CN113075581A - 显示面板黑屏的解析方法及解析装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种显示面板黑屏的解析方法及解析装置，所述方法包括：获取待检测显示面板的异常类型，所述待检测面板为发生黑屏的显示面板；若所述异常类型为短路，则向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的所述待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；获取施加检测电压后的所述待检测显示面板的温度分布信息；根据所述温度分布信息确定所述待检测显示面板的异常发热位置。本申请提高了显示面板黑屏的解析效率进而解析成功率。
Description
技术领域
本申请涉及对显示异常的显示面板进行解析的领域，具体涉及一种显示面板黑屏的解析方法及解析装置。
背景技术
随着光电与半导体技术的演进，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已成为市场的主流。现有市场上的液晶显示器为了提升人们的视觉效果，拓宽可视范围，边框宽度要求越来越窄。窄边框的液晶显示器通常要求阵列基板行驱动(Gate Driver on Array，GOA)设计，即：直接将电极驱动电路设计在阵列基板上面，减少制作程序，降低产品成本，使面板更加轻薄。
但GOA线路集成复杂，各层金属线之间易发生短路，形成满屏/半屏线、黑屏等不良现象。黑屏通常是由于GOA区域各层金属线之间发生短路，触发过电流保护(Over CurrentProtection，OCP)而导致信号无法输入，形成黑屏。针对黑屏不良解析，由于液晶显示器无法点亮，因此对于黑屏的解析只能在显示面板上从头到尾逐级排查，解析过程费事费力，效率低下，且现有技术中仅可确认发生异常的线路，无法准确确认异常位置，导致解析成功率较低。
因此，有必要提供一种显示面板黑屏的解析方法及解析装置，以解决上述问题。
发明内容
本申请提出一种显示面板黑屏的解析方法及解析装置，旨在解决现有技术中存在的由于显示面板在黑屏后无法点亮，导致对黑屏的解析过程费事费力，且解析成功率不高的技术问题。
一方面，本申请提供了一种显示面板黑屏的解析方法，所述方法包括：
获取待检测显示面板的异常类型，所述待检测面板为发生黑屏的显示面板；
若所述异常类型为短路，则向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的所述待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
获取施加检测电压后的所述待检测显示面板的温度分布信息；
根据所述温度分布信息确定所述待检测显示面板的异常发热位置。
在本申请的一些实现方式中，所述获取施加检测电压后的所述待检测显示面板的温度分布信息具体包括：
判断是否能获取到所述待检测显示面板的温度分布信息；
若不能获取到所述待检测显示面板的温度分布信息，则增加所述检测电压，直至获取到所述待检测显示面板的温度分布信息。
在本申请的一些实现方式中，所述预设端口为所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚，或者，所述预设端口为预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端。
在本申请的一些实现方式中，所述向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压之前，所述方法还包括：
确定所述待检测显示面板的异常线路；
所述向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体包括：
向所述异常线路的第一端和第二端时间检测电压。
在本申请的一些实现方式中，所述确定所述待检测显示面板的异常线路具体包括：
检测所述待检测显示面板的各个线路的阻抗值；
若所述各个线路中线路的阻抗值低于阈值阻抗值，则确定所述线路为异常线路。
在本申请的一些实现方式中，在向所述待检测显示面板施加检测电压前，所述方法还包括：
修改所述待检测显示面板的信号写入程序，去除过流保护子程序；
所述向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体包括：
通过所述待检测显示面板的信号写入程序，向所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚施加所述检测电压。
在本申请的一些实现方式中，所述预设电压差为38V～56V。
在本申请的一些实现方式中，所述正电源输入脚和所述异常线路的第一端的输入电压大于0，所述负电源输入脚和所述异常线路的第二端的输入电压小于0。
在本申请的一些实现方式中，所述正电源输入脚的输入电压为28V～38V，所述负电源输入脚的输入电压为-10V～-18V。
另一方面，本申请还提供了一种，所述装置包括：
异常类型获取单元，用于获取待检测显示面板的异常类型，所述待检测面板为发生黑屏的显示面板；
电压施加单元，用于当所述异常类型为短路时，向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
温度分布信息获取单元，用于获取施加检测电压后的所述待检测显示面板的温度分布信息；
解析单元，用于根据所述温度分布信息确定所述待检测显示面板的异常发热位置。
另一方面，本申请还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括：
一个或多个处理器；
存储器；以及
一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现第一方面中任一项所述的显示面板黑屏的解析方法。
另一方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行第一方面任一项所述的显示面板黑屏的解析方法中的步骤。
本申请提供的显示面板黑屏的解析方法及装置，当由于短路导致显示面板黑屏时，向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差，并获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息，根据温度根部信息确定待检测显示面板的异常发热位置，通过确定异常发热位置即可确定待检测显示面板发生异常的位置，可快速的解析待检测显示面板上的异常位置，提高了显示面板黑屏的解析效率；同时，本申请可解析出发生异常的具体位置，提高了解析成功率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的显示面板黑屏的解析方法的一个实施例流程示意图；
图2是本申请实施例提供的步骤S300的一个实施例流程示意图；
图3是本申请实施例提供的确定待检测显示面板的异常线路的一个实施例流程示意图；
图4是本申请实施例提供的显示面板黑屏的解析装置的一个实施例结构示意图；
图5是本申请实施例提供的计算机设备的一个实施例结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
本申请提供了一种显示面板黑屏的解析方法及解析装置，以下分别进行详细说明。
一方面，本申请实施例提供了一种显示面板黑屏的解析方法，该方法包括：获取待检测显示面板的异常类型，待检测面板为发生黑屏的显示面板；若异常类型为短路，则向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息；根据温度分布信息确定待检测显示面板的异常发热位置。
如图1所示，为本申请实施例中显示面板黑屏的解析方法的一个实施例流程示意图，该方法包括：
步骤S100、获取待检测显示面板的异常类型，待检测显示面板为发生黑屏的显示面板；
具体地：由于显示面板出现异常，使得信号无法输入至显示面板内，导致显示面板无法点亮，出现黑屏，其中，待检测显示面板的异常类型可以包括短路或断路。
其中，获取待检测显示面板的异常类型可以是待检测显示面板内置有异常类型信息，通过读取即可获得待检测显示面板的异常类型；待检测显示面板的异常类型也可以是通过检测获取的，通过检测仪器检测待检测显示面板，以获取待检测显示面板的异常类型。
步骤S200、若异常类型为短路，则向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
步骤S300、获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息；
步骤S400、根据温度分布信息确定待检测显示面板的异常发热位置。
本申请实施例提供的显示面板黑屏的解析方法，当由于短路导致显示面板黑屏时，向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差，并获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息，根据温度根部信息确定待检测显示面板的异常发热位置，通过确定异常发热位置即可确定待检测显示面板发生异常的位置，可快速的解析待检测显示面板上的异常位置，提高了显示面板黑屏的解析效率；同时，本申请实施例可解析出发生异常的具体位置，提高了解析成功率。
进一步地，为了避免当向待检测显示面板的预设端口施加检测电压后，待检测显示面板的异常点发热不明显，导致解析不成功，在本申请的一些实施例中，如图2所示，步骤S300具体包括：
步骤S201、判断是否能获取到待检测显示面板的温度分布信息；
步骤S202、若不能获取到待检测显示面板的温度分布信息，则增加检测电压，直至获取到待检测显示面板的温度分布信息。
通过设置当无法获取到待检测显示面板的温度分布信息时，增加检测电压，使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差，以提高待检测显示面板的发热程度，使得待检测显示面板的温度分布信息可被获取到，提高了显示面板黑屏的解析方法的解析成功率。
进一步地，在本申请的一些实施例中，预设端口为待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚，或者，预设端口为预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端。即：直接向待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚，或者，向预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差，或者，异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差。
进一步地，为了确保待检测显示面板的温度分布信息可被获取到，在本申请的一些实施例中，预设电压差为38V-56V。
需要说明的是：增加检测电压时，可以在未获取到待检测显示面板的温度分布信息时，直接以跳变的方式增加检测电压，且两次检测电压之间的差值为2V，即：检测电压以38V，42V，44V，46V，48V，50V，52V，54V，56V的数值进行跳变。
应当理解的是：检测电压的变化并不限于上述描述，在实际应用中，可根据待检测显示面板的发热情况进行调整，例如：为了快速获取到待检测显示面板的温度分布信息，当检测电压为38V时无法获取到待检测显示面板的温度分布信息时，直接将监测电压调节至56V，进一步提高显示面板黑屏的解析效率。
进一步地，在本申请的一些实施例中，正电源输入脚和异常线路的第一端的输入电压大于0，负电源输入脚和异常线路的第二端的输入电压小于0。
通过上述设置，可为检测电压提供更高的电压摆幅，提高检测电压的变化性。
进一步地，在本申请的一些实施例中，正电源输入脚的输入电压为28V～38V，负电源输入脚的输入电压为-10V～-18V。
应当理解的是：异常线路的第一端的电压可以与正电源输入脚的输入电压一致，异常线路的第二端的电压可以与负电源输入脚的输入电压一致。当然，异常线路的第一端的电压也可以与正电源输入脚的输入电压不一致，异常线路的第二端的电压也可以与负电源输入脚的输入电压不一致，可根据实际情况进行调整，在此不做赘述。
需要说明的是，在本申请的一些实施例中，通过温度采集器获取待检测显示面板的温度分布信息，具体地，温度采集器可以为热成像仪。可以理解的是，在实际应用中，温度采集器只要可以采集待检测显示面板的温度分布信息即可，具体此处不作限定。
进一步地，在步骤S200之前，方法还包括：
确定待检测显示面板的异常线路；
则向待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体包括：
向异常线路的第一端和第二端时间检测电压。
进一步地，在本申请的一些实施例中，如图3所示，通过确定所述待检测显示面板的异常线路具体包括：
步骤S301、检测待检测显示面板的各个线路的阻抗值；
步骤S302、若各个线路中线路的阻抗值低于阈值阻抗值，则确定线路为异常线路。
这是由于，当异常线路发生的异常类型为短路时，异常线路的阻抗值会远小于正常线路的阻抗值，因此，通过检测各个线路的阻抗值，即可快速定位异常线路，进一步提高显示面板黑屏的解析方法的解析效率。
需要说明的是，在本申请的一些实施例中，通过线路检测器检测待检测显示面板的各个线路的阻抗值，具体地，线路检测器可以为万用表。可以理解的是，在实际应用中，线路检测器只要可以检测待检测显示面板的各个线路的阻抗值即可，具体此处不作限定。
进一步地，当不通过检测阻抗值定位异常线路时，由于短路会触发待检测显示面板的过流保护子程序，导致电压无法写入到待检测显示面板，进而导致待检测显示面板无法点亮，造成待检测显示面板无法发热，从而造成无法定位异常点，在本申请的一些其他实施例中，在步骤S200前还包括：
修改待检测显示面板的信号写入程序，去除过流保护子程序；
则向待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体包括：
通过待检测显示面板的信号写入程序向待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚施加检测电压。
通过上述设置，由于去除了待检测显示面板信号写入程序中的过流保护子程序，使得即使待检测显示面板发生短路时，电压信号还是可以写入待检测显示面板中，点亮待检测显示面板，此时待检测显示面板会发热，而异常点发热更严重，此时，通过获取待检测显示面板的温度分布信息，即可根据温度分布信息确定待检测显示面板的异常发热位置。
本申请实施例通过设置去除过流保护子程序后，通过向待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚输入检测电压，以点亮待检测显示面板，通过获取点亮后的待检测显示面板的温度分布信息，或，不点亮待检测显示面板，通过确定异常线路后，直接向异常线路施加检测电压，通过获取待检测显示面板的温度分布信息，定位异常发热位置，通过设置上述两种显示面板黑屏的解析方法，进一步提高解析效率和解析成功率。
另一方面，本申请实施例还提供了一种显示面板黑屏的解析装置，如图4所示，解析装置400包括：
异常类型获取单元401，用于获取待检测显示面板的异常类型，所述待检测面板为发生黑屏的显示面板；
电压施加单元402，用于当异常类型为短路时，向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
温度分布信息获取单元403，用于获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息；
解析单元404，用于根据温度分布信息确定显示面板的异常发热位置。
本申请实施例提供的显示面板黑屏的解析装置，通过异常类型获取单元401获取异常类型，当异常类型为短路时，通过电压施加单元402向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的所述待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差，使得待检测显示面板发热，并通过温度分布信息获取单元403获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息；再通过解析单元404根据温度根部信息确定待检测显示面板的异常发热位置，通过确定发热位置即可确定待检测显示面板发生异常的位置，可快速并准确定位待检测显示面板发生异常的位置，提高了显示面板黑屏的解析效率和解析成功率。
其中，在本申请的一些实施例中，温度分布信息获取单元403具体用于：判断是否能获取到待检测显示面板的温度分布信息；若不能获取到待检测显示面板的温度分布信息，则增加检测电压，直至获取到待检测显示面板的温度分布信息。
通过设置当无法获取到待检测显示面板的温度分布信息时，增加检测电压，使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差，以提高待检测显示面板的发热程度，使得待检测显示面板的温度分布信息可被获取到，提高了显示面板黑屏的解析方法的解析成功率。
在本申请的一些实施例中，显示面板黑屏的解析装置还包括异常线路定位单元，用于在向待检测显示面板的预设端口施加检测电压之前通过确定待检测显示面板的异常线路；
向待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体包括：
向异常线路的第一端和第二端时间检测电压。
具体地，异常线路定位单元具体用于：检测待检测显示面板的各个线路的阻抗值；若各个线路中线路的阻抗值低于阈值阻抗值，则确定线路为异常线路。
其中，线路检测器件为万用表。
进一步地，当不通过检测阻抗值定位异常线路时，由于短路会触发待检测显示面板的过流保护子程序，导致电压无法写入到显示面板，进而导致显示面板无法点亮，造成显示面板无法发热，从而造成无法定位异常点，在本申请的一些其他实施例中，显示面板黑屏的解析装置还包括程序改写单元，用于修改待检测显示面板的信号写入程序，去除过流保护子程序；
向待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体为：通过待检测显示面板的信号写入程序向待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚施加检测电压。
本申请实施例提供的显示面板黑屏的解析装置，提高了显示面板黑屏解析的解析效率和解析成功率。
另一方面，本申请实施例还提供一种计算机设备，其集成了本申请实施例所提供的任一种显示面板黑屏的解析装置，所述计算机设备包括：
一个或多个处理器；
存储器；以及
一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行上述显示面板黑屏的解析方法实施例中任一实施例中所述的显示面板黑屏的解析方法中的步骤。
本申请实施例提供的一种计算机设备，其集成了本申请实施例所提供的任一种显示面板黑屏的解析装置。如图5所示，其示出了本申请实施例所涉及的计算机设备的结构示意图，具体来讲：
该计算机设备可以包括一个或者一个以上处理核心的处理器501、一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器502、电源503和输入单元504等部件。本领域技术人员可以理解，图5中示出的计算机设备结构并不构成对计算机设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：
处理器501是该计算机设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个计算机设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储器502内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器502内的数据，执行计算机设备的各种功能和处理数据，从而对计算机设备进行整体监控。可选的，处理器501可包括一个或多个处理核心；优选的，处理器501可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、操作用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器501中。
存储器502可用于存储软件程序以及模块，处理器501通过运行存储在存储器502的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储器502可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等；存储数据区可存储根据计算机设备的使用所创建的数据等。此外，存储器502可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储器502还可以包括存储器控制器，以提供处理器501对存储器502的访问。
计算机设备还包括给各个部件供电的电源503，优选的，电源503可以通过电源管理系统与处理器501逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源503还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。
该计算机设备还可包括输入单元504，该输入单元504可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与操作用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。
尽管未示出，计算机设备还可以包括显示单元等，在此不再赘述。具体在本实施例中，计算机设备中的处理器501会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行文件加载到存储器502中，并由处理器501来运行存储在存储器502中的应用程序，从而实现各种功能，如下：
获取待检测显示面板的异常类型，待检测面板为发生黑屏的显示面板；
若所述异常类型为短路，则向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息；
根据温度分布信息确定待检测显示面板的异常发热位置。
本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成，或通过指令控制相关的硬件来完成，该指令可以存储于一计算机可读存储介质中，并由处理器进行加载和执行。
为此，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，该存储介质可以包括：只读存储器(ROM，Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM，RandomAccess Memory)、磁盘或光盘等。其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种编码方法或解码方法中的步骤。例如，所述计算机程序被处理器进行加载可以执行如下步骤：
获取待检测显示面板的异常类型，待检测面板为发生黑屏的显示面板；
若所述异常类型为短路，则向待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
获取施加检测电压后的待检测显示面板的温度分布信息；
根据温度分布信息确定待检测显示面板的异常发热位置。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。
具体实施时，以上各个单元或结构可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个单元或结构的具体实施可参见前面的方法实施例，在此不再赘述。
以上对本申请所提供的显示面板黑屏的解析方法及解析装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，包括：
获取待检测显示面板的异常类型，所述待检测面板为发生黑屏的显示面板；
若所述异常类型为短路，则向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的所述待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
获取施加检测电压后的所述待检测显示面板的温度分布信息；
根据所述温度分布信息确定所述待检测显示面板的异常发热位置。
2.根据权利要求1所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，所述获取施加检测电压后的所述待检测显示面板的温度分布信息具体包括：
判断是否能获取到所述待检测显示面板的温度分布信息；
若不能获取到所述待检测显示面板的温度分布信息，则增加所述检测电压，直至获取到所述待检测显示面板的温度分布信息。
3.根据权利要求1所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，所述预设端口为所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚，或者，所述预设端口为预先确定的所述待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端。
4.根据权利要求3所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，所述向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压之前，所述方法还包括：
确定所述待检测显示面板的异常线路；
所述向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体包括：
向所述异常线路的第一端和第二端时间检测电压。
5.根据权利要求4所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，所述确定所述待检测显示面板的异常线路具体包括：
检测所述待检测显示面板的各个线路的阻抗值；
若所述各个线路中线路的阻抗值低于阈值阻抗值，则确定所述线路为异常线路。
6.根据权利要求3所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，在向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压前，所述方法还包括：
修改所述待检测显示面板的信号写入程序，去除过流保护子程序；
所述向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压具体包括：
通过所述待检测显示面板的信号写入程序向所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚施加所述检测电压。
7.根据权利要求1所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，所述预设电压差为38V～56V。
8.根据权利要求7所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，所述正电源输入脚和所述异常线路的第一端的输入电压大于0，所述负电源输入脚和所述异常线路的第二端的输入电压小于0。
9.根据权利要求8所述的显示面板黑屏的解析方法，其特征在于，所述正电源输入脚的输入电压为28V～38V，所述负电源输入脚的输入电压为-10V～-18V。
10.一种显示面板黑屏的解析装置，其特征在于，包括：
异常类型获取单元，用于获取待检测显示面板的异常类型，所述待检测面板为发生黑屏的显示面板；
电压施加单元，用于当所述异常类型为短路时，向所述待检测显示面板的预设端口施加检测电压，以使所述待检测显示面板的正电源输入脚和负电源输入脚之间的电压差达到预设电压差，或者，使预先确定的待检测显示面板的异常线路的第一端和第二端之间的电压差达到预设电压差；
温度分布信息获取单元，用于获取施加检测电压后的所述待检测显示面板的温度分布信息；
解析单元，用于根据所述温度分布信息确定所述待检测显示面板的异常发热位置。
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Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003149633A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-21 | Nec Viewtechnology Ltd | 液晶プロジェクタの検光子保護方法及び検光子保護装置 |
| CN105679219A (zh) * | 2016-03-25 | 2016-06-15 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Amoled显示面板检测方法及检测装置 |
| CN105979254A (zh) * | 2016-06-14 | 2016-09-28 | 广东长虹电子有限公司 | 黑屏故障智能检测方法及其应用的电视机 |
| CN112034325A (zh) * | 2020-07-27 | 2020-12-04 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种板卡异常检测方法及设备 |
| CN112162888A (zh) * | 2020-09-18 | 2021-01-01 | 深圳Tcl新技术有限公司 | 显示器黑屏的原因的确定方法、装置和计算机存储介质 |
-
2021
- 2021-03-17 CN CN202110286259.7A patent/CN113075581A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003149633A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-21 | Nec Viewtechnology Ltd | 液晶プロジェクタの検光子保護方法及び検光子保護装置 |
| CN105679219A (zh) * | 2016-03-25 | 2016-06-15 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Amoled显示面板检测方法及检测装置 |
| US20180108297A1 (en) * | 2016-03-25 | 2018-04-19 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Amoled display panel detection method and detection device |
| CN105979254A (zh) * | 2016-06-14 | 2016-09-28 | 广东长虹电子有限公司 | 黑屏故障智能检测方法及其应用的电视机 |
| CN112034325A (zh) * | 2020-07-27 | 2020-12-04 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种板卡异常检测方法及设备 |
| CN112162888A (zh) * | 2020-09-18 | 2021-01-01 | 深圳Tcl新技术有限公司 | 显示器黑屏的原因的确定方法、装置和计算机存储介质 |
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