CN112327527A - 定位线路异常位置的装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种定位线路异常位置的装置及方法。定位线路异常位置的装置包括调制调节器及自动光学检查模块。调制调节器用于对基板的像素执行电性测试以获得异常像素的金属线的异常位置在第一轴线的第一座标。自动光学检查模块设置于所述调制调节器的侧面，用于根据所述第一座标沿着第二轴线执行图像比对以获得所述异常像素的金属线的所述异常位置在所述第二轴线的第二座标。
Description
技术领域
本发明是有关于一种检测显示器的技术领域，特别是有关于一种检测显示器的像素的线路异常位置的装置及方法。
背景技术
阵列测试仪(ATS,Array Tester)是薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)在阵列制程完成后，对产品综合性能检测的一种设备。基本检测方法是模拟薄膜晶体管液晶显示器的工作原理，设备的量测头里面灌注液晶，薄膜晶体管侧加电，不同的薄膜晶体管的像素电压会对应量测头内不同的液晶偏转角度。根据感光元件收集到通过液晶的不同强度的光，再转换成电讯号，进行像素是否异常的判定。
目前薄膜晶体管像素的测试过程中，可以通过短落或开路测试，判定线路有无短落或断路。再根据量测头所在位置，可以定位发生短落或断路的线路。然而仅能判定线路在单一轴线的位置，无法精准定位异常点的座标值。
故，有必要提供一种显示阵列模块的驱动装置及其驱动方法，以解决现有技术所存在的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种，其可以解决像素的线路异常点的定位精度的问题，准确找到像素的线路异常的位置。
为达成本发明的前述目的，本发明一实施例提供一种定位线路异常位置的装置，所述装置包括:调制调节器，用于对基板的像素执行电性测试以获得异常像素的金属线的异常位置在第一轴线的第一座标；自动光学检查模块，设置于所述调制调节器的侧面，用于根据所述第一座标沿着第二轴线执行图像比对以获得所述异常像素的金属线的所述异常位置在所述第二轴线的第二座标。
根据本发明一优选实施例，所述图像比对包括拍摄多个图像以及确认所述图像的缺陷与所述缺陷的位置。
根据本发明一优选实施例，所述电性测试包括检测像素的金属线是否在同一层电路板上。
根据本发明一优选实施例，所述电性测试更包括沿着所述第一轴线逐一比对像素电压与预定阀值，当发生连续地像素电压不等于所述预定阀值时，决定所述异常像素的金属线的异常类型。
根据本发明一优选实施例，所述异常像素的金属线的异常类型包括金属线之间的短路或独立金属线的断路。
再者，本发明另一实施例提供一种定位线路异常位置的方法，所述方法包括对基板上的像素执行电性测试以获得异常像素的金属线的异常位置在第一轴线的第一座标；根据所述第一座标沿着第二轴线执行图像比对以获得所述异常像素的金属线的所述异常位置在所述第二轴线的第二座标。
根据本发明一优选实施例，所述图像比对包括拍摄多个图像以及确认所述图像的缺陷与所述缺陷的位置。
根据本发明一优选实施例，所述电性测试包括检测像素的金属线是否在同一层电路板上。
根据本发明一优选实施例，所述电性测试更包括沿着所述第一轴线逐一比对像素电压与预定阀值，当发生连续地像素电压不等于所述预定阀值时，决定所述异常像素的金属线的异常类型。
根据本发明一优选实施例，所述异常像素的金属线的异常类型包括金属线之间的短路或独立金属线的断路。
与现有技术相比较，本发明提出的定位线路异常位置的装置及方法应用调制调节器先检测出异常像素的线路异常的第一座标，再利用增设的自动光学检查模块找出异常像素的线路异常的第二座标，准确定位到线路异常的位置以助于后续修补线路。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：
附图说明
图1是本发明一实施例的定位线路异常位置的装置的示意图。
图2是本发明一实施例的定位线路异常位置的方法的流程图。
图3A与3B是本发明一实施例的自动光学检查模块工作路径及像素的线路异常的示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。再者，本发明所提到的方向用语，例如上、下、顶、底、前、后、左、右、内、外、侧面、周围、中央、水平、横向、垂直、纵向、轴向、径向、最上层或最下层等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
请参照图1，图1是本发明一实施例的定位线路异常位置的装置的示意图。本发明第一实施例提供一种定位线路异常位置的装置，包括调制调节器110与自动光学检查模块150。在本发明一实施例中，使用奥宝的阵列测试仪作为检测薄膜晶体管液晶显示器的像素的设备。阵列测试仪包括许多元件及机架，定位线路异常装置是设置于阵列测试仪的机架上。于本实施例中，调制调节器110安装在阵列测试仪100的一个移动机架105上，自动光学检查模150则设置于调制调节器110的侧面。阵列测试仪100上有待检测的玻璃基板120，待检测的像素130则位于玻璃基板120上。调制调节器110主要用于对基板120上的像素执行电性测试并且从电性测试结果获得异常像素的金属线的异常位置在第一轴线的第一座标。电性测试包括先检测像素的金属线是否在同一层电路板上。若金属线没有位于同一层电路板，不会进行下一步骤的电性测试。待确定所检测到的像素的金属线位于同一层电路板上(即同一平面)后，调制调节器110在同一层电路板上沿着一个轴线方向，可能是X轴向也可能是Y轴向，逐一比对像素电压与预定阀值。若发生连续地有像素电压不等于预定阀值时，就能决定这些像素的金属线的异常类型，例如栅极线-共用线短路、栅极断路、数据线-数据线断路或数据线断路等。由于调制调节器110沿着一个轴线，在此假设是X轴线，直线地逐一检测，当检测到异常像素(也就是发生短路或断路的像素)时，也等于找到异常像素对应的金属线的异常位置(金属线出现短路或断路情况的位置)在X轴线的第一座标(x,0)。
请再参考图3A及图3B。图3A与图3B都是本发明一实施例的自动光学检查模块工作路径及像素的线路异常的示意图。自动光学检查模块150主要用于执行图像比对以获得异常像素的金属线的异常位置在另一轴线的座标。承前段所述，在检测到异常像素后会启动自动光学检查模块150。自动光学检查模块150从座标(x,0)的位置开始直线地沿着Y轴线(在此假设图3A与图3B的箭头方向为Y轴)拍摄多个图像，同时比对拍摄到的图像是否有缺陷。假如发生例如图3A的线路短路或者图3B的线路断路，拍摄的图像相对没有短路与开路的图像就会有明显差异，也就是图像的缺陷。之后再通过确认缺陷的位置，就能得到异常线路在Y轴线的第二座标(0,y)。到此等同找到异常像素的金属线的异常位置(x,y)。
请参照图2、图3A及图3B，图2是本发明一实施例的定位线路异常的方法的流程图。在本发明的一实施例中，提供一种定位线路异常的方法，包括如下步骤:S10、对基板上的像素执行电性测试以获得异常像素的金属线的异常位置在第一轴线的第一座标；以及S20、根据第一座标沿着第二轴线执行图像比对以获得异常像素的金属线的异常位置在第二轴线的第二座标。电性测试包括先检测像素的金属线是否在同一层电路板上。若金属线没有位于同一层电路板，不会进行下一步骤的电性测试。待确定所检测到的像素的金属线属于同一层电路板上(即同一平面)后，调制调节器110在同一层电路板上沿着一个轴线，可能是X轴也可能是Y轴，逐一比对像素电压与预定阀值。若发生连续地像素电压不等于预定阀值时，就能决定这些像素的金属线的异常类型，例如栅极线-共用线短路、栅极断路、数据线-数据线断落或数据线断路等。由于调制调节器110沿着一个轴线，在此假设是X轴线，直线地逐一检测，当检测到异常像素(也就是发生短路或断路的像素)时，也等于找到异常像素对应的金属线的异常位置(金属线出现短路或断路情况的位置)在X轴线的第一座标(x,0)。在检测到异常像素后会启动自动光学检查模块。自动光学检查模块150从座标(x,0)的位置开始沿着Y轴直线地(图3A与图3B的箭头方向)线拍摄多个图像，同时比对拍摄到的图像是否有缺陷。假如发生例如图3A的线路短路或者图3B的的线路断路，拍摄的图像相对没有短路与开路的图像就会有明显差异，也就是图像的缺陷。之后再通过确认缺陷的位置，就能得到异常线路在Y轴线的第二座标(0,y)。到此等同找到异常像素的金属线的异常位置(x,y)。
与现有技术相比较，本发明提出的定位线路异常位置的装置及方法应用调制调节器先检测出异常像素的线路异常的第一座标，再利用增设的自动光学检查模块找出异常像素的线路异常的第二座标，准确定位到线路异常的位置以助于后续修补线路。
本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已公开的实施例并未限制本发明的范围。相反地，包含于权利要求书的精神及范围的修改及均等设置均包括于本发明的范围内。
Claims (10)
1.一种定位线路异常位置的装置，其特征在于，包括:
调制调节器，用于对基板的像素执行电性测试以获得异常像素的金属线的异常位置在第一轴线的第一座标；
自动光学检查模块，设置于所述调制调节器的侧面，用于根据所述第一座标沿着第二轴线执行图像比对，以获得所述异常像素的金属线的所述异常位置在所述第二轴线的第二座标。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述图像比对包括拍摄多个图像以及确认所述图像的缺陷与所述缺陷的位置。
3.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述电性测试包括检测像素的金属线是否在同一层电路板上。
4.如权利要求3所述的装置，其特征在于：所述电性测试更包括沿着所述第一轴线逐一比对像素电压与预定阀值，当发生连续地像素电压不等于所述预定阀值时，决定所述异常像素的金属线的异常类型。
5.如权利要求4所述的装置，其特征在于：所述异常像素的金属线的异常类型包括金属线之间的短路或独立金属线的断路。
6.一种定位线路异常位置的方法，其特征在于，包括:
对基板上的像素执行电性测试以获得异常像素的金属线的异常位置在第一轴线的第一座标；
根据所述第一座标沿着第二轴线执行图像比对以获得所述异常像素的金属线的所述异常位置在所述第二轴线的第二座标。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于：所述图像比对包括拍摄多个图像以及确认所述图像的缺陷与所述缺陷的位置。
8.如权利要求6所述的方法，其特征在于：所述电性测试包括检测像素的金属线是否在同一层电路板上。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于：所述电性测试更包括沿着所述第一轴线逐一比对像素电压与预定阀值，当发生连续地像素电压不等于所述预定阀值时，决定所述异常像素的金属线的异常类型。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于：所述异常像素的金属线的异常类型包括金属线之间的短路或独立金属线的断路。
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