CN103309065B - 显示面板的测试线路及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种显示面板的测试线路及其测试方法，显示面板包括阵列排布的多个子像素，每个子像素由电荷充入栅极线和电荷共享栅极线控制，测试电路包括：第一、第二和第三数据测试垫分别电性耦接多个红色子像素、多个绿色子像素和多个蓝色子像素；显示面板的第m行子像素耦接的电荷共享栅极线与第m+2n行子像素耦接的电荷充入栅极线连接，m为正整数，n为不小于2的正整数；k个栅极测试垫，当任一行的子像素所在的行数除以k后余数为q，第q栅极测试垫电性连接该行子像素耦接的电荷充入栅极线，k和q均为正整数；2n不能被k整除。由于任一子像素耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线所处的电位不同，所以可以更好地检测出显示面板的点缺陷。

Description

显示面板的测试线路及其测试方法
技术领域
本发明涉及液晶显示领域。更具体地讲，涉及一种显示面板的测试线路及其测试方法。
背景技术
在液晶显示器的实际生产过程中，生产出来的显示面板在压接COF(ChiponFilm，膜片上芯片封装)和PCB(印刷电路板)之前，一般都会进行一次加电点亮的测试。根据其使用的加电测试器(Probe)的不同，一般分为以下三种类型：
1、全接触(FullContact)加电模式
这种模式的优点是：在Probe上的探针数量和显示面板端子区的引脚数量基本相同(约一千到几千个)，其使用的电波形直接来自和模块印刷电路板(ModulePCB)相同的发生器。所以其检查的结果在亮暗不均(Mura)、点缺陷和线缺陷上的可信度最好，也可以显示出很多特殊检查画面。但是这种模式的缺点是：Probe的造价高，且在生产过程中容易损坏，需要经常更换，同时在点灯时，Probe和显示面板的对位要求非常高，生产效率难以提高。
2、短路棒(ShortingBar)加电模式
这种模式是将栅极端子的引脚在外围短路在一起，通常奇数行栅极端子的引脚短路在一起形成第一测试垫，偶数行栅极端子的引脚短路在一起形成第二测试垫；将连接红色子像素的数据线短路在一起形成第三测试垫，将连接绿色子像素的数据线短路在一起形成第四测试垫，将连接蓝色子像素的数据线短路在一起形成第五测试垫。该模式的优点是：Probe的端子明显减少，所以Probe的造价大幅度降低，另外每个测试垫的尺寸远远大于Probe的端子的尺寸，所以对Probe和显示面板的对位要求就很低，生产效率高。但是该模式的缺点是：其只能显示一些特定的画面，同时Probe提供的信号和ModulePCB板提供的信号有很大的差异，所以准确性相对较低。
3、一个扫描行一个数据行(OneGateoneDate)加电模式
这种模式是在Probe上使用柔性导电胶带或者导电胶，Probe压在显示面板端子区后，所有的扫描线短路在一起，所有的数据线也短路在一起，这时该显示面板相当于一个子像素(SubPixel)。这种模式的优点是：价格相对于FullContact模式低，但比ShortingBar模式高，一般作为ShortingBar模式的回路被打断后的一个补充检测方法。这种模式的缺点是显示的图形最少，检测准确度最差。
在液晶显示器采用垂直配向显示模式时，在大视角情况下，色差(Colorshift)会变得严重。针对这个问题，行业里面提出了各种各样的方法，比如耦合电容法(也被称为CC方法)、双TFT驱动法(也被称为TT法)、电荷分享法(ChargeSharing)。所有这些方法都有一定的效果，并且每种方法都有各自的优缺点，但是它们有一个共同点：都是将原来的一个子像素(SubPixel)分为两个部分，一部分称为Main区，一部分称为Sub区，一般Main区的大小要小于Sub区。这种设计一般都统称为8畴(8Domain)设计。
在显示面板中的像素采用8Domain设计时，每个子像素采用双栅极线驱动，其中一条为电荷充入栅极线，另一条为电荷共享栅极线，具体如图1所示，子像素的晶体管开关T1、T2的栅极均耦接至电荷充入栅极线，晶体管开关T1、T2的源极均耦接至数据线D，晶体管开关T1、T2的漏极分别耦接至Main区、Sub区的电极；晶体管开关T3的栅极、源极及漏极分别耦接电荷共享栅极线、晶体管开关T2的源极及电容器Cdown的一端，电容器Cdown的另一端连接到公共电压Vcom。
图1所示的子像素可代表红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素中的任意一个。在显示面板的制作过程中，可将由红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素形成的一个像素以矩阵排列的方式排布在显示面板上，其中，将与第m行子像素耦接的电荷共享栅极线和与第m+2n行子像素耦接的电荷充入栅极线短路在一起，m和n均为正整数。
在对制作好的显示面板以短路棒(ShortingBar)加电模式进行测试时，将奇数行子像素耦接的电荷充入栅极线短路在一起并耦接第一栅极测试垫，偶数行子像素耦接的电荷充入栅极线短路在一起并耦接第二栅极测试垫。这样，奇数行子像素耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线均耦接第一栅极测试垫，偶数行子像素耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线均耦接第二栅极测试垫。那么在进行测试时，同一行子像素耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线同时处于高电位或低电位，然而晶体管开关T3和晶体管开关T1、T2打开的时间不同，会存在一个时间差，在这个时间差内各个子像素显示的差异(即显示面板的点缺陷)无法检测出，造成点缺陷的漏检或误检。在这里，需要说明的是，显示面板常见的点缺陷分为坏点、亮点和暗点三种。其中，在白屏条件下为纯黑色的点或在黑屏条件下为纯白色的点统称为坏点；在黑屏条件下呈现的红、绿、蓝点统称为亮点；在白屏条件下呈现非单纯红、绿、蓝点统称为暗点。因此，点缺陷的数量是衡量显示面板质量的一项重要指标。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题，本发明的目的在于提供一种显示面板的测试线路，所述显示面板包括阵列排布的多个子像素，每个子像素由电荷充入栅极线和电荷共享栅极线控制，所述测试电路包括：第一数据测试垫，电性耦接多个红色子像素；第二数据测试垫，电性耦接多个绿色子像素；第三数据测试垫，电性耦接多个蓝色子像素；所述显示面板的第m行的子像素耦接的电荷共享栅极线与第m+2n行的子像素耦接的电荷充入栅极线连接在一起，其中，m为正整数，n为不小于2的正整数；k个栅极测试垫，其中，当任一行的子像素所在的行数除以k后余数为q，第q栅极测试垫电性连接该行子像素耦接的电荷充入栅极线，k和q均为正整数；其中，2n不能被k整除。
进一步地，所述k不大于2n。
进一步地，所述k为3，所述n为2。
此外，所述子像素包括至少两个电性连接电荷充入栅极线之一及数据线之一的晶体管开关，其中，当任一栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入导通信号时，与该电荷充入栅极线电性耦接的晶体管开关被导通，除该任一栅极测试垫以外的其它栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入截止信号；当各条数据线被通入数据信号时，该任一栅极测试垫控制的子像素显示颜色。
此外，所述子像素还包括至少一个电性连接电荷共享栅极线之一的晶体管开关，其中，所述任一栅极测试垫控制的子像素电性耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线所处的电位不相同。
本发明的另一目的还在于提供一种显示面板的测试方法，该测试方法包括：将红色子像素耦接的数据线电性连接在一起并电性耦接第一数据测试垫；将绿色子像素耦接的数据线电性连接在一起并电性耦接第二数据测试垫；将蓝色子像素耦接的数据线电性连接在一起并电性耦接第三数据测试垫；将所述显示面板的第m行的子像素耦接的电荷共享栅极线与第m+2n行的子像素耦接的电荷充入栅极线电性连接在一起，其中，m为正整数，n为不小于2的正整数；以任一行的子像素所在的行数除以k后得到余数q，将余数为q对应的该任一行子像素耦接的电荷充入栅极线电性连接在一起并电性耦接第q栅极测试垫，k和q均为正整数；其中，2n不能被k整除。
进一步地，所述k不大于2n。
进一步地，所述k为3，所述n为2。
此外，在任一栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入导通信号时，与该电荷充入栅极线电性耦接的晶体管开关被导通，除该任一栅极测试垫以外的其它栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入截止信号；当各条数据线被通入数据信号时，该任一栅极测试垫控制的子像素显示颜色。
此外，所述任一栅极测试垫控制的子像素电性耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线所处的电位不相同。
本发明的显示面板的测试线路及测试方法，可使显示面板在显示测试时，在给出任一栅极信号到栅极测试垫时，该栅极测试垫控制的各行子像素耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线所处的电位不同，则可以更好地检测出点缺陷，特别是由于晶体管开关T3和晶体管开关T1、T2打开时间的不同而漏检的点缺陷。
附图说明
图1是现有的显示面板的子像素的驱动电路结构图。
图2是本发明的实施例的显示面板的测试线路的结构示意图。
图3是图2所示显示面板显示的信号波形图。
具体实施方式
现在对本发明的实施例进行详细的描述，其示例表示在附图中，其中，相同的标号始终表示相同部件。下面通过参照附图对实施例进行描述以解释本发明。在附图中，为了清晰起见，可以夸大层和区域的厚度。在下面的描述中，为了避免公知结构和/或功能的不必要的详细描述所导致的本发明构思的混淆，可省略公知结构和/或功能的不必要的详细描述。
图2是本发明的实施例的显示面板的测试线路的结构示意图。
如图2所示，显示面板包括像素P、电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD、数据线Dn以及k个栅极测试垫G(1)、G(2)、……、G(k)和三个数据测试垫Dr、Dg和Db。其中，像素P是以矩阵排列的方式分布在显示面板上，并且一个像素P包括三个图1所示的子像素，即红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B。红色子像素R耦接的数据线Dn连接在一起并电性耦接第一数据测试垫Dr，绿色子像素G耦接的数据线Dn连接在一起并电性耦接第二数据测试垫Dg，蓝色子像素B耦接的数据线Dn连接在一起并电性耦接第三数据测试垫Db。则第一数据测试垫Dr控制所有红色子像素R的显示，第二数据测试垫Dg控制所有绿色子像素G的显示，第三数据测试垫Db控制所有蓝色子像素B的显示。
在像素P排列而成的像素P矩阵中，以子像素排列的方式来看，将第m行的子像素耦接的电荷共享栅极线SD与第m+2n行的子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起；以各行子像素所在的行数除以k，其中，余数为1对应的一行子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起并电性耦接第一栅极测试垫G(1)，余数为2对应的一行子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起并电性耦接第二栅极测试垫G(2)，依此类推，余数为k(也就是余数为零)对应的一行子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起并电性耦接第k栅极测试垫G(k)；其中，m为正整数，n为不小于2的正整数，k为正整数，并且2n不被k整除。为了节省栅极测试垫的使用数量，进而节省成本，优选地，k不大于2n。这样，第一栅极测试垫G(1)控制余数为1对应的一行子像素的显示，第二栅极测试垫G(2)控制余数为2对应的一行子像素的显示，依此类推，第k栅极测试垫G(k)控制余数为k(也就是余数为零)对应的一行子像素的显示。
在显示面板显示测试时，分别将第一数据信号d1、第二数据信号d2、第三数据信号d3、第一栅极信号g(1)、第二栅极信号g(2)、……、第k栅极信号g(k)通入到第一数据测试垫Dr、第二数据测试垫Dg、第三数据测试垫Db、第一栅极测试垫G(1)、第二栅极测试垫G(2)、……、第k栅极测试垫G(k)，就可以让显示面板显示红色子像素R的红色、绿色子像素G的绿色和蓝色子像素B的蓝色。由于第一栅极信号g(1)、第二栅极信号g(2)、……、第k栅极信号g(k)被分别依次给出，因此，在给出任一栅极信号到栅极测试垫时，该栅极测试垫控制的各行子像素耦接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD所处的电位不同，则可以更好地检测出点缺陷，特别是由于晶体管开关T3和晶体管开关T1、T2打开时间的不同而漏检的点缺陷。
由于图2所示的显示面板在显示测试时，通过提供适当的信号给予显示面板，以使显示面板显示出色彩，进而达到测试目的，所以本发明还提供一种显示面板的测试方法。请参照图3，并请同时参照图2。图3是图2所示显示面板显示的信号波形图。其中，横向代表时间变化，而纵向表示电压变化。
此显示面板的点缺陷的测试方法是将第一数据信号d1、第二数据信号d2、第三数据信号d3、第一栅极信号g(1)、第二栅极信号g(2)、……、第k栅极信号g(k)分别通入到第一数据测试垫Dr、第二数据测试垫Dg、第三数据测试垫Db、第一栅极测试垫G(1)、第二栅极测试垫G(2)、……、第k栅极测试垫G(k)。其中，第一数据信号d1、第二数据信号d2、第三数据信号d3、第一栅极信号g(1)、第二栅极信号g(2)、……、第k栅极信号g(k)是例如具有相同周期t的周期性信号。此外，第一栅极信号g(1)、第二栅极信号g(2)、……、第k栅极信号g(k)是具有一周期性凸波300的周期性信号，且凸波300的电压是使与第一栅极测试垫G(1)、第二栅极测试垫G(2)、……和第k栅极测试垫G(k)相连的晶体管开关T1～T3导通。当第一栅极信号g(1)、第二栅极测试垫g(2)、……和第k栅极测试垫g(k)在无凸波300出现的时候，即表示晶体管开关T1～T3截止。换言之，当任一栅极测试垫被通入导通信号时，即与该任一栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线CD被通入导通信号时，与被通入导通信号的电荷充入栅极线CD耦接的晶体管开关T1、T2被导通，其它的栅极测试垫被通入截止信号，由于该任一栅极测试垫控制的子像素耦接的电荷共享栅极线SD电性连接于其它的栅极测试垫，因此该任一栅极测试垫控制的子像素耦接的电荷共享栅极线SD被通入截止信号，这样使得该任一栅极测试垫控制的子像素耦接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD所处的电位不同。
由于显示面板的显示机制并不是本发明的重点，所以在此仅简略叙述显示面板的显色机制。当子像素的晶体管开关T1和T2截止时，该子像素是不显示颜色的，当子像素的晶体管开关T1和T2导通时，该子像素显示颜色。
具体而言，请参照图2及图3。将分别讨论第一数据信号d1、第二数据信号d2、第三数据信号d3、第一栅极信号g(1)、第二栅极信号g(2)、……、第k栅极信号g(k)在周期t1、t2、……、tk的情形。
在周期t1的初始时，所有子像素是不亮的。待第一栅极信号g(1)的凸波300出现时，表示与第一栅极测试垫G(1)电性连接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD处于高电位，与第一栅极测试垫G(1)电性连接的电荷充入栅极线CD耦接的晶体管开关T1、T2才会导通，第一数据测试垫Dr、第二数据测试垫Dg、第三数据测试垫Db分别将第一数据信号d1、第二数据信号d2、第三数据信号d3施加到各条数据线Dn，进而通入晶体管开关T1、T2导通的子像素中，即此时第一栅极测试垫G(1)控制的子像素显示颜色；而由于第二栅极信号g(2)、……、第k栅极信号g(k)未出现凸波300，即分别与第二栅极测试垫G(2)、……、第k栅极测试垫G(k)电性连接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD处于低电位，因此第一栅极测试垫G(1)导通的各行子像素耦接的电荷共享栅极线SD也处于低电位。
在周期t2的初始时，所有子像素是不亮的。待第二栅极信号g(2)的凸波300出现时，表示与第二栅极测试垫G(2)电性连接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD处于高电位，与第二栅极测试垫G(2)电性连接的电荷充入栅极线CD耦接的晶体管开关T1、T2才会导通，第一数据测试垫Dr、第二数据测试垫Dg、第三数据测试垫Db分别将第一数据信号d1、第二数据信号d2、第三数据信号d3通入晶体管开关T1、T2导通的子像素中，即此时第二栅极测试垫G(2)控制的子像素显示颜色；而由于第一栅极信号g(2)、第三栅极信号g3、……、第k栅极信号g(k)未出现凸波300，即分别与第一栅极测试垫G(1)、第三栅极测试垫G3、……、第k栅极测试垫G(k)电性连接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD处于低电位，因此第二栅极测试垫G(2)导通的各行子像素耦接的电荷共享栅极线SD也处于低电位。
类推下去，在周期tk的初始时，所有子像素是不亮的。待第k栅极信号g(k)的凸波300出现时，表示与第k栅极测试垫G(k)电性连接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD处于高电位，与第k栅极测试垫G(k)电性连接的电荷充入栅极线CD耦接的晶体管开关T1、T2才会导通，第一数据测试垫Dr、第二数据测试垫Dg、第三数据测试垫Db分别将第一数据信号d1、第二数据信号d2、第三数据信号d3通入晶体管开关T1、T2导通的子像素中，即此时第k栅极测试垫G(k)控制的子像素显示颜色；而由于第一栅极信号g(1)、第二栅极信号g(2)、……、第k-1栅极信号g(k-1)未出现凸波，即分别与第一栅极测试垫G(1)、第二栅极测试垫G(2)、……、第k-1栅极测试垫G(k-1)电性连接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD处于低电位，因此第k栅极测试垫G(k)导通的各行子像素耦接的电荷共享栅极线SD也处于低电位。
此外，在实际应用中，由于栅极测试垫较为昂贵，因此在本发明中，为了节省成本，以及简化测试线路的连接，优选地，使n为2，k为3，即将第m行的子像素耦接的电荷共享栅极线SD与第m+4行的子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起；以各行子像素所在的行数除以3，其中，余数为1对应的一行子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起并电性耦接第一栅极测试垫G(1)，余数为2对应的一行子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起并电性耦接第二栅极测试垫G(2)，余数为3(也就是余数为零)对应的一行子像素耦接的电荷充入栅极线CD连接在一起并电性耦接第三栅极测试垫G3。这样，第一栅极测试垫G(1)控制余数为1对应的一行子像素的显示，第二栅极测试垫G(2)控制余数为2对应的一行子像素的显示，第3栅极测试垫G3控制余数为3(也就是余数为零)对应的一行子像素的显示。
综上所述，本发明的显示面板的测试线路及测试方法，可使显示面板在显示测试时，在给出任一栅极信号到栅极测试垫时，该栅极测试垫控制的各行子像素耦接的电荷充入栅极线CD和电荷共享栅极线SD所处的电位不同，则可以更好地检测出点缺陷，特别是由于晶体管开关T3和晶体管开关T1、T2打开时间的不同而漏检的点缺陷。
尽管已经参照其示例性实施例具体显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式和细节上的各种改变。

Claims (10)

1.一种显示面板的测试线路，所述显示面板包括阵列排布的多个子像素，每个子像素由电荷充入栅极线和电荷共享栅极线控制，其特征在于，所述测试电路包括：
第一数据测试垫，电性耦接多个红色子像素；
第二数据测试垫，电性耦接多个绿色子像素；
第三数据测试垫，电性耦接多个蓝色子像素；
所述显示面板的第m行的子像素耦接的电荷共享栅极线与第m+2n行的子像素耦接的电荷充入栅极线连接，其中，m为正整数，n为不小于2的正整数；
k个栅极测试垫，其中，当任一行的子像素所在的行数除以k后余数为q，第q栅极测试垫电性连接该行子像素耦接的电荷充入栅极线，k和q均为正整数；
其中，2n不能被k整除。
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述k不大于2n。
3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述k为3，所述n为2。
4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述子像素包括至少两个晶体管开关，其中，所述晶体管开关电性连接电荷充入栅极线之一，且所述晶体管开关电性连接数据线之一，
其中，当任一栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入导通信号时，与该电荷充入栅极线电性耦接的晶体管开关被导通，除该任一栅极测试垫以外的其它栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入截止信号；当各条数据线被通入数据信号时，该任一栅极测试垫控制的子像素显示颜色。
5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述子像素还包括至少一个电性连接电荷共享栅极线之一的晶体管开关，
其中，所述任一栅极测试垫控制的子像素电性耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线所处的电位不相同。
6.一种显示面板的测试方法，其特征在于，包括：
将红色子像素耦接的数据线电性连接在一起并电性耦接第一数据测试垫；
将绿色子像素耦接的数据线电性连接在一起并电性耦接第二数据测试垫；
将蓝色子像素耦接的数据线电性连接在一起并电性耦接第三数据测试垫；
将所述显示面板的第m行的子像素耦接的电荷共享栅极线与第m+2n行的子像素耦接的电荷充入栅极线电性连接在一起，其中，m为正整数，n为不小于2的正整数；
以任一行的子像素所在的行数除以k后得到余数q，将余数为q对应的该任一行子像素耦接的电荷充入栅极线电性连接在一起并电性耦接第q栅极测试垫，k和q均为正整数；
其中，2n不能被k整除。
7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述k不大于2n。
8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述k为3，所述n为2。
9.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，在任一栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入导通信号时，与该电荷充入栅极线电性耦接的晶体管开关被导通，除该任一栅极测试垫以外的其它栅极测试垫电性连接的电荷充入栅极线被通入截止信号；当各条数据线被通入数据信号时，该任一栅极测试垫控制的子像素显示颜色。
10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述任一栅极测试垫控制的子像素电性耦接的电荷充入栅极线和电荷共享栅极线所处的电位不相同。
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