JP2003017260A - 有機ｅｌ素子の検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】有機ＥＬ素子の整流特性の良否を短時間かつ容
易に判断することができる検査方法を提供することであ
る。 【解決手段】ストライプ状に配列され互いに交差する複
数の陽極１０と複数の陰極２０とを有し、複数の陽極１
０と複数の陰極２０とが交差する交差部分を単位有機Ｅ
Ｌ画素３０として構成しマトリクス駆動方式で駆動され
る有機ＥＬ素子１００を、複数の陽極１０を開放しかつ
複数の陰極２０を走査側駆動回路１３０に接続した状態
において、走査側駆動回路１３０が、接続された複数の
陰極２０の一つにアース電位を与え、他の陰極２０との
間に所定の検査電圧を印加して、アース電位を与えられ
た陰極２０に接続された単位有機ＥＬ画素３０の発光の
有無で検査する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、有機ＥＬ素子の検
査方法に関する。更に詳しくは、ストライプ状に配列さ
れ互いに交差する複数の陽極と複数の陰極とを有し、複
数の陽極と複数の陰極とが交差する公差部分が単位有機
ＥＬ画素として構成され単純マトリクス方式で駆動され
る有機ＥＬ表示素子の検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】有機ＥＬ素子は、陽極と、陰極と、陽極
と陰極との間に形成された有機ＥＬ発光層とを有してい
る。このような構成の有機ＥＬ素子においては、通常陽
極は透明電極となり、陰極は背面電極となっている。こ
の有機ＥＬ素子の陽極と陰極との間に電圧を印加する
と、陽極から注入された正孔と陰極から注入された電子
とが有機ＥＬ発光層において再結合して、注入された正
孔と電子との再結合によって生ずるエネルギーによって
有機発光層が発光するという発光現象が生ずる。

【０００３】現在開発され用いられている単純マトリク
ス方式で駆動する有機ＥＬ素子は、かかる構成を利用し
ており、互いに交差するストライプ状に配列された陽極
と陰極とを有し、これらの電極が交差する交差部分にお
いてこれらの電極の間に有機ＥＬ発光層を形成してい
る。従って複数の陽極と複数の陰極とが交差する公差部
分は、陽極と陰極とその間に形成された有機ＥＬ発光層
という有機ＥＬ素子の構造を有することになる。つまり
この陽極と陰極とが交差部分において１つの有機ＥＬ素
子の構造を有することになる。

【０００４】そしてストライプ状に配列された陽極と陰
極のうちから任意に陽極と陰極とを選択して電圧を印加
すると、電圧が印加された陽極と陰極とが交差する部分
に位置する有機ＥＬ発光層が発光する。つまり陽極と陰
極とが交差する公差部分が単位有機ＥＬ画素として構成
されることになる。

【０００５】従ってストライプ状に配列された陽極と陰
極のうちからそれぞれ１つずつ選択して電圧を印加する
と、選択された陽極と陰極との交差する公差部分が１つ
の単位有機ＥＬ画素として発光することになる。そして
選択される陰極と順次移動させると、発光する単位有機
ＥＬ画素は、選択される陰極の移動と共に、電圧が印加
された陽極上を順次移動することになる。従って電圧を
印加する陽極と陰極とを移動させることによって、発光
する単位有機ＥＬ画素を移動させて画像を表示すること
ができる。なお単純マトリクス駆動方式で駆動される有
機ＥＬ素子においても、通常陽極は透明電極として構成
され、陰極は背面電極として構成される。

【０００６】ここで通常の単純マトリクス駆動方式の有
機ＥＬ素子を図５に示し、また図６に有機ＥＬ素子にお
ける電流の流れ及び発光のあり方を示す。単純マトリク
ス駆動方式の有機ＥＬ素子１００は、図５に示すよう
に、通常は、ストライプ状に配列された複数の陽極１０
とストライプ状に配列された複数の陰極２０とが交差す
る交差部分を単位有機ＥＬ画素３０とする画像表示部
と、その表示部の外延に陽極引き出し線４０と陰極引き
出し線５０とを有している。図５に示す有機ＥＬ素子に
おいては、ストライプ状に配列された陽極１０は上下方
向に延びており、ストライプ状に配列された陰極２０は
水平方向に延びている。

【０００７】このように構成された有機ＥＬ素子１００
において、図６に示すように陽極１０ａと陰極２０ａと
を選択して電圧をかけると、陽極１０ａと陰極２０ａの
交点に位置する○を付した単位有機ＥＬ画素３０ａが発
光することになる。この単位有機ＥＬ画素３０ａにおい
て陽極１０ａ側から陰極２０ａ側へ電流が流れるからで
ある。

【０００８】このような有機ＥＬ素子１００は、通常図
７に示すように、データ側駆動回路１１０及び走査側駆
動回路１３０によって駆動される。データ側駆動回路１
１０は通常陽極引き出し線４０と接続しているデータ側
接続回路１２０を介して、有機ＥＬ素子１００の複数の
陽極１０のうちから任意の陽極１０を選択して所定の電
流を流すように制御している。例えば選択された陽極１
０は２０Ｖとなっており、それ以外の陽極１０は０Ｖと
なっている。走査側駆動回路１３０も通常は陰極引き出
し線５０と接続している走査側接続回路１４０を介し
て、選択された一つの陰極２０を０Ｖの電位（アース電
位）とし、他の陰極２０を所定の電位例えば２０Ｖの電
位となるように制御している。なおデータ側駆動回路１
１０も走査側駆動回路１３０も共に図示しない電力源に
接続され、電力の供給を受けている。

【０００９】このようにすると図７において○で示すよ
うに、２０Ｖの電位の陽極１０と０Ｖの電位の陰極２０
との交点に位置する単位有機ＥＬ画素３０が発光するこ
とになる。即ち２０Ｖの電位の陽極１０からアース電位
（０Ｖの電位）の陰極２０へと電流が流れて、２０Ｖの
電位の陽極と０Ｖの電位の陰極の交点に位置する単位有
機ＥＬ画素３０が発光する。

【００１０】走査側駆動回路１３０によってアース電位
の陰極を順次移動すると、発光する単位有機ＥＬ画素３
０は、０Ｖの電位の陰極２０が移動すると共に移動する
ことになる。例えば図７において、２０Ｖの電位とした
陽極１０を移動させることなしに、走査側駆動回路１３
０によって０Ｖの電位の陰極２０を移動させると、発光
する単位有機ＥＬ画素３０は、２０Ｖの電位の陽極１０
に沿って上下方向に移動する。そして発光した単位有機
ＥＬ画素３０が残像となって明るい上下方向の輝線を観
察することができる。ここで０Ｖに選択された陰極２０
以外の陰極２０を２０Ｖの高い電位状態にしておくのは
確実に２０Ｖの電位の陽極１０から０Ｖの電位（アース
電位）の陰極２０のみに電流を流すためである。

【００１１】このように単位有機ＥＬ画素は、上述のよ
うに陽極側から陰極側に向けて電流が流れる場合に発光
する。そして逆に陰極側から陽極側へは電流が流れにく
いというダイオードのような整流特性を有している。し
かし有機ＥＬ素子の製造時に異物が内部に混入すること
によって、単位有機ＥＬ画素に欠陥が生じて整流特性が
低下することがある。単純マトリクス駆動方式で駆動す
る有機ＥＬ素子において、この整流特性が低下すると、
陰極から陽極へとリーク電流が流れるという事態が生ず
ることなり、初期の段階から輝度むら、非選択画素の発
光等の表示品質の不良が生じたり、また初期には表示上
の問題がない場合でも使用中の欠陥拡大により前述の表
示品質不良に至ってしまうことになる。そこで有機ＥＬ
素子については整流特性の検査が行われている。

【００１２】整流特性の検査としては、実際にリーク電
流を計測して、その値から有機ＥＬ素子の整流特性の良
否を判断するという電気的な検査を行う手法がある。例
えば特開平１０−３２１３６７号公報には、単純マトリ
クス駆動方式で駆動する有機ＥＬ素子の任意の２つの走
査電極即ち陰極或いはデータ電極即ち陽極の間に電圧を
印加して、電圧が印加された２つの電極間を流れるリー
ク電流値を検出するという手法が開示されている。

【００１３】この特開平１０−３２１３６７号公報にお
いて開示された手法においては、任意の２つの陽極ある
いは２つの陰極に電圧を印加してその２つの電極間を流
れる電流値を検出する必要があるために、電流を検出す
る検出器に接続された切換装置に陽極或いは陰極の全て
を接続しておく必要がある。即ち切換装置に接続された
全ての陽極或いは陰極のうちから電気的に２つを選択
し、順次選択される２つの電極を切り替えて、電流値を
検出することになる。従ってこのような切換装置、電流
値を検出する検出器、電圧を印加するための電流発生装
置等が必要となるために、それだけ設備が大きくなり、
コストも増大することになる。

【００１４】また任意の陽極或いは陰極間のリーク電流
を順番に測定するために、同時測定ができず、そのため
に測定に時間がかかることになる。特に単位有機ＥＬ画
素の数即ちストライプ状に配列された陽極及び陰極の数
が増大すると、それだけ測定する回数が増大してそれだ
け測定時間が増大することになる。

【００１５】そこで本発明は上記事情を鑑みてなされた
ものであり、本発明の目的とするところは、有機ＥＬ素
子の整流特性の良否を短時間かつ容易に判断することが
できる検査方法を提供することにある。

【００１６】

【発明を解決するための手段】本発明者は、鋭意研究の
結果、ストライプ状に配列され互いに交差する複数の陽
極と複数の陰極とを有し、該複数の陽極と該複数の陰極
とが交差する交差部分を単位有機ＥＬ画素として構成し
マトリクス駆動方式で駆動される有機ＥＬ素子の検査方
法であって、前記複数の陽極を開放しかつ前記複数の陰
極を走査側駆動回路に接続した状態において、該走査側
駆動回路が、接続された前記複数の陰極の一つにアース
電位を与え、他の陰極との間に所定の検査電圧を印加し
て、該アース電位を与えられた該陰極に接続された前記
単位有機ＥＬ画素の発光の有無で検査することを特徴と
する有機ＥＬ素子の検査方法を発明した。

【００１７】上述したように、ストライプ状に配列され
互いに交差する複数の陽極と複数の陰極とを有し、複数
の陽極と複数の陰極とが交差する交差部分が単位有機Ｅ
Ｌ画素として構成されマトリクス駆動方式で駆動される
有機ＥＬ素子においては、陽極側から陰極側へと電流が
流れた単位有機ＥＬ画素が発光し、また単位有機ＥＬ画
素は陽極側から陰極側へのみ電流が流れるという整流特
性を有している。

【００１８】そこでマトリクス駆動方式の有機ＥＬ素子
において、その陽極を開放状態にして、その陰極を走査
側駆動回路に接続して複数の陰極のうちの一つにアース
電位を与えて他の陰極に適切な検査電圧を印加する。こ
こで全ての単位有機ＥＬ画素が正常な整流特性を有して
いると各単位有機ＥＬ画素において陰極側から陽極側へ
電流が流れることはない。従って陽極を流れる電流は存
在しないので単位有機ＥＬ画素は発光することはない。

【００１９】しかし単位有機ＥＬ画素のうちに整流特性
に欠陥がある単位有機ＥＬ画素がある場合において、欠
陥がある単位有機ＥＬ画素が接続された陰極に検査電圧
が印加され、他の陰極にアース電位が与えられると、整
流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素において陰極側か
ら陽極側へとリーク電流が流れることになる。そして単
位有機ＥＬ画素の陽極側に流れたリーク電流はその単位
有機ＥＬ素子が接続された陽極を流れて、アース電位が
与えられた陰極に接続された単位有機ＥＬ画素において
陽極側から陰極側へとそのリーク電流が流れることにな
る。このようにアース電位が与えられた陰極に接続され
た単位有機ＥＬ画素の陽極側から陰極側へとリーク電流
が流れるとその単位有機ＥＬ画素は発光することにな
る。

【００２０】従ってアース電位が与えられた陰極に接続
された単位有機ＥＬ画素の発光の有無によって、有機Ｅ
Ｌ素子に整流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素が含ま
れているか否かを検査することができる。

【００２１】また発光した単位有機ＥＬ画素の輝度は、
整流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素からリークした
リーク電流の電流値の大きさに対応しているので、輝度
からリーク電流の電流値の大きさ、更には単位有機ＥＬ
画素の整流特性の欠陥の程度を判断することが可能とな
る。

【００２２】なおアース電位が与えられた陰極に整流特
性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素が接続されている場合
がありうる。この場合には他の陰極に接続された単位有
機ＥＬ画素にうちに整流特性に欠陥がある有機ＥＬ画素
がない限り、いずれの単位有機ＥＬ画素も発光しないこ
とになる。従ってアース電位が与えられる陰極を少なく
とも１回他の陰極へと移動させることによって、有機Ｅ
Ｌ素子を検査することができる。

【００２３】

【発明の実施の形態】本発明の有機ＥＬ素子の検査方法
の実施の形態を説明する。

【００２４】本発明の有機ＥＬ素子の検査方法は、検査
の対象となる有機ＥＬ素子の複数の陽極を開放しかつ複
数の陰極を走査側駆動回路に接続した状態において、走
査側駆動回路が、接続された複数の陰極の一つにアース
電位を与え、他の陰極との間に所定の検査電圧を印加し
て、アース電位を与えられた陰極に接続された単位有機
ＥＬ画素の発光の有無で検査する。

【００２５】ここで本発明の有機ＥＬ素子の検査方法で
検査される有機ＥＬ素子は、既に述べたようにストライ
プ状に配列され互いに交差する複数の陽極と複数の陰極
とを有し、複数の陽極と複数の陰極とが交差する交差部
分が単位有機ＥＬ画素として構成されマトリクス駆動方
式で駆動される有機ＥＬ素子である。そして有機ＥＬ素
子は、通常、その外延部に陽極引き出し線と陰極引き出
し線とを有しており、有機ＥＬ素子をマトリクス駆動方
式で駆動する場合には、通常陽極引き出し線にデータ側
駆動回路を接続し、陰極引き出し線に走査側駆動回路を
接続して行われる。

【００２６】本発明の有機ＥＬ素子の検査方法において
は、検査の対象となる有機ＥＬ素子の複数の陽極を開放
しかつ複数の陰極を走査側駆動回路に接続する。これ
は、通常のマトリクス駆動方式で駆動する場合とは異な
り、陽極引き出し線に何も接続せずに、開放した状態に
おいて、陰極引き出し線に走査側駆動回路を接続して実
行することができる。この場合マトリクス駆動方式にお
いて通常用いられる走査側駆動回路を用いて、複数の陰
極のうちの一つにアース電位を与え、他の陰極に電圧を
印加し、アース電位とする陰極を順次移動させることが
できる。例えば製品に組み付けられるＩＣチップを実装
した回路基板をそのままを用いることができる。

【００２７】なお走査側駆動回路と陰極引き出し線との
接続は、フレキシブルプリント回路基板（ＦＰＣ）等の
接続回路の機能を有する基板を用いて行うこともできる
し、予め接続回路が組み込まれた走査側駆動回路を用い
て行うことができる。

【００２８】本発明の検査方法においては、走査側駆動
回路が、接続された複数の陰極の一つにアース電位を与
え、他の陰極との間に所定の検査電圧を印加する。上述
したようにマトリクス駆動方式で用いられる通常の走査
側駆動回路を用いることによって、有機ＥＬ素子の複数
の陰極の一つにアース電位を与えて、他の陰極に検査電
圧を印加することができる。この場合検査電圧として
は、単位有機ＥＬ画素を発光させることができる電圧を
与えることができる。概ね５〜３０Ｖの電圧を与えるこ
とができる。なお走査駆動回路は電力源から電力の供給
をうけて陰極に電圧を印加することができる。

【００２９】このように有機ＥＬ素子の陰極の一つをア
ース電位とし、他の陰極に検査電圧を印加する場合、上
述したように、検査電圧が印加された陰極に接続された
単位有機ＥＬ画素のなかに整流特性に欠陥がある単位有
機ＥＬ画素が含まれていると、アース電位を与えられた
陰極に接続された単位有機ＥＬ画素が発光する。従って
このアース電位が与えられた陰極に接続された単位有機
ＥＬ画素の発光の有無を観察することによって、有機Ｅ
Ｌ素子の検査することができる。

【００３０】更に詳しく述べると、この場合に発光する
単位有機ＥＬ画素は、整流特性に欠陥がある単位有機Ｅ
Ｌ画素が接続された陽極と同一の陽極に接続されかつア
ース電位の陰極に接続された単位有機ＥＬ画素である。

【００３１】なお発光した単位有機ＥＬ画素の輝度の程
度は発光した単位有機ＥＬ画素を通過する電流の電流値
の大きさによって定まることから、整流特性に欠陥があ
る単位有機ＥＬ画素からリークした電流の電流値の大き
さが大きければそれだけ発光した単位有機ＥＬ画素の輝
度の大きさは大きくなる。従って発光した単位有機ＥＬ
画素の輝度の大きさを測定することによって、リーク電
流の電流値の大きさを知ることができ、電流値の大きさ
からリーク電流をリークする単位有機ＥＬ画素の整流特
性の欠陥の程度を認識することが可能となる。

【００３２】また整流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画
素が２以上あり、これらが同一の陽極に接続されていな
い場合には、アース電位が与えられた陰極に接続された
異なる単位有機ＥＬ画素が発光することになる。この場
合リーク電流の電流値が大きい欠陥のある単位有機ＥＬ
画素が接続されている陽極と同一の陽極に接続されてい
る単位有機ＥＬ画素の方がより明るく発光することにな
る。即ち輝度が大きいことになる。従って同一の陰極上
に発光する単位有機ＥＬ画素が２つ以上ある場合には、
より明るく発光する単位有機ＥＬ画素が接続されている
陽極と同一の陽極に接続された単位有機ＥＬ画素の方が
欠陥の程度が大きいと言うことができる。

【００３３】なお本発明の有機ＥＬ素子の検査方法にお
いては、走査側駆動回路を用いてアース電位が与えられ
る陰極を順次移動して走査することが好ましい。即ち上
述したように整流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素が
検査電圧が印加された陰極に接続された場合に、アース
電位となっている陰極に接続された単位有機ＥＬ画素が
発光する。従って走査側駆動回路によってアース電位が
与えられる陰極を高速で移動させると、アース電位が与
えられた陰極の移動と共に整流特性に欠陥がある単位有
機ＥＬ画素が接続された陽極に接続された単位有機ＥＬ
画素が順次発光しながら移動する。

【００３４】発光する単位有機ＥＬ画素がアース電位が
与えられた陰極と共に移動していくと、単位有機ＥＬ画
素の発光の残像によって、整流特性に欠陥がある単位有
機ＥＬ画素が接続されている陽極上に明るい輝線が形成
されることになる。それ故にこの明るい輝線が形成され
たか否かを観察することによって整流特性に欠陥がある
単位有機ＥＬ画素があるか否か検査することができる。
走査側駆動回路はアース電位となる陰極を高速で順次移
動させることができるので、本発明の有機ＥＬ素子の検
査方法においては、走査側駆動回路で陰極を走査して上
下方向の輝線の有無を観察することによって、整流特性
に欠陥がある単位有機ＥＬ画素が含まれているか否かを
検査することができる。

【００３５】このように高速でアース電位となる陰極を
順次移動させて、発光する輝線の有無を観察することに
よって一度で有機ＥＬ素子を検査することができる。

【００３６】なお輝線の輝度は発光した単位有機ＥＬ画
素の輝度によって決定されるので、整流特性に欠陥があ
る単位有機ＥＬ画素からリークしたリーク電流の電流値
の大きさが大きければそれだけ輝線の輝度が大きいこと
になる。従ってこの輝度の大きさを知ることによって、
リーク電流をリークする単位有機ＥＬ画素の整流特性の
欠陥の程度を認識することが可能となる。

【００３７】更に上述の単位有機ＥＬ画素の発光の有無
をカメラで記録して検査することも可能である。カメラ
で記録することによって発光の有無の程度を繰り返して
確認することができ、発光を見落としたりするという不
都合を防止することができる。有機ＥＬ素子の発光する
表示面が正面になるようにカメラを設定して撮影するこ
とができる。

【００３８】またカメラで記録した発光した単位有機Ｅ
Ｌ画素の輝度をコンピュータによって解析して定量値に
変換することも好ましい。このように輝度を定量値に変
換することによって、リーク電流の電流値の大きさを認
識することができ、単位有機ＥＬ画素の整流特性の欠陥
の程度を定量的に判断することができるようになる。

【００３９】なおコンピュータによる解析は、輝度情報
とリーク電流の電流値との関係を与えておくことによっ
て、コンピュータの通常の処理能力を用いて行うことが
できる。

【００４０】

【実施例】以下本発明の有機ＥＬ素子の検査方法の実施
例を図面を参照しつつ、具体的に説明する。

【００４１】（実施例１）本発明の有機ＥＬ素子の検査
方法の対象となる有機ＥＬ素子は、通常は、図１に示す
ように、有機ＥＬ素子１００は、その外延部に陽極引き
出し線４０と陰極引き出し線５０とを有している。なお
本実施例の有機ＥＬ素子１００においても、陽極１０は
上下方向にストライプ状に配列され、陰極２０は水平方
向にストライプ状に配列されている。

【００４２】そこで本発明の有機ＥＬ素子の検査方法に
おいては、図１に示すように陽極引き出し線４０には何
も接続せず開放状態とし、陰極引き出し線５０に走査側
駆動回路１３０を走査側接続回路１４０を介して接続す
る。そして走査側駆動回路１３０によって１つの陰極引
き出し線５０にアース電位を与え、それ以外の陰極引き
出し線５０に２０Ｖの電圧を印加する。このようにして
複数の陰極２０のうちの一つの陰極２０にアース電位を
与えて、他の陰極２０に２０Ｖの検査電圧を印加する。
なおここでは走査側接続回路１４０として、通常用いる
フレキシブルプリント回路基板（ＦＰＣ）を用いた。ま
た走査側駆動回路１３０ははやり通常用いられるＩＣチ
ップが実装されたプリント回路基板を用いた。

【００４３】この場合図１において×で示した位置に整
流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素Ａ、Ｂが存在する
と、○で示した位置にある単位有機ＥＬ画素Ｃ、Ｄが発
光することになる。発光した単位有機ＥＬ画素Ｃ及び単
位有機ＥＬ画素Ｄは、アース電位が与えられた陰極に接
続され、かつ整流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素Ａ
及び単位有機ＥＬ画素Ｂが接続されている陽極と同一の
陽極にそれぞれ接続されている。

【００４４】そして整流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ
画素Ａ、Ｂのうちで図１において左上に位置する単位有
機ＥＬ画素Ａの方が図１において右下に位置する単位有
機ＥＬ画素Ｂよりもリーク電流の電流値が大きいと、図
１において左側に位置する単位有機ＥＬ画素Ｃの方が、
図１において右側に位置する単位有機ＥＬ画素Ｄよりも
明るく発光する。即ち左側の単位有機ＥＬ画素Ｃの方が
右側の単位有機ＥＬ画素Ｄよりも輝度が高くなる。

【００４５】ここで図２において、整流特性に欠陥があ
る単位有機ＥＬ画素Ａから発光した単位有機ＥＬ画素Ｃ
への電流の流れを示す。×が付けられた位置にある単位
有機ＥＬ画素Ａが接続されている陰極２０を電流が流
れ、単位有機ＥＬ画素Ａにおいて電流が陰極２０側から
陽極１０側へと逆に流れる。即ち整流特性に欠陥がある
単位有機ＥＬ画素Ａにおいてリーク電流が発生する。そ
して単位有機ＥＬ画素Ａの陽極１０側へ流れたリーク電
流は単位有機ＥＬ画素Ａが接続されている陽極１０を流
れ、アース電位が与えられた陰極に接続された単位有機
ＥＬ画素Ｃにおいて陽極１０側から陰極２０側へとリー
ク電流が流れる。このとき単位有機ＥＬ画素Ｃは発光す
る。その後単位有機ＥＬ画素Ｃを流れたリーク電流はア
ース電位が与えられた陰極２０を走査駆動回路１３０に
向けて流れる。

【００４６】この場合発光した単位有機ＥＬ画素Ｃの輝
度は単位有機ＥＬ画素Ｃを流れるリーク電流の電流値の
大きさによって定まる。従って図１において左上の単位
有機ＥＬ画素Ａの方が単位有機ＥＬ画素Ｂよりの整流特
性により欠陥があり、リーク電流の電流値が大きければ
それだけ単位有機ＥＬ画素Ｃの方が単位有機ＥＬ画素Ｄ
より輝度が大きいことになる。

【００４７】このように有機ＥＬ素子１００の陰極引き
出し線３０に走査側駆動回路１３０を接続し、陰極２０
のうちの一つにアース電位を与え、他の陰極２０を２０
Ｖとした状態において、図３に示すように、アース電位
が与えられた陰極２０を走査側駆動回路１３０によって
順次高速で移動させる。

【００４８】このようにアース電位となる陰極２０を高
速で順次移動させ、他の陰極２０には２０Ｖの電圧を印
加すると、発光する単位有機ＥＬ画素３０はアース電位
となる陰極２０が移動すると共に移動する。このとき発
光する単位有機ＥＬ画素３０は、アース電位が与えられ
た陰極２０に接続されておりかつ単位有機ＥＬ画素ＡＢ
が接続された陽極１０と同一の陽極１０に接続された単
位有機ＥＬ画素３０である。

【００４９】従って発光する単位有機ＥＬ画素３０は、
アース電位が与えられた陰極２０の移動と共に、単位有
機ＥＬ画素Ａが接続された陽極１０上及び単位有機ＥＬ
画素Ｂが接続された陽極１０上を移動することになる。
そしてこれらの発光した単位有機ＥＬ画素３０の残像に
よって発光した上下方向の２本の輝線Ｅ、Ｆが単位有機
ＥＬ画素Ａが接続された陽極１０及び単位有機ＥＬ画素
Ｂが接続された陽極１０上に現れることになる。

【００５０】この場合単位有機ＥＬ画素Ａのリーク電流
の方が単位有機ＥＬ画素Ｂのリーク電流よりも電流値が
大きいので、図３において左側の輝線Ｅの方が右側の輝
線Ｆ線よりも輝度が大きくなる。

【００５１】検査を実行する人は、これらの輝線Ｅ、Ｆ
を肉眼で目視することによって、有機ＥＬ素子を検査す
ることができる。走査駆動回路を用いて、アース電位が
与えられる陰極を高速で順次移動させることによって、
短時間で全ての単位有機ＥＬ画素について判定すること
が可能となる。また走査駆動回路を用いてアース電位が
与えられる陰極を高速で順次移動させることによって現
れる上下方向の輝線の有無で整流特性の欠陥を判定する
ので、一度で有機ＥＬ素子を検査することができる。

【００５２】（実施例２）本発明の有機ＥＬ素子の検査
方法においては、実施例１のように肉眼で発光の有無を
観察し、また輝線の輝度の程度を観察して有機ＥＬ画素
の検査をすることができるが、単位有機ＥＬ画素の発光
の有無をカメラに記録して検査することもできる。

【００５３】即ち実施例２の有機ＥＬ素子の検査方法
は、本発明の検査の対象となる有機ＥＬ素子の複数の陽
極を開放しかつ複数の陰極を走査側駆動回路に接続した
状態において、走査側駆動回路が、接続された複数の陰
極の一つにアース電位を与え、他の陰極との間に所定の
検査電圧を印加して、アース電位を与えられた陰極に接
続された単位有機ＥＬ画素の発光の有無をカメラにより
記録して検査する有機ＥＬ素子の検査方法である。

【００５４】図４に本実施例の概略を示す。なお図中に
ついては、同種の要素について他の図の場合と同一の符
号を用いる。

【００５５】本実施例においては有機ＥＬ素子１００に
おいても、陰極引き出し線（図示しない）に走査側接続
回路１４０を介して走査側駆動回路１３０に接続されて
いる。そして走査側駆動回路１３０は電力源１５０に接
続されて、電力の供給を受けている。なお本実施例では
走査側接続回路１４０としてプローブピンを用いた。な
お走査側駆動回路１３０は実施例１と同様にＩＣチップ
を実装した回路基板を用いた。

【００５６】そして実施例１と同様に走査側駆動回路を
用いて有機ＥＬ素子１００によって１つの陰極引き出し
線（図示しない）をアース電位として、それ以外の陰極
引き出し線に２０Ｖの電圧を印加する。このようにして
一つの陰極（図示しない）をアース電位として、他の陰
極を２０Ｖとする。そして実施例１と同様に、アース電
位が与えられる陰極を走査側駆動回路１３０によって順
次高速で移動させる。

【００５７】その結果発光した単位有機ＥＬ画素の残像
によって発光した上下方向に４本の輝線Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊ
が現れている。なお本実施例では図４において左から２
番目の輝線Ｈの方が、一番左の輝線Ｇよりも輝度が大き
い。また左から３番目の輝線Ｉ及び左から４番目の輝線
Ｊの輝度は小さく、ほぼ同一である。

【００５８】このように有機ＥＬ素子に現れた４本の輝
線Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊをカメラ１６０で記録して、記録され
た画像データをコンピュータ１８０で処理した。コンピ
ュータ１８０で処理された画像データは、ディスプレイ
１７０上において入力画像１７１及び輝度情報１７２と
いう形態で表示される。

【００５９】入力画像１７１には、４本の輝線Ｇ、Ｈ、
Ｉ、Ｊの画像Ｇ’、Ｈ’、Ｉ’、Ｊ’が映し出される。
また輝度情報１７２には４本の輝線Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊの輝
度を解析して得た定量値が映し出される。定量値は輝度
の大きさを定量的に評価して表したものである。これら
の処理はコンピュータの通常の処理能力を用いて行うこ
とができる。この輝度情報１７２においては、最も明る
い輝線Ｈの定量値が最も大きくなっている。

【００６０】

【発明の効果】本発明の有機ＥＬ素子の検査方法は、検
査に用いる設備に製品に組み付けられる走査駆動回路を
用いて行うことができる。また走査駆動回路を用いてア
ース電位が与えられる陰極を順次移動させることによっ
て全単位有機ＥＬ画素を短時間に検査することができ
る。

【００６１】従って走査駆動回路の動作のみで検査でき
るので、検査するための回路の構成が簡単になり、従来
の方法に比べて、設備の構成を大幅に小型にでき、低コ
ストで行うことができる。

【００６２】単位有機ＥＬ画素の発光によって検査を行
うので、目視による簡易的な判定が可能となる。

【００６３】またカメラで発光の有無を記録することに
よって、発光の見落としを防止することができる。

【００６４】更にカメラで記録された単位有機ＥＬ画素
の発光の輝度をコンピュータを用いて解析することによ
って、単位有機ＥＬ画素の整流特性の欠陥の程度を認識
することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施例１の有機ＥＬ素子の検査方法の概略を
示す図である。

【図２】 整流特性に欠陥がある単位有機ＥＬ画素と発
光した単位有機ＥＬ画素と間の電流の流れを示した図で
ある。

【図３】 実施例１においてアース電位が与えられる陰
極を移動させた場合の概略を示す図である。

【図４】 実施例２の有機ＥＬ素子の検査方法の概略を
示す図である。

【図５】 単純マトリクス駆動方式の有機ＥＬ素子の概
略を示す図である。

【図６】 （Ａ）は、単純マトリクス駆動方式の有機Ｅ
Ｌ素子における発光する単位有機ＥＬ画素を模式的に示
した図であり、（Ｂ）は発光する単位有機ＥＬ画素にお
ける電流の流れを示す図である。

【図７】 単純マトリクス駆動方式で有機ＥＬ素子を駆
動させる概略を示した図である。

【符号の説明】

１０：陽極 ２０：陰極 ３０：単位有機ＥＬ画素 ４０：陽極引き出し線 ５０：陰極引き出し線 １００：有機ＥＬ素子 １１０：データ側駆動回路 １２０：データ側接続回路 １３０：走査側駆動回路 １４０：走査側接続回路 １５０：電力源 １６０：カメラ １７０：ディスプレイ １８０：コンピュータ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０５Ｂ 33/12 Ｈ０５Ｂ 33/12 Ｚ 33/14 33/14 Ａ Ｆターム(参考） 2G086 EE03 EE12 3K007 AB18 BA06 DA01 DB03 EB00 FA00 5C094 AA42 AA43 AA48 BA27 CA19 DB02 DB04 FA01 FB01 FB20 GB10 5G435 AA14 AA17 BB05 CC09 KK05 KK10

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ストライプ状に配列され互いに交差する
   複数の陽極と複数の陰極とを有し、該複数の陽極と該複
   数の陰極とが交差する交差部分が単位有機ＥＬ画素とし
   て構成されマトリクス駆動方式で駆動される有機ＥＬ素
   子の検査方法であって、 前記複数の陽極を開放しかつ前記複数の陰極を走査側駆
   動回路に接続した状態において、 該走査側駆動回路が、接続された前記複数の陰極の一つ
   にアース電位を与え、他の陰極との間に所定の検査電圧
   を印加して、該アース電位を与えられた該陰極に接続さ
   れた前記単位有機ＥＬ画素の発光の有無で検査すること
   を特徴とする有機ＥＬ素子の検査方法。
2. 【請求項２】 前記アース電位となる前記陰極を順次移
   動して走査する請求項１記載の有機ＥＬ素子の検査方
   法。
3. 【請求項３】 前記発光の有無をカメラにより記録する
   請求項１又は２記載の有機ＥＬ素子の検査方法。
4. 【請求項４】 前記発光の有無をカメラにより記録し、
   コンピュータによって発光した単位有機ＥＬ画素の輝度
   を定量値に変換する請求項３記載の有機ＥＬ素子の検査
   方法。