TWI475215B - 用於測試液晶顯示裝置之系統及方法 - Google Patents

Description

用於測試液晶顯示裝置之系統及方法

本發明涉及一種液晶顯示裝置，尤其涉及一種用於測試液晶顯示裝置之系統及方法，其能夠自動地基於自動失效確認系統確認薄膜電晶體陣列基板和彩色濾光陣列基板是否為失效，從而減少失效測試所需之時間和工作員的數量，並改善失效確認的成功率。

隨著公眾對資訊顯示興趣的增長，對於平面顯示(flat panel display，FPD)裝置的探究、學習和商業化已經發展起來。尤其，這種FPD裝置的液晶顯示(liquid crystal display，LCD)裝置需要光學異向性的液晶以呈現影像，LCD裝置在解析度、色彩顯示以及影像品質都良好，從而可以積極地應用於膝上型電腦或桌上型電腦顯示器。

LCD裝置可以包括薄膜電晶體(thin film transistor，TFT)陣列基板、彩色濾光基板以及形成在TFT陣列基板和彩色濾光基板之間的液晶層。

在此，TFT基板包括閘極線和資料線、TFT以及像素電極。閘極線和資料線在TFT陣列基板上水平地及垂直地排列以定義像素區域。TFT形成在由閘極線和資料線彼此交叉形成的每個區域內，作為開關元件，而像素電極形成在像素區中。

彩色濾光基板包括彩色濾光片和黑色矩陣。彩色濾光片由次彩色濾光片，例如，R、G以及B所組成。黑色矩陣將彩色濾光片分為複數個次彩色濾光片以定義像素區域，並切斷傳送至液晶層的光。另外，彩色濾光基板可以包括透明共用電極，該電極用於將公共電壓施加於液晶層。在此，共用電極可以形成在TFT陣列基板上。

具有上述結構的TFT陣列基板和彩色濾光基板藉由密封劑相互粘接以成為液晶顯示面板。

這個液晶顯示裝置可以藉由TFT陣列製程、彩色濾光製程、組立製程以及模組製程所製造。

首先，在TFT陣列製程中，重複光微影和蝕刻，從而使TFT陣列可以形成在第一基板上，該第一基板為透明絕緣基板。在彩色濾光製程中，除了像素區域和紅(R)、綠(G)以及藍(B)的彩色濾光片是藉由使用染料或顏料所形成之外，黑色矩陣形成在第二基板上以切斷光線，該第二基板為透明絕緣基板。

在組立製程之前，必須進行測試陣列基板和彩色濾光基板以偵測缺陷的輔助製程是必須的，以檢查TFT陣列基板和彩色濾光基板的狀態。

在組立製程中，TFT陣列基板和彩色濾光基板藉由密封劑彼此粘接，並且在此於TFT陣列基板和彩色濾光基板之間保持預定的組立間隙。在粘接基板之前或之後，將液晶形成在第一和第二基板之間，以形成液晶顯示面板單元。

在模組製程中，用以處理信號的電路藉由使用在此領域眾所皆知的安裝技術與LCD面板連接，以安裝在設備的架構中，從而製造LCD模組。

同時，執行上述提及在組立製程之前的TFT陣列基板和彩色濾光基板的測試過程，從而偵測TFT陣列基板和彩色濾光基板是否在外表或電性探測有缺陷，例如，是否存在彩色濾光磨痕、斜狀污點、摩擦線、針孔以及閘極線/資料線的斷路或短路。

現有技術中的測試系統包括測試單元以及修復系統，測試單元用以偵測TFT陣列基板或彩色濾光基板的缺陷，修復系統基於測試結果，當基板有缺陷的時候，修復缺陷。

測試單元包括測試裝置、系統電腦以及顯示器。測試裝置測試TFT陣列基板或彩色濾光基板以偵測缺陷。系統電腦與顯示器連接，以操作測試裝置。鍵盤和滑鼠與系統電腦連接以操作系統電腦，以及安裝檢查顯示器在測試裝置內中，使得工作員可以透過檢查顯示器識別基板的缺陷。

根據現有技術中的測試系統，單一檢查顯示器與修復電腦一對一連接，使得測試工作員可以控制單一測試裝置。然而，現有技術中的上述測試系統具有測試裝置在午餐休息或工作員休息時不會操作的缺點，而這將導致時間損失和工作惡化。另外，現有技術中的測試系統需要與測試裝置的一樣多的測試工作員。

因此，本發明旨在一種用於測試LCD裝置之方法及系統。

本發明的一個目的是提供一種用於測試LCD裝置之方法及系統，其能夠藉由自動系統的自動確認方法以確認基板的缺陷，從而減少測試時間和測試工作員的數量。

本發明的另一目的是提供一種用於測試LCD裝置之方法及系統，能夠藉由使用自動系統的自動確認方法確認基板的缺陷，而不是藉由測試工作員之被動確認方法的缺陷測試系統，從而改善缺陷測試的缺陷確認成功率和可靠性。

對於本發明額外的優點、目的以及特點將在隨後的說明中闡明，以及部分內容將從說明中顯而易見，或者可以藉由實施本發明而瞭解。本發明的目的和其他優點將通過特別在描述中指出的結構和在此的申請專利範圍以及所附附圖說明實現和獲得。

為了根據本發明的目的獲得這些目的和其他優點，如在此具體而廣泛描述地，用於測試液晶顯示(LCD)裝置的系統包括測試裝置、自動檢查主機(automatic review host，ARPC)、被動檢查主機(passive review host，PRPC)以及主伺服器。該測試裝置拍攝和擷取在形成具有薄膜陣列的基板上所產生的缺陷影像，並在缺陷上提供測試資訊；該ARPC使用基於測試工作員確認方法和行為態樣所設計的缺陷確認自動程式、擷取的影像和缺陷上的測試資訊，藉由自動確認方法自動地確認基板的缺陷；如果藉由ARPC未能確認基板的缺陷時，該PRPC基於擷取的影像和缺陷上的資訊確認基板的缺陷；該主伺服器將ARPC和PRPC連接並儲存擷取影像和缺陷上的測試資訊，其中ARPC藉由缺陷上的測試資訊提取缺陷特徵，並且ARPC分析缺陷的該提取的特徵以分類和計算缺陷的程度。

在藉由ARPC確定缺陷的程度是可修復的狀況，測試裝置可以修復缺陷。

ARPC可以確認缺陷是否可以藉由測試裝置修復。

在ARPC和PRPC無法確認基板的缺陷的狀況，測試系統可以進一步包括重新測試主機(re-testing host，MPC)，用以基於測試裝置即時拍攝的影像檢查並確認基板的缺陷。

測試系統可以進一步包括品質管制主機(quality managing host，QMPC)，用以確認測試裝置執行缺陷修復的成功率。

在本發明的另一方面，用於測試LCD裝置的方法包含下列步驟：拍攝在形成具有薄膜電晶體的基板中產生的缺陷，並擷取所拍攝之缺陷的影像；確認擷取之影像的可靠性；如果確認擷取之影像可靠，檢查缺陷並提取缺陷的特徵；藉由基於測試工作員的確認方法和行為態樣所設計的確認自動程式分析缺陷的提取特徵，並分類和計算缺陷的程度；基於計算結果確認基板的缺陷是否能夠藉由自動確認方法確認；如果基板的缺陷能夠藉由自動確認方法確認，則藉由自動確認方法確認基板的缺陷；以及如果藉由自動確認方法無法確認基板的缺陷，則藉由被動確認方法確認基板的缺陷。

藉由自動確認方法確認基板的缺陷的步驟可以包括：基於計算結果，如果缺陷的程度允許，則確認基板為良好品質，而基於計算結果，如果缺陷的程度不是在良好品質時，確認是否缺陷可修復；基於確認的結果，如果缺陷不可修復，確認廢棄基板；以及如果確認缺陷可修復，則進行修復缺陷。

藉由被動確認方法確認基板缺陷的步驟可以包括：測試工作員藉由檢查和測試所擷取的影像以確認基板的缺陷；如果確認缺陷為不可修復，則廢棄基板；以及如果確認缺陷為可修復時，則修復缺陷。

該方法可以進一步包括下列步驟：如果確認基板的缺陷無法藉由被動確認方法確認，則即時拍攝缺陷；測試工作員基於基板的拍攝影像，檢查並確認基板的缺陷；如果確認缺陷為不可修復，則廢棄基板；以及如果確認缺陷為可修復，則修復基板。

該方法可以進一步包括下列步驟：藉由擷取具有執行缺陷修復的區域的影像確認修復成功率；如果確認缺陷成功修復，則確認基板為良好品質；以及如果確認缺陷仍然存在，則重複缺陷修復。

可以瞭解到前面對於本發明的大概描述和下面對於本發明的詳細描述具有實例性和解釋性，並且將要對本發明的實施例提供作為申請專利範圍的進一步解釋。

現在更加詳細地描述本發明實施例，並參考圖式。圖式中使用地相同的符號說明代表相同或相似的部分。

第1圖顯示本發明實施例中LCD裝置的測試系統。

如第1圖所示的測試系統100包括測試裝置110、自動檢查(或確認)主機(ARPC)115、主伺服器130以及被動檢查主機(PRPC)140。

ARPC 115和PRPC 140在直接網路中分別與主伺服器130連接。測試裝置110在獨立網路中連接。在此，主機115和140可以具體化為個人電腦。

測試裝置110包括第一測試裝置至第n測試裝置。第一至第n測試裝置中的每一個都包括視覺部分和電腦系統。在視覺部分中可以安裝照相機以偵測基板的圖案。電腦系統分析照相機輸入的信號。

在此，照相機在水平方向上掃描面板並收集顯示在陣列基板和彩色濾光基板上的測試圖案。從而，照相機將所收集的測試圖案傳送至電腦系統。為了根據視角完成不同的缺陷偵測，執行例如0°~70°、80°~100°以及110°~160°之預定角度範圍的測試，使得缺陷偵測的效率可以改善。當視覺裝置，如照相機被安裝在測試裝置110內，可以克服使用工作員眼睛進行傳統測試的限制，並可以創造改善的工作效率和改善的產能。另外，視覺裝置可以週期性更新的光學技術、新版本以及新影像檔版本製造，從而可以提高缺陷偵測之結果的可靠性。

測試裝置110具有自動缺陷修復(automatic defect repair，ADR)的功能，用以根據主伺服器的指令或由ARPC 115所傳送的自動測試的結果自動地修復基板的缺陷。

ARPC 115可以由對應至測試裝置110之第1至第n裝置的第1至第n個人電腦所構成。測試裝置110傳送所擷取的缺陷的影像檔、缺陷資訊以及測試裝置號碼至ARPC 115。然後，在檢示缺陷狀態之後，ARPC 115執行自動缺陷確認並命令測試裝置修復缺陷。

ARPC 115將在下文更加具體的描述。為了自動地偵測和確認各種缺陷。ARPC 115審示由測試裝置110所擷取的影像檔並提取缺陷的特徵，例如，尺寸、位置、形狀以及與相鄰圖形的位置關係。

還有，在現有技術中被動執行之測試工作員測試方法和測試工作員行為態樣，被機械化的轉換，並程式化設計演算法(下稱“缺陷確認自動程式”以便於說明)。本發明的缺陷確認自動程式是一在其中分析提取的缺陷特徵、並分類和計算缺陷程度的程式，而不是一種確認缺陷程度的被動方法。

ARPC 115根據缺陷的提取特徵，自動地分類並計算缺陷的程度。然後，ARPC 115基於計算結果，自動地確認基板內是否存在缺陷。

在此，根據基板缺陷的自動確認方法，基於計算結果確認基板的缺陷是否能夠使用缺陷的結果藉由自動缺陷確認方法而確認。如果確認缺陷能夠藉由自動確認方法確認，確認缺陷的程度，並確認缺陷藉由自動缺陷修復是否可以修復，如果確仍缺陷可修復，ARPC 115控制測試裝置修復缺陷。如果確認基板的缺陷藉由使用自動確認方法不能確認，將擷取缺陷的影像檔、缺陷資訊和測試裝置號碼傳送至主伺服器130。在此，不能藉由缺陷確認自動程式確認的缺陷程度藉由被動確認方法確認，並將由被動確認方法確認的缺陷的原因在之後升級至缺陷確認自動程式。因此，如果需要被動確認方法的缺陷再一次產生，該缺陷就可以藉由自動確認方法確認。

如果ARPC 115無法藉由自動確認方法確認基板內的缺陷，主伺服器130從ARPC 115接收缺陷的影像檔、陣列基板或彩色濾光基板的ID、玻璃基板的ID、缺陷號碼、測試裝置號碼等等，並在資料庫中儲存資訊。之後，主伺服器130將資訊傳送至PRPC 140。此時，除了主伺服器130之外，還可以安裝次伺服器131以在未預料到的緊急情況下操作。也就是，如果主伺服器130停止運作，次伺服器131替代主伺服器130使用。

如果ARPC 115無法藉由使用自動確認方法確認基板的缺陷，工作員直接檢視PRPC 140以藉由使用缺陷的影像檔檢視缺陷的狀態。然後，工作員確認基板內是否存在缺陷，並計算缺陷的確認值。將計算的值傳送至主伺服器130並儲存在資料庫內。

具有上述結構的LCD裝置的測試系統100包括ARPC 115，由對應第1至第n測試裝置110的第1至第n個人電腦所構成。ARPC 115使用缺陷的影像檔提取缺陷的特徵，並藉由提取的特徵自動地確認缺陷是否存在，使得缺陷可以基於確認結果立即修復。

因此，與傳統被動確認方法比較，可以減少測試的時間和測試工作員的數量。另外，因為藉由自動確認方法確認缺陷，而不是藉由工作員所執行的被動確認方法，可以明顯提高測試成功率，從而可以改善缺陷測試的可靠性。

同時，根據本發明的實施例，主機115、120以及140中的每一個都處於遠端位置，並可以藉由遠端遙控控制測試裝置。

第2圖為說明本發明實施例中LCD裝置的測試方法的流程圖。

參考第2圖，當載入形成有TFT陣列或彩色濾光陣列的基板時，藉由測試裝置110對基板進行測試，偵測在TFT陣列基板或彩色濾光陣列基板是否存在缺陷。如果在TFT陣列基板或彩色濾光陣列基板感測到缺陷，測試裝置110根據缺陷的狀態確認將要擷取到的影像的數量(S202)。在此，將要擷取到的影像的數量通常與導致缺陷的外界物質的數量或大小成正比。因此，測試裝置110擷取感測到的缺陷的影像(S204)。

測試裝置110確認擷取的影像是否足夠可靠以檢查缺陷的狀態(S206)。

如果確認擷取的影像不可靠，將再一次擷取感測到的缺陷。如果擷取的影像確認可靠，則測試裝置110自動地傳送擷取的影像檔、缺陷資訊以及測試裝置號碼至ARPC 115。

在接收缺陷的擷取影像檔、缺陷資訊以及測試裝置號碼之後，ARPC 115審視影像檔並提取缺陷的特徵(S208)。藉由缺陷確認自動程式分析缺陷之提取的特徵，並分類將缺陷程度(S210)，然後計算程度的數值。

ARPC 115基於數量程度的計算結果，確認基板的缺陷是否能夠藉由自動確認方法確認(S212)。

如果確認基板的缺陷無法藉由自動確認方法確認，可以藉由使用被動確認方法確認是否在基板中存在缺陷(S214)。

如果確認基板的缺陷能夠藉由自動確認方法確認，確認在陣列或彩色濾光基板中產生的缺陷程度是否夠小而被確認為可允許的(S216)。

如果基於確認，缺陷的程度夠小而被確認為可允許的，則確認基板為基板為可允許的，並執行後續的處理(S220)。

如果確認缺陷無法用自動缺陷修復(ADR)修復，則基板被確認為有缺陷的並執行後續的處理(S222)。如果確認缺陷可修復，藉由測試裝置110自動修復(ADR)產生在基板中的缺陷(S224)。在此，測試裝置110擷取執行ADR之區域的影像，並且ARPC 115確認缺陷的修復是否成功地執行，也就是，是否成功地執行ADR。如果即使藉由測試裝置110修復之後，仍舊存在缺陷，也就是，如果ADR沒有成功地執行，藉由測試裝置110重複ADR。因此，一旦修復缺陷，確認基板為品質良好，並執行後續的處理(S218)。在此，在確認基板有缺陷之後的處理可能是廢棄有缺陷之基板的情況。

如果基板的缺陷無法藉由自動確認方法確認，則藉由被動確認方法確認基板的缺陷(S214)。具體地，如果自動確認方法在S212中無法確認基板的缺陷，則ARPC 115將擷取的缺陷影像檔、缺陷資訊以及測試裝置號碼傳送至主伺服器130。從而，主伺服器130將上述資訊傳送至PRPC 140。PRPC 140基於所擷取的缺陷影像檔檢查並確認缺陷(S230)。也就是，工作員打開缺陷擷取的影像檔並檢查缺陷以作出缺陷的確認。

如果基於工作員被動地執行確認的結果，缺陷的程度是可允許的，確認基板為品質良好並執行後續的處理(S218)。如果缺陷的程度是不允許的，確認缺陷是否可以修復(S220)。如果缺陷可修復，將資訊傳送至主伺服器130，且主伺服器130將資訊傳送至測試裝置110，從而測試裝置對於對應的缺陷執行ADR。

因此，測試裝置110擷取執行ADR的區域的影像，並且ARPC 115確認是否成功地執行缺陷修復，也就是，對於缺陷的ADR是否成功。如果藉由測試裝置110執行ADR之後，缺陷仍然存在，也就是，確認ADR沒有成功，則藉由測試裝置110重複ADR。

大多數的缺陷可以藉由ARPC 115所執行的自動確認方法確認，並在ARPC 115的控制下修復缺陷。在此，僅僅對於一些情況，藉由PRPC 140執行被動確認方法。將需要被動確認之缺陷上的資訊傳送至ARPC 115，使得可以更新缺陷確認自動程式。因此，可以減少無法藉由ARPC 115確認的情況，並且藉由PRPC 140所執行的被動確認的時間因此可以減少。

根據本發明實施例中的LCD裝置的測試系統，可以使用由對應第1至第n測試裝置的第1至第n個人電腦所構成的ARPC 115自動地確認基板是否有缺陷。僅僅如果藉由ARPC 115的自動確認方法無法確認的缺陷產生時，才執行PRPC 140的被動確認方法。因此，與傳統被動測試系統比較，測試時間和測試工作員的數量可以明顯減少。另外，因為藉由使用自動確認方法確認基板的缺陷，而不是藉由測試工作員的被動確認方法，測試成功率可以顯著地提高。因此，可以改善缺陷測試的可靠性。

第3圖為說明本發明另一實施例中的LCD裝置的測試系統。

參考第3圖，本發明實施例中的測試系統100包括測試裝置110、自動檢查(或確認)主機(ARPC)115、主伺服器130，被動檢查主機(PRPC)140、重新測試主機(MPC)120以及品質管制主機(QPC)150。也就是，與上述實施例的測試系統比較，本實施例中的測試系統100進一步包括MPC 120和QPC 150。

如果基板的缺陷無法藉由ARPC 115的自動確認方法和PRPC 140的被動確認方法確認，則MPC120再一次測試基板內是否存在缺陷。在此，MPC 120基於測試裝置110的照相機即時拍攝的影像檢查並確認基板的缺陷，而不是基於缺陷的擷取影像。MPC 120的檢查和確認可以為最終測試。

一旦藉由測試裝置110執行ADP，QPC 150基於具有執行ADR之區域的擷取影像資訊確認修復是否成功地執行。

根據上述實施例，藉由ARPC 115確認ADR是否成功地執行。相反地，根據本實施例，進一步提供QPC 150再生ARPC 150的負載，並且QPC 150確認ADR是否成功地執行。

第4圖為說明本發明另一實施例中LCD裝置的測試系統的流程圖。

第2圖所示的步驟S202至S212可以等同應用於本實施例的測試系統中，因此，將省略重複的描述。

在本發明實施例中的LCD裝置的測試系統中，在步驟S202和S212之後，ARPC115藉由自動確認方法確認當前基板是否存在缺陷。

如果無法藉由自動確認方法確認基板的缺陷，可以藉由被動確認方法確認缺陷(S300)。相反地，如果能夠藉由自動確認方法確認缺陷，則確認在陣列基板或彩色濾光基板中產生的缺陷程度是否夠小而為可允許的(S316)。

如果在步驟(316)中基於確認結果，缺陷程度夠小而為可允許的，則確認基板為良好並執行後續的處理(S318)。相反地，如果缺陷程度不夠小而為可允許的，則確認缺陷是否能藉由ADR修復(S320)。如果確認缺陷為不可修復，則確認基板為有缺陷並執行後續的處理(S322)。相反地，如果確認缺陷為可修復，測試裝置110對於缺陷執行ADR，並擷取執行ADR的區域影像(S324)。在此，測試裝置110將擷取影像的資訊傳送至主伺服器130。因此，主伺服器130將接收的影像儲存在資料庫中，並將接收的影像傳送至QPC 150(S326)。

因此，QPC150確認缺陷是否成功地被修復，也就是，藉由使用執行ADR的區域所擷取的影像資訊確認是否成功地執行ADR。

如果ADR成功地執行，具體地，如果因為ADR的成功執行，而在陣列基板或彩色濾光基板中不存在缺陷，則執行上述S318步驟以確認基板是否良好，然後可以對於下一個基板執行缺陷測試。同時，如果即使在測試裝置110修復缺陷之後仍然存在缺陷，也就是，確認ADR沒有成功地執行，重複藉由測試裝置110修復缺陷的步驟。

如果確認中無法在S212藉由自動確認方法確認缺陷，則ARPC 115將如擷取缺陷的影像檔、缺陷資訊和測試裝置號碼的資訊傳送至主伺服器130，然後主伺服器130將資訊傳送至PRPC 140。因此，PRPC 140基於擷取缺陷的影像檔檢查和測試缺陷(S316)。也就是，測試工作員打開並檢查擷取缺陷的影像檔，然後他/她執行缺陷確認處理。在此之後，執行上述S316至S328步驟以確認基板的缺陷或良好品質，並執行後續的處理。

從而，如果在S300中藉由被動確認方法無法確認基板的缺陷，則藉由MPC 120(310)執行缺陷的重新測試。在此，PRPC 140基於擷取缺陷的影像檔對於缺陷檢查和執行確認，MPC 120基於測試裝置的照相機即時拍攝之陣列基板或彩色濾光基板的生動影像對於缺陷檢查並執行確認。

之後，當執行上述S316至S328步驟時，基板的缺陷或良好品質得以確認，並執行後續的處理。

將導致藉由MPC 120所執行確認的缺陷資訊傳送至ARPC 150，並更新至缺陷確認自動程式。因此，如果導致藉由MPC 120確認的缺陷再一次產生，則該缺陷可以藉由ARPC 115的自動確認方法而確認。

如上所述，根據另一實施例，LCD裝置的測試系統能夠藉由使用對應測試裝置110的第1至第n裝置的第1至第n個人電腦所構成的ARPC 115自動地確認基板的缺陷。與藉由被動確認方法執行的傳統測試系統相比，測試時間和測試工作員的數量可以明顯減少。另外，缺陷確認成功率可以顯著增加，並因為根據本發明的缺陷測試系統，基板的缺陷是藉由自動確認方法確認，而不是藉由測試工作員所執行的被動確認方法確認，因此可以提高缺陷測試的可靠性。

再者，僅僅如果產生的缺陷無法藉由ARPC 115的自動確認方法確認時，執行PRPC 140的被動確認方法。如果基板的缺陷甚至藉由PRPC 140的被動確認方法都無法確認，則使用MPC 120確認缺陷。因此，基板缺陷測試的成功率幾乎完美，並可以最大化缺陷測試側可靠性。

因此，根據LCD裝置的測試系統，缺陷測試藉由自動確認方法執行，而僅僅在缺陷無法藉由自動確認方法確認時才藉由被動確認方法確認。因此，可以減少測試時間和測試工作員的數量。再者，基板的缺陷藉由自動確認方法確認。因此，可以提高缺陷確認的成功率，並可以改善缺陷測試的可靠性。

可以理解地是，上所述者僅為用以解釋本發明之較佳實施例，並非企圖據以對本發明作任何形式上之限制，是以，凡有在相同之發明精神下所作有關本發明之任何修飾或變更，皆仍應包括在本發明意圖保護之範疇。

100．．．測試系統

110．．．測試裝置

115．．．自動檢查主機(ARPC)

120．．．重新測試主機(MPC)

130．．．主伺服器

131．．．次伺服器

140．．．被動檢查主機(PRPC)

150．．．品質管控主機(QPC)

S202～S224、S230．．．步驟

S300、S310、S312、S316、S318、S320～S328．．．步驟

所附圖式其中提供關於本發明實施例的進一步理解並且結合與構成本說明書的一部份，說明本發明的實施例並且描述一同提供對於本發明實施例之原則的解釋。

圖式中：

第1圖顯示本發明實施例中LCD裝置的測試系統的圖式；

第2圖顯示測試LCD裝置的方法的流程圖；

第3圖顯示本發明另一實施例中LCD裝置的測試系統的圖式；以及

第4圖顯示測試第3圖所示的LCD裝置的方法的流程圖。

100．．．測試系統

110．．．測試裝置

115．．．自動檢查主機(ARPC)

130．．．主伺服器

131．．．次伺服器

140．．．被動檢查主機(PRPC)

Claims (5)

1. 一種用於測試液晶顯示裝置的方法，包含步驟：藉由一測試裝置在預定角度範圍內，拍攝在形成具有一薄膜陣列的一基板中產生的一缺陷，並擷取該所拍攝的缺陷的一影像；藉由該測試裝置確認該所擷取之影像是否足夠可靠以檢查該缺陷的狀態；如果藉由該測試裝置確認該所擷取之影像是可靠的，則自動地由該測試裝置傳送一所擷取之影像檔及一缺陷資訊至一自動檢查主機，並且藉由該自動檢查主機檢查該缺陷並提取該缺陷的特徵；使用一缺陷確認自動程式分析該缺陷的該被提取的特徵，並藉由該自動檢查主機分類和計算該缺陷的程度；基於該計算的結果確認該基板的缺陷是否能藉由該自動檢查主機內之該缺陷確認自動程式確認；如果該基板的缺陷藉由該自動檢查主機是可確認的，則藉由該自動檢查主機內之該缺陷確認自動程式確認該基板的缺陷；以及如果該基板的缺陷藉由該自動檢查主機是無法確認的，則藉由一被動檢查主機被動地確認該基板的缺陷。
2. 如申請專利範圍第1項所述之用於測試液晶顯示裝置的方法，其中藉由該自動檢查主機確認該基板的缺陷的步驟包括：基於該計算的結果，如果該缺陷的程度是可允許的，則藉由該自動檢查主機確認該基板為良好品質，並且基於該計算的結果，如果該缺陷的程度不是良好品質，則藉由該自動檢查主機確認該缺陷是否可修復；基於該確認的結果，如果該缺陷為不可修復，則藉由該自動檢查主機確認廢棄該基板；以及如果藉由該自動檢查主機確認該缺陷為可修復，則藉由該測試裝置修復該缺陷。
3. 如申請專利範圍第2項所述之用於測試液晶顯示裝置的方法，其中該藉由該被動檢查主機被動地確認該基板的缺陷的步驟包括：藉由該被動檢查主機檢查和測試該所擷取的影像確認該基板的缺陷； 如果藉由該被動檢查主機確認該缺陷為不可修復，則藉由該被動檢查主機確認廢棄該基板；以及如果藉由該被動檢查主機確認該缺陷為可修復，則藉由該測試裝置修復該缺陷。
4. 如申請專利範圍第2項所述之用於測試液晶顯示裝置的方法，進一步包括：如果確認該基板的缺陷無法藉由該被動檢查主機確認，則藉由該測試裝置即時拍攝該缺陷；基於由該測試裝置所拍攝的該基板之影像，藉由一重新測試主機檢查並確認該基板的缺陷；如果藉由該重新測試主機確認該缺陷為不可修復，則藉由該重新測試主機確認廢棄該基板；以及如果藉由該重新測試主機確認該缺陷為可修復，則藉由該測試裝置修復該缺陷。
5. 如申請專利範圍第4項所述之用於測試液晶顯示裝置的方法，進一步包括：藉由該測試裝置擷取具有執行缺陷修復的區域的一影像，藉由一品質管制主機並使用所擷取的該影像確認該缺陷修復的成功率；如果藉由該品質管制主機確認該缺陷成功地修復，則藉由該品質管制主機確認該基板為良好品質；以及如果藉由該品質管制主機確認該缺陷仍然存在，則藉由該測試裝置重複該缺陷的修復。