KR102250982B1 - 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법 - Google Patents

디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

OLED(Organic Light Emitting Diodes)와 같은 디스플레이 장치의 패널 제조 공정상에서 이미지로 검사 불가능한 invisible 영역과 극소 결함에 대해 검사 가능한 전기 검사 시 측정 데이터 보정과 검출 알고리즘 개선으로 패널 불량 검출에 정확성을 도모하도록 한 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법에 관한 것으로서, 검사 대상인 OLED 패널의 원판에 전기적인 신호를 인가하고, 픽셀 단위로 저장 커패시터의 방전 전압 및 전류를 측정하고, 측정한 신호로부터 불량 판정을 위한 참조 데이터를 추출하고, 참조 데이터와 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 출력하는 계측부, 계측부에 OLED 패널의 기본 정보를 제공하는 사용자 인터페이스부, 계측부에서 출력되는 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 불량 판정부로 디스플레이 패널의 전기 검사장치를 구현한다.

Description

디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법{Electrical inspection apparatus and method of display panel}
본 발명은 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법에 관한 것으로, 특히 OLED(Organic Light Emitting Diodes)와 같은 디스플레이 장치의 패널 제조 공정상에서 이미지로 검사 불가능한 invisible 영역과 극소 결함에 대해 검사 가능한 전기 검사 시 측정 데이터 보정과 검출 알고리즘 개선으로 패널 불량 검출에 정확성을 도모하도록 한 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법에 관한 것이다.
디스플레이 장치들 중, 유기 발광 디스플레이(OLED) 장치는 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수할 뿐만 아니라 응답속도가 빠르다는 장점을 가지고 있어 차세대 디스플레이 장치로서 주목을 받고 있다.
이와 같은 유기 발광 디스플레이 장치와 같은 디스플레이 패널은 제작 시 다양한 형태의 결함이 발생할 수 있으며, 디스플레이 패널의 이물이나 번짐(얼룩) 및 표면 흠집, 기포 등은 디스플레이의 성능에 악영향을 끼치므로 사전검사를 통해 철저히 검출/제거되어야 한다.
특히, OLED 패널에 결함이 발생한 것을 사전에 검출하지 못하고, 이를 이용하여 디스플레이 장치를 제작할 경우, 불량이 발생하여 매우 큰 손실을 유발하므로, 디스플레이 장치의 제작을 완료하기 이전에 OLED 패널의 결함을 사전에 검출하는 것은 매우 중요하다 할 것이다.
일반적인 디스플레이 패널의 검사 방법은 디스플레이 제조 공정상에서 제품의 화질을 평가하여 불량 유무를 판단하는 비전 검사와 OLED 패널 원판(회로만 실장되어 있는 패널들이 다수 배열되어 있는 글라스 판)을 전기적 신호를 이용하여 픽셀 단위로 구동테스트하는 전기 검사를 주로 이용한다.
그 중 전기 검사 방법에 대하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 디스플레이 패널의 전기 검사를 위한 디스플레이 패널 전기 검사시스템의 개략 구성도로서, 검사 대상인 OLED 패널 원판이 안착되는 글라스 스테이지(Glass Stage)(10), 상기 글라스 스테이지(10)의 소정 위치에 안착된 검사 대상 글라스 판의 COG PAD와 Visual PAD들에 전기적 신호를 부여하기 위한 프로브(Probe)를 구비하고, 프로브와 글라스 판의 어레이 시스템과 연결하는 프로브 유닛 보드(Probe Unit Board)(20), 상기 프로브 유닛 보드(20)와 임피던스 케이블(Impedance Cable)을 연결하여 데이터 신호를 기록/판독하고, 판독한 데이터 신호를 계측 값으로 출력하는 계측수단(30), 상기 계측수단(30)에서 출력되는 실패 코드(Fail code)로 불량 유무를 판정하는 검사기(40)로 구성된다.
이와 같이 구성된 디스플레이 패널의 전기 검사를 위한 디스플레이 패널 전기 검사시스템의 동작을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 검사 대상 OLED 패널 원판(회로판 실장되어 있는 패널들이 다수 배열되어 있는 글라스 판)을 글라스 스테이지(10)의 정해진 위치에 안착시킨다. 이때, 글라스 스테이지(10)에는 글라스 판을 이동시키는 척(Chuck)을 구비하고, 척을 이동시켜 글라스 판의 투입/배출 및 원판 전체 얼라인(Align)을 조정하고, 프로브 유닛 보드(20)에 형성된 핀(pin)과 COG PAD의 얼라인을 맞춰 직접 접촉을 하도록 한다.
상기 프로브 유닛 보드(20)는 글라스 스테이지(10)의 소정 위치에 장착되며, 글라스 원판에 형성된 COG PAD와 Visual PAD들에 전기적 신호를 부여하기 위해 15㎛ 정도의 핀이 수십 ㎛ 간격으로 조립되어 있다. 이 프로브 핀과 어레이 시스템의 패드가 직접적으로 접촉된다.
이후, 계측 수단(30)의 내부 메인 컨트롤 유닛(MCU)의 제어에 따라 임피던스 케이블(40)을 통해 상기 프로브 유닛 보드(20)의 특정 핀에 전기적 신호를 이용하여 데이터를 기록(Write)하고, 상기 프로브 유닛 보드(20)의 특정 핀을 통해 데이터를 판독(Read)한다. 여기서 글라스 판에 픽셀 단위로 구동 테스트를 하여 픽셀 단위의 측정 정보를 획득한다.
여기서 계측 수단(30)의 내부에는 글라스를 테스트하기 위한 하드웨어, 소프트웨어를 모두 포함하고, Open/Short 테스트, 기능 테스트, 누전 테스트(Leakage Test), 프로브 유닛 평탄도 테스트 등을 수행한다.
도 2는 OLED 패널의 점등 테스트 회로로서, 상기와 같은 회를 통해 글라스 판의 COG PAD에 전기적 신호를 인가하고, 출력 신호를 측정 정보로 읽어들인다. 이때, 전기적 신호의 인가는 데이터 라인별로 이루어지며, 판독 데이터 역시 데이터 라인 별로 읽어들인다.
여기서 전기적 신호를 인가하고 데이터를 읽어들이는 방법은 다음과 같다.
OLED 원판에는 캐패시터(Cap)(Storage 캐패시터)가 설치되어 있는 데, 이 캐패시터는 제조사마다 적정 용량을 갖고 있으며, 미세한 저장 커패시터에 임의 전압을 인가한 후, 충전 전압 및 전류를 측정하는 방식으로 전기적인 검사가 이루어진다.
도 3은 상기 저장 커패시터의 상태를 측정하는 회로의 예시이다.
VS1에 기준 전압(3 ~ 10V)을 공급하고, 저장 커패시터인 C1은 제1 스위치(SW3)의 온(0s) 시점에서부터 오프 시점(10㎲)까지 충전을 한다. 이후 충전된 전압을 검출하기 위하여, 제2 스위치(SW1)가 온(20㎲후)된 후 오프되면, 방전 전압 및 전류가 저항(R1)으로 흐르게 된다. 이때, 측정기(VM1)를 이용하여 방전 전압 및 전류를 측정한다. 도 4는 제2 스위치가 온 된 후 오프될 때 측정한 방전 전압, 전류의 측정 파형도이다. 도 5는 응용 회로 적용 후 측정된 파형이다.
이러한 과정을 픽셀 단위로 수행하고, 라인별 픽셀 단위로 측정된 신호는 계측 수단의 메인 보드에 구비된 증폭기를 통해 차동 증폭된 후, 이득 증폭기를 통해 미리 설정된 이득만큼 증폭이 이루어진다. 이후 아날로그/디지털 컨버터를 통해 디지털 측정데이터로 변환되어, 불량을 검출하는 FPGA(Field Programmable Gate Array)에서 진폭 검출을 통해 정상 또는 실패 코드(Fail Code)를 검출한다.
검출된 정상 또는 실패 코드를 이용하여 불량 판정부에서 불량 유무를 최종적으로 판정한다.
여기서 불량 유무를 판정하는 방법은 다음과 같다.
도 6에 도시한 바와 같이, 불량 판정부는 측정값이 가장 높은 샘플링 #3번 지점의 값은 정상과 비정상의 편차를 크게 하기 위해 스킵(skip)하고, 7번째 지점의 평균 레벨 값을 계산하여, 미리 설정된 판정 기준 값(Limit)과 비교하여, 상기 판정 기준 값 이상이나 이하의 지점(위치)을 불량 위치로 판정한다.
한편, 디스플레이 패널을 검사하기 위해서 종래에 제안된 또 다른 기술이 하기의 <특허문헌 1> 에 개시되어 있다.
<특허문헌 1> 에 개시된 종래기술은 다수의 프로브 블록을 포함하는 구성 가능한 유니버설 프로브 바아, 다수의 프로브 블록은 다수의 전기적 테스트 신호를 전달하기 위해 테스트받는 디바이스의 다수의 패널의 다수의 셀 접촉 패드를 동시에 전기적으로 연결하도록 위치된 다수의 프로브 핀을 포함하고, 다수의 프로브 핀을 테스트받는 디바이스의 다수의 패널의 다수의 셀 접촉 패드와 정렬하도록 구성된 정렬 시스템을 포함한다. 이러한 구성을 통해, 유기 발광 다이오드(OLED) 디스플레이를 검사한다.
대한민국 공개특허 10-2017-0060589(2017.06.01. 공개)(셀 접촉 프로빙 패드를 사용한 평판 패널 디스플레이의 전기적 검사 시스xa 및 그 방법)
그러나 상기와 같은 일반적인 OLED 패널 전기적 검사 방법 및 종래기술의 전기적 검사방법은 단순히 측정된 값의 진폭 값만을 이용하여 불량 유무를 검출하기 때문에, 접촉 불안정으로 접촉 저항이 높은 경우 및 잡음 유입으로 정상인 경우에도 불량으로 판정하는 오류가 있었다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 일반적인 OLED 패널의 전기적 검사 방법 및 종래기술의 전기적 검사방법에서 발생하는 제반 문제점을 해결하기 위해서 제안된 것으로서, OLED(Organic Light Emitting Diodes)와 같은 디스플레이 장치의 패널 제조 공정상에서 이미지로 검사 불가능한 invisible 영역과 극소 결함에 대해 검사 가능한 전기 검사 시 측정 데이터 보정과 검출 알고리즘 개선으로 패널 불량 검출에 정확하게 도모하도록 한 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 "디스플레이 패널의 전기 검사장치"는, 검사 대상인 OLED 패널의 원판에 전기적인 신호를 인가하고, 픽셀 단위로 저장 커패시터의 방전 전압 및 전류를 측정하고, 측정한 신호로부터 불량 판정을 위한 참조 데이터를 추출하고, 참조 데이터와 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 출력하는 계측부; 상기 계측부에 OLED 패널의 기본 정보를 제공하는 사용자 인터페이스부; 상기 계측부에서 출력되는 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 불량 판정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 참조 데이터는 평균값, 진폭 값, 폐일 코드, 불량지점 파형 정보를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 불량 판정부는 수신한 불량지점 파형 데이터를 보정하여 잡음 유입으로 인한 오측정 데이터를 보상하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 불량 판정부는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전과 이후 값의 중간 값으로 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 불량 판정부는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전 값의 80%를 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 불량 판정부는 불량지점 파형 값이 미리 설정된 정상레벨보다 일정레벨 낮은 상태로 연속성을 가지면 불량으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 "디스플레이 패널의 전기 검사방법"은, (a) 불량 판정부에서 검사 대상인 OLED 패널의 원판에 전기적인 신호를 인가하고, 픽셀 단위로 저장 커패시터의 방전 전압 및 전류를 측정하고, 측정한 신호로부터 불량 판정을 위한 참조 데이터를 추출하는 단계; (b) 상기 불량 판정부에서 (a)단계에서 추출한 참조 데이터를 보정하여 측정 오류를 보상하는 단계; (c) 상기 불량 판정부에서 상기 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 (b)단계에서 보상한 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 (b)단계는 수신한 불량지점 파형 데이터를 보정하여 잡음 유입으로 인한 오측정 데이터를 보상하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 (b)단계는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전과 이후 값의 중간 값으로 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 (b)단계는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전 값의 80%를 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 한다.
상기에서 (c)단계는 불량지점 파형 값이 미리 설정된 정상레벨보다 일정레벨 낮은 상태로 연속성을 가지면 불량으로 판정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면 OLED(Organic Light Emitting Diodes)와 같은 디스플레이 장치의 패널 제조 공정상에서 이미지로 검사 불가능한 invisible 영역과 극소 결함에 대해 검사 가능한 전기 검사 시 측정 데이터 보정과 검출 알고리즘 개선으로 패널 불량 검출에 정확하게 도모할 수 있는 장점이 있다.
특히, 본 발명에 따르면 불량 지점의 파형이 설정 기준치보다 조금 높거나 낮은 파형으로 검출되는 부분의 불량도 정확하게 검출할 수 있으며, 잡음 유입으로 인해 오측정된 정보를 보정 함으로써, 측정 오류도 보상할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 일반적인 디스플레이 패널의 전기 검사 장치의 개략 구성도,
도 2는 종래 픽셀 단위의 OLED 패널 원판의 저장 커패시터 측정 회로도,
도 3은 종래 저장 커패시터의 측정 방법을 설명하기 위한 측정회로도,
도 4는 측정된 전압/전류 파형도,
도 5는 응용 회로 적용 후 획득한 측정 데이터 파형도,
도 6은 종래 불량 판정 방법을 설명하기 위한 설명도,
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 전기 검사장치의 구성도,
도 8은 본 발명에서 측정 데이터 보정 개념도,
도 9는 본 발명에서 검출 알고리즘의 설명을 위한 불량 지점의 측정 파형도,
도 10은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 전기 검사방법을 보인 흐름도이다.
이하 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 전기 검사장치의 구성도로서, 크게 계측부(30), 사용자 인터페이스부(50) 및 불량 판정부(60)를 포함한다.
계측부(30)의 전단은 도 1에 도시한 바와 같이, 검사 대상인 OLED 패널 원판이 안착되는 글라스 스테이지(Glass Stage)(10), 상기 글라스 스테이지(10)의 소정 위치에 안착된 검사 대상 글라스 판의 COG PAD와 Visual PAD들에 전기적 신호를 부여하기 위한 프로브(Probe)를 구비하고, 프로브와 글라스 판의 어레이 시스템과 연결하는 프로브 유닛 보드(Probe Unit Board)(20)가 구비된 것으로 가정한다.
상기 사용자 인터페이스부(50)는 OLED 패널의 기본 정보를 상기 계측부(30)에 제공하는 역할을 한다. OLED 원판에는 캐패시터(Cap)(Storage 캐패시터)가 설치되어 있는 데, 이 저장 캐패시터는 제조사마다 적정 용량을 갖고 있다. 따라서 검사 대상 OLED 패널의 기본 정보를 제공하여, 상기 계측부(30) 및 불량 판정부(60)가 저장 캐패시터의 용량을 인지하도록 한다.
상기 계측부(30)는 검사 대상인 OLED 패널의 원판에 전기적인 신호를 인가하고, 픽셀 단위로 저장 커패시터(Cap)의 방전 전압 및 전류를 측정하고, 측정한 신호로부터 불량 판정을 위한 참조 데이터를 추출하며, 참조 데이터와 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 불량 판정부(60)에 출력하는 역할을 한다.
이러한 계측부(30)는 메인 보드를 포함하고, 상기 메인 보드는 측정된 신호를 차동 증폭하는 차동 증폭기(31), 상기 차동 증폭기(31)에서 증폭된 신호를 설정 이득에 따라 증폭하는 이득 증폭기(32), 상기 이득 증폭기(32)에서 증폭된 디지털 데이터를 픽셀 단위로 샘플링하여 아날로그 신호로 변환하는 디지털/아날로그 변환기(34), 상기 디지털/아날로그 변환기(34)로부터 획득한 측정 신호로부터 평균값, 픽셀 단위의 진폭 값, 폐일 코드(Fail code), 불량 지점의 파형 데이터를 참조 데이터로 출력하는 FPGA(Field Programmable Gate Array)(35), 계측에 대해 전반적인 제어를 담당하며, 상기 FPGA(35)에서 출력되는 참조 데이터와 검사 대상 OLED 패널의 기본 정보(저장 커패시터 용량 값)를 불량 판정부(60)에 출력하는 메인 컨트롤 유닛(MCU)(37)을 포함한다. 여기서 참조 데이터는 평균값, 진폭 값, 폐일 코드, 불량지점 파형 데이터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 불량 판정부(50)는 상기 계측부(30)에서 출력되는 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 역할을 한다. 아울러 불량 판정부(50)는 폐일 코드를 그래픽화하여 사용자에게 제공하고, 불량지점 파형을 저장하며, 불량 정보를 보고하는 역할도 수행한다.
도 10은 본 발명에 따른 "디스플레이 패널의 전기 검사방법"을 보인 흐름도로서, (a) 계측부(30)에서 검사 대상인 OLED 패널의 원판에 전기적인 신호를 인가하고, 픽셀 단위로 저장 커패시터의 방전 전압 및 전류를 측정하고, 측정한 신호로부터 불량 판정을 위한 참조 데이터를 추출하는 단계(S10), (b) 불량 판정부(60)에서 상기 (a)단계에서 추출한 참조 데이터를 보정하여 측정 오류를 보상하는 단계(S20), (c) 상기 불량 판정부(60)에서 상기 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 (b)단계에서 보상한 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 단계(S30)를 포함한다.
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 1을 참조하여 설명하면, 검사 대상 OLED 패널 원판(회로판 실장되어 있는 패널들이 다수 배열되어 있는 글라스 판)을 글라스 스테이지(10)의 정해진 위치에 안착시킨다. 이때, 글라스 스테이지(10)에는 글라스 판을 이동시키는 척(Chuck)을 구비하고, 척을 이동시켜 글라스 판의 투입/배출 및 원판 전체 얼라인(Align)을 조정하고, 프로브 유닛 보드(20)에 형성된 핀(pin)과 COG PAD의 얼라인을 맞춰 직접 접촉을 하도록 한다.
상기 프로브 유닛 보드(20)는 글라스 스테이지(10)의 소정 위치에 장착되며, 글라스 원판에 형성된 COG PAD와 Visual PAD들에 전기적 신호를 부여하기 위해 15㎛ 정도의 핀이 수십 ㎛ 간격으로 조립되어 있다. 이 프로브 핀과 어레이 시스템의 패드가 직접적으로 접촉된다.
이후, 계측부(30)의 내부 메인 컨트롤 유닛(MCU)(37)의 제어에 따라 임피던스 케이블(40)을 통해 상기 프로브 유닛 보드(20)의 특정 핀에 전기적 신호를 이용하여 데이터를 기록(Write)하고, 상기 프로브 유닛 보드(20)의 특정 핀을 통해 데이터를 판독(Read)한다. 여기서 글라스 판에 픽셀 단위로 구동 테스트를 하여 픽셀 단위의 측정 정보를 획득한다.
계측부(30)의 내부에는 글라스를 테스트하기 위한 하드웨어, 소프트웨어를 모두 포함하고, Open/Short 테스트, 기능 테스트, 누전 테스트(Leakage Test), 프로브 유닛 평탄도 테스트 등을 수행한다.
글라스 판의 COG PAD에 전기적 신호를 인가하고, 출력 신호를 측정 정보로 읽어들인다. 이때, 전기적 신호의 인가는 데이터 라인별로 이루어지며, 판독 데이터 역시 데이터 라인 별로 읽어들인다(S10).
이렇게 읽어들인 계측 신호는 메인 보드인 계측부(30)에 인가된다.
계측부(30)는 측정된 신호를 차동 증폭기(31)로 증폭하고, 이득 증폭기(32)로 상기 차동 증폭기(31)에서 증폭된 신호를 설정 이득에 따라 증폭한다. 이어, 디지털/아날로그 변환기(34)는 상기 이득 증폭기(32)에서 증폭된 디지털 데이터를 픽셀 단위로 샘플링하여 아날로그 신호로 변환하여 FPGA(35)에 전달한다.
상기 FPGA(35)는 사용자 인터페이스부(50)로부터 전달받은 검사 대상 OLED의 기본 정보(저장 커패시터 용량 값)를 기초로 측정한 신호로부터 픽셀 단위 평균값, 픽셀 단위의 진폭 값, 폐일 코드(Fail code), 불량 지점의 파형 데이터를 참조 데이터로 메인 컨트롤 유닛(37)에 전달한다.
상기 메인 컨트롤 유닛(37)은 상기 FPGA(35)에서 출력되는 참조 데이터와 검사 대상 OLED 패널의 기본 정보(저장 커패시터 용량 값)를 불량 판정부(60)에 전달한다.
상기 불량 판정부(50)는 상기 계측부(30)에서 출력되는 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 역할을 한다. 여기서 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 이용하는 이유는, 제조사별로 저장 커패시터의 용량 차이가 나며, 이를 반영하여 불량 유무를 판정하기 위한 기준 값을 설정하기 위함이다.
이러한 불량 판정부(50)는 수신한 불량지점 파형 데이터를 그대로 사용하여 불량 유무를 판정하는 것이 아니고, 불량지점 파형 데이터를 보정하여 잡음 유입으로 인한 오측정 데이터를 보상한다(S20).
기존과 같이 측정한 값을 그대로 이용하여 불량 유무를 판정하면, 접촉 불안으로 접촉 저항이 높은 경우나 잡음 유입으로 정상인 경우에도 불량으로 판정하는 오류를 범한다.
따라서 이러한 판정 오류를 개선하기 위해서 본 발명에서는 측정한 불량지점 파형 데이터를 보정한다.
불량지점 파형 데이터를 보정하는 방법으로는, 미래의 상황을 미리 설정하여 보정 유무를 결정하는고 보정하는 방법과 라인 버퍼를 이용하여 불량지점 파형 데이터를 보정하는 방법이 있다.
전자의 방법은, 수신한 불량지점 파형 데이터(도 8a 참조) 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면(도 8b의 원으로 표시) 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전(N-1)과 이후(N+1) 값의 중간 값(2개의 값을 가산한 후 평균한 값)으로 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상한다. 다음 단계의 픽셀 데이터 값이 필요하므로 라인 버퍼가 필요하다.
후자의 방법은, 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전 값의 80%를 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상한다.
도 8c는 상기와 같은 보정 방법으로 불량지점 파형 데이터를 보상한 것으로서, Short성 불량 유형에 대해 불량지점 파형 데이터를 보상한 것이다.
다음으로, 불량 판정부(60)는 불량지점 파형 값이 미리 설정된 정상레벨보다 일정레벨 낮은 상태로 연속성을 가지면 불량으로 판정한다.
도 9에 도시한 바와 같이, 불량 지점의 파형 데이터가 정상 유무를 판단하기 위해 설정된 기준 설정 값(limit)보다 조금 낮거나(하한 한계치로서 70% 이하), 조금 높은 경우(상한 한계치로서 140%), 종래 기술로는 불량을 검출하지 못한다.
따라서 본 발명에서는 라인 결함의 경우, 이웃하는 지점들(X or Y)과 동일한 현상을 가지므로 한계치 범위에는 포함되나, 이것이 연속적으로 불량 유형으로 보이면 최종적으로 불량으로 판정을 한다. 즉, 정상보다 일정레벨 높거나 낮은 상태가 연속성을 가지면 불량으로 판정을 한다. 이로써 불량 지점의 파형이 설정된 기준 설정 값보다 조금 낮거나 높은 파형으로 검출되는 부분도 정확하게 불량을 검출할 수 있게 되는 것이다.
한편, 상기 불량 판정부(60)는 OLED 패널의 불량 유무도 판정하지만, 부가적으로 불량 코드를 그래픽화하여 사용자에게 제공하고, 불량지점 파형을 저장하며, 불량 정보를 보고하는 역할도 수행한다.
이상 본 발명자에 의해서 이루어진 발명을 상기 실시 예에 따라 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시 예에 한정되는 것은 아니고 그 요지를 이탈하지 않는 범위에서 여러 가지로 변경 가능한 것은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다.
10: 글라스 게이지
20: 프로브 유닛 보드
30: 계측수단(계측부)
40: 임피던스 케이블
50: 사용자 인터페이스부
60: 불량 판정부

Claims (11)

  1. 디스플레이 패널의 상태를 전기적으로 검사하는 장치로서,
    검사 대상인 OLED 패널의 원판에 전기적인 신호를 인가하고, 픽셀 단위로 저장 커패시터의 방전 전압 및 전류를 측정하고, 측정한 신호로부터 불량 판정을 위한 참조 데이터를 추출하고, 참조 데이터와 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 출력하는 계측부;
    상기 계측부에 OLED 패널의 기본 정보를 제공하는 사용자 인터페이스부; 및
    상기 계측부에서 출력되는 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 불량 판정부를 포함하고,
    상기 불량 판정부는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전과 이후 값의 중간 값으로 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사장치.
  2. 청구항 1에서, 상기 참조 데이터는 픽셀 단위의 평균값, 진폭 값, 폐일 코드, 불량지점 파형 데이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사장치.
  3. 청구항 1에서, 상기 불량 판정부는 수신한 불량지점 파형 데이터를 보정하여 잡음 유입으로 인한 오측정 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사장치.
  4. 삭제
  5. 청구항 1에서, 상기 불량 판정부는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전 값의 80%를 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사장치.
  6. 청구항 1에서, 상기 불량 판정부는 불량지점 파형 값이 미리 설정된 정상레벨보다 일정레벨 낮은 상태로 연속성을 가지면 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사장치.
  7. 청구항 1 내지 청구항 3, 청구항 5 및 청구항 6중 어느 하나의 청구항에 기재된 디스플레이 패널의 전기 검사장치를 이용하여 디스플레이 패널의 상태를 전기적으로 검사하는 방법으로서,
    (a) 계측부에서 검사 대상인 OLED 패널의 원판에 전기적인 신호를 인가하고, 픽셀 단위로 저장 커패시터의 방전 전압 및 전류를 측정하고, 측정한 신호로부터 불량 판정을 위한 참조 데이터를 추출하는 단계;
    (b) 불량 판정부에서 (a)단계에서 추출한 참조 데이터를 보정하여 측정 오류를 보상하는 단계; 및
    (c) 상기 불량 판정부에서 상기 검사 대상인 OLED 패널의 기본 정보를 기초로 상기 (b)단계에서 보상한 참조 데이터를 분석하여 불량 유무를 판정하는 단계를 포함하고,
    상기 (b)단계는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전과 이후 값의 중간 값으로 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사방법.
  8. 청구항 7에서, 상기 (b)단계는 수신한 불량지점 파형 데이터를 보정하여 잡음 유입으로 인한 오측정 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사방법.
  9. 삭제
  10. 청구항 7에서, 상기 (b)단계는 수신한 불량지점 파형 데이터 중 샘플링 3번 이후의 임의 측정값이 상기 샘플링 3번 값보다 높은 값이면 측정 오류로 판단하고, 현재 픽셀 위치 이전 값의 80%를 상기 임의 측정값을 보정하여 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사방법.
  11. 청구항 7에서, 상기 (c)단계는 불량지점 파형 값이 미리 설정된 정상레벨보다 일정레벨 낮은 상태로 연속성을 가지면 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 전기 검사방법.


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