CN104616612B - Amoled显示器、其测试组件及其缺陷测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法。所述测试组件包括：至少一个奇数开关，分别与所述多条数据线中的奇数数据线电性连接；至少一个偶数开关，分别与所述多条数据线中的偶数数据线电性连接；第一开关线路，与所述至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号；第二开关线路，与所述至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号；以及至少一条信号源线路，用于分别接收来自信号源的信号；其中所述至少一个奇数开关和所述至少一个偶数开关中的每一个与所述至少一条信号源线路的其中之一电性连接，以向相应的数据线传送所述信号。

Description

AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法

技术领域

本发明涉及一种显示器技术领域，尤其涉及一种AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法。

背景技术

有机发光二极管(OLED)由于具有低成本、低功耗、高亮度、自发光、全彩色、宽视角和易于制作在柔性衬底上等的优点，引起人们广泛的兴趣。在有机发光二极管显示器中，AMOLED(Active Matrix/Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极管面板)产品采用薄膜场效应晶体管(TFT，以下简称晶体管)形成像素电路，来实现OLED的画面显示。

在现行的AMOLED产品设计中，AA区(Active Area，有效显示区域)的像素电路采用nTmC(n≥4，m≥1，m、n均为正整数)的结构，例如，一般采用4T1C/4T2C/5T1C/6T1C/6T2C/7T1C等的电路设计，其中，T表示晶体管，C表示电容。图1示出了一种7T1C像素电路的电路图。

通常在有机发光二极管显示器的驱动背板制备过程中，需要对其功能进行测试。采用阵列测试器(Array Tester)进行测试时，通过从图1所示的像素电路中的数据线(Dm)读取电容C1中的电容值并汇集成电容值映射表(Map)，利用电荷感应原理，对驱动背板进行缺陷(Defect)的判断。

但是由于在测试时，测试焊盘(Test Pad)与图1中的数据线Dm并非一一对应的，而是通过多级的开关电路切换来实现对数据线Dm的逐一读取，使得在读取电容C1的存储电容值时，相邻数据线处于漂浮(floating)状态，该状态为一种非接地(Not Grounded)、非零电压(Not 0V)状态。图2示出了一种相邻数据线短路或相邻ITO电极短路的示意图。如图2所示，当两条数据线之间出现短路，或者一条数据线两侧的ITO电极之间出现短路时，则不能有效检测测试信号，从而不利于短路缺陷的检出。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种可提高缺陷检出率的AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷检测方法。

本发明的额外方面和优点将部分地在下面的描述中阐述，并且部分地将从描述中变得显然，或者可以通过本发明的实践而习得。

本发明提供了一种用于AMOLED显示器的基于电荷感应测试的测试组件，该AMOLED显示器具有显示区和外围非显示区，该显示区包括多条数据线，该测试组件位于该外围非显示区。该测试组件包括：至少一个奇数开关，分别与多条数据线中的奇数数据线电性连接；至少一个偶数开关，分别与多条数据线中的偶数数据线电性连接；第一开关线路，与至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号；第二开关线路，与至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号；以及至少一条信号源线路，用于分别接收来自信号源的信号；其中至少一个奇数开关和至少一个偶数开关中的每一个与至少一条信号源线路的其中之一电性连接，以向相应的数据线传送所述信号。

于一实施例中，上述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路和第二信号源线路；其中，该第一信号源线路与上述至少一个奇数开关分别电性连接，该第二信号源线路与上述至少一个偶数开关分别电性连接。

于另一实施例中，上述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路、第二信号源线路和第三信号源线路；其中，该第一信号源线路、该第二信号源线路和该第三信号源线路分别与上述多条数据线中的红基色数据线、绿基色数据线和蓝基色数据线电性连接。

于再一实施例中，上述测试组件还包括测试焊盘组；该测试焊盘组包括：上述至少一个奇数开关、上述至少一个偶数开关及与上述至少一条信号源电性连接的至少一个信号源焊盘。

于再一实施例中，上述测试组件还包括复用器及至少一个测试焊盘，该至少一个测试焊盘通过该复用器与上述多条数据线电性连接。

本发明还提供了一种，AMOLED显示器，具有显示区和外围非显示区，该显示区包括多条数据线及基于电荷感应测试的测试组件。该测试组件位于该外围非显示区，包括：至少一个奇数开关，分别与多条数据线中的奇数数据线电性连接；至少一个偶数开关，分别与多条数据线中的偶数数据线电性连接；第一开关线路，与至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号；第二开关线路，与至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号；以及至少一条信号源线路，用于分别接收来自信号源的信号；其中至少一个奇数开关和至少一个偶数开关中的每一个与至少一条信号源线路的其中之一电性连接，以向相应的数据线传送所述信号。

于一实施例中，上述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路和第二信号源线路；其中，该第一信号源线路与上述至少一个奇数开关分别电性连接，该第二信号源线路与上述至少一个偶数开关分别电性连接。

于另一实施例中，上述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路、第二信号源线路和第三信号源线路；其中，该第一信号源线路、该第二信号源线路和该第三信号源线路分别与上述多条数据线中的红基色数据线、绿基色数据线和蓝基色数据线电性连接。

于再一实施例中，上述测试组件还包括测试焊盘组；该测试焊盘组包括：上述至少一个奇数开关、上述至少一个偶数开关及与上述至少一条信号源电性连接的至少一个信号源焊盘。

于再一实施例中，上述测试组件还包括复用器及至少一个测试焊盘，该至少一个测试焊盘通过该复用器与上述多条数据线电性连接。

本发明还提供了一种基于电荷感应测试原理检测AMOLED显示器缺陷的方法。该方法包括：对AMOLED驱动电路中的储存电容进行充电；以及读取数据线以获得相应储存电容的充电值；其中，在读取数据线以获得相应储存电容的充电值时，对所述数据线的相邻数据线施加预定信号。

于一实施例中，上述预定信号为零电平。

于另一实施例中，当读取奇数数据线时，对偶数数据线施加预定信号；当读取偶数数据线时，对奇数数据线施加预定信号。

于再一实施例中，当读取一种颜色的数据线时，对其他颜色的数据线施加于预定信号。

于再一实施例中，通过复用器读取上述数据线。

本发明提供了一种AMOLED显示器及其缺陷检测方法，通过在显示器外围(即非显示区)增加辅助的开关线路及信号源线路，在进行基于电荷感应的测试时，可对相邻数据线施加不同的信号电压，从而可检出相关的缺陷，提升了缺陷检出率。

附图说明

通过参照附图详细描述其示例实施方式，本发明的上述和其它特征及优点将变得更加明显。

图1为现有技术中一种像素电路的电路图。

图2为显示器中相邻数据线短路或相邻ITO电极短路的示意图。

图3为本发明实施例的AMOLED显示器的结构示意图。

图4为应用于本发明实施例的AMOLED显示器的缺陷检测方法的示意图。

图5A和图5B分别为本发明实施例中的多条信号源线路与数据线及开关线路的连接关系示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本发明将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。

所描述的特征、结构可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员应意识到，没有所述特定细节中的一个或更多，或者采用其它的方法、组元等，也可以实践本发明的技术方案。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构或者操作以避免模糊本发明。

图3为本发明实施例的AMOLED显示器的结构示意图。如图3所示，本发明实施例的AMOLED显示器具有显示区A和外围非显示区B。该AMOLED显示器包括：多条数据线DL1～DLn及基于电荷感应测试的测试组件，该测试组件包括：测试焊盘组TP、至少一条信号源线路PSL、第一开关线路SWL1及第二开关线路SWL2。

其中测试焊盘组TP、至少一条信号源线路PSL、第一开关线路SWL1及第二开关线路SWL2位于非显示区B。测试焊盘组TP包括至少一个信号源焊盘PSP及开关SW。至少一条信号源线路PSL与至少一个信号源焊盘PSP电性相连，第一开关线路SWL1及第二开关线路SWL2与开关SW电性相连。其中开关SW控制第一开关线路SWL1与第二开关线路SWL2的其中一路导通而另一路关闭。

此外，在一些实施例中，开关SW也可以为两个，即第一开关SW1及第二开关SW2，分别与第一开关线路SWL1及第二开关线路SWL2电性连接，以各自独立地控制第一开关线路SWL1和第二开关线路SWL2的导通或关闭。

多条数据线DL1～DLn位于显示区A，各数据线的一端与测试焊盘组TP电性连接，另一端则通过第一开关线路SWL1或者第二开关线路SWL2与至少一条信号源线路PSL电性连接。其中，相邻的两条数据线分别通过第一开关SWL1和第二开关SWL2与至少一条信号源线路PSL电性连接。例如编号为奇数的数据线(以下简称奇数数据线)通过第一开关SWL1，而编号为偶数的数据线(以下简称偶数数据线)通过第二开关SWL2，分别与至少一条信号源线路PSL电性连接；或者偶数数据线通过第一开关SWL1，而奇数数据线通过第二开关SWL2，分别与至少一条信号源线路PSL电性连接，本发明不以此为限。

此外，该测试组件还包括复用器及至少一个数据线焊盘(图中未示出)，其中至少一个数据线焊盘通过复用器与多条数据线DL1～DLn电性连接。

图4为应用于本发明实施例的AMOLED显示器的缺陷检测方法的示意图。如图4所示，以6条数据线DL1～DL6和6条扫描线SL1～SL6为例进行说明，对AMOLED驱动像素电路中的储存电容C1进行充电，读取数据线以获得相应储存电容的充电值，当通过奇数数据线读取C1的充电电容值时，例如对图4所示的DL3和SL2之间的像素电路中C1的电容值进行读取时，导通用于控制偶数数据线的开关线路，例如第二开关线路SWL2，通过信号源线路PSL向偶数数据线提供来自信号源PS的一个预定信号，例如0V的信号，该预定信号通过向测试焊盘组TP上的信号源焊盘PSP施加而获得。相应地，当通过偶数数据线读取像素电路中C1的电容值时，导通用于控制奇数数据线的开关线路，例如第一开关线路SWL1，通过信号源线路PSL向奇数数据线提供该预定信号。

除了图4所示出的信号源线路PSL与数据线DL、第一开关线路SWL1及第二开关线路SWL2的连接方式外，图5A和图5B还分别示出了另外两种连接方式。

如图5A所示，信号源线路PSL包括第一信号源线路PSL1及第二信号源线路PSL2。其中，第一信号源线路PSL1及第二信号源线路PSL2分别通过第一开关线路SWL1或第二开关线路SWL2电性连接奇数数据线及偶数数据线；或者，第一信号源线路PSL1及第二信号源线路PSL2分别通过第一开关线路SWL1或第二开关线路SWL2电性连接偶数数据线及奇数数据线，本发明不以此为限。相应地，在测试焊盘组TP上包括第一信号源焊盘PSP1和第二信号源焊盘PSP2，其中第一信号源焊盘PSP1和第二信号源焊盘PSP2分别与第一信号源线路PSL1及第二信号源线路PSL2电性连接，以通过向第一信号源焊盘PSP1和第二信号源焊盘PSP2施加该预定信号来分别为奇数数据线和偶数数据线提供该预定信号。从而在读取奇数数据线时，对偶数数据线施加预定信号；在读取偶数数据线时，对奇数数据线施加预定信号。

如图5B所示，信号源线路PSL包括第一信号源线路PSL1、第二信号源线路PSL2及第三信号源线路PSL3。其中，第一信号源线路PSL1、第二信号源线路PSL2及第三信号源线路PSL3分别通过第一开关线路SWL1或第二开关线路SWL2电性连接红基色/绿基色/蓝基色(R/G/B)数据线DR、DG、DB。相应地，在测试焊盘组TP上包括第一信号源焊盘PSP1、第二信号源焊盘PSP2及第三信号源焊盘PSP3，其中第一信号源焊盘PSP1、第二信号源焊盘PSP2及第三信号源焊盘PSP3分别与第一信号源线路PSL1、第二信号源线路PSL2及第三信号源线路PSL3电性连接，以通过向第一信号源焊盘PSP1、第二信号源焊盘PSP2和第三信号源焊盘PSP3施加该预定信号来分别为数据线DR、DG、DB提供该预定信号。从而在读取一种颜色的数据线时，对其他颜色的数据线施加于该预定信号。

本发明提供了一种AMOLED显示器及其缺陷检测方法，通过在显示器外围(即非显示区)增加辅助的开关线路及信号源线路，在进行基于电荷感应的测试时，可对相邻数据线施加不同的信号电压，从而可检出相关的缺陷，提升了缺陷检出率。

以上具体地示出和描述了本发明的示例性实施方式。应该理解，本发明不限于所公开的实施方式，相反，本发明意图涵盖包含在所附权利要求范围内的各种修改和等效置换。

Claims (15)

1.一种用于AMOLED显示器的基于电荷感应测试的测试组件，所述AMOLED显示器具有显示区和外围非显示区，所述显示区包括多条数据线，所述测试组件位于所述外围非显示区，其特征在于，所述测试组件包括：

至少一个奇数开关，分别与所述多条数据线中的奇数数据线电性连接；

至少一个偶数开关，分别与所述多条数据线中的偶数数据线电性连接；

第一开关线路，与所述至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号；

第二开关线路，与所述至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号；以及

至少一条信号源线路，用于分别接收来自信号源的信号；

其中所述至少一个奇数开关和所述至少一个偶数开关中的每一个与所述至少一条信号源线路的其中之一电性连接，以向相应的数据线传送所述信号；以及

对所述多条数据线中的某一条欲进行测试的数据线的相邻数据线施加预定信号而通过该欲进行测试的数据线读取电容值来获得测试结果，其中所述预定信号的信号电压不同于该欲进行测试的数据线上的信号电压。

2.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路和第二信号源线路；

其中，所述第一信号源线路与所述至少一个奇数开关分别电性连接，所述第二信号源线路与所述至少一个偶数开关分别电性连接。

3.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路、第二信号源线路和第三信号源线路；

其中，所述第一信号源线路、所述第二信号源线路和所述第三信号源线路分别与所述多条数据线中的红基色数据线、绿基色数据线和蓝基色数据线电性连接。

4.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，还包括测试焊盘组；所述测试焊盘组包括：所述至少一个奇数开关、所述至少一个偶数开关及与所述至少一条信号源电性连接的至少一个信号源焊盘。

5.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，还包括复用器及至少一个测试焊盘，所述至少一个测试焊盘通过所述复用器与所述多条数据线电性连接。

6.一种AMOLED显示器，具有显示区和外围非显示区，所述显示区包括多条数据线，其特征在于，还包括基于电荷感应测试的测试组件，所述测试组件位于所述外围非显示区，包括：

至少一个奇数开关，分别与所述多条数据线中的奇数数据线电性连接；

至少一个偶数开关，分别与所述多条数据线中的偶数数据线电性连接；

第一开关线路，与所述至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号；

第二开关线路，与所述至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号；以及

至少一条信号源线路，用于分别接收来自信号源的信号；

其中所述至少一个奇数开关和所述至少一个偶数开关中的每一个与所述至少一条信号源线路的其中之一电性连接，以向相应的数据线传送所述信号；以及

对所述多条数据线中的某一条欲进行测试的数据线的相邻数据线施加预定信号而通过该欲进行测试的数据线读取电容值来获得测试结果，其中所述预定信号的信号电压不同于该欲进行测试的数据线上的信号电压。

7.根据权利要求6所述的AMOLED显示器，其特征在于，所述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路和第二信号源线路；

其中，所述第一信号源线路与所述至少一个奇数开关分别电性连接，所述第二信号源线路与所述至少一个偶数开关分别电性连接。

8.根据权利要求6所述的AMOLED显示器，其特征在于，所述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路、第二信号源线路和第三信号源线路；

其中，所述第一信号源线路、所述第二信号源线路和所述第三信号源线路分别与所述多条数据线中的红基色数据线、绿基色数据线和蓝基色数据线电性连接。

9.根据权利要求6所述的AMOLED显示器，其特征在于，所述测试组件还包括测试焊盘组；所述测试焊盘组包括：所述至少一个奇数开关、所述至少一个偶数开关及与所述至少一条信号源电性连接的至少一个信号源焊盘。

10.根据权利要求6所述的AMOLED显示器，其特征在于，所述测试组件还包括复用器及至少一个测试焊盘，所述至少一个测试焊盘通过所述复用器与所述多条数据线电性连接。

11.一种基于电荷感应测试原理检测AMOLED显示器缺陷的方法，其特征在于，包括：

对AMOLED驱动电路中的储存电容进行充电；以及

读取数据线以获得相应储存电容的充电值；

其中，在读取数据线以获得相应储存电容的充电值时，对所述数据线的相邻数据线施加预定信号，其中所述预定信号的信号电压不同于正在进行读取的数据线上的信号电压；以及

通过该正在进行读取的数据线读取电容值来获得测试结果。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述预定信号为零电平。

13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，读取奇数数据线时，对偶数数据线施加预定信号；读取偶数数据线时，对奇数数据线施加预定信号。

14.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，读取一种颜色的数据线时，对其他颜色的数据线施加预定信号。

15.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，通过复用器读取所述数据线。