CN102081244A

CN102081244A - 一种检测像素的方法

Info

Publication number: CN102081244A
Application number: CN2011100508956A
Authority: CN
Inventors: 陈冠翰; 王潍淇; 邱赞勋; 吕仁贵
Original assignee: AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Corp
Priority date: 2011-03-01
Filing date: 2011-03-01
Publication date: 2011-06-01

Abstract

本发明提供了一种检测像素的方法，适用于一具有多个像素的显示面板，这些像素线性排列成多个像素串，包含下列步骤：(a)从像素串其中之一选取N个像素作为一第一像素组，测出一第一电流值；(b)将第一像素组中的N个像素其中之一替换为一待测像素，作为一第二像素组，测出一第二电流值；(c)比较第一电流值与第二电流值，若第一电流值与第二电流值相等则待测像素为正常像素，若第二电流值远小于第一电流值则待测像素为缺陷像素。使用本发明提供的检测像素的方法能够将检测缺陷像素的精度从像素组提升到单个像素，从而便于对缺陷像素进行后续处理。

Description

一种检测像素的方法

技术领域

本发明涉及一种检测像素的方法，尤其涉及一种检测缺陷像素的方法。

背景技术

液晶显示面板通常由两块玻璃板构成，中间是厚约5微米(1/1000毫米)的水晶液滴，被均匀间隔隔开，包含在细小的单元格结构中，每三个单元格构成屏幕上的一个像素。在放大镜下呈现方格状，一个像素即为一个光点。每个光点都有独立的晶体管来控制其电流的强弱，如果该点的晶体管或控制电路出现问题，就会造成该光点永远点亮或不亮，这种像素缺陷被统称为“坏点”。液晶技术发展到现在，还无法从根本上克服坏点这一缺陷。

因此，按照业内默认的标准，“坏点”是一种正常现象，液晶显示面板出现一定数量的亮点或暗点是一种特性，对于任何一个生产厂家，这样的现象都是不可避免的。不同的生产厂商对与坏点数量的最高限度有各自的标准。虽然坏点不可避免，但其可以被检测出来，进行补偿或切除后仍然可以正常使用。

然而目前所使用的检测方法由于技术条件限制，无法测量单独的像素电流大小，只能检测一个像素串中的部分像素组成的像素组。因此检测的精度仅能达到像素组，而无法精确到单个缺陷像素，为后续的处理带来很大不便。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的就是提供一种检测像素的方法，能够检测到缺陷像素的具体位置。

根据本发明的一实施例，提供了一种检测像素的方法，适用于一具有多个像素的显示面板，这些像素线性排列成多个像素串，包含下列步骤：(a)从像素串其中之一选取N个像素作为一第一像素组，测出一第一电流值；(b)将第一像素组中的N个像素其中之一替换为一待测像素，作为一第二像素组，测出一第二电流值；(c)比较第一电流值与第二电流值，若第一电流值与第二电流值相等则待测像素为正常像素，若第二电流值远小于第一电流值则待测像素为缺陷像素。

依据一实施例，每一像素包含多个子像素。

较佳的，待测像素位于该像素串中。

其中，N为640或其整数倍数。

其中，重复进行步骤(b)、(c)，检测像素串的多个待测像素。

使用本发明提供的检测像素的方法其优点在于，能够将检测缺陷像素的精度从像素组提升到单个像素，从而便于对缺陷像素进行后续处理。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的详细说明如下：

图1绘示现有的检测像素的方法的示意图。

图2绘示依据本发明一实施例的检测像素的方法的流程图。

具体实施方式

以下将以附图及详细说明来清楚阐释本发明的精神，任何本领域的普通技术人员在了解本发明的较佳实施例后，当可由本发明所揭露的技术，加以改变及修饰，且并不脱离本发明的精神与范围。

请参照图1，其绘示现有的检测像素的方法的示意图。图1中以具有3840×960个子像素的显示面板100为例，即横向具有3840个子像素，纵向具有960子像素。目前所使用的检测缺陷像素的方法为，将该显示面板100如图中所示分为六个区块，即区块1、区块2、区块3、区块4、区块5、区块6，每一区块具有多个像素，每一像素包含多个子像素，图中所示每一区块包含640×960个子像素，即横向具有640个子像素，纵向具有960个子像素。将每一区块中的横向线性排列的640个子像素作为一个子像素组，测量每一个子像素组的电流多次，取其平均值。以区块1中的第840子像素组为例，测量其640个子像素的电流值多次，取其平均值。在将所有区块内的960个子像素组进行测量后便可根据其测量出的电流值判断在该组内是否有缺陷像素。具体来说，若在某一像素组中存在一个或多个缺陷子像素，例如由电路短路(RC-short)等原因导致，则该子像素组的电流值会极小，若无任何缺陷子像素，则电流值在正常范围内。

单个子像素的电流过小，以目前的技术无法测得，只能测量由多个子像素组成的子像素组的电流，因此目前通常利用上述方法来检测缺陷子像素的位置。然而由于造成电路短路而使所测电流过小只需一个缺陷子像素便可，因此利用上述测量子像素组电流(I-by-row)的方法仅能够确定缺陷子像素所在的子像素组，而无法直接找到缺陷像素所在的具体位置，为后续的处理带来很大不便。

请参照图2，其绘示依据本发明一实施例的检测像素的方法的流程图。本发明所揭示的检测像素的方法适用于具有多个像素的显示面板，例如一液晶显示面板，像素线性排列成多个像素串，其中每一像素包含多个子像素。首先，步骤200中，选择一子像素串，并从该像素串中选取N个正常的子像素作为第一像素组，测出其第一电流值，作为参考基准。接着，步骤202中，将第一像素组中的N个子像素其中之一替换为一个待测像素，例如该子像素串中的其余子像素之一，作为第二像素组，测出该第二像素组的第二电流值。最后，步骤204中，比较第一像素组和第二像素组的第一电流值和第二电流值的大小，由于缺陷子像素会将电路短路，使得测出的电流值极小，因此若第一电流值与第二电流值相等，或误差在正常范围内，则该待测子像素为正常子像素，若第二电流值远小于第一电流值，则该待测子像素为缺陷子像素。其中选择的子像素个数N为640或其整数倍数。通过重复进行步骤202至204，就可以检测出该子像素串中的所有子像素是否有缺陷。若检测到单个子像素为缺陷像素，则可对其进行处理，例如使用镭射切除，以保证显示面板还可正常使用。

使用本发明提供的检测像素的方法的优点在于，能够将检测缺陷像素的精度从像素组提升到单个像素，从而便于对缺陷像素进行后续处理。

虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims

1.一种检测像素的方法，适用于一具有多个像素的显示面板，其中所述像素线性排列成多个像素串，其特征在于，所述方法包含下列步骤：

(a)从所述像素串其中之一选取N个所述像素作为一第一像素组，测出一第一电流值；

(b)将所述第一像素组中的N个所述像素其中之一替换为一待测像素，作为一第二像素组，测出一第二电流值；以及

(c)比较所述第一电流值与所述第二电流值，

其中，若所述第一电流值与所述第二电流值相等则所述待测像素为正常像素，若所述第二电流值远小于所述第一电流值则所述待测像素为缺陷像素。

2.根据权利要求1所述的检测像素的方法，其特征在于，所述像素为子像素。

3.根据权利要求1所述的检测像素的方法，其特征在于，所述待测像素位于所述像素串中。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的检测像素的方法，其特征在于，N为640或其整数倍数。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的检测像素的方法，其特征在于，重复进行步骤(b)、(c)，检测所述像素串的多个所述待测像素。