JP5690333B2 - 有機el表示装置の検査方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 65
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 82
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 57
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 50
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 26
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 16
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 16
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 7
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 3
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 3
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 2
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
- G09G3/3233—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/50—Forming devices by joining two substrates together, e.g. lamination techniques
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2310/00—Command of the display device
- G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
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Description
また、本発明の一態様に係る有機EL表示装置の検査方法は、有機EL素子を有する複数の発光画素を備えた有機EL表示装置の検査方法であって、前記複数の発光画素に対し、逆バイアス電圧を印加した状態で、所定の時間、前記発光画素を撮像する第1のステップと、前記第1のステップにおいて、閾値強度以上のリーク発光をした発光点を特定する第2のステップと、前記第1のステップ及び前記第2のステップを複数回繰り返した後、前記複数回の第2のステップのうちの2回以上のステップで同一の前記発光点が特定された場合に、当該発光点を含む発光画素を欠陥画素と判定する第3のステップとを含み、前記閾値強度を、前記第1のステップにおいて前記複数の発光画素全体からの同時発光を撮像することにより得られた、前記複数の発光画素の平均輝度に基づいて決定し、前記複数回の前記第1のステップのうちの最初の第1のステップの開始から、最後の第1のステップの終了まで、前記逆バイアス電圧の電圧値を変化させないことを特徴とする。
本実施の形態における有機EL表示装置の検査方法は、複数の発光画素に対し、逆バイアス電圧を印加した状態で、所定の時間、前記発光画素を撮像する第1のステップと、第1のステップにおいて、閾値強度以上のリーク発光をした発光点を特定する第2のステップと、第1のステップ及び第2のステップを複数回繰り返した後、2回以上の第2のステップで同一の発光点が特定された場合に、当該発光点を含む発光画素を欠陥画素と判定する第3のステップとを含むものである。これにより、欠陥画素の流出を防ぐことができ、高い信頼性の有機EL表示装置を製造することが可能となる。
11 制御部
12 表示部
13 データ線駆動回路
14 走査線駆動回路
15 発光画素
16、46 有機EL素子
17 駆動トランジスタ
18 選択トランジスタ
19 コンデンサ
20 制御装置
21 モニタ
22 ソースメータ
23 XYステージコントローラ
24 XYステージ
25 CCDカメラ
47 短絡成分
100 基板
101 駆動回路層
102 発光層
110 透明封止膜
131 データ線
141 走査線
151 正電源線
152 負電源線
161 陽極
162 正孔注入層
163 正孔輸送層
164 有機発光層
165 バンク層
166 電子注入層
167 透明陰極
Claims (7)
- 有機EL素子を有する複数の発光画素を備えた有機EL表示装置の検査方法であって、
前記複数の発光画素に対し、逆バイアス電圧を印加した状態で、所定の時間、前記発光画素を撮像する第1のステップと、
前記第1のステップにおいて、閾値強度以上のリーク発光をした発光点を特定する第2のステップと、
前記第1のステップ及び前記第2のステップを複数回繰り返した後、前記複数回の第2のステップのうちの2回以上のステップで同一の前記発光点が特定された場合に、当該発光点を含む発光画素を欠陥画素と判定する第3のステップとを含み、
前記閾値強度を、前記第1のステップにおいて前記複数の発光画素全体からの同時発光を撮像することにより得られた、前記複数の発光画素の平均輝度に基づいて決定し、
前記第1のステップにおいては、前記発光画素を撮像する前記所定の時間は5〜60秒であり、前記逆バイアス電圧の印加と前記発光画素の撮像とを同期させて行う
有機EL表示装置の検査方法。 - 有機EL素子を有する複数の発光画素を備えた有機EL表示装置の検査方法であって、
前記複数の発光画素に対し、逆バイアス電圧を印加した状態で、所定の時間、前記発光画素を撮像する第1のステップと、
前記第1のステップにおいて、閾値強度以上のリーク発光をした発光点を特定する第2のステップと、
前記第1のステップ及び前記第2のステップを複数回繰り返した後、前記複数回の第2のステップのうちの2回以上のステップで同一の前記発光点が特定された場合に、当該発光点を含む発光画素を欠陥画素と判定する第3のステップとを含み、
前記閾値強度を、前記第1のステップにおいて前記複数の発光画素全体からの同時発光を撮像することにより得られた、前記複数の発光画素の平均輝度に基づいて決定し、
前記複数回の前記第1のステップのうちの最初の第1のステップの開始から、最後の第1のステップの終了まで、前記逆バイアス電圧の電圧値を変化させない
有機EL表示装置の検査方法。 - 前記第1のステップの、前記発光画素を撮像する前記所定の時間においては、
前記逆バイアス電圧の電圧値を一定にする
請求項1に記載の有機EL表示装置の検査方法。 - 前記第1のステップ及び第2のステップを、それぞれ3〜10回繰り返す
請求項1〜3のうちいずれか1項に記載の有機EL表示装置の検査方法。 - 前記第1のステップでは、冷却型CCDカメラにより撮像し、
前記第2のステップでは、前記第1のステップにおける撮像により得られた画像に基づいてリーク発光した発光点を特定する
請求項1〜4のうちいずれか1項に記載の有機EL表示装置の検査方法。 - 前記複数回の第2のステップのうちの2回以上のステップで同一の前記発光点が特定され、前記複数回の第2のステップのうちの最後のステップにおいて前記発光点が特定されなかった場合に、
前記第3のステップにおいては、当該発光点を含む発光画素を欠陥画素と判定する
請求項1〜5のうちいずれか1項に記載の有機EL表示装置の検査方法。 - 前記第1のステップでは、前記複数の発光画素全体からの同時発光を撮像することにより前記複数の発光画素についての平均輝度をノイズ平均値として算出し、
前記第2のステップでは、前記複数の発光画素、または、前記複数の画素の一部から発光される光を撮像して得られた画像から、前記ノイズ平均値に予め定められたオフセット値が加算された値である前記閾値強度以上の発光をした発光点を、リーク発光した発光点と特定する
請求項1〜6のうちいずれか1項に記載の有機EL表示装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012512661A JP5690333B2 (ja) | 2010-04-27 | 2011-04-22 | 有機el表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010102415 | 2010-04-27 | ||
JP2010102415 | 2010-04-27 | ||
JP2012512661A JP5690333B2 (ja) | 2010-04-27 | 2011-04-22 | 有機el表示装置の検査方法 |
PCT/JP2011/002396 WO2011135823A1 (ja) | 2010-04-27 | 2011-04-22 | 有機el表示装置の検査方法及び製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2011135823A1 JPWO2011135823A1 (ja) | 2013-07-18 |
JP5690333B2 true JP5690333B2 (ja) | 2015-03-25 |
Family
ID=44861146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012512661A Active JP5690333B2 (ja) | 2010-04-27 | 2011-04-22 | 有機el表示装置の検査方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8687874B2 (ja) |
JP (1) | JP5690333B2 (ja) |
WO (1) | WO2011135823A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012073288A1 (ja) | 2010-12-01 | 2012-06-07 | パナソニック株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス素子 |
WO2013186961A1 (ja) * | 2012-06-14 | 2013-12-19 | パナソニック株式会社 | 欠陥検出方法、有機el素子のリペア方法、および有機el表示パネル |
JP6167338B2 (ja) * | 2013-10-15 | 2017-07-26 | 株式会社Joled | 有機el表示装置の製造方法および検査装置 |
JP6287570B2 (ja) * | 2014-05-19 | 2018-03-07 | コニカミノルタ株式会社 | 光デバイス検査装置および光デバイス検査方法 |
US10269275B2 (en) | 2014-06-13 | 2019-04-23 | Joled Inc. | Display panel inspecting method and display panel fabricating method |
WO2019241440A1 (en) | 2018-06-13 | 2019-12-19 | Ming Yang | Light leakage detection in edge sealants of optical devices |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6909111B2 (en) | 2000-12-28 | 2005-06-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing a light emitting device and thin film forming apparatus |
JP2002260857A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-09-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置の作製方法および薄膜形成装置 |
US7474115B1 (en) * | 2004-12-28 | 2009-01-06 | Dupont Displays, Inc. | Organic electronic device display defect detection |
JP2008021441A (ja) * | 2006-07-11 | 2008-01-31 | Aitesu:Kk | 検査装置と検査方法 |
JP2009266687A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Panasonic Corp | 表示パネルの検査方法及びその装置 |
JP5141368B2 (ja) * | 2008-05-15 | 2013-02-13 | パナソニック株式会社 | 有機el素子検査リペア方法 |
JP5228649B2 (ja) | 2008-06-27 | 2013-07-03 | パナソニック株式会社 | 有機elパネル製造方法および製造装置 |
KR101720077B1 (ko) | 2009-07-28 | 2017-03-27 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 장치의 검사 방법 및 제조 방법 |
CN102656624B (zh) | 2010-10-28 | 2014-11-26 | 松下电器产业株式会社 | 有源矩阵基板的检查方法 |
-
2011
- 2011-04-22 WO PCT/JP2011/002396 patent/WO2011135823A1/ja active Application Filing
- 2011-04-22 JP JP2012512661A patent/JP5690333B2/ja active Active
-
2012
- 2012-10-24 US US13/659,084 patent/US8687874B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130044937A1 (en) | 2013-02-21 |
JPWO2011135823A1 (ja) | 2013-07-18 |
US8687874B2 (en) | 2014-04-01 |
WO2011135823A1 (ja) | 2011-11-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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