CN111983338B - 测试方法及测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种测试方法及测试系统。测试方法包含针对待测装置进行电磁测试，以判断出待测装置中的至少一异常区域；以及执行人工智能算法以依据待测装置的至少一异常区域查询智能数据库，以取得建议修正结构。

Description

测试方法及测试系统

技术领域

本发明涉及一种方法及系统，尤其涉及一种测试方法及测试系统。

背景技术

现有技术在针对待测装置进行电磁相容性测试(ElectromagneticCompatibility，EMC)时，其感测的过程无法自动化地针对待测装置的每个区域进行感测，来判断出待测装置的每个区域是否皆符合电磁相容性的规范。即使，在判断出待测装置的特定区域不符合电磁相容性的规范之后，现有技术更需仰赖人力通过盲目地尝试错误的设计过程来逐步修正待测装置。故现有技术在待测装置的测试流程以及修正流程上，都有改善的必要。

发明内容

本发明提供一种测试方法及测试系统，有效率地针对待测装置进行电磁测试，并提供建议修正结构，以改善现有技术的缺点。

本发明的测试方法包含针对待测装置进行电磁测试，以判断出待测装置中的至少一异常区域；以及执行人工智能算法以依据待测装置的至少一异常区域查询智能数据库，以取得建议修正结构。

本发明的测试系统，适于针对待测装置进行测试，测试系统包含测试装置、主控装置及运算电路。测试装置耦接待测装置。测试装置用来向待测装置进行电磁测试。主控装置耦接测试装置。主控装置控制测试装置以进行电磁测试，并判断出待测装置中的至少一异常区域。运算电路耦接主控装置并存储有智能数据库。运算电路执行人工智能算法以依据待测装置的异常区域查询智能数据库，以取得建议修正结构。

基于上述，测试方法及测试系统可有效率地针对待测装置进行电磁测试，并通过人工智能算法查询智能数据库以提供建议修正结构，进而改善现有技术的缺点。

附图说明

图1为本发明实施例一测试系统的方块图；

图2A为本发明实施例一测试方法的流程图；

图2B为本发明实施例一测试方法的示意图；

图3A为本发明实施例在判断一待测装置的第一未选中区域及第一选中区域的示意图；

图3B为本发明实施例一在判断待测装置的第一未选中区域及第一选中区域的示意图；

图3C为本发明实施例在判断一待测装置的第一未选中区域及第一选中区域的示意图；

图3D为本发明实施例在判断一待测装置的第二未选中区域及第二选中区域的示意图；

图3E为本发明实施例在判断一待测装置的第三未选中区域及第三选中区域的示意图；

图3F为本发明实施例在标记一待测装置中的待修正结构的示意图。

附图标记说明

1：修正系统

10：测试装置

11：主控装置

12：运算电路

120：智能数据库

121：电路数据库

122：布局数据库

123：机构数据库

2、2a、2b、2c、2d：待测装置

S20、S21、S22～S24：步骤

A1、A3、A5：第一未选中区域

A1-1～A1-3、A5-1～A5-3、A7-1、A7-2、A9-1、A9-2：区域

A2、A4、A6：第一选中区域

A7：第二未选中区域

A8：第二选中区域

A9：第三未选中区域

A10：第三选中区域

L1：待修正结构

具体实施方式

现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同元件符号在附图和描述中用来表示相同或相似部分。

图1为本发明实施例一测试系统1的方块图。测试系统1可对待测装置2进行电磁测试，以判断待测装置2的电磁特性是否符合规范。测试系统1更可于待测装置2的电磁特性不符合规范的时候提供修正建议。测试系统1包括测试装置10、主控装置11及运算电路12。测试装置10耦接于待测装置2，测试装置10可向待测装置2提供测试用的电磁信号，以及感测待测装置2本身所发出的电磁干扰信号。主控装置11耦接于测试装置10，主控装置11可控制测试装置10来提供电磁信号并取得待测装置2所发出的电磁干扰信号的感测结果。如此一来，主控装置11可判断出待测装置2的异常区域。运算电路12耦接于主控装置11，运算电路12可取得主控装置11所判断出的异常区域，并进一步执行人工智能(ArtificialIntelligence，AI)算法。人工智能算法可依据待测装置2的异常区域以及异常区域所对应的异常条件来查询智能数据库120，以由智能数据库120取得建议修正结构来改善待测装置2的电磁特性。简言之，测试系统1可针对待测装置2进行电磁测试来判断出待测装置2的异常区域。测试系统1依据异常区域可进行人工智能算法来取得建议修正结构，除了可将待测装置2的测试流程整合为自动化的测试方法之外，还可通过人工智能算法简化待测装置2以人力进行修正的设计流程。

详细而言，测试装置10可针对待测装置2进行例如为电磁相容性(Electromagnetic Compatibility，EMC)、电磁耐受性(ElectromagneticSusceptibility，EMS)及电磁干扰性(Electromagnetic Interference，EMI)的电磁测试。在一实施例中，测试装置10可包含有信号产生器、测试电路、探针等。在一实施例中，测试装置10可针对待测装置2的每个区域施加预设能量及预设频率的电磁信号来进行测试。在一实施例中，测试装置10可针对待测装置2的每个区域施加递增强度的测试信号来进行测试。在一实施例中，测试装置10可感测待测装置2本身所发出的电磁干扰信号强度。因此，测试装置10可针对待测装置2进行电磁测试或取得待测装置2的电磁干扰信号强度。

主控装置11连接于测试装置10，主控装置11可控制测试装置10所进行的电磁测试或取得测试装置10所取得的待测装置2的电磁干扰信号强度。主控装置11可例如为移动台、高级移动台(Advanced Mobile Station，AMS)、伺服器、客户端、台式电脑、笔记本电脑、网络型电脑、工作站、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、个人电脑(Personal Computer，PC)、平板电脑。或者，主控装置11可以是通过硬件描述语言(Hardware Description Language,HDL)或是其他任意本领域技术人员所熟知的数字电路的设计方式来进行设计，并通过现场可程序逻辑门阵列(Field Programmable GateArray,FPGA)、复杂可程序逻辑装置(Complex Programmable Logic Device,CPLD)或是特殊应用集成电路(Application-specific Integrated Circuit,ASIC)的方式来实现的硬件电路等装置。另外，主控装置11还可具有例如为扫描仪、照相机、传感器等传感装置，用来对待测装置2进行感测，以判断出待测装置2是否进入异常状态。在一实施例中，主控装置11还可将异常区域的异常条件记录下来，以较佳地作为接下来判断修正结构的依据。

运算电路12耦接于主控装置11。主控装置11可将待测装置2的异常区域提供给运算电路12。运算电路12具有智能数据库120。运算电路12可用来执行人工智能算法，其中，人工智能算法可为预先经过训练的模型。因此，人工智能算法可依据异常区域查询智能数据库120，通过查询结果来取得建议修正结构。运算电路12可例如为中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，或是其他可程序化的一般用途或特殊用途的微控制单元(MicroControl Unit，MCU)、微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(Digital SignalProcessor，DSP)、可程序化控制器、特殊应用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)、算数逻辑单元(Arithmetic Logic Unit，ALU)、复杂可程序逻辑装置(Complex Programmable LogicDevice，CPLD)、现场可程序化逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)或其他类似元件或上述元件的组合。另外，运算电路12亦可以是通过硬件描述语言(HardwareDescription Language,HDL)或是其他任意本领域技术人员所熟知的数字电路的设计方式所设计出的硬件电路。

图2A为本发明实施例一测试方法的流程图。图2A所示出的流程图可由图1所示出的测试系统1来执行，因此，请共同参考图1、图2A来理解测试方法的操作过程。图2A所示出的测试方法包含步骤S20、S21。在步骤S20中，测试系统1可针对待测装置2进行电磁测试，以判断出待测装置2中的异常区域。在步骤S21中，测试系统1会执行人工智能算法以依据待测装置2的异常区域查询智能数据库120，以取得建议修正结构。

详细而言，测试系统1在步骤S20中可将待测装置2区分成多个第一测试区域，测试系统1可针对每个第一测试区域进行电磁测试。当测试系统1判断待测装置2发生异常状态时，则测试系统1可选出进行测试的第一测试区域作为第一选中区域，并判断第一选中区域为异常区域。举例而言，测试系统1可以预设的第一间隔来将待测装置2区分为多个第一测试区域。第一间隔可例如为1、5、8厘米等的长度。电磁测试可例如为电磁相容性测试，其包含有电磁耐受性测试及电磁干扰测试的至少一者。而测试系统1可针对待测装置2的每个区域进行测试及扫瞄，并于待测装置2发生异常状态时记录，以判断出待测装置2的异常区域。

在一实施例中，当测试系统1进行的电磁测试为电磁耐受性测试时，主控装置11可控制测试装置10以针对待测装置2的每个区域提供递增强度的电磁信号来进行测试，主控装置11并可判断待测装置2是否发生异常状态。异常状态可包括例如为待测装置2的图像显示发生异常、网络连线发生异常及音效播放异常当中的至少一者。只要当主控装置11感测到待测装置2发生上述异常的其中一者时，即判断待测装置2发生异常状态。进一步，主控装置11可记录待测装置2发生异常状态时测试装置10所发出的电磁信号的能量。主控装置11可将记录的待测装置2发生异常状态时测试装置10所发出的电磁信号的能量与预设能量进行比较。当主控装置11判断出记录的电磁信号的能量小于或等于预设能量时，主控装置11即判断待测装置2在电磁信号所施加的对应第一测试区域的电磁耐受度不符合规范，因此，主控装置11可判断电磁信号所施加的第一测试区域为第一选中区域作为异常区域。另外，测试系统1亦可记录当待测装置2发生异常状态时的异常条件，例如是测试装置10所发出的电磁信号的频率。

在一实施例中，当测试系统1进行的电磁测试为电磁干扰测试时，测试装置10可分别感测待测装置2的每个第一测试区域所发出的干扰信号强度，并提供至主控装置11。主控装置11可将取得待测装置2的干扰信号强度与预设干扰强度进行比较。当主控装置11判断待测装置2所发出的干扰信号强度大于或等于预设干扰信号的强度时，测试系统1可判断待测装置2正在进行感测的第一测试区域为异常区域。同时，测试系统1亦可记录异常区域的异常条件，例如为待测装置2所发出的干扰信号强度。在另一实施例中，测试装置10针对待测装置2的干扰信号的感测结果可为信号强度与频率的曲线。也就是说，测试装置10可感测待测装置2的各个第一测试区域的干扰信号强度与频率的关系曲线。主控装置11可取得干扰信号强度与频率的关系曲线，并将干扰信号强度与频率的关系曲线与预设曲线进行比对。当主控装置11判断测试装置10所感测的关系曲线并非均小于或等于预设曲线时，主控装置11可判断测试装置10进行感测的第一测试区域为异常区域。同时，主控装置11可将异常区域的相关条件记录下来，例如主控装置11可将关系曲线中，感测信号强度大于预设强度的频率范围或频率值记录下来。

在步骤S21中，测试系统1可先依据异常区域标记出待测装置2在异常区域中相对应的待修正结构，测试系统1可依据待测装置2在异常区域中相对应的待修正结构以及异常区域所对应的异常条件来执行人工智能算法，以由智能数据库120取得建议修正结构，其中，人工智能算法可为预先经过训练的算法模型，而智能数据库120可存储有多笔电子装置经过修正的历史数据。

大致而言，智能数据库120可存储有多笔电子装置在修正前的电路及机构信息、电子装置经过修正后的电路及机构信息、电子装置在电磁测试所发生的异常状态、以及异常区域所对应的异常条件。进一步而言，智能数据库120可包含有电路数据库121、布局数据库122及机构数据库123，三者可用来存储电子装置在修正前以及修正后的电路及机构信息。电路数据库121可存储电子装置的电路结构相关信息。布局数据库122可存储电子装置的印刷电路板上线路布局的相关信息。机构数据库123可存储电子装置的机构构件的相关信息。运算电路12可通过执行人工智能算法以由电路数据库121、布局数据库122及机构数据库123取得相关于电子装置的电路结构、电子装置的印刷电路板上线路布局以及电子装置的机构构件的建议修正结构。

因此，当运算电路12执行人工智能算法的时候，人工智能算法可依据待测装置2的待修正结构以及异常区域所对应的异常条件查询智能数据库120中的多笔电子装置经过修正的历史数据。也就是说，运算电路12可依据待测装置2发生的异常状态、发生异常状态时的异常条件和/或待测装置2的待修正结构等信息来执行人工智能算法。人工智能算法可进行运算，以由多笔历史数据中判断出与待测装置2的异常状态关联性较高者，选择其修正后的结构来作为建议修正结构。

因此，测试方法可判断出待测装置2的异常区域后，执行人工智能算法来由智能数据库120中取得建议修正结构。测试方法可有效依据人工智能算法以及智能数据库120来达成待测装置2的电磁测试自动化，在省略以人力调校电路的情况下有效节省电路的设计时间及人力资源。

图2B为本发明实施例一测试方法的示意图。测试方法包含有步骤S22～S24。在步骤S22中，测试系统1可将待测装置2区分为多个第一测试区域，针对各个第一测试区域进行电磁测试，以由第一测试区域中判断出第一选中区域。在步骤S23中，测试系统2可将第一选中区域区分为多个第二测试区域，并针对各个第二测试区域进行电磁测试，以由第二测试区域中判断出第二选中区域作为异常区域。在步骤S24中，测试系统1可执行人工智能算法以依据待测装置2的异常区域查询智能数据库120，以取得建议修正结构。图2B所示出的步骤S22、S24分别相似于图2A所示出的步骤S20、S21，故关于步骤S22、S24的细节请参考上述篇幅，于此不另赘述。

在步骤S22之后，也就是测试系统1将待测装置2以第一间隔区分为多个第一测试区域，且由第一测试区域中判断出第一选中区域之后，在步骤S23中，测试系统可将第一选中区域以第二间隔再区分为多个第二测试区域，再针对各个第二测试区域进行范围较细的电磁测试，以由第二测试区域中判断出第二选中区域作为异常区域。

换言之，通过执行步骤S22、S23，测试系统1可先将待测装置2以较大的第一间隔进行区分并进行电磁测试来判断出第一选中区域之后，再以较小的第二间隔将第一选中区域进行区分并进行电磁测试来判断出第二选中区域，并将第二选中区域判断为异常区域。因此，测试系统1可于步骤S22判断出范围较大的第一选中区域，再针对第一选中区域中进行电磁测试来判断出范围较细的第二选中区域来作为异常区域，故图2B所示出的测试方法可快速地判断出待测装置2的异常区域，有效节省测试系统1在判断异常区域的时间以及运算资源。

举例而言，当电磁测试为电磁干扰测试时，测试系统1可通过执行如图2A所示出的测试方法，通过一阶段的电磁测试即可判断出待测装置2的异常区域。当电磁测试为电磁耐受性测试时，测试系统1可通过执行如图2B所示出的测试方法，通过两阶段的测试方法判断出待测装置2的异常区域，以降低测试系统1执行电磁耐受性测试的测试时间。但是上述关于电磁干扰测试应用于图2A所示出的测试方法，以及电磁耐受性测试应用于图2B所示出的测试方法仅为例示性的说明，本发明所属领域技术人员可知本发明当然不以上述实施方式为限。

图3A为本发明实施例在判断一待测装置2a的第一未选中区域A1及第一选中区域A2的示意图。在本实施例中，电磁测试为电磁干扰测试，待测装置2a被区分为多个相等间隔的第一测试区域。故测试系统1可感测每个第一测试区域。依据测试系统1所测量到待测装置2a所发出的干扰信号强度，第一测试区域可被区分为第一未选中区域A1及第一选中区域A2，并将第一选中区域A2判断为异常区域。第一未选中区域A1可为待测装置2a所发出的干扰信号强度小于预设干扰强度的第一测试区域，第一选中区域A2可为待测装置2a所发出的干扰信号强度大于或等于预设干扰强度的第一测试区域。举例而言，预设干扰强度可为4dB，故第一未选中区域A1所发出的干扰信号强度小于4dB，而第一选中区域A2所发出的干扰信号强度可为大于或等于4dB。另外，测试系统更可进一步依据第二预设干扰强度将第一未选中区域A1再区分为区域A1-1、A1-2、A1-3。举例而言，第二预设干扰强度可为1dB，区域A1-1、A1-2所发出的干扰信号强度可为小于1dB，而区域A1-3所发出的干扰信号强度可为介于1dB及4dB之间。

图3B为本发明实施例一在判断待测装置2b的第一未选中区域A3及第一选中区域A4的示意图。在本实施例中，电磁测试为电磁耐受度测试而待测装置2b可为机壳装置。待测装置2b被区分为多个相等间隔的第一测试区域，且测试系统1可针对每个第一测试区域进行电磁耐受度测试，依据待测装置2b发生异常状态时，所施加于第一测试区域的电磁信号的能量是否大于预设能量，待测装置2b的每个第一测试区域可被区分为第一未选中区域A3及第一选中区域A4，并将第一选中区域A4判断为异常区域。举例而言，第一未选中区域A3的电磁耐受度在承受介于2kV～4kV的电磁信号时，待测装置2b才会发生异常状态，因此符合电磁耐受度的相关规范。第一选中区域A4的电磁耐受度在承受小于2kV的电磁信号时，待测装置2b就会发生异常状态，故第一选中区域A4被测试系统1判断为异常区域。

图3C为本发明实施例在判断一待测装置2c的第一未选中区域A5及第一选中区域A6的示意图，图3D为本发明实施例在判断一待测装置2c的第二未选中区域A7及第二选中区域A8的示意图，图3D为本发明实施例在判断一待测装置2c的第三未选中区域A9及第三选中区域A10的示意图。在本实施例中，电磁测试为电磁耐受度测试。待测装置2c被区分为多个相等间隔(例如为8厘米至5厘米之间的任意间隔距离)的第一测试区域。故测试系统1可针对每个第一测试区域进行电磁耐受度测试，依据待测装置2c发生异常状态时，所施加于第一测试区域的电磁信号的能量是否大于第一预设能量，第一测试区域可区分为第一未选中区域A5及第一选中区域A6。另外，第一未选中区域A5依据所承受的电磁信号强度可再区分为区域A5-1、A5-2、A5-3。举例而言，区域A5-1、A5-2的电磁耐受度在承受介于2.25kV～2.5kV的电磁信号时，待测装置2c会发生异常状态，区域A5-3承受介于2kV～2.25kV的电磁信号时，待测装置2c会发生异常状态，第一选中区域A6承受介于2kV以下的电磁信号时会发生异常状态。

接着，如图3D所示，测试系统1可针对第一选中区域A6进行第二阶段的电磁测试。第一选中区域A6可被区分为多个相等间隔(例如为5厘米至3厘米之间的任意间隔距离)的第二测试区域。依据待测装置2c发生异常状态时，所施加于第二测试区域的电磁信号的能量是否大于第二预设能量的比较结果，每个第二测试区域可被区分为第二未选中区域A7及第二选中区域A8。另外，第二未选中区域A7依据所承受的电磁信号强度可再区分为区域A7-1、A7-2。举例而言，区域A7-1的电磁耐受度在承受介于1.5kV～1.75kV的电磁信号时，待测装置2c会发生异常状态，区域A7-2承受介于1.25kV～1.5kV的电磁信号时，待测装置2c会发生异常状态，第二选中区域A8承受介于1.25kV以下的电磁信号时会发生异常状态。

在一实施例中，测试系统1即可判断第二选中区域A8为异常区域。或者，在另一实施例中，如图3E所示，测试系统1可针对第二选中区域A8进行第三阶段的电磁测试。第二选中区域A8可被区分为多个相等间隔(例如为3厘米至1厘米之间的任意间隔距离)的第三测试区域。依据待测装置2c发生异常状态时，所施加于第三测试区域的电磁信号的能量是否大于第三预设能量的比较结果，每个第三测试区域可被区分为第三未选中区域A9-1、A9-2及第三选中区域A10。举例而言，区域A9-1的电磁耐受度在承受介于0.75kV～1kV的电磁信号时，待测装置2c会发生异常状态，区域A9-2承受介于0.5kV～0.75kV的电磁信号时，待测装置2c会发生异常状态，第三选中区域A10承受介于0.5kV以下的电磁信号时会发生异常状态。在一实施例中，测试系统1可判断第三选中区域A10为异常区域。

图3F为本发明实施例在标记一待测装置2d中的待修正结构L1的示意图。当修正系统1判断出异常区域之后，修正系统1可对应地标记出测试系统1中的待修正结构L1。因此，修正系统1可将待修正结构L1、异常区域、以及异常区域所对应的异常条件提供给运算电路12进行分析，以取得建议修正结构来改善待修正结构L1。

综上所述，本发明测试方法及测试系统可有效依据异常区域进行人工智能算法来取得建议修正结构，因此，除了可将待测装置的测试流程整合为自动化的测试方法之外，更可通过人工智能算法简化待测装置的以人力进行修正的设计流程。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (20)

1.一种测试方法，包括：

将待测装置区分为多个第一测试区域，针对所述待测装置的各所述第一测试区域进行电磁测试，以由所述多个第一测试区域中判断出所述待测装置中包括第一选中区域的至少一异常区域，其中所述第一选中区域为进行所述电磁测试的过程中造成所述待测装置产生异常的区域；以及

依据所述待测装置的所述至少一异常区域的待修正结构以及所述至少一异常区域所对应的异常条件查询智能数据库，其中所述智能数据库记录有多笔历史资料，以由所述多笔历史资料中判断出与所述待测装置发生异常的关联性较高者作为建议修正结构。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述电磁测试包括电磁耐受性测试及电磁干扰性测试的至少其中一者。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述电磁测试为电磁耐受性测试，其中针对各所述第一测试区域依序进行所述电磁测试，以由所述多个第一测试区域中判断出所述第一选中区域以作为所述至少一异常区域的步骤包括：

施加电磁信号于各所述第一测试区域，并依序递增所述电磁信号的能量以于各所述第一测试区域进行多次测试；以及

在监测到所述待测装置发生异常状态时，记录所述待测装置发生异常状态时，施加于各所述第一测试区域的所述电磁信号的能量。

4.根据权利要求3所述的测试方法，还包括：

当所记录的施加于各所述第一测试区域的所述电磁信号的能量小于或等于第一预设能量时，选择对应的各所述第一测试区域为所述第一选中区域，并记录所述电磁信号的能量。

5.根据权利要求3所述的测试方法，其中所述异常状态为所述待测装置发生图像显示异常、网络连线异常及音效播放异常的至少其中一者。

6.根据权利要求4所述的测试方法，其中还包括：

将所述第一选中区域区分为多个第二测试区域，并针对各所述第二测试区域进行所述电磁测试，以由所述多个第二测试区域中判断出第二选中区域以作为第二异常区域。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其中由所述多个第二测试区域中判断出所述第二选中区域的步骤包含：

施加电磁信号于各所述第二测试区域，并依序递增所述电磁信号的能量以于各所述第二测试区域进行多次测试；

在监测到所述待测装置发生异常状态时，记录所述待测装置发生异常状态时，施加于各所述第二测试区域的所述电磁信号的能量；以及

当所记录的施加于各所述第二测试区域的所述电磁信号的能量小于或等于第二预设能量时，选择对应的各所述第二测试区域为所述第二选中区域，并记录所述电磁信号的能量，

其中所述第二预设能量小于所述第一预设能量。

8.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述电磁测试为电磁干扰性测试，针对各所述第一测试区域依序进行所述电磁测试，以由所述多个第一测试区域中判断出所述第一选中区域以作为所述至少一异常区域的步骤包括：

依序测量各所述第一测试区域所发出的干扰强度；以及

在测量到所述干扰强度大于或等于预设干扰强度时，选择对应的各所述第一测试区域为所述第一选中区域。

9.根据权利要求1所述的测试方法，其中依据所述待测装置的所述至少一异常区域的所述待修正结构以及所述至少一异常区域所对应的所述异常条件查询所述智能数据库的步骤还包括：

依据所述至少一异常区域标记出所述待测装置的所述待修正结构；以及

依据所述待修正结构执行人工智能算法以查询所述智能数据库。

10.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述智能数据库包括电路数据库、布局数据库以及机构数据库。

11.一种测试系统，适于针对待测装置进行测试，所述测试系统包括：

测试装置，耦接所述待测装置，所述测试装置用来向所述待测装置进行电磁测试；

主控装置，耦接于所述测试装置，所述主控装置将所述待测装置区分为多个第一测试区域，并控制所述测试装置以针对所述待测装置的各所述第一测试区域进行所述电磁测试，以由所述多个第一测试区域中判断出所述待测装置中包括第一选中区域的至少一异常区域，其中所述第一选中区域为进行所述电磁测试的过程中造成所述待测装置产生异常的区域；以及

运算电路，耦接所述主控装置并存储有智能数据库，其中所述智能数据库记录有多笔历史资料，所述运算电路依据所述待测装置的所述至少一异常区域的待修正结构以及所述至少一异常区域所对应的异常条件查询所述智能数据库，以由所述多笔历史资料中判断出与所述待测装置发生异常的关联性较高者作为建议修正结构。

12.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试装置对所述待测装置进行的所述电磁测试包括电磁耐受性测试及电磁干扰性测试的至少其中一者。

13.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述主控装置控制所述测试装置进行的所述电磁测试为电磁耐受性测试，其中所述主控装置控制所述测试装置以施加电磁信号于各所述第一测试区域，并依序递增所述电磁信号的能量以于各所述第一测试区域进行多次测试；以及于所述主控装置监测到所述待测装置发生异常状态时，所述主控装置记录所述待测装置发生异常状态时，施加于各所述第一测试区域的所述电磁信号的能量。

14.根据权利要求13所述的测试系统，其中当主控装置所记录的施加于各所述第一测试区域的所述电磁信号的能量小于或等于第一预设能量时，所述主控装置还选择对应的各所述第一测试区域为所述第一选中区域，并记录所述电磁信号的能量。

15.根据权利要求13所述的测试系统，其中所述异常状态为所述待测装置发生图像显示异常、网络连线异常及音效播放异常的至少其中一者。

16.根据权利要求14所述的测试系统，其中所述测试系统还将所述第一选中区域区分为多个第二测试区域，所述主控装置控制所述测试装置以针对各所述第二测试区域进行所述电磁测试，并由所述多个第二测试区域中判断出第二选中区域以作为第二异常区域。

17.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述主控装置控制所述测试装置施加电磁信号于各所述第二测试区域，并依序递增所述电磁信号的能量以于各所述第二测试区域进行多次测试；于所述主控装置监测到所述待测装置发生异常状态时，所述主控装置记录所述待测装置发生异常状态时，施加于各所述第二测试区域的所述电磁信号的能量；以及当主控装置所记录的施加于各所述第二测试区域的所述电磁信号的能量小于或等于第二预设能量时，所述主控装置选择对应的各所述第二测试区域为所述第二选中区域，并记录所述电磁信号的能量，

其中所述第二预设能量小于所述第一预设能量。

18.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试装置依序测量各所述第一测试区域所发出的干扰强度；以及于所述测试装置测量到所述干扰强度大于或等于预设干扰强度时，所述主控装置选择对应的各所述第一测试区域为所述第一选中区域。

19.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述主控装置依据所述至少一异常区域标记出所述待测装置的待修正结构；以及所述运算电路依据所述待修正结构执行人工智能算法以查询所述智能数据库。

20.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述智能数据库包括电路数据库、布局数据库以及机构数据库。