CN108508637B - 一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备，其中，显示面板的检测方法包括：选取显示基板上的检测点，其中，检测点对应间隔单元或像素单元；按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点；根据检测点与2个对比点的灰阶值，判断检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。本发明实施例现有的检测支撑柱丢失的方法对计算机资源消耗巨大、耗时长的问题，可高效率地检测出缺损间隔单元，节省计算机资源，节约显示设备的生产时间。

Description

一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备

技术领域

本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备。

背景技术

液晶显示器凭借其低重量、低功耗、高清晰和被动发光等优点成为目前主流显示器件，广泛应用于手机、电脑、电视等电子显示产品中。液晶显示器由于复杂的生产工艺，存在诸多有待解决的问题，其中，显示基板(如彩膜基板)上支撑柱丢失为常见的问题之一。支撑柱丢失会影响液晶屏盒厚，导致出现重力mura或者真空泡，而且由于液晶屏少了支撑，也会严重降低液晶屏的抗按压能力。

目前，检测支撑柱丢失的方式普遍是通过自动光学检测(Automatic OpticInspection，AOI)设备使用对比法进行计算，基本原理为：AOI设备先计算出正常状态下的支撑柱分布图，然后再与AOI设备检测得到的图像进行对比，计算出差异的位置即是支撑柱丢失的位置。此方法由于需要进行图形比较，对计算机资源消耗巨大，而且比较耗费时间，影响显示设备整体的生产时间。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提出一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备，以高效率地检测出缺损间隔单元，节省计算机资源，节约显示设备的生产时间。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

在一个实施例中，本发明提供了一种显示面板的检测方法，包括：

选取显示基板上的检测点，其中，所述检测点对应间隔单元或像素单元；

按照设定对比间距在所述检测点的周围选取至少2个对比点；

根据所述检测点与所述至少2个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；

根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。

在另一个实施例中，本发明提供了一种显示面板的检测装置，包括：

检测点选取模块，用于选取显示基板上的检测点，其中，所述检测点对应间隔单元或像素单元；

对比点选取模块，用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取至少2个对比点；

缺陷检测模块，用于根据所述检测点与所述至少2个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；

缺损间隔单元确定模块，用于根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。

在又一个实施例中，本发明还提供了一种自动光学检测设备，显示面板的检测装置；所述显示面板的检测装置包括：

检测点选取模块，用于选取显示基板上的检测点，其中，所述检测点对应间隔单元或像素单元；

对比点选取模块，用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点，其中，设定对比间距包括标准像素间距或标准间隔单元间距；

缺陷检测模块，包括坐标集合检测单元，所述坐标集合检测单元用于检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合；

缺损间隔单元确定模块，包括像素缺陷位置坐标集合计算单元和缺损间隔单元位置坐标集合计算单元；其中，所述像素缺陷位置坐标集合计算单元用于像素缺陷的位置坐标集合对所述第一位置坐标集合和所述第二位置坐标集合求交集，得到所述像素缺陷的位置坐标集合；所述缺损间隔单元位置坐标集合计算单元用于根据所述像素缺陷的位置坐标集合求所述第二位置坐标集合的补集，得到所述缺损间隔单元的位置坐标集合。

本发明的有益效果是：本发明提供的显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备，基于自动光学检测的对比法，通过控制对比法的对比间距，即选取显示基板上的检测点，按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点，根据检测点与至少2个对比点的灰阶值，判断检测点是否为显示面板上的缺陷，由此可以检测出显示基板的包括正常间隔单元和像素缺陷第一缺陷，以及包括像素缺陷和缺损间隔单元第二缺陷，再根据第一缺陷和第二缺陷，即对比第一缺陷和第二缺陷，便可以确定出缺损间隔单元，避免了标准支撑柱分布图与检测出的图像进行对比，进而减少了大量的图像数据处理操作，由此，可以高效率地检测出缺损间隔单元，节省计算机资源，节约显示设备的生产时间。

附图说明

下面将通过参照附图详细描述本发明的示例性实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本发明的上述及其他特征和优点，附图中：

图1是本发明实施例提供的显示面板的检测方法的流程示意图；

图2a-2b是本发明实施例提供的五点对比法的基本原理示意图；

图3是本发明又一实施例提供的显示面板的检测方法的流程示意图；

图4a-4e是本发明实施例提供的检测缺损间隔单元的基本原理示意图；

图5是本发明实施例提供的显示面板的检测装置的结构框图；

图6是本发明又一实施例提供的显示面板的检测装置的结构框图。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1是本发明实施例提供的显示面板的检测方法的流程示意图。该方法适用于检测显示器中间隔单元缺损的情况，该方法可以由显示面板的检测装置来执行，该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现，该装置可配置于自动光学检测设备中。如图1所示，本发明的图像处理方法包括：

步骤101、选取显示基板上的检测点。

其中，检测点对应间隔单元或像素单元。本实施例中，显示基板上所有的间隔单元和像素单元均作为检测点待检测，以确保检测出显示基板上所有的缺陷。示例性的，自动光学检测设备可通过自动移动光学镜头逐个选取检测点进行缺陷检测。

步骤102、按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点。

可选的，示例性的，按照设定对比间距在检测点的周围选取四个对比点。图2a-2b是本实施例提供的五点对比法的基本原理示意图。参考图2a，可先选取一检测点E，以固定的对比间距d分别在检测点E的上下左右选出四个对比点A、B、C和D。

步骤103、根据检测点与至少2个对比点的灰阶值，判断检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷。

其中，第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元。基于步骤102，通过本实施例的五点对比法(检测点与四个对比点的灰阶值相对比)，正常间隔单元连同像素缺陷一起被检测成显示基板上的第一缺陷，以便结合第二缺陷确定缺损间隔单元。本实施例中，间隔单元可以是支撑柱或隔垫物，该间隔单元可设置于液晶显示器的液晶盒中。缺损间隔单元是指间隔单元完全丢失或间隔单元有残缺。

具体的，将检测点与四个对比点的灰阶值按大小排序；选取第三个灰阶值作为标准值，并将检测点的灰阶值与标准值作比较；若检测点的灰阶值与标准值之差大于设定值，则判定检测点为显示面板上的缺陷。示例性的，参考图2b，运算时，根据灰阶值的大小，将检测点E和四个对比点A、B、C和D按从小到大(或从大到小)排序，并且将排在中间的点(如对比点D)的灰阶值当做标准值，然后使用检测点E的灰阶值与标准值作比较，如果检测点E的灰阶值与标准值之差大于一个设定值(例如10)，则将检测点E当作是显示基板上的缺陷，否则，该检测点E正常。

步骤104、根据第一缺陷和第二缺陷确定缺损间隔单元。

本实施例中，由于第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元，因此，通过第一缺陷和第二缺陷之间的简单比较计算即可直接确定出缺损间隔单元。

本实施例提供的显示面板的检测方法，基于自动光学检测的对比法，通过控制对比法的对比间距，即选取显示基板上的检测点，按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点，根据检测点与至少2个对比点的灰阶值，判断检测点是否为显示面板上的缺陷，由此可以检测出显示基板的包括正常间隔单元和像素缺陷第一缺陷，以及包括像素缺陷和缺损间隔单元第二缺陷，再根据第一缺陷和第二缺陷，即对比第一缺陷和第二缺陷，便可以确定出缺损间隔单元，避免了标准支撑柱分布图与检测出的图像进行对比，进而减少了大量的图像数据处理操作，由此，可以高效率地检测出缺损间隔单元，节省计算机资源，节约显示设备的生产时间。

可选的，上述方案中，判定检测点为显示面板上的缺陷，可包括：

当设定对比间距为标准像素间距时，判定检测点为显示面板上的第一缺陷；

当设定对比间距为标准间隔单元间距时，判定检测点为显示面板上的第二缺陷。

其中，标准像素间距可以是周期性排布的RGB或WRGB的相邻两个子像素的间距。标准间隔单元间距由相邻两个间隔单元之间的子像素个数及标准像素间距确定。例如，相邻两个间隔单元之间设置三个子像素时，标准间隔单元间距为标准像素间距的四倍，由此在通过五点对比法检测间隔单元时，可以确保是五个间隔单元之间的对比，在通过五点对比法检测子像素时，可以确保是五个子像素之间的对比，进而减小检测误差或误判。

可选的，检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷可包括：

检测出显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合。

可选的，根据第一缺陷和第二缺陷确定缺损间隔单元可包括：

对第一位置坐标集合和第二位置坐标集合求交集，得到像素缺陷的位置坐标集合；

根据像素缺陷的位置坐标集合求第二位置坐标集合的补集，得到缺损间隔单元的位置坐标集合。

基于上述方案，图3是本发明又一实施例提供的显示面板的检测方法的流程示意图。本实施例可在显示基板上建立虚拟平面坐标系，根据位置坐标准确确定缺损间隔单元的位置。具体的，如图3所示，本实施例的显示面板的检测方法可包括：

步骤201、选取显示基板上的检测点。

步骤202、按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点。

步骤203、根据检测点与至少2个对比点的灰阶值，判断检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合。

本实施例可以选取显示基板上的任意一点作为坐标原点，示例性的，显示基板上的正常间隔单元10、缺损间隔单元30和像素缺陷20的分布可如图4a所示，参考图4b，本实施例以标准像素间距作为设定对比间距，在检测子像素是否存在缺陷时，将与待检测的子像素上下左右相邻的子像素作为对比点，以此通过五点对比法判定显示基板上的各子像素点是否存在缺陷，进而检测出所有像素缺陷20，由此结合虚拟平面坐标系确定像素缺陷20的位置坐标；另外，由于正常间隔单元10与其上下左右相邻的子像素点灰阶差异较大，因此，正常间隔单元10也被当作像素缺陷检测出来，由此结合虚拟平面坐标系确定正常间隔单元10的位置坐标。本实施例将上述像素缺陷20的位置坐标和正常间隔单元10的位置坐标组成第一位置坐标集合并记录下来，用于进行后续操作。

示例性的，基于图4a，参考图4c，本实施例以标准间隔单元间距作为设定对比间距，在检测子像素是否存在缺陷时，将与待检测的子像素上下左右间隔四个标准像素间距的子像素作为对比点，以此通过五点对比法判定显示基板上的各子像素是否存在缺陷，进而检测出所有像素缺陷20，由此结合虚拟平面坐标系确定像素缺陷20的位置坐标；另外，在检测间隔单元是否存在缺陷时，将与待检测的间隔单元上下左右相邻的间隔单元作为对比点，以此通过五点对比法判定显示基板上的各间隔单元是否存在缺陷，进而检测出所有缺损间隔单元30，由此结合虚拟平面坐标系确定缺损间隔单元30的位置坐标。本实施例将上述像素缺陷20的位置坐标和缺损间隔单元30的位置坐标组成第二位置坐标集合并记录下来，用于进行后续操作。

步骤204、对第一位置坐标集合和第二位置坐标集合求交集，得到像素缺陷的位置坐标集合。

示例性的，参考图4d，基于图4b和图4c，对第一位置坐标集合和第二位置坐标集合求交集，可得到像素缺陷20的位置坐标集合。

步骤205、根据像素缺陷的位置坐标集合求第二位置坐标集合的补集，得到缺损间隔单元的位置坐标集合。

示例性的，参考图4e，基于图4c和图4d，根据像素缺陷20的位置坐标集合求第二位置坐标集合的补集，得到缺损间隔单元30的位置坐标集合，由此可确定显示基板上所有缺损间隔单元30的位置。本实施例中第二位置坐标集合为全集，像素缺陷的位置坐标集合为该全集中的子集，该全集中除该子集之外的集合即为第二位置坐标集合的补集。

本实施例提供的显示面板的检测方法，不仅可以根据位置坐标准确检测出缺损间隔单元，还可准确检测出像素缺陷，节省了显示基板上缺陷的检测流程，并进一步节约了显示设备整体的生产时间。

上述实施例中，显示基板可以为阵列基板或彩膜基板，例如，若间隔单元设置于阵列基板上，则显示基板为阵列基板，可对阵列基板进行显示面板的检测；若间隔单元设置于彩膜基板上，则显示基板为彩膜基板，可对彩膜基板进行显示面板的检测。需要说明的是，本发明的显示面板的检测对象并不仅限于液晶显示器，其他具有间隔单元的任意显示器(如OLED显示器)均可采用本发明提供的显示面板的检测方法进行缺损间隔单元检测。

本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置，如图5所示，该显示面板的检测装置可包括：

检测点选取模块1，用于选取显示基板上的检测点，其中，检测点对应间隔单元或像素单元；

对比点选取模块2，用于按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点；

缺陷检测模块3，用于根据检测点与至少2个对比点的灰阶值，判断检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；

缺损间隔单元确定模块4，用于根据第一缺陷和第二缺陷确定缺损间隔单元。

本实施例中，通过本实施例的上述对比法，正常间隔单元连同像素缺陷一起被检测成显示基板上的缺陷。间隔单元可以是支撑柱或隔垫物，该间隔单元可设置于液晶显示器的液晶盒中。缺损间隔单元是指间隔单元完全丢失或间隔单元有残缺。

另外，由于第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元，因此，缺损间隔单元确定模块4通过第一缺陷和第二缺陷之间的简单比较计算即可直接确定出缺损间隔单元。

本实施例提供的显示面板的检测装置，基于自动光学检测的对比法，通过控制对比法的对比间距，可以检测出显示基板的包括正常间隔单元和像素缺陷第一缺陷，以及包括像素缺陷和缺损间隔单元第二缺陷，再根据第一缺陷和第二缺陷，即对比第一缺陷和第二缺陷，便可以确定出缺损间隔单元，避免了标准支撑柱分布图与检测出的图像进行对比，进而减少了大量的图像数据处理操作，由此，可以高效率地检测出缺损间隔单元，节省计算机资源，节约显示设备的生产时间。

图6是本发明又一实施例提供的显示面板的检测装置的结构框图。如图6所示，缺陷检测模块包括：

灰阶值排序单元31，用于将检测点与四个对比点的灰阶值按大小排序；

灰阶值对比单元32，用于选取第三个灰阶值作为标准值，并将检测点的灰阶值与标准值作比较；

缺陷判断单元33，用于若检测点的灰阶值与标准值之差大于设定值，则判定检测点为显示面板上的缺陷；

坐标集合检测单元34，用于检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合。

上述缺陷判断单元33包括用于：当设定对比间距为标准像素间距时，判定检测点为显示面板上的第一缺陷；当设定对比间距为标准间隔单元间距时，判定检测点为显示面板上的第二缺陷。

其中，标准像素间距可以是周期性排布的RGB或WRGB的相邻两个子像素的间距。标准间隔单元间距由相邻两个间隔单元之间的子像素个数及标准像素间距确定。例如，相邻两个间隔单元之间设置三个子像素时，标准间隔单元间距为标准像素间距的四倍，由此在通过五点对比法检测间隔单元时，可以确保是五个间隔单元之间的对比，在通过五点对比法检测子像素时，可以确保是五个子像素之间的对比，进而减小检测误差或误判。

可选的，参考图6，缺损间隔单元确定模块可包括：

像素缺陷位置坐标集合计算单元41，用于像素缺陷的位置坐标集合对第一位置坐标集合和第二位置坐标集合求交集，得到像素缺陷的位置坐标集合；

缺损间隔单元位置坐标集合计算单元42，用于根据像素缺陷的位置坐标集合求第二位置坐标集合的补集，得到缺损间隔单元的位置坐标集合。

示例性的，本实施例可在显示基板上建立虚拟平面坐标系，根据位置坐标准确确定缺损间隔单元的位置。

检测点选取模块1可先选取一检测点，对比点选取模块2以固定的对比间距分别在检测点的上下左右选出四个对比点；运算时，灰阶值排序单元31根据灰阶值的大小，将检测点和四个对比点按从小到大(或从大到小)排序，灰阶值对比单元32将排在中间的点的灰阶值当做标准值，然后使用检测点的灰阶值与标准值作比较，如果检测点的灰阶值与标准值之差大于一个设定值，则缺陷判断单元33将检测点当作是显示基板上的缺陷，否则，该检测点正常。

以标准像素间距作为设定对比间距，在检测子像素是否存在缺陷时，坐标集合检测单元34将与待检测的子像素上下左右相邻的子像素作为对比点，以此通过五点对比法判定显示基板上的各子像素点是否存在缺陷，进而检测出所有像素缺陷，由此结合虚拟平面坐标系确定像素缺陷的位置坐标；另外，由于正常间隔单元与其上下左右相邻的子像素点灰阶差异较大，因此，正常间隔单元也被坐标集合检测单元34当作像素缺陷检测出来，由此结合虚拟平面坐标系确定正常间隔单元的位置坐标。

以标准间隔单元间距作为设定对比间距，在检测子像素是否存在缺陷时，坐标集合检测单元34将与待检测的子像素上下左右间隔四个标准像素间距的子像素作为对比点，以此通过五点对比法判定显示基板上的各子像素是否存在缺陷，进而检测出所有像素缺陷，由此结合虚拟平面坐标系确定像素缺陷的位置坐标；另外，坐标集合检测单元34在检测间隔单元是否存在缺陷时，将与待检测的间隔单元上下左右相邻的间隔单元作为对比点，以此通过五点对比法判定显示基板上的各间隔单元是否存在缺陷，进而检测出所有缺损间隔单元，由此结合虚拟平面坐标系确定缺损间隔单元的位置坐标。

像素缺陷位置坐标集合计算单元41对第一位置坐标集合和第二位置坐标集合求交集，可得到像素缺陷的位置坐标集合。

缺损间隔单元位置坐标集合计算单元42根据像素缺陷的位置坐标集合求第二位置坐标集合的补集，得到缺损间隔单元的位置坐标集合，由此可确定显示基板上所有缺损间隔单元的位置。本实施例中第二位置坐标集合为全集，像素缺陷的位置坐标集合为该全集中的子集，该全集中除该子集之外的集合即为第二位置坐标集合的补集。

本实施例提供的显示面板的检测装置，不仅可以根据位置坐标准确检测出缺损间隔单元，还可准确检测出像素缺陷，节省了显示基板上缺陷的检测流程，并进一步节约了显示设备整体的生产时间。

本发明实施例还提供了一种自动光学检测设备，包括显示面板的检测装置。该显示面板的检测装置包括：

检测点选取模块，用于选取显示基板上的检测点，其中，检测点对应间隔单元或像素单元；

对比点选取模块，用于按照设定对比间距在检测点的周围选取四个对比点，其中，设定对比间距包括标准像素间距或标准间隔单元间距；

缺陷检测模块，包括坐标集合检测单元，坐标集合检测单元用于检测出显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合；

缺损间隔单元确定模块，包括像素缺陷位置坐标集合计算单元和缺损间隔单元位置坐标集合计算单元；其中，像素缺陷位置坐标集合计算单元用于像素缺陷的位置坐标集合对第一位置坐标集合和第二位置坐标集合求交集，得到像素缺陷的位置坐标集合；缺损间隔单元位置坐标集合计算单元用于根据像素缺陷的位置坐标集合求第二位置坐标集合的补集，得到缺损间隔单元的位置坐标集合。

示例性的，自动光学检测设备先以标准像素间距作为五点对比法的对比间距，检测出显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合；并以标准间隔单元间距作为五点对比法的对比间距，检测出显示基板上的像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合；自动光学检测设备再对第一位置坐标集合和第二位置坐标集合求交集，得到像素缺陷的位置坐标集合；最后，自动光学检测设备根据像素缺陷的位置坐标集合求第二位置坐标集合的补集，得到缺损间隔单元的位置坐标集合。

本实施例提供的自动光学检测设备，包括本发明上述实施例提供的显示面板的检测装置，具备相应的功能和有益效果。未在本实施例详尽描述的内容，请参考上述各实施例，此处不再赘述。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (7)

1.一种显示面板的检测方法，包括：选取显示基板上的检测点；按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点；其特征在于，所述检测点对应间隔单元或像素单元，在按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点之后，还包括：

根据所述检测点与所述四个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；

根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元；

所述根据所述检测点与所述四个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，包括：

将所述检测点与四个对比点的灰阶值按大小排序；

选取第三个灰阶值作为标准值，并将所述检测点的灰阶值与所述标准值作比较；

若所述检测点的灰阶值与所述标准值之差大于设定值，则判定所述检测点为显示面板上的缺陷；

所述判定所述检测点为显示面板上的缺陷，包括：

当所述设定对比间距为标准像素间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第一缺陷；

当所述设定对比间距为标准间隔单元间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第二缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，包括：

检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合。

3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元，包括：

对所述第一位置坐标集合和所述第二位置坐标集合求交集，得到所述像素缺陷的位置坐标集合；

根据所述像素缺陷的位置坐标集合求所述第二位置坐标集合的补集，得到所述缺损间隔单元的位置坐标集合。

4.一种显示面板的检测装置，包括检测点选取模块和对比点选取模块，所述检测点选取模块用于选取显示基板上的检测点，所述对比点选取模块用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点；其特征在于，所述检测点对应间隔单元或像素单元，所述显示面板的检测装置还包括：

缺陷检测模块，用于根据所述检测点与所述四个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；

缺损间隔单元确定模块，用于根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元；

所述缺陷检测模块包括：

灰阶值排序单元，用于将所述检测点与四个对比点的灰阶值按大小排序；

灰阶值对比单元，用于选取第三个灰阶值作为标准值，并将所述检测点的灰阶值与所述标准值作比较；

缺陷判断单元，用于若所述检测点的灰阶值与所述标准值之差大于设定值，则判定所述检测点为显示面板上的缺陷；

所述缺陷判断单元用于：

当所述设定对比间距为标准像素间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第一缺陷；

当所述设定对比间距为标准间隔单元间距时，判定所述检测点为显示面板上的所述第二缺陷。

5.根据权利要求4所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述缺陷检测模块包括：

坐标集合检测单元，用于检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合。

6.根据权利要求5所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述缺损间隔单元确定模块包括：

像素缺陷位置坐标集合计算单元，用于像素缺陷的位置坐标集合对所述第一位置坐标集合和所述第二位置坐标集合求交集，得到所述像素缺陷的位置坐标集合；

缺损间隔单元位置坐标集合计算单元，用于根据所述像素缺陷的位置坐标集合求所述第二位置坐标集合的补集，得到所述缺损间隔单元的位置坐标集合。

7.一种自动光学检测设备，包括显示面板的检测装置；所述显示面板的检测装置包括：

检测点选取模块，用于选取显示基板上的检测点；

对比点选取模块，用于按照设定对比间距在所述检测点的周围选取四个对比点；

其特征在于，所述检测点对应间隔单元或像素单元，所述设定对比间距包括标准像素间距或标准间隔单元间距；所述显示面板的检测装置还包括：

缺陷检测模块，包括坐标集合检测单元，所述坐标集合检测单元用于检测出所述显示基板上的正常间隔单元和像素缺陷的第一位置坐标集合，以及像素缺陷和缺损间隔单元的第二位置坐标集合；

缺损间隔单元确定模块，包括像素缺陷位置坐标集合计算单元和缺损间隔单元位置坐标集合计算单元；其中，所述像素缺陷位置坐标集合计算单元用于像素缺陷的位置坐标集合对所述第一位置坐标集合和所述第二位置坐标集合求交集，得到所述像素缺陷的位置坐标集合；所述缺损间隔单元位置坐标集合计算单元用于根据所述像素缺陷的位置坐标集合求所述第二位置坐标集合的补集，得到所述缺损间隔单元的位置坐标集合。

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