用于将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；灰度检测单元，用于检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标，因此，本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置能够准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
较佳地，所述装置还包括缺陷类型计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
这样，当所述装置包括用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型的缺陷类型计算单元时，极大的方便了后续对柱状隔垫物缺陷的修复。
较佳地，所述缺陷类型包括：灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度大的白缺陷和/或灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度小的黑缺陷。
这样，将缺陷类型分为灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度大的白缺陷和灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度小的黑缺陷，在实际检测中更加方便、简单。
较佳地，所述图像获取单元为CCD相机。
这样，图像获取单元为CCD相机时，在实际检测过程中方便、简单。
较佳地，所述图像比对单元具体用于，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对。
这样，当所述图像比对单元具体用于，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，在实际检测过程中方便、简单。
附图说明
图1为现有技术检测柱状隔垫物缺陷的示意图；
图2为本发明实施例提供的一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法流程图；
图3为本发明实施例提供的一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置示意图。
具体实施方式
本发明实施例提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置，用以准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
如图2所示，本发明具体实施例提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，所述方法包括：
S201、获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
S202、将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
S203、检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
S204、计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
下面结合附图详细介绍本发明具体实施例中检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法。
本发明具体实施例检测液晶面板柱状隔垫物缺陷时，首先需要预先设置一个标准图像，并将该标准图像存入测试系统中，所述标准图像是从正常的检测基板上截取下来的图像，在实际生产过程中，柱状隔垫物的图像分布跟正常的RGB图形分布一样，也是具有一定的周期性的，在一个周期内包括多个尺寸的主要柱状隔垫物和次要柱状隔垫物，本发明具体实施例预先设置的标准图像中包含一个周期内的正常柱状隔垫物图像，所述标准图像中包含的正常柱状隔垫物图像中柱状隔垫物的具体个数依据实际生产得到的柱状隔垫物图像而定。另外，在设置好标准图像后，本发明具体实施例还需要设置一个测试标准模板，并将设置的测试标准模板写入检测系统的软件中，设置的标准模板里需要设置尺寸较大的主要柱状隔垫物的个数及尺寸、尺寸较小的次要柱状隔垫物的个数及尺寸，同时还需要设置柱状隔垫物一个周期的分布情况，具体如表1所示。
表1
表1中的像素水平间距、像素垂直间距以及柱状隔垫物水平间距、柱状隔垫物垂直间距只是本发明具体实施例中的一个例子，具体的数值设置根据实际的生产工艺进行设置，另外，主要柱状隔垫物尺寸和次要柱状隔垫物尺寸的单位同样为微米，具体的数值设置同样根据实际的生产工艺进行设置。主要柱状隔垫物和次要柱状隔垫物尺寸的大小在不同的生产工艺和检测过程中设置为不同的值，同时主要柱状隔垫物和次要柱状隔垫物尺寸的大小也可以设置为一个范围，并不限定为一个具体的值。在检测柱状隔垫物是否存在缺陷时，对于同一型号的产品，只需直接调用本发明具体实施例中设置的标准图像和标准模板即可，不需要再次设置。
本发明具体实施例检测液晶面板柱状隔垫物缺陷时，通过电荷耦合元件（ChargeCoupledDevice，CCD），即CCD相机获取包含柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，柱状隔垫物生产工艺制作得到的柱状隔垫物图像具有周期性，但在实际生产过程中，由于生产工艺的不稳定会照成一定的柱状隔垫物缺陷，而柱状隔垫物缺陷的存在会极大的影响液晶面板的显示效果，因此需要将存在缺陷的柱状隔垫物及时、准确的检出。
将获取的液晶面板俯视图像以本发明具体实施例中预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像。其中，本发明具体实施例中将每个区域的图像与所述标准图像进行比对是通过模板匹配法进行比对的，具体的模板匹配法与现有技术相同，在此不予赘述。通过模板匹配法进行比对后，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像，第一子区域图像中包含的柱状隔垫物被认为是存在缺陷的，由于本发明具体实施例中预先设置的标准图像中包含有多个像素，因此相对于以像素为单位进行比对的情况，能够节约检测时间，提高检测效率，减少生产成本。
在确定与所述标准图像不同的第一子区域图像后，即在找到存在缺陷的柱状隔垫物的图像后，由于在实际生产中，有部分存在缺陷的柱状隔垫物的外观形态与正常的柱状隔垫物相同，但其灰度值可能会比正常的柱状隔垫物的灰度值大很多或小很多，而通过模板匹配法无法检测这部分存在缺陷的柱状隔垫物。因此在模板匹配后，还需要检测每个第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像，此时得到的第二子区域图像中的柱状隔垫物就是生产过程中需要检测的存在缺陷的柱状隔垫物。例如：正常的柱状隔垫物图像的灰度值为100，当柱状隔垫物存在缺陷时，柱状隔垫物图像的灰度值会发生变化，而在实际生产中，有一部分柱状隔垫物虽然也存在缺陷，但其对整个液晶显示面板的显示影响较小，则可以认为这部分柱状隔垫物正常，在实际检测中可以不计算这部分柱状隔垫物的位置坐标，从而能够节约检测时间，降低检测成本，假如可以预先将灰度值范围设定在80-120之间，在实际检测过程中，灰度值在80-120之间的柱状隔垫物均认为是正常的。其中，预设的灰度值范围对于不同的工艺可以根据经验进行设定，不在预设灰度值范围的柱状隔垫物图像认为是存在缺陷的。接着只需要计算第二子区域图像中的柱状隔垫物的位置坐标即可，计算该第二子区域图像中的柱状隔垫物的位置坐标，具体可以通过以检测基板的中心为原点，来转换坐标。
在实际生产中，为了方便后续对检测出来的存在缺陷的柱状隔垫物进行修复，还需要在计算存在缺陷的柱状隔垫物的位置坐标后，计算存在缺陷的柱状隔垫物的缺陷类型。本发明具体实施例中存在缺陷的柱状隔垫物的缺陷类型主要包括灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度大的白缺陷和/或灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度小的黑缺陷。
下面举例说明检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像的方法。本发明具体实施例中灰度的比对方法是通过像素的平移进行比对，正常的柱状隔垫物图像的灰度值是相同的，而存在缺陷的柱状隔垫物图像的灰度值和正常的柱状隔垫物图像的灰度值是有差异的。具体的，假设正常的柱状隔垫物图像的灰度值为100，依次对第一子区域图像中相邻的柱状隔垫物图像A、B和C进行比对，如果A的灰度值为100，B的灰度值为200，C的灰度值为100，若A、B、C都对应正常柱状隔垫物，则A、B、C的灰度值应该都为100，所以可判定柱状隔垫物图像B对应的柱状隔垫物存在缺陷，而B的灰度值大于100，从而可确定B对应的柱状隔垫物缺陷的类型为白缺陷。
在实际生产过程中，当遇到大批量的柱状隔垫物缺失时，存在缺陷的柱状隔垫物很容易检不出来，此时需要应用本发明具体实施例提供的测试标准模板中的柱状隔垫物的尺寸及数量进行限制。因此，本发明具体实施例提供的柱状隔垫物缺陷的检测方法避免了当大面积柱状隔垫物缺失时无法检测的现象。
如图3所示，本发明具体实施例还提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，所述装置包括：
图像获取单元30，用于获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
图像比对单元31，用于将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
灰度检测单元32，用于检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
计算单元33，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
较佳地，本发明具体实施例中的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置还包括缺陷类型计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
其中，本发明具体实施例中的图像获取单元30为CCD相机。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (7)
1.一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括：
计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，包括：
通过CCD相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像。
4.一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，其特征在于，所述装置包括：
图像获取单元，用于获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
图像比对单元，用于将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
灰度检测单元，用于检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置还包括缺陷类型计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述缺陷类型包括：灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度大的白缺陷和/或灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度小的黑缺陷。
7.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述图像获取单元为CCD相机。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410086067.1A CN103885217B (zh) | 2014-03-10 | 2014-03-10 | 一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410086067.1A CN103885217B (zh) | 2014-03-10 | 2014-03-10 | 一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103885217A CN103885217A (zh) | 2014-06-25 |
| CN103885217B true CN103885217B (zh) | 2016-06-15 |
Family
ID=50954192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201410086067.1A Active CN103885217B (zh) | 2014-03-10 | 2014-03-10 | 一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103885217B (zh) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104375290B (zh) * | 2014-10-21 | 2017-03-29 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 隔垫物检测方法和设备 |
| CN105628710A (zh) * | 2014-11-28 | 2016-06-01 | 浙江金徕镀膜有限公司 | 物料检测系统及其检测方法 |
| CN106269558A (zh) * | 2015-05-18 | 2017-01-04 | 征图新视（江苏）科技有限公司 | 大叶农作物叶片分级方法及系统 |
| CN105242423B (zh) * | 2015-11-11 | 2018-10-19 | 武汉华星光电技术有限公司 | Tft-lcd彩膜玻璃基板的检测和修复方法及其系统 |
| CN105425436A (zh) * | 2015-12-31 | 2016-03-23 | 东旭（昆山）显示材料有限公司 | 用于检测彩色滤光片上间隔物的装置 |
| CN105676493B (zh) * | 2016-04-07 | 2019-06-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种修复设备及修复方法 |
| CN106097361B (zh) * | 2016-06-20 | 2020-06-19 | 昆山国显光电有限公司 | 一种缺陷区域检测方法及装置 |
| CN106290036B (zh) * | 2016-08-26 | 2019-03-15 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板内支撑柱的质量检测设备 |
| CN106530291B (zh) * | 2016-10-28 | 2019-01-22 | 重庆工商职业学院 | 一种基于图像处理的抛光表面检测方法及其系统 |
| CN108563046B (zh) * | 2018-01-15 | 2020-10-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 隔垫物支撑能力评价方法和装置及计算机可读存储介质 |
| CN108508637B (zh) * | 2018-03-08 | 2020-09-11 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备 |
| CN109000887B (zh) * | 2018-05-25 | 2021-04-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种图案检测装置及方法、图案化控制系统及方法 |
| CN111325707B (zh) * | 2018-12-13 | 2021-11-30 | 深圳中科飞测科技股份有限公司 | 一种图像处理方法和系统、检测方法和系统 |
| CN110058439B (zh) * | 2019-05-20 | 2021-03-23 | 成都中电熊猫显示科技有限公司 | 彩色滤光片上的异物去除方法及设备 |
| CN114359179A (zh) * | 2021-12-16 | 2022-04-15 | 苏州镁伽科技有限公司 | 面板检测方法、系统、电子设备及存储介质 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101551232B (zh) * | 2008-04-03 | 2013-05-22 | 北京京东方光电科技有限公司 | 测量柱状隔垫物的方法和装置 |
| CN102081244A (zh) * | 2011-03-01 | 2011-06-01 | 友达光电股份有限公司 | 一种检测像素的方法 |
| JP2013033096A (ja) * | 2011-08-01 | 2013-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示パネルおよびその製造方法 |
| CN203443544U (zh) * | 2013-07-04 | 2014-02-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种柱状隔垫物检查机 |
-
2014
- 2014-03-10 CN CN201410086067.1A patent/CN103885217B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103885217A (zh) | 2014-06-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103885217B (zh) | 一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置 | |
| CN104484878B (zh) | 显示面板缺陷的自动检测方法 | |
| CN106097361B (zh) | 一种缺陷区域检测方法及装置 | |
| US10334243B2 (en) | Testing method and testing apparatus for splicing screens | |
| WO2018166266A1 (zh) | 基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置 | |
| CN108508637B (zh) | 一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备 | |
| CN108039143B (zh) | 一种伽马电路调整的方法及装置 | |
| CN107515481B (zh) | 一种显示面板的检测方法和装置 | |
| US20190266932A1 (en) | Testing method for splicing screens | |
| US20170146406A1 (en) | Method and device for determining yellowish level of screen caused by pressing | |
| CN102854195B (zh) | 彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法 | |
| JP2014164221A (ja) | 表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置 | |
| CN104766310A (zh) | 光源检测系统和检测方法 | |
| CN104101614B (zh) | 一种检测方法及装置 | |
| CN104391390A (zh) | 基板检查装置及方法 | |
| CN104408727A (zh) | 一种图像边缘污点检测方法及系统 | |
| US9646224B2 (en) | Image processing method, image processing device and automated optical inspection machine | |
| CN113808104A (zh) | 一种基于分块的金属表面缺陷检测方法及系统 | |
| CN109307587B (zh) | 显示面板检测方法、装置及系统 | |
| CN105303565A (zh) | 产品外观的logo检测方法 | |
| US9652842B2 (en) | Method, apparatus and equipment of inspecting quality of LCD | |
| CN102740110A (zh) | 一种图片暗角的检测方法及移动设备 | |
| WO2017049863A1 (zh) | 液晶滴注系统及控制方法 | |
| KR20140068543A (ko) | 표시패널 검사장치 및 그 검사방법 | |
| CN102081244A (zh) | 一种检测像素的方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant |