JP2007042498A - 有機elレーザリペア方法及びレーザリペア装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 66
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000008439 repair process Effects 0.000 claims description 79
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 29
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 24
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 24
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 5
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 139
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 25
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】有機EL素子の電圧電流特性を計測し、該電圧電流特性を所定の基準電圧電流特性と比較することによりリーク電流の 有無を判断し、有機EL素子に発光閾値未満の電圧を印加してリーク発光像を取得し、リーク発光部分にレーザを照射してリペアし、有機EL素子に有機EL素子の発光閾値未満の電圧を印加してリーク発光像がないことと、電圧電流特性を計測してリーク電流が減少したことにより正しくリペアされたことを確認する。
【選択図】図1
Description
(a)前記有機EL素子に発光閾値未満の電圧(以下「閾値未満電圧」ともいう)を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の像(以下「閾値未満素子像」ともいう)を取得するステップと、
(b)前記ステップ(a)において取得した前記閾値未満素子像を観察して、 前記閾値未満素子像のなかに、発光している像(以下「リーク発光像」ともいう)を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、リーク発光像を発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(c)前記ステップ(b)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得し、前記閾値未満素子像の中には前記ステップ(b)において発見した前記リーク発光像をもはや発見できないことにより、リペアが正常に完了したと判断するステップと、を含むことを特徴とする。
(a)前記有機EL素子に発光閾値電圧(以下「発光電圧」ともいう)を印加して、前記発光電圧が印加されている状態の 前記有機EL素子の正常な発光像(以下「正常発光像」ともいう)を取得するステップと、
(b)前記有機EL素子に前記閾値未満電圧を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満素子像を取得するステップと、
(c)前記ステップ(a)において取得した前記正常発光像を参考にしながら 前記ステップ(b)において取得した前記閾値未満素子像を観察して、前記閾値未満像の中に前記リーク発光像を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置 情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(d)前記ステップ(c)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得し、前記閾値未満素子像の中には前記ステップ(c)において発見した前記リーク発光像をもはや発見できないことにより、リペアが正常に完了したと判断するステップと、を含むことを特徴とする。
(a)前記有機EL素子の電圧電流特性を取得し、該電圧電流特性からリーク電流値を取得するステップと、
(b)前記有機EL素子に発光閾値未満の電圧を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得するステップと、
(c)前記ステップ(a)において取得した前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満像を観察して、前記閾値未満素子像の中に前記リーク発光像を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(d)前記ステップ(c)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満素子像を取得し、前記ステップ(c)において発見した前記リーク発光像の有無によりレーザの照射の効果を判断するステップと、
(e)前記ステップ(c)においてレーザが照射された前記有機EL素子の電圧電流特性を取得して、リーク電流値をも取得し、該リーク電流値が前記ステップ(a)において取得したリーク電流より減少していることによりステップ(c)におけるレーザの照射の効果を判断するステップと、を含むことを特徴とする。
(a)前記有機EL素子の電圧電流特性を取得し、該電圧電流特性からリーク電流値を取得するステップと、
(b)前記有機EL素子に前記発光電圧を印加して、前記発光電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記正常発光像を取得するステップと、
(c)前記有機EL素子に前記閾値未満電圧を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得するステップと、
(d)前記ステップ(c)において取得した前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満像を観察して、前記閾値未満素子像の中に前記リーク発光像を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(e)前記ステップ(d)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満素子像を取得して、観察し、前記ステップ(d)において発見した前記リーク発光像を発見した場合には、再度該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、再度、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には、次のステップに進むステップと、
(f)前記ステップ(d)または(e)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記発光電圧を印加して、前記発光電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記正常発光像を取得し、該正常発光像を前記ステップ(b)において取得した前記正常発光像と比較して、新たなリーク発光像を発見できない場合には、次のステップに進み、前記正常発光像に新たなリーク発光像が発見された場合にはステップ(c)にもどるステップと、
(g)前記ステップ(d)においてレーザが照射された前記有機EL素子の電圧電流特性を取得して、リーク電流値を取得し、該リーク電流値が前記ステップ(a)において取得したリーク電流より減少している場合には該方法を終了し、減少していない場合にはステップ(c)に戻るステップと、を含むことを特徴とする。
前記閾値未満電圧は0ボルト以上であり前記有機EL素子が正常な場合の発光電圧開始電圧以下であることを特徴とする。
前記閾値未満電圧は逆バイアスとなるものであり、電圧値は0ボルト以上であり前記有機EL素子の逆バイアスに対する所定の耐圧値以下であることを特徴とする。
リペア対象である前記有機EL素子を保持する手段(以下「有機EL素子保持手段」ともいう)と、
前記有機EL素子に電圧を印加する手段(以下「電圧印加手段」ともいう)と、
前記電圧を印加された前記有機EL素子を撮像する撮像手段(以下「撮像手段」ともいう)と、
前記撮像装置によって撮像された有機EL素子の像を表示している表示装置上の該像の1箇所をマウスでクリックすることにより該像の1箇所に対応する有機EL素子の1箇所の位置情報を把握する手段( 以下「クリック位置把握手段」ともいう)と、
前記有機EL素子にレーザを照射する手段(以下「レーザ照射手段」ともいう)と、を含むことを特徴とする。
リペア対象である前記有機EL素子を保持する前記有機EL素子保持手段と、
前記有機EL素子に電圧を印加する前記電圧印加手段と、
前記有機EL素子の電圧電流特性を計測する計測手段(以下「電圧電流特性計測手段」ともいう)と、
前記電圧を印加された前記有機EL素子を撮像する前記撮像手段と、
前記撮像装置によって撮像された有機EL素子の像を表示している表示装置上の該像の1箇所をマウスでクリックすることにより該像の1箇所に対応する有機EL素子の1箇所の位置情報を把握するクリック位置把握手段と、
前記有機EL素子にレーザを照射するレーザ照射手段と、を含むことを特徴とする。
リペア対象である前記有機EL素子を保持する前記有機EL素子保持手段と、
前記有機EL素子に電圧を印加する前記電圧印加手段と、
前記電圧を印加された前記有機EL素子を撮像する前記撮像手段と、
前記撮像装置によって撮像された有機EL素子の像を表示している表示装置上の該像の1箇所をマウスでクリックすることにより該像の1箇所に対応する有機EL素子の1箇所の位置情報を把握するクリック位置把握手段と、
前記有機EL素子にレーザを照射するレーザ照射手段と、を具備し、
前記レーザ照射手段は、前記撮像手段が撮像した閾値未満素子像のなかに前記リーク発光像を発見したときに、前記クリック位置把握手段が把握した、前記リーク発光像の有機EL素子における位置情報に基づいて、前記リーク 発光像に該当する前記有機EL素子のリーク発光箇所にレーザを照射できるように構成されていることを特徴とする。
前記閾値未満電圧は0ボルト以上であり前記有機EL素子が正常な場合の発光電圧開始電圧以下であることを特徴とする。
前記閾値未満電圧は逆バイアスとなるものであり、電圧は0以上であり、前記有機EL素子の逆バイアスに対する所定の耐圧以下であることを特徴とする。
図1は本発明の実施の形態1に係る検査装置の構成を示すブロック図である。
本発明の実施の形態1に係る検査装置は制御用コンピュータ101、表示装置102、保持部110、プローブ部107、ソースメータ103、撮像部105、レーザ照射部111及びレーザ調整部112を含む。制御用コン ピュータ101は表示装置102、保持部110、プローブ部107、ソースメータ103及び撮像部105を制御する。リペア対象の有機EL素子109は、保持部110にセットされ、プローブ部107を通じてソースメータ103に電気的に接続される。ソースメータ103は制御用コンピュータ101の制御によって指示された電圧を有機EL素子109にプローブ部107を通じて印加する。また、ソースメータ103は、制御用コンピュータ101の制御によって有機EL素子109の電圧電流特性を計測し、該計測したデータを制御用コンピュータ101に送信する。撮像部105は顕微鏡108及び高感度CCDカメラ106を含み、制御用コンピュータ101の指示により所定の条件で、有機EL素子109を撮像し、撮像データを制御用コンピュータ101に送る。表示装置102は制御用コンピュータ101の指示により、撮像部105が撮像した像を画面に表示する。保持部110はXYテーブルを有しており、制御用コンピュータ101の制御によってX方向及びY方向に独立して移動する。
レーザ照射部111は保持部に保持された有機EL素子109にレーザを照射する。レーザビームが照射される位置は固定されているが、保持部110がXY方向に独立して移動するので、有機EL素子の任意の位置にレーザビームを照射することができる。
(実施の形態1の効果)
本発明の実施の形態1に係る検査装置を使用することにより、有機EL素子が有する欠陥部を発見できるとともに、欠陥部の位置を精確に把握でき、発見した場合には、有機EL素子を保持部110にセットし直すことなく、レーザを欠陥部に照射することができる。従来は、欠陥部を発見する検査機はレーザ照射装置とは異なる装置であり、有機EL素子をレーザ照射装置にセットし直し、また欠陥部の位置調整も別途行う必要があり、リペア作業の効率が悪かった。本発明の実施の形態1に係る検査装置によれは、欠陥部の発見とレーザ照射によるリペアが同じ装置で、かつ連続的に行うことができるので、有機EL素子のセットのし直しや、位置調整の必要が無く、リペア作業の効率を飛躍的に向上させることができる。また、 従来のレーザ照射装置でリペアした場合には、リペアした後で正しくリペアできたか否かを確認するためには、再度検査装置にセットし直し、位置調整をして検査しなければならかかった。これに対して、本発明の実施の形態1に係る検査装置による場合には、レーザ照射をした後、そのままの状態で、直ちに、リペアの効果を確認できる。この点からも、本発明の実施の形態1に係る検査装置によれば、リペア作業の効率を飛躍的に向上させることができるとともに、リペアの効果を直ちに確認し、不十分な場合には、すぐにやり直すこと等により、リペアミス等を減少させることができ、有機EL素子の品質を向上させることにもつながる。
(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2に係るリペア方法について説明する。
以下図4と図1を参照しながら説明する。まず、最初に、リペアの対象である有機EL素子を保持部110にセットして、ソースメータ103により、有機EL素子109の電圧電流特性を取得して、該電圧電流特性を正常な有機EL素子の電圧電流特性に基づいて特定した基準電圧電流特性と比較して、リペアの対象である有機EL素子に所謂リーク電流が流れているか否かを判断して、リーク電流値を取得する(S401)。ここで、リーク電流が存在する場合にはリペアの 対象である有機EL素子は何らかの欠陥部を有している可能性が高いと考える。
(実施の形態2の効果)
本発明の実施の形態2に係るリペア方法によれば、欠陥部の発見と、レーザ照射によるリペアと、レーザ照射の効果の確認とを連続して行うことが可能である。そのために、リペアの効率は飛躍的に向上すると共に、 連続して行うことができない場合には見逃してしまうような欠陥部を発見でき、従来のレーザリペア方法に比較して、リペアコストの大幅な低減とともに、有機EL素子の品質をも向上させることが期待できる。また、従来のレーザリペアでは、欠陥部の位置・大きさと精確に把握できないためにリペアにより画素全体を黒点化するような場合が通常であったが、本発明の実施の形態2に係るリペア方法によれば欠陥部の位置・大きさと精確に把握でき、欠陥部だけを局所的に黒点化して、欠陥部が存在しているときには正常発光をしなかった部分をリペアにより再度発光させることができる。
102 表示装置
103 ソースメータ
105 撮像部
106 高感度CCDカメラ
107 プローブ部
108 顕微鏡
109 有機EL素子
110 保持部
111 レーザ照射部
112 レーザ調整部
201 リーク発光像
202 黒点
301 欠陥部にレーザを照射する前の有機EL素子の電圧電流特性を示すグラフ
302 欠陥部にレーザを照射した後の有機EL素子の電圧電流特性を示すグラフ
Claims (11)
- 有機EL素子の欠陥部を発見して、欠陥部にレーザを照射してリペアを行うリペア方法であって、
(a)前記有機EL素子に発光閾値未満の電圧(以下「閾値未満電圧」ともいう)を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の像(以下「閾値未満素子像」ともいう)を取得するステップと、
(b)前記ステップ(a)において取得した前記閾値未満素子像を観察して、 前記閾値未満素子像のなかに、発光している像(以下「リーク発光像」ともいう)を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、リーク発光像を発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(c)前記ステップ(b)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得し、前記閾値未満素子像の中には前記ステップ(b)において発見した前記リーク発光像をもはや発見できないことにより、リペアが正常に完了したと判断するステップと、を含むことを特徴とするリペア方法。 - 有機EL素子の欠陥部を発見して、欠陥部にレーザを照射してリペアを行うリペア方法であって、
(a)前記有機EL素子に発光閾値電圧(以下「発光電圧」ともいう)を印加して、前記発光電圧が印加されている状態の 前記有機EL素子の正常な発光像(以下「正常発光像」ともいう)を取得するステップと、
(b)前記有機EL素子に前記閾値未満電圧を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満素子像を取得するステップと、
(c)前記ステップ(a)において取得した前記正常発光像を参考にしながら 前記ステップ(b)において取得した前記閾値未満素子像を観察して、前記閾値未満像の中に前記リーク発光像を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置 情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(d)前記ステップ(c)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得し、前記閾値未満素子像の中には前記ステップ(c)において発見した前記リーク発光像をもはや発見できないことにより、リペアが正常に完了したと判断するステップと、を含むことを特徴とするリペア方法。 - 有機EL素子の欠陥部を発見して、欠陥部にレーザを照射してリペアを行うリペア方法であって、
(a)前記有機EL素子の電圧電流特性を取得し、該電圧電流特性からリーク電流値を取得するステップと、
(b)前記有機EL素子に発光閾値未満の電圧を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得するステップと、
(c)前記ステップ(a)において取得した前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満像を観察して、前記閾値未満素子像の中に前記リーク発光像を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(d)前記ステップ(c)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満素子像を取得し、前記ステップ(c)において発見した前記リーク発光像の有無によりレーザの照射の効果を判断するステップと、
(e)前記ステップ(c)においてレーザが照射された前記有機EL素子の電圧電流特性を取得して、リーク電流値をも取得し、該リーク電流値が前記ステップ(a)において取得したリーク電流より減少していることによりステップ(c)におけるレーザの照射の効果を判断するステップと、を含むことを特徴とするリペア方法。 - 有機EL素子の欠陥部を発見して、欠陥部にレーザを照射してリペアを行うリペア方法であって、
(a)前記有機EL素子の電圧電流特性を取得し、該電圧電流特性からリーク電流値を取得するステップと、
(b)前記有機EL素子に前記発光電圧を印加して、前記発光電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記正常発光像を取得するステップと、
(c)前記有機EL素子に前記閾値未満電圧を印加して、前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記閾値未満素子像を取得するステップと、
(d)前記ステップ(c)において取得した前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満像を観察して、前記閾値未満素子像の中に前記リーク発光像を発見した場合には、発見したリーク像を表示している表示装置上の該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には当該方法を終了するステップと、
(e)前記ステップ(d)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記閾値未満電圧を印加して前記閾値未満電圧が印加されている状態の前記閾値未満素子像を取得して、観察し、前記ステップ(d)において発見した前記リーク発光像を発見した場合には、再度該発見したリーク発光像をマウスでクリックすることにより該発見したリーク発光像に対応する有機EL素子の該リーク発光している箇所の位置情報を把握し、該位置情報に基づいて、再度、該リーク発光像に対応する前記有機EL素子の発光箇所にレーザを照射し、発見できない場合には、次のステップに進むステップと、
(f)前記ステップ(d)または(e)においてレーザが照射された前記有機EL素子に、 再度前記発光電圧を印加して、前記発光電圧が印加されている状態の前記有機EL素子の前記正常発光像を取得し、該正常発光像を前記ステップ(b)において取得した前記正常発光像と比較して、新たなリーク発光像を発見できない場合には、次のステップに進み、前記正常発光像に新たなリーク発光像が発見された場合にはステップ(c)にもどるステップと、
(g)前記ステップ(d)においてレーザが照射された前記有機EL素子の電圧電流特性を取得して、リーク電流値を取得し、該リーク電流値が前記ステップ(a)において取得したリーク電流より減少している場合には該方法を終了し、減少していない場合にはステップ(c)に戻るステップと、を含むことを特徴とするリペア方法。 - 前記閾値未満電圧は0ボルト以上であり前記有機EL素子が正常な場合の発光電圧開始電圧以下であることを特徴とする請求項1乃至4に記載のリペア方法。
- 前記閾値未満電圧は逆バイアスとなるものであり、電圧値は0ボルト以上であり前記有機EL素子の逆バイアスに対する所定の耐圧値以下であることを特徴とする請求項1乃至4に記載のリペア方法。
- 有機EL素子のリペアを行うリペア装置であって、
リペア対象である前記有機EL素子を保持する手段(以下「有機EL素子保持手段」ともいう)と、
前記有機EL素子に電圧を印加する手段(以下「電圧印加手段」ともいう)と、
前記電圧を印加された前記有機EL素子を撮像する撮像手段(以下「撮像手段」ともいう)と、
前記撮像装置によって撮像された有機EL素子の像を表示している表示装置上の該像の1箇所をマウスでクリックすることにより該像の1箇所に対応する有機EL素子の1箇所の位置情報を把握する手段( 以下「クリック位置把握手段」ともいう)と、
前記有機EL素子にレーザを照射する手段(以下「レーザ照射手段」ともいう)と、を含むことを特徴とするリペア装置。 - 有機EL素子のリペアを行うリペア装置であって、
リペア対象である前記有機EL素子を保持する前記有機EL素子保持手段と、
前記有機EL素子に電圧を印加する前記電圧印加手段と、
前記有機EL素子の電圧電流特性を計測する計測手段(以下「電圧電流特性計測手段」ともいう)と、
前記電圧を印加された前記有機EL素子を撮像する前記撮像手段と、
前記撮像装置によって撮像された有機EL素子の像を表示している表示装置上の該像の1箇所をマウスでクリックすることにより該像の1箇所に対応する有機EL素子の1箇所の位置情報を把握するクリック位置把握手段と、
前記有機EL素子にレーザを照射するレーザ照射手段と、を含むことを特徴とするリペア装置。 - 有機EL素子のリペアを行うリペア装置であって、
リペア対象である前記有機EL素子を保持する前記有機EL素子保持手段と、
前記有機EL素子に電圧を印加する前記電圧印加手段と、
前記電圧を印加された前記有機EL素子を撮像する前記撮像手段と、
前記撮像装置によって撮像された有機EL素子の像を表示している表示装置上の該像の1箇所をマウスでクリックすることにより該像の1箇所に対応する有機EL素子の1箇所の位置情報を把握するクリック位置把握手段と、
前記有機EL素子にレーザを照射するレーザ照射手段と、を具備し、
前記レーザ照射手段は、前記撮像手段が撮像した閾値未満素子像のなかに前記リーク発光像を発見したときに、前記クリック位置把握手段が把握した、前記リーク発光像の有機EL素子における位置情報に基づいて、前記リーク 発光像に該当する前記有機EL素子のリーク発光箇所にレーザを照射できるように構成されていることを特徴とするリペア装置。 - 前記閾値未満電圧は0ボルト以上であり前記有機EL素子が正常な場合の発光電圧開始電圧以下であることを特徴とする請求項7乃至9に記載のリペア装置。
- 前記閾値未満電圧は逆バイアスとなるものであり、電圧は0以上であり、前記有機EL素子の逆バイアスに対する所定の耐圧以下であることを特徴とする請求項7乃至9に記載のリペア装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005226604A JP2007042498A (ja) | 2005-08-04 | 2005-08-04 | 有機elレーザリペア方法及びレーザリペア装置 |
TW094134408A TW200708183A (en) | 2005-08-04 | 2005-09-30 | Repairing method of organic electroluminescence by laser and repairing device by laser |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005226604A JP2007042498A (ja) | 2005-08-04 | 2005-08-04 | 有機elレーザリペア方法及びレーザリペア装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007042498A true JP2007042498A (ja) | 2007-02-15 |
Family
ID=37700714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005226604A Pending JP2007042498A (ja) | 2005-08-04 | 2005-08-04 | 有機elレーザリペア方法及びレーザリペア装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007042498A (ja) |
CN (1) | CN1909752A (ja) |
TW (1) | TW200708183A (ja) |
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