JP2002040074A - 有機elディスプレイの評価装置および評価方法 - Google Patents
有機elディスプレイの評価装置および評価方法Info
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- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
- Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature
Abstract
用駆動回路を準備し、信頼性の高い評価を実現し、有機
ELディスプレイ10に製品用の駆動回路を組み込む前
に有機ELディスプレイ10自体の評価を行って、評価
結果による不良品の処理による歩留まりの低下を抑制す
ることができる有機ELディスプレイの評価装置および
評価方法を提供すること。 【解決手段】 一画素11への駆動電流の供給後に、一
画素11が放電する時間をあけて次の一画素11の駆動
(検査)を行うこと、一画素11における有機EL画素
14の駆動電流値と放電電流値との差が所定レベル内で
あれば、それぞれの有機EL素子1による画素が正常で
あると判定可能であることに着目したもので、有機EL
素子1による一画素11ごとに駆動電流値および放電電
流値の差を検出することにより画素欠陥を検出すること
を特徴とする。
Description
用いた有機エレクトロルミネッセントディスプレイ(以
下、「有機ELディスプレイ」という)の評価装置およ
び評価方法にかかるもので、とくに携帯電話の表示パネ
ル、カーオーディオの表示パネル、動画・静止画用表示
パネル、デジタルスチルカメラの画像表示用その他各種
の表示装置に使用される有機ELディスプレイの評価装
置および評価方法に関するものである。
子(以下、「有機EL素子」という)が盛んに研究さ
れ、実用化されている。図7は、従来からあるタイプの
有機EL素子1の要部拡大断面図であって、有機EL素
子1は、ガラス基板2と、陽極3と、ホール輸送層4
と、電子輸送性発光層5と、陰極6と、を有する。直流
電源7により陽極3と陰極6との間に所定電圧を印加し
て直流電流を供給する。
Oxide)などによる透明電極を採用し、ホール輸
送層4にはジアミン誘電体(TPAC)を採用し、電子
輸送性発光層5にはアルミニウム錯体(Alq)を採用
して、キャリア輸送性の異なる材料を積層することによ
り、キャリア再結合率を上げている。なお、陰極6には
マグネシウム(Mg)やアルミニウム(Ag)などを採
用する。
陽極3および陰極6から注入されたキャリア(ホールお
よび電子の電荷)が電子輸送性発光層5の有機層内に閉
じ込められて、キャリア再結合効率が飛躍的に高まり、
10ボルト以下の電圧で、1000cd/m2以上の高
輝度を得ることができる。したがって、携帯電話、カー
オーディオ、家電製品などのディスプレイとして期待が
高まっている。
機ELディスプレイ10の一画素11部分を示す回路図
であって、有機ELディスプレイ10は、複数本の選択
線VG(走査線)および信号線VDをマトリックス式に
配線し、その交差部分に一画素11を接続している。一
画素11は、スイッチ回路12と、定電流回路13と、
上述した有機EL素子1による有機EL画素14と、を
有し、定電流回路13に電圧供給線VLCからほぼ一定
の所定電圧を印加することにより、有機EL画素14に
定電流を供給してこれを発光可能としている。
561号などがあり、たとえば、図9に示すように、ス
イッチ回路12として薄膜トランジスター(TFT)な
どによる第1のトランジスター15を採用し、定電流回
路13として同じくTFTなどによる第2のトランジス
ター16およびキャパシター17を採用している。第1
のトランジスター15は、有機EL素子14に定電流を
供給するためにこれをスイッチするものである。第2の
トランジスター16は、この第1のトランジスターによ
りスイッチするとともに有機EL素子14にこれを接続
してある。キャパシター17は、所定電気容量を充電
し、その所定放電時間に応じて有機EL素子14への定
電流の供給を補助する。
のトランジスター15により一画素11の選択を行い、
選択の結果を第2のトランジスター16に伝えて、一画
素11にかかる電圧の制御を第2のトランジスター16
および所定電気容量を所定時間だけ保持可能なキャパシ
ター17により行うとともに、電圧供給線VLCからほ
ぼ一定の所定電圧を維持して、それぞれの一画素11間
における電圧の差を低減するようにしている。
を評価するために、従来は、有機ELディスプレイ10
にその駆動回路(図示せず)を取り付けて、実際の製品
に近い形まで組み上げてから有機ELディスプレイ10
を実際に駆動し、ライン欠陥やドット欠陥についてそれ
ぞれ別々の画像評価装置により、その検出作業を行って
いた。したがって、各評価装置の間での誤差や評価基準
に誤差を生じ、検出精度の低下の原因となっているとい
う問題がある。また、有機ELディスプレイ10の駆動
ないし発光状態を人間の目視により評価する方法もある
が、評価者の熟練度やその日の調子により評価結果にバ
ラツキを生ずるという問題がある。さらに、評価の結
果、不良品と判定された場合には、有機ELディスプレ
イ10は、これに取り付けた上記駆動回路部品とともに
破棄されることになり、無駄になってしまうという問題
がある。評価のための作業時間も無駄になるという問題
がある。
5−107561号、特開平9−260061号、特開
平10−321367号などがある。
諸問題にかんがみなされたもので、簡単な回路構成で有
機ELディスプレイの検査用駆動回路を準備し、信頼性
の高い評価結果を得ることができる有機ELディスプレ
イの評価装置および評価方法を提供することを課題とす
る。
ELディスプレイにその製品用の駆動回路を組み込む前
に有機ELディスプレイ自体の評価を行うことができる
有機ELディスプレイの評価装置および評価方法を提供
することを課題とする。
L素子に流れる微少電流を効率よく検出することにより
有機EL表示素子の画素欠陥を検出することができる有
機ELディスプレイの評価装置および評価方法を提供す
ることを課題とする。
に供給する駆動電流が、複数の有機EL素子の間で重ね
合わされないようにして微少電流を効率よく検出するこ
とができる有機ELディスプレイの評価装置および評価
方法を提供することを課題とする。
理による歩留まりの低下を抑制することができる有機E
Lディスプレイの評価装置および評価方法を提供するこ
とを課題とする。
ELディスプレイの各画素(有機EL素子)に駆動電流
を供給可能な信号線および選択線(アクティブマトリッ
クス方式の場合には、さらに電圧供給線)を準備してお
くこと、一画素への駆動電流の供給後に、一画素が放電
する時間をあけて次の一画素の駆動(検査)を行うこ
と、一画素における有機EL画素の駆動電流値と放電電
流値との差を測定すること、およびこの電流値の差が所
定レベル内であれば、それぞれの有機EL素子による画
素が正常であると判定可能であることに着目したもの
で、第一の発明は、画素として有機EL素子を有する有
機ELディスプレイの評価装置であって、上記有機EL
素子による一画素ごとに駆動電流値および放電電流値を
測定するとともに、その電流値の差を検出することによ
り画素欠陥を検出することを特徴とする有機ELディス
プレイの評価装置である。
L素子を駆動するためのTFTなどによる定電流回路
と、この定電流回路による定電流を可変とするための電
圧を切り替えるTFTなどによるスイッチ回路と、を有
することができる。
L素子を駆動するための定電流回路と、上記有機EL素
子を選択するための信号線および選択線と、を有するこ
とができる。
および選択線を有するとともに、上記有機EL素子によ
る一画素ごとにこの信号線あるいは選択線のいずれかを
切り換えて、上記駆動電流値および上記放電電流値を測
定することができる。
および選択線を有するとともに、上記有機EL素子によ
る一画素ごとにこの信号線あるいは選択線のいずれかを
切り換えて、上記有機EL素子に駆動電流を供給すると
ともに、上記有機EL素子に蓄えられた電荷を放出する
ことができる。
のキャパシターを有するとともに、上記有機EL素子に
よる一画素ごとに駆動電圧を供給するとともに、上記キ
ャパシターに蓄えられた電荷を放出させることができ
る。
にスイッチする第1のトランジスターと、この第1のト
ランジスターによりスイッチするとともに上記有機EL
素子に接続した第2のトランジスターと、を有するとと
もに、上記有機EL素子による一画素ごとに上記第1の
トランジスターを切り換えることにより、第1の所定時
間にわたって上記有機EL素子に駆動電流を供給すると
ともに、この第1の所定時間に続く第2の所定時間にわ
たって上記第2のトランジスターを非導通状態とするこ
とができる。
および選択線と、上記有機EL素子に電圧を供給するた
めの電圧供給線と、を有するとともに、この電圧供給線
をオンとした状態で、上記有機EL素子による一画素ご
とに上記信号線あるいは選択線のいずれかを切り換え
て、上記有機EL素子に流れる駆動電流および放電電流
を測定することができる。
および選択線を有するとともに、上記有機EL素子によ
る一画素ごとにこの信号線あるいは選択線のいずれかを
切り換え、かつ、上記有機EL素子に供給する電流を制
御して、上記有機EL素子に流れる駆動電流および放電
電流を測定することができる。
クス方式の有機ELディスプレイに適用可能であって、
画素としての有機EL素子と、この有機EL素子を選択
するための信号線および選択線と、この有機EL素子に
電圧を供給するための電圧供給線と、を有する有機EL
ディスプレイの評価装置であって、上記信号線、選択線
および電圧供給線に検査電圧を発生させる検査電圧発生
回路と、この検査電圧を上記信号線、選択線および電圧
供給線に一定周期で順次印加するためのコントロール信
号を発生するコントロール信号発生回路と、このコント
ロール信号を上記信号線、選択線および電圧供給線を介
して上記有機EL素子に接続するための接続スイッチ回
路と、上記有機EL素子に流れる駆動電流および放電電
流を検出するための電流検出回路と、検出された電流値
から上記有機EL素子の良否を判定する欠陥判定回路
と、を有することを特徴とする有機ELディスプレイの
評価装置である。
式とは異なって各有機EL素子にスイッチ回路および電
圧供給線を設けない単純マトリックス方式の有機ELデ
ィスプレイに適用可能であって、画素としての有機EL
素子と、この有機EL素子を選択するための信号線およ
び選択線と、を有する有機ELディスプレイの評価装置
であって、上記信号線および選択線に検査電流を発生さ
せる検査電流発生回路と、この検査電流を上記信号線お
よび選択線に一定周期で順次印加するためのコントロー
ル信号を発生するコントロール信号発生回路と、このコ
ントロール信号を上記信号線および選択線を介して上記
有機EL素子に接続するための接続スイッチ回路と、上
記有機EL素子に流れる駆動電流および放電電流を検出
するための電流検出回路と、検出された電流値から上記
有機EL素子の良否を判定する欠陥判定回路と、を有す
ることを特徴とする有機ELディスプレイの評価装置で
ある。
ィスプレイについては、上記有機EL素子の順方向降下
電圧を測定する順方向降下電圧検出回路を設けるととも
に、上記欠陥判定回路は、上記検出された電流値および
この順方向降下電圧値から上記有機EL素子の良否を判
定することができる。
幅するための電流増幅回路と、この増幅された電流をデ
ジタル信号に変換するためのA/D変換回路と、を有す
ることができる。
ELディスプレイについて、上記検査電圧発生回路にお
ける上記検査電圧の設定、上記コントロール信号発生回
路における上記コントロール信号の発生、および上記電
流増幅回路における電流増幅度の設定については、中央
制御回路からのバスデータによりこれを任意に設定可能
とすることができる。
ィスプレイについて、上記検査電流発生回路における上
記検査電流の設定、上記コントロール信号発生回路にお
ける上記コントロール信号の発生、および上記電流増幅
回路における電流増幅度の設定については、中央制御回
路からのバスデータによりこれを任意に設定可能とする
ことができる。
信号線および選択線と、この信号線および選択線の各交
差部分において該信号線および選択線にそれぞれ接続し
た画素としての有機EL素子と、を有する有機ELディ
スプレイの評価装置であって、上記有機EL素子による
一画素ごとに上記信号線および選択線のいずれかを切り
換えて、上記有機EL素子を駆動し、該有機EL素子の
駆動電流値および放電電流値を測定するとともに、その
電流値の差を検出することにより画素欠陥を検出するこ
とを特徴とする有機ELディスプレイの評価装置であ
る。
信号線および選択線と、この信号線および選択線の各交
差部分において該信号線および選択線にそれぞれ接続し
た画素としての有機EL素子と、を有する有機ELディ
スプレイの評価装置であって、上記有機EL素子による
一画素ごとに上記信号線および選択線のいずれかを切り
換えて、上記有機EL素子を駆動し、該有機EL素子の
駆動時間内において駆動電流値について第1のサンプリ
ングを行うとともに、この駆動時間に続く放電時間の終
了後に放電電流値について第2のサンプリングを行うこ
とにより、駆動電流値および放電電流値を測定し、その
電流値の差を検出することにより画素欠陥を検出するこ
とを特徴とする有機ELディスプレイの評価装置であ
る。
有する有機ELディスプレイの評価方法であって、上記
有機EL素子による一画素ごとに駆動電流値および放電
電流値を測定するとともに、その電流値の差を検出する
ことにより画素欠陥を検出することを特徴とする有機E
Lディスプレイの評価方法である。
装置および評価方法においては、有機ELディスプレイ
の各画素(有機EL素子)への駆動電流の供給後に、こ
の有機EL素子が放電する時間をあけて次の一画素の駆
動すなわち検査を行うこと、具体的には有機EL素子の
駆動電流値と放電電流値との差を測定するようにしたの
で、それぞれの一画素(有機EL素子)ごとに駆動電流
の供給および放電を行わせることができ、それぞれの有
機EL素子について逐一検査を行うことができる。この
電流値の差が所定レベル内であれば、一画素を構成して
いる有機EL素子が正常であると判断することができ
る。
による一画素ごとに駆動電流値および放電電流値の差を
検出するようにしたので、各画素について放電終了後に
つぎの画素(有機EL素子)について同様の検出を行う
ことになり、前回の検出による駆動電流値がつぎの画素
に残留せず、確実に各画素についての評価を順次行うこ
とができる。
トリックス方式の有機ELディスプレイについて、検査
電圧発生回路と、コントロール信号発生回路と、有機E
Lディスプレイへの接続スイッチ回路と、電流検出回路
と、欠陥判定回路と、を設けたので、有機ELディスプ
レイにその駆動回路を取り付けて、実際の製品に近い形
まで組み上げてからこれを検査するという従来の評価装
置とは異なり、有機ELディスプレイの形態のままで、
その評価作業を行うことができる。
による一画素中に定電流回路を備えていない単純マトリ
ックス方式の有機ELディスプレイについては、アクテ
ィブマトリックス方式の有機ELディスプレイの評価装
置における検査電圧発生回路に代わって、信号線および
選択線に検査電流を発生させる検査電流発生回路を設
け、第二の発明と同様の評価作業を行うことができる。
状に配置した信号線および選択線の各交差部分において
接続した有機EL素子ごとに信号線および選択線のいず
れかを切り換えて、駆動電流値および放電電流値の差を
検出するようにしたので、信号線あるいは選択線の選択
処理により、各画素について速やかに評価を行うことが
できる。
の駆動時間内において駆動電流値について第1のサンプ
リングを行い、この駆動時間に続く放電時間の終了後に
放電電流値について第2のサンプリングを行うようにし
たので、各有機EL素子についてその評価のための適切
な電流値を測定することができる。
同様に、各画素について放電終了後につぎの画素(有機
EL素子)についての検出を行うため、前回の検出によ
る駆動電流値がつぎの画素に残留せず、確実に各画素に
ついての評価を順次行うことができる。
態による有機ELディスプレイの評価装置20を評価方
法とともに図1ないし図4にもとづき説明する。ただ
し、図7ないし図9と同様の部分には同一符号を付し、
その詳述はこれを省略する。図1は、有機ELディスプ
レイ10の評価装置20の概略回路図であって、有機E
Lディスプレイの評価装置20は、有機ELディスプレ
イ10の各一画素11およびその配線などについての良
否を判定ないし評価するものであり、中央制御回路21
(CPU)と、コントロールバス22と、検査電圧発生
回路23と、電流検出回路24と、電流増幅回路25
と、A/D変換回路26と、欠陥判定回路27と、コン
トロール信号発生回路28と、信号線接続スイッチ回路
29(接続スイッチ回路)と、選択線接続スイッチ回路
30(接続スイッチ回路)と、電圧供給線接続スイッチ
回路31(接続スイッチ回路)と、を有する。
2を介して全体を制御する。
プレイ10の検査のための検査電圧を発生するもので、
信号線接続スイッチ回路29および選択線接続スイッチ
回路30、さらには電流検出回路24にこれを接続して
ある。検査電圧は、有機ELディスプレイ10を破壊し
ない電圧以下であればよいが、好ましくは、発光電圧よ
り低い電圧であって、有機ELディスプレイ10の評価
に必要な電流を流すことができる電圧が望ましい。な
お、有機ELディスプレイ10の有機EL画素14の発
光電圧としては、使用する有機材料や電極材料により異
なるが、通常2〜4ボルト程度である。したがって、検
査電圧としては、4ボルト程度まで発生することができ
ればよい。検査電圧発生回路23としては、希望の電圧
を発生することができるものであればよく、たとえば定
電圧回路やレギュレーター回路などを用いることによ
り、この検査電圧を容易に発生することができる。
ディスプレイ10における信号線VDをそれぞれの一画
素11に順次切り替えて接続するためのもので、この切
り替えのためのコントロール信号は、コントロール信号
発生回路28からこれを供給する。選択線接続スイッチ
回路30は、有機ELディスプレイ10における選択線
VGをそれぞれの一画素11に順次切り替えて接続する
ためのもので、この切り替えのためのコントロール信号
は、コントロール信号発生回路28からこれを供給す
る。電圧供給線接続スイッチ回路31は、有機ELディ
スプレイ10における電圧供給線VLCをそれぞれの一
画素11に順次切り替えて接続するためのもので、この
切り替えのためのコントロール信号は、コントロール信
号発生回路28からこれを供給する。したがって検査電
圧発生回路23は、信号線接続スイッチ回路29および
選択線接続スイッチ回路30を介して、また電流検出回
路24および電圧供給線接続スイッチ回路31を介し
て、その検査電圧を、信号線VD、選択線VGおよび電
圧供給線VLCにそれぞれ供給可能である。
L画素14ないし有機EL素子1)に流れる駆動電流お
よび放電電流を検出するためのもので、電圧供給線接続
スイッチ回路31にこれを接続し、検出電流値を電流増
幅回路25に出力する。
する。
デジタル信号に変換する。
より有機ELディスプレイ10における一画素11ない
し有機EL画素14(有機EL素子1)の良否を判定す
る(詳細は、図4にもとづき後述する)。
変換回路26、信号線接続スイッチ回路29、選択線接
続スイッチ回路30、および電圧供給線接続スイッチ回
路31へのコントロール信号を供給する。
20を駆動して有機ELディスプレイ10を評価するた
めのタイミングチャートであって、第1の画素および第
2の画素について描いてある。有機ELディスプレイ1
0の一画素11における有機EL画素14の検査にあた
って、各一画素11の検査終了時に、その検査で選択し
た有機EL画素14が十分に放電終了している必要があ
る。すなわち、有機EL画素14の検査にあたっては、
コントロール信号発生回路28による各信号線VD、選
択線VGおよび電圧供給線VLCのオンオフのタイミン
グが重要である。
ると、検査開始時に、検査電圧発生回路23から選択線
接続スイッチ回路30を介して所定の一画素11(第1
の画素)の有機EL画素14の選択線VGに電圧を供給
して第1のトランジスター15(図9)をオンにすると
ともに、信号線接続スイッチ回路29を介して信号線V
Dに電圧(VD1)を供給すると、第2のトランジスタ
ー16を駆動するための電圧がV1に供給され、第2の
トランジスター16はオンとなる。この電圧V1の立ち
上がりとともにキャパシター17が充電される。この状
態で電圧供給線VLCをオンにし、有機EL画素14へ
の電圧V2が立ち上がる。すなわち有機EL画素14に
検査電圧が供給されたことになり、この駆動時間t1
(第1の所定時間)内に第1のサンプリングS1を行う
ことにより有機EL画素14の駆動電流を計測する。
とし、立ち下がり時間t2の経過後、キャパシター17
および有機EL画素14の電荷を完全に放出(放電)さ
せ、この放電状態を安定させて第2のトランジスター1
6を完全にオフとするとともに、放電時間t3(第2の
所定時間)内に第2のサンプリングS2を行うことによ
り放電電流を計測する。上記駆動電流(駆動電流デー
タ)とこの放電電流(放電電流データ)との差を求め、
この電流値の差(動作電流差)すなわち、画素電流値の
電流データ(デジタル信号)にもとづいて有機EL画素
14(第1の画素)について欠陥検出を行う。
についての画素電流値を示すグラフであって、画素電流
値の評価基準値を所定レベル範囲内の値に設定してお
く。この所定レベル範囲ないししきい値については、正
常な有機EL画素14の平均的な動作電流差をあらかじ
め求めておき、この範囲を逸脱した電流値が検出された
有機EL画素14は欠陥画素と判定する。たとえば、範
囲の上限をこえた場合には、第1のトランジスター15
や第2のトランジスター16あるいは配線部分の欠陥が
考えられ、図示の例では、n+3番目の有機EL画素1
4は発光強度が強すぎ、白側の欠陥と判定される。画素
電流値が範囲の下限を下まわった場合には、電流自体が
流れにくいことからライン欠陥やドット欠陥が考えら
れ、たとえば、n+6番目の有機EL画素14は発光強
度が弱く、黒側の欠陥と判定される。
素14)の検査にあたり、第1の画素の駆動状態ないし
検査状態の影響が全く残っていない状態とすることがで
き、正常かつ確実な画素検査を順次継続することができ
る。こうして正常と評価された有機ELディスプレイ1
0のみに、その駆動回路その他の付属部品を組み付けて
製品化するもので、製造および評価工程における歩留ま
りを改善することができる。
給後(駆動時間t1ののち)、立ち下がり時間t2およ
び放電時間t3をおかないでつぎの有機EL画素14の
検査を実行してゆくような検査手順の場合における、図
3と同様のグラフであって、各画素について駆動電流の
重ね合わせが順次生じるため、画素電流値が次第に大き
くなり、白側の欠陥のみとなって、絶対値として大きく
なった画素電流のうちの細かな変化によりそれぞれの一
画素11について欠陥を判定しなければならず、評価作
業は事実上困難ないし不可能である。
装置および評価方法は、アクティブマトリックス方式の
有機ELディスプレイ10に限らず、各有機EL画素1
4にスイッチ回路12および電圧供給線VLC(図8、
図9)を備えていない単純マトリックス方式の有機EL
ディスプレイ40についても適用可能である。すなわち
図5は、単純マトリックス方式の有機ELディスプレイ
40の概略図であって、有機ELディスプレイ40は、
定電流を供給可能な電流源41から有機EL画素14
(有機EL素子1)に電流を供給可能とするとともに、
有機EL画素14について信号線選択回路42(データ
線選択回路)および選択線選択回路43(走査線選択回
路)により選択的に駆動電流を供給することにより発光
させることができる。
有機ELディスプレイ40(単純マトリックス方式)の
評価装置50の概略回路図であって、有機ELディスプ
レイ40の評価装置50は、有機ELディスプレイ10
の評価装置20(図1)における電圧供給線接続スイッ
チ回路31を省略するとともに、前記検査電圧発生回路
23(図1)の代わりに検査電流発生回路51を設け、
この検査電流発生回路51と前記電流増幅回路25との
間に順方向降下電圧検出回路52を接続して構成したも
ので、有機ELディスプレイ40における有機EL画素
14(有機EL素子1)の検査を行うことができる。
び選択線VGに検査電流を順次発生させるものである。
すなわち、単純マトリックス方式の有機ELディスプレ
イ40(図5)における有機EL画素14(有機EL素
子1)には、アクティブマトリックス方式の有機ELデ
ィスプレイ10(図図1、図8、図9)のように定電流
回路13を備えていないので、有機EL画素14の評価
のために検査電流発生回路51から有機EL画素14に
検査電流を直接供給する必要がある。
仮想線で示すように、有機EL画素14(有機EL素子
1)が正常に作動したときの順方向降下電圧を検出す
る。すなわち、単純マトリックス方式の有機ELディス
プレイ40における有機EL画素14はその有機EL素
子1が正常の場合も短絡している場合も同様に電流を流
すが、正常な場合には順方向降下電圧が発生し、短絡し
ている場合には順方向降下電圧が発生しないので、検出
電流と併せて順方向の降下電圧を検出することにより、
画素欠陥を検出する。
順については、図1ないし図4にもとづいた既述の評価
装置20と同様であるので、その詳述はこれを省略する
が、有機EL画素14ごとに信号線選択回路42により
信号線VDを、あるいは選択線選択回路43により選択
線VGを切り換えて駆動電流値および放電電流値の差を
計測するとともに、前記欠陥判定回路27が、電流検出
回路24により検出された電流値と、順方向降下電圧検
出回路52により検出された順方向降下電圧値と、から
有機EL素子1の良否を判定する。
ディスプレイにおける有機EL画素ないし有機EL素子
の駆動電流および放電電流の差を検出して、これにもと
づき有機ELディスプレイの良否を判定するようにした
ので、有機EL画素について逐一かつ順次適正な評価を
行うことができる。
スプレイの評価装置20の概略回路図である。
動して有機ELディスプレイ10を評価するためのタイ
ミングチャートである。
を示すグラフである。
ち)、立ち下がり時間t2および放電時間t3をおかな
いでつぎの有機EL画素14の検査を実行してゆくよう
な検査手順の場合における、図3と同様のグラフであ
る。
プレイ40の概略図である。
スプレイ40の評価装置50の概略回路図である。
拡大断面図である。
ィスプレイ10の一画素11部分を示す回路図である。
リックス方式の有機ELディスプレイ10の一画素11
部分を示す回路図である。
レイ(図8、図9) 11 有機ELディスプレイ10の一画素 12 スイッチ回路 13 定電流回路 14 有機EL画素(有機EL素子) 15 第1のトランジスター(TFT) 16 第2のトランジスター(TFT) 17 キャパシター 20 有機ELディスプレイ10(アクティブマトリッ
クス方式)の評価装置(第1の実施の形態、図1) 21 中央制御回路 22 コントロールバス 23 検査電圧発生回路 24 電流検出回路 25 電流増幅回路 26 A/D変換回路 27 欠陥判定回路 28 コントロール信号発生回路 29 信号線接続スイッチ回路(接続スイッチ回路) 30 選択線接続スイッチ回路(接続スイッチ回路) 31 電圧供給線接続スイッチ回路(接続スイッチ回
路) 40 単純マトリックス方式の有機ELディスプレイ
(図5) 41 電流源 42 信号線選択回路(データ線選択回路) 43 選択線選択回路(走査線選択回路) 50 有機ELディスプレイ40(単純マトリックス方
式)の評価装置50(第2の実施の形態、図6) 51 検査電流発生回路 52 順方向降下電圧検出回路 VD 信号線 VG 選択線 VLC 電圧供給線 t1 駆動時間(第1の所定時間) t2 立ち下がり時間 t3 放電時間(第2の所定時間) S1 第1のサンプリング S2 第2のサンプリング
Claims (18)
- 【請求項1】 画素として有機EL素子を有する有機
ELディスプレイの評価装置であって、 前記有機EL素子による一画素ごとに駆動電流値および
放電電流値を測定するとともに、 その電流値の差を検出することにより画素欠陥を検出す
ることを特徴とする有機ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項2】 前記有機ELディスプレイは、 前記有機EL素子を駆動するための定電流回路と、 この定電流回路による定電流を可変とするための電圧を
切り替えるスイッチ回路と、を有することを特徴とする
請求項1記載の有機ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項3】 前記有機ELディスプレイは、 前記有機EL素子を駆動するための定電流回路と、 前記有機EL素子を選択するための信号線および選択線
と、を有することを特徴とする請求項1記載の有機EL
ディスプレイの評価装置。 - 【請求項4】 前記有機EL素子を選択するための信
号線および選択線を有するとともに、 前記有機EL素子による一画素ごとにこの信号線あるい
は選択線のいずれかを切り換えて、前記駆動電流値およ
び前記放電電流値を測定することを特徴とする請求項1
記載の有機ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項5】 前記有機EL素子を選択するための信
号線および選択線を有するとともに、 前記有機EL素子による一画素ごとにこの信号線あるい
は選択線のいずれかを切り換えて、 前記有機EL素子に駆動電流を供給するとともに、 前記有機EL素子に蓄えられた電荷を放出することを特
徴とする請求項1記載の有機ELディスプレイの評価装
置。 - 【請求項6】 前記有機EL素子に定電流を供給する
ためのキャパシターを有するとともに、 前記有機EL素子による一画素ごとに駆動電圧を供給す
るとともに、 前記キャパシターに蓄えられた電荷を放出させることを
特徴とする請求項1記載の有機ELディスプレイの評価
装置。 - 【請求項7】 前記有機EL素子に定電流を供給する
ためにスイッチする第1のトランジスターと、 この第1のトランジスターによりスイッチするとともに
前記有機EL素子に接続した第2のトランジスターと、
を有するとともに、 前記有機EL素子による一画素ごとに前記第1のトラン
ジスターを切り換えることにより、 第1の所定時間にわたって前記有機EL素子に駆動電流
を供給するとともに、この第1の所定時間に続く第2の
所定時間にわたって前記第2のトランジスターを非導通
状態とすることを特徴とする請求項1記載の有機ELデ
ィスプレイの評価装置。 - 【請求項8】 前記有機EL素子を選択するための信
号線および選択線と、 前記有機EL素子に電圧を供給するための電圧供給線
と、を有するとともに、 この電圧供給線をオンとした状態で、前記有機EL素子
による一画素ごとに前記信号線あるいは選択線のいずれ
かを切り換えて、 前記有機EL素子に流れる駆動電流および放電電流を測
定することを特徴とする請求項1記載の有機ELディス
プレイの評価装置。 - 【請求項9】 前記有機EL素子を選択するための信
号線および選択線を有するとともに、 前記有機EL素子による一画素ごとにこの信号線あるい
は選択線のいずれかを切り換え、かつ、 前記有機EL素子に供給する電流を制御して、前記有機
EL素子に流れる駆動電流および放電電流を測定するこ
とを特徴とする請求項1記載の有機ELディスプレイの
評価装置。 - 【請求項10】 画素としての有機EL素子と、 この有機EL素子を選択するための信号線および選択線
と、 この有機EL素子に電圧を供給するための電圧供給線
と、を有する有機ELディスプレイの評価装置であっ
て、 前記信号線、選択線および電圧供給線に検査電圧を発生
させる検査電圧発生回路と、 この検査電圧を前記信号線、選択線および電圧供給線に
一定周期で順次印加するためのコントロール信号を発生
するコントロール信号発生回路と、 このコントロール信号を前記信号線、選択線および電圧
供給線を介して前記有機EL素子に接続するための接続
スイッチ回路と、 前記有機EL素子に流れる駆動電流および放電電流を検
出するための電流検出回路と、 検出された電流値から前記有機EL素子の良否を判定す
る欠陥判定回路と、 を有することを特徴とする有機ELディスプレイの評価
装置。 - 【請求項11】 画素としての有機EL素子と、 この有機EL素子を選択するための信号線および選択線
と、を有する有機ELディスプレイの評価装置であっ
て、 前記信号線および選択線に検査電流を発生させる検査電
流発生回路と、 この検査電流を前記信号線および選択線に一定周期で順
次印加するためのコントロール信号を発生するコントロ
ール信号発生回路と、 このコントロール信号を前記信号線および選択線を介し
て前記有機EL素子に接続するための接続スイッチ回路
と、 前記有機EL素子に流れる駆動電流および放電電流を検
出するための電流検出回路と、 検出された電流値から前記有機EL素子の良否を判定す
る欠陥判定回路と、 を有することを特徴とする有機ELディスプレイの評価
装置。 - 【請求項12】 前記有機EL素子の順方向降下電圧
を測定する順方向降下電圧検出回路を設けるとともに、 前記欠陥判定回路は、前記検出された電流値およびこの
順方向降下電圧値から前記有機EL素子の良否を判定す
ることを特徴とする請求項11記載の有機ELディスプ
レイの評価装置。 - 【請求項13】 前記電流検出回路により検出した電
流を増幅するための電流増幅回路と、 この増幅された電流をデジタル信号に変換するためのA
/D変換回路と、を有することを特徴とする請求項10
あるいは11記載の有機ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項14】 前記検査電圧発生回路における前記
検査電圧の設定、 前記コントロール信号発生回路における前記コントロー
ル信号の発生、および 前記電流増幅回路における電流増幅度の設定について
は、中央制御回路からのバスデータによりこれを任意に
設定可能としたことを特徴とする請求項13記載の有機
ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項15】 前記検査電流発生回路における前記
検査電流の設定、 前記コントロール信号発生回路における前記コントロー
ル信号の発生、および前記電流増幅回路における電流増
幅度の設定については、中央制御回路からのバスデータ
によりこれを任意に設定可能としたことを特徴とする請
求項13記載の有機ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項16】 マトリックス状に配置した信号線お
よび選択線と、 この信号線および選択線の各交差部分において該信号線
および選択線にそれぞれ接続した画素としての有機EL
素子と、を有する有機ELディスプレイの評価装置であ
って、 前記有機EL素子による一画素ごとに前記信号線および
選択線のいずれかを切り換えて、前記有機EL素子を駆
動し、該有機EL素子の駆動電流値および放電電流値を
測定するとともに、 その電流値の差を検出することにより画素欠陥を検出す
ることを特徴とする有機ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項17】 マトリックス状に配置した信号線お
よび選択線と、 この信号線および選択線の各交差部分において該信号線
および選択線にそれぞれ接続した画素としての有機EL
素子と、を有する有機ELディスプレイの評価装置であ
って、 前記有機EL素子による一画素ごとに前記信号線および
選択線のいずれかを切り換えて、前記有機EL素子を駆
動し、 該有機EL素子の駆動時間内において駆動電流値につい
て第1のサンプリングを行うとともに、 この駆動時間に続く放電時間の終了後に放電電流値につ
いて第2のサンプリングを行うことにより、 駆動電流値および放電電流値を測定し、その電流値の差
を検出することにより画素欠陥を検出することを特徴と
する有機ELディスプレイの評価装置。 - 【請求項18】 画素として有機EL素子を有する有
機ELディスプレイの評価方法であって、 前記有機EL素子による一画素ごとに駆動電流値および
放電電流値を測定するとともに、 その電流値の差を検出することにより画素欠陥を検出す
ることを特徴とする有機ELディスプレイの評価方法。
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