CN115167021B - 显示面板的检测方法及检测装置 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种显示面板的检测方法及检测装置，当显示面板显示的画面不合格时，通过向显示面板输入测试信号，即向与数据线连接至的所有短路棒输入相同的第一测试信号，向显示面板内的每一条扫描线输入相同的第二测试信号，并且通过计算显示面板每一子像素的灰度值与该显示面板所有子像素的灰度值之和的平均值(即平均灰度值)的差值，若该差值与平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在短路棒区域内发生故障。因此，该检测方法和检测装置可以快速地辨别显示面板的在哪个区域发生故障，避免了片材的浪费的，还能够提升显示面板的良率。

Description

显示面板的检测方法及检测装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法及检测装置。
背景技术
液晶面板是液晶显示器的重要组件，液晶面板的质量优劣直接关系到液晶显示器的整体性能。
液晶显示器的制造过程分为Array(阵列)制程、Cell(组立)制程以及Module(模组)制程，任一工艺制程或者设计方面的不规范均可能导致液晶面板出现点不良、线不良或者显示亮度不均匀等显示不良问题。Array制程与半导体制程相似，不同的是将薄膜场效应晶体管制作于玻璃上，获得薄膜电晶体玻璃基板。Cell制程是将Array制程获得的薄膜电晶体玻璃基板与CF(Color filter，彩色滤光)玻璃基板结合，并在两个基板之间注入液晶后贴合，再将大片玻璃切割成多个面板。Module制程是将Cell制程获取的面板与其他组件如背光板、电路板等组装一起。
在Cell制程中，需要对面板进行画面检测，主要采用短路棒(Shorting Bar)点灯机搭配自动拍照检查机来进行液晶面板生产工厂(FAB)出货前的面板点灯检测，以保证显示面板的良率。如图1所示，在短路棒区域10’S处，短路棒的排线k1、k2...kw发生短路，且在显示面板的显示区域20’Q处，数据线(data)的排线D1、D2......Dm未发生短路时，则会引起显示面板的假性线不良。如图2所示，在短路棒区域10’S处，短路棒的排线未发生短路，且在显示面板的显示区域20’Q处，数据线(data)的排线发生短路时，则会引起显示面板的真性线不良。当然，在短路棒区域10’S处，短路棒的排线k1、k2...kw发生短路，且在显示面板的显示区域20’Q处，数据线(data)的排线D1、D2......Dm发生短路时，则也会引起显示面板的真性线不良。需要说明的是，由于短路棒在出货至模组前会被切除，则定义短路棒的排线发生短路所导致的线不良为假性线不良。然而，在正常点灯画面下，显示面板的假性线不良与真性线不良所表现的现象是一样的，即图1和图2的底纹为黑色的子像素，因此，普通的检测方法无法对显示面板的假性线不良与真性线不良进行筛选，导致部分真性线不的显示面板被漏放至模组工程，从而导致其他片材(如模组偏光片、COF)的浪费。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种显示面板的检测方法及检测装置，以快速辨别显示面板是假性线不良还是真性线不良，以避免片材浪费的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括短路棒区域和显示区域，所述显示区域被划分为两个以上检测区域，包括如下步骤：向待检测的显示面板提供点灯信号，以使得所述显示面板显示预设画面；采集所述显示面板显示的画面；检测所述画面在各个所述检测区域的灰度值，并根据所述灰度值获取平均灰度值；判断所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域是否合格，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该画面不合格，并进入下一步，反之，则判定为该画面合格；以及识别所述显示面板发生故障时所在的区域，向所述显示面板输入测试信号，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障。
进一步地，所述短路棒区域设有至少一短路棒，所述显示区域设有沿列方向彼此平行排列的数据线，沿行方向彼此平行排列的扫描线，其中，所述数据线穿过所述显示区域与所述短路棒相连；在所述识别所述显示面板发生故障时所在的区域的步骤中，在所述短路棒区域，向每一条短路棒输入相同的第一测试信号，在所述显示区域，向每一条扫描线输入相同的第二测试信号；在输入所述第一测试信号及所述第二测试信号后，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障。
进一步地，所述第一测试信号为正电压信号或者负电压信号；所述第二测试信号为扫描信号。
进一步地，所述显示区域还设有两个以上子像素，位于同一行的三个相邻子像素的颜色相异，位于同一列的所有子像素的颜色相同，每一所述扫描线位于相邻的两行所述子像素之间，每一所述数据线位于相邻的两列所述子像素之间。
进一步地，所述检测区域为同一列的所有子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为该列所有子像素的灰度值之和，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
进一步地，所述检测区域为一个子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为一个子像素的灰度值，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
进一步地，所述画面不合格包括点缺陷、线缺陷、MURA缺陷中至少一种；所述故障为短路故障、断路故障。
为实现上述目的，本发明还提供一种显示面板的检测装置，所述显示面板包括短路棒区域和显示区域，所述显示区域被划分为两个以上检测区域，所述显示面板的检测装置包括：点灯模块，电连接至待检测的显示面板，用于为所述显示面板提供点灯信号，以使得所述显示面板显示预设画面；画面采集模块，用于采集所述显示面板显示的画面；以及控制模块，电连接至所述点灯模块和所述画面采集模块，用于控制所述点灯模块和所述画面采集模块的正常工作；其中，所述控制模块包括：检测单元，用于检测所述画面在各个所述检测区域的灰度值，并根据所述灰度值获取平均灰度值；判断单元，用于判断所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域是否合格，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该画面不合格，并进入下一步，反之，则判定为该画面合格；以及故障区识别单元，用于识别所述显示面板发生故障时所在的区域，向所述显示面板输入测试信号，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障。
进一步地，所述短路棒区域设有至少一短路棒，所述显示区域设有沿列方向彼此平行排列的数据线，沿行方向彼此平行排列的扫描线，其中，所述数据线穿过所述显示区域与所述短路棒相连；在所述短路棒区域，向每一条短路棒输入相同的第一测试信号，在所述显示区域，向每一条扫描线输入相同的第二测试信号；在输入所述第一测试信号及所述第二测试信号后，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障。
进一步地，在所述显示区域还设有两个以上子像素，位于同一行的三个相邻子像素的颜色相异，位于同一列的所有子像素的颜色相同，每一所述扫描线位于相邻的两行所述子像素之间，每一所述数据线位于相邻的两列所述子像素之间。
进一步地，所述检测区域为同一列的所有子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为该列所有子像素的灰度值之和，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
进一步地，所述检测区域为一个子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为一个子像素的灰度值，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
本发明的技术效果在于，提供一种显示面板的检测方法及检测装置，当显示面板显示的画面不合格时，通过向显示面板输入测试信号，即向与数据线连接至的所有短路棒输入相同的第一测试信号，向显示面板内的每一条扫描线输入相同的第二测试信号，并且通过计算显示面板每一子像素的灰度值与该显示面板所有子像素的灰度值之和的平均值(即平均灰度值)的差值，若该差值与平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在短路棒区域内发生故障。因此，该检测方法和检测装置可以快速地辨别显示面板的在哪个区域发生故障，在避免了片材(如模组偏光片、COF)的浪费的同时，还能够提升显示面板的良率。
附图说明
下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为常规显示面板在短路棒区域发生故障的结构示意图。
图2为常规显示面板在显示区域发生故障的结构示意图。
图3为本申请实施例提供的显示面板在显示区域发生故障的结构示意图一。
图4为本申请实施例提供的显示面板在显示区域发生故障的结构示意图二。
图5为本申请实施例提供的显示面板的检测方法的流程图。
图6为本申请实施例提供的显示面板未发生故障的结构示意图。
图7为本申请实施例提供的显示面板的检测装置的功能图。
附图部件标识如下：
10、短路棒区域； 20、显示区域；
30、走线区域； 21、像素单元；
211、像素电极； TFT、薄膜晶体管；
40、数据驱动模块； 50、扫描驱动模块；
60、测试区域； 101、点灯模块；
102、画面采集模块； 103、控制模块；
104、电源模块； 1031、检测单元；
1032、判断单元； 1033、故障区识别单元。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
如图3-图4所示，本实施例提供一种显示面板，其包括短路棒区域10、显示区域20以及走线区域30，所述短路棒区域10设有至少一短路棒k1、k2.....kw，一般来说，短路棒的数量可以为3条、6条，当然，用户可以根据实际应用确定短路棒的数量。所述显示区域20设有沿列方向彼此平行排列的数据线D1、D2.....Dm，沿行方向彼此平行排列的扫描线G1、G2.....Gn，彼此交叉的所述扫描线和所述数据线围成至少一个像素单元21，每一像素单元21包括像素电极211以及薄膜晶体管TFT，所述薄膜晶体管TFT的栅极与所述扫描线相连，漏极与所述像素电极211相连，源极与所述数据线相连。所述数据线穿过所述显示区域20和所述走线区域30，并与所述短路棒区域10的短路棒相连。所述显示区域20还设有两个以上子像素，每一像素单元21还包括一个子像素，该子像素可以红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B中的一种。多个子像素排列成像素矩阵，位于同一行的三个相邻子像素的颜色相异，位于同一列的所有子像素的颜色相同，每一所述扫描线位于相邻的两行所述子像素之间，每一所述数据线位于相邻的两列所述子像素之间。
所述显示面板还包括数据驱动模块40及扫描驱动模块50，所述数据驱动模块40电连接至数据线，所述扫描驱动模块50电连接至扫描线。
常规显示面板的检测方法，结合图1-图2所示，一般向短路棒区域10的短路棒输入两种信号，例如奇数行的短路棒输入正电压信号，偶数行的短路棒输入负电压信号，如此设置，在检测的过程中，可以检测出显示面板的画面是否合格，但是由于每个薄膜晶体管TFT栅极与源极之间的电压有可能都不相同，则无法确定该显示面板是因为真性线不良还是假性线不良而导致显示面板画面不合格的，即无法区分是显示面板哪个区域发生故障，导致片材被浪费。
本实施例提供一种显示面板的检测方法，当显示面板显示的画面不合格时，通过向显示面板输入测试信号，即向与数据线连接至的所有短路棒输入相同的第一测试信号，向显示面板内的每一条扫描线输入相同的第二测试信号，并且通过计算显示面板每一子像素的灰度值与该显示面板所有子像素的灰度值之和的平均值(即平均灰度值)的差值，若该差值与平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在显示区域20内发生故障，反之，则判定为该显示面板在短路棒区域10内发生故障，从而避免了片材(如模组偏光片、COF)的浪费。
如图3-图4所示，本实施例所提供的显示面板，所述显示区域20被划分为两个以上检测区域60，该检测区域60可以为同一列的所有子像素所在的区域，或者可以为一个子像素所在的区域。
具体的，如图5所示，所述显示面板的检测方法包括如下步骤：
S1)向待检测的显示面板提供点灯信号，以使得所述显示面板显示预设画面。
具体的，通过一个点灯模块向待检测的显示面板提供点灯信号，以使得所述显示面板显示预设画面。
S2)采集所述显示面板显示的画面。
具体的，通过一个画面采集模块采集所述显示面板显示的画面，画面采集模块可以通过拍摄、扫描的方式获取画面，这两种方式获取的画面速度快且保真度较高，是较佳的画面采集方式。当然在其他实施方式中，还可以采用上述两种方式外的其他方式采集画面，本实施例对此不作具体限定。
S3)检测所述画面在各个所述检测区域60的灰度值，并根据所述灰度值获取平均灰度值。
具体的，通过一检测单元检测所述画面在各个所述检测区域60的灰度值，并根据所述灰度值获取平均灰度值。
结合图3所示，当所述检测区域60为同一列的所有子像素所在的区域时，每一检测区域60的灰度值为该列所有子像素的灰度值之和，所述平均灰度值为所有所述检测区域60的灰度值之和的平均值。在图3中，该显示区域20设有6个检测区域60，分别为A(1,1)、A(1,2)、A(1,3)、A(1,4)、A(1,5)、A(1,6)，每一检测区域60的灰度值为4个子像素的灰度值之和，显示面板的灰度值之和为6个检测区域60的灰度值之和，平均值为6个检测区域60的灰度值之和的平均值。如此设置，可以加快检测单元的运算速度，减少耗时。
结合图4所示，当所述检测区域60为一个子像素所在的区域时，每一检测区域60的灰度值为一个子像素的灰度值，所述平均灰度值为所有所述检测区域60的灰度值之和的平均值。在图4中，该显示区域20设有24个检测区域60，分别为B(1,1)、B(1,2)、B(1,3)、B(1,4)、B(1,5)、B(1,6)，B(2,1)、B(2,2)、B(2,3)、B(2,4)、B(2,5)、B(2,6)，B(3,1)、B(3,2)、B(3,3)、B(3,4)、B(3,5)、B(3,6)，B(4,1)、B(4,2)、B(4,3)、B(4,4)、B(4,5)、B(4,6)，每一检测区域60的灰度值为1个子像素的灰度值，显示面板的灰度值之和为24个检测区域60的灰度值之和，平均值为24个检测区域60的灰度值之和的平均值。
结合图3-图4所示，将一个子像素所在的区域作为一个检测区域60，与同一列的所有子像素所在的区域作为一个检测区域60相比，如此设置，在判断单元中，可以减少了显示面板的灰度值的计算量，提高了灰度值的比对速度，从而更快速地判断出显示面板的画面是否合格。
S4)判断所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域60是否合格，若任意一个检测区域60的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该画面不合格，并进入下一步，反之，则判定为该画面合格。
具体的，通过一判断单元判断所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域60是否合格。结合图3所示，同一列的所有子像素所在的区域构成一个检测区域60，因此，可以通过判断6个检测区域60中的每一检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值是否大于一阈值范围，就能够判定出所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域60是否合格。阈值范围可以为0.28-0.32，具体的阈值可以为0.29、0.3、0.31。例如，在图3中，在第三列的检测区域60A(1,3)和第四列的检测区域60A(1,4)中均具有底纹为黑色的子像素，此为显示面板无法正常显示的位置。其中，第三列的检测区域60A(1,3)和第四列的检测区域60A(1,4)的灰度值均与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值大于该阈值范围，如大于0.3，则判定为该画面不合格。若画面在显示面板的某一个检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值小于或等于该阈值范围，如小于0.3，则判定为该画面合格，参照图6所示，即每一个子像素的底纹不是黑色，即短路棒的S处和Q处均无故障发生。
结合图4所示，一个子像素所在的区域构成一个检测区域60，因此，可以通过判断24个检测区域60中的每一检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值是否大于一阈值范围，就能够判定出所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域60是否合格。阈值范围可以为0.28-0.32，具体的阈值可以为0.29、0.3、0.31。例如，在图4中，检测区域60B(1,4)、B(2,3)、B(4,4)、B(4,3)均具有底纹为黑色的子像素，此为显示面板无法正常显示的位置。其中，检测区域60B(1,4)、B(2,3)、B(3,4)、B(4,3)的灰度值均与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值大于该阈值范围，如大于0.3，则判定为该画面不合格。若画面在显示面板的某一个检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值小于或等于该阈值范围，如小于0.3，则判定为该画面合格。
本实施例中，所述画面不合格包括点缺陷、线缺陷、MURA缺陷中至少一种。点缺陷可以表现为亮点或者暗点，线缺陷可以表现为显示面板的暗线或者亮线。
S5)识别所述显示面板发生故障时所在的区域，向所述显示面板输入测试信号，若任意一个检测区域60的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域20内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域10内发生故障。
具体的，结合图3-图4所示，在所述短路棒区域10，向每一条短路棒输入相同的第一测试信号，在所述显示区域20，向每一条扫描线输入相同的第二测试信号；在输入所述第一测试信号及所述第二测试信号后，若任意一个检测区域60的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域20内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域10内发生故障。所述第一测试信号为正电压信号或者负电压信号，所述第二测试信号为相同的扫描信号。所述故障可以表现为短路故障、断路故障等，这些故障会使得显示面板的画面表现为亮点、暗点、亮线、暗线、MURA等现象。
结合图3-图4所示，向每一条短路棒输入相同的正电压信号，每一条扫描线输入相同的扫描信号，如此设置，若任意一个检测区域60的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域20内发生故障，例如图3和图4中Q处发生故障及S处无故障发生，会使得与该数据线连接的子像素的亮度与其他子像素的亮度不同。更具体地来说，结合图4所示，在检测区域60B(1,4)、B(2,3)、B(3,4)、B(4,3)中的薄膜晶体管TFT栅极与源极之间的电压与其他检测区域60B(1,1)、B(1,2)、B(1,3)、B(1,5)、B(1,6)，B(2,1)、B(2,2)、B(2,4)、B(2,5)、B(2,6)，B(3,1)、B(3,2)、B(3,3)、B(3,4)、B(3,5)、B(3,6)，B(4,1)、B(4,2)、B(4,4)、B(4,5)、B(4,6)的电压不相同。反之，若显示面板的每个检测区域60的电压都相同，则判定为短路棒出现故障。
因此，当显示面板显示的画面不合格时，通过向显示面板输入测试信号，即向与数据线连接至的所有短路棒输入相同的第一测试信号，向显示面板内的每一条扫描线输入相同的第二测试信号，可以简单地判断出显示面板哪个区域发生故障，并且避免了片材(如模组偏光片、COF)的浪费。
本实施例还提供一种显示面板的检测装置，所述显示面板包括短路棒区域10和显示区域20，所述显示区域20被划分为两个以上检测区域60，参见图3-图4。
如图7所示，所述显示面板的检测装置包括点灯模块101、画面采集模块102、控制模块103以及电源模块104。
所述点灯模块101电连接至待检测的显示面板，用于为所述显示面板提供点灯信号，以使得所述显示面板显示预设画面。
所述画面采集模块102用于采集所述显示面板显示的画面。所述画面采集模块102可以包括摄像头。
所述电源模块104电连接至所述显示面板，为所述显示面板供电。所述电源模块104还与所述点灯模块101、所述画面采集模块102以及所述控制模块103电连接，用于为所述点灯模块101、所述画面采集模块102以及所述控制模块103供电。
所述控制模块103电连接至所述点灯模块101、所述画面采集模块102以及所述电源模组，用于控制所述点灯模块101和所述画面采集模块102的正常工作。
所述控制模块103包括检测单元1031、判断单元1032以及故障区识别单元1033。
所述检测单元1031用于检测所述画面在各个所述检测区域60的灰度值，并根据所述灰度值获取平均灰度值。
具体的，结合图3所示，当所述检测区域60为同一列的所有子像素所在的区域时，每一检测区域60的灰度值为该列所有子像素的灰度值之和，所述平均灰度值为所有所述检测区域60的灰度值之和的平均值。在图3中，该显示区域20设有6个检测区域60，分别为A(1,1)、A(1,2)、A(1,3)、A(1,4)、A(1,5)、A(1,6)，每一检测区域60的灰度值为4个子像素的灰度值之和，显示面板的灰度值之和为6个检测区域60的灰度值之和，平均值为6个检测区域60的灰度值之和的平均值。如此设置，可以加快检测单元1031的运算速度，减少耗时。
结合图4所示，当所述检测区域60为一个子像素所在的区域时，每一检测区域60的灰度值为一个子像素的灰度值，所述平均灰度值为所有所述检测区域60的灰度值之和的平均值。在图4中，该显示区域20设有24个检测区域60，分别为B(1,1)、B(1,2)、B(1,3)、B(1,4)、B(1,5)、B(1,6)，B(2,1)、B(2,2)、B(2,3)、B(2,4)、B(2,5)、B(2,6)，B(3,1)、B(3,2)、B(3,3)、B(3,4)、B(3,5)、B(3,6)，B(4,1)、B(4,2)、B(4,3)、B(4,4)、B(4,5)、B(4,6)，每一检测区域60的灰度值为1个子像素的灰度值，显示面板的灰度值之和为24个检测区域60的灰度值之和，平均值为24个检测区域60的灰度值之和的平均值。
结合图3-图4所示，将一个子像素所在的区域作为一个检测区域60，与同一列的所有子像素所在的区域作为一个检测区域60相比，如此设置，在判断单元1032中，可以减少了显示面板的灰度值的计算量，提高了灰度值的比对速度，从而更快速地判断出显示面板的画面是否合格。
具体的，结合图3所示，同一列的所有子像素所在的区域构成一个检测区域60，因此，可以通过判断6个检测区域60中的每一检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值是否大于一阈值范围，就能够判定出所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域60是否合格。阈值范围可以为0.28-0.32，具体的阈值可以为0.29、0.3、0.31。例如，在图3中，第三列的检测区域60A(1,3)和第四列的检测区域60A(1,4)中均具有底纹为黑色的子像素，此为显示面板无法正常显示的位置。其中，第三列的检测区域60A(1,3)和第四列的检测区域60A(1,4)的灰度值均与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值大于该阈值范围，如大于0.3，则判定为该画面不合格。若画面在显示面板的某一个检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值小于或等于该阈值范围，如小于0.3，则判定为该画面合格，参照图6所示，即每一个子像素的底纹不是黑色，即短路棒的S处和Q处均无故障发生。
结合图4所示，一个子像素所在的区域构成一个检测区域60，因此，可以通过判断24个检测区域60中的每一检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值是否大于一阈值范围，就能够判定出所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域60是否合格。阈值范围可以为0.28-0.32，具体的阈值可以为0.29、0.3、0.31。例如，在图4中，检测区域60B(1,4)、B(2,3)、B(4,4)、B(4,3)均具有底纹为黑色的子像素，此为显示面板无法正常显示的位置。其中，检测区域60B(1,4)、B(2,3)、B(3,4)、B(4,3)的灰度值均与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值大于该阈值范围，如大于0.3，则判定为该画面不合格。若画面在显示面板的某一个检测区域60的灰度值与平均灰度值的差值与平均灰度值之间的比值的绝对值小于或等于该阈值范围，如小于0.3，则判定为该画面合格。
本实施例中，所述画面不合格包括点缺陷、线缺陷、MURA缺陷中至少一种。点缺陷可以表现为亮点或者暗点，线缺陷可以表现为显示面板的暗线或者亮线，更具体的可以表现为竖线暗线或者竖线亮线。
所述判断单元1032用于判断所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域60是否合格，若任意一个检测区域60的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该画面不合格，并进入下一步，反之，则判定为该画面合格。
具体的，结合图3-图4所示，在所述短路棒区域10，向每一条短路棒输入相同的第一测试信号，在所述显示区域20，向每一条扫描线输入相同的第二测试信号；在输入所述第一测试信号及所述第二测试信号后，若任意一个检测区域60的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域20内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域10内发生故障。所述第一测试信号为正电压信号或者负电压信号，所述第二测试信号为相同的扫描信号。所述故障可以表现为短路故障、断路故障等，这些故障会使得显示面板的画面表现为亮点、暗点、亮线、暗线、MURA等现象。
结合图3-图4所示，向每一条短路棒输入相同的正电压信号，每一条扫描线输入相同的扫描信号，如此设置，若任意一个检测区域60的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域20内发生故障，例如图3和图4中Q处发生故障及S处无故障发生，会使得与该数据线连接的子像素的亮度与其他子像素的亮度不同。更具体地来说，结合图4所示，在检测区域60B(1,4)、B(2,3)、B(3,4)、B(4,3)中的薄膜晶体管TFT栅极与源极之间的电压与其他检测区域60B(1,1)、B(1,2)、B(1,3)、B(1,5)、B(1,6)，B(2,1)、B(2,2)、B(2,4)、B(2,5)、B(2,6)，B(3,1)、B(3,2)、B(3,3)、B(3,4)、B(3,5)、B(3,6)，B(4,1)、B(4,2)、B(4,4)、B(4,5)、B(4,6)的电压不相同。反之，若显示面板的每个检测区域60的电压都相同，则判定为短路棒出现故障。
因此，当显示面板显示的画面不合格时，通过向显示面板输入测试信号，即向与数据线连接至的所有短路棒输入相同的第一测试信号，向显示面板内的每一条扫描线输入相同的第二测试信号，可以简单地判断出显示面板哪个区域发生故障，并且避免了片材(如模组偏光片、COF)的浪费。
以上对本申请实施例所提供的一种显示面板的检测方法及检测装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括短路棒区域和显示区域，所述显示区域被划分为两个以上检测区域，其特征在于，包括如下步骤：
向待检测的显示面板提供点灯信号，以使得所述显示面板显示预设画面；
采集所述显示面板显示的画面；
检测所述画面在各个所述检测区域的灰度值，并根据所述灰度值获取平均灰度值；
判断所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域是否合格，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该画面不合格，并进入下一步，反之，则判定为该画面合格；以及
识别所述显示面板发生故障时所在的区域，向所述显示面板输入测试信号，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障；
其中，所述短路棒区域设有大于一个短路棒，所述显示区域设有沿列方向彼此平行排列的数据线，沿行方向彼此平行排列的扫描线，其中，所述数据线穿过所述显示区域与所述短路棒相连；
在所述识别所述显示面板发生故障时所在的区域的步骤中，
在所述短路棒区域，向每一条短路棒输入相同的第一测试信号，在所述显示区域，向每一条扫描线输入相同的第二测试信号；在输入所述第一测试信号及所述第二测试信号后，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，
所述第一测试信号为正电压信号或者负电压信号；
所述第二测试信号为扫描信号。
3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示区域还设有两个以上子像素，位于同一行的三个相邻子像素的颜色相异，位于同一列的所有子像素的颜色相同，每一所述扫描线位于相邻的两行所述子像素之间，每一所述数据线位于相邻的两列所述子像素之间。
4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，
所述检测区域为同一列的所有子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为该列所有子像素的灰度值之和，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
5.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，
所述检测区域为一个子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为一个子像素的灰度值，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，
所述画面不合格包括点缺陷、线缺陷、MURA缺陷中至少一种；
所述故障为短路故障、断路故障。
7.一种显示面板的检测装置，所述显示面板包括短路棒区域和显示区域，所述显示区域被划分为两个以上检测区域，其特征在于，所述显示面板的检测装置包括：
点灯模块，电连接至待检测的显示面板，用于为所述显示面板提供点灯信号，以使得所述显示面板显示预设画面；
画面采集模块，用于采集所述显示面板显示的画面；以及
控制模块，电连接至所述点灯模块和所述画面采集模块，用于控制所述点灯模块和所述画面采集模块的正常工作；
其中，所述控制模块包括：
检测单元，用于检测所述画面在各个所述检测区域的灰度值，并根据所述灰度值获取平均灰度值；
判断单元，用于判断所述画面在所述显示面板的各个所述检测区域是否合格，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该画面不合格，并进入下一步，反之，则判定为该画面合格；以及
故障区识别单元，用于识别所述显示面板发生故障时所在的区域，向所述显示面板输入测试信号，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障；
其中，所述短路棒区域设有大于一个短路棒，所述显示区域设有沿列方向彼此平行排列的数据线，沿行方向彼此平行排列的扫描线，其中，所述数据线穿过所述显示区域与所述短路棒相连；
在所述短路棒区域，向每一条短路棒输入相同的第一测试信号，在所述显示区域，向每一条扫描线输入相同的第二测试信号；在输入所述第一测试信号及所述第二测试信号后，若任意一个检测区域的所述灰度值与所述平均灰度值的差值，与所述平均灰度值之间的比值的绝对值大于一阈值范围，则判定为该显示面板在所述显示区域内发生故障，反之，则判定为该显示面板在所述短路棒区域内发生故障。
8.根据权利要求7所述的显示面板的检测装置，其特征在于，
在所述显示区域还设有两个以上子像素，位于同一行的三个相邻子像素的颜色相异，位于同一列的所有子像素的颜色相同，每一所述扫描线位于相邻的两行所述子像素之间，每一所述数据线位于相邻的两列所述子像素之间。
9.根据权利要求8所述的显示面板的检测装置，其特征在于，
所述检测区域为同一列的所有子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为该列所有子像素的灰度值之和，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
10.根据权利要求8所述的显示面板的检测装置，其特征在于，
所述检测区域为一个子像素所在的区域，每一检测区域的灰度值为一个子像素的灰度值，所述平均灰度值为所有所述检测区域的灰度值之和的平均值。
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