CN208477888U - 显示面板和显示装置 - Google Patents

显示面板和显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN208477888U
CN208477888U CN201821174762.3U CN201821174762U CN208477888U CN 208477888 U CN208477888 U CN 208477888U CN 201821174762 U CN201821174762 U CN 201821174762U CN 208477888 U CN208477888 U CN 208477888U
Authority
CN
China
Prior art keywords
sub
viewing area
display panel
display
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201821174762.3U
Other languages
English (en)
Inventor
史正双
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
InfoVision Optoelectronics Kunshan Co Ltd
Original Assignee
InfoVision Optoelectronics Kunshan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by InfoVision Optoelectronics Kunshan Co Ltd filed Critical InfoVision Optoelectronics Kunshan Co Ltd
Priority to CN201821174762.3U priority Critical patent/CN208477888U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN208477888U publication Critical patent/CN208477888U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种显示面板和显示装置,其中,显示面板包括显示区和非显示区,以及设置于所述显示区的多条扫描线和多条数据线,还包括设置于所述非显示区的多个开关和多个扫描测试端子;所述显示区包括至少两个子显示区;其中,每个所述子显示区对应两个所述扫描测试端子,分别为第一测试端子和第二测试端子;所述子显示区的每条奇数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第一测试端子连接,以及每条偶数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第二测试端子连接。本实用新型提供的技术方案,可以在对显示面板检测过程中,方便地检测出显示区的薄膜晶体管漏电异常的问题。

Description

显示面板和显示装置
技术领域
本实用新型实施例涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板和显示装置。
背景技术
显示器具有广泛的应用。在制造过程中,需要对形成显示器的显示面板进行画质和异常检测(Test),即Cell Test。
目前主要的检测方法为快速(Quick)点灯检测。Quick方法主要是在液晶面板的非显示区的一端设计薄膜晶体管(Thin-film transistor,TFT),每个TFT的第一极分别与液晶面板内的扫描线或数据线电连接,TFT的第二极和栅极电连接测试信号线,每一条测试信号线电连接一测试端子。参考图1,图1是现有技术一种显示面板的结构示意图。该显示面板包括显示区100和非显示区200,多条扫描线700和多条数据线800,多条扫描线700和多条数据线800限定出多个子像素900。以及设置于非显示区200的控制测试端子300、奇数行测试端子400和偶数行测试端子500,一条奇数行扫描线通过一第一薄膜晶体管与奇数行测试端子连接,以及一条偶数行扫描线通过一第一薄膜晶体管与偶数行测试端子连接,可以通过向奇数行测试端子和偶数行测试端子施加驱动信号,控制所有奇偶行的子像素900同时充放电。每个子像素通过第二薄膜晶体管连接至对应的数据线和扫描线,第二薄膜晶体管的栅极连接扫描线,第二薄膜晶体管的第一极连接数据线,第二薄膜晶体管的第二极连接子像素内的子像素电极。但是这种检测方法,如果第二晶体管漏电异常,则无法检测出来。
实用新型内容
本实用新型提供一种显示面板和显示装置,以实现方便地检测出薄膜晶体管漏电异常的问题。
第一方面,本实用新型实施例提供了一种显示面板,包括显示区和非显示区,以及设置于所述显示区的多条扫描线和多条数据线,该显示面板还包括设置于所述非显示区的多个开关和多个扫描测试端子;所述显示区包括至少两个子显示区;
其中,每个所述子显示区对应两个所述扫描测试端子,分别为第一测试端子和第二测试端子;所述子显示区的每条奇数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第一测试端子连接,以及每条偶数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第二测试端子连接。
进一步地,各所述子显示区内的扫描线的条数相等。
进一步地,所述显示区包括两个子显示区。
进一步地,所述两个子显示区分别为上半部显示区和下半部显示区。
进一步地,所述开关包括第一端、第二端和控制端;所述显示面板还包括设置于所述非显示区的控制信号端子;
各所述开关的控制端均与所述控制信号端子连接。
进一步地,所述开关采用第一晶体管,所述第一晶体管的第一极作为所述第一端,所述第一晶体管的第二极作为所述第二端,所述第一晶体管的栅极作为所述控制端。
进一步地,所述第一晶体管为P型晶体管或者所述第一晶体管为N型晶体管。
进一步地,所述显示面板还包括设置于所述非显示区的多个数据测试端子;
所述数据线与对应的所述数据测试端子连接。
第二方面,本实用新型实施例还提供了一种显示装置,该显示装置包括本实用新型任意实施例提供的显示面板。
本实用新型的显示区包括至少两个子显示区,每个子显示区对应一第一测试端子和一第二测试端子,可以实现对各子显示区的单独扫描控制,可以方便地检测出各子显示区的开关晶体管是否存在漏电的情况,实现显示面板的可靠检测。
附图说明
图1是现有技术中的一种显示面板的结构示意图;
图2是本实用新型实施例提供的一种显示面板的结构示意图;
图3是本实用新型实施例提供的另一种显示面板的结构示意图;
图4是本实用新型实施例提供的测试阶段显示面板显示的一种示意图;
图5是本实用新型实施例提供的测试阶段显示面板显示的另一种示意图;
图6是本实用新型实施例提供的一种显示装置的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型,而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
图2为本实用新型实施例提供的一种显示面板的结构示意图,请参考图2,该显示面板包括显示区11和非显示区12,以及设置于显示区11的多条扫描线13和多条数据线14,多条扫描线13和多条数据线14限定出多个子像素15。该显示面板还包括设置于非显示区12的多个开关103和多个扫描测试端子;显示区11包括至少两个子显示区;示例性地图2中所示的显示面板的显示区11包括三个子显示区,分别为第一子显示区111、第二子显示区112和第三子显示区113。
其中,每个子显示区对应两个扫描测试端子,分别为第一测试端子和第二测试端子;对于任一子显示区,每条奇数条扫描线13通过一开关103与该子显示区对应的第一测试端子连接,以及每条偶数条扫描线13通过一开关103与该子显示区对应的第二测试端子连接。例如第一子显示区111对应第一测试端子101和第二测试端子102,第一子显示区111内的每条奇数条扫描线13通过一开关103连接第一测试端子101,第一子显示区111内的每条偶数条扫描线13通过一开关103连接至第二测试端子102。第二子显示区112对应第一测试端子201和第二测试端子202,第二子显示区112内的每条奇数条扫描线13通过一开关103连接第一测试端子201,第二子显示区112内的每条偶数条扫描线13通过一开关103连接至第二测试端子202。
显示区包括若干个子显示区,可以通过各子显示区对应的第一测试端子和第二测试端子对该子显示区进行独立充电控制。例如当对第一子显示区11进行检测时,控制各开关103打开,向第一子显示区111对应的第一测试端101和第二测试端子102加载驱动信号。具体可以通过外部的测试设备提供驱动信号,通过外部设备的探针接触第一测试信号端子101和第二测试信号端子102,外部设备输出的驱动信号加载至第一测试端子101和第二测试端子102。具体地,可以在第一阶段,向第一子显示区111对应的第一测试端子101和第二测试端子102加载驱动信号,而其他子显示区对应的第一测试端子和第二测试端子不加载驱动信号。第一子显示区111内的子像素15打开,也就是子像素15内的开关晶体管打开,通过向数据线14提供第一数据信号电压,第一数据信号对应暗态画面,例如对应黑画面,数据线上的第一数据信号电压通过子像素15内打开的开关晶体管写入子像素15的子像素电极,则第一子显示区111内的子像素15显示黑画面。在第二阶段,停止向第一子显示区111内的第一测试端子101和第二测试端子102施加驱动信号,向其他子显示区对应的第一测试端子和第二测试端子加载驱动信号,通过向数据线14提供第二数据信号电压,第二数据信号电压对亮态画面,例如对应白画面,数据线14上的第二数据信号电压通过子像素15内打开的开关晶体管写入子像素15的子像素电极,则除第一子显示区111外,其他子显示区显示白画面。如果第一子显示区内的开关晶体管漏电,例如开关晶体管的源极和漏极短路时,数据线14上的第二数据信号将会通过漏电的开关晶体管写入第一子显示区111内的子像素15,第一子显示区111会出现辉点,可以检测到第一子显示区内的开关晶体管是否漏电异常。对其他子显示区的检测情况,与第一子显示区的检测情况类似,这里不再赘述。
各子显示区内的扫描线的条数可以相等也可以不等,可以根据具体的显示面板进行设计,可选地,各子显示区内的扫描线13的条数相等,由于是通过测试端子向各子显示区内的扫描线13充电,如果各子显示区内的扫描线13的条数相等,这样不同的测试端子驱动的扫描线13的负载均衡,不会出现测试端子驱动的扫描线13负载过大,而不能打开子像素的问题,提高显示面板检测的可靠性。
在本实用新型实施例中,子显示区的个数可以根据具体的面板进行划分设计,而设置的子显示区的个数越多,相应的,测试端子的个数也较多。可选地,图3是本实用新型实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。请参考图3,该显示面板的显示区包括两个子显示区。设置两个子显示区,一方面,可以检测出显示区的开关晶体管是否漏电的情况。另一方面,也可以节省测试端子的数量,降低成本,显示面板的边框也易做窄。
继续参考图3,两个子显示区分别为上半部显示区和下半部显示区。即第一子显示区111为上半部显示区,第二子显示区112为下半部显示区。
在本实施例中,开关103包括第一端、第二端和控制端;显示面板还包括设置于非显示区的控制信号端子100;各开关的控制端均与控制信号端子100连接。
可选地,请继续参考图3,图3是本实用新型实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。可以看到,开关采用第一晶体管1031,第一晶体管1031的第一极作为开关的第一端,第一晶体管1031的第二极作为开关的第二端,第一晶体管1031的栅极作为开关控制端。
其中,第一晶体管1031为P型晶体管或者第一晶体管1031为N型晶体管。图3中还示出了第一列像素的开关晶体管151,本领域技术人员可以理解,在其他列像素中同样设置有开关晶体管151。开关晶体管的151的栅极连接扫描线13开关晶体管的151的第一极连接数据线14,第二极连接像素15的像素电极。开关晶体管151的第一极为源极,第二极为漏极;或者开关晶体管151的第一极为漏极,第二极为源极。
图4是本实用新型实施例提供的测试阶段显示面板显示的一种示意图,图5是本实用新型实施例提供的测试阶段显示面板显示的另一种示意图。请参考图3、图4和图5,在测试阶段,向控制信号端子100加载控制信号控制各第一晶体管1031导通,在测试的一帧的前半帧,向第一子显示区111对应的第一测试端子101和第二测试端子102加载驱动信号,第二子显示区112对应的第一测试端子201和第二测试端子202不加载驱动信号。第一子显示区111内的子像素15打开,也就是子像素15内的开关晶体管151打开,通过向数据线14提供第一数据信号电压,第一数据信号电压为暗态电压,数据线14上的第一数据信号电压通过子像素内打开的开关晶体管151写入子像素的像素电极,则第一子显示区111内的子像素15显示暗态画面。在测试的一帧的后半帧,停止向第一子显示区111内的第一测试端子101和第二测试端子102施加驱动信号,向第二子显示区112对应的第一测试端子201和第二测试端子202加载驱动信号,通过向数据线14提供第二数据信号电压,第二数据信号电压为亮态电压,数据线14上的第二数据信号电压通过子像素内打开的开关晶体管11写入子像素的子像素电极,则除第一子显示区111外,其他子显示区显示亮态画面。如果第一子显示区111内的开关晶体管151漏电,例如开关晶体管151的源极和漏极短路时,数据线14上的第二数据信号将会通过漏电的151写入第一子显示区111内的子像素15,第一子显示区111会出现辉点,可以检测到第一子显示区111内的开关晶体管151是否漏电异常。如图5所示,第一子显示区111的第一区域107和第二区域108内的子像素15的开关晶体管151出现了源极和漏极短路情况,第一区域107和第二区域108内的子像素呈现亮态,从整个画面上看,会看到辉点。如此,可以检测出显示面板上的开关晶体管是否出现漏电的情况。对第二子显示区112进行检测时,可以在测试的一帧的前半帧向第二子显示区112的像素显示暗态,在测试一帧的后半帧控制第一子显示区111的像素显示亮态。检测过程类似于对第一子显示区111的检测过程。
本实用新型实施例提供的显示面板,还包括设置于非显示区的多个数据测试端子;
数据线与对应的数据测试端子连接。在测试过程,可通过向数据测试端子加载数据信号电压,使打开的子像素进行显示。例如,可以设置两个数据测试端子,奇数条数据线连接一数据测试端子,偶数条数据线连接另一数据测试端子。子像素一般包括红色子像素、蓝色子像素和绿色子像素。
本实用新型实施例还提供一种显示装置,请参考图6,图6是本实用新型实施例提供的一种显示装置的示意图。该显示装置60包括本实用新型任意实施例提供的显示面板10。该显示装置60可以是液晶显示装置或者OLED显示装置。
注意,上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本实用新型不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明,但是本实用新型不仅仅限于以上实施例,在不脱离本实用新型构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (9)

1.一种显示面板,包括显示区和非显示区,以及设置于所述显示区的多条扫描线和多条数据线,其特征在于,还包括设置于所述非显示区的多个开关和多个扫描测试端子;所述显示区包括至少两个子显示区;
其中,每个所述子显示区对应两个所述扫描测试端子,分别为第一测试端子和第二测试端子;所述子显示的每条奇数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第一测试端子连接,以及每条偶数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第二测试端子连接。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,各所述子显示区内的所述扫描线的条数相等。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述显示区包括两个子显示区。
4.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,两个所述子显示区分别为上半部显示区和下半部显示区。
5.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述开关包括第一端、第二端和控制端;所述显示面板还包括设置于所述非显示区的控制信号端子;
各所述开关的所述控制端均与所述控制信号端子连接。
6.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述开关采用第一晶体管,所述第一晶体管的第一极作为所述第一端,所述第一晶体管的第二极作为所述第二端,所述第一晶体管的栅极作为所述控制端。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第一晶体管为P型晶体管或者所述第一晶体管为N型晶体管。
8.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,还包括设置于所述非显示区的多个数据测试端子;
所述数据线与对应的所述数据测试端子连接。
9.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-8任一项所述的显示面板。
CN201821174762.3U 2018-07-24 2018-07-24 显示面板和显示装置 Active CN208477888U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201821174762.3U CN208477888U (zh) 2018-07-24 2018-07-24 显示面板和显示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201821174762.3U CN208477888U (zh) 2018-07-24 2018-07-24 显示面板和显示装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN208477888U true CN208477888U (zh) 2019-02-05

Family

ID=65208015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201821174762.3U Active CN208477888U (zh) 2018-07-24 2018-07-24 显示面板和显示装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN208477888U (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110867139A (zh) * 2019-11-28 2020-03-06 上海中航光电子有限公司 一种阵列基板、显示面板及显示装置
CN112967643A (zh) * 2020-01-15 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 Led显示面板的测试电路
CN113448114A (zh) * 2021-06-28 2021-09-28 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及显示装置
CN113487970A (zh) * 2021-07-21 2021-10-08 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、移动终端

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110867139A (zh) * 2019-11-28 2020-03-06 上海中航光电子有限公司 一种阵列基板、显示面板及显示装置
CN110867139B (zh) * 2019-11-28 2022-04-15 上海中航光电子有限公司 一种阵列基板、显示面板及显示装置
CN112967643A (zh) * 2020-01-15 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 Led显示面板的测试电路
CN113448114A (zh) * 2021-06-28 2021-09-28 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及显示装置
CN113448114B (zh) * 2021-06-28 2022-11-18 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及显示装置
CN113487970A (zh) * 2021-07-21 2021-10-08 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、移动终端

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN208477888U (zh) 显示面板和显示装置
CN105093593B (zh) 显示基板及其测试方法、显示装置
US11922838B2 (en) Display panel and crack detection method therefor, and display device
CN103137050B (zh) 线路和分用器的缺陷检测方法、缺陷检测装置和显示面板
CN110503907A (zh) 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
US9514665B2 (en) Testing device, and testing method for the line and one sheet using the testing device
CN105632383B (zh) 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置
CN109559668A (zh) 一种显示面板及其检测方法、显示装置
CN102110400B (zh) 双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法
US11361690B2 (en) Display substrate and method for detecting the same, and display device
CN103995407A (zh) 阵列基板和显示面板
CN110136618A (zh) 一种显示面板检测电路、显示装置和显示面板检测方法
CN103309065B (zh) 显示面板的测试线路及其测试方法
CN104616612B (zh) Amoled显示器、其测试组件及其缺陷测试方法
CN106128342B (zh) 阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法
CN109559667A (zh) 一种阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置
CN109859672A (zh) 显示面板组件、显示装置以及显示面板组件的驱动方法
KR20080070169A (ko) 표시 장치
CN108806567A (zh) 显示面板及其检测方法和检测模块、显示装置
CN105759521A (zh) 用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路
CN105739768A (zh) 一种触控显示面板和一种触控显示设备
CN110264931A (zh) 像素电路中晶体管的阈值电压漂移的检测方法及检测装置
CN107219438B (zh) 显示面板及其测试方法、显示装置
CN109859664A (zh) Oled驱动背板的数据线检测方法及相关装置
CN109872667A (zh) 信号检测系统及显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP01 Change in the name or title of a patent holder
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 215301 No. 1, Longteng Road, Kunshan Development Zone, Jiangsu, Suzhou

Patentee after: InfoVision Optoelectronics(Kunshan)Co.,Ltd.

Address before: 215301 No. 1, Longteng Road, Kunshan Development Zone, Jiangsu, Suzhou

Patentee before: INFOVISION OPTOELECTRONICS (KUNSHAN) Co.,Ltd.