CN114120908B - 显示面板及其像素修复装置和像素修复方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种显示面板及其像素修复装置和像素修复方法。本申请通过对异常像素进行激光处理，使得异常像素中的电容的两极板短路，且第一节点与驱动晶体管的栅极断开，和/或，第二节点与驱动晶体管的漏极断开，和/或，驱动晶体管的源极与第一电源断开，同时采用无源驱动的方式驱动激光处理后的异常像素，使得异常像素可以正常发光，从而可以降低修复工艺的难度，提供显示面板的显示品质。

Description

显示面板及其像素修复装置和像素修复方法

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板及其像素修复装置和像素修复方法。

背景技术

有机发光二极管在外加电场作用下，电子和空穴分别从阴极和阳极向夹在电极之间的有机功能层注入，注入的电子和空穴分别从电子传输层和空穴传输层向发光层迁移，注入到发光层后；由于库伦力的作用束缚在一起形成电子空穴对，即激子，激子在电场的作用下迁移，将能量转移给发光层中的掺杂材料，掺杂材料中的电子吸收能量后，从基态跃迁到激发态，因为激发态是不稳定的，电子会从激发态再次跃迁回基态，同时释放出能量，产生光子，从而实现有机发光二极管的发光。

有机发光二极管的特性显而易见，可以带来更高的对比度、更鲜艳的颜色、更轻薄的模组甚至可以随意弯曲，但在实际的制程工艺中，难免出现缺陷，导致部分有机发光二极管无法发光(暗点)或持续发光(亮点)。无论是暗点还是亮点，都会对显示面板的显示品质造成影响。

发明内容

本申请提供一种显示面板及其像素修复装置和像素修复方法，可以降低修复工艺的难度，提供显示面板的显示品质。

第一方面，本申请提供一种显示面板的像素修复装置，所述显示面板包括多个像素，所述像素包括驱动晶体管、数据晶体管、电容以及发光元件，所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与第一电源电连接，所述驱动晶体管的漏极与第二节点电连接，所述数据晶体管的栅极与扫描线电连接，所述数据晶体管的源极与数据线电连接，所述数据晶体管的漏极与所述第一节点电连接，所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所述电容的第二端与所述第二节点电连接，所述发光元件的阳极与所述第二节点电连接，所述发光元件的阴极与第二电源电连接，所述像素修复装置包括：

检测及定位单元，所述检测及定位单元用于检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置；

激光处理单元，所述激光处理单元用于根据所述异常像素的位置，将所述异常像素中的电容的两极板短路，并将所述第一节点与所述驱动晶体管的栅极断开，和/或，将所述第二节点与所述驱动晶体管的漏极断开，和/或，将所述驱动晶体管的源极与所述第一电源断开；以及

无源驱动单元，所述无源驱动单元用于根据所述异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动经过所述激光处理单元处理后的异常像素。

在本申请提供的显示面板的像素修复装置中，所述像素还包括侦测晶体管，所述侦测晶体管的栅极与控制线电连接，所述侦测晶体管的源极与侦测线电连接，所述侦测晶体管的漏极与所述第二节点电连接；

所述激光处理单元还用于根据所述异常像素的位置，将所述第二节点与所述侦测晶体管的漏极断开，和/或，将所述控制线与所述侦测晶体管的栅极断开，和/或，将所述侦测线与所述侦测晶体管的源极断开。

在本申请提供的显示面板的像素修复装置中，所述异常像素的位置包括所述异常像素的坐标参数；所述显示面板的像素修复装置还包括第一存储单元，所述第一存储单元用于存储所述异常像素的坐标参数。

在本申请提供的显示面板的像素修复装置中，所述显示面板的像素修复装置还包括第二存储单元，所述第二存储单元用于存储灰阶等级与伽马电压的对应关系。

在本申请提供的显示面板的像素修复装置中，所述无源驱动单元具体用于根据所述异常像素的位置，调用灰阶等级与伽马电压的对应关系，通过所述数据线供应相应的伽马电压。

在本申请提供的显示面板的像素修复装置中，所述发光元件为有机发光二极管。

第二方面，本申请提供一种显示面板，其包括以上所述的显示面板的像素修复装置。

第三方面，本申请提供一种显示面板的像素修复方，所述显示面板包括多个像素，所述像素包括驱动晶体管、数据晶体管、电容以及发光元件，所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与第一电源电连接，所述驱动晶体管的漏极与第二节点电连接，所述数据晶体管的栅极与扫描线电连接，所述数据晶体管的源极与数据线电连接，所述数据晶体管的漏极与所述第一节点电连接，所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所述电容的第二端与所述第二节点电连接，所述发光元件的阳极与所述第二节点电连接，所述发光元件的阴极与第二电源电连接，所述像素修复方法包括以下步骤：

检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置；

根据所述异常像素的位置，将所述异常像素中的电容的两极板短路，并将所述第一节点与所述驱动晶体管的栅极断开，和/或，将所述第二节点与所述驱动晶体管的漏极断开，和/或，将所述驱动晶体管的源极与所述第一电源断开；

根据所述异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动所述异常像素。

在本申请提供的显示面板的像素修复方法中，所述像素还包括侦测晶体管，所述侦测晶体管的栅极与控制线电连接，所述侦测晶体管的源极与侦测线电连接，所述侦测晶体管的漏极与所述第二节点电连接；

所述根据所述异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动所述异常像素的步骤，包括：

根据所述异常像素的位置，将所述第二节点与所述侦测晶体管的漏极断开，和/或，将所述控制线与所述侦测晶体管的栅极断开，和/或，将所述侦测线与所述侦测晶体管的源极断开。

在本申请提供的显示面板的像素的修复方法中，所述发光元件为有机发光二极管。

本申请提供的显示面板及其像素修复装置和像素修复方法，通过对异常像素进行激光处理，使得异常像素中的电容的两极板短路，且第一节点与驱动晶体管的栅极断开，和/或，第二节点与驱动晶体管的漏极断开，和/或，驱动晶体管的源极与第一电源断开，同时采用无源驱动的方式驱动激光处理后的异常像素，使得异常像素可以正常发光，从而可以降低修复工艺的难度，提供显示面板的显示品质。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的显示面板中一像素的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的显示面板的像素修复装置的结构示意图；

图3为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第一种结构示意图；

图4为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第二种结构示意图；

图5为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第三种结构示意图；

图6为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第四种结构示意图；

图7为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第五种结构示意图；

图8为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第六种结构示意图；

图9为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第七种结构示意图；

图10为本申请实施例提供的显示面板中一像素的另一结构示意图；

图11为图10所示的像素经过激光处理后的像素的结构示意图；

图12为本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法的流程示意图；

图13为本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法的另一流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。本申请的权利要求书以及说明书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。

请参阅图1、图2，图1为本申请实施例提供的显示面板中一像素的结构示意图；图2为本申请实施例提供的显示面板的像素修复装置的结构示意图。如图1所示，本申请实施例提供的显示面板包括多个像素。像素包括驱动晶体管T1、数据晶体管T2、电容C以及发光元件D。

其中，驱动晶体管T1的栅极与第一节点a电连接，驱动晶体管T1的源极与第一电源OVDD电连接，驱动晶体管T1的漏极与第二节点b电连接。数据晶体管T2的栅极与扫描线G电连接，数据晶体管T2的源极与数据线DA电连接，数据晶体管T2的漏极与第一节点a电连接。电容C的第一端与第一节点a电连接，电容C的第二端与第二节点b电连接。发光元件D的阳极与第二节点b电连接，发光元件D的阴极与第二电源OVSS电连接。

需要说明的是，驱动晶体管T1用于控制流经流经驱动晶体管T1及发光元件D的驱动电流。数据晶体管T2用于在扫描线G供应的扫描信号的控制下将数据线DA供应的电压供应至第一节点a(驱动晶体管T1的栅极)。发光元件D可以是包括有机发光层的有机发光二极管，也可以是由无机材料形成的无机发光元件。

在一些实施例中，驱动晶体管T1以及数据晶体管T2可以为低温多晶硅薄膜晶体管、氧化物半导体薄膜晶体管或非晶硅薄膜晶体管中的一种或者多种。本申请实施例提供的像素中的晶体管可以为同一种类型的晶体管，从而可以避免不同类型的晶体管之间的差异性对像素造成的影响。

结合图1、图2所示，本申请实施例提供的显示面板的像素修复装置10包括检测及定位单元101、激光处理单元102、无源驱动单元103、第一存储单元104以及第二存储单元105。

其中，检测及定位单元101用于检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置。比如：检测及定位单元101可以通过阵列测试判断每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位。

具体的，当检测及定位单元101检测到图1所示的像素发生异常时，其可以对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置，并将异常像素的位置存储到第一存储单元104中。

其中，激光处理单元102用于根据异常像素的位置，将异常像素中的电容C的两极板短路，并将第一节点a与驱动晶体管T1的栅极断开，和/或，将第二节点B与驱动晶体管T1的漏极断开，和/或，将驱动晶体管T1的源极与第一电源OVDD断开。

比如，请参阅图3，图3为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第一种结构示意图；如图3所示，像素中的电容C的两极板短路，第一节点a与驱动晶体管T1的栅极断开。比如：请参阅图4，图4为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第二种结构示意图；如图4所示，像素中的电容C的两极板短路，第二节点b与驱动晶体管T1的漏极断开。比如：请参阅图5，图5为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第三种结构示意图；如图5所示，像素中的电容C的两极板短路，驱动晶体管T1的源极与第一电源OVDD断开。比如：请参阅图6，图6为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第四种结构示意图；如图6所示，像素中的电容C的两极板短路，第一节点a与驱动晶体管T1的栅极断开，第二节点b与驱动晶体管T1的漏极断开。比如：请参阅图7，图7为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第五种结构示意图；如图7所示，像素中的电容C的两极板短路，第一节点a与驱动晶体管T1的栅极断开，驱动晶体管T1的源极与第一电源OVDD断开。比如：请参阅图8，图8为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第六种结构示意图；如图8所示，像素中的电容C的两极板短路，第二节点b与驱动晶体管T1的漏极断开，驱动晶体管T1的源极与第一电源OVDD断开。比如：请参阅图9，图9为图1所示的像素经过激光处理后的像素的第七种结构示意图；如图9所示，像素中的电容C的两极板短路，第一节点a与驱动晶体管T1的栅极断开，第二节点b与驱动晶体管T1的漏极断开，驱动晶体管T1的源极与第一电源OVDD断开。

具体的，激光处理单元102从第一存储单元104中获取异常像素的位置，根据异常像素的位置对异常像素进行激光处理，使得电容C的两极板短路，驱动晶体管T1断开。也即，通过激光单元102对异常像素进行激光处理后，发光元件D串联在数据线DA与第二电源OVSS形成的电流回路中。

其中，无源驱动单元103用于根据异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动经过激光处理单元102处理后的异常像素。

具体的，无源驱动单元103可以根据异常像素的位置，从第二存储单元105中调用灰阶等级与伽马电压的对应关系，通过数据线供应相应的伽马电压，从而驱动经过激光处理单元102处理后的异常像素。也即，无源驱动单元103采用无源驱动的方式驱动经过激光处理单元102处理后的异常像素。

其中，异常像素的位置包括异常像素的坐标参数。第一存储单元104用于存储异常像素的坐标参数。激光处理单元102具体用于根据异常像素的坐标参数将异常像素中的电容C的两极板短路，并将第一节点a与驱动晶体管T1的栅极断开，和/或，将第二节点b与驱动晶体管T1的漏极断开，和/或，将驱动晶体管T1的源极与第一电源OVDD断开。无源驱动单元103具体用于根据异常像素的坐标参数，采用无源驱动的方式驱动经过激光处理单元102处理后的异常像素。

其中，第二存储单元105用于存储灰阶等级与伽马电压的对应关系。无源驱动单元103具体用于根异常像素的位置，调用灰阶等级与伽马电压的对应关系，通过数据线供应相应的伽马电压。

本申请实施例提供的显示面板的修补装置，通过对异常像素进行激光处理，使异常像素中的电容的两极板短路，且第一节点与驱动晶体管的栅极断开，和/或，第二节点与驱动晶体管的漏极断开，和/或，驱动晶体管的源极与第一电源断开，同时采用无源驱动的方式驱动激光处理后的异常像素，使得异常像素可以正常发光，从而可以降低修复工艺的难度，提供显示面板的显示品质。

请参阅图10，图10为本申请实施例提供的显示面板中一像素的另一结构示意图。图10所示的像素与图1所示的像素的区别在于：图10所示的像素还包括侦测晶体管T3。其中，侦测晶体管T3的栅极与控制线S电连接，侦测晶体管T3的源极与侦测线REF电连接，侦测晶体管T3的漏极与第二节点b电连接。

其中，激光处理单元102还用于根据异常像素的位置，将第二节点b与侦测晶体管T3的漏极断开，和/或，将控制线S与侦测晶体管T3的栅极断开，和/或，将侦测线REF与侦测晶体管T3的源极断开。

比如：可以将第二节点b与侦测晶体管T3的漏极断开。比如：可以将控制线S与侦测晶体管T3的栅极断开。比如：可以将侦测线S与侦测晶体管T3的源极断开。比如：可以将第二节点b与侦测晶体管T3的漏极断开，将控制线S与侦测晶体管T3的栅极断开。比如：可以将第二节点b与侦测晶体管T3的漏极断开，将侦测线REF与侦测晶体管T3的源极断开。比如：可以将控制线S与侦测晶体管T3的栅极断开，将侦测线REF与侦测晶体管T3的源极断开。比如：可以将第二节点b与侦测晶体管T3的漏极断开，将控制线S与侦测晶体管T3的栅极断开，将侦测线REF与侦测晶体管T3的源极断开。

在一种实施方式中，请参阅图11，图11为图10所示的像素经过激光处理后的像素的结构示意图。如图11所示，像素中的电容C的两极板短路，第一节点a与驱动晶体管T1的栅极断开，第二节点b与驱动晶体管T1的漏极断开，第二节b点与侦测晶体管T3的漏极断开。

本申请实施例提供的显示面板的修补装置，通过对异常像素进行激光处理，使异常像素中的电容的两极板短路，且第一节点与驱动晶体管的栅极断开，和/或，第二节点与驱动晶体管的漏极断开，和/或，驱动晶体管的源极与第一电源断开，且第二节点与侦测晶体管的漏极断开，和/或，控制线与侦测晶体管的栅极断开，和/或，侦测线与所述侦测晶体管的源极断开，同时采用无源驱动的方式驱动激光处理后的异常像素，使得异常像素可以正常发光，从而可以降低修复工艺的难度，提供显示面板的显示品质。

本申请实施例还提供一种显示面板，其包括以上所述的显示面板的像素修复装置，具体可参照以上所述，在此不做赘述。

请参阅图12，图12为本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法的流程示意图。需要说明的是，本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法应用于以上所述的显示面板，显示面板具体可参照以上所述，在此不做赘述。

如图12所示，当本申请实施例提供的显示面板中的像素为图1所示的像素时，本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法包括以下步骤：

步骤S11、检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置。

步骤S12、根据异常像素的位置，将异常像素中的电容的两极板短路，并将所述第一节点与驱动晶体管的栅极断开，和/或，将第二节点与驱动晶体管的漏极断开，和/或，将驱动晶体管的源极与第一电源断开。

步骤S13、根据异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动异常像素。

请参阅图13，图13为本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法的另一流程示意图。需要说明的是，本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法应用于以上所述的显示面板，显示面板具体可参照以上所述，在此不做赘述。

如图12所示，当本申请实施例提供的显示面板中的像素为图10所示的像素时，本申请实施例提供的显示面板的像素修复方法包括以下步骤：

步骤S21、检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置。

步骤S22、根据异常像素的位置，将异常像素中的电容的两极板短路，并将所述第一节点与驱动晶体管的栅极断开，和/或，将第二节点与驱动晶体管的漏极断开，和/或，将驱动晶体管的源极与第一电源断开，将所述第二节点与所述侦测晶体管的漏极断开，和/或，将所述控制线与所述侦测晶体管的栅极断开，和/或，将所述侦测线与所述侦测晶体管的源极断开。

步骤S23、根据异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动异常像素。

以上对本申请实施例所提供的显示面板及其像素修复装置和像素修复方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板的像素修复装置，其特征在于，所述显示面板包括多个像素，所述像素包括驱动晶体管、数据晶体管、电容以及发光元件，所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与第一电源电连接，所述驱动晶体管的漏极与第二节点电连接，所述数据晶体管的栅极与扫描线电连接，所述数据晶体管的源极与数据线电连接，所述数据晶体管的漏极与所述第一节点电连接，所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所述电容的第二端与所述第二节点电连接，所述发光元件的阳极与所述第二节点电连接，所述发光元件的阴极与第二电源电连接，所述像素修复装置包括：

检测及定位单元，所述检测及定位单元用于检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置；

激光处理单元，所述激光处理单元用于根据所述异常像素的位置，将所述异常像素中的电容的两极板短路，并将所述第一节点与所述驱动晶体管的栅极断开，和/或，将所述第二节点与所述驱动晶体管的漏极断开，和/或，将所述驱动晶体管的源极与所述第一电源断开；以及

无源驱动单元，所述无源驱动单元用于根据所述异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动经过所述激光处理单元处理后的异常像素。

2.根据权利要求1所述的显示面板的像素修复装置，其特征在于，所述像素还包括侦测晶体管，所述侦测晶体管的栅极与控制线电连接，所述侦测晶体管的源极与侦测线电连接，所述侦测晶体管的漏极与所述第二节点电连接；

所述激光处理单元还用于根据所述异常像素的位置，将所述第二节点与所述侦测晶体管的漏极断开，和/或，将所述控制线与所述侦测晶体管的栅极断开，和/或，将所述侦测线与所述侦测晶体管的源极断开。

3.根据权利要求1所述的显示面板的像素修复装置，其特征在于，所述异常像素的位置包括所述异常像素的坐标参数；所述显示面板的像素修复装置还包括第一存储单元，所述第一存储单元用于存储所述异常像素的坐标参数。

4.根据权利要求1所述的显示面板的像素修复装置，其特征在于，所述显示面板的像素修复装置还包括第二存储单元，所述第二存储单元用于存储灰阶等级与伽马电压的对应关系。

5.根据权利要求4所述的显示面板的像素修复装置，其特征在于，所述无源驱动单元具体用于根据所述异常像素的位置，调用灰阶等级与伽马电压的对应关系，通过所述数据线供应相应的伽马电压。

6.根据权利要求1所述的显示面板的像素修复装置，其特征在于，所述发光元件为有机发光二极管。

7.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-6任一项所述的显示面板的像素修复装置。

8.一种显示面板的像素修复方法，其特征在于，所述显示面板包括多个像素，所述像素包括驱动晶体管、数据晶体管、电容以及发光元件，所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与第一电源电连接，所述驱动晶体管的漏极与第二节点电连接，所述数据晶体管的栅极与扫描线电连接，所述数据晶体管的源极与数据线电连接，所述数据晶体管的漏极与所述第一节点电连接，所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所述电容的第二端与所述第二节点电连接，所述发光元件的阳极与所述第二节点电连接，所述发光元件的阴极与第二电源电连接，所述像素修复方法包括以下步骤：

检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位，以获得异常像素的位置；

根据所述异常像素的位置，将所述异常像素中的电容的两极板短路，并将所述第一节点与所述驱动晶体管的栅极断开，和/或，将所述第二节点与所述驱动晶体管的漏极断开，和/或，将所述驱动晶体管的源极与所述第一电源断开；

根据所述异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动所述异常像素。

9.根据权利要求8所述的显示面板的像素修复方法，其特征在于，所述像素还包括侦测晶体管，所述侦测晶体管的栅极与控制线电连接，所述侦测晶体管的源极与侦测线电连接，所述侦测晶体管的漏极与所述第二节点电连接；

所述根据所述异常像素的位置，采用无源驱动的方式驱动所述异常像素的步骤，包括：

根据所述异常像素的位置，将所述第二节点与所述侦测晶体管的漏极断开，和/或，将所述控制线与所述侦测晶体管的栅极断开，和/或，将所述侦测线与所述侦测晶体管的源极断开。

10.根据权利要求8所述的显示面板的像素的修复方法，其特征在于，所述发光元件为有机发光二极管。

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