CN111061104B - 阵列基板缺陷的修补方法及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种阵列基板缺陷的修补方法及存储介质，包括：图像获取步骤、区域划分步骤、图像灰阶处理步骤、缺陷侦测步骤以及修补步骤。本发明通过将子像素的特定检测区，该特定检测区包括阵列基板的金属材料区域，并侦测特定检测区中每一子像素的灰阶值，对每一子像素的灰阶值与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值进行比较，进而判断每一子像素是否存在缺陷，这减小了检测漏放的风险，提高显示面板的产品良率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是一种异方性导电胶、显示面板及基板的绑定方法。
背景技术
在显示面板在制备的过程中，在制备彩膜基板（CF）之前会在阵列基板侧做上数据线、扫描线和薄膜晶体管开关，这些制程都是由金属构成，与R/G/B制程的光阻的灰阶不一样，若按照检出CF制程的参数会造成数据线、扫描线和薄膜晶体管开关的漏检，会将缺陷漏放到下一制程。阵列基板等产品的像素区域的小黑点后流入生产线中，导致液晶盒的异物比率飙升高。如果全部加严检出条件后，会检测出出很多不需要检出的缺陷，这样就会加大修补的工作量
因此，急需提供一种新的阵列基板缺陷的修补方法及存储介质，可以解决现有技术中阵列基板缺陷无法检出的等问题。
发明内容
本发明的目的是，提供了一种阵列基板缺陷的修补方法及存储介质，可以对阵列基板的缺陷进行检测，减小了缺陷漏放的风险，提高显示面板的产品良率。
为解决上述问题，本发明提供一种阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，包括:图像获取步骤，获取一阵列基板图像，所述阵列基板图像包括多个阵列分布的子像素图像；区域划分步骤，将每一个子像素图像分为若干检测区，所述检测区包括至少一个特定检测区，所述特定检测区对应一预设灰阶区间；图像灰阶处理步骤，对所述特定检测区进行灰阶处理得到实际的灰阶区间；缺陷侦测步骤，侦测所述特定检测区中每一子像素的灰阶值，对每一子像素的灰阶值与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值进行比较，判定该子像素与其相邻的至少两个子像素之间的灰阶值的差异是否达到预设阈值，若是，则判断该子像素存在缺陷；修补步骤，根据检测结果中灰度值的差异对存在缺陷的子像素进行修补，以使存在缺陷的子像素的灰度值在内预设灰阶区间中。
进一步地，所述特定检测区包括第一区域、第二区域以及第三区域，所述第一区域对应所述子像素图像的薄膜晶体管区域，所述第二区域对应所述子像素图像的数据线区域，所述第三区域对应所述子像素图像的RGB图案区域。
进一步地，所述图像灰阶处理步骤具体包括：灰阶设定步骤，设定第一标准灰阶、第二标准灰阶以及第三标准灰阶，所述第一标准灰阶、所述第二标准灰阶以及所述第三标准灰阶的灰阶值皆不相同；灰阶处理步骤，对所述第一区域、所述第二区域以及所述第三区域进行灰阶处理得到第一灰阶区域、第二灰阶区域以及第三灰阶区域，所述第一标准灰阶对应所述第一区域，所述第二标准灰阶对应所述第二区域，所述第三标准灰阶对应所述第三区域。
进一步地，所述预设灰阶区间为0-75、76-135；或76-135。
进一步地，所述缺陷侦测步骤具体包括：数据库建立步骤，录入一像素数据至一数据库，所述像素数据包括像素位置（Xij）、像素颜色以及与该像素位置对应的灰阶值，i表示侦测区域的第i行，j表示第j列；第一采集步骤，从数据库中采集所述侦测区域的一像素（Xij）的灰阶值；第二采集步骤，从数据库中采集靠近所述像素（Xij）的多个像素的灰阶值，将所述多个像素与所述像素（Xij）放入一集合中，所述多个像素与所述像素（Xij）颜色相同，皆为红色子像素、蓝色子像素或绿色子像素；数据处理步骤，预设一预设阈值，将所述集合中的每一子像素的灰阶值与所述集合中与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值数进行比较，差值大于所述预设阈值的像素为缺陷像素；循环步骤，循环所述第一采集步骤、所述第二采集步骤以及所述数据处理步骤，直至将所有的像素比对结束。
进一步地，所述数据处理步骤之后，还包括：删除步骤，从数据库中删除所述集合中的像素所对应的像素数据。
进一步地，若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为第一行，则所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi+1，j）及像素（Xi，j+3），或所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi+1，j）及像素（Xi，j+3），或所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）及像素（Xi+1，j）。
进一步地，若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为最后一行，则所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）、像素（Xi，j+3），或所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi-1，j）、像素（Xi，j+3），或所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）。
进一步地，若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为第一行与最后一行之间，则所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）及像素（Xi，j+3），或所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi-1，j）及像素（Xi，j+3），或所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）及像素（Xi-1，j）。
本发明还提供一种存储介质，该存储介质上存储有计算机程序，在处理器执行所述计算机程序时可实现所述的阵列基板缺陷的修补方法。
本发明的有益效果是：本发明提供了一种阵列基板缺陷的修补方法及存储介质，通过将子像素的特定检测区，该特定检测区包括阵列基板的金属材料区域，并侦测特定检测区中每一子像素的灰阶值，对每一子像素的灰阶值与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值进行比较，进而判断每一子像素是否存在缺陷，这减小了检测漏放的风险，提高显示面板的产品良率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。
图1为本发明提供的阵列基板缺陷的修补方法的流程图；
图2为本发明提供的检测区的结构示意图；
图3为本发明提供的图像灰阶处理步骤的流程图；
图4为本发明提供的缺陷侦测步骤的结构示意图。
具体实施方式
为了更好地理解本发明的内容，下面通过具体的实施例对本发明作进一步说明，但本发明的实施和保护范围不限于此。
以下实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「顶」、「底」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
如图1所示，本发明提供一种由计算机或服务器执行的阵列基板缺陷的修补方法，包括如下步骤S1~ S5。
S1图像获取步骤，获取一阵列基板图像，所述阵列基板图像包括多个阵列分布的子像素图像。一般通过光学自动检测装置对基板进行图像扫描。
S2区域划分步骤，如图2所示，将每一个子像素图像分为若干检测区100，所述检测区100包括至少一个特定检测区110，所述特定检测区110对应一预设灰阶区间。
所述特定检测区110包括第一区域101、第二区域102以及第三区域103，所述第一区域101对应所述子像素图像的薄膜晶体管区域，所述第二区域102对应所述子像素图像的数据线区域，所述第三区域103对应所述子像素图像的RGB图案区域。
所述第一区域101以及所述第三区域103并排设置，且设于所述第二区域102上。
所述预设灰阶区间为0-75、76-135；或76-135。所述三个特定检测区分别对应不同的灰阶区间，用以将不同区域分割开。
S3图像灰阶处理步骤，对所述特定检测区进行灰阶处理得到实际的灰阶区间。
如图3所示，所述图像灰阶处理步骤具体包括如下步骤S301~ S302。
S301灰阶设定步骤，设定第一标准灰阶、第二标准灰阶以及第三标准灰阶，所述第一标准灰阶、所述第二标准灰阶以及所述第三标准灰阶的灰阶值皆不相同。
S302灰阶处理步骤，对所述第一区域101、所述第二区域102以及所述第三区域103进行灰阶处理得到第一灰阶区域、第二灰阶区域以及第三灰阶区域，所述第一标准灰阶对应所述第一区域，所述第二标准灰阶对应所述第二区域，所述第三标准灰阶对应所述第三区域。
S4缺陷侦测步骤，侦测所述特定检测区中每一子像素的灰阶值，对每一子像素的灰阶值与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值进行比较，判定该子像素与其相邻的至少两个子像素之间的灰阶值的差异是否达到预设阈值，若是，则判断该子像素存在缺陷。
如图4所示，所述缺陷侦测步骤具体包括如下步骤S401~ S406。
S401数据库建立步骤，录入一像素数据至一数据库，所述像素数据包括像素位置（Xij）、像素颜色以及与该像素位置对应的灰阶值，i表示侦测区域的第i行，j表示第j列。
S402第一采集步骤，从数据库中采集所述侦测区域的一像素（Xij）的灰阶值。
S403第二采集步骤，从数据库中采集靠近所述像素（Xij）的多个像素的灰阶值，将所述多个像素与所述像素（Xij）放入一集合中，所述多个像素与所述像素（Xij）颜色相同，皆为红色子像素、蓝色子像素或绿色子像素。
S404数据处理步骤，预设一预设阈值，将所述集合中的每一子像素的灰阶值与所述集合中与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值数进行比较，差值大于所述预设阈值的像素为缺陷像素。具体地，将集合中的灰阶值与该集合的平均值或众数进行比较，差值的大于所述预设阈值的像素为缺陷像素。
S405删除步骤，从数据库中删除所述集合中的像素所对应的像素数据。
S406循环步骤，循环所述第一采集步骤、所述第二采集步骤以及所述数据处理步骤，直至将所有的像素比对结束。
若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为第一行。
在一实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi+1，j）及像素（Xi，j+3），这种情况对应的像素非第一列以及非最后一列。
在另一实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi+1，j）及像素（Xi，j+3），这种情况对应的像素在第一列。
在其他实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）及像素（Xi+1，j），这种情况对应的像素在最后一列。
若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为最后一行。
在一实施例中，则所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）、像素（Xi，j+3），这种情况对应的像素非第一列以及非最后一列。
在另一实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi-1，j）、像素（Xi，j+3），这种情况对应的像素在第一列。
在其他实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j），这种情况对应的像素在最后一列。
若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为第一行与最后一行之间。
在一实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）及像素（Xi，j+3），这种情况对应的像素非第一列以及非最后一列。
在另一实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi-1，j）及像素（Xi，j+3），这种情况对应的像素在第一列。
在其他实施例中，所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）及像素（Xi-1，j），这种情况对应的像素在最后一列。
本发明的像素驱动为列驱动，每一列的子像素的颜色相同，三个一个周期，为红色子像素、绿色子像素以及蓝色子像素。每个周期内的颜色排列顺序固定。
S5修补步骤，根据检测结果中灰度值的差异对存在缺陷的子像素进行修补，以使存在缺陷的子像素的灰度值在内预设灰阶区间中。
本发明还提供一种存储介质，该存储介质上存储有计算机程序，在处理器执行所述计算机程序时可实现所述的阵列基板缺陷的修补方法。
本发明提供了一种阵列基板缺陷的修补方法及存储介质，通过将子像素的特定检测区，该特定检测区包括阵列基板的金属材料区域，并侦测特定检测区中每一子像素的灰阶值，对每一子像素的灰阶值与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值进行比较，进而判断每一子像素是否存在缺陷，这减小了检测漏放的风险，提高显示面板的产品良率。
应当指出，对于经充分说明的本发明来说，还可具有多种变换及改型的实施方案，并不局限于上述实施方式的具体实施例。上述实施例仅仅作为本发明的说明，而不是对本发明的限制。总之，本发明的保护范围应包括那些对于本领域普通技术人员来说显而易见的变换或替代以及改型。
Claims (9)
1.一种阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，包括:
图像获取步骤，获取一阵列基板图像，所述阵列基板图像包括多个阵列分布的子像素图像；
区域划分步骤，将每一个子像素图像分为若干检测区，所述检测区包括至少一个特定检测区，所述特定检测区对应一预设灰阶区间；所述特定检测区包括第一区域、第二区域以及第三区域，所述第一区域对应所述子像素图像的薄膜晶体管区域，所述第二区域对应所述子像素图像的数据线区域，所述第三区域对应所述子像素图像的RGB图案区域；所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域分别对应不同的标准灰阶；
图像灰阶处理步骤，对所述特定检测区进行灰阶处理得到实际的灰阶区间；
缺陷侦测步骤，侦测所述特定检测区中每一子像素的灰阶值，对每一子像素的灰阶值与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值进行比较，判定该子像素与其相邻的至少两个子像素之间的灰阶值的差异是否达到预设阈值，若是，则判断该子像素存在缺陷；
修补步骤，根据检测结果中灰度值的差异对存在缺陷的子像素进行修补，以使存在缺陷的子像素的灰度值在内预设灰阶区间中。
2.根据权利要求1所述的阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，
所述图像灰阶处理步骤具体包括：
灰阶设定步骤，设定第一标准灰阶、第二标准灰阶以及第三标准灰阶，所述第一标准灰阶、所述第二标准灰阶以及所述第三标准灰阶的灰阶值皆不相同；
灰阶处理步骤，对所述第一区域、所述第二区域以及所述第三区域进行灰阶处理得到第一灰阶区域、第二灰阶区域以及第三灰阶区域，所述第一标准灰阶对应所述第一区域，所述第二标准灰阶对应所述第二区域，所述第三标准灰阶对应所述第三区域。
3.根据权利要求1所述的阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，
所述预设灰阶区间为0-75、76-135或76-135。
4.根据权利要求1所述的阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，
所述缺陷侦测步骤具体包括：
数据库建立步骤，录入一像素数据至一数据库，所述像素数据包括像素位置（Xij）、像素颜色以及与该像素位置对应的灰阶值，i表示侦测区域的第i行，j表示第j列；
第一采集步骤，从数据库中采集所述侦测区域的一像素（Xij）的灰阶值；
第二采集步骤，从数据库中采集靠近所述像素（Xij）的多个像素的灰阶值，将所述多个像素与所述像素（Xij）放入一集合中，所述多个像素与所述像素（Xij）颜色相同，皆为红色子像素、蓝色子像素或绿色子像素；
数据处理步骤，预设一预设阈值，将所述集合中的每一子像素的灰阶值与所述集合中与该子像素相邻的至少两个子像素的灰阶值数进行比较，差值大于所述预设阈值的像素为缺陷像素；
循环步骤，循环所述第一采集步骤、所述第二采集步骤以及所述数据处理步骤，直至将所有的像素比对结束。
5.根据权利要求4所述的阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，
所述数据处理步骤之后，还包括：
删除步骤，从数据库中删除所述集合中的像素所对应的像素数据。
6.根据权利要求4所述的阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，
若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为第一行，
则所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi+1，j）及像素（Xi，j+3），或
所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi+1，j）及像素（Xi，j+3），或
所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）及像素（Xi+1，j）。
7.根据权利要求4所述的阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，
若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为最后一行，
则所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）、像素（Xi，j+3），或
所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi-1，j）、像素（Xi，j+3），或
所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）。
8.根据权利要求4所述的阵列基板缺陷的修补方法，其特征在于，
若所述第一采集步骤中采集像素（Xij）的像素位置为第一行与最后一行之间，
则所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）、像素（Xi-1，j）及像素（Xi，j+3），或
所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi-1，j）及像素（Xi，j+3），或
所述第二采集步骤中的采集的像素为像素（Xi，j-3）及像素（Xi-1，j）。
9.一种存储介质，该存储介质上存储有计算机程序，在处理器执行所述计算机程序时可实现权利要求1~8中任一项所述的方法。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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