CN105679219B - Amoled显示面板检测方法及检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种AMOLED面板检测方法及检测装置，通过设置温度侦测模块(3)拍摄并记录AMOLED显示面板(2)各显示区域的温度，当该温度侦测模块(3)侦测到AMOLED显示面板(2)某一显示区域的温度超过设定的阈值温度时则说明该AMOLED显示面板(2)内存在短路及微短路的状况，从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板(2)，防止其流向后端的装配制程；进一步通过设置阻抗检测模块(4)来对被拦截的AMOLED显示面板(2)中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板(2)中出现短路及微短路的位置，以进行准确的修复，提高面板良率。

Description

AMOLED显示面板检测方法及检测装置
技术领域
本发明涉及有机发光二极管显示技术领域，尤其涉及一种AMOLED显示面板检测方法及检测装置。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示面板具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽，可实现柔性显示和大面积全彩显示等诸多优点，被业界公认为最有潜力的显示面板。
OLED显示面板按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED(Passive Matrix OLED，PMOLED)和有源矩阵型OLED(Active Matrix OLED，AMOLED)两大类，其中AMOLED显示面板具有呈阵列式排布的像素，每一像素由数个薄膜晶体管与电容构成的驱动电路进行驱动，属于主动显示类型，发光效能高，通常用于高清晰度的大尺寸显示装置。
AMOLED是电流驱动器件，当有电流流经有机发光二极管时，有机发光二极管发光，且发光亮度由流经有机发光二极管自身的电流决定。在AMOLED显示面板出厂前，需对AMOLED显示面板进行检测。
如图1所示，现有的AMOLED显示面板检测装置通常仅包括一检测信号产生模块100、及一电性连接所述检测信号产生模块100的AMOLED显示面板200，所述检测信号产生模块100向AMOLED显示面板200提供电源正电压OVDD、电源负电压OVSS、检测用数据信号Data、以及检测用扫描信号Gate，所述AMOLED显示面板200接收各信号显示测试画面。技术人员通过目视或利用影像撷取设备来判断该AMOLED显示面板200是否存在点和线缺陷，这种检测方式仅适用于AMOLED显示面板200内出现短路或开路的状况，并不能检测出AMOLED显示面板200内出现微短路的状况。
所谓“微短路”是指在AMOLED显示面板制造过程中，细小的颗粒(Particle)会造成面板内出现数据线与扫描线(或电源正电压走线与电源负电压走线)之间的线路阻抗过小，且没有造成点或线缺陷的现象。微短路会造成驱动有机发光二极管的电流比预期的对应于数据信号的电流值大，使有机发光二极管的亮度和温度升高，AMOLED显示面板的温度随之升高，而面板温度升高会进一步造成电流增大、温度升高，形成恶性循环，最终导致AMOLED显示面板老化烧毁，因此非常有必要检测出存在微短路状况的AMOLED显示面板，以拦截其流向后端的装配制程。
发明内容
本发明的目的在于提供一种AMOLED显示面板检测方法，能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板，防止其流向后端的装配制程，提高面板良率。
本发明的另一目的在于提供一种AMOLED显示面板检测装置，能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板，防止其流向后端的装配制程，提高面板良率。
为实现上述目的，本发明首先提供一种AMOLED显示面板检测方法，包括以下步骤：
步骤1、提供AMOLED显示面板检测装置；
所述AMOLED显示面板检测装置至少包括检测信号产生模块、与所述检测信号产生模块电性连接的AMOLED显示面板、及与所述AMOLED显示面板电性连接的温度侦测模块；
步骤2、所述检测信号产生模块向AMOLED显示面板输出电源正电压、电源负电压、检测用数据信号、以及检测用扫描信号，控制所述AMOLED显示面板显示测试画面；
步骤3、检测AMOLED显示面板是否存在亮点、与亮线缺陷；
步骤4、所述检测信号产生模块控制所述AMOLED显示面板持续显示纯白色画面，同时通过所述温度侦测模块拍摄并记录AMOLED显示面板各显示区域的温度；
步骤5、设定阈值温度，对任一显示区域温度超过该阈值温度的AMOLED显示面板进行拦截。
所述温度侦测模块为热像仪。
步骤4中所述AMOLED显示面板持续显示纯白色画面的时间为10分钟。
所述步骤1中的AMOLED显示面板检测装置还包括与所述AMOLED显示面板电性连接的阻抗检测模块。
所述AMOLED显示面板检测方法还包括步骤6、通过所述阻抗检测模块对被拦截的AMOLED显示面板中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板中出现短路及微短路的位置。
所述AMOLED显示面板检测方法还包括步骤7、通过激光对被拦截的AMOLED显示面板中出现短路及微短路的位置进行修复。
本发明还提供一种AMOLED显示面板检测装置，至少包括检测信号产生模块、与所述检测信号产生模块电性连接的AMOLED显示面板、及与所述AMOLED显示面板电性连接的温度侦测模块。
所述温度侦测模块为热像仪。
所述AMOLED显示面板检测装置还包括与所述AMOLED显示面板电性连接的阻抗检测模块。
本发明的有益效果：本发明提供的AMOLED面板检测方法及检测装置，通过设置温度侦测模块拍摄并记录AMOLED显示面板各显示区域的温度，当该温度侦测模块侦测到AMOLED显示面板某一显示区域的温度超过设定的阈值温度时则说明该AMOLED显示面板内存在短路及微短路的状况，从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板，防止其流向后端的装配制程；进一步通过设置阻抗检测模块来对被拦截的AMOLED显示面板中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板中出现短路及微短路的位置，以进行准确的修复，提高面板良率。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为现有的AMOLED显示面板检测装置的结构框图；
图2为本发明的AMOLED显示面板检测方法的流程图；
图3为本发明的AMOLED显示面板检测装置的结构框图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请同时参阅图2与图3，本发明首先提供一种AMOLED显示面板检测方法，包括以下步骤：
步骤1、提供AMOLED显示面板检测装置。
如图3所示，所述AMOLED显示面板检测装置包括检测信号产生模块1、与所述检测信号产生模块1电性连接的AMOLED显示面板2、与所述AMOLED显示面板2电性连接的温度侦测模块3、及与所述AMOLED显示面板2电性连接的阻抗检测模块4。
步骤2、所述检测信号产生模块1向AMOLED显示面板2输出电源正电压OVDD、电源负电压OVSS、检测用数据信号Data、以及检测用扫描信号Gate，控制所述AMOLED显示面板2显示测试画面。
具体地，所述AMOLED显示面板2内设置有对应于各个信号的测试用接线端子，分别负责接收所述检测信号产生模块1向AMOLED显示面板2输出的电源正电压OVDD、电源负电压OVSS、检测用数据信号Data、以及检测用扫描信号Gate，AMOLED显示面板2即能够显示测试画面。进一步的，所述测试画面为现有面板测试技术所使用的纯黑、纯红、纯绿、纯蓝等纯色画面或其它常用的测试画面。
步骤3、检测AMOLED显示面板2是否存在亮点、与亮线缺陷。
该步骤3的作用在于对AMOLED显示面板2的测试画面进行常规检测，由技术人员通过目视或利用影像撷取设备来观察测试画面，若发现亮点、亮线则表明该AMOLED显示面板2存在点、线缺陷。
步骤4、完成对测试画面的常规检测后，所述检测信号产生模块1控制所述AMOLED显示面板2持续显示纯白色画面，同时通过所述温度侦测模块3拍摄并记录AMOLED显示面板2各显示区域的温度。
具体地，所述温度侦测模块3优选为热像仪；所述AMOLED显示面板2持续显示纯白色画面的时间选定为10分钟左右，以保证AMOLED显示面板2有足够的发热时间。
在该步骤4的进行过程中，若AMOLED显示面板2的某一显示区域存在短路及微短路的状况，则该显示区域会由于电流增大而导致温度升高。
步骤5、设定阈值温度，对任一显示区域温度超过该阈值温度的AMOLED显示面板2进行拦截。
具体地，所述阈值温度可根据AMOLED显示面板2的型号、驱动电路构成、及驱动电路内各元件的材料、特性等因素来确定，若通过温度侦测模块3测得的AMOLED显示面板2某一显示区域的温度超过了该阈值温度，则说明该AMOLED显示面板2内存在短路及微短路的问题，从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板2，防止其流向后端的装配制程。
进一步地，为了提高AMOLED显示面板的产品良率，本发明的AMOLED显示面板检测方法还包括：
步骤6、通过所述阻抗检测模块4对被拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置。
由于该步骤6仅对由之前步骤所拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，即对确定出现了现短路及微短路问题的显示区域做阻抗检测，针对性强，能够缩短阻抗检测时间，较快速地找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置。
以及步骤7、通过激光(Laser)对被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置进行修复。
具体地，该步骤7先将出现短路及微短路的信号走线进行激光熔断，再将其与对应的修复线路进行激光熔接即可实现修复，使得AMOLED显示面板恢复正常，提高产品良率。
基于同一发明构思，本发明还提供一种AMOLED显示面板检测装置。如图3所示，本发明的AMOLED显示面板检测装置包括检测信号产生模块1、与所述检测信号产生模块1电性连接的AMOLED显示面板2、与所述AMOLED显示面板2电性连接的温度侦测模块3、及与所述AMOLED显示面板2电性连接的阻抗检测模块4。其中，所述温度侦测模块3优选为热像仪。
具体地，所述检测信号产生模块1用于向AMOLED显示面板2输出电源正电压OVDD、电源负电压OVSS、检测用数据信号Data、以及检测用扫描信号Gate，对所述AMOLED显示面板2进行控制。
所述AMOLED显示面板2用于显示测试画面，其设置有对应于各个信号的测试用接线端子，分别负责接收所述检测信号产生模块1向AMOLED显示面板2输出的电源正电压OVDD、电源负电压OVSS、检测用数据信号Data、以及检测用扫描信号Gate。
所述温度侦测模块3用于在AMOLED显示面板2持续显示纯白色画面时拍摄并记录AMOLED显示面板2各显示区域的温度，若通过所述温度侦测模块3测得的AMOLED显示面板2某一显示区域的温度超过了设定的阈值温度，则说明该AMOLED显示面板2内存在短路及微短路的问题，需要对该AMOLED显示面板2进行拦截，防止其流向后端的装配制程。
所述阻抗检测模块4用于对被拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置，以便于对短路及微短路的位置进行准确修复。
进一步地，本发明的AMOLED显示面板检测装置的工作过程为：
首先，所述检测信号产生模块1向AMOLED显示面板2输出各个信号，控制所述AMOLED显示面板2显示测试画面，由技术人员对测试画面进行常规检测，即通过目视或利用影像撷取设备来观察测试画面，若发现亮点、亮线则表明该AMOLED显示面板2存在点、线缺陷。
完成对测试画面的常规检测后，所述检测信号产生模块1控制所述AMOLED显示面板2持续显示纯白色画面10分钟左右，同时通过所述温度侦测模块3拍摄并记录AMOLED显示面板2各显示区域的温度。
接下来，根据AMOLED显示面板2的型号、驱动电路构成、及驱动电路内各元件的材料、特性等因素来设定一阈值温度，若通过温度侦测模块3测得的AMOLED显示面板2某一显示区域的温度超过了该阈值温度，则说明该AMOLED显示面板2内存在短路及微短路的问题，那么对该AMOLED显示面板2进行拦截，防止其流向后端的装配制程。
最后，所述阻抗检测模块4针对被拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，快速找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置，为后续的激光修复提供位置依据，提高产品良率。
综上所述，本发明的AMOLED面板检测方法及检测装置，通过设置温度侦测模块拍摄并记录AMOLED显示面板各显示区域的温度，当该温度侦测模块侦测到AMOLED显示面板某一显示区域的温度超过设定的阈值温度时则说明该AMOLED显示面板内存在短路及微短路的状况，从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板，防止其流向后端的装配制程；进一步通过设置阻抗检测模块来对被拦截的AMOLED显示面板中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板中出现短路及微短路的位置，以进行准确的修复，提高面板良率。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1、提供AMOLED显示面板检测装置；
所述AMOLED显示面板检测装置至少包括检测信号产生模块(1)、与所述检测信号产生模块(1)电性连接的AMOLED显示面板(2)、及与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的温度侦测模块(3)；
步骤2、所述检测信号产生模块(1)向AMOLED显示面板(2)输出电源正电压(OVDD)、电源负电压(OVSS)、检测用数据信号(Data)、以及检测用扫描信号(Gate)，控制所述AMOLED显示面板(2)显示测试画面；
步骤3、检测AMOLED显示面板(2)是否存在亮点、与亮线缺陷；
步骤4、所述检测信号产生模块(1)控制所述AMOLED显示面板(2)持续显示纯白色画面，同时通过所述温度侦测模块(3)拍摄并记录AMOLED显示面板(2)各显示区域的温度；
步骤5、设定阈值温度，对任一显示区域温度超过该阈值温度的AMOLED显示面板(2)进行拦截，从而检测出并拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板(2)；
所述微短路是指在AMOLED显示面板(2)制造过程中，细小的颗粒(Particle)会造成面板内出现数据线(Data)与扫描线(Gate)或电源正电压(OVDD)走线与电源负电压(OVSS)走线之间的线路阻抗过小，且没有造成点或线缺陷的现象。
2.如权利要求1所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，所述温度侦测模块(3)为热像仪。
3.如权利要求1或2所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，步骤4中所述AMOLED显示面板(2)持续显示纯白色画面的时间为10分钟。
4.如权利要求1所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，所述步骤1中的AMOLED显示面板检测装置还包括与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的阻抗检测模块(4)。
5.如权利要求4所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，还包括步骤6、通过所述阻抗检测模块(4)对被拦截的AMOLED显示面板(2)中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板(2)中出现短路及微短路的位置。
6.如权利要求5所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，还包括步骤7、通过激光对被拦截的AMOLED显示面板(2)中出现短路及微短路的位置进行修复。
7.一种AMOLED显示面板检测装置，其特征在于，至少包括检测信号产生模块(1)、与所述检测信号产生模块(1)电性连接的AMOLED显示面板(2)、及与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的温度侦测模块(3)；
所述温度侦测模块(3)在检测信号产生模块(1)控制AMOLED显示面板(2)持续显示纯白色画面时拍摄并记录AMOLED显示面板(2)各显示区域的温度，对任一显示区域温度超过阈值温度的AMOLED显示面板(2)进行拦截，从而检测出并拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板(2)；
所述微短路是指在AMOLED显示面板(2)制造过程中，细小的颗粒(Particle)会造成面板内出现数据线(Data)与扫描线(Gate)或电源正电压(OVDD)走线与电源负电压(OVSS)走线之间的线路阻抗过小，且没有造成点或线缺陷的现象。
8.如权利要求7所述的AMOLED显示面板检测装置，其特征在于，所述温度侦测模块(3)为热像仪。
9.如权利要求7所述的AMOLED显示面板检测装置，其特征在于，还包括与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的阻抗检测模块(4)。
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