CN109859664A - Oled驱动背板的数据线检测方法及相关装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种OLED驱动背板的数据线检测方法及相关装置，当第一数据线和第二数据线未发生异常时，在检测阶段能够检测出与第一数据线或第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压均正常；当第一数据线和第二数据线发生异常如发生短路时，由于第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，因此在检测阶段可以检测出与第一数据线或第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压从正常时的电压变为异常时的电压，如从强正电压变为负电压，则在显示图像时，图像的亮度从高亮变为低亮，因此像素电极的电压在正常与异常时显示图像的亮度差异较明显，对比度提升，从而提高数据线检测的精度。

Description

OLED驱动背板的数据线检测方法及相关装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种OLED驱动背板的数据线检测方法及相关装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)是当今平板显示器研究领域的热点之一，与液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)相比，OLED显示器具有低能耗、自发光、宽视角及响应速度快等优点。目前，在手机、平板电脑、数码相机等显示领域，OLED显示器已经开始取代传统的LCD显示器。与LCD利用稳定的电压控制亮度不同，OLED属于电流驱动，需要稳定的电流来控制其发光。一般OLED显示器通过其像素中的像素电路的驱动晶体管来驱动OLED发光。

OLED中采用数据线给像素电路输入数据电压，每一列像素电路与同一数据线电连接，为了提高OLE的透过率和开口率，目前将相邻两列像素电路分别电连接的两条数据线设置成位于相邻两列像素电路之间的间隙处，但是由于相邻两列像素电路之间的间隙比较窄，位于同一间隙处的两条数据线容易发生短路，因此在数据线制作完成后就需要检测同一间隙处的数据线之间是否发生异常，即Data-Data Short检测。

目前，在现有的检测方法中，由于像素电路中信号线较多，如Data信号、VDD信号、SENSE信号等，line charging太强导致Data-Data Short的检出信号微弱，难以检测。

发明内容

本发明实施例提供一种OLED驱动背板的数据线检测方法、OLED驱动背板及显示装置，用以提高Data-Data Short的检出信号强度，提高数据线的检测精度。

因此，本发明实施例提供了一种OLED驱动背板的数据线检测方法，包括：

像素充电阶段，向所述OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载扫描信号，分别向位于所述像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的所述像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线加载第一数据信号和第二数据信号，分别向全部所述像素驱动电路加载参考信号和检测信号，以对所述OLED驱动背板中全部所述像素驱动电路的像素电极进行充电；其中，所述第一数据信号和所述第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，所述参考信号和所述检测信号的电位相反且差值的绝对值大于第二预设值；

检测阶段，对全部所述像素驱动电路加载截止扫描信号，检测全部所述像素电极的电压，根据所述像素电极的电压检测结果确定位于所述像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线之间是否发生异常。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在所述像素充电阶段之前，还包括：

信号重置阶段，向所述OLED驱动背板的全部所述像素驱动电路加载截止扫描信号，向所述第一数据线加载与所述第一数据信号的电位相反、数值相同的信号，向所述第二数据线加载与所述第二数据信号的电位相反、数值相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述参考信号电位相反、数值相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述检测信号相同的信号，以对全部所述像素驱动电路以及全部所述像素电极进行信号重置。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在所述信号重置阶段之后，在所述像素充电阶段之前，还包括：

像素预充电阶段，向所述OLED驱动背板的全部所述像素驱动电路加载截止扫描信号，向所述第一数据线加载与所述第一数据信号相同的信号，向所述第二数据线加载与所述第二数据信号相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述参考信号相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述检测信号相同的信号，以对全部所述像素电极进行预充电。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，所述检测阶段，具体为：

通过检测探头感应读取全部所述像素电极的电压；

所述检测探头将读取的电压输入至与所述检测探头电连接的显示器内，所述显示器根据接收的电压进行显示图像；

根据所述显示图像的亮度来判断所述OLED驱动背板中位于所述像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线是否发生异常。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若所述显示图像的亮度均匀，则所述OLED驱动背板中位于所述像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线均正常。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若所述显示图像中对应的某一列像素的显示图像的亮度变强或变弱，则所述OLED驱动背板中与所述某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线发生短路。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若所述显示图像中对应的某一列像素的显示图像仅部分点亮，则所述OLED驱动背板中与所述某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线发生断路。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若所述显示图像中对应的某一列像素的显示图像一部分亮度变强或变弱、另一部分未点亮，则所述OLED驱动背板中与所述某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线同时发生短路和断路。

可选地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，所述亚像素单元包括红色亚像素单元、绿色亚像素单元、蓝色亚像素单元和白色亚像素单元，所述红色亚像素单元和所述白色亚像素单元的间隙处以及所述绿色亚像素单元和所述蓝色亚像素单元的间隙处均设置第一数据线和第二数据线；

通过对应的所述第一数据线向所述红色亚像素单元输入第一数据信号，通过对应的所述第二数据线向所述白色亚像素单元输入第二数据信号，通过对应的所述第一数据线向所述绿色亚像素单元输入第一数据信号，通过对应的所述第二数据线向所述蓝色亚像素单元输入第二数据信号。

相应地，本发明实施例还提供了一种OLED驱动背板，包括多个像素驱动电路，以及位于所述像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的所述像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线，所述OLED驱动背板采用本发明实施例提供的上述检测方法检测所述第一数据线和第二数据线之间是否发生异常；

所述像素驱动电路包括：驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管和存储电容；其中，

所述第一晶体管的栅极与所述第一扫描信号端相连，第一极与第一数据信号端或第二数据信号端相连，第二极与所述驱动晶体管的栅极相连；

所述第二晶体管的栅极与所述第二扫描信号端相连，第一极与所述检测信号端相连，第二极与所述像素电极相连；

所述驱动晶体管的第一极与所述参考电压端相连，第二极与所述像素电极相连；

所述存储电容连接于所述驱动晶体管的栅极和第二极之间。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括：本发明实施例提供的上述OLED驱动背板。

本发明有益效果如下：

本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法、OLED驱动背板及显示装置，该OLED驱动背板的数据线检测方法通过在像素充电阶段，向OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载扫描信号，分别向位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线加载第一数据信号和第二数据信号，分别向全部像素驱动电路加载参考信号和检测信号，以对OLED驱动背板中全部像素驱动电路的像素电极进行充电；其中，第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，参考信号和检测信号的电位相反且差值的绝对值大于第二预设值。这样当同一间隙处的第一数据线和第二数据线未发生异常时，在检测阶段能够检测出与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压以及与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压均正常；当同一间隙处的第一数据线和第二数据线发生异常如发生短路时，由于第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，因此在检测阶段通过检测像素电极的电压，可以检测出与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压或与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压会从正常时的电压变为异常时的电压如从强正电压变为负电压，则采用像素电极的正常电压和异常电压进行显示图像时，显示图像的亮度从高亮变为低亮，因此像素电极的电压在正常与异常时显示图像的亮度差异较明显，对比度提升，从而提高数据线检测的精度。

附图说明

图1为本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法的流程图之一；

图2为本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法的流程图之二；

图3为本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法的流程图之三；

图4为本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法的流程图之四；

图5为本发明实施例提供的OLED驱动背板中像素驱动电路的结构示意图；

图6为采用图5所示的像素驱动电路对本发明实施例提供的OLED驱动背板中的数据线进行检测的时序图；

图7为本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法的检测效果图。

具体实施方式

为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法、OLED驱动背板及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法，如图1所示，具体可以包括如下步骤：

S101、像素充电阶段，向OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载扫描信号，分别向位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线加载第一数据信号和第二数据信号，分别向全部像素驱动电路加载参考信号和检测信号，以对OLED驱动背板中全部像素驱动电路的像素电极进行充电；其中，第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，参考信号和检测信号的电位相反且差值的绝对值大于第二预设值；

S102、检测阶段，对全部像素驱动电路加载截止扫描信号，检测全部像素电极的电压，根据像素电极的电压检测结果确定位于像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线之间是否发生异常。

本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法，通过在像素充电阶段，向OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载扫描信号，分别向位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线加载第一数据信号和第二数据信号，分别向全部像素驱动电路加载参考信号和检测信号，以对OLED驱动背板中全部像素驱动电路的像素电极进行充电；其中，第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，参考信号和检测信号的电位相反且差值的绝对值大于第二预设值。这样当同一间隙处的第一数据线和第二数据线未发生异常时，在检测阶段能够检测出与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压以及与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压均正常；当同一间隙处的第一数据线和第二数据线发生异常如发生短路时，由于第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，因此在检测阶段通过检测像素电极的电压，可以检测出与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压或与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压会从正常时的电压变为异常时的电压如从强正电压变为负电压，则采用像素电极的正常电压和异常电压进行显示图像时，显示图像的亮度从高亮变为低亮，因此像素电极的电压在正常与异常时显示图像的亮度差异较明显，对比度提升，从而提高数据线检测的精度。

需要说明的是，上述所说的第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，其中电位相反是指第一数据信号的电位为正，第二数据信号的电位为负，或者第一数据信号的电位为负，第二数据信号的电位为正；差值的绝对值大于第一预设值是指假设第一数据信号为5V(高电位)，第二数据信号为-25V(强负电位)，当第一数据线和第二数据线发生短路时，第二数据信号的强负电位信号会将第一数据信号的高电位信号拉低为强负电位信号，或者假设第一数据信号为-5V(低电位)，第二数据信号为25V(强高电位)，当第一数据线和第二数据线发生短路时，第二数据信号的强高电位信号会将第一数据信号的低电位信号拉高为强高电位信号。参考信号和检测信号的电位相反且差值的绝对值大于第二预设值，其中电位相反是指参考信号的电位为正，检测信号的电位为负，或者参考信号的电位为负，检测信号的电位为正；差值的绝对值大于第二预设值是指假设参考信号为5V(高电位)，检测信号为-25V(强负电位)，或者参考信号为-5V(低电位)，检测信号为25V(强高电位)。上述说明中所举的第一数据信号和第二数据信号的电位值、参考信号和检测信号的电位值只是为了说明第一数据信号和第二数据信号的电位差值的绝对值相差很大，参考信号和检测信号的电位差值的绝对值相差很大，具体实施时，根据实际需要进行设置第一数据信号和第二数据信号的电位大小，以及参考信号和检测信号的电位大小。

进一步地，在具体实施时，为了消除前一帧的信号残留，在本发明实施例提供的上述检测方法中，如图2所示，在像素充电阶段之前，还包括：

S101’、信号重置阶段，向OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载截止扫描信号，向第一数据线加载与第一数据信号的电位相反、数值相同的信号，向第二数据线加载与第二数据信号的电位相反、数值相同的信号，向全部像素驱动电路加载与参考信号电位相反、数值相同的信号，向全部像素驱动电路加载与检测信号相同的信号，以对全部像素驱动电路以及全部像素电极进行信号重置。

进一步地，在具体实施时，为了防止在像素充电阶段充电不足而导致电压降(IRDrop)，因此为了减少IR Drop，在本发明实施例提供的上述检测方法中，如图3所示，在信号重置阶段之后，在像素充电阶段之前，还包括：

S101”、像素预充电阶段，向OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载截止扫描信号，向第一数据线加载与第一数据信号相同的信号，向第二数据线加载与第二数据信号相同的信号，向全部像素驱动电路加载与参考信号相同的信号，向全部像素驱动电路加载与检测信号相同的信号，以对全部像素电极进行预充电。

进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，如图4所示，检测阶段，具体可以包括：

S102’、通过检测探头感应读取全部像素电极的电压；

S102”、检测探头将读取的电压输入至与检测探头电连接的显示器内，显示器根据接收的电压进行显示图像；

S102”’、根据显示图像的亮度来判断OLED驱动背板中位于像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线是否发生异常。

进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若显示图像的亮度均匀，则OLED驱动背板中位于像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线均正常。

进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若显示图像中对应的某一列像素的显示图像的亮度变强或变弱，则OLED驱动背板中与某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线发生短路。

进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若显示图像中对应的某一列像素的显示图像仅部分点亮，则OLED驱动背板中与某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线发生断路。

进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，若显示图像中对应的某一列像素的显示图像一部分亮度变强或变弱、另一部分未点亮，则OLED驱动背板中与某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线同时发生短路和断路。

进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，亚像素单元包括红色亚像素单元、绿色亚像素单元、蓝色亚像素单元和白色亚像素单元，红色亚像素单元和白色亚像素单元的间隙处以及绿色亚像素单元和蓝色亚像素单元的间隙处均设置第一数据线和第二数据线；

通过对应的第一数据线向红色亚像素单元输入第一数据信号，通过对应的第二数据线向白色亚像素单元输入第二数据信号，通过对应的第一数据线向绿色亚像素单元输入第一数据信号，通过对应的第二数据线向蓝色亚像素单元输入第二数据信号。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种OLED驱动背板，包括多个像素驱动电路，以及位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线，OLED驱动背板采用本发明实施例提供的上述检测方法检测第一数据线和第二数据线之间是否发生异常；

如图5所示，像素驱动电路包括：驱动晶体管T0、第一晶体管T1、第二晶体管T2和存储电容C；其中，

第一晶体管T1的栅极与第一扫描信号端G1相连，第一极与第一数据信号端D1或第二数据信号端D2相连，第二极与驱动晶体管T0的栅极相连；

第二晶体管T2的栅极与第二扫描信号端G2相连，第一极与检测信号端Sense相连，第二极与像素电极P相连；

驱动晶体管T0的第一极与参考电压端Vdd相连，第二极与像素电极P相连；

存储电容C连接于驱动晶体管T0的栅极和第二极之间。

在具体实施时，如图5所示，为了防止驱动晶体管T0的有源层被光照而破坏其性能，OLED驱动背板还包括用于遮挡驱动晶体管T0的有源层的遮光部10。

在具体实施时，如图5所示，驱动晶体管T0可以为N型晶体管，当然，驱动晶体管也可以为P型晶体管。在实际应用中，驱动晶体管的类型需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，如图5所示，驱动晶体管T0为N型晶体管，第一晶体管T1和第二晶体管T2均为N型晶体管。这样可以统一制备工艺，简化制备工艺流程。或者，驱动晶体管T0为P型晶体管，第一晶体管T1和第二晶体管T2均为P型晶体管。在实际应用中，第一晶体管T1和第二晶体管T2的类型需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，P型晶体管在高电平作用下截止，在低电平作用下导通；N型晶体管在高电平作用下导通，在低电平作用下截止。

需要说明的是，上述各晶体管可以是薄膜晶体管(TFT，Thin Film Transistor)，也可以是金属氧化物半导体场效应管(MOS，Metal Oxide Scmiconductor)，在此不作限定。在具体实施时，这些晶体管的控制极为其栅极，并根据晶体管的类型以及输入的信号的不同，可以将第一极作为晶体管的源极或漏极，以及将第二极作为晶体管的漏极或源极。

需要说明的是，由于位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线之间的距离较近，第一数据线和第二数据线之间很容易发生短路，因此本发明主要是对第一数据线和第二数据线之间发生短路时的检测方法进行详细介绍。

下面结合图5所示的像素驱动电路的具体结构对上述OLED驱动背板中位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线之间是否发生异常进行说明。下述描述中以1表示高电平，1+表示强高电平，0表示低电平，0-表示强低电平。需要说明的是，1、1+、0和0-是逻辑电平，其仅是为了更好的解释本发明实施例的具体工作过程，而不是在具体实施时施加在各晶体管的栅极上的电压。

向图5所示的像素驱动电路的各信号端对应输入图6所示的信号，图6中主要包括：信号重置阶段T1、像素预充电阶段T2、像素充电阶段T3以及检测阶段T4。

在信号重置阶段T1：第一数据线电连接的像素驱动电路中G1＝0、G2＝0、D1＝0、Vdd＝1+，Sense＝0；第二数据线电连接的像素驱动电路中G1＝0、G2＝0、D2＝1+、Vdd＝1+，Sense＝0，因此，第一扫描信号端G1与第二扫描信号端G2输入的分别是截止扫描信号，第一晶体管T1、第二晶体管T2和驱动晶体管T0均截止，像素驱动电路中的电容C进行放电，以对全部像素驱动电路以及全部像素电极进行信号重置，防止前一帧各信号端信号的残留。

在像素预充电阶段T2：第一数据线电连接的像素驱动电路中G1＝0、G2＝0、D1＝1、Vdd＝1+，Sense＝0；第二数据线电连接的像素驱动电路中G1＝0、G2＝0、D2＝0-、Vdd＝1+，Sense＝0，对像素驱动电路的像素电极进行预充电，以防止在像素充电阶段产生电压降。

在像素充电阶段T3：第一数据线电连接的像素驱动电路中G1＝1、G2＝1、D1＝1、Vdd＝1+，Sense＝0；第二数据线电连接的像素驱动电路中G1＝1、G2＝1、D2＝0-、Vdd＝1+，Sense＝0。具体地，在T3阶段，由于G1＝1，G2＝1，因此第一晶体管T1和第二晶体管T2均导通，对于驱动晶体管T0，栅极电压Vg＝VD1，源极电压Vs＝VSense，漏极电压Vd＝Vdd。若Vgs或Vgd>Vth，驱动晶体管T0导通。设Vth＝0V。

下面通过在像素充电阶段T3的各信号端的信号分析第一数据线和第二数据线正常和发生短路时像素电极的电压情况：

(1)Normal状态，即第一数据线和第二数据线未发生异常如未发生短路时：

与第一数据线电连接的像素驱动电路中，驱动晶体管T0的栅极电压Vg＝VD1，由于D1＝1，则Vg为高电位，又Sense＝0，驱动晶体管T0的源极电压Vs＝VSense，则Vs为低电位，因此Vgs-Vth＝Vg-Vs＞0，驱动晶体管T0导通，由于Vdd＝1+为强正电压，因此与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压VP＝Vdd，即与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压为强正电压。

与第二数据线电连接的像素驱动电路中，驱动晶体管T0的栅极电压Vg＝VD2，由于D2＝0-，则Vg为强低电位如-25V，又Sense＝0为低电位如-5V，驱动晶体管T0的源极电压Vs＝VSense，则Vs为低电位，因此Vgs-Vth＝Vg-Vs＜0，驱动晶体管T0截止，因此与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压VP＝VSense，即与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压为负电压。

因此，在Normal状态，即第一数据线和第二数据线未发生异常如未发生短路时，与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压为强正电压，与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压为负电压。

(2)DDS Short状态，即第一数据线和第二数据线发生短路时：

由于第一数据线上的第一数据信号为D1＝1为高电位信号，第二数据线上的第二数据信号为D2＝0-为强低电位信号，因此高电位的D1信号被强低电位的D2信号拉低，即D1＝0-，即发生短路后D1由高电位信号变为强低电位信号，因此驱动晶体管T0截止，因此与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压VP＝VSense，即与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压为负电压。

在检测阶段T4：第一数据线电连接的像素驱动电路中G1＝0、G2＝0、D1＝1、Vdd＝1+，Sense＝0；第二数据线电连接的像素驱动电路中G1＝0、G2＝0、D2＝0-、Vdd＝1+，Sense＝0。因此第一晶体管T1和第二晶体管T2均截止，进行检测与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压以及与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压。根据在像素充电阶段T3的分析可以知道，与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极P的电压由强正电压变成负电压。正常时像素电极P的强正电压显示图像的亮度为高亮，短路时像素电极P的负电压显示图像的亮度为低亮，因此显示图像的亮度由高亮变成低亮，如图7所示，图7为发生短路时检测的效果图，可以看出图像的对比度明显提升，从而可以提高数据线的检测精度。

具体实施时，在像素充电阶段，本发明实施例中是以第一数据信号为高电位信号、第二数据信号为强负电位信号、参考信号为强高电位信号、检测信号为低电位信号为例进行说明的，当然，具体实施时，还可以以第一数据信号为低电位信号、第二数据信号为强高电位信号、参考信号为低电位信号、检测信号为强高电位信号为例，只要第一数据信号和第二数据信号电位相反、差值的绝对值大于第一预设值，参考信号和检测信号电位相反、差值的绝对值大于第二预设值，均属于本发明的保护范围，在此不做一一原理说明。

综上所述，本发明通过给位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线输入电位相反且差值的绝对值大于第一预设值的信号，通过给参考电压端和检测信号端输入电位相反且差值的绝对值大于第二预设值的信号，这样在第一数据线和第二数据线发生短路时，可以检测到与第一数据线或第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压发生反转，如从正常的强正电压变为短路时的负电压，或从正常的正电压变为短路时的强负电压，等等，这样可以检测出图像亮度的对比度明显提升，从而可以提高数据线的检测精度。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述OLED驱动背板。该显示装置解决问题的原理与前述OLED驱动背板相似，因此该显示装置的实施可以参见前述OLED驱动背板的实施，重复之处在此不再赘述。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置，可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。

本发明实施例提供的OLED驱动背板的数据线检测方法、OLED驱动背板及显示装置，该OLED驱动背板的数据线检测方法通过在像素充电阶段，向OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载扫描信号，分别向位于像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线加载第一数据信号和第二数据信号，分别向全部像素驱动电路加载参考信号和检测信号，以对OLED驱动背板中全部像素驱动电路的像素电极进行充电；其中，第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，参考信号和检测信号的电位相反且差值的绝对值大于第二预设值。这样当同一间隙处的第一数据线和第二数据线未发生异常时，在检测阶段能够检测出与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压以及与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压均正常；当同一间隙处的第一数据线和第二数据线发生异常如发生短路时，由于第一数据信号和第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，因此在检测阶段通过检测像素电极的电压，可以检测出与第一数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压或与第二数据线电连接的像素驱动电路的像素电极的电压会从正常时的电压变为异常时的电压如从强正电压变为负电压，则采用像素电极的正常电压和异常电压进行显示图像时，显示图像的亮度从高亮变为低亮，因此像素电极的电压在正常与异常时显示图像的亮度差异较明显，对比度提升，从而提高数据线检测的精度。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种OLED驱动背板的数据线检测方法，其特征在于，包括：

像素充电阶段，向所述OLED驱动背板的全部像素驱动电路加载扫描信号，分别向位于所述像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的所述像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线加载第一数据信号和第二数据信号，分别向全部所述像素驱动电路加载参考信号和检测信号，以对所述OLED驱动背板中全部所述像素驱动电路的像素电极进行充电；其中，所述第一数据信号和所述第二数据信号的电位相反且差值的绝对值大于第一预设值，所述参考信号和所述检测信号的电位相反且差值的绝对值大于第二预设值；

检测阶段，对全部所述像素驱动电路加载截止扫描信号，检测全部所述像素电极的电压，根据所述像素电极的电压检测结果确定位于所述像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线之间是否发生异常。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述像素充电阶段之前，还包括：

信号重置阶段，向所述OLED驱动背板的全部所述像素驱动电路加载截止扫描信号，向所述第一数据线加载与所述第一数据信号的电位相反、数值相同的信号，向所述第二数据线加载与所述第二数据信号的电位相反、数值相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述参考信号电位相反、数值相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述检测信号相同的信号，以对全部所述像素驱动电路以及全部所述像素电极进行信号重置。

3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在所述信号重置阶段之后，在所述像素充电阶段之前，还包括：

像素预充电阶段，向所述OLED驱动背板的全部所述像素驱动电路加载截止扫描信号，向所述第一数据线加载与所述第一数据信号相同的信号，向所述第二数据线加载与所述第二数据信号相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述参考信号相同的信号，向全部所述像素驱动电路加载与所述检测信号相同的信号，以对全部所述像素电极进行预充电。

4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测阶段，具体为：

通过检测探头感应读取全部所述像素电极的电压；

所述检测探头将读取的电压输入至与所述检测探头电连接的显示器内，所述显示器根据接收的电压进行显示图像；

根据所述显示图像的亮度来判断所述OLED驱动背板中位于所述像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线是否发生异常。

5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，若所述显示图像的亮度均匀，则所述OLED驱动背板中位于所述像素驱动电路的同一间隙处的第一数据线和第二数据线均正常。

6.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，若所述显示图像中对应的某一列像素的显示图像的亮度变强或变弱，则所述OLED驱动背板中与所述某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线发生短路。

7.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，若所述显示图像中对应的某一列像素的显示图像仅部分点亮，则所述OLED驱动背板中与所述某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线发生断路。

8.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，若所述显示图像中对应的某一列像素的显示图像一部分亮度变强或变弱、另一部分未点亮，则所述OLED驱动背板中与所述某一列像素的像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线同时发生短路和断路。

9.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述亚像素单元包括红色亚像素单元、绿色亚像素单元、蓝色亚像素单元和白色亚像素单元，所述红色亚像素单元和所述白色亚像素单元的间隙处以及所述绿色亚像素单元和所述蓝色亚像素单元的间隙处均设置第一数据线和第二数据线；

通过对应的所述第一数据线向所述红色亚像素单元输入第一数据信号，通过对应的所述第二数据线向所述白色亚像素单元输入第二数据信号，通过对应的所述第一数据线向所述绿色亚像素单元输入第一数据信号，通过对应的所述第二数据线向所述蓝色亚像素单元输入第二数据信号。

10.一种OLED驱动背板，其特征在于，包括多个像素驱动电路，以及位于所述像素驱动电路的同一间隙处、且与不同列的所述像素驱动电路电连接的第一数据线和第二数据线，所述OLED驱动背板采用如权利要求1-9任一项所述的检测方法检测所述第一数据线和第二数据线之间是否发生异常；

所述像素驱动电路包括：驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管和存储电容；其中，

所述第一晶体管的栅极与所述第一扫描信号端相连，第一极与第一数据信号端或第二数据信号端相连，第二极与所述驱动晶体管的栅极相连；

所述第二晶体管的栅极与所述第二扫描信号端相连，第一极与所述检测信号端相连，第二极与所述像素电极相连；

所述驱动晶体管的第一极与所述参考电压端相连，第二极与所述像素电极相连；

所述存储电容连接于所述驱动晶体管的栅极和第二极之间。

11.一种显示装置，其特征在于，包括：如权利要求10所述的OLED驱动背板。